JP4504763B2 - 眼科装置 - Google Patents

眼科装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4504763B2
JP4504763B2 JP2004241859A JP2004241859A JP4504763B2 JP 4504763 B2 JP4504763 B2 JP 4504763B2 JP 2004241859 A JP2004241859 A JP 2004241859A JP 2004241859 A JP2004241859 A JP 2004241859A JP 4504763 B2 JP4504763 B2 JP 4504763B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
eye
transillumination
density
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004241859A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006055464A (ja
Inventor
康夫 加藤
隆 塩入
康文 福間
芳郎 岡崎
朋子 内藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2004241859A priority Critical patent/JP4504763B2/ja
Publication of JP2006055464A publication Critical patent/JP2006055464A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4504763B2 publication Critical patent/JP4504763B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/117Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for examining the anterior chamber or the anterior chamber angle, e.g. gonioscopes
    • A61B3/1173Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for examining the anterior chamber or the anterior chamber angle, e.g. gonioscopes for examining the eye lens

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Description

本発明は、白内障の定量評価を行うに好適な眼科装置の改良に関する。
白内障は、透明な水晶体が白く混濁するという疾患であり、この水晶体が濁ってくると視力が徐々に低下して失明に至るので、白内障疾患の程度いかんによっては、水晶体摘出等の眼手術を行っている。ところで、その白内障疾患に基づく眼手術を行うに際しては、白内障の進行度合いを定量的に把握できるのが望ましい。
近時、高齢化に伴って、老人性白内障患者が増え、白内障疾患に起因する眼手術の機会も増えており、この水晶体の白濁の定量的測定、評価が強く要望されている。
従来から、その白内障の観察・測定には、徹照法といって瞳孔を通じて眼底に照明光を照射し、その眼底からの反射光により水晶体の全体を照明し、この水晶体全体を観察・撮影する方法が採用されている。この徹照法による場合、水晶体の白濁部分は、水晶体を透過する光量が減少するので暗く見えることになる。この徹照法によれば、瞳孔を通じて見える水晶体の全体に対する白濁の程度、範囲を診断できる利点がある。
この徹照法を用いて白内障を観察・撮影する眼科装置としては、フォトスリットランプ装置の照明光学系、観察光学系に直線偏光板を設けて、角膜からの鏡面反射鏡を除去する構成のものが知られている(例えば、非特許文献1参照。)。
また、眼屈折力の測定を行うことができる装置に白内障を徹照法により観察・撮影する光学系を設け、徹照法による観察・撮影の際には、角膜反射光を除去するため、架台を被検眼から遠ざける構成を採用したものも知られている(例えば、特許文献1参照。)。
Kawara,T.& Obazawa, H: A new method for retro illumination photography of cataractous lens opacities. Am. J. Ophalmol. 90:186(1980) 特開2003−199713号公報
ところで、非特許文献1に開示の眼科装置は、直線偏光板を用いて角膜からの鏡面反射鏡を除去するとは言っても、完全には角膜からの鏡面反射鏡を除去しきれないので、水晶体の混濁度をより精密かつ定量的に評価するに際して支障が残存する。また、白内障の混濁度を測定する専用の装置として構成されるため、汎用性をもたせ難いという不都合がある。
