JP4390207B2 - オフセット量測定方法及び装置 - Google Patents

Description

本発明は、例えば２層又は多層構造を有するＤＶＤ、ＣＤ（Compact Disc）等の情報記録媒体における、複数の記録層の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定方法及び装置の技術分野に関する。

例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc−Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc−Recordable）、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の情報記録媒体では、特許文献１、２等に記載されているように、同一基板上に複数の記録層が積層、または貼り合わされてなる多層型若しくはデュアルレイヤ型の光ディスク等の情報記録媒体も開発されている。そして、このようなデュアルレイヤ型、即ち、２層型の光ディスクに記録を行う、ＤＶＤレコーダ等の情報記録装置では、レーザ光の照射側から見て最も手前側（即ち、光ピックアップに近い側）に位置する記録層（本願では適宜「Ｌ０層」と称する）に対して記録用のレーザ光を集光することで、Ｌ０層に対して情報を加熱などによる非可逆変化記録方式や書換え可能方式で記録し、Ｌ０層等を介して、レーザ光の照射側から見てＬ０層の奥側（即ち、光ピックアップから遠い側）に位置する記録層（本願では適宜「Ｌ１層」と称する）に対して該レーザ光を集光することで、Ｌ１層に対して情報を加熱などによる非可逆変化記録方式や書換え可能方式で記録することになる。

特開２０００−３１１３４６号公報 特開２００１−２３２３７号公報

このような２層型の光ディスクにおいては、Ｌ１層にデータを記録する場合には、Ｌ０層を介してレーザ光を照射する必要がある。この場合、レーザ光を介するＬ０層には記録データが記録されていることもあるし、或いは記録データが記録されていないことがある。このようにＬ０層の記録状態は必ずしも統一されておらず、それによってＬ１層に照射されるレーザ光の状態が変化してしまう。このため、先に、Ｌ０層を記録済み状態にすることによって、Ｌ１層に適切に記録データを記録するという方法も本願発明者等により考えられている。

しかしながら、このような２層型の情報記録媒体を製造する際には、Ｌ０層とＬ１層とが別々のスタンパやカッティングマシーンによって形成され、最後に夫々の記録層が貼り合わせられる。よって、Ｌ０層及びＬ１層において、貼り合わせ誤差によって、大なり小なり偏心が生じる。或いは、Ｌ０層とＬ１層とが別々のスタンパやカッティングマシーンによって形成されているため、夫々の記録層におけるトラックピッチに偏差が、大なり小なり生じる。

ここで特に、上述の如き偏心や偏差が生じても、これらがどの程度のものであるかが不明であり、更にこれらに対する対策の要否や、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても不明である。加えて、ユーザにより記録情報が記録されるのに先立って、仮にプリピットアドレスとして予めアドレスが記録されている情報記録媒体について、これらの偏心や偏差を予め測定しようとしても、未記録状態では測定対象となるアドレス部分が何処であるかが不明である。即ち、実際には、これらの偏心や偏差を測定できず、更に何らかの対策を施した場合における、該対策の良否や該対策が有効に施されているか否かの検証についても判断できないということになる。

以上の結果、これらの偏心や偏差が原因となって、Ｌ０層の一の記録領域に、例えばプリフォーマットアドレス等の位置情報によって対応されるＬ１層の他の記録領域の位置にズレが生じてしまい、レーザ光が、Ｌ０層の記録済み状態である一の記録領域を介して、Ｌ１層の他の記録領域に必ず照射されるとは限らないという技術的な問題点を有している。

本発明は、例えば上述した従来の問題点に鑑みなされたものであり、例えば複数の記録層を有する情報記録媒体における、該複数の記録層間のオフセット量を測定することを可能ならしめるオフセット量測定装置及び方法を提供することを課題とする。

本発明の請求項１に記載のオフセット量測定方法は上記課題を解決するために、記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定方法であって、前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録工程と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出工程と、前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出工程と、前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定工程とを備える。

本発明の請求項１１に記載のオフセット量測定装置は上記課題を解決するために、記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定装置であって、前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録手段と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出手段と、前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出手段と、前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段とを備える。

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。

（オフセット量測定方法に係る実施形態）
以下、本発明の実施形態に係るオフセット量測定方法について説明する。

本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態は、記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向（即ち、パラレル方式又はオポジット方式）で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレス（例えば、セクタ番号或いはセクタアドレス）によって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定方法であって、前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録工程と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出工程と、前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出工程と、前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量
を決定する決定工程とを備える。

本発明の実施形態に係るオフセット量測定方法によれば、その測定対象である情報記録媒体は、例えば、ディスク状の基板の一方の面上に、第１及び第２記録層が形成されており、二層型或いは多層型の例えばＤＶＤ或いは光ディスク等である。第１記録層には例えば、グルーブ（案内溝）から構成された第１記録トラックに沿って、音声、映像情報或いはコンテンツ情報等の記録情報が記録可能とされている。第２記録層には例えば、グルーブ（案内溝）から構成された第２記録トラックに沿って、音声、映像情報或いはコンテンツ情報等の記録情報が記録可能とされている。このように構成されているので、記録又は再生用レーザ光は、基板、第１記録層及び第２記録層の順番に照射される。より具体的には、特に、第１記録トラックは、前述した基板の内周側及び外周側のうち一方側から他方側へと向かい、第２記録トラックも、第１記録トラックと同様に、一方側から他方側へと向かうように構成してもよい。或いは、第２記録トラックは、第１記録トラックと逆に、他方側から一方側へと向かうように構成してもよい。即ち、当該二層型或いは多層型の情報記録媒体では、記録トラックが二つの記録層の間で同一方向を向いている“パラレル方式（即ち、パラレルトラック方式）”による連続記録が可能とされる。或いは、記録トラックが二つの記録層の間で逆方向を向いている“オポジット方式（即ち、オポジットトラック方式）”による連続記録が可能とされる。

このような情報記録媒体では、第１及び第２記録トラック上の半径位置或いは半径方向位置は、プリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられている。例えば、パラレル方式であれば、同一のアドレス値の半径位置（例えば、同一セクタ番号の半径位置）が相互に対応付けられている。或いは、オポジット方式であれば、補数のアドレス値の半径位置（例えば、補数の関係にあるセクタ番号の半径位置）が相互に対応付けられている。そして、このように対応付けられている半径位置は、理想的には、言い換えれば第１及び第２記録層間における偏心や第１及び第２記録トラックピッチの偏差が存在しないとすれば、当該ディスク状の情報記録媒体における第１及び第２記録層の法線方向から見てズレ或いはオフセットはなく、重なっている。即ち、理想的には、オフセット量はゼロである。しかしながら実際には、このような偏心や偏差は、記録層の貼り合わせ誤差、相異なるスタンパやカッティングマシーンの使用等によって、大なり小なり生じる。

そこで本実施形態では、先ず、測定用工程によって、第１記録トラックに、プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ、例えば所定数のセクタに渡るように、測定用情報を記録する。これと相前後して、第２記録トラックにおける前記一の測定基準位置に対してプリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から、係る所定区間又は所定長さだけ、例えば同数のセクタに渡るように、測定用情報を記録する。ここに本発明に係る「プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置」とは、例えば、パラレル方式であれば、測定基準位置と同一半径位置（即ち、例えばセクタ番号等のアドレス値が同一である位置）であり、例えばオポジット方式であれば、測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ外周寄りの半径位置（即ち、例えばセクタ番号等のアドレス値が補数の関係にある位置から、所定区間又は所定長さだけ外周寄りの位置）である。

その後、第１検出工程によって、情報記録媒体の中心軸を基準として、第１記録トラックにおける第１記録済みエリアと第１未記録エリアとの境界である第１境界位置（例えば、第１記録済みエリアの外周寄り又は内周寄りの境界、若しくは、これら両方の境界）を、第１記録済みエリア及び第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて、検出する。通常は、第１記録済みエリアでは、第１未記録エリアと比較して、記録層における相変化、形状変化等の物理的又は化学的な変化によって、反射率が低下するので、このような境界は、比較的容易且つ正確に測定できる。これと相前後して、第２検出工程によって、中心軸を基準として、第２記録トラックにおける第２記録済みエリアと第２未記録エリアとの境界である第２境界位置（例えば、第２記録済みエリアの外周寄り又は内周寄りの境界、若しくは、これら両方の境界）を、第２記録済みエリア及び第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて、検出する。この場合にも通常は、第２記録済みエリアでは、第２未記録エリアと比較して、反射率が低下するので、このような境界は、比較的容易且つ正確に測定できる。

その後、決定工程によって、上述の如く検出された第１及び第２境界位置に基づいて、オフセット量を決定する。即ち、測定用情報が記録されたエリアの外周寄りの境界同士又は内周寄りの境界同士を比較することで、オフセット量を決定できる。このような決定は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）等の処理装置を用いての、数学的な演算処理によって行なわれる。

従って、ユーザが当該情報記録媒体を使用する前、即ち、記録情報をデータエリア或いはユーザデータエリアに記録するのに先立って、第１及び第２記録層の貼り合わせ誤差、相異なるスタンパやカッティングマシーンの使用等によって、大なり小なり生じている筈の第１及び第２トラック間の偏心や、第１及び第２トラックピッチの偏差に応じて発生するオフセット量を、比較的容易にして且つ正確に測定することが可能となる。

このため例えば、パラレル方式の情報記録媒体について、第２記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、第１記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、予め設定された第１オフセット量だけ外周側に位置している構成を、上述の如き偏心対策或いは偏差対策として採用した場合に、該第１オフセット量を実際に測定することが可能となり、更に該第１オフセット量が意図した許容範囲内に入っているか否かを判定することも可能となる。或いは、オポジット方式の情報記録媒体について、第２記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、第１記録トラックにおけるデータエリアの終了位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、予め設定された第１オフセット量だけ内周側に位置している構成を、上述の如き偏心対策或いは偏差対策として採用した場合に、該第１オフセット量を実際に測定することが可能となり、更に該第１オフセット量が意図した許容範囲内に入っているか否かを判定することも可能となる。そしてこのような対策を実施すれば、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第２記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。

以上のように本実施形態のオフセット量測定方法によれば、上述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。

本実施形態のオフセット量測定方法の一態様では、前記第１及び第２検出工程は、前記中心軸を中心として前記情報記録媒体を回転させつつ、前記第１及び第２記録層に対向配置される光学顕微鏡によって、前記第１及び第２境界位置を夫々検出する。

この態様によれば、光学顕微鏡で観察して、第１及び第２境界位置を夫々直読することで、第１及び第２境界位置を夫々、高精度で検出できる。これにより、高精度で、オフセット量を測定することが可能となる。

或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第１及び第２検出工程は、前記第１及び第２記録層に対向配置され且つ前記第１及び第２記録層に対して平行に移動可能である２次元測長器によって、前記プリフォーマットアドレスにより特定される前記第１及び第２境界位置に存在する複数の点についての、前記中心軸を基準とする座標を夫々検出する。

