JP4440907B2

JP4440907B2 - 多層記憶媒体

Info

Publication number: JP4440907B2
Application number: JP2006242079A
Authority: JP
Inventors: 貴信松葉; 正樹二宮
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2003-11-21
Filing date: 2006-09-06
Publication date: 2010-03-24
Anticipated expiration: 2024-05-27
Also published as: JP2007004977A

Description

本発明は、記録媒体の試し書き領域で試し書きを行って最適な記録パワー値を求め、この最適な記録パワーで前記記録媒体に対して情報の記録を行う多層記憶媒体に関する。

特許文献１には、記録層が多層構造である多層光ディスクの第２層目以降の記録層に対して情報を記録する際に、その記録層より光の入射側に位置する記録層の記録状態により透過光量が変化しても、記録レーザ光のレーザパワーの適切な制御を行うことができ、良好な特性で情報を記録することができるようにすることを目的とする技術が開示されている。すなわち、レーザ光源からのレーザ光は光ピックアップにより光ディスクの記録膜表面に収束され、戻り光は光検出部で検出され、制御部に入力され、レーザドライバのパワーコントロールが行われるが、ユーザデータの記録を行う前に、制御部が、ユーザデータ記録領域以外の記録パワーテスト領域にて、記録パワーのテストを行って記録パワーを決定し、決定された記録パワーに基づいてユーザデータ記録領域にユーザデータの記録を行う、とするものである。
特開２００３−２２５３２公報

従来の単一の記録層しか持たない単層構造の記録媒体に対して記録を行う際に、個々の記録装置のばらつきや記録速度、記録媒体の特性等の条件により記録を行うための最適なレーザパワーは異なるため、情報の追記又は書き換えを行う場合に、所定の試し書き領域で試し書きを行ってレーザの最適記録パワー制御（ＯＰＣ：Optimum Power Control）を行っている。そして、ＯＰＣは同一記録面に複数の記録層を持つ多層構造の記録媒体（多層記録媒体）に情報の追記又は書き換えを行う場合にも行わなくてはならない。

そして、このような多層記録媒体に情報の記録を行う場合、次のような課題がある。

１．例えば、同一記録面に２つの記録層を持つ２層構造の多層記録媒体の場合、第２層目に情報を記録する場合、第１層目の記録層を透過して、第２層目に情報を記録することになる。従って、第１層目が消去状態（高反射率、低透過率）か記録状態（低反射率、高透過率）かによって、第２層目に到達する光ビームの光量が変化してしまい、最適な記録パワーが変わってしまう。この最適な記録パワーの変動はジッタ、エラーレートなど第２層目の記録特性の劣化に繋がってしまう。

２．第１層目と第２層目の試し書き領域が互いに重ならないようにずらして配置されている、追記又は書き換え可能な多層記録媒体に情報の記録を行う場合、第１層目の情報記録は第１層目の試し書き領域でＯＰＣを行うことにより最適記録パワーが求められるが、第２層目に情報を記録する場合、第１層目は既に記録状態になっており、第２層目の情報記録は低反射率、高透過率の状態で記録することになる。この場合の第２層目の試し書き領域はずらして配置されているので、第１層目は消去状態であり、これから実際に情報を記録しようとしている第２層目の状態とは異なる状態になっている。

３．また、第１層目と第２層目の試し書き領域が互いに重なるように配置されている場合も、第２層目の試し書き領域でＯＰＣを行うときに、その第２層目の試し書き領域と同一記録面で重なり合う第１層目の試し書き領域が消去状態であると、これから実際に情報を記録しようとしている第２層目の状態とは異なる状態になっている。

本発明の目的は、多層記録媒体の第２層目以降の記録層に情報の記録を行う場合に、試し書きにより最適な記録パワーを求めることができるようにすることである。

本発明は、記録媒体の試し書き領域で試し書きを行って最適な記録パワー値を求め、この最適な記録パワーで前記記録媒体に対して情報の記録を行う記録方法において、前記記録媒体が同一記録面に複数の記録層を持つ多層記録媒体であって、前記試し書き領域が各記録層に形成され、光の入射側から数えて第２層目以降の前記記録層に情報記録を行う場合に、当該第２層目以降の記録層の前記試し書き領域で前記試し書きを行う前に当該記録層より前記光の入射側に位置している前記記録層で当該試し書き領域と同一の記録面に位置する部分に記録を行う、ことを特徴とする記録方法である。

