JP4484007B2 - 近接センサ - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、近接センサに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近接センサの１つとして、高周波型と称されるものがある。係るタイプの近接センサは、検出コイルを備えたセンサ部と、そのセンサ部に接続された信号処理回路（アンプ部とも称される）とを備えて構成されている。そして、センサ部は、円筒状のコアの周囲にコイル巻線を所定ターン数だけ巻き付けることにより構成される。また、信号処理回路は、高周波発振回路を含むように構成される。
【０００３】
すると、例えば検出対象物がパチンコ玉のように磁性金属の場合、センサ部にパチンコ玉が近づくとうず電流が流れ、熱損失が生じることから高周波発振回路の発振振幅が変動する。従って、例えば係る発振信号をしきい値処理などして振幅が一定以上か否かにより検出対象物の有無を判断するようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来の近接センサは、以下に示す問題があった。すなわち、検出対象物がメダル遊技機に用いられるメダルのように非磁性金属の場合、磁性金属に比べて、振幅の変化が小さく、例えば検出距離が、磁性金属の場合の３０〜４０％程度に低下してしまう。
【０００５】
さらに、上記したコアにコイル巻線を巻き付けた構造のものでは、センサ部が大きく、近接センサ全体の小型化，薄型化に限界があった。そのため、係る近接センサを実装する装置の小型化を阻害することになる。
【０００６】
係る問題を解決するため、センサ部にプリント基板上にコイルをパターン形成して構成されるプリントコイルを用いることを考えると、小型化・薄型化を図ることはできる。しかし、新たに以下に示す問題を生じる。すなわち、ターン数が少ないため、上記した振幅の変化がさらに小さくなる。また、小型，薄型のために、検出領域が狭くなるので、高速に検出する必要がある。
【０００７】
一方、非磁性金属の場合には、センサ部に接近した際に生じる振幅の変化は小さいものの、発振周波数の変化は大きくなる。そこで、本発明者らは、振幅検知ではなく周波数検知により、検出対象物の近接の有無を判断する構成を考えた。係る発振周波数変化や位相差を検知するものは、従来もあったが、周波数測定や位相測定を高精度に実現するために長時間を要したり、高価な回路になったり、回路規模が大きくなるなど、高価，形状の大型化，応答速度が遅いという問題点が生じる。そして、周波数変動が大きいといっても、磁性金属に対する相対的なものであり、絶対的な変動量は小さいのには変わりない。よって、上記した問題（周波数測定を高精度に実現するために長時間を要することなど）は顕著となる。
この発明は、高性能（高精度，高速判定）で、安価な小形の近接センサを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明による近接センサは、基板にプリントコイルからなる検出コイルと、信号処理部が一体に形成され、前記信号処理部は、前記検出コイルのインピーダンスに応じて発振周波数が変化する発振回路と、前記発振回路の発振周波数を検出する周波数検出手段と、その周波数検出手段の検出結果に基づいて検出物体の状態を判定する判定手段と、その判定手段の判定結果に基づいて出力信号を出力する出力手段を備えた近接センサであって、前記周波数検出手段は、複数設けるとともに、その複数の周波数検出手段は、一部重複する異なる期間について測定するようにし、前記判定手段は、前記複数の周波数検出手段からの出力に基づいて判定するようにした。
【０００９】
この発明によれば、１つの基板上に構成したので、小型で薄型のセンサとなる。さらに、検出物体の状態によって、検出コイルを含む発振回路の発振周波数が変化するように構成し、発振周波数を複数の独立した周波数検出手段を用いて発振周波数をそれぞれ検出し、その検出結果に基づいて総合的に判定（近接の有無等）するようにしたので、構成が簡単で、高性能で安価に構成できる。そして、複数の周波数検出手段が、一部重複する異なる期間について測定するように構成したため、短時間で異なる期間についての周波数情報を得ることができるので、それら複数の周波数情報に基づいて最終的な周波数を求めるようにすると、１つの周波数検出手段で複数回測定して得られた複数の周波数情報に基づいて最終的な周波数を求める場合に比べて、短時間で高精度に判定することができる。
【００１０】
好ましくは、前記基板の前記検出コイルの中心部に貫通孔を設けるようにしたことである。このようにすると、検出物体をその貫通孔内に通過させることができる。よって、近接センサの取り付けレイアウトの自由度が増す。もちろん、貫通孔を設けた場合でも、検出物体を貫通孔内に通過させない状態で検知するようにしても良い。さらに、本発明では、貫通孔を設けなくても良いのはもちろんである。
【００１５】
また、本発明で言うところの「基板」とは、板状のものをさし、検出コイルや信号処理部が１つの基板として一体的に形成されていることを特定するために用いている。従って、硬さは問わず、可撓性を有し湾曲などの変形するものでも良い。従って、「○○基板」や、「○○板」等と称されるものはもちろんのこと、「シート」，「フィルム」等と称されるものも、本発明で言う「基板」に含まれる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係る近接センサの第１の実施の形態を示している。同図に示すように、本形態では、帯状のプリント配線板１０を用い、そのプリント配線板１０に検出コイル１１と信号処理部（電子回路部）１２を設けている。具体的には、プリント配線板１０は、絶縁体１３の両面に所定パターン形状の導体パターンを備えた両面基板を用い、銅箔等の細い導体１１ａを渦巻き状に形成することにより、検出コイル１１を形成する。また、信号処理部１２は、絶縁体１３に形成した配線パターン１４とプリント配線板１０に実装した電子部品１６とにより構成される。信号処理部１２は、後述するように、発振回路，弁別回路，出力回路等のセンサに必要な回路を構成している。このように、１枚の基板に、全ての構成要素を一体化するようにしたので、著しく安価で小形なセンサを構成することができる。
【００１７】
また、絶縁体１３は、各種の材質のものを適用することができるが、例えば、エポキシ基板や、フレキシブル基板などを用いることもできる。エポキシ基板の場合には、一般のプリント配線板に用いられるもので、本発明の近接センサを容易に製造することができる。また、フレキシブル基板を用いた場合には、可撓性を有し、湾曲させることができるので、取り付け面が曲面その他の平坦でない場合に、その取り付け面の形状に沿って密着させることができる。もちろん、上記例示した２つのもの以外にも各種の絶縁体を用いることができる。
【００１８】
図２は、第２の実施の形態を示している。本実施の形態では、第１の実施の形態を基本とし、渦巻き状にパターン形成された導体１１ａからなる検出コイル１１の中心部に、長円形の貫通孔１７を設けている。この貫通孔１７の寸法形状は、検出対象物のメダルや硬貨など円板状物体が通過可能に設定されている。このようにしておくと、メダルや硬貨のような物体が落下してくるのを検知させるのに便利である。なお、その他の構成並びに作用効果は第１の実施の形態と同様であるのでその詳細な説明を省略する。
【００１９】
次に、信号処理部１２の参考例について説明する。図３に示すように、検出コイル１１を含むＬＣ発振回路２０を有する。このＬＣ発振回路２０は、検出物体の状態に応じて発振周波数が変化するようになっている。このＬＣ発振回路２０は、例えば図４に示すような回路構成を採ることができる。このようにすると、検出コイル１１に検出物体が接近すると、検出コイル１１のインダクタンス値が減少するので、検出物体の近接に伴い発振を停止させることなく発振周波数を上昇させることになる。
【００２０】
そして、係る回路構成における検出コイル１１から検出物体までの距離と、発振周波数との関係の一例を示すと、例えば図５に示すように検出物体が検出コイル１１に接近するほど発振周波数が上昇するようになる。
【００２１】
一方、ＬＣ発振回路２０の出力が、第１〜第３周波数弁別部２１ａ〜２１ｃに与えられる。これら第１〜第３周波数弁別部２１ａ〜２１ｃは、それぞれ、クロック発生部２２から与えられるクロック信号に基づく弁別タイミングに従って、ＬＣ発振回路２０の発振周波数を所定のしきい値と比較して状態を判別し、その判別結果が出力回路２４に与えられる。なお、第１〜第３周波数弁別部２１ａ〜２１ｃの判断基準となるしきい値は、同一としている。つまり、各周波数弁別部２１ａ〜２１ｃは、同一の状態を弁別するようになっている。
【００２２】
つまり、図５に示すように、本形態では検出物体までの距離と、ＬＣ発振回路２０の発振周波数は一義的に対応するので、発振周波数があるしきい値以上の場合には、検出物体が一定の範囲内に存在していると言える。よって、近接と検知する範囲内か否かの境界となる発振周波数をしきい値に設定することにより、近接の有無を弁別できる。つまり、しきい値以上の発振周波数の信号が入力されると、周波数弁別部はＯＮとなり、近接したと推定する。
【００２３】
出力回路２４は、第１〜第３周波数弁別部２１ａ〜２１ｃから与えられる３つの弁別結果に基づき、近接したか否かを判断し、外部の機器または回路を制御するものである。つまり、近接したか否かの結果を外部にわかる（利用できる）信号に変換して出力する。
【００２４】
そして、具体的な近接したか否かの判断は、３つの出力ともしきい値以上の場合に、近接したと判断し、検出信号を出力するように構成できる。換言すると、１つでもしきい以下と判断した周波数弁別部がある場合には、近接していないと判断することになる。このようにすることにより、信頼性が高まる。
【００２５】
なお、判断の手法としては、上記したもの以外に、例えば、２つ以上の周波数弁別部ががしきい値以上と判断した時に近接したと判断するようにしてもよく、その他各種の判断基準を用いることができる。
【００２６】
さらに、第１〜第３周波数弁別部２１ａ〜２１ｃにおける弁別タイミングであるが、同一タイミングでもよいが、好ましくは、異なるタイミングで弁別することである。このようにすると、短時間で高精度な検出が行える。なお、物体の通過を検知することに用いる場合には、上記した異なるタイミングは、少なくとも検出コイル１１の前に通過中の物体が存在している範囲内で全ての弁別タイミングを設定する必要がある。
【００２７】
なお、発振周波数の計測は、発振周期や発振パルス幅を計測することで代用しても構わない。さらに、物体の存在を検知する必要が無く、通過検知専用のセンサとして使用すればよい場合は、弁別方法として、少なくとも２つの異なる時刻における差異を所定値と比較する方式をとれる。すなわち、各周波数弁別部２１ａ〜２１ｃは、例えば前回取得した（入力された）信号の発振周波数を記憶保持し、その記憶した値と今回取得した信号の発振周波数とを比較し、その差が大きい場合に、通過と検知することができる。係る構成をとると、発振回路や弁別回路の温度補償の必要性がなくなり、さらに高精度な検出が実現できる。つまり、温度変化などによっても発振周波数は変動するものの、その周波数の変化は徐々に行われるので、異なる時刻で取得した２つの値の差分をとることにより、温度変化等に伴う周波数変化分は相殺されるからである。
【００２８】
図６は、本発明に係る近接センサにおける両実施の形態で共通の信号処理部１２の態成を示している。本形態では、周波数弁別並びにそれに基づく近接の有無の判断を、マイクロコンピュータ（ワンチップマイコン等）を利用した場合の実施の形態である。すなわち、ＬＣ発振回路２０の出力信号は、マイクロコンピュータとなるＣＰＵ３０に入力される。そして、ＣＰＵ３０内には、入力ポートから入力されたＬＣ発振回路２０の出力信号の発振周波数を測定する第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃと、それら第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃで測定した周波数に基づいて近接したか否かを判断する比較判定部３２と、その比較判定部３２の判定結果に基づいて出力信号を出力する出力部３３とを備えている。そして、その出力部３３の出力結果は、出力インタフェース３５を介して外部機器等に伝達される。
【００２９】
図７は、上記したＣＰＵ３０の概略の処理機能を示している。同図に示すように、電源投入に伴いＣＰＵ３０が起動する（ＳＴ１）。すると、まず初期設定を行う（ＳＴ２）。すなわち、ＣＰＵ３０のメモリクリアやポートの入出力状態等の命令を行う。
【００３０】