この態様によれば、２次元測長器、或いは２次元測長システムによって、例えば、第１記録層における第１境界位置となる、第１記録トラック上の３点の座標を測定し、第２記録層における第２境界位置となる、第２記録トラック上の３点の座標を測定する。すると、それら複数の点についての測定結果たる複数の座標に基づいて、第１及び第２記録層の夫々についての中心座標と、各測定された点の半径位置とを算出すれば、第１及び第２記録層間におけるこれらの算出された半径位置の差分により、オフセット量を測定することが可能となる。

或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第２記録トラックは前記第１記録トラックと同一の記録方向で記録するように形成されており、前記第２記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、前記第１記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、少なくとも予め設定された第１オフセット量だけ外周側に位置しており、前記決定されたオフセット量が前記第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備える。

この態様によれば、“パラレル方式”の情報記録媒体に対して、前述の如く第１及び第２記録層間における偏心や第１及び第２記録トラックピッチの偏差が存在しても、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録できるようにするための対策として、第２場所が第１場所より第１オフセット量だけ外周側にオフセットされている。即ち、第２記録層の内周側に位置する、例えば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスが“３００００ｈ”のデータエリアの開始位置を示す第２場所が、第１記録層の内周側に位置する、例えば、セクタ番号が“３００００ｈ”のデータエリアの開始位置を示す第１場所から、少なくとも第１オフセット量だけ外周側に位置するように設計されている。ここに、「第１オフセット量」とは、第２記録層の記録領域の最内周位置を第１記録層の記録領域の最内周位置より外周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、例えば、第１記録層及び第２記録層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値以上の値とされる。尚、第１オフセット量は、光ディスクの半径方向の長さ（μｍ）として示され、セクタ数やＥＣＣブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やＥＣＣブロック数で直接的に示されてもよい。その結果、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第２記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。係る第２記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性（例えば、アシンメトリ値、ジッタ値、変調度や再生エラーレート等）を得ることができる。

このように構成された情報記録媒体に対して決定工程が施された後に、判定工程によって、この決定されたオフセット量が、第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。よって、第１オフセット量を与える上述の如き対策が適切に実施されているか否かを、例えばＣＰＵ等の処理装置を用いての比較演算処理によって、自動的に或いは半自動的に検証することが可能となる。尚、この場合、決定工程により決定されたオフセット量と既知である第１オフセット量との比較を、手動や目視等の人的手段によって行うことも可能である。

或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第２記録トラックは前記第１記録トラックと反対の記録方向で記録するように形成されており、前記第２記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、前記第１記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの終了位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、少なくとも予め設定された第１オフセット量だけ内周側に位置しており、前記決定されたオフセット量が前記第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備える。

この態様によれば、“オポジット方式”の情報記録媒体に対して、前述の如く第１及び第２記録層間における偏心や第１及び第２記録トラックピッチの偏差が存在しても、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録できるようにするための対策として、第２場所が第１場所より第１オフセット量だけ内周側にオフセットされている。即ち、第２記録層の外周側に位置する、例えば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスが“Ｅ５００００ｈ”のデータエリアの開始位置を示す第２場所が、第１記録層の外周側に位置する、例えば、セクタ番号が“１ＡＦＦＦＦｈ”のデータエリアの終了位置を示す第１場所から、少なくとも第１オフセット量だけ内周側に位置するように設計されている。その結果、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第２記録層の外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。係る第２記録層の外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性を得ることができる。

このように構成された情報記録媒体に対して決定工程が施された後に、判定工程によって、この決定されたオフセット量が、第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。よって、第１オフセット量を与える上述の如き対策が適切に実施されているか否かを、例えばＣＰＵ等の処理装置を用いての比較演算処理によって、自動的に或いは半自動的に検証することが可能となる。尚、この場合、決定工程により決定されたオフセット量と既知である第１オフセット量との比較を、手動や目視等の人的手段によって行うことも可能である。

尚、上述した二つの態様において、第１オフセット量を設定する対策を施す場合、貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値を考慮するのみならず、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用することによるトラックに係る偏差の最大値までも考慮して（例えば“偏心クリアランス”として）、第１オフセット量を設定してもよい。更に、第１記録層を介して第２記録層へ集光ビームを照射する場合に、完全に集光される前の所定半径を有する光束の縁付近が、第１記録層に照射される際の、該所定半径を考慮して（例えば、“照射範囲クリアランス”として）、第１オフセット量を設定してもよい。

上述の第１オフセット量が設定される態様では、前記第１オフセット量は、前記第1記録層と前記第２記録層との偏心量以上に設定されてもよい。

このように構成すれば、記録データが記録済み状態の第１記録層を介して第２記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第２記録層の内周側、又は、外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、第１及び第２記録層の偏心の影響を殆ど又は完全に受けることなく適切な記録を行うことができる。より具体的には、例えば、第１記録層の偏心の最大値が４０μmであり、第２記録層の偏心の最大値が７０μmであった場合、第１オフセット量は、第１記録層及び第２記録層の偏心の最大値の和、即ち、１１０μm（＝４０＋７０）である。加えて、第１オフセット量の上限値を２００μmとすることにより、パラレル方式の２層ＤＶＤ−ＲＯＭの規格に準拠することもできる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。

或いは上述の第１オフセット量が設定される態様では、前記第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第２記録トラックにおけるトラックピッチの比が、１未満の所定値となるように、前記第１記録トラック及び前記第２記録トラックは構成されていてもよい。

このように構成すれば、第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する第２記録トラックにおけるトラックピッチの比が、例えば、望ましくは、１未満の所定値となっているので、例えば、第２記録層の記録可能な外周側端部が、第１記録層の記録可能な外周側端部より所定量だけ内周側に位置するように調整することが可能である。ここに、「トラックピッチ」とは、ディスク状の情報記録媒体の第１又は第２記録トラックの半径方向における間隔（尚、単位は、例えば、（μｍ／トラック））である。また、ここに、「所定量」とは、第２記録層の記録領域の最外周位置を第１記録層の記録領域の最外周位置より内周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、例えば、第１記録層及び第２記録層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値以上の値とされる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。

或いは上述の第１オフセット量が設定される態様では、前記第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第２記録トラックにおけるトラックピッチの差が、負の所定値となるように、前記第１記録トラック及び前記第２記録トラックは構成されていてもよい。

このように構成すれば、第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する第２記録トラックにおけるトラックピッチの差が、例えば、望ましくは、負の所定値となっているので、例えば、第２記録層の記録可能な外周側端部が、第１記録層の記録可能な外周側端部より所定量だけ内周側に位置するように調整することが可能である。その結果、前述したトラックピッチの比を調整した場合の効果と同様にして、第２記録層の記録に際して、未記録状態の第１記録層を透過することは殆ど又は完全にない。そして特に、判定工程によって、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。

上述のトラックピッチの比又は差に係る態様では、前記第２記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部が、前記第１記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部より少なくとも前記第１オフセット量だけ内周側に位置するように、前記比又は差が設定されていてもよい。

このように構成すれば、例えば、第２記録層の記録可能な外周側端部が、第１記録層の記録可能な外周側端部より少なくとも第１オフセット量だけ内周側に位置することができる。よって、情報記録装置による第２オフセット量の算出を省略することができる。情報記録装置は、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに従って記録動作を行えばよい。よって、トラックピッチの比又は差の設定によって、第２記録層の記録に際して、レーザ光が未記録状態の第１記録層を透過することが殆ど又は完全にないことをより簡便に実現することができる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。

上述のトラックピッチの比又は差に係る態様では、前記情報記録媒体は、前記比又は差に関する情報が記録される第１管理エリアを更に備えてもよい。

このように構成すれば、情報記録装置によって、記録領域内に設けられた第１管理エリアから、より簡便且つ迅速に比又は差に関する情報を取得可能である。そして例えば、判定工程によって、第１管理エリアから取得される情報に基づいて、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。或いは例えば、情報記録装置又は情報再生装置において、第１管理エリアから取得される情報に基づいて、情報記録媒体に対する記録や再生動作を確実に行うことが可能となる。

上述の第１オフセット量が設定される態様では、前記情報記録媒体は、前記第１オフセット量に関する情報が記録される第２管理エリアを更に備えてもよい。

このように構成すれば、情報記録装置によって、記録領域内に設けられた第２管理エリアから第１オフセット量が取得され、該第１オフセット量に対応した第２オフセット量を迅速に決定することが可能である。そして例えば、判定工程によって、第２管理エリアから取得される情報に基づいて、このように設定された第１オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。或いは例えば、情報記録装置又は情報再生装置において、第２管理エリアから取得される情報に基づいて、情報記録媒体に対する記録や再生動作を確実に行うことが可能となる。

（オフセット量測定装置に係る実施形態）
以下、本発明の実施形態に係るオフセット量測定装置について説明する。

本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態は、記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向（即ち、パラレル方式又はオポジット方式）で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレス（例えば、セクタ番号或いはセクタアドレス）によって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定装置であって、前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測
定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録手段と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出手段と、前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出手段と、前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段とを備える。

本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態によれば、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態の場合と概ね同様に、例えば、半導体レーザ、光ピックアップ等の測定用記録手段と、例えば光ディテクタ、光ピックアップ等の第１検出手段と、例えば光ディテクタ、光ピックアップ等の第２検出手段と、例えばＣＰＵ、コントローラ等の決定手段とによって、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態の場合と同様に、前述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。

尚、本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態においても、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態についての各種態様と同様の態様を適宜採ることが可能である。

本実施形態のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から明らかにされる。

以上説明したように、本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態によれば、測定用記録工程、第１検出工程、第２検出工程及び決定工程を備えるので、また、本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態によれば、測定用記録手段、第１検出手段、第２検出手段及び決定手段を備えるので、上述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。

（第１実施例）
図１から図８を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第１実施例について詳細に説明する。

先ず図１を参照して、第１実施例の測定対象となる、光ディスクの基本構造について説明する。ここに、図１（ａ）は、第１実施例に係る、複数の記録領域を有する光ディスクの基本構造を示した概略平面図であり、図１（ｂ）は、該光ディスクの概略断面図と、これに対応付けられた、その半径方向における記録領域構造の図式的概念図である。尚、図１（ａ）及び図１（ｂ）はオポジットトラック方式のディスクを示している。

図１（ａ）及び図１（ｂ）に示されるように、光ディスク１００は、例えば、ＤＶＤと同じく直径１２ｃｍ程度のディスク本体上の記録面に、センターホール１を中心として本実施例に係るリードインエリア１０１、データエリア１０２並びにリードアウトエリア１０３又はミドルエリア１０４が設けられている。そして、光ディスク１００の例えば、透明基板１０６に、記録層等が積層されている。そして、この記録層の各記録領域には、例えば、センターホール１を中心にスパイラル状或いは同心円状に、例えば、グルーブトラック及びランドトラック等のトラック１０が交互に設けられている。また、このトラック１０上には、データがＥＣＣブロック１１という単位で分割されて記録される。ＥＣＣブロック１１は、記録情報がエラー訂正可能なデータ管理単位である。