別の面から見た本発明は、記録媒体の試し書き領域で試し書きを行って最適な記録パワー値を求め、この最適な記録パワーで前記記録媒体に対して情報の記録を行う記録装置において、前記記録媒体が同一記録面に複数の記録層を持つ多層記録媒体であって、前記が各記録層に形成され、光の入射側から数えて第２層目以降の前記記録層に情報記録を行う場合に、当該第２層目以降の記録層より前記光の入射側に位置している前記記録層で当該第２層目以降の記録層の前記試し書き領域と同一の記録面に位置する部分に記録を行う前処理手段と、この記録後に当該第２層目以降の記録層の前記試し書き領域で前記試し書きを行う試し書き手段と、を備えていることを特徴とする記録装置である。

別の面から見た本発明は、記録媒体の試し書き領域で試し書きを行って最適な記録パワー値を求め、この最適な記録パワーで前記記録媒体に対して情報の記録を行う処理を記録装置に実行させるコンピュータに読み取り可能なプログラムにおいて、前記記録媒体が同一記録面に複数の記録層を持つ多層記録媒体であって、前記が各記録層に形成され、光の入射側から数えて第２層目以降の前記記録層に情報記録を行う場合に、当該第２層目以降の記録層より前記光の入射側に位置している前記記録層で当該第２層目以降の記録層の前記試し書き領域と同一の記録面に位置する部分に記録を行う前処理手段と、この記録後に当該第２層目以降の記録層の前記試し書き領域で前記試し書きを行う試し書き手段と、をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラムである。

本発明によれば、多層記録媒体の第２層目以降の記録層に情報の記録を行う場合に、最適な記録パワーを求めることができる。

［参考の形態１］
本発明を実施するための参考の一形態について説明する。

図１は、本参考の形態に用いる多層記録媒体２０１の構成を示す説明図である。この多層記録媒体２０１は、同一記録面に複数の記録層（この例では、第１層２０２、第２層２０３の２層構造）を持つ多層構造の記録媒体で、光学的に情報の記録、再生を行うことができる光ディスク、光磁気ディスクなどである。

多層記録媒体２０１は、第１層２０２、第２層２０３とも、情報を記録するデータ領域２０２ａ，２０３ａを有するほか、内周側、外周側に記録時に最適なレーザパワーを求めるＯＰＣを行うための試し書き領域２０２ｂ，２０２ｃ，２０３ｂ，２０３ｃが設けられている。この試し書き領域２０２ｂと２０３ｂ、２０２ｃと２０３ｃは、互いに多層記録媒体２０１の同一記録面に重なり合わないように、各層２０２、２０３毎にずらして配置されている。

図２は、多層記録媒体２０１に対し、レーザの最適記録パワー制御を行って情報の記録を行うための記録装置１０１の構成を示す。

多層記録媒体２０１などの記録媒体Ｄは、回転モータ１１４を駆動源として回転する。この回転モータ１１４はディスク回転制御手段１０２によって制御され、所定の速度で回転する。

ヘッド１０３は、サーボ手段１０４によってフォーカシングサーボ、トラッキングサーボを実現し、記録媒体Ｄの記録膜上に光ビームを集光させ、記録マークを形成する。また、記録媒体Ｄの半径方向に移動可能で、記録媒体Ｄにあらかじめ設けられた試し書き領域や、データ領域にアクセス可能である。

ヘッド１０３には図示しない光源が搭載されている。これは一般的には半導体レーザ（LD：Laser
Diode）用いられる。このレーザはＬＤドライバ１１２によって、所定の記録パワー状態に、入力パルス信号で変調される。レーザが、記録パワー状態とスペースパワー状態の間で変調されることで、記録膜上には記録マークとそうでないところができる。これを再生すると反射率の差が生じて、情報信号として再生することができる。

