JP4522410B2 - 多数のサンプルの融点測定 - Google Patents
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Description
サンプルサポートプレートを用意すること、
該サポートプレート上に複数の別々のサンプルを載置すること、
前記サポートプレートの温度を変化させること、
サンプルを観察して、サンプルの状態の変化により生じる光度又は反射率の変化を検出すること、及び
光度又は反射率の変化に関連するプレートの温度を記録すること
を含む、融解、軟化又は分解に関連する温度値の測定方法を提供する。
サンプルの配列をサポートトレイ上に形成すること、
サポートトレイを、温度感知手段が設けられた加熱装置上に載置すること、
サポートトレイを照明し、そして、撮像装置によってサンプルの配列を観察すること、
サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも低い温度から、サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも高い温度までの温度範囲にわたって、加熱装置の温度を変化させること、
温度変化シーケンスの間、画像データを撮像装置から画像記録装置に供給すること、
画像データのそれぞれの供給に関連する加熱装置の温度の温度値を記録すること、
画像データを精査して、それぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置における画像強度などの画像の変化を検出すること、及び
サンプルの状態変化に関連する画像変化に関して記録された加熱装置の温度を記録に残すこと
を含む。
コンピュータで読取り可能なブロックの温度出力を与える温度感知手段を備えた加熱装置と、
サンプルサポートトレイの上に載置されたサンプルを加熱するために加熱装置上に載置することができる当該サンプルサポートトレイと、
サポートトレイ上のサンプルを観察するために位置決めできるカメラと、
カメラによる観察のためにサンプルを照明するための手段と、
サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも低い温度から、サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも高い温度までの温度範囲にわたって、加熱装置の温度を変化させるためのコントロール手段と、
デジタルカメラから画像データを受信し、加熱ブロック上の感知手段から温度データを受信するためのコンピュータと、
コンピュータに搭載されて、例えばそれぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置における画像の強度を監視するデジタルカメラから受信される画像の変化を検出する動作可能である画像処理プログラムと、
それぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置における画像を記録に残し、且つ、この画像に関連する加熱ブロックの温度を記録するための記録手段と
を備え、それにより、画像の著しい変化を加熱ブロックの温度と相関させることができる、融点値、軟化点値又は分解点値の測定装置を提供する。
コンピュータで読取り可能な加熱ブロックの温度出力を与える温度感知手段(4)が設けられた加熱ブロック(3)と、
サンプルサポートトレイ(2)の上に載置されたサンプル(1)を加熱するために、加熱ブロック(3)上に載置することができる当該サンプルサポートトレイ(2)と、
サポートトレイ(2)上のサンプル(1)を観察するために位置決めすることができるウェブカメラなどのデジタルカメラ(5)と、
サンプル(1)をデジタルカメラ(5)によって観察することができるように、サポートトレイ(2)上のサンプル(1)を照明するための電球(7)又は他の手段と、
サンプル(1)の予想融点よりも低い温度からその予想融点よりも高い温度までの温度範囲にわたって、加熱ブロック(3)の温度を変化させるためのコントロール手段と、
デジタルカメラ(5)からの画像データと、加熱ブロック(3)上の感知手段(4)からの温度データを受信するようにデジタルカメラ(5)に接続されたコンピュータ(6)と、
コンピュータ(6)に搭載されて、それぞれのサンプル位置においてデジタルカメラ画像の変化、例えば画像の強度の変化を検出する動作可能な画像処理プログラムと、
画像強度の変化をサンプルの温度と相関させることができるように、サンプル位置の画像を記録し、そしてその画像に関連する加熱ブロック(3)の温度を記録するための、代表的にはコンピュータメモリー内にある記録手段と
を備える。
Claims (6)
- サンプルの配列をサポートトレイ上に形成すること、
前記サポートトレイを、温度感知手段が設けられた加熱装置上に載置すること、
サンプルの前記サポートトレイ及びトレイ全体を照明すること、
デジタル機器によってサンプルの配列を画像化すること、
前記サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも低い温度から、前記サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも高い温度までの温度範囲にわたって、前記加熱装置の温度を変化すること、
温度変化シーケンスの間、トレイ全体の画像をデジタルコンピュータに供給すること、
画像データのそれぞれの供給に関連する前記加熱装置の温度の温度値を記録すること、
コンピュータに搭載された画像処理ソフトウェアを用いて画像データを精査して、それぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置においてトレイの画像の変化を検出すること、及び
サンプルの状態変化に関連する画像変化に関して記録された加熱装置の温度を記録に残すこと
を含む、融解、軟化又は分解に関連する温度値の測定方法。 - ソフトウェアが、サンプル位置における画像強度の変化を検出する、請求項1に記載の方法。
- 加熱装置には、コンピュータで読取り可能なブロックの温度出力を与える温度感知手段が設けられ、撮像装置は、画像処理ソフトウェアが搭載されたコンピュータに画像を供給するデジタルカメラ又はウェブカメラであり、コンピュータは、それぞれの画像に関連する温度データを記録し、画像処理ソフトウェアが用いられ、それぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置における画像強度の変化を検出し、そして、強度の著しい変化に関連する温度が示される、請求項2に記載の方法。
- コンピュータに送信される連続画像は、画像の形成時に加熱ブロックから送信される温度と共にコンピュータメモリーに保存され、加熱サイクルの完了後、前記保存された画像が処理されて、選択されたサンプル位置における画像の強度に関するデータを生成し、前記強度データ及び前記温度データを用いて、温度に対する強度のプロットが生成され、そこから選択されたサンプルの融点値を見極めることができる、請求項3に記載の方法。
- コンピュータで読取り可能な前記ブロックの温度出力を与える温度感知手段を備えた加熱装置、
前記加熱装置上に載置され、サンプルサポートトレイの上に載置されたサンプルを加熱することができるサンプルサポートトレイ、
前記サポートトレイ上のサンプルを観察するために位置決めできるデジタルカメラ、
前記カメラによる観察のためにサンプルを照明する手段、
サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも低い温度から、サンプルの予想される融点、軟化点又は分解点よりも高い温度までの温度範囲にわたって、加熱装置の温度を変化させるためのコントロール手段、
前記カメラから画像データを受信し、前記加熱ブロック上の感知手段から温度データを受信するためのコンピュータ、
サポートトレイ及びサンプルの画像を記録に残し、且つ、加熱ブロックの温度を記録するための記録手段、及び
コンピュータに搭載されて、前記カメラから受信される画像を精査でき、かつ、それぞれのサンプル位置又は選択されたサンプル位置における画像の強度を監視できる画像処理プログラム