尚、本発明は、このような三つのエリアを有する光ディスクには特に限定されない。例えば、リードインエリア１０１、リードアウトエリア１０３又はミドルエリア１０４が存在せずとも、以下に説明するデータ構造等の構築は可能である。また、後述するように、リードインエリア１０１、リードアウトエリア１０３又はミドルエリア１０４は更に細分化された構成であってもよい。

特に、本実施例に係る光ディスク１００は、図１（ｂ）に示されるように、例えば、透明基板１０６に、後述される本発明に係る第１及び第２記録層の一例を構成するＬ０層及びＬ１層が積層された構造をしている。このような二層型の光ディスク１００の記録再生時には、図１（ｂ）中、下側から上側に向かって照射されるレーザ光ＬＢの集光位置をいずれの記録層に合わせるかに応じて、Ｌ０層における記録再生が行なわれるか又はＬ１層における記録再生が行われる。また、本実施例に係る光ディスク１００は、２層片面、即ち、デュアルレイヤに限定されるものではなく、２層両面、即ちデュアルレイヤーダブルサイドであってもよい。更に、上述の如く２層の記録層を有する光ディスクに限られることなく、３層以上の多層型の光ディスクであってもよい。

尚、２層型光ディスクにおけるオポジット方式及びパラレル方式による記録再生手順及び各層におけるデータ構造については、後述される。

次に、図２及び図３を参照して、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成する物理的セクタ番号、該光ディスクの記録領域におけるランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生手順について説明する。ここに、物理的セクタ番号（以下適宜、「セクタ番号」と称す）とは、光ディスクの記録領域における絶対的な物理的アドレスを示した位置情報である。ランドプリピットアドレス（以下適宜、「ＬＰＰアドレス」と称す）とは、セクタ番号に対応するプリフォーマットされた位置情報である。図２は、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。図３は、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。尚、図２及び図３中の縦軸は、１６進数で表現されたセクタ番号に加えてランドプリピットアドレスを示し、横軸は、光ディスクの半径方向の相対的な位置を示す。

図２に示されるように、第１実施例に係る、２層型光ディスク１００は、図示しない透明基板に形成された２層の記録層、即ち、Ｌ０層とＬ１層とを備えて構成されている。

具体的には、Ｌ０層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０、及び、リードアウトエリア１０３−０が設けられている。このリードインエリア１０１−０には、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理のためのＰＣ（Power Calibration）エリアＰＣＡ及び記録管理情報が記録されている本発明に係る「第１及び第２管理エリア」の一例を構成するＲＭ（Recording Management）エリアＲＭＡ等が設けられている。

他方、Ｌ１層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア１０１−１、データエリア１０２−１、及び、リードアウト１０３−１が設けられている。このリードインエリア１０１−１にも、図示しないＰＣＡ等が設けられていてもよい。

以上のように２層型光ディスク１００は構成されているので、該光ディスク１００の記録又は再生の際には、後述される本発明に係る情報記録再生装置の図示しない光ピックアップによって、レーザ光ＬＢは、図示しない基板の側から、即ち、図２中の下側から上側に向けて照射され、その焦点距離等が制御されると共に、光ディスク１００の半径方向における移動距離及び方向が制御される。これにより、夫々の記録層にデータが記録され、又は、記録されたデータが再生される。

特に、第１実施例に係る、２層型光ディスクの記録又は再生手順としてパラレル方式が採用されていてもよい。このパラレル方式では、Ｌ０層における記録又は再生が終了されると、Ｌ１層における記録又は再生が開始される時に、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要があるため、後述される“オポジット方式”と比較して、Ｌ０層からＬ１層への切り替え時間がその分だけ掛かってしまう。

具体的には、先ず、Ｌ０層において、光ピックアップがリードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０及びリードアウトエリア１０３−０を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、セクタ番号が“０２ＦＦＦＦｈ”のリードインエリア１０１−０の終了位置（図２中のＡ地点を参照）、セクタ番号が“０３００００ｈ”のデータエリア１０２−０の開始位置（図２中のＢ地点を参照）、セクタ番号が“１ＡＦＦＦＦｈ”のデータエリア１０２−０の終了位置（図２中のＣ地点を参照）に順次アクセスして、緩衝の役目を果たすリードアウトエリア１０３−０へと移動されることによって、Ｌ０層における記録又は再生が行われる。他方、Ｌ１層において、具体的には、光ピックアップがリードインエリア１０１−１、データエリア１０２−１及びリードアウトエリア１０３−１を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、緩衝の役目を果たすリードインエリア１０１−１、セクタ番号が“０３００００ｈ”のデータエリア１０２−１の開始位置（図２中のＢ地点を参照）、セクタ番号が“１ＡＦＦＥＦｈ”のデータエリア１０２−１の終了位置（図２中のＤ地点を参照）に順次アクセスして、リードアウトエリア１０３−１へと移動されることによって、Ｌ１層における記録又は再生が行われる。

よって、コンテンツ情報は、例えば、Ｌ０層のデータエリア１０２−０のセクタ番号“０３００００ｈ”から“１ＡＦＦＦＦｈ”及びＬ１層のデータエリア１０２−１のセクタ番号“０３００００ｈ”から“１ＡＦＦＥＦｈ”において、光ピックアップが連続して移動されると同時に記録又は再生される。

以上説明したセクタ番号に対して、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ：Logical Block Address）が、１対１に割り付けられている。より具体的には、例えば、Ｌ０層におけるセクタ番号“０３００００ｈ”には“００００００”ＬＢＡが対応し、セクタ番号“１ＡＦＦＦＦｈ”には、“１７ＦＦＦＦ”ＬＢＡが対応する。他方、Ｌ１層におけるセクタ番号“０３００００ｈ”には“１８００００”ＬＢＡが対応し、セクタ番号“１ＡＦＦＥＦｈ”には、“２ＦＦＦＥＦ”ＬＢＡが対応する。

次に、図３を参照して、第１実施例に係る、２層型光ディスクのパラレル方式におけるセクタ番号とＬＰＰアドレスとの関係について説明する。

図３に示されるように、Ｌ０層及びＬ１層のＬＰＰアドレスは、Ｌ０層及びＬ１層のセクタ番号から求めることが可能である。より具体的には、１６進数のセクタ番号“００３００００ｈ”を２進数“００００００００００１１００００００００００００００００”に変換してから、右から５ビット目から２４ビット目までをビット反転（インバート：invert）“１１１１１１１１１１００１１１１１１１１１１１１”させ、１６進数“ＦＦＣＦＦＦｈ”に再変換させることによって求められる。

また、データエリア１０２−０（１０２−１）の記録終了位置を記録層ごとに設定することが可能である。

次に、図４及び図５を参照して、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及び該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成する物理的セクタ番号並びに該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生手順について説明する。図４は、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及び該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成する物理的セクタ番号並びに該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。図５は、第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。尚、図４及び図５中の縦軸及び横軸等は、前述した図２及び図３と同様である。

図４に示されるように、第１実施例に係る、２層型光ディスク１００は、図示しない透明基板に積層された２層の記録層、即ち、Ｌ０層とＬ１層とを備えて構成されている。

具体的には、Ｌ０層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０及びミドルエリア１０４−０が設けられている。このリードインエリア１０１−０には、前述したＰＣエリアＰＣＡ及び前述したＲＭエリアＲＭＡ等が設けられている。また、ミドルエリア１０４−０は、Ｌ０層及びＬ１層に対する記録又は再生位置が基板外へ外れることを防止する基本機能を有するが、層間ジャンプの際に記録又は再生位置が基板外に外れることを防止する、言わば“ジャンプ緩衝用エリア”としての機能も有する。

他方、Ｌ１層には、外周側から内周側にかけて、ミドルエリア１０４−１、データエリア１０２−１、及び、リードアウトエリア１０３−１が設けられている。このリードアウトエリア１０３−１にも、図示しないＰＣＡ等が設けられていてもよい。

以上のように２層型光ディスク１００は構成されているので、該光ディスク１００の記録又は再生の際の焦点距離等の制御は、前述したパラレル方式と同様である。

特に、第１実施例に係る、２層型光ディスクの記録又は再生手順としてオポジット方式が採用されていてもよい。ここに、オポジット方式とは、より詳細には、２層型光ディスクの記録又は再生手順として、後述される情報記録再生装置の光ピックアップが、Ｌ０層において、内周側から外周側へ向かって、即ち、図４中の矢印の右方向へ移動するのとは逆に、Ｌ１層においては、光ピックアップが外周側から内周側へ向かって、即ち、図４中の矢印の左方向へ移動することによって、２層型光ディスクにおける記録又は再生が行われる方式である。このオポジット方式では、Ｌ０層における記録又は再生が終了されると、Ｌ１層における記録又は再生が開始される時に、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要はなく、Ｌ０層からＬ１層への焦点距離だけを切り替えればよいため、Ｌ０層からＬ１層への切り替え時間がパラレル方式と比較して短いという利点があるため大容量のコンテンツ情報の記録には採用されている。

具体的には、先ず、Ｌ０層において、光ピックアップがリードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０及びミドルエリア１０４−０を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、セクタ番号が“０２ＦＦＦＦｈ”のリードインエリア１０１−０の終了位置（図４中のＡ地点を参照）、セクタ番号が“０３００００ｈ”のデータエリア１０２−０の開始位置（図４中のＢ地点を参照）、セクタ番号が“１ＡＦＦＦＦｈ”のデータエリア１０２−０の終了位置（以下、適宜、Ｌ０層の「折り返し点」と称す：図４中のＣ地点を参照）に順次アクセスして、緩衝の役目を果たすミドルエリア１０４−０へと移動されることによって、Ｌ０層における記録又は再生が行われる。尚、本実施例において、“３００００ｈ”等の末尾の“ｈ”とは１６進数で表現されていることを示す。他方、Ｌ１層において、具体的には、光ピックアップがミドルエリア１０４−１、データエリア１０２−１及びリードアウトエリア１０３−１を外周側から内周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、緩衝の役目を果たすミドルエリア１０４−１、セクタ番号が“Ｅ５００００ｈ”のデータエリア１０２−１の開始位置（以下、適宜、Ｌ１層の「折り返し点」と称す：図４中のＤ地点を参照）、セクタ番号が“ＦＣＦＦＥＦｈ”のデータエリア１０２−１の終了位置（図４中のＥ地点を参照）に順次アクセスして、リードアウトエリア１０３−１へと移動されることによって、Ｌ１層における記録又は再生が行われる。

以上説明したＬ０層とＬ１層とにおけるセクタ番号はすべて、１６進数における１５の補数の関係にある。より具体的には、例えば、Ｌ０層における折り返し点（セクタ番号“１ＡＦＦＦＦｈ”）とＬ１層における折り返し点（セクタ番号“Ｅ５００００ｈ”）は１５の補数の関係にある。形式的には、“１ＡＦＦＦＦｈ”の補数は、１６進数のセクタ番号“１ＡＦＦＦＦｈ”を２進数“０００１１０１０１１１１１１１１１１１１１１１１”に変換してからビット反転（インバート：invert）“１１１００１０１００００００００００００００００”させ、１６進数“Ｅ５００００ｈ”に再変換させることによって求められる。

よって、コンテンツ情報は、例えば、Ｌ０層のデータエリア１０２−０のセクタ番号“０３００００ｈ”から“１ＡＦＦＦＦｈ”及びＬ１層のデータエリア１０２−１のセクタ番号“Ｅ５００００ｈ”から“ＦＣＦＦＥＦｈ”において、光ピックアップが連続して移動されると同時に記録又は再生される。

以上説明した物理的セクタ番号に対して、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ：Logical Block Address）が、１対１に割り付けられている。より具体的には、例えば、セクタ番号“０３００００ｈ”には“００００００”ＬＢＡが対応し、セクタ番号“１ＡＦＦＦＦｈ”には、“１７ＦＦＦＦ”ＬＢＡが対応する。また、セクタ番号“Ｅ５００００ｈ”には、“１８００００”ＬＢＡが対応し、セクタ番号“ＦＣＦＦＥＦｈ”には、“２ＦＦＦＥＦ”ＬＢＡが対応する。よって、例えば、ホストコンピュータは、物理的セクタ番号に意識することなく、例えば、ファイルシステムによって管理された論理ブロックアドレスに従って記録及び再生動作を行うことが可能となる。

次に、図５を参照して、第１実施例に係る、２層型光ディスクのオポジット方式におけるセクタ番号とＬＰＰアドレスとの関係について説明する。

図５に示されるように、Ｌ０層及びＬ１層のＬＰＰアドレスは、パラレル方式と同様に、Ｌ０層及びＬ１層のセクタ番号から求めることが可能である。従って、Ｌ０層とＬ１層とにおけるＬＰＰアドレスはすべて、セクタ番号と同様に、１６進数における１５の補数の関係にある。

また、パラレル方式と同様に、オポジット方式においてもデータエリア１０２−０（１０２−１）の記録終了位置を記録層ごとに設定することが可能である。

以上図１から図５を参照して説明したように、第１実施例の測定対象となる、光ディスク１００においては、Ｌ０層のトラック１０上の半径位置と、Ｌ１層のトラック１０上の半径位置は、本発明に係る「プリフォーマットアドレス」の一例たるセクタ番号によって相互に対応付けられている。そして、このように対応付けられている半径位置は、Ｌ０層及びＬ１層間における偏心や、Ｌ０層のトラック１０のピッチとＬ１層のトラック１０のピッチとの偏差が存在しないとすれば、光ディスク１００の基板面の法線方向から見てオフセットはなく重なっている。即ち、理想的にはオフセット量はゼロである。しかしながら実際には、このような偏心や偏差は、Ｌ０層とＬ１層との貼り合わせ誤差、Ｌ０層形成時とＬ１層形成時とで、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用すること等によって、大なり小なり生じている。

そこで次に図６から図８を参照して説明するように、第１実施例に係るオフセット量測定装置及び方法は、上述の如くに生じるオフセット量を測定するように構成されている。ここに図６は、第１実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。図７は、第１実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。図８は、このうち測定用記録工程を図式的に示す概念図である。

図６の上段側に図式的なブロック図として示すように、本実施例に係るオフセット量測定装置は、マイクロスコープ８０１、測定用記録装置８０３、及び処理装置８０４を備えて構成されている。

マイクロスコープ８０１は、本発明に係る「第１検出手段」及び「第２検出手段」の一例として、更に「光学顕微鏡」の一例として機能する。マイクロスコープ８０１は、光ディスク１００のセンターホール１を基準として、光ディスク１００の記録面に沿って矢印８０２のように移動可能に構成されている。また、その焦点を、処理装置８０４による制御下で、選択的にＬ０層又はＬ１層に合わせることができるように構成されている。

測定用記録装置８０３は、半導体レーザ８０３ａと、集光レンズ、接眼レンズ等のレンズ８０３ｂを有し、処理装置８０４による制御下で、光ディスク１００の記録面に沿って矢印８０５のように移動可能であり、所望の記録層（即ち、Ｌ０層又はＬ１層）における所望の半径位置に、書き込み用レーザたるレーザ光ＬＢを照射するように構成されている。測定用記録装置８０３は、本発明に係る「測定用記録手段」の一例として機能する。

処理装置８０４は、ＣＰＵ或いはコントローラ、メモリ等を有し、マイクロスコープ８０２の動作制御及びその出力情報の収集を行うと共に、測定用記録装置８０３の動作制御を行うように構成されている。処理装置８０４は、本発明に係る「決定手段」の一例として機能する。

図６の下段側に図式的な平面図として示すように、ディスク１００は、積層されたＬ０層とＬ１層との間で、貼り合せ誤差等に起因してのオフセットＯＦＦｒが存在している。

図７に示すように、本実施例では先ず、このようなオフセットＯＦＦｒを有する光ディスク１００が、図６に示したオフセット量測定装置にセットされる（ステップＳ１０）。続いて、図６に示したように、センターホール１を中心軸として、光ディスク１００が回転される（ステップＳ１１）。この際の回転条件は、通常の情報記録装置における回転条件と同じでもよいし、当該オフセット量測定装置に固有であってもよい。例えば、後述の情報記録装置が有するスピンドルモータと同様のモータにより、回転される。この状態で、測定用情報の記録が行われる。即ち、測定用記録工程が実施される（ステップＳ１２）
具体的には図８（ａ）に示したように、“パラレル方式”の場合には、Ｌ０層のトラック１０に、セクタ番号により特定される、本発明に係る「測定基準位置」の一例としての半径位置Ｂ０１から、矢印９０１に沿って（即ち、内周側から外周側に向かって）所定数のセクタだけ、レーザ光ＬＢによって測定用情報が記録される。この際のレーザ光ＬＢは、処理装置８０４による制御下で、測定用記録装置８０３が有する半導体レーザ８０３ａからＬ０層に集光される。これにより、半径位置Ｂ０１から半径位置Ｂ０２までの、図８（ａ）におけるＬ０層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。これと相前後して、Ｌ１層のトラック１０における、本発明に係る「測定対応位置」の一例たる、半径位置Ｂ０１にセクタ番号により対応付けられた、即ち、同一セクタ番号を有する、半径位置Ｂ１１から、矢印９０２に沿って（即ち、内周側から外周側に向かって）所定数のセクタだけ、レーザ光ＬＢによって測定用情報が記録される。この際のレーザ光ＬＢは、Ｌ０層を介してＬ１層に集光される。これにより、半径位置Ｂ１１から半径位置Ｂ１２までの、図８（ａ）におけるＬ１層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。この場合、前述のオフセットが、本発明に係る「第１境界位置」の一例でもある半径位置Ｂ０１と、本発明に係る「第２境界位置」の一例でもある半径位置Ｂ１１との間に、貼り合せ誤差等に応じたオフセット量ＯＦＦｒだけ存在している。同様に、前述のオフセットが、本発明に係る「第１境界位置」の一例でもある半径位置Ｂ０２と、本発明に係る「第２境界位置」の一例でもある半径位置Ｂ１２との間に、貼り合せ誤差等に応じたオフセット量ＯＦＦｒだけ存在している。測定用情報のサイズが大きくなければ、これらの、ディスク外周寄りのオフセットとディスク内周寄りのオフセットとは、殆ど同じであり、いずれのオフセット量ＯＦＦｒを測定対象としても大差はない。測定用情報のサイズは、測定用情報の記録と未記録とによる反射率の差を、次に説明する第１及び第２検出工程により夫々検出可能な限りにおいて、小さい方が好ましい。

他方、図８（ｂ）に示したように、“オポジット方式”の場合には、Ｌ０層のトラック１０に、セクタ番号により特定される、本発明に係る「測定基準位置」の一例としての半径位置Ｂ０１から、矢印９１１に沿って（即ち、内周側から外周側に向かって）所定数のセクタだけ、レーザ光ＬＢによって測定用情報が記録される。これにより、半径位置Ｂ０１から半径位置Ｂ０２までの、図８（ｂ）におけるＬ０層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。これと相前後して、Ｌ１層のトラック１０における、本発明に係る「測定対応位置」の一例たる、半径位置Ｂ０１にセクタ番号により対応付けられた、即ち、これと補数の関係を有するセクタ番号から所定数のセクタだけ外周寄りである、半径位置Ｂ１２から、矢印９１２（即ち、外周側から内周側に向かって）に沿って所定数のセクタだけ、レーザ光ＬＢによって測定用情報が記録される。これにより、半径位置Ｂ１２から半径位置Ｂ１１までの、図８（ｂ）におけるＬ１層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。この“オポジット方式”の場合にも、“パラレル方式”の場合（図７（ａ）参照）と同様に、前述のオフセットが、半径位置Ｂ０１と半径位置Ｂ１１との間に、オフセット量ＯＦＦｒだけ存在しており、半径位置Ｂ０２と半径位置Ｂ１２との間に、オフセット量ＯＦＦｒだけ存在している。

再び図７において、その後、以上のように測定用情報を記録した後の光ディスク１００に対して、第１検出工程が施される（ステップＳ１３）。

具体的には、図６に示したマイクロスコープ８０１により撮像を行うことで、処理装置８０４によって自動的に図８に示した「第１境界位置」の一例たる半径位置Ｂ０１又はＢ０２が検出される。但し、このような検出は、人的に行われてもよい。この際の検出は、Ｌ０層において、測定用情報が記録済みである第１記録済みエリアと、測定用情報が未記録である第１未記録エリアと間の反射率の差に基づいて、行なわれる。即ち、測定用情報を記録済みの第１記録済みエリアでは、反射率が低下するので、このような「第１境界位置」の一例たる半径位置Ｂ０１又はＢ０２は、比較的容易且つ正確に測定できる。この際、センターホール１を基準にして矢印８０２の如く光ディスク１００の半径方向に沿って移動可能であるので、高倍率のマイクロスコープ８０１を使用して、半径位置Ｂ０１又はＢ０２の検出を高精度で行うことが可能とされる。マイクロスコープ８０１で検出された半径位置Ｂ０１又はＢ０２を示す情報は、処理装置８０４へと入力される。尚、図６の上段側に図式的な断面図として示したように光ディスク１００の透明な基板１０６を介して、マイクロスコープ８０１は、反射膜、不透明膜等を含む膜１０７上で、反射率の直接的な測定を行う。

本実施例では、以上のように検出された半径位置Ｂ０１又はＢ０２は、処理装置８０４に内蔵されたメモリに記憶される。但し、処理装置８０４に外部接続された又はマイクロスコープに内蔵されたメモリに記憶されてもよい。

再び図７において、その後、以上のように測定用情報を記録した後の光ディスク１００に対して、第２検出工程が施される（ステップＳ１４）。これにより、第１検出工程の場合と同様にして、Ｌ１層について検出が行なわれることで、本発明に係る「第２境界位置」の一例たる半径位置Ｂ１１又はＢ１２が検出される。