記録マークは、記録媒体ＤがＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒのような非可逆な有機色素媒体では、ピット（穴）であり、そうでないところはスペースと呼ばれる。

パワー設定手段１１１は、記録装置１０１を集中的に制御するコントローラ１０７から入力される記録パワー指令に応じて、ＬＤドライバ１１２を駆動し、レーザをそのパワーで光らせる。また、ＯＰＣ時には試し書きモードになり、順次記録パワーを可変する。

記録媒体Ｄに記録する記録データは、データ生成手段１１３で所定のフォーマットで符号化や変調処理がなされ、シリアル形式で記録データ列として出力される。

パルス幅の設定は、固定でもよいが、線速度やディスク種別に応じてコントローラ１０７によってそれぞれに設定するとなおよい。線速度やディスク種別による、記録マーク長ごとの感度の違いを吸収できるからである。

記録媒体Ｄの種別は、ヘッド１０３でディスクの特定場所を再生したときの再生信号を解読することにより検出する。この種別は、例えば、記録媒体Ｄを製造したメーカーを何らかの方法で特定できれば、メーカー別にしてもよいし、同一メーカーでもさらに細かく分類できればなおよい。他の種別の同定手法としては、例えば、記録媒体Ｄにあらかじめ埋め込んである各種パラメータを用いることもできる。例えば、推奨パワーやパルス幅などを埋め込んである場合はそれを用いてもよい。

あるいは、メーカーごとに特定のメーカー識別コード（ベンダーコード）を埋め込んでおく場合もある。さらに細分類のためのコードを埋め込んでもよい。こうすることで、同一メーカーのさまざまな記録膜に応じて、最適なパルス幅設定（Write Strategy）が可能になる。

次に、試し書き、すなわち、ＯＰＣ（Optimum Power Control）について説明する。

この試し書きは、ある線速度で記録パワーを順次変化させて記録し、その後、その記録位置を再生して記録状態を評価し、最適な記録状態になる記録パワーを決定する処理である。

図２の記録装置１０１では、コントローラ１０７からの指令によりパワー設定手段１１１で、順次、記録パワーを変化させて記録することができる。記録媒体Ｄが多層記録媒体２０１である場合、試し書きを行う領域は、図１に示す、前述の試し書き領域２０２ｂ，２０２ｃ，２０３ｂ，２０３ｃである。

この試し書き領域に記録後、ヘッド１０３で同じ記録位置を再生して再生信号（ＲＦ信号）を得る。このＲＦ信号の適当なパラメータを評価することで、最適な記録状態が評価できる。例えばβ値検出手段１０６ではβなるパラメータを測定する。

このβ値検出手段１０６は、ＲＦ信号の低域成分を除去（ＡＣ結合）して、その上側包絡線レベルaと下側包絡線レベルbを検出する。この説明を図３に基づいて行う。記録膜の特性として、記録マーク部で反射率が下がると仮定し、ＲＦ信号は低反射部で低レベルになるとする。そうすると、適正な記録状態のときＡＣ結合されたＲＦ信号は、図３（ａ）に示すように上下対称で、“ａ＝ｂ”になる。また記録パワーが過大のときは、記録マーク部が長くなるから、図３（ｂ）に示すように、ＡＣ結合すると上側レベルが高くなり“ａ＞ｂ”になる。また記録パワーが不足のときは、記録マーク部が短くなるから、図３（ｃ）に示すように、ＡＣ結合すると下側レベルが高くなり、“ａ＜ｂ”になる。

このaとbの差をＲＦ振幅“ａ＋ｂ”で正規化した量がβである。すなわち、
β＝（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）
である。

ここで、βが大きいとパワー過大、小さいとパワー不足である。最適なパワーはβがある値（例えば４％程度）になったときで、このβをβtargetと呼ぶ。ＯＰＣは順次記録パワーを変化させて記録し、記録した部分のβ値を評価し、βtargetとなるときの記録パワーを求めることにより行う。

このときのパワーとβの関係を図４に示す。図４では、記録パワーを１０段階に変えて記録している。記録パワーを振る範囲をＯＰＣレンジ（OPC Range）、このときの基準となる中心パワーをＰdefと呼ぶ。ＯＰＣレンジはＰdefに対して例えば＋４０％、−３０％の範囲で１０段階に可変する、あるいは、Ｐdefに対して＋５ｍＷ，−４ｍＷの範囲で１ｍＷずつ振る、等の方法が考えられる。

