JP4403741B2 - 時間記録機能付き物理量測定器 - Google Patents
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Description
この発明は、時間記録とともに自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフなどの履歴を保存することができる物理量測定器に関するものである。
図３に物理量測定器（例えば２線式伝送器）の構成を示す。１は２線式伝送器であり、その内部のマイクロプロセッサ２は図示しないセンサからの信号を加工してＤ／Ａコンバータ３に出力する。Ｄ／Ａコンバータ３はこの信号をアナログ信号に変換して出力回路４に出カする。出力回路４は入力された信号を４〜２０ｍＡなどの電流信号に変換して、通信ライン５を介して外部に出力する。不揮発性メモリ６にはタイマカウンタ７の一定周期の時間が異常発生や設定値変更と共に保存される。
このような２線式伝送器の設定変更や調整は、通信ライン５に接続された機器管理ツール８により行われる。機器管理ツール８は通信ライン５を介して２線式伝送器１に設定変更要求を送信する。この設定変更要求はイベント検出部９を介してマイクロプロセッサ２に伝達される。１０は２線式伝送器内に内蔵された設定/調整スイッチである。
なお、メモリに時間を記録する装置の先行文献としては次のようなものがある。
ところで、上記従来の測定器においては不揮発性メモリにタイマカウンタ７が計測する時間を一定時間ごとに記録していく。しかしながら、不揮発性メモリ書換回数には限度があり現実的ではないという問題があった。
例えば、
タイマカウンタ７が計測する一定時間を１秒
不揮発性メモリ書替回数の限度を１０万回とすると
記録可能時間 １０万秒 =２７．８時間なので
製品耐用年数を１０年とすると、２７．８時間後に不揮発性メモリの書替回数が１０万回を超えてしまい故障となる。
記録可能時間は現実的ではない。
例えば、
タイマカウンタ７が計測する一定時間を１秒
不揮発性メモリ書替回数の限度を１０万回とすると
記録可能時間 １０万秒 =２７．８時間なので
製品耐用年数を１０年とすると、２７．８時間後に不揮発性メモリの書替回数が１０万回を超えてしまい故障となる。
記録可能時間は現実的ではない。
従って本発明の目的は、長時間に渡って時間情報を記録可能な物理量測定器を提供することにある。
このような課題を解決するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器に発生したイベントを検出するイベント検出器と、前記測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、該タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴とイベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するに際しては、予め定めた対数的な重み付けに従って記録するようにしたので、長時間に渡って時間情報を記録することが可能になる。
時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器に発生したイベントを検出するイベント検出器と、前記測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、該タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴とイベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するに際しては、予め定めた対数的な重み付けに従って記録するようにしたので、長時間に渡って時間情報を記録することが可能になる。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の時間記録機能付き物理量測定器において、
前記タイマカウンタはイベント発生ごとに時間記録をリセットすることで、イベントの発生時間間隔が高精度にえられる。
前記タイマカウンタはイベント発生ごとに時間記録をリセットすることで、イベントの発生時間間隔が高精度にえられる。
請求項３記載の発明は、請求項１記載の時間記録機能付き物理量測定器において、
前記イベントの内容には、自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフを含むことで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
前記イベントの内容には、自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフを含むことで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の時間記録機能付き物理量測定器において、
前記対数的な重み付けをした時間と、定周期の時間とを組み合わせ、測定器内部で発生したイベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
前記対数的な重み付けをした時間と、定周期の時間とを組み合わせ、測定器内部で発生したイベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば、