次いで、ＬＣ発振回路２０の発振周波数の測定を行う（ＳＴ３）。この発振周波数の測定は、第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃがそれぞれ実行し、測定結果を記憶装置に記憶させる。そして、この周波数測定の具体的な処理フローは図８に示すようになっている。
【００３１】
まず、前提としてＬＣ発振回路２０からは、矩形状の発振パルスが出力される。そして、第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃは、周波数カウンタを用い、上記した発振パルスのパルス数を計数する。つまり、パルスが入力される都度１ずつカウントアップするカウンタを用いることにより、ある期間に入力されたパルスの数は、周波数カウンタのカウント値となる。よって、例えば一定時間内のパルス数は発振周波数の増減に対応して変動するので、係るパルス数から発振周波数を求めることができる。
【００３２】
具体的な周波数測定処理は、図８に示すように、まず、今回の周波数測定サイクルの開始から所定時間経過したか否かを判断する（ＳＴ１１）。そして、所定の時間が経過していなければ、何もせずに終了する。一方、所定時間が経過していればステップ１２へ進み、カウンタ読み出し処理を実行する（ＳＴ１２）。すなわち、その所定時間経過したときの周波数カウンタのカウント値を読み出す。これにより、所定時間内で入力されたパルス数が求められる。
【００３３】
次いで、周波数カウンタのカウンタ値を、所定の記憶領域に記憶させる（ＳＴ１３）。つまり、複数の記憶領域のうち、記憶領域ポインタが示すアドレスへ周波数計測値（カウンタ値）を書き込む。その後、次の周波数測定値の格納に備えて、記憶領域ポインタ（カウンタ読み出し値を書き込むべき記憶アドレス）の更新を実行する（ＳＴ１４）。この一連の処理を行うことにより、１回の周波数測定が実行され、以後上記した処理を繰り返し実行する。
【００３４】
ステップ３の周波数測定処理を実行後（「所定時間未経過で終了）」或いは「記憶領域ポインタ更新後」）、周波数測定が完了したか否かを判断する（ＳＴ４）。すなわち、周波数測定が演算に必要な回数だけ行われ、記憶装置に記憶されているかどうか判断する。そして、必要な回数分記憶装置に記憶されている場合には、ステップ５に進み演算ルーチンを実行する。また、必要な回数分記憶されていなければ、ステップ８に飛び、周波数カウンタ変更ルーチンを実行する。
【００３５】
まず、演算ルーチンについて説明すると、本形態では３つの第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃ（周波数カウンタ）を用いたため、それぞれで測定された３つの周波数測定値に基づいて所定の演算処理を実行し、発振周波数を求める。具体的には、３つの周波数測定値の単純加算平均を求めるようにする。なお、演算処理はこのように単純加算平均を求めるものに限ることはなく、例えば、３つの周波数測定値に一定の係数を掛けた加重平均を求めたり、３つの周波数測定値の乗法平均を求めたりすることができる。上記した３つの演算方法は、発振周波数と非同期の繰り返しノイズに対して、平均を求めることによって相殺されるため、ノイズ除去効果が期待できる。
【００３６】
さらに別の方式としては、前回の周波数測定値と所定値以上の周波数変化があった場合、前回測定値と次回測定値との中間値を今回測定値として演算に用いる。この時、１つの周波数測定部における前回測定値と今回測定値との差分をとるようにした場合、複数（３個）の演算値が求められるが、係る３つの演算値に基づいて上記した各平均を求める処理を実行することもできる。そして、予め定めた演算方法に従って演算処理を実行したならば、比較判定処理を実行する（ＳＴ６）。
【００３７】
比較判定処理は、図９に示すように、上記した演算処理で求めた演算結果が所定のしきい値（所定値）よりも大きいか否かを判定する（ＳＴ２１）。そして、演算結果の方が大きい（ステップ２１でＹｅｓ）場合には、出力フラグに出力状態１をセットする（ＳＴ２２）。また、演算結果が所定値以下（ステップ２１でＮｏ）の場合には、出力フラグに状態２をセットする（ＳＴ２３）。
【００３８】
なお、本形態では、比較判定処理は、演算結果と１つのしきい値の大小関係を判定するようにしたが、本発明はこれに限ることはなく、例えば、比較基準となるしきい値を複数設定し、検出物体の接近位置をより詳細に判断するようにしても良い。
【００３９】