得られた１０点のβ値からβカーブを曲線（２次）近似し、βtargetとなるパワーＰopcを得る。温度変化等、ＯＰＣを実行する時点の条件により、Ｐoptは多少変動することもあるため、通常条件ではＰopcはなるべくＰdef付近で求まる方が望ましい。また、Ｐopcは記録媒体Ｄ毎に異なることが多いため、それぞれの記録媒体Ｄの種類に対応したWrite Strategyと共に設定する場合も多い。メモリ手段１０８は、不揮発性メモリを使用し、記録装置１０１毎にＯＰＣパワー補正パラメータを保存する。

次に、多層記録媒体２０１に対して、ＯＰＣを具体的にどのように行うか図５のフローチャートを参照して説明する。

例えば、線速度一定（ＣＬＶ：Constant Linear Velocity）で多層記録媒体２０１を回転させながら記録する場合、多層記録媒体２０１と記録を行うレーザビームとの相対速度がいつも一定なので、記録パワーや記録パルス幅などの記録条件は、一度最適に決めてしまえば、多層記録媒体２０１の全面にわたり変える必要がない。

このため、内周部あるいは外周部の試し書き領域２０２ｂと２０３ｂ、２０２ｃと２０３ｃで、記録パワーを可変してＯＰＣを行い、これにより決定した最適記録パワーを用いて、同じ線速度で全面記録する。

図５に示すように、まず、コントローラ１０７は、第１層目の記録層２０２に対する情報記録は、単層の記録媒体Ｄに記録する時と同様に、内周部に配置されている試し書き領域２０２ｂにおいてＯＰＣを行って最適記録パワーを決定し（ステップＳ１）、これに基づいて第１層目の記録層２０２のデータ領域２０２ａに情報記録を行う（ステップＳ２）。第１層目のデータ領域２０２ａの情報記録が終了して（ステップＳ３のＹ）、第２層目の記録層２０３に記録を行うが、このとき、第２層目の最適記録パワーを求めなければいけない。ここで、第２層目の試し書き領域２０３ｂと、これから実際に情報の記録を行おうとしている第２層目のデータ記録領域２０３ａのレーザ入射側にあたる第１層目のデータ記録領域２０３ｂの記録状態が異なることになる。

すなわち、第１層目の試し書き領域２０２ｂと第２層目の試し書き領域２０３ｂとは、前述のように同一の記録面において重ならないように互いにずらして配置されているので、第２層目の試し書き領域２０３ｂのレーザ光入射側の第１層目の部分（図１の符号２０２ｄ）は消去状態（高反射率、低透過率）であり、これから記録を行おうとしている第２層目のデータ記録領域２０３ａは、第１層目の情報記録が終了しているので、そのレーザ光入射側の第１層目（データ記録領域２０２ａ）は記録状態（低反射率、高透過率）となっている。

このまま、第２層目の試し書き領域２０３ｂで最適記録パワーを求めることはできないので、実際の記録状態に合わせてから試し書きを行って、最適記録パワーを求めなくてはならない。そこで、第２層目へのレーザ光の透過状態をデータ領域２０３ａと試し書き領域２０３ｂとで合わせるために、第２層目の試し書き領域２０３ｂのレーザ光入射側で、この試し書き領域２０３ｂと同一の記録面で重なっている第１層目の部分２０２ｄに記録を行う（前処理手段）（ステップＳ４）。

その後、第２層目の試し書き領域２０３ｂでＯＰＣを行って最適記録パワーを決定し（試し書き手段）（ステップＳ５）、第２層目のデータ記録領域２０３ａにデータの記録を行う（ステップＳ６）。

図６は、別の処理例を示すフローチャートである。すなわち、コントローラ１０７は、第１層目のデータ領域２０２ａに記録を行う前に第１層目と第２層目の試し書き領域２０２ｂ，２０３ｂでＯＰＣを行って第１層目および第２層目の最適記録パワーを予め求め（ステップＳ１，Ｓ４，Ｓ５）、その後、第１層目と第２層目のデータ領域２０２ａ，２０３ａに順次データ記録を行う（ステップＳ２，Ｓ３，Ｓ６）。