を含み、それにより、画像の著しい変化を加熱ブロックの温度と相関することができる、融点値の測定装置。 - カメラが、加熱シーケンスの間、画像データをコンピュータに送信するウェブカメラである請求項5に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0323696A GB2406904A (en) | 2003-10-09 | 2003-10-09 | Measuring the melting, softening or decomposition points by detecting a change in luminosity or reflectance of the sample |
PCT/GB2004/004313 WO2005036149A1 (en) | 2003-10-09 | 2004-10-11 | Measurement of melting points of multiple samples |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007533970A JP2007533970A (ja) | 2007-11-22 |
JP4522410B2 true JP4522410B2 (ja) | 2010-08-11 |
Family
ID=29433605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006530606A Expired - Fee Related JP4522410B2 (ja) | 2003-10-09 | 2004-10-11 | 多数のサンプルの融点測定 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8092078B2 (ja) |
EP (1) | EP1676127B1 (ja) |
JP (1) | JP4522410B2 (ja) |
KR (1) | KR20060114693A (ja) |
AT (1) | ATE417266T1 (ja) |
CA (1) | CA2551457C (ja) |
DE (1) | DE602004018357D1 (ja) |
GB (1) | GB2406904A (ja) |
WO (1) | WO2005036149A1 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2406904A (en) * | 2003-10-09 | 2005-04-13 | Asahi Chemical Ind | Measuring the melting, softening or decomposition points by detecting a change in luminosity or reflectance of the sample |
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EP2565633B1 (de) | 2011-09-05 | 2018-06-13 | Mettler-Toledo GmbH | Verfahren zur Bestimmung des Erweichungs- oder Tropfpunkts |
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JP2002005745A (ja) * | 2000-06-26 | 2002-01-09 | Nec Corp | 温度測定装置、および温度測定方法 |
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GB2406904A (en) * | 2003-10-09 | 2005-04-13 | Asahi Chemical Ind | Measuring the melting, softening or decomposition points by detecting a change in luminosity or reflectance of the sample |
JP5461917B2 (ja) * | 2009-08-12 | 2014-04-02 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 軟化点測定装置および熱伝導測定装置 |
-
2003
- 2003-10-09 GB GB0323696A patent/GB2406904A/en not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-10-11 US US10/575,061 patent/US8092078B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-10-11 JP JP2006530606A patent/JP4522410B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-10-11 AT AT04768844T patent/ATE417266T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-10-11 CA CA2551457A patent/CA2551457C/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-10-11 WO PCT/GB2004/004313 patent/WO2005036149A1/en active Application Filing
- 2004-10-11 KR KR1020067008496A patent/KR20060114693A/ko not_active Application Discontinuation
- 2004-10-11 EP EP04768844A patent/EP1676127B1/en not_active Not-in-force
- 2004-10-11 DE DE602004018357T patent/DE602004018357D1/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090190626A1 (en) | 2009-07-30 |
CA2551457C (en) | 2012-06-19 |
JP2007533970A (ja) | 2007-11-22 |
EP1676127B1 (en) | 2008-12-10 |
ATE417266T1 (de) | 2008-12-15 |
CA2551457A1 (en) | 2005-04-21 |
GB2406904A (en) | 2005-04-13 |
GB0323696D0 (en) | 2003-11-12 |
DE602004018357D1 (de) | 2009-01-22 |
EP1676127A1 (en) | 2006-07-05 |
KR20060114693A (ko) | 2006-11-07 |
WO2005036149A1 (en) | 2005-04-21 |
US8092078B2 (en) | 2012-01-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071009 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090914 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091016 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100115 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100122 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100212 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100511 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100525 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |