JP4357861B2 - Substrate processing equipment - Google Patents
Substrate processing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP4357861B2 JP4357861B2 JP2003103101A JP2003103101A JP4357861B2 JP 4357861 B2 JP4357861 B2 JP 4357861B2 JP 2003103101 A JP2003103101 A JP 2003103101A JP 2003103101 A JP2003103101 A JP 2003103101A JP 4357861 B2 JP4357861 B2 JP 4357861B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- inspection
- processing apparatus
- unit
- substrate processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板の製造工程に係る諸処理を分担して行う複数の装置の中の1つである基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、基板の製造工程においては、基板に対して洗浄処理、レジスト塗布処理、露光処理、現像処理、エッチング処理、層間絶縁膜の形成処理、熱処理、ダイシング処理などの諸処理が施される。これらの諸処理は、最初から最後まで1つの装置で行われるわけではなく、これらの諸処理を分担して行う複数の基板処理装置が存在し、各基板処理装置において所定の処理が順次基板に対して施されることによって、基板の製造工程が進行する。
【0003】
例えば、図6に示した基板処理装置300は、上述の諸処理の中のレジスト塗布処理、現像処理およびそれらに付随する熱処理を行う基板処理装置であり、隣接配置された基板処理装置400は、上述の諸処理の中の露光処理を行う基板処理装置である。基板処理装置300は、基板に対してレジスト塗布処理を行うレジスト塗布処理ユニット310、現像処理を行う現像処理ユニット320、レジスト塗布処理や現像処理の前後において熱処理を行う熱処理ユニット330等の複数の処理ユニットを備えている。
【0004】
このような基板処理装置300および基板処理装置400を用いて、基板に対して一連の処理を施すときには、まず基板処理装置300に基板を搬入し、レジスト塗布処理ユニット310においてレジスト塗布処理を行うとともに熱処理ユニット330においてその前後の熱処理を行う。次に、基板を一旦基板処理装置300から搬出して基板処理装置400に搬入し、基板処理装置400において露光処理を行う。そして、露光処理後の基板を基板処理装置400から搬出して再び基板処理装置300に搬入し、現像処理ユニット320において現像処理を行うとともに熱処理ユニット330においてその前後の熱処理を行う。その後、基板を基板処理装置300から搬出して、後続の処理を行う更に別の基板処理装置へ搬送する。
【0005】
ところで、通常、基板の製造工程に係る諸処理を分担して行う複数の基板処理装置のそれぞれには、装置の動作異常を検知する機構が設けられている。そして、基板に対して処理を施している最中に動作異常が発生し、それを検知した場合には、当該基板処理装置はアラームを発報するように構成されている。このような従来の基板処理装置の構成は、例えば、特許文献1に開示されている。
【0006】
【特許文献1】
特開平09−251938号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
従来より、このようなアラームが発報されたときには、その都度オペレータ(または装置管理者)がアラームの内容を確認して異常対応を行っている。そして、アラームが発報された時に当該基板処理装置で処理中であった基板が不良基板となっているか否かは、当該基板処理装置における処理後または他の基板処理装置における所定の処理の完了後にオペレータが当該基板を確認して判断をしていた。しかし、多くの場合、オペレータが肉眼で正確な判断を行うことは困難であるため、当該基板を別設の検査装置まで搬送して検査を行うか、あるいは安全をみて不良基板であると推定して再生処理を行っていた。