上記のように比較判定処理を実行したならば、比較判定結果に基づき、制御出力ポートを制御する出力処理を実行する（ＳＴ７）。すなわち、図１０に示すように、比較判定処理で決定された、出力フラグの状態から出力すべきデータをコード化（出力状態エンコード）する（ＳＴ３１）。つまり、例えば、出力フラグが「出力状態１」の場合には、検出物体が近接しているため、近接に基づくコードを生成する。次いで、上記の処理でコード化された値を出力ポートに出力する（ＳＴ３２）。これにより、出力処理が終了する。
【００４０】
この出力処理の終了後、並びに、ステップ４の分岐判断でＮｏ（周波数測定未完了）の場合に、周波数カウンタ変更処理を実行する（ＳＴ８）。つまり、処理対象の周波数カウンタを切替える。ここでいう周波数カウンタに対する処理は、例えば図８に示す周波数測定処理を実行し、カウンタの読み出しや記憶処理を行うことであり、各周波数カウンタ自体は、処理対象になっているか否かにかかわらず、入力された発振信号に基づいてカウント処理をしている。
【００４１】
ところで、本形態では、３つの周波数測定部（周波数カウンタ）３１ａ〜３１ｃに基づいて周波数測定を行うに際し、第１〜第３周波数測定部３１ａ〜３１ｃがそれぞれ一定時間ｔ１，ｔ２，ｔ３（ｔ１＝ｔ２＝ｔ３）内のパルス数を計数するが、図１１に示すように、測定開始時期をずらして周波数を測定する。このようにすると、異なる期間における発振周波数を取得し、その取得した複数の発振周波数に基づいて平均値などを求めることにより、測定時間を長くすることなく、測定回数を増やすことができる。すなわち、検出精度を落とすことなく、応答時間を短くすることができる。このようにすると、ただ１つの周波数測定部（周波数カウンタ）で発振周波数を３回測定した場合と比較した場合、測定精度を同一にするためには、１／３の時間で測定完了できる。また、測定時間を同一にして比較した場合には、３倍の精度で測定できることになる。さらにまた、このように測定時間を一定にすることにより、周波数変動が比較的大きい場合にも判定に要する時間が長時間にならないので、好ましい。
【００４２】
また、上記した例では、各周波数測定部における測定時間を同一にしたが、本発明では、これに限ることはなく、一定パルス数を検出するまでの時間（パルス周期）を測定するようにしても良い。この方法は、発振周波数の変動が比較的小さい場合に適している。この場合にも、上記した図１１に示す場合と同様に、検出精度を落とすことなく、応答時間を短くすることができる。
【００４３】
なお、上記した実施の形態では、まず、３つの測定周波数を演算処理し、得られた演算結果としきい値とを比較するようにしたが、本発明はこれに限ることはなく、３つの測定周波数に基づいて判定することもできる。すなわち、それぞれ測定した周波数に基づいて近接したか否かの判定を行い、得られた複数の判定結果を組み合わせて、判定が有効かどうかさらに判定することもできる。一例としては、複数の判定結果のうち、所定数の判定結果が同一であった場合に限り、その所定回数を越えた方の判定結果を有効とする。このようにすると、判定の信頼性を向上させる場合に有効である。例えば、３つの判定結果が全て同一の場合に有効判定としたり、移動平均を求めるのと同様の方法で３つの判定値を読み出すようにすると、高速応答性を損なうことなく、信頼性を向上させることができる。
【００４４】
次に、上記した近接センサの具体的な適用例を説明する。例えば、メダル遊技機の場合、遊技媒体（メダル，コイン）を投入することによりゲームが開始し、メダル遊技機において入賞すると、その賞品としてメダル遊技機の内部に設置されたホッパー内に貯留されたメダルが、所定枚数分だけ排出されるようになっている。ことのき、ホッパーの排出口からメダルを１枚ずつ整流部に送り出し、整流部は、メダルの方向性を定めてから、メダル遊技機の前面に設置されたメダル受皿へと落下させる。
【００４５】
また、このホッパー内には、常時一定量のメダルを貯留しておく必要から、メダルはメダル遊技機の裏側の島から、所定の搬送通路を通ってメダル遊技機内のホッパーに供給される。
【００４６】
このように、メダル遊技機の内外には、メダルを搬送するための通路が設置される。この通路４０は、例えば図１２に示すように、矩形状の管からなり、その内形状は、メダル４５が１枚通過可能な縦・横寸法を有するように構成される。従って、例えば第１の実施の形態の近接センサ４１の場合には、この通路４０の外側面に貼り付けることにより設置できる。