本実施例では、以上のように検出された半径位置Ｂ１１又はＢ１２は、前述した半径位置Ｂ０１又はＢ０２の場合と同様に、処理装置８０４に内蔵されたメモリ等に記憶される。

その後、処理装置８０４により、本発明に係る「決定工程」の一例として、上述の如く検出された第１境界位置の一例たる半径位置Ｂ０１又はＢ０２と、第２境界位置の一例たる半径位置Ｂ１１又はＢ１２とに基づいて、オフセット量が決定される（ステップＳ１５）。より具体的には、セクタ番号により対応付けられているＬ０層の半径位置Ｂ０１とＬ１層の半径位置Ｂ１１との差分（即ち、境界間の距離）を演算することで、オフセット量ＯＦＦｒが決定される。或いは、これに代えて又は加えて、セクタ番号により対応付けられているＬ０層の半径位置Ｂ１１とＬ１層の半径位置Ｂ１２との差分を演算することで、オフセット量ＯＦＦｒが決定される。尚、これら半径位置Ｂ０１、Ｂ０２、Ｂ１１又はＢ１２の値は夫々、ステップＳ１３及びＳ１４にて既に、この値を記憶し保持している、処理装置８０４に内蔵されたメモリ等から読み出して、上述の如き演算に用いればよい。

以上詳細に説明したように本実施例によれば、オフセット量ＯＦＦｒを効率良く且つ高精度で測定することが可能となる。このため、オフセット量が、例えば規格内に入っているか否かなど、どの程度のものであるかを明らかにできる。例えば、光ディスク１００が線速度一定で記録再生される型の場合、オフセット量ＯＦＦｒは、内周側で大きく、外周側で小さくなる。これに伴い、各半径位置（言い換えれば、各アドレス）におけるオフセット量ＯＦＦｒの許容範囲は、規格等により予め設定されているので、本実施例によって、このオフセット量ＯＦＦｒが許容範囲内か否かを検証できることになる。或いは、これら偏心や偏差に対する対策の要否についても、オフセット量を把握することで、明らかにできる。従ってまた、後述の情報記録装置において、ユーザが当該情報記録媒体を使用する以前に、例えば、光ディスク１００に、オフセット量ＯＦＦｒを示す情報を記録しておくことも可能となる。

（第２実施例）
図９から図１３を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第２実施例について詳細に説明する。尚、第２実施例において、図１から図８を参照して説明した第１実施例と同様の構成要素や同様の工程は同様の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。

先ず図９及び図１０を参照して、第２実施例の測定対象となる、２層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域、並びに該光ディスクのパラレル方式及びオポジット方式による記録手順についてより詳細に説明する。ここに、図９は、第２実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域を示したパラレル方式及びオポジット方式の下での概念図である。図１０は、第２実施例に係る、２層型光ディスクのセクタ番号で示された記録領域及び該光ディスクのパラレル方式及びオポジット方式による記録手順を示した概念図である。

第２実施例に係る、光ディスク１００は、パラレル方式の場合には、Ｌ１層のトラック１０におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第２場所」の一例たる、Ｌ１層のデータエリアの内周端が、Ｌ０層のトラック１０におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第１場所」の一例たる、Ｌ０層のデータエリアの内周端より、予め設定された第１オフセット量だけ外周側に位置している。或いは、オポジット方式の場合には、Ｌ１層のトラック１０におけるデータエリアの終了位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第２場所」の一例たる、Ｌ１層のデータエリアの内周端が、Ｌ０層のトラック１０におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第１場所」の一例たる、Ｌ０層のデータエリアの内周端より、予め設定された第１オフセット量だけ外周側に位置している。

図９に示されるように、Ｌ１層のセクタ番号が“３００００ｈ”（パラレル方式の場合）又は“ＦＣＦＦＦＦｈ”（オポジット方式の場合）のデータエリア１０２−１の最内周位置が、Ｌ０層のセクタ番号が“３００００ｈ”のデータエリア１０２−０の開始位置から、第１オフセット量だけ外周側に位置するように光ディスクが設計されている。ここに、「第１オフセット量」とは、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最内周位置をＬ０層のデータエリア１０２−０の最内周位置より外周側に位置させるために定められた基準値である。具体的には、Ｌ０層及びＬ１層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値である。より具体的には、Ｌ０層の偏心の最大値が４０μmであり、Ｌ１層の偏心の最大値が７０μmであった場合、第１オフセット量は、Ｌ０層及びＬ１層の偏心の最大値の和、即ち、１１０μm（＝４０＋７０）である。また、第１オフセット量の上限値を２００μmとすることにより、ＤＶＤ−ＲＯＭ規格のパラレル方式に準拠することができる。尚、第１オフセット量は、光ディスクの半径方向の長さ（μｍ）として示され、セクタ数やＥＣＣブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やＥＣＣブロック数で直接的に示されてもよい。

パラレル方式のＤＶＤ−ＲＯＭの規格に準拠するためには、データエリア１０２の開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”の位置）を、直径が４７．６mmから４８．０mmの範囲に収める必要がある。従って、第１オフセット量の上限値は半径にして２００μｍ（（４８．０−４７．６）÷２＝０．２mm）となる。よって、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”の位置）を、光ディスクの直径上、４７．６mmから４７．８mmの範囲に収めるようにしてもよい。と同時に、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”の位置）を、光ディスクの直径上、４７．８２mmから４８．０mmの範囲に収めるようにしてもよい。

以上より、Ｌ０層とＬ１層のデータエリア１０２−０の開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”の位置）の半径上の差、即ち、第１オフセット量は、偏心に基づいた値の１１０μｍ（０．１１ｍｍ）より大きくするとよく、且つ、パラレル方式の場合はＤＶＤ−ＲＯＭの規格に基づいた値の２００μｍ（０．２０ｍｍ）より小さくするとよい。

図１０に示されるように、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録が行われる場合、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層に記録され、次にＬ１層に続けて記録される（図１０中のグレー部分を参照）。同様に、二番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層に記録され、次にＬ１層に続けて記録される（図１０中の右斜め上の斜線部分を参照）。更に、同様に、三番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層に記録され、次にＬ１層に続けて記録される（図１０中の斑点部分を参照）。

パラレル方式においては、コンテンツデータである記録データが夫々記録される際に、Ｌ１層においては、Ｌ０層と同じ方向で、即ち、内周側から外周側に向かって該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。より具体的には、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層にデータエリア１０２−０の記録開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”）から記録され、続いて、Ｌ１層にデータエリア１０２−１の記録開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”）から記録される（図１０中のグレー部分及び実線の矢印を参照）。他方、オポジット方式においては、コンテンツデータである記録データが夫々記録される際に、Ｌ１層においては、Ｌ０層と反対方向で、即ち、外周側から内周側に向かって該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。より具体的には、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層にデータエリア１０２−０の記録開始位置（セクタ番号が“３００００ｈ”）から記録され、続いて、Ｌ１層にデータエリア１０２−１の記録終了位置（セクタ番号が“ＦＣＦＦＦＦｈ”）へ向かって記録される（図１０中のグレー部分及び点線の矢印を参照）。

特に、本発明の情報記録媒体の第２実施例に係る２層型光ディスクに対しては、Ｌ１層において記録データが記録されるデータエリア１０２−１の最外周位置が、Ｌ０層において記録データが記録されたデータエリア１０２−０の最外周位置から、第２オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。ここに、「第２オフセット量」とは、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置をＬ０層のデータエリア１０２−０の最外周位置より内周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、Ｌ０層及びＬ１層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値であり、前述した第１オフセット量と同様に、偏心に基づいた値の１１０μｍ（０．１１ｍｍ）より大きくするとよい。加えて、パラレル方式の場合は、ＤＶＤ−ＲＯＭの規格に準拠するには２００μｍ（０．２０ｍｍ）より小さくするとよい。尚、第２オフセット量も、第１オフセット量と同様にして、光ディスクの半径方向の長さ（μｍ）として示され、セクタ数やＥＣＣブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やＥＣＣブロック数で直接的に示されてもよい。また、該光ディスクに対する記録動作において、Ｌ１層の記録領域の最外周位置をＬ０層の記録領域の最外周位置より第２オフセット量だけ内周側に位置させるためには、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録を行うに際して、常にＬ１層の記録データ量をＬ０層の記録データ量より小さくしてもよい。或いは、Ｌ１層の最内周における記録データ量だけをＬ０層の記録データ量より小さくし、Ｌ１層の最内周以外における記録データ量をＬ０層の記録データ量と等しくしてもよい。

従って、パラレル方式においては、Ｌ１層における記録データの記録終了位置が、Ｌ０層における記録データの記録終了位置から、第２オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。他方、オポジット方式においては、Ｌ１層における記録データの記録開始位置が、Ｌ０層における記録データの記録終了位置から、第２オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。

以上のように、本発明の情報記録媒体の第２実施例に係る光ディスクによれば、Ｌ１層のセクタ番号が“３００００ｈ”（パラレル方式の場合）又は“ＦＣＦＦＦＦｈ”（オポジット方式の場合）のデータエリア１０２−１の最内周位置が、Ｌ０層のセクタ番号が“３００００ｈ”のデータエリア１０２−０の開始位置から、第１オフセット量だけ外周側に位置するように光ディスクが設計されている。加えて、第２実施例に係る光ディスクに対しては、Ｌ１層において記録データが記録されるデータエリア１０２−１の最外周位置が、Ｌ０層において記録データが記録されたデータエリア１０２−０の最外周位置から、第２オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。従って、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録が行われる場合、Ｌ０層において記録データが記録された後で、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の開始位置から記録データが記録される際に、記録用のレーザ光ＬＢは、Ｌ０層及びＬ１層の偏心に関係なく、記録済み状態のＬ０層を透過する。即ち、Ｌ１層の記録に際して、未記録状態のＬ０層を透過することは殆ど又は完全にない。よって、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の開始位置において記録された記録データの再生特性を安定させることが可能である。

一般に、２層型光ディスクにおいては、記録データが記録済みの状態であるＬ０層を介して照射されるレーザ光によりＬ１層にデータを記録する場合と、記録データが未記録状態であるＬ０層を介して照射されるレーザ光によりＬ１層に記録データを記録する場合とでは、Ｌ１層に記録された記録データの品質が異なることが知られている。即ち、この２つの場合の夫々において、同一の条件で照射されたレーザ光により記録データを記録する場合、いずれか一方は良好な記録特性を得られたとしても、いずれか他方においては必ずしも良好な記録特性が得られるとは限らないという技術的な問題点を有している。

これに対して、第２実施例に係る光ディスクによれば、記録データが記録済み状態のＬ０層を介して照射されるレーザ光ＬＢによりＬ１層に記録データを記録することができる。よって、上述した技術的な問題点を解決することができる。その結果、記録データが記録済み状態のＬ０層を介してＬ１層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、Ｌ１層のいずれの記録領域にも適切な記録を行うことができる。特に、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性（例えば、アシンメトリ値、ジッタ値、変調度や再生エラーレート等）を得ることができる。

尚、第２実施形態に係る光ディスクにおいては、上述の如く第１及び第２オフセット量を設定した以外の構成については、上述した第１実施例に係る光ディスク１００と同様である。