図５の処理に限らず、この図６の処理で記録を行ってもよいが、第１層目のデータ領域２０２ａの記録終了時には温度によりレーザ特性も変わっているので、第１層目の記録が終了して、第２層目の記録を開始する直前にＯＰＣを行って第２層目の記録パワーを決定する図５の処理の方が最適なパワーを決定することができる。

また、図１に示すように、多層記録媒体２０１の外周部においても、第１層目と第２層目とでは試し書き領域２０２ｃと２０３ｃとが同一記録面で重ならないようにずらして配置されている場合に、この外周部の試し書き領域２０２ｃ，２０３ｃでＯＰＣを実行する場合も同様である。この場合は、ステップＳ４において、試し書き領域２０３ｃと同一の記録面で重なっている第１層目の部分２０２ｅに記録を行う。

また、第１層目の記録層２０２に対して情報の記録が済んでいるか否かにかかわらず第２層目の記録層２０３に情報の記録を行う場合もある。かかる場合の処理を図７のフローチャートを参照して説明する。すなわち、コントローラ１０７は、第１層目のデータ領域２０２ａの情報記録がすでに終了しているときは（ステップＳ３のＹ）、第１層目の部分２０２ｄに記録を行った上で第２層目の試し書き領域２０３ｂで試し書きを実行するが（ステップＳ４〜Ｓ６）、第１層目のデータ領域２０２ａの情報記録が行われていないときは（ステップＳ３のＮ）、第１層目の部分２０２ｄに記録を行うことなく第２層目の試し書き領域２０３ｂで試し書きを実行する（ステップＳ５，Ｓ６）。

［実施の形態２］
別の実施の形態について説明する。

図８は、本実施の形態に用いる多層記録媒体２０１の構成を示す説明図である。図８において、図１と同一の符号は図１の多層記録媒体２０１と同様であり、詳細な説明は省略する。図８の多層記録媒体２０１が図１のものと相違するのは、試し書き領域２０２ｂと２０３ｂ、２０２ｃと２０３ｃは、互いに多層記録媒体２０１の同一記録面に重なり合うように配置されている点である。そのため、図１のものとは異なり、第２層目の試し書き領域２０３ｂのレーザ光入射側の第１層目の部分２０２ｄ、試し書き領域２０３ｃと同一の記録面で重なっている第１層目の部分２０２ｅは存在しない。

このような多層記録媒体２０１に情報の記録を行う記録装置１０１のハードウエア構成は、図２を参照して前記したものと同様であり、以下では図２と同一符号を用い、詳細な説明は省略する。

次に、記録装置１０１が実行する処理について説明する。

図９は、記録装置１０１で多層記録媒体２０１にＯＰＣを実行してデータの記録を開始するまでの処理のフローチャートである。

まず、コントローラ１０７は、多層記録媒体２０１の第２層目に対する記録か、第１層目に対する記録かを、ライトコマンドのアドレスにより確認する（ステップＳ１１）。第１層目の記録であれば、第１層目の試し書き領域２０２ｂあるいは２０２ｃでＯＰＣを実行し、最適記録パワーを決定する（ステップＳ１５）。そして、コントローラ１０７は、この決定した最適記録パワーを設定して多層記録媒体２０１のデータ領域２０３ａに記録（Write）を行う（ステップＳ１４）。

第２層目の記録であれば（ステップＳ１１のＹ）、第２層目の試し書きを行う領域２０３ｂあるいは２０３ｃと同一記録面に位置する第１層目の試し書きを行う領域２０２ｂあるいは２０２ｃに、第１層目を記録した最適記録パワーで情報を予め記録する（ステップＳ１２）。この記録が終了した後に、その記録した領域２０２ｂあるいは２０２ｃと同一記録面に位置する第２層目の試し書きを行う領域２０３ｂあるいは２０３ｃにＯＰＣを実行し、最適記録パワーを決定する（ステップＳ１３）。記録装置１０１は、この決定した最適記録パワーを設定して、多層記録媒体２０１の第２層目のデータ領域２０２ａに記録（Write）を行う（ステップＳ１４）。