【００４７】
また、第２の実施の形態の近接センサ４２の場合には、例えば図１３に示すように、通路（整流部）４０の排出口４０ａに対し、通路４０と直交するように近接センサ４２を配置することができる。このとき、近接センサ４２の貫通孔１７は、通路４０の排出口４０ａと対抗するように配置する。これにより、通路４０から搬出されて落下するメダル４５は、貫通孔１７内を通過するようになる。
【００４８】
本発明の近接センサによれば、検出コイル部と信号処理部とが１枚の基板で構成されているので、非常に薄く構成できる。しかも、周波数検知であるので、対象物体の材質がメダルや硬貨などの非磁性金属であっても、感度良く検出することができる。
【００４９】
その結果、図１２，図１３で示した通り、本発明では、従来、大型かつ高価なために取り付けることが困難であった通路の各所（搬送部や整流部等）に近接センサを取り付けることが可能になる。よって、メダルの供給数と送出数，客への払い出し数を性格に計数し、メダルの供給を適切な数だけ行うことや、快適に適正な遊技を提供することが可能となる。
【００５０】
さらに、硬貨も非磁性金属を主材料としており、類似の搬送及び整流機構を有するような、銀行等の自動決済機や、自動硬貨選別機，自動販売機の釣銭収納庫においても、本発明の近接センサを応用できる。なお、本発明に係る近接センサは、上記した利用形態に限ることなく、各種の分野において近接センサとして適用できるのはもちろんである。
【００５１】
【発明の効果】
以上のように、この発明では、センサが１つの基板で構成することができ、しかも、高性能（高精度，高速判定）で、安価に構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る近接センサの好適な第１の実施の形態を示す外観図である。
【図２】本発明に係る近接センサの好適な第２の実施の形態を示す外観図である。
【図３】近接センサの参考例を示すブロック図である。
【図４】ＬＣ発振回路の一例を示す回路図である。
【図５】図４に示すＬＣ発振回路を備えた近接センサにおける検出物体までの距離と発振周波数の関係を示すグラフである。
【図６】本発明に係る近接センサの好適な実施の形態を示すブロック図である。
【図７】図６に示す実施の形態のＣＰＵの機能を説明するフローチャートである。
【図８】周波数測定処理ステップの詳細なフローチャートである。
【図９】比較判定処理ステップの詳細なフローチャートである。
【図１０】出力処理ステップの詳細なフローチャートである。
【図１１】周波数測定の作用を説明するタイミングチャートである。
【図１２】本発明の近接センサをメダル遊技機に適用した例を示す図である。
【図１３】本発明の近接センサをメダル遊技機に適用した例を示す図である。
【符号の説明】
１０ プリント基板
１１ 検出コイル
１２ 信号処理部
１３ 絶縁体
１４ 配線パターン
１６ 電子部品
１７ 貫通孔
２０ ＬＣ発振回路
２１ａ 第１周波数弁別部
２１ｂ 第２周波数弁別部
２１ｃ 第３周波数弁別部
２２ クロック発生部
２４ 出力回路
３０ ＣＰＵ
３１ａ 第１周波数測定部
３１ｂ 第２周波数測定部
３１ｃ 第３周波数測定部
３２ 比較判定部
３３ 出力部
３５ 出力インタフェース
４０ 通路
４０ａ 排出口
４１，４２ 近接センサ
４５ メダル

Claims (2)

1. 基板にプリントコイルからなる検出コイルと、信号処理部が一体に形成され、前記信号処理部は、前記検出コイルのインピーダンスに応じて発振周波数が変化する発振回路と、前記発振回路の発振周波数を検出する周波数検出手段と、その周波数検出手段の検出結果に基づいて検出物体の状態を判定する判定手段と、その判定手段の判定結果に基づいて出力信号を出力する出力手段を備えた近接センサであって、
   前記周波数検出手段は、複数設けるとともに、その複数の周波数検出手段は、一部重複する異なる期間について測定するようにし、
   前記判定手段は、前記複数の周波数検出手段からの出力に基づいて判定するようにしたことを特徴とする近接センサ。
2. 前記基板の前記検出コイルの中心部に貫通孔を設けたことを特徴とする請求項１に記載の近接センサ。

Images