時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器に発生したイベントを検出するイベント検出器と、前記測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、該タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴とイベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するに際しては、予め定めた対数的な重み付けに従って記録するようにしたので、長時間に渡ってメモリ交換が不要となり、イベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易な物理量測定器を実現することができる。
時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器に発生したイベントを検出するイベント検出器と、前記測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、該タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴とイベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するに際しては、予め定めた対数的な重み付けに従って記録するようにしたので、長時間に渡ってメモリ交換が不要となり、イベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易な物理量測定器を実現することができる。
以下、図に基づいて本発明を詳細に説明する。
図1は本発明に係る時間記録機能付き物理量測定器の一実施例の構成図である。なお、図３と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。図1において、1１は本発明で設けた重み付け設定器であり、タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を不揮発性メモリに記録するに際して対数的な重み付けを行う。
図1は本発明に係る時間記録機能付き物理量測定器の一実施例の構成図である。なお、図３と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。図1において、1１は本発明で設けた重み付け設定器であり、タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を不揮発性メモリに記録するに際して対数的な重み付けを行う。
上述の構成において、設定／調整スイッチ１０によって設定変更や調整が行われたときは、その変更や調整がマイクロプロセッサ２に通知され、２線式伝送器1は設定変更や調整を行い、その設定変更や調整の履歴をメモリ６に書き込む。
時間記録イベント発生時、マイクロプロセッサ２内に設けたタイマカウンタが時間計測を開始するが、その時間は重み付け設定器で対数的な重み付けが行われ、例えば
２ｎ（ｎ＝０〜２３）のように設定される。
ｎが不揮発性メモリに記録する値である。
重み付け設定器で対数的な重み付けをされたタイマカウンタの時間記録する
タイミングを単位時間で表すと以下の通りである。
不揮発性メモリ記録値（記録時間の分解能レベル値）
↓
２の ”０” 乗単位時間（ １単位時間）
２の ”１” 乗単位時間（ ２単位時間）
２の ”２” 乗単位時間（ ４単位時間）
２の ”３” 乗単位時間（ ８単位時間）
２の ”４” 乗単位時間（ １６単位時間）
２の ”５” 乗単位時間（ ３２単位時間）
２の ”６” 乗単位時間（ ６４単位時間）
２の ”７” 乗単位時間（ １２８単位時間）
２の ”８” 乗単位時間（ ２５６単位時間）
２の ”９” 乗単位時間（ ５１２単位時間）
２の”１０” 乗単位時間（ １０２４単位時間）
２の”１１” 乗単位時間（ ２０４８単位時間）
２の”１２” 乗単位時間（ ４０９６単位時間）
２の”１３” 乗単位時間（ ８１９２単位時間）
２の”１４” 乗単位時間（ １６３８４単位時間）
２の”１５” 乗単位時間（ ３２７６８単位時間）
２の”１６” 乗単位時間（ ６５５３６単位時間）
２の”１７” 乗単位時間（ １３１０７２単位時間）
２の”１８” 乗単位時間（ ２６２１４４単位時間）
２の”１９” 乗単位時間（ ５２４２８８単位時間）
２の”２０” 乗単位時間（ １０４８５７６単位時間）
２の”２１” 乗単位時間（ ２０９７１５２単位時間）
２の”２２” 乗単位時間（ ４１９４３０４単位時間）
２の”２３” 乗単位時間（ ８３８８６０８単位時間）
この仕組みを用いることによりイベント発生時間間隔が短い時間記録は高精度に得られ、イベント発生時間間隔が長い時間記録は低精度に得られる。
例えばイベント発生時間間隔が短い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“１”の場合のイベント発生時間は
１単位時間前≦イベント発生時間＜２単位時間前
となり、精度は１単位時間となる。
次に、イベント発生時間間隔が長い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“２２”の場合のイベント発生時間は
４１９４３０４単位時間前≦イベント発生時間＜８３８８６０８単位時間前
となり、精度は４１９４３０４単位時間となる。
２ｎ（ｎ＝０〜２３）のように設定される。
ｎが不揮発性メモリに記録する値である。
重み付け設定器で対数的な重み付けをされたタイマカウンタの時間記録する
タイミングを単位時間で表すと以下の通りである。
不揮発性メモリ記録値（記録時間の分解能レベル値）