このような処理により、第２層目を記録するための最適な記録パワーを的確に求めることができる。

記録装置１０１が実行する別の処理例について説明する。

図１０は、記録装置１０１で多層記録媒体２０１にＯＰＣを実行してデータの記録を開始するまでの参考の形態の処理のフローチャートである。図９と同一符号の処理については、図９を参照して前述した処理と同様であるため、詳細な説明は省略する。

図１０の処理では、第２層目の記録のときは（ステップＳ１１のＹ）、第２層目の試し書き前に実行する第１層の試し書きは、試し書き領域２０２ｂ，２０２ｃのうち１回の試し書きで使用する部分のみに対して、第１層目を記録した最適記録パワーで情報を予め記録する（ステップＳ１６）。そして、この第１層に試し書きを行った１回の試し書きで使用する領域２０２ｃと同一の記録面にある第２層の試し書き領域でＯＰＣを実行する（ステップＳ１３）。この例では、図１１に示すように、１回の試し書きで使用する領域は第１層目の試し書き領域２０２ｃの一部分２０２ｃ１のみであり、この部分にデータの記録を行ってから、これと同一記録面に位置する第２層目の試し書き領域２０３ｃの一部分２０３ｃ１のみにＯＰＣを実行する。

記録装置１０１が実行する別の処理例について説明する。

図１２は、記録装置１０１で多層記録媒体２０１にＯＰＣを実行してデータの記録を開始するまでの処理のフローチャートである。図９と同一符号の処理については、図９を参照して前述した処理と同様であるため、詳細な説明は省略する。

図１２の処理では、第２層目の記録のときは（ステップＳ１１のＹ）、第２層目の試し書きを行う試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃと同一記録面に位置する第１層目の試し書き領域２０２ｂあるいは２０２ｃ領域が、記録済みか否か判断する（ステップＳ１７）。記録済みであれば（ステップＳ１７のＹ）、第２層目のＯＰＣを当該領域で実行し、最適記録パワーを決定する（ステップＳ１８）。未記録であれば（ステップＳ１７のＮ）、第２層目の試し書き領域２０３ｂまたは２０３ｃの全領域と同一の記録面に位置する第１層目の試し書き領域２０２ｂまたは２０２ｃの全体に対して、第１層目を記録した最適記録パワーで情報を予め記録する（ステップＳ１９）。そして、第１層目の領域の記録が終了したら、第２層目のＯＰＣを、第１層目の情報を記録した試し書き領域と同一記録面に位置する第２層目の試し書き領域で実行し、最適記録パワーを決定する（ステップＳ１８）。この例では、図１３に示すように、第２層目の試し書き領域２０３ｃの全領域と同一の記録面に位置する第１層目の試し書き領域２０２ｃの全体に対して、第１層目を記録した最適記録パワーで情報を予め記録する。

これにより、第２層でのＯＰＣを行うたびに、第２層の試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃと同一の記録面に位置する第１層の試し書き領域２０２ｂあるいは２０２ｃに情報の記録を行う必要はなくなるので、第２層目のＯＰＣを行うための時間を短縮できる。

記録装置１０１が実行する別の処理例について説明する。

図１４は、記録装置１０１で多層記録媒体２０１にＯＰＣを実行してデータの記録を開始するまでの処理のフローチャートである。図９と同一符号の処理については、図９を参照して前述した処理と同様であるため、詳細な説明は省略する。

この処理では、第１層目の記録であれば（ステップＳ１１のＮ）、第１層目のカウント領域（Disc Count Zone）（図１５の符号３０１，３０２）から、試し書き開始アドレスを取得する（ステップＳ２１）。そして、取得したアドレスの試し書き領域２０２ｂ，２０２ｃ（図１５の符号３０３，３０４）でＯＰＣを実行し、最適記録パワーを決定する（ステップＳ２２）。このＯＰＣを実行したら、ＯＰＣで使用した試し書き領域がいずれの試し書き領域であるかカウント領域３０１または３０２に記録する（ステップＳ２３）。

