JP4519625B2 - 堆積膜形成装置 - Google Patents
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Description
以上のような構成の堆積膜形成装置を作動させて、DLC膜を成膜した。まず、排気系13によりチャンバー11内を到達真空度が5×10-3Paまで排気した。つぎに、ガス供給バルブ34を開け、原料ガスであるメタンガス、TMSガスと希釈ガスである水素ガス、アルゴンガスの流量をMFC33で調整してチャンバー11に供給した。その後、排気調整バルブ15の開度を調整し、チャンバー11内の処理圧を133Paとした。
DLC膜を成膜後、5つのクラッチ板固定具23のうちのひとつから5枚のクラッチ板22を取り出し、膜厚を測定した。膜厚の測定は、クラッチ板22の表面のうちチャンバー11の中心側に位置するP1 、チャンバー11の周辺側に位置するP2 (図2参照)について行った。結果を図8(左図)に示す。なお、図8において、横軸はDLC膜の膜厚を示し、縦軸はクラッチ板22の高さ方向の位置を支持台21の上面からの距離により示す。
11:チャンバー(成膜炉)
16:プラズマ電源
20:クラッチ板保持手段(ワーク保持手段)
22:クラッチ板(ワーク)
23:クラッチ板固定具(ワーク固定具)
30:ガス供給手段
31,32,33:ガスノズル
Claims (8)
- 直流プラズマCVD法によって導電性のワークの表面に堆積膜を形成する堆積膜形成装置であって、
成膜炉と、
該成膜炉内に位置し該成膜炉と等電位の陽極部材と、
前記ワークを該陽極部材の周りに周方向に保持し、かつ、マイナス極に結線されたワーク保持手段と、
処理ガスを供給するガスノズルと、
少なくとも前記ワーク保持手段に結線されたプラズマ電源と、
を具備することを特徴とする堆積膜形成装置。 - 前記ワーク保持手段は、前記ワークの表面から該ワークの表面と対向する前記陽極部材の外面までの距離が該ワークの表面から該ワークの表面と対向する前記成膜炉の内面までの距離よりも短くなるように配置される請求項1記載の堆積膜形成装置。
- 前記成膜炉は、円筒形状部を有し、
前記陽極部材は、該成膜炉と同軸的に配置された円柱形状の陽極柱である請求項1または2記載の堆積膜形成装置。 - 前記ワークは板状の板状ワークである請求項1〜3のいずれかに記載の堆積膜形成装置。
- 前記板状ワークはリング状である請求項4記載の堆積膜形成装置。
- 前記ワーク保持手段は、厚さ方向に間を隔てた積層状態で複数枚の前記板状ワークを固定する複数個のワーク固定具からなり、
複数個の該ワーク固定具は、リング状に配置されている請求項4または5記載の堆積膜形成装置。 - 前記ワーク固定具は、上下方向または左右方向に等間隔に積層された複数枚の前記板状ワークを固定する請求項4〜6のいずれかに記載の堆積膜形成装置。
- 前記ガスノズルは、周方向に保持された前記ワークよりも遠心方向側および/または軸心方向側でリング状に配置された複数個で構成される請求項1〜7のいずれかに記載の堆積膜形成装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP (1) | JP4519625B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2009292608B2 (en) * | 2008-09-26 | 2010-10-21 | Ngk Insulators, Ltd. | Film forming apparatus |
JP4750896B1 (ja) * | 2010-06-16 | 2011-08-17 | 本田技研工業株式会社 | ダイアモンド状炭素膜被覆物品 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62139878A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-23 | Toshiba Corp | プラズマによる成膜装置 |
JP2000008171A (ja) * | 1998-06-18 | 2000-01-11 | Canon Inc | 堆積膜の製造装置および製造方法 |
JP2004263292A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-24 | Toyoda Mach Works Ltd | アモルファス炭素膜の成膜方法および成膜装置 |
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2004
- 2004-12-13 JP JP2004360493A patent/JP4519625B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62139878A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-23 | Toshiba Corp | プラズマによる成膜装置 |
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Publication number | Publication date |
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JP2006169558A (ja) | 2006-06-29 |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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