その一方、特許文献1に開示の眼科装置では、眼屈折力を測定できるので汎用性があり、しかも、角膜反射光を確実に除去できるので、水晶体の混濁度をより精密かつ定量的に評価することはできるという長所があるが、徹照法による観察・撮影を行う際には、架台を移動させなければならず、観察・撮影が不便である。
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、眼屈折力の測定を行うことのできる装置に徹照法による水晶体の混濁度を観察・撮影する光学系を組み込んだ場合でも、水晶体の混濁度を精密かつ定量的に評価するのに便利な眼科装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の眼科装置は、被検眼に対する装置本体の位置合わせを行うためのアライメント光学系と、前記被検眼の眼底に視標像を投影する視標像投影光学系と、前記眼底に投影された視標像を受像して眼屈折力の測定を行う測定光学系と、前記被検眼の前眼部を観察する観察光学系とを備え、前記アライメント光学系はアライメント指標を前記被検眼に投影するアライメント指標投影光学系と前記被検眼に投影されたアライメント指標像を受像するアライメント指標受像光学系とから構成され、前記アライメント指標投影光学系には徹照法により前記被検眼の水晶体を背後から照明するリング状照明光投影光学系が設けられ、前記アライメント指標受像光学系は徹照法により照明された水晶体の徹照像を撮像する撮像手段を有する徹照像受像系に兼用され、前記リング状照明光投影光学系は照明光源と該照明光源の前方に設けられたリングパターンとを有することを特徴とする。
請求項2に記載の眼科装置は、前記リング状照明光投影光学系が、前記リングパターンを通過した照明光を偏光する第1直線偏光板を有し、前記徹照像受像系は第1直線偏光板と直交する方向の光を透過する第2直線偏光板を有することを特徴とする。
請求項3に記載の眼科装置は、前記徹照像受像系により撮像された徹照像を記憶する徹照像記憶手段と、該徹照像記憶手段に記憶された徹照像に基づき濃度分布を測定すると共にその濃度分布に基づき前記徹照像の全面積に対する白濁部分の割合としての混濁率を演算する濃度分布測定手段と、その演算結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする。
請求項4に記載の眼科装置は、前記濃度分布測定手段が、所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルの個数と所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルの個数とをカウントするためのスライスレベル設定手段を有し、前記混濁率は所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルの個数の総和から所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルの個数の総和を差し引いた個数をピクセルの総カウント個数によって除算することによって求めることを特徴とする。
請求項5に記載の眼科装置は、前記スライスレベル設定手段が、前記スライスレベルを所定ピッチごと変更させて複数個数のスライスレベルを設定するスライスレベル変更手段を有し、前記濃度分布測定手段は、前記スライスレベル毎に混濁率を演算して、該混濁率の不変部分を求め、この不変部分の混濁率を客観的混濁率として決定することを特徴とする。
請求項6に記載の眼科装置は、前記徹照法により前記徹照像を撮像する際に、前記アライメント指標投影光学系による前記被検眼へのアライメント指標の投影が禁止されていることを特徴とする。
請求項7に記載の眼科装置は、前記アライメント指標投影光学系と前記徹照像受像系とは共通の対物レンズを有し、該対物レンズに関して前記被検眼の角膜の焦平面と前記リングパターンとが略共役であり、前記リング状照明光投影光学系の照明光の角膜の鏡面反射光が前記対物レンズに入射しないように前記リングパターンの半径が設計されていることを特徴とする。
本発明によれば、眼屈折力の測定を行うことのできる装置に徹照法による水晶体の混濁度を観察・撮影する光学系を組み込んだ場合でも、コントラストを低下させることなく水晶体の混濁度を精密かつ定量的に評価することができるという効果を奏する。
以下に、本発明に係わる眼科装置の光学系の発明の実施の形態を説明する。
図1、図2は本発明に係わる眼科装置の光学系1を示す図である。その図1において、2はXYアライメント光学系である。このXYアライメント光学系2は図1に示すようにアライメント指標投影光学系2Aとアライメント指標受像光学系2Bとからなる。アライメント指標投影光学系2Aは、照明光源としての近赤外LED3と、アライメント指標としての小径開口4aを有する絞り板4(図3参照)と、リレーレンズ5と、ダイクロイックミラー6と、開口絞り7と、ダイクロイックミラー8と、対物レンズ9とから大略構成されている。