そこで次に図１１及び図１２を参照して説明するように、第２実施例に係るオフセット量測定装置及び方法は、予め積極的に設定された第１及び第２オフセット量が、その許容範囲内に入っているか否かを判定する、言い換えれば、オフセット対策としての第１及び第２オフセット量の付与が適式に行なわれているかを検証可能なように構成されている。ここに図１１は、第２実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。図１２は、各ディスク半径位置に対して、基準オフセット量及び許容される上下限（即ち、許容範囲）を示す特性図である。

尚、第２実施例に係るオフセット量測定装置のハードウエア構成については、図６に示した第１実施例の場合と同様である。但し、ソフトウェア構成上における第１実施例との相異として、第２実施例では、処理装置８０４（図６参照）が、本発明に係る「判定工程」を行うように構成されている。

図１１に示したように、このようにオフセット対策用に第１及び第２オフセット量が設定された光ディスクに対して、第１実施例における図６から図８に示したのと同様に、ステップＳ１０からステップＳ１５が行なわれる（ステップＳ１０〜Ｓ１５）。

ステップＳ１５の後に、判定工程によって、ステップＳ１５までで決定されたオフセット量ＯＦＦｒ（即ち、実測値）が、第１オフセット量ＯＦＦ１に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。或いは、ステップＳ１５までで決定されたオフセット量ＯＦＦｒ（即ち、実測値）が、第２オフセット量ＯＦＦ２に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される（ステップＳ２１）。

図１２に示すように、この判定は、第１オフセット量ＯＦＦ１又は第２オフセット量ＯＦＦ２の基準となる基準オフセット量を示す曲線を基準とする上限を示す曲線よりも、決定されたオフセット量ＯＦＦｒが、各ディスク半径位置で小さく、且つ基準オフセット量を示す曲線を基準とする下限を示す曲線よりも、決定されたオフセット量ＯＦＦｒが、各ディスク半径位置で大きいかという比較を実施することで行なわれる。より具体的には、図１２の特性図上に、決定されたオフセット量ＯＦＦｒを各半径位置についてプロットした際に、これらの上限を示す曲線と下限を示す曲線との間に入るか否かが、判例されることになる。

この様子を、第１実施例における図６上で示せば、図６の下段側にあるように、決定されたオフセット量ＯＦＦｒ（実測値）と、予め設定された第１オフセット量ＯＦＦ１とが比較されるということになる。そして、ステップＳ１５で決定されたオフセット量ＯＦＦｒが上限下限に挟まれた許容範囲内に入っていなければ（ステップＳ２１）、オフセット対策用としての第１オフセット量或いは第２オフセット量の付与が適切に行なわれていないことなる。逆に、ステップＳ１５で決定されたオフセット量ＯＦＦｒが上限下限に挟まれた許容範囲内に入っていれ（ステップＳ２１）、オフセット対策用としての第１オフセット量或いは第２オフセット量の付与が適切に行なわれていることなる。

尚、第２実施例において、第１又は第２オフセット量を設定する対策を施す場合、貼り合わせ誤差によって生じるＬ０層とＬ１層との間の偏心の最大値を考慮するのみならず、光ディスク１００の製造時に用いられる、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用することによるＬ０層のトラック１０のピッチとＬ１層のトラック１０のピッチとの間における偏差の最大値までも考慮して、第１又は第２オフセット量を設定してもよい。即ち、偏心クリアランスを設けることを前提としつつ、第１オフセット量や第２オフセット量を設定してもよい。更に、Ｌ０層を介してＬ１層へレーザ光ＬＢを照射する場合に、完全に集光される前の所定半径を有する光束の縁付近が、Ｌ０に照射される際の、該所定半径を考慮して、第１又は第２オフセット量を設定してもよい。即ち、照射範囲クリアランスを設けることを前提としつつ、第１オフセット量や第２オフセット量を設定してもよい。

尚、第２実施例において、光ディスク１００は、Ｌ０層のトラック１０におけるトラックピッチに対する、Ｌ１層のトラック１０におけるトラックピッチの比が、１未満の所定値となるように構成されていてもよい。或いは、光ディスク１００は、Ｌ０層のトラック１０におけるトラックピッチに対する、Ｌ１層のトラック１０におけるトラックピッチの差が、負の所定値となるように構成されていてもよい。加えて、Ｌ１層のトラック１０におけるデータエリアの外周側端部が、Ｌ０層のトラック１０におけるデータエリアの外周側端部より少なくとも第１オフセット量だけ内周側に位置するように、これらの比又は差が設定されていてもよい。いずれの場合にも、処理装置８０４における判定工程によって、このように設定された第１又は第２オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。

次に、図１３を参照して、第２実施例に係る２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例について説明する。ここに、図１３は、第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。尚、図１３では、Ｌ１層のアドレスはパラレル方式のセクタ番号を示してある。

図１３に示されるように、第２実施例に係る、２層型光ディスクによれば、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の記録開始位置Ｂ点（セクタ番号：“３００００ｈ”、半径：２４．００ｍｍ）は、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の記録開始位置Ａ点（セクタ番号：“３００００ｈ”、半径：２３．８５ｍｍ）より第１オフセット量（半径方向の幅が１５０μｍ）だけ外周側に位置している。また、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録を行う一連の該光ディスクに対する記録動作の完了後に、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｄ点（セクタ番号：“２２８Ｄ２Ａｈ”、半径：５７．７９ｍｍ）は、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の最外周位置Ｃ点（セクタ番号：“２２Ｄ４３Ｂｈ”、半径：５７．９４ｍｍ）より第２オフセット量（半径方向の幅が１５０μｍ）だけ内周側に位置させるようにする。

特に、第２実施例に係る、２層型光ディスクの一具体例によれば、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録を行う該光ディスクに対する記録動作において、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の記録終了位置をＬ０層のデータエリア１０２−０の記録終了位置より、第２オフセット量（半径方向の幅が１５０μｍ）だけ、常に内周側に位置させるようにする。このためには、第２オフセット量に加えて、第１オフセット量による影響を含めて、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の記録終了位置を決定する。尚、この記録終了位置の決定方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。

具体的には、前述のように、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の前述した記録開始位置Ｂ点は、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の前述した記録開始位置Ａ点より第１オフセット量（半径方向の幅が１５０μｍ）だけ外周側に位置している。仮に、第２オフセット量を考慮しない該光ディスクに対する記録動作の下では、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｄ’点（セクタ番号：“２２Ｄ４３Ｂｈ”、半径：５８．００ｍｍ）は、該最外周位置Ｄ’点と同じセクタ番号を持つＬ０層のデータエリア１０２−０の前述した最外周位置Ｃ点より半径方向で６０μｍだけ外周側に位置してしまう。一般に、光ディスクの最外周へ近づく程、半径が大きくなるため、第１オフセット量（１５０μｍ）である最内周におけるＬ０層とＬ１層との半径方向の位置の差は、最外周においては６０μｍに減少する。従って、図１３に示されるように、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｄ点が、Ｄ’点より２１０μｍ（＝１５０＋６０）だけ内周側に位置するように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。言い換えると、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｄ点のセクタ番号が、Ｄ’点のセクタ番号より“４７１１ｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。尚、この半径方向の長さからセクタ番号数への換算方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。

以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層のデータエリア１０２−０の前述した記録開始位置Ａ点から記録終了位置Ｅ点（セクタ番号：“６Ｃ７Ｅ６ｈ”、半径：３０．００ｍｍ）まで記録される。続いて、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の前述した記録開始位置Ｂ点から記録終了位置Ｆ点（セクタ番号：“６９８ＢＦｈ”、半径：２９．８５ｍｍ）まで記録される（図１３中のグレー部分を参照）。よって、Ｅ点とＦ点において、半径方向に、第２オフセット量（１５０μｍ）の差が得られる。言い換えると、Ｌ１層の記録終了位置Ｆ点のセクタ番号が、Ｅ点のセクタ番号より“２Ｆ２７ｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、Ｌ０層の記録終了位置Ｇ点（セクタ番号：“ＥＣ５Ｂ９ｈ”、半径：４０．００ｍｍ）まで記録される。続いて、Ｌ１層の記録終了位置Ｈ点（セクタ番号：“Ｅ８ＤＢＦｈ”、半径：３９．８５ｍｍ）まで記録される（図１３中の斑点部分を参照）。よって、Ｇ点とＨ点において、半径方向に、第２オフセット量（１５０μｍ）の差が得られる。言い換えると、Ｌ１層の記録終了位置Ｈ点のセクタ番号が、Ｇ点のセクタ番号より“３７ＦＡｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。

尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。

以上詳細に説明したように第２実施例によれば、決定されたオフセット量が、第１オフセット量や第２オフセット量に対して、予め設定された許容範囲内にあるか否かを、自動的に検証することが可能となる。

（第２実施例による検証対象となる、光ディスクの各種具体例）
次に図１４から図１６を参照して、第２実施例に係る判定工程まで行うように構成されたオフセット量測定装置によって、第１オフセット量ＯＦＦ１や第２オフセット量ＯＦＦ２が好適に検証される、光ディスクの各種具体例について説明する。

先ず、第２実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域並びに該光ディスクの記録手順についてより詳細に説明する。ここに、図１４は、第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、Ｌ１層のトラックピッチが調整されている場合の該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。図１５は、第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。図１６は、第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の他の具体例を示した概念図である。尚、これらの図では、Ｌ１層のアドレスはパラレル方式のセクタ番号を示してある。

先ず、図１４及び図１５を参照して、第２実施例に係る、２層型光ディスクの一具体例について説明する。

図１４に示されるように、第２実施例に係る、光ディスクの一具体例においては、Ｌ１層のトラックピッチが調整されている。従って、該光ディスクに対して記録動作が行われた場合、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置は、該最外周位置と同じセクタ番号を持つＬ０層のデータエリア１０２−０の最外周位置より第３オフセット量だけ外周側に位置する。ここに、「第３オフセット量」とは、光ディスクに対してＬ０層及びＬ１層のトラックピッチの比又は差が調整されることによって、該光ディスクに対して記録動作が行なわれる際に、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置を、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の最外周位置より所定範囲内に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。より具体的には、第２実施例におけるＬ１層のトラックピッチが調整された光ディスクに対して記録動作が行われ、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｋ点（セクタ番号：“２２Ｄ４３Ｂｈ”、半径：５８．１４ｍｍ）は、該最外周位置Ｋ点と同じセクタ番号を持つＬ０層のデータエリア１０２−０の前述した最外周位置Ｃ点より半径方向で第３オフセット量として、２００μｍだけ外周側に位置するようにする。

尚、Ｌ１層のトラックピッチのみが調整されていてもよいし、Ｌ０層及びＬ１層のトラックピッチの比又は差が調整されていてもよい。

従って、図１５に示されるように、光ディスクの一具体例によれば、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録が行われる場合において、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の記録終了位置がＬ０層のデータエリア１０２−０の記録終了位置より、第２オフセット量（半径方向の幅が１５０μｍ）だけ、常に内周側に位置させるようにする。このため、後述される情報記録装置によって、第２オフセット量に加えて、第３オフセット量を含めて、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の記録終了位置が決定される。尚、この第３オフセット量を考慮した記録終了位置の決定方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。