↓
２の ”０” 乗単位時間（ １単位時間）
２の ”１” 乗単位時間（ ２単位時間）
２の ”２” 乗単位時間（ ４単位時間）
２の ”３” 乗単位時間（ ８単位時間）
２の ”４” 乗単位時間（ １６単位時間）
２の ”５” 乗単位時間（ ３２単位時間）
２の ”６” 乗単位時間（ ６４単位時間）
２の ”７” 乗単位時間（ １２８単位時間）
２の ”８” 乗単位時間（ ２５６単位時間）
２の ”９” 乗単位時間（ ５１２単位時間）
２の”１０” 乗単位時間（ １０２４単位時間）
２の”１１” 乗単位時間（ ２０４８単位時間）
２の”１２” 乗単位時間（ ４０９６単位時間）
２の”１３” 乗単位時間（ ８１９２単位時間）
２の”１４” 乗単位時間（ １６３８４単位時間）
２の”１５” 乗単位時間（ ３２７６８単位時間）
２の”１６” 乗単位時間（ ６５５３６単位時間）
２の”１７” 乗単位時間（ １３１０７２単位時間）
２の”１８” 乗単位時間（ ２６２１４４単位時間）
２の”１９” 乗単位時間（ ５２４２８８単位時間）
２の”２０” 乗単位時間（ １０４８５７６単位時間）
２の”２１” 乗単位時間（ ２０９７１５２単位時間）
２の”２２” 乗単位時間（ ４１９４３０４単位時間）
２の”２３” 乗単位時間（ ８３８８６０８単位時間）
この仕組みを用いることによりイベント発生時間間隔が短い時間記録は高精度に得られ、イベント発生時間間隔が長い時間記録は低精度に得られる。
例えばイベント発生時間間隔が短い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“１”の場合のイベント発生時間は
１単位時間前≦イベント発生時間＜２単位時間前
となり、精度は１単位時間となる。
次に、イベント発生時間間隔が長い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“２２”の場合のイベント発生時間は
４１９４３０４単位時間前≦イベント発生時間＜８３８８６０８単位時間前
となり、精度は４１９４３０４単位時間となる。
計測完了時、不揮発性メモリ６に時間記録イベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する。
例えば最小計測時間をl（分）とした場合、測定器の耐用年数を１０年とすると、
２２３＝８３８８６０８（分）≒ １６（年）に相当するので、十分なマージンが確保できる。
１）重み付け設定器は設定値２ｎまで計測する。
２）計測完了毎に、不揮発性メモリ６に時間記録イベント発生からの経過時間の指標値として、記録時間の分解能レベル値を記録する。
１），２）を繰り返し行い、n＝２３まで時間計測を行ったら、タイマカウントを停止し、値ｎの更新は行わない。
例えば最小計測時間をl（分）とした場合、測定器の耐用年数を１０年とすると、
２２３＝８３８８６０８（分）≒ １６（年）に相当するので、十分なマージンが確保できる。
１）重み付け設定器は設定値２ｎまで計測する。
２）計測完了毎に、不揮発性メモリ６に時間記録イベント発生からの経過時間の指標値として、記録時間の分解能レベル値を記録する。
１），２）を繰り返し行い、n＝２３まで時間計測を行ったら、タイマカウントを停止し、値ｎの更新は行わない。
なお、物理量測定器が、電源OFFの間は時間記録は出来ない。しかし電源0FF時刻検出機能を持つ外部機器と接続されている場合、不揮発性メモリに記録した時間と外部機器がもつ時間管理機能を組み合わせることにより、電源0FFの前に発生した異常発生時間、設定情報変更時間の特定が容易となる。
また、時間記録イベント発生毎に、タイマカウンタをリセットする仕組みを設けることにより、イベントの発生時間間隔が高精度に得られ、異常発生原因の特定が可能となる。
また、時間記録イベント発生毎に、タイマカウンタをリセットする仕組みを設けることにより、イベントの発生時間間隔が高精度に得られ、異常発生原因の特定が可能となる。
例えば２ｎ（ｎ＝０，１，２，・・・）の場合、異常Ａが発生し、l秒未満後異常Ｂが発生し、８秒後に異常履歴を確認した場合は、以下の通りとなる。
即ち、異常内容Ａが一秒後に発生した場合は不揮発性メモリには異常内容Ａと共に時間情報が０と記録され、その８秒後に異常Ｂが発生した場合は異常内容Ｂと共に時間情報としてが３と記録される。
また、対数的な重み付けをした時間と、定周期の時間を組み合わせる時間記録を行うことにより、さらに測定データに適した、時間記録を行うことが可能となる。
図２は稼働時間に対する不揮発性メモリの稼働時間記録間隔及び記録のタイミングの他の実施例を示す図である。
図２は稼働時間に対する不揮発性メモリの稼働時間記録間隔及び記録のタイミングの他の実施例を示す図である。
図（ａ，ｂ）は稼働時間と不揮発性メモリの稼働時間記録間隔の関係を示すものである。これらの図において単位時間を分とすると、０〜５分の稼働時間は１単位時間であり、
この時間は不揮発性メモリには０，１，２，３，４，５と記録される。
次に５〜１５分の稼働時間は２単位時間なので、不揮発性メモリには７，９，１１，１３，１５と２単位ごとに記録される。
この時間は不揮発性メモリには０，１，２，３，４，５と記録される。
次に５〜１５分の稼働時間は２単位時間なので、不揮発性メモリには７，９，１１，１３，１５と２単位ごとに記録される。
次に１５〜３０分の稼働時間は３単位時間なので、不揮発性メモリには１５，１８，２１，２４，２７，３０と３単位ごとに記録される。