【0008】
しかし、当該基板を別設の検査装置まで搬送して検査を行うことは、当該基板の装置間の搬送や、検査予定の他の基板に対する影響により、基板の製造工程における生産効率を著しく低下させることになる。また、当該基板を不良基板であると推定して再生処理を行うことも、正常な基板についてまで無駄にすることとなるため、やはり基板の製造工程における生産効率を著しく低下させることになる。そこで、このような基板の良否を、生産効率を著しく低下させることなく判定することが求められている。
【0009】
ただし、このような基板の良否を判定する場合には、当該基板の処理段階が検査可能な段階であることが必要である。基板処理装置によっては、アラームが発報されても、当該基板の良否の判定は後続の他の基板処理装置における処理の後でなければ行うことができない場合がある。例えば、上述の基板処理装置400において基板に対する露光処理中に何らかの動作異常が発生した場合では、処理中の基板の表面には未だ電子回路パターンの形状が現出していないため、その良否の判定は、後続の基板処理装置300において現像処理を終えた後に行うことになる。
【0010】
本発明は、これらの課題に鑑みてなされてものであり、基板の製造工程に係る複数の装置の中の他の装置において動作異常が発生した時に当該他の装置において処理中であった基板の良否を、生産効率を著しく低下させることなく判定することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、基板の製造工程に係る諸処理を分担して行う複数の装置の中の1つとして設置される基板処理装置であって、基板の搬送を行う搬送手段と、基板に対して所定の検査を行う検査部と、前記複数の装置の中の前記基板処理装置以外の他の装置において動作異常が発生した時に前記他の装置において処理を受けていた基板を指定する情報を含む所定の情報を、前記基板処理装置の外部より受信し、前記所定の情報により指定される基板を前記検査部へ搬送するとともに、他の基板を前記検査部へ搬送することなく下流側へ搬送するように前記搬送手段を制御し、更に、前記検査部へ搬送された基板を検査するように前記検査部を制御する制御手段と、を備え、前記所定の情報は、前記動作異常の種類を特定する情報をさらに含み、前記制御手段は、前記動作異常の種類を特定する情報と、前記動作異常の種類と検査の種類とを関連づけたテーブルとに基づいて、前記検査部における検査の種類を決定することを特徴とする。
【0012】
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の基板処理装置であって、基板に対してレジスト塗布処理を行うレジスト塗布処理部と、基板に対して現像処理を行う現像処理部と、をさらに備えることを特徴とする。
【0013】
請求項3に係る発明は、請求項2に記載の基板処理装置であって、前記他の装置は、基板に対して露光処理を行う装置であることを特徴とする。
【0014】
請求項4に係る発明は、請求項2から請求項3までのいずれかに記載の基板処理装置であって、前記検査部は、基板が現像処理を受けた後搬出されるまでの搬送経路途中の所定の箇所に配置されることを特徴とする。
【0016】
請求項5に係る発明は、請求項1から請求項4までのいずれかに記載の基板処理装置であって、前記検査部における検査結果を出力する検査結果出力手段をさらに備えたことを特徴とする。
【0017】
請求項6に係る発明は、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の基板処理装置であって、不良基板用のカセットをさらに備え、前記制御手段は、前記検査部における検査結果を受け、基板が不良であると判定した場合は、前記不良基板用のカセットへ基板を搬送させるように前記搬送手段を制御することを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
【0019】
<1.基板処理装置100の機構上の構成>
図1は、本発明の一実施形態に係る基板処理装置100の平面図、図2はその正面図、図3は後述する熱処理ユニット50の正面図である。なお、図1から図3には、各図の方向関係を明確にするためにXYZ直交座標系を付している。後述する複数のブロックの配列方向をX方向、水平面内でX方向と直交する方向をY方向、鉛直方向をZ方向とする。図1〜図3を参照しつつ、まず、基板処理装置100の機構上の構成について以下に説明する。
【0020】
基板処理装置100は、基板Wに対し、レジスト塗布処理、現像処理やそれらに付随する所定の熱処理等を行う装置である。図1〜図3に示すように、本実施形態に係る基板処理装置100は、5つのブロック1〜5を一列に配列して構成されている。これら5つのブロックは個別にフレーム(枠体)に組み付けられ、物理的に分割することができるとともに、上記の順に連結することにより基板処理装置100を構成することができる。したがって、基板処理装置100の使用状況により新たなブロックを追加したり、あるいは一部のブロックを削除したりすることが可能である。
【0021】
また、基板処理装置100のブロック5の側方には、レジスト塗布処理後の基板Wに対し所定の回路パターンを露光する露光処理を施す基板処理装置200が隣接配置されている。基板処理装置100と基板処理装置200とは共に、基板Wの製造工程に係る諸処理を分担して行う複数の装置の中の1つとして設置されており、これらが全体として基板処理システムを構成している。
【0022】
基板処理装置100は、反射防止膜塗布処理ユニット10と、レジスト塗布処理ユニット(レジスト塗布処理部)20と、現像処理ユニット(現像処理部)30と、エッジ露光処理ユニット40と、熱処理ユニット50と、を含む複数の処理ユニットを、ブロック1〜5に分属して備えている。
【0023】
反射防止膜塗布処理ユニット10は、基板処理装置200における露光時に発生する定在波やハレーションを減少させるために、基板Wの表面(後に塗布するフォトレジスト膜の下部)に反射防止膜を塗布形成する処理ユニットである。図1および図2に示すように、本実施形態では、ブロック2内の装置正面側(−Y側)の位置に3つの反射防止膜塗布処理ユニット10が積層配置されている。各反射防止膜塗布処理ユニット10は、それぞれ基板Wを水平姿勢で吸着保持して回転するスピンチャック11、スピンチャック11上に保持された基板W上に反射防止膜用の塗布液を供給するノズル12等を備えている。
【0024】
レジスト塗布処理ユニット20は、反射防止膜が塗布形成された基板Wの表面に化学増幅型レジスト等のフォトレジスト膜を塗布形成する処理ユニットである。図1および図2に示すように、本実施形態では、ブロック3内の装置正面側(−Y側)の位置に3つのレジスト塗布処理ユニット20が積層配置されている。各レジスト塗布処理ユニット20は、それぞれ基板Wを水平姿勢で吸着保持して回転するスピンチャック21、スピンチャック21上に保持された基板W上にフォトレジスト膜用の塗布液を供給するノズル22等を備えている。
【0025】
現像処理ユニット30は、基板処理装置200において所定の電子回路パターンが露光された基板Wに対して現像処理を行う処理ユニットである。図1および図2に示すように、本実施形態では、ブロック4内の装置正面側(−Y側)の位置に5つの現像処理ユニット30が積層配置されている。各現像処理ユニット30は、それぞれ基板Wを水平姿勢で吸着保持して回転するスピンチャック31、スピンチャック31上に保持された基板W上に現像液を供給するノズル32等を備えている。
【0026】
エッジ露光処理ユニット40は、フォトレジスト膜が塗布形成された基板Wの周縁部を露光するエッジ露光処理を行う処理ユニットである。図1および図2に示すように、本実施形態では、ブロック5内に2つのエッジ露光処理ユニット40が2段に積層配置されている。エッジ露光処理ユニット40は、それぞれ基板Wを水平姿勢で吸着保持して回転するスピンチャック41、スピンチャック41上に保持された基板Wの周縁を露光する光照射器42などを備えている。
【0027】
熱処理ユニット50は、上述の反射防止膜塗布処理、レジスト膜塗布処理、現像処理、エッジ露光処理、あるいは基板処理装置200における露光処理の各処理の前後において基板Wに対して必要な熱処理を行う処理ユニットである。図1および図3に示すように、本実施形態では、ブロック2〜4内の装置背面側(+Y側)の位置に複数の熱処理ユニット50が多列多段に積層配置されている。熱処理ユニット50には、基板Wを所定の温度にまで加熱する加熱プレートや、加熱された基板Wを常温にまで冷却する複数個の冷却プレートや、レジスト膜と基板Wとの密着性を向上させるためにHMDS(ヘキサメチルジシラザン)の蒸気雰囲気で基板Wを熱処理するアドヒージョン処理ユニット等の複数の種類があるが、図3では全て熱処理ユニット50として示している。なお、図3中において「×」印で示した箇所は、配管配線部が備わっていたり、処理ユニットを追加するための空きスペースとして確保されている箇所である。