アライメント指標受像光学系2Bは、対物レンズ9、ダイクロイックミラー8、開口絞り7、ダイクロイックミラー6、リレーレンズ10、11、ダイクロイックミラー12、結像レンズ13、CCD(撮像素子)14から大略構成されている。なお、このアライメント指標受像光学系2Bは被検眼ELの前眼部を観察する観察光学系と後述する徹照像受像系としても機能する。
その光学系1は図2に示すように一対の前眼部照明光学系15と固視標投影光学系16とを有する。一対の前眼部照明光学系15は光軸OLを挟んで前眼部照明光源15a、絞り板15b、投影レンズ15cを有し、被検眼ELの前眼部を照明する。
その固視標投影光学系16は、固視標光源16A、コリメータレンズ17、固視標18、反射ミラー19、コリメータレンズ20、反射ミラー21、移動レンズ22、リレーレンズ23、24、反射ミラー25、ダイクロイックミラー26、8、対物レンズ9から大略構成されている。
その固視標18は、反射ミラー19、コリメータレンズ20、反射ミラー21、移動レンズ22、リレーレンズ23、24、反射ミラー25、ダイクロイックミラー26、8、対物レンズ9を介して被検眼ELの眼底Efに投影され、被験者はその固視標18を固視することにより被検眼ELを固定させることができる。その移動レンズ22はパルスモータPMによってその光軸OLに沿う方向に可動され、これにより被検眼ELを雲霧視させることができる。
図1に示すように、そのアライメント指標投影光学系2Aの近赤外LED3からの近赤外光P1は、小径開口4aを通過してリレーレンズ5に導かれ、ダイクロイックミラー6により開口絞り7に向けて反射され、その開口絞り7の孔部7aの箇所で一旦集束され、ダイクロイックミラー8を介して対物レンズ9に導かれ、この対物レンズ9により平行光束P2とされて被検眼ELの角膜CLに投影される。その図1において、符号f1は対物レンズ9の焦点位置を示す。
なお、その図1において、符号R1は角膜CLの曲率中心、符号R2は角膜CLの曲率中心R1と角膜頂点Pとの中間位置を示し、角膜CLにより反射された近赤外光(平行光束P2)は、角膜CLの頂点Pが光学系1の光軸OL上に存在するときには、この中間位置R2からあたかも出射されたかのようにして出射される。
角膜CLにより反射された近赤外光は、対物レンズ9により集光され、ダイクロイックミラー8、開口絞り7の孔部7a、ダイクロイックミラー6を通ってリレーレンズ10、11に導かれ、このリレーレンズ10、11により結像レンズ13にリレーされて、CCD14に角膜CLの鏡面反射像としての輝点像R’が図4に示すように形成される。
角膜CLの頂点Pが光学系1の光軸OL上に存在するときには、図4(a)に示すように、ピントの合った輝点像R’が角膜CLの頂点Pに形成される。また、光学系1の光軸OLが被検眼CLに対して上下左右にずれているときには、図4(b)に示すように、ピントがぼけてかつ輝点像R’が角膜CLの頂点Pからずれた位置に形成される。
その光学系1は、図2に示すように、屈折力測定光束投影光学系(視標像投影光学系)27Aと屈折力測定光束受光光学系27Bとを有する。屈折力測定光束投影光学系27Aは、測定光源としての赤外LED28、コリメータレンズ29、円錐プリズム30、リング視標板31、リレーレンズ32、リング状絞り33、中央に透孔34aを有する穴あきプリズム34、ダイクロイックミラー26、8、対物レンズ9から大略構成されている。リング視標板31は後述するリング絞りと大略同一の形状を呈している。
屈折力測定光束受光光学系27Bは、対物レンズ9、ダイクロイックミラー8、26、穴あきプリズム34の透孔34a、反射ミラー35、リレーレンズ36、移動レンズ37、反射ミラー38、ダイクロイックミラー12、結像レンズ13、CCD14から大略構成されている。
赤外LED28から出射された測定光束は、コリメートレンズ29、円錐プリズム30を介してリング視標板31に導かれる。そのリング視標板31を透過した光束はリレーレンズ32、リング状絞り33、穴あきプリズム34の反射面34b、ダイクロイックミラー26、8を経由して対物レンズ9に導かれ、被検眼ELの瞳近傍で環状光束となって、被検眼ELの眼底Efに投影される。
眼底Efに投影されたリング状の視標光は眼底Efで散乱反射され、その散乱反射光が対物レンズ9、ダイクロイックミラー8、26、穴あきプリズム34の透孔34a、反射鏡35、リレーレンズ36、移動レンズ37、反射鏡38、ダイクロイックミラー12、結像レンズ13を介してCCD14にリング状の視標像が投影される。
CCD14は演算制御回路39に接続され、CCD14からの時系列映像信号が演算制御回路39に入力される。その演算制御回路39は、屈折力解析処理部40、画像処理部41、像濃度分布測定手段42を有する。その演算制御回路39には徹照像記憶手段43Aと表示手段43Bとが接続されている。
屈折力解析処理部40は、CCD14に結像されたリング状の視標像の大きさ及び形状を基準のリング視標像の大きさ及び形状と比較して、眼屈折力を測定する。このリング視標像を用いての眼屈折力の測定原理については公知なので、その詳細な説明は省略する。
徹照像記憶手段43A、濃度分布測定手段42については後述することにし、先に、徹照法による水晶体の照明について説明する。
アライメント指標投影光学系2Aには、図1に示すように、被検眼ELの水晶体GLを背後から照明するためのリング状照明光投影光学系44Aが設けられている。このリング状照明光投影光学系44Aは、照明光源としての近赤外LED45と、この近赤外LED45の前方に設けられたリングパターン46(図5参照)と、リングパターン像を被検眼ELの瞳近傍に投影する投影レンズ47と、この投影レンズ47を通過した照明光を直線偏光する第1直線偏光板48と、ハーフミラー49とから大略構成されている。そのリングパターン46は図5に示すようにリング状透過部46aを有する。その近赤外LED45の光の波長は近赤外LED3の波長と大略同一である。
近赤外LED45は水晶体GLの混濁率を徹照法により測定する際に点灯され、近赤外LED3は近赤外LED45を点灯させた際には消灯され、近赤外LED3の点灯が禁止される。
アライメント指標受像系2Bには第1直線偏光板48と直交する方向の直線偏光を透過させる第2直線偏光板50がダイクロイックミラー12とリレーレンズ11との間に設けられている。リングパターン46を透過した近赤外の照明光P3は図6に示すように第1直線偏光板48により直線偏光されてハーフミラー49に向けられ、このハーフミラー49によりアライメン指標投影光学系2Aの光軸と同軸方向に偏向されてダイクロイックミラー6に導かれ、このダイクロイックミラー6により開口絞り7に向かう方向に反射され、その開口絞り7の孔部7a、ダイクロイックミラー8、対物レンズ9を介して被検眼ELに導かれる。
その近赤外LED45の照明光は、図4(a)に一例として示すように被検眼ELの瞳孔近傍で環状の照明光P4となり、瞳孔PLを通って眼底Efに導かれ、これにより眼底Efが照明される。その近赤外の照明光は眼底Efにおいて拡散反射され、変更成分を失う。水晶体GLはその偏光特性を失った光により背後から照明される。
その水晶体GLを通過した近赤外LED45の照明光を用いての散乱反射光は、対物レンズ9により集光され、ダイクロイックミラー8、開口絞り7の孔部7a、ダイクロイックミラー6、リレーレンズ10、11、第2直線偏光板50に導かれる。その水晶体GLを通過する散乱反射光は各種の偏光成分を有するので、この第2直線偏光板50によりほとんど減衰されることなくこの第2直線偏光板50を通過し、ダイクロイックミラー12、結像レンズ13を経由してCCD14に導かれ、水晶体GLの像が徹照像として結像される。
すなわち、アライメント指標像受像光学系2Bは、徹照像受像系として機能し、そのCCD14には水晶体GLの透明度に応じた光量が受光される。例えば、水晶体GLに図7(a)に模式的に示すような白濁領域GL1がある場合には、その白濁領域GL1を透過する透過光量は少なくなり、非白濁領域GL2を透過する透過光量は相対的に多くなる。
その一方、近赤外LED45の角膜CLの表面により反射された散乱反射光も、対物レンズ9により集光されて、CCD14に導かれることになるが、この散乱反射光は第2直線偏光板50と直交する方向の直線偏光を呈しているので、角膜CLの表面からの散乱反射光がCCD14に入射するのは阻止され、従って、白濁領域GL1と非白濁領域GL2との境界部分の濃度差が大きくなり、コントラストが鮮明となる。
ところで、観念的には、CCD14の受光面上では、白濁領域GL1に対応する受光部分の各ピクセル(画素)の濃度は濃く、その非白濁領域GL2に対応する部分の各ピクセルの濃度は薄いと考えられる。ところが、必ずしも、CCD14の受光面上では、白濁領域GL1に対応する受光部分の各ピクセル(画素)の濃度が濃く、その非白濁領域GL2に対応する部分の各ピクセルの濃度は薄いとはいえない。
というのは、散乱光の眼底Efからの反射光の光量分布や、被検眼ELに対する装置本体のアライメント条件等に基づいて水晶体GLの透明部分を透過した散乱反射光の受光量が小さくなることもあり、水晶体GLの透明部分を通過する光量に基づいて構築したヒストグラムHGは正規分布に近い分布をすると考えられる。
そのCCD14の徹照像は、徹照像記憶手段43Aに一時的に保存される。徹照像記憶手段43Aはたとえばフレームメモリからなる。濃度分布測定手段42は、そのフレームメモリの各メモリ素子(ピクセル)にアクセスし、各メモリ素子(ピクセル)に保存されている濃度値がいずれのレベルに属するかを判断する。例えば、黒レベルから白レベルまでの濃度値を256レベルに区分し、各レベルに属するメモリ素子(ピクセル)の個数を数える。
画像処理部41は、その濃度分布測定手段42と協働して、濃度分布測定手段42はそのカウント結果に基づき、横軸を濃度レベル、縦軸をピクセルの個数としたヒストグラムHGを構築し、そのヒストグラムHGと共に、フレームメモリに記憶された画像データを表示手段43Bに向けて出力する。これにより、表示手段43Bに徹照像と共にヒストグラムHGが図7(b)に示すように表示される。その図7(b)はこのようにして構築されたヒストグラムHGの一例である。このヒストグラムHGはここでは分布曲線として示されているが、離散的な階段状のヒストグラムでも良い。
濃度分布測定手段42は、ここでは、このヒストグラムHGに基づき、水晶体GLの混濁量の定量評価演算を実行する。その混濁量の定量評価について以下説明する。
その図7(b)において、Xmnは濃度レベルが濃い側のピクセルの最小個数に対応し、Xmxは濃度レベルが薄い側のピクセルの最小個数に対応し、Xmpは濃度レベルが濃い側と濃度レベルが薄い側との中間に位置する濃度レベルのうちのピクセルの最大カウント個数Pmに対応している。このヒストグラムHGは、水晶体GLの透明部分を通過した光量に基づくヒストグラムHG1と水晶体GLの白濁部分を通過した光量に基づくヒストグラムHG2との重なりとして把握される。
ここでは、水晶体GLの白濁部分の割合を定量的にかつ客観的に評価するために混濁率Kを定義する。一般的には、混濁率Kは以下のようにして求められる。
まず、ある所定のピクセル個数P0を設定し、このピクセル個数P0をスライスレベルLとして、ヒストグラムHGとの交点A1、A2を求める。そして、この交点A1、A2に対応する濃度レベルをC1、C2とする。そして、濃度レベルC1よりも濃度が濃い側でXmn−A1−C1によって囲まれる斜線範囲のピクセルの個数の和S1を求める。同様に、濃度レベルC2よりも薄い側でC2−A2−Xmxによって囲まれる斜線範囲のピクセルの個数の和S2を求める。これらの差S1−S2をΔSとする。
混濁率Kは、この差ΔSとヒストグラムHGの構築に用いたピクセルの総個数Sとを用いて、K=ΔS/Sとして定義される。
しかしながら、このスライスレベルLはヒストグラムHGの分布の形によってそのレベルを変更しなければならず、人が主観的に設定したものであるので、この混濁率Kは、必ずしも客観性を有しない。
そこで、本発明では、この混濁率Kを、以下に説明する手法によって求める。
先に、説明したように、水晶体GLの透明部分に基づき得られるヒストグラムHG1は、図7(b)に示すように正規分布に近い分布を示している。これに対して、水晶体GLの白濁部分に基づき得られるヒストグラムHG2は濃度レベルの濃い側に分布のピークが移動した偏りのある分布を示す。
従って、図8(a)に示すように、スライスレベルLを所定ピッチΔPずつ単純増加させることにすると、スライスレベルLが所定のスライスレベルL0を超えるまでは、図9に示すように、混濁率Kが上昇する。これに対して、図8(b)に示すように、所定のスライスレベルL0を超えると、図9に示すように混濁率Kが一定となる。
これは、混濁率Kの分子の項は、スライスレベルLで規定される濃度が濃い側のピクセルのカウント個数S1とスライスレベルLで規定される濃度が薄い側のピクセルのカウント個数S2との差分ΔSであり、図8(b)に示すように、所定のスライスレベルL0を超えると、水晶体GLの透明部分に基づくヒストグラムHG1の濃度が濃い側のピクセルのカウント個数Q1と濃度が薄い側のピクセルのカウント個数Q2とはピーク個数を対称にしてほぼ等分に増加する。このため、所定のスライスレベルL0を超えた時点以降は、ヒストグラムHG1による増加分は互いにキャンセルされると考えられる。
このようにして得られた混濁率Kは、ヒストグラムHGの分布形状にほとんど依存しないため、かつ、人が主観的に設定したものではないため、客観性を有する。スライスレベルLを単純減少させても同様の結果が得られる。
すなわち、濃度分布測定手段42は、所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルの個数と所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルの個数とをカウントするためのスライスレベル設定手段を有し、混濁率Kを所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルのカウント個数から所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルのカウント個数を差し引いた個数をピクセルの総カウント個数によって除算することによって求めるが、そのスライスレベル設定手段はスライスレベルLを所定ピッチΔPごと単純増加又は単純減少させて複数個数のスライスレベルLを設定するスライスレベル変更手段を有する。
そして、濃度分布測定手段42は、スライスレベルL毎に混濁率Kを演算して、混濁率Kの不変化部分OPを求め、この不変化部分OPの混濁率Kを客観的混濁率として決定する。
ところで、徹照像照明の際に、角膜CLからの鏡面反射光が対物レンズ9に入射すると、この鏡面反射光がCCD14に受像され、これがノイズとなるため、水晶体GLの白濁を正確に測定できなくなる。
そこで、この発明の実施の形態では、徹照像の撮影の際に、角膜CLから鏡面反射光が対物レンズ9に直接入射するのを防止するように光学系1に以下の工夫がされている。
ゲルストランドの模型眼によると、角膜CLの頂点Pから水晶体GLの表面までの距離は3.6mm、角膜CLの曲率半径は7.7mm、角膜CLの焦点距離は3.85mmとされている。すなわち、角膜CLの曲率中心R1は角膜CLの頂点Pから7.7mmまでの位置にあり、中間位置R2は角膜CLの頂点Pから3.85mmの位置にある。従って、被検眼ELの瞳孔PLの位置は角膜CLの焦平面F(図1参照)に近似でき、リングパターン46aの像高をy’、角膜CLの鏡面反射光が光軸OLと為す最小鏡面反射角度をθとすると、最小鏡面反射角度θは下記の式によって表すことができる。
θ=tan-1(y’/f)
ここで、像高y’が1mmとなるように、リング絞り46のリングパターン46aの半径y(図5参照)を設定すると、角膜CLによる最小鏡面反射角度θは、14.6度となる。
対物レンズ9は、アライメント指標光投影光学系2A、屈折力測定光束投影光学系27A、前眼部観察光学系(アライメント指標受像系27B)、固視標投影光学系16に兼用されているが、この対物レンズ9の有効径EDはこれらの光学系のうちの最も大きな画角を有する光学系で定まり、ここでは、固視標投影光学系16によって定まる。
その固視標投影光学系16に要求される画角は最大でも8度であり、光軸OLを境にしてその半分の角度は4度であり、従って、対物レンズ9の有効径EDを十分に大きく設定したとしても、徹照像の撮影の際に、角膜CLから鏡面反射光が対物レンズ9に直接入射するのが防止される。
従って、本発明の実施の形態では、角膜CLの焦平面Fとリングパターン46とが対物レンズ9に関して共役とされ、かつ、徹照照明の際の角膜CLからの鏡面反射光、散乱反射光が共に除去されるので、徹照照明の際に、コントラストの良質な徹照像画像が得られることになる。
以上、この発明の実施の形態では、スライスレベルLを単純増加、単純減少させて混濁率の不変化部分を求め、これを客観的混濁値と決定することにしたが、Pmよりも小さくかつ0よりも十分大きなスライスレベルLであってしかも少なくとも二つのスライスレベルを設定して混濁率Kを求め、その混濁率Kの差が所定値δ以下のときにその混濁率の一方又は双方を客観的混濁値とみなしても良い。ここで、δはほとんど「0」に近い値に設定される。
なお、本発明の実施の形態では、第1直線偏光板48をハーフミラ49と投影レンズ47との間に設けているので、アライメント指標を投影する際に第1直線偏光板48を光学系1に対して挿脱させる必要がなく、徹照像撮影のための可動機構が不要であるというメリットもある。
本発明に係わるアライメント指標投影光学系とアライメント指標受像光学系とリング状照明光学系と被検眼との関係を示す光学系を示す図である。 本発明に係わる光学系の一例を示す図であって、固視標投影光学系と測定光学系と被検眼との関係を示す光学図である。 アライメント指標投影光学系の小径開口を有する絞り板の平面図である。 図1に示すアライメント指標光束の説明図であって、(a)は被検眼と装置本体との整合状態のときの輝点像と前眼部像との位置関係を示し、(b)は被検眼と装置本体とが非整合状態のときの輝点像と前眼部像との位置関係を示す。 リング状照明光学系のリングパターンの平面図である。 図1に示すリングパターンの投影状態を説明するための光学図である。 本発明に係わる水晶体の白濁とこの水晶体の徹照像により得られるヒストグラムとの関係の説明図であって、(a)は水晶体の白濁の模式図を示し、(b)は(a)に示す水晶体の徹照像により得られたヒストグラムの一例を示す図である。 本発明に係わるスライスレベルの変更の説明図であって、(a)はスライスレベルが所定レベルよりも低い場合の説明図であり、(b)はスライスレベルが所定レベルよりも高い場合の説明図である。 本発明に係わる混濁率の変化を示すグラフである。
符号の説明
EL…被検眼
2A…アライメント指標投影光学系
2B…アライメント指標受像光学系(徹照像受像光学系)
EF…眼底
GL…水晶体
27A…屈折力測定光束投影光学系(視標像投影光学系)
27B…屈折力測定光束受光光学系(測定光学系)
44A…リング状照明光投影光学系
45…近赤外LED(照明光源)
46…リングパターン

Claims (7)

  1. 被検眼に対する装置本体の位置合わせを行うためのアライメント光学系と、前記被検眼の眼底に視標像を投影する視標像投影光学系と、前記眼底に投影された視標像を受像して眼屈折力の測定を行う測定光学系と、前記被検眼の前眼部を観察する観察光学系とを備え、前記アライメント光学系はアライメント指標を前記被検眼に投影するアライメント指標投影光学系と前記被検眼に投影されたアライメント指標像を受像するアライメント指標受像光学系とから構成され、
    前記アライメント指標投影光学系には徹照法により前記被検眼の水晶体を背後から照明するリング状照明光投影光学系が設けられ、前記アライメント指標受像光学系は徹照法により照明された水晶体の徹照像を撮像する撮像手段を有する徹照像受像系に兼用され、前記リング状照明光投影光学系は照明光源と該照明光源の前方に設けられたリングパターンとを有することを特徴とする眼科装置。