第２層目の記録であれば（ステップＳ１１のＹ）、第２層目の試し書き領域２０２ｂあるいは２０２ｃと同一の記録面に位置する第１層目の試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃが記録済みか否かをカウント領域３０１，３０２で確認する（ステップＳ２４）。記録済みであれば（ステップＳ２４のＹ）、第２層目の試し書きを試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃでＯＰＣを実行し、最適記録パワーを決定する(ステップＳ１３)。

未記録であれば（ステップＳ２４のＮ）、その第１層目の試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃに第１層目を記録した最適記録パワーで予め情報を記録する（ステップＳ２５）。第１層目の情報の記録が終了したら、情報を記録した試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃがいずれであるかをカウント領域３０１あるいは３０２に記録する(ステップＳ２６)。この第１層目を記録した後に、カウント領域３０１あるいは３０２に記録した第１層目の試し書き領域２０３ｂあるいは２０３ｃと同一の記録面に位置する第２層目の試し書き領域２０２ｂあるいは２０２ｃでＯＰＣを実行し、最適記録パワーを決定する(ステップＳ１３)。

このような処理を行えば、第１層目の試し書き領域の記録された領域が分かる為、すでに情報が記録されてある領域に対して、後で第１層目の試し書きを行うことを防ぐことができる。

なお、図５〜図７、図９、図１０、図１２、図１４の処理は、コントローラ１０７が備えているマイクロコンピュータのＣＰＵが、その記憶媒体であるＲＯＭに予め記録されているプログラムに基づいて実行するが、記録装置１０１の図示しないホストコンピュータが、その記憶装置に記憶しているプログラムに基づいて記録装置１０１を制御し、図５〜図７の処理を記録装置１０１に実行させるようにしてもよい。

多層記録媒体の構成を示す説明図である。記録装置の電気的な接続を示すブロック図である。ＡＣ結合を行って、上側包絡線レベルと下側包絡線レベルを検出する処理の説明図である。ＯＰＣについて説明する説明図である。記録装置が実行する処理のフローチャートである。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。多層記録媒体の別の構成を示す説明図である。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。図１０の処理を説明する説明図である。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。図１２の処理を説明する説明図である。記録装置が実行する他の処理例のフローチャートである。多層記録媒体におけるインナー（ａ）及びアウター（ｂ）のドライブエリアの説明図である。

符号の説明

１０１記録装置
２０１多層記録媒体
２０２，２０３記録層
２０２ａ，２０２ｂデータ領域
２０２ｂ，２０２ｃ，２０３ｂ，２０３ｃ
試し書き領域
２０２ｂ，２０２ｅ部分
３０１，３０２カウント領域

Claims

光照射により記録を行う記録媒体の試し書き領域で試し書きを行って、最適な記録パワー値の照射光を求める試し書き工程と、
前記最適な記録パワー値の照射光で前記記録媒体のデータ領域に対して情報の記録を行う情報記録工程と、
を有する記録方法であって、
前記記録媒体は、同一記録面に複数の記録層を有し、
前記複数の記録層は、それぞれの記録層における照射光の入射方向に重なる記録領域に、複数の試し書き部分を有する前記試し書き領域を備え、
前記情報記録工程において、
前記照射光の入射側から数えて第２層目以降の記録層（以下、該当記録層という。）に情報記録を行う場合には、
前記試し書き工程において、
前記該当記録層の試し書き領域に試し書きを行う前に、前記該当記録層より照射光の入射側に位置する記録層（以下、上部層という。）の試し書き領域に記録を行う前処理工程を有し、
前記前処理工程における前記上部層の試し書き領域への記録は、前記上部層の試し書き領域全体に行うことを特徴とする記録方法。
前記前処理工程における前記上部層の試し書き領域への記録は、前記上部層に対する最適パワー値の照射光で記録することを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
前記それぞれの記録層はカウント領域を有し、
前記上部層の試し書き領域への記録を行ったときは、前記上部層のカウント領域に、記録を行った試し書き領域のアドレスを記録することを特徴とする請求項１又は２に記載の記録方法。