【0028】
基板処理装置100はまた、ブロック1〜4、すなわち基板Wが現像処理を受けた後基板処理装置100から搬出されるまでの搬送経路途中に存在するブロックの所定の箇所に、検査ユニット(検査部)61〜64を備えている。検査ユニット61〜64は本発明の特徴部分の1つであり、基板Wに対して、レジスト膜厚測定、パターン線幅測定、パターン重ね合わせ検査、マクロ欠陥検査等の所定の検査を行うユニットである。レジスト膜厚測定は、基板Wの表面に塗布されたフォトレジスト膜の膜厚を測定する検査である。パターン線幅測定は、露光および現像処理によって基板W上に形成された電子回路パターンの線幅を測定する検査である。パターン重ね合わせ検査は、露光処理および現像処理によって基板W上に形成された電子回路パターンの位置ずれ等の欠陥を検出する検査である。マクロ欠陥検査は、基板Wの表面に現出したパーティクル等の比較的大きな欠陥を検出する検査である。図1〜図3に示すように、本実施形態では、4つの検査ユニット61〜64が4箇所に配置されており、ブロック1内の装置正面側(−Y側)の位置に配置された検査ユニット61がレジスト膜厚測定を行う検査ユニット、ブロック2の熱処理ユニット50の上方に配置された検査ユニット62がパターン線幅測定を行う検査ユニット、ブロック3の熱処理ユニット50の上方に配置された検査ユニット63がパターン重ね合わせ検査を行う検査ユニット、ブロック4の熱処理ユニット50の上方に配置された検査ユニット64がマクロ欠陥検査を行う検査ユニットであるとする。
【0029】
また、基板処理装置100は、カセット載置台80と、基板Wの搬送を行う搬送手段とを備えている。図1に示すように、本実施形態では、搬送手段は、6つの搬送機構71〜76と4つの基板載置部PASS1〜PASS5とを備えて構成されている。
【0030】
カセット載置台80は、ブロック1内の−X側の位置に配置されており、基板Wを収納する4個のカセットC1〜C4を一列に載置することができる。4個のカセットC1〜C4は、何れも内壁部に多段の収納溝が刻印されており、複数の基板W(例えば25枚)を水平姿勢かつ互いに所定の間隔を隔てて積層した状態で収納することができる。但し、通常、処理の前後に基板Wを収納するために使用するカセットはカセットC1〜C3であり、カセットC4は、上述の検査ユニット61〜64において検査の結果、不良であると判定された基板Wを収納するために使用する。
【0031】
基板載置部PASS1〜PASS5のうち、PASS1〜PASS3はブロック1〜ブロック4の間の隔壁を部分的に貫通して設けられている。また、PASS4はブロック4において積層された熱処理ユニット50の層間に設けられており、PASS5はブロック5においてエッジ露光処理ユニット40の下部に設けられている。PASS1〜PASS5は、何れも複数本の基板載置用のピンを備えており、複数の搬送機構の間で基板Wの受渡を行う際に一時的に基板Wを載置することができる。
【0032】
ブロック1に配置された搬送機構71は、カセット載置台80に沿ってY方向に水平移動可能な可動台71aと、可動台71a上に設けられた保持アーム71bと、保持アーム71bの先端部分の内側に突出する複数本のピン71cとを備えている。基板Wはピン71c上に載置されることにより保持アーム71bに水平姿勢に保持される。そして、保持アーム71bは、基板Wを保持しつつ、Z方向への上下運動と、水平面内の旋回運動と、旋回半径方向への進退運動とを行うことができる。このような可動台71aと保持アーム71bとの運動により、搬送機構71は、任意のカセットC1〜C4と基板載置部PASS1と検査ユニット61との間で基板Wの搬送を行うことができる。
【0033】