  2. 前記リング状照明光投影光学系は、前記リングパターンを通過した照明光を偏光する第1直線偏光板を有し、前記徹照像受像系は第1直線偏光板と直交する方向の光を透過する第2直線偏光板を有することを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
  3. 前記徹照像受像系により撮像された徹照像を記憶する徹照像記憶手段と、該徹照像記憶手段に記憶された徹照像に基づき濃度分布を測定すると共にその濃度分布に基づき前記徹照像の全面積に対する白濁部分の割合としての混濁率を演算する濃度分布測定手段と、その演算結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の眼科装置。
  4. 前記濃度分布測定手段は、所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルの個数と所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルの個数とをカウントするためのスライスレベル設定手段を有し、前記混濁率は所定濃度よりも濃い濃度を有するピクセルの個数の総和から所定濃度よりも薄い濃度を有するピクセルの個数の総和を差し引いた個数をピクセルの総カウント個数によって除算することによって求めることを特徴とする請求項3に記載の眼科装置。
  5. 前記スライスレベル設定手段は、前記スライスレベルを所定ピッチごと変更させて複数個数のスライスレベルを設定するスライスレベル変更手段を有し、前記濃度分布測定手段は、前記スライスレベル毎に混濁率を演算して、該混濁率の不変部分を求め、この不変部分の混濁率を客観的混濁率として決定することを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。
  6. 前記徹照法により前記徹照像を撮像する際に、前記アライメント指標投影光学系による前記被検眼へのアライメント指標の投影が禁止されていることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の眼科装置。
  7. 前記アライメント指標投影光学系と前記徹照像受像系とは共通の対物レンズを有し、該対物レンズに関して前記被検眼の角膜の焦平面と前記リングパターンとが略共役であり、前記リング状照明光投影光学系の照明光の角膜の鏡面反射光が前記対物レンズに入射しないように前記リングパターンの半径が設計されていることを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の眼科装置。
JP2004241859A 2004-08-23 2004-08-23 眼科装置 Expired - Lifetime JP4504763B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004241859A JP4504763B2 (ja) 2004-08-23 2004-08-23 眼科装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004241859A JP4504763B2 (ja) 2004-08-23 2004-08-23 眼科装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006055464A JP2006055464A (ja) 2006-03-02
JP4504763B2 true JP4504763B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=36103419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004241859A Expired - Lifetime JP4504763B2 (ja) 2004-08-23 2004-08-23 眼科装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4504763B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011508618A (ja) * 2007-12-21 2011-03-17 カール ツァイス サージカル ゲーエムベーハー 眼の特徴的構成要素の位置を検出および/または追跡する方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013097014A (ja) * 2011-10-28 2013-05-20 Tokai Kogaku Kk 位置データ算出方法
JP2019170464A (ja) * 2018-03-27 2019-10-10 株式会社トプコン 眼科装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002238852A (ja) * 2001-02-22 2002-08-27 Canon Inc 検眼装置