次に３０〜５０分の稼働時間は４単位時間なので、不揮発性メモリには３４，３８，４２，４６，５０と４単位ごとに記録される。以降５，６，７単位ごとに記録するようにしてもよく、ある稼働時間から２ｎ（ｎ＝０，１，２，・・・）のように記録するようにしても良い。
次に３０〜５０分の稼働時間は４単位時間なので、不揮発性メモリには３４，３８，４２，４６，５０と４単位ごとに記録される。以降５，６，７単位ごとに記録するようにしてもよく、ある稼働時間から２ｎ（ｎ＝０，１，２，・・・）のように記録するようにしても良い。
なお、この実施例においては１６分と２６分にイベントが発生しており、不揮発性メモリはその時間と共にイベントの内容を記録する。
このように重み付け設定器で時間情報を表すカウント値を予め任意に設定することにより長時間に渡って時間情報を記録することができる。
このように重み付け設定器で時間情報を表すカウント値を予め任意に設定することにより長時間に渡って時間情報を記録することができる。
なお、この実施例では設定変更、調整の履歴を時間情報とともに記憶する例について説明したが、これに限るものではない。その他の操作の履歴を保存する用途にも使用することができる。また、本実施例は２線式伝送器について説明したが、必ずしも２線式伝送器に限られるものではない。時間情報を書き込むメモリを有するもの全てに適用可能である。
１ ２線式伝送器
２ マイクロプロセッサ
３ Ｄ／Ａコンバータ
４ 出力回路
５ 通信ライン
６ 不揮発性メモリ
７ タイマ
８ 機器管理ツール
９ イベント検知部
１０ 設定／調整スイッチ
１１ 重み付け設定器
２ マイクロプロセッサ
３ Ｄ／Ａコンバータ
４ 出力回路
５ 通信ライン
６ 不揮発性メモリ
７ タイマ
８ 機器管理ツール
９ イベント検知部
１０ 設定／調整スイッチ
１１ 重み付け設定器
Claims (4)
- 時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器に発生したイベントを検出するイベント検出器と、前記測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、該タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴とイベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するに際しては、予め定めた対数的な重み付けに従って記録するようにしたことを特徴とする時間記録機能付き物理量測定器。
- 前記タイマカウンタはイベント発生ごとに時間記録をリセットすることを特徴とする請求項lに記載の時間記録機能付き物理量測定器。
- 前記イベントの内容には、自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフを含むことを特徴とする請求項lまたは２に記載の時間記録機能付き物理量測定器。
- 前記対数的な重み付けをした時間と、定周期の時間とを組み合わせ、測定器内部で発生したイベントの発生時間を記録することを特徴とする請求項１に記載の時間記録機能付き物理量測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003274521A JP4403741B2 (ja) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | 時間記録機能付き物理量測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003274521A JP4403741B2 (ja) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | 時間記録機能付き物理量測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005037247A JP2005037247A (ja) | 2005-02-10 |
| JP4403741B2 true JP4403741B2 (ja) | 2010-01-27 |
Family
ID=34211451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003274521A Expired - Lifetime JP4403741B2 (ja) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | 時間記録機能付き物理量測定器 |
Country Status (1)
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Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9373235B2 (en) * | 2013-04-17 | 2016-06-21 | Honeywell International Inc. | System and method for storing and monitoring events at security devices |
| JP6403957B2 (ja) | 2014-02-27 | 2018-10-10 | 横河電機株式会社 | 測定システム、測定管理装置、測定機器、および測定方法 |
-
2003
- 2003-07-15 JP JP2003274521A patent/JP4403741B2/ja not_active Expired - Lifetime
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