より具体的には、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｌ点が、Ｋ点より３５０μｍ（＝２００＋１５０）だけ内周側に位置するように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。言い換えると、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｌ点のセクタ番号が、Ｋ点のセクタ番号より“７５ＢＢｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。その結果、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｌ点のセクタ番号は、“２２５Ｅ８０ｈ”となり、半径は、５７．７９ｍｍとなる。前述の図８で説明した本発明の情報記録媒体の第１実施例に係る２層型光ディスクの一具体例と比較して、Ｌ１層のトラックピッチが大きい分だけセクタ番号が小さくなっていることが分かる。

以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層のデータエリア１０２−０の前述した記録開始位置Ａ点から前述した記録終了位置Ｅ点まで記録される。続いて、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の前述した記録開始位置Ｂ点から記録終了位置Ｍ点（セクタ番号：“６９３５Ｅｈ”、半径：２９．８５ｍｍ）まで記録される（図１５中のグレー部分を参照）。よって、Ｅ点とＭ点の半径位置において、第２オフセット量（１５０μｍ）の差が得られる。言い換えると、Ｌ１層の記録終了位置Ｆ点のセクタ番号が、Ｅ点のセクタ番号より“３４８８ｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれたことになる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、Ｌ０層の前述した記録終了位置Ｇ点まで記録される。続いて、Ｌ１層の記録終了位置Ｎ点（セクタ番号：“Ｅ７ＣＡ８ｈ”、半径：３９．８５ｍｍ）まで記録される（図１５中の斑点部分を参照）。よって、Ｇ点とＮ点の半径位置において、第２オフセット量（１５０μｍ）の差が得られる。言い換えると、Ｌ１層の記録終了位置Ｎ点のセクタ番号が、Ｇ点のセクタ番号より“４９１１ｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれたことになる。

尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。

次に、図１６に加えて前述した図１５を適宜参照して、第２実施例に係る、２層型光ディスクの他の具体例について説明する。

図１６に示されるように、図１５で説明した一具体例と概ね同様に、Ｌ１層のトラックピッチが制御されている。

従って、図１６に示されるように、第２実施例に係る、２層型光ディスクの他の具体例によれば、Ｌ０層及びＬ１層に交互に記録データの記録を行う該光ディスクに対する記録動作において、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の記録終了位置のセクタ番号をＬ０層のデータエリア１０２−０の記録終了位置のセクタ番号より、常に第２オフセット量（一定のセクタ番号数）だけ小さくさせる。尚、この第２オフセット量である一定のセクタ番号数の決定方法は、図１５で説明した一具体例と概ね同様に、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。また、他の具体例によれば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。

より具体的には、実際のＬ１層のデータエリア１０２−１の最外周位置Ｄ点のセクタ番号が、Ｌ０層のデータエリア１０２−０の前述した最外周位置Ｃ点のセクタ番号より“７５ＢＢｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。このように、最外周位置において、決定された一定のセクタ番号数を第２オフセット量とすると、この一定のセクタ番号数に対応される半径方向の幅は、半径の小さい内周側に向かうにつれて大きくなることは自明である。

以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にＬ０層のデータエリア１０２−０の前述した記録開始位置Ａ点から前述した記録終了位置Ｅ点まで記録される。続いて、Ｌ１層のデータエリア１０２−１の前述した記録開始位置Ｂ点から記録終了位置Ｏ点（セクタ番号：“６５２２Ｂｈ”、半径：２９．４７ｍｍ）まで記録される（図１６中のグレー部分を参照）。即ち、Ｌ１層の記録終了位置Ｊ点のセクタ番号が、Ｉ点のセクタ番号より“７５ＢＢｈ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。よって、Ｅ点とＯ点の半径位置において、第２オフセット量（１５０μｍ）より大きな５３０μｍの差が得られる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、Ｌ０層の前述した記録終了位置Ｇ点まで記録される。続いて、Ｌ１層の記録終了位置Ｐ点（セクタ番号：“Ｅ４ＦＦＥｈ”、半径：３９．６６ｍｍ）まで記録される（図１６中の斑点部分を参照）。即ち、Ｌ１層の記録終了位置Ｐ点のセクタ番号が、Ｇ点のセクタ番号より“７５ＢＢ”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。よって、Ｇ点とＰ点の半径位置において、第２オフセット量（１５０μｍ）より大きな３４０μｍの差が得られる。

尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。

（第３実施例）
図１７及び図１８を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第３実施例について詳細に説明する。ここに図１７は、第３実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。図１８は、第３実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。尚、第３実施例において、図１から図８を参照して説明した第１実施例、又は図９から図１３を参照して説明した第２実施例と同様の構成要素や同様の工程は同様の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。

図６の上段側に図式的なブロック図として示すように、本実施例に係るオフセット量測定装置は、マイクロスコープ９０１、測定用記録装置８０３、及び処理装置８０４を備えて構成されている。

マイクロスコープ９０１は、本発明に係る「第１検出手段」及び「第２検出手段」の一例として、更に「２次元測長装置」の一例として機能する。マイクロスコープ９０１は、光ディスク１００のセンターホール１を基準として、光ディスク１００の記録面に沿って矢印９２２及び９２３のように２次元的に移動可能に構成されている。また、その焦点を、処理装置８０４による制御下で、選択的にＬ０層又はＬ１層に合わせることができるように構成されている。マイクロスコープは、例えばＣＣＤ（Charged Coupled Device）或いは固体撮像素子、光学顕微鏡等の２次元撮像素子を備えて構成される。

第３実施例では、第１実施例に係る光ディスクの如く、第１又は第２オフセット量が設定されていない型式の光ディスクを測定対象としてもよいが、ここでは、第２実施例に係る光ディスクの如く、第１又は第２オフセット量が設定されている型式の光ディスクを測定対象とする。そして、処理装置９０４は、次に説明するように測定用情報が記録されたトラック上の複数点の座標から、オフセット量ＯＦＦｒを決定し、第１又は第２オフセット量の適否についての検証を行うように構成されている。

図１８に示したように、このようにオフセット対策用に第１及び第２オフセット量が設定された光ディスクに対して、第１実施例における図６から図８に示したのと同様に、ステップＳ１０からステップＳ１２が行なわれる（ステップＳ１０〜Ｓ１２）。

ステップＳ１２の後に、図１７に示したマイクロスコープ９０１により撮像を行うことで、図１７の下段側の平面図に示した、第１境界位置の一例たる半径ＲＬ０の円をなす、Ｌ０層のトラック１０上にある３点Ｃ０１、Ｃ０２及びＣ０３の座標が測定される（ステップＳ３１）。この際の検出も、Ｌ０層において、測定用情報が記録済みである第１記録済みエリアと、測定用情報が未記録である第１未記録エリアと間の反射率の差に基づいて、行なわれる。この際、センターホール１を基準にして矢印９２２及び９２３の如く光ディスク１００の記録面に沿って２次元的に移動可能であるので、高倍率のマイクロスコープ９０１を使用して、３点Ｃ０１、Ｃ０２及びＣ０３の座標の検出を高精度で行うことが可能とされる。マイクロスコープ９０１で検出された３点Ｃ０１、Ｃ０２及びＣ０３の座標を示す情報は、処理装置９０４へと入力される。

その後、第２境界位置の一例たる半径ＲＬ１の円をなす、Ｌ１層のトラック１０上にある３点Ｃ１１、Ｃ１２及びＣ１３の座標が測定される（ステップＳ３２）。これと相前後して、センターホール１近傍のトラックについても、３点Ｃｅ１、Ｃｅ２及びＣｅ３の座標が、同じ要領で測定される。

その後、処理装置９０４により、本発明に係る「決定工程」の一例として、上述の如く検出された第１境界位置の一例に係る３点Ｃ０１、Ｃ０２及びＣ０３の座標と、上述の如く検出された第２境界位置の一例に係る３点Ｃ１１、Ｃ１２及びＣ１３の座標とに基づいて、オフセット量が算出される（ステップＳ３３）。より具体的には、それらの座標から先ずＬ０層及びＬ１層の中心座標が算出され、更に各点における半径が算出され、Ｌ０等の半径とＬ１層の半径との間の差分によって、オフセット量ＯＦＦｓが算出される。このように算出することに鑑みれば、第１又は第２境界位置の一例に係る複数の点としては、例えば、データエリアの開始端近傍の所定のアドレスの場所、データエリアの中間の所定アドレスの場所、データエリアの終端近傍の所定のアドレスの場所などあることが好ましい。尚、いずれにせよ、トラックの全部について検出及び算出を行うのではなく、離散的な複数の点で行なえば、時間節約や労力軽減を図るために実践的に有利である。更に、生産ロット毎に抜き取りで検証することも可能である。

その後、判定工程によって、ステップＳ３３で算出されたオフセット量ＯＦＦｒ（即ち、実測値）が、第１オフセット量ＯＦＦ１に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。或いは、ステップＳ３３で算出されたオフセット量ＯＦＦｒ（即ち、実測値）が、第２オフセット量ＯＦＦ２に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される（ステップＳ２１）。

以上詳細に説明したように第３実施例によれば、算出されたオフセット量ＯＦＦｒが、第１オフセット量ＯＦＦ１や第２オフセット量ＯＦＦ２に対して、予め設定された許容範囲内にあるか否かを、自動的に検証することが可能となる。

（情報記録装置の実施例）
次に、図１９を参照して、本発明の情報記録装置に係る実施例における情報記録再生装置３００及び、ホストコンピュータ４００の基本構成について説明する。特に、本実施例は、本発明に係る情報記録装置を光ディスク用の情報記録再生装置に適用した例である。ここに、図１９は、本発明の情報記録装置に係る実施例における情報記録再生装置及び、ホストコンピュータの基本構成を示したブロック図である。尚、情報記録再生装置３００は、光ディスク１００に記録データを記録する機能と、光ディスク１００に記録された記録データを再生する機能とを備える。

図１９を参照して情報記録再生装置３００の内部構成を説明する。情報記録再生装置３００は、ドライブ用のＣＰＵ（Central Processing Unit）３５４の制御下で、光ディスク１００に情報を記録すると共に、光ディスク１００に記録された情報を読み取る装置である。

情報記録再生装置３００は、光ディスク１００、スピンドルモータ３５１、光ピックアップ３５２、信号記録再生手段３５３、ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３５４、メモリ３５５、データ入出力制御手段３０６、及びバス３５７を備えて構成されている。また、ホストコンピュータ４００は、ＣＰＵ３５９、メモリ３６０、操作制御手段３０７、操作ボタン３１０、表示パネル３１１、及びデータ入出力制御手段３０８を備えて構成される。

特に、情報記録再生装置３００と、ホストコンピュータ４００を同一筐体内に収めることにより、或いは、ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３５４、データ入出力制御手段３０６、及びバス３５７によって、本発明に係る通信手段が構成されていてもよい。