JP2003199713A (ja) * 2002-01-04 2003-07-15 Canon Inc 眼科検査装置
JP2004222849A (ja) * 2003-01-21 2004-08-12 Topcon Corp 検眼装置
JP2005074036A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2005287752A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Nidek Co Ltd 眼科装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09187427A (ja) * 1996-01-09 1997-07-22 Canon Inc 眼内観察装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002238852A (ja) * 2001-02-22 2002-08-27 Canon Inc 検眼装置
JP2003199713A (ja) * 2002-01-04 2003-07-15 Canon Inc 眼科検査装置
JP2004222849A (ja) * 2003-01-21 2004-08-12 Topcon Corp 検眼装置
JP2005074036A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2005287752A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Nidek Co Ltd 眼科装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011508618A (ja) * 2007-12-21 2011-03-17 カール ツァイス サージカル ゲーエムベーハー 眼の特徴的構成要素の位置を検出および/または追跡する方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006055464A (ja) 2006-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4537192B2 (ja) 眼科装置
US5579063A (en) Methods and devices for the measurement of the degradation of image quality on the retina of the human eye due to cataract
US8851672B2 (en) Fundus photographing apparatus
JP2013165818A (ja) 眼科装置および眼科制御方法並びにプログラム
US11291368B2 (en) Ophthalmologic apparatus and method of controlling the same
CN109310316B (zh) 眼科装置
JP2012100713A (ja) 眼科装置
JP2020006172A (ja) 眼底撮影装置
JP2007275160A (ja) 眼科装置
US11571123B2 (en) Ophthalmologic apparatus and method of controlling the same
JP6788445B2 (ja) 眼科装置
JP4504763B2 (ja) 眼科装置
US11202566B2 (en) Ophthalmologic apparatus and method of controlling the same
JP7283391B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JP7213315B2 (ja) 眼科装置、及びその制御方法
KR100796355B1 (ko) 근적외선을 이용한 세극등 검사장치
JP5677501B2 (ja) 眼科装置
JP6140947B2 (ja) 眼科装置及び眼科撮影方法
JP7154260B2 (ja) 眼科装置
WO2023145638A1 (ja) 眼科装置及び眼科プログラム
JP2004024471A (ja) 眼科装置
JPH11299735A (ja) 検眼装置
JP2023161290A (ja) 眼科装置
JP2002336200A (ja) 検眼装置
JP2020179271A (ja) 眼科装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100420

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100423

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4504763

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250