スピンドルモータ３５１は光ディスク１００を回転及び停止させるもので、光ディスクへのアクセス時に動作する。より詳細には、スピンドルモータ３５１は、図示しないサーボユニット等によりスピンドルサーボを受けつつ所定速度で光ディスク１００を回転及び停止させるように構成されている。

光ピックアップ３５２は光ディスク１００への記録再生を行うもので、半導体レーザ装置とレンズから構成される。より詳細には、光ピックアップ３５２は、光ディスク１００に対してレーザービーム等の光ビームを、再生時には読み取り光として第１のパワーで照射し、記録時には書き込み光として第２のパワーで且つ変調させながら照射する。

信号記録再生手段３５３は、スピンドルモータ３５１と光ピックアップ３５２を制御することで光ディスク１００に対して記録再生を行う。より具体的には、信号記録再生手段３５３は、例えば、レーザダイオード（ＬＤ）ドライバ及びヘッドアンプ等によって構成されている。レーザダイオードドライバ（ＬＤドライバ）は、光ピックアップ３５２内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。ヘッドアンプは、光ピックアップ３５２の出力信号、即ち、光ビームの反射光を増幅し、該増幅した信号を出力する。より詳細には、信号記録再生手段３５３は、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理時には、ＣＰＵ３５４の制御下で、図示しないタイミング生成器等と共に、ＯＰＣパターンの記録及び再生処理により最適なレーザパワーの決定が行えるように、光ピックアップ３５２内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。特に、信号記録再生手段３５３は、光ピックアップ３５２と共に、本発明に係る「書込手段」及び「取得手段」の一例を構成する。

メモリ３５５は、記録再生データのバッファ領域や、信号記録再生手段３５３で使用出来るデータに変換する時の中間バッファとして使用される領域など情報記録再生装置３００におけるデータ処理全般及びＯＰＣ処理において使用される。また、メモリ３５５はこれらレコーダ機器としての動作を行うためのプログラム、即ちファームウェアが格納されるＲＯＭ領域と、記録再生データの一時格納用バッファや、ファームウェアプログラム等の動作に必要な変数が格納されるＲＡＭ領域などから構成される。

ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３５４は、信号記録再生手段３５３及びメモリ３５５と、バス３５７を介して接続され、各種制御手段に指示を行うことで、情報記録再生装置３００全体の制御を行う。通常、ＣＰＵ３５４が動作するためのソフトウェア又はファームウェアは、メモリ３５５に格納されている。

データ入出力制御手段３０６は、情報記録再生装置３００に対する外部からのデータ入出力を制御し、メモリ３５５上のデータバッファへの格納及び取り出しを行う。情報記録再生装置３００とＳＣＳＩや、ＡＴＡＰＩなどのインターフェースを介して接続されている外部のホストコンピュータ４００（以下、適宜、「ホスト」と称す）から発行されるドライブ制御命令は、データ入出力制御手段３０６を介してＣＰＵ３５４に伝達される。また、記録再生データも同様にデータ入出力制御手段３０６を介して、ホストコンピュータ４００とやり取りされる。

操作制御手段３０７はホストコンピュータ４００に対する動作指示受付と表示を行うもので、例えば記録又は再生といった操作ボタン３１０による指示をＣＰＵ３５９に伝える。ＣＰＵ３５９は、操作制御手段３０７からの指示情報を元に、データ入出力手段３０８を介して、情報記録再生装置３００に対して制御命令（コマンド）を送信し、情報記録再生装置３００全体を制御する。同様に、ＣＰＵ３５９は、情報記録再生装置３００に対して、動作状態をホストに送信するように要求するコマンドを送信することができる。これにより、記録中や再生中といった情報記録再生装置３００の動作状態が把握できるためＣＰＵ３５９は、操作制御手段３０７を介して蛍光管やＬＣＤなどの表示パネル３１１に情報記録再生装置３００の動作状態を出力することができる。

以上説明した、情報記録再生装置３００とホストコンピュータ４００を組み合わせて使用する一具体例は、映像を記録再生するレコーダ機器等の家庭用機器である。このレコーダ機器は放送受信チューナや外部接続端子からの映像信号をディスクに記録し、テレビなど外部表示機器にディスクから再生した映像信号を出力する機器である。メモリ３６０に格納されたプログラムをＣＰＵ３５９で実行させることでレコーダ機器としての動作を行っている。また、別の具体例では、情報記録再生装置３００はディスクドライブ（以下、適宜、「ドライブ」と称す）であり、ホストコンピュータ４００はパーソナルコンピュータやワークステーションである。パーソナルコンピュータ等のホストコンピュータとドライブはＳＣＳＩやＡＴＡＰＩといったデータ入出力制御手段３０６及び３０８を介して接続されており、ホストコンピュータにインストールされているライティングソフトウェア等のアプリケーションが、ディスクドライブを制御する。

本実施例に係る情報記録再生装置３００では、上述のトラックピッチの比又は差に関する情報が記録される、光ディスク１００上の第１管理エリアから、該情報を読み出して、記録再生動作に記録や再生動作を確実に行ってもよい。或いは、第１オフセット量に関する情報が記録される、光ディスク１００上の第２管理エリアから、該情報を読み出して、記録再生動作に記録や再生動作を確実に行ってもよい。

本実施例では、情報記録媒体の一具体例として、例えば、２層型ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ等の追記型又は書き換え型光ディスクについて説明したが、本発明は、例えば、３層型等のマルチプルレイヤ型の光ディスクにも適用可能である。更に、ブルーレーザーを記録再生に用いるディスク等の大容量記録媒体にも適用可能である。

本発明は、上述した実施例に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うオフセット量測定方法及び装置もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。

本発明のオフセット量測定装置及び方法の第１実施例における、測定対象たる複数の記録領域を有する光ディスクの基本構造を示した概略平面図（図１（ａ））及び、該光ディスクの概略断面図と、これに対応付けられた、その半径方向における記録領域構造の図式的概念図（図１（ｂ））である。 第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。 第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。 第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及び該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成する物理的セクタ番号並びに該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。 第１実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるＥＣＣブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。 第１実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。 第１実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。 第１実施例に係るオフセット量測定方法のうち測定用記録工程を図式的に示す概念図である。 本発明のオフセット量測定装置及び方法の第２実施例に係る、２層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域を示したパラレル方式及びオポジット方式の下での概念図である。 第２実施例に係る、２層型光ディスクのセクタ番号で示された記録領域及び該光ディスクのパラレル方式及びオポジット方式による記録手順を示した概念図である。 第２実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。 第２実施例に係る、各ディスク半径位置に対して、基準オフセット量及び許容される上下限を示す特性図である。 第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。 第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、Ｌ１層のトラックピッチが調整されている場合の該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。 第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。 第２実施例に係る、２層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の他の具体例を示した概念図である。 本発明のオフセット量測定装置及び方法の第３実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。 第３実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。 本発明の情報記録装置に係る実施例における情報記録再生装置及び、ホストコンピュータのブロック図である。

符号の説明

１００…光ディスク、１０１−０（１０１−１）…リードインエリア、１０２−０（１０２−１）…データエリア、１０３−０（１０３−１）…リードアウトエリア、１０４−０（１０４−１）…ミドルエリア、３００…情報記録再生装置、３０６（３０８）…データ入出力制御手段、３０７…操作制御手段、３１０…操作ボタン、３１１…表示パネル、３５１…スピンドルモータ、３５２…光ピックアップ、３５３…信号記録再生手段、３５４…ＣＰＵ（ドライブ制御手段）、３５５（３６０）…メモリ、３５９…ＣＰＵ（ホスト用）、４００…ホストコンピュータ、ＬＢ…レーザ光、８０１、９０１…マイクロスコープ、８０３…測定用記録装置、８０４…処理装置

Claims (11)

1. 記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定方法であって、
   前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録工程と、
   前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出工程と、
   前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出工程と、
   前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定工程と
   を備えたことを特徴とするオフセット量測定方法。
2. 前記第１及び第２検出工程は、前記中心軸を中心として前記情報記録媒体を回転させつつ、前記第１及び第２記録層に対向配置される光学顕微鏡によって、前記第１及び第２境界位置を夫々検出することを特徴とする請求項１に記載のオフセット量測定方法。
3. 前記第１及び第２検出工程は、前記第１及び第２記録層に対向配置され且つ前記第１及び第２記録層に対して平行に移動可能である２次元測長器によって、前記プリフォーマットアドレスにより特定される前記第１及び第２境界位置に存在する複数の点についての、前記中心軸を基準とする座標を夫々検出することを特徴とする請求項１に記載のオフセット量測定方法。
4. 前記第２記録トラックは前記第１記録トラックと同一の記録方向で記録するように形成されており、
   前記第２記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、前記第１記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、少なくとも予め設定された第１オフセット量だけ外周側に位置しており、
   前記決定されたオフセット量が前記第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備えたことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載のオフセット量測定方法。
5. 前記第２記録トラックは前記第１記録トラックと反対の記録方向で記録するように形成されており、
   前記第２記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第２場所が、前記第１記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの終了位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第１場所より、少なくとも予め設定された第１オフセット量だけ内周側に位置しており、
   前記決定されたオフセット量が前記第１オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備えたことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載のオフセット量測定方法。
6. 前記第１オフセット量は、前記第1記録層と前記第２記録層との偏心量以上に設定されていることを特徴とする請求項４又は５に記載のオフセット量測定方法。
7. 前記第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第２記録トラックにおけるトラックピッチの比が、１未満の所定値となるように、又は、前記第１記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第２記録トラックにおけるトラックピッチの差が、負の所定値となるように、前記第１記録トラック及び前記第２記録トラックは構成されていることを特徴とする請求項４又は５に記載のオフセット量測定方法。
8. 前記第２記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部が、前記第１記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部より少なくとも前記第１オフセット量だけ内周側に位置するように、前記比又は差が設定されていることを特徴とする請求項７に記載のオフセット量測定方法。
9. 前記情報記録媒体は、前記比又は差に関する情報が記録される第１管理エリアを更に備えたことを特徴とする請求項７又は８に記載のオフセット量測定方法。
10. 前記情報記録媒体は、前記第１オフセット量に関する情報が記録される第２管理エリアを更に備えたことを特徴とする請求項４から９のいずれか一項に記載のオフセット量測定方法。
11. 記録情報を記録するための第１記録トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、該第１記録層を介して、前記記録情報を前記第１記録層の前記第１記録トラックと同一の又は反対の記録方向で記録するための第２記録トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第１及び第２記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられる前記第１及び第２記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定装置であって、
    前記第１記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第２記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録手段と、
    前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第１記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第１記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第１未記録エリアとの境界である第１境界位置を、前記第１記録済みエリア及び前記第１未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第１検出手段と、
    前記中心軸を基準として、前記第２記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第２記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第２未記録エリアとの境界である第２境界位置を、前記第２記録済みエリア及び前記第２未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第２検出手段と、
    前記検出された第１及び第２境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段と
    を備えたことを特徴とするオフセット量測定装置。

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