ブロック2〜ブロック5に配置された搬送機構72〜75は、いずれも基台70aと、基台70a上に設けられた保持アーム70bと、保持アーム70bの略C字状の先端部分の内側に突出する複数本のピン70cとを備えている。基板Wはピン70c上に載置されることにより保持アーム70bに水平姿勢に保持される。そして、保持アーム70bは、基板Wを保持しつつ、Z方向への上下運動と、水平面内の旋回運動と、旋回半径方向への進退運動とを行うことができる。このような運動により、搬送機構72はブロック2内において、基板載置部PASS1と反射防止膜塗布処理ユニット10と熱処理ユニット50と検査ユニット62と基板載置部PASS2との間で基板Wの搬送を行うことができる。また同様に、搬送機構73はブロック3内において、基板載置部PASS2とレジスト塗布処理ユニット20と熱処理ユニット50と検査ユニット63と基板載置部PASS3との間で基板Wの搬送を行うことができる。また同様に、搬送機構74はブロック4内において、基板載置部PASS3と現像処理ユニット30と熱処理ユニット50と検査ユニット64と基板載置部PASS4との間で基板Wの搬送を行うことができる。また同様に、搬送機構75はブロック5内において、基板載置部PASS4とエッジ露光処理ユニット40基板載置部PASS5との間で基板Wの搬送を行うことができる。
【0034】
さらに、ブロック5に配置された搬送機構76は、Y方向に水平移動可能な可動台76aと、可動台76a上に設けられた保持アーム76bと、保持アーム76bの先端部分の内側に突出する複数本のピン76cとを備えている。基板Wはピン76c上に載置されることにより保持アーム76bに水平姿勢に保持される。そして、保持アーム76bは、基板Wを保持しつつ、Z方向への上下運動と、水平面内の旋回運動と、旋回半径方向への進退運動とを行うことができる。このような保持アーム76bの運動により、搬送機構76は、基板載置部PASS5と基板処理装置200との間で基板Wの搬送を行うことができる。
【0035】
<2.基板処理装置100の制御上の構成>
続いて、上述のような機構上の構成を備えた基板処理装置100の制御上の構成について、以下に説明する。図4は、基板処理装置100の制御上の構成を概念的に示したブロック図である。図4には、基板処理装置100と基板処理装置200との間の電気的接続についても併せて示している。
【0036】
図4に示すように、基板処理装置100は制御手段90を備えている。制御手段90は、少なくとも通信部と記憶部と演算部と(いずれも図示省略)を備えた電子装置であり、通信部を介して各種の情報や信号を送受信することができるとともに、各種の情報を記憶部に記憶させることができ、また、受信した情報や記憶した情報に基づき演算部において所定の判定処理を行うことができる。
【0037】
制御手段90は、上述の複数の処理ユニット10,20,30,40,50、4つの検査ユニット61〜64、および6つの搬送機構71〜76のそれぞれと電気的に接続されている。制御手段90は、複数の処理ユニットのそれぞれに対して所定の信号を送信することによって、各処理ユニットにおける処理動作を操作、調節することができる。同様に、制御手段90は、4つの検査ユニット61〜64のそれぞれに対して所定の信号を送信することによって、各検査ユニット61〜64における検査動作を操作、調節することができる。同様に、制御手段90は、6つの搬送機構71〜76のそれぞれに対して所定の信号を送信することによって、各搬送機構71〜76の搬送動作を操作、調節することができる。また、制御手段90には、基板処理装置100における基板Wの処理条件に関する情報が記憶されており、その情報に基づいて上述の操作、調節を行うことより、基板処理装置100における基板Wの処理動作を制御することができる。
【0038】
基板処理装置100は、検査ユニットにおける検査の結果を画面上に表示あるいはプリントアウトする検査結果出力手段95も備えている。検査結果出力手段は、制御手段90と電気的に接続され、制御手段90を介して検査ユニットからの検査結果の情報を出力することができるように構成されている。
【0039】
一方、制御手段90は、通信ラインNを介して、外部の基板処理装置200に備えている制御手段290とも電気的に接続されており、制御手段290から所定の情報を受信することができる。
【0040】
基板処理装置200の制御手段290は、上述の制御手段90と同様に、少なくとも通信部と記憶部と演算部と(いずれも図示省略)を備えた電子装置であって、基板処理装置200における露光処理動作を制御することができる。また、制御手段290は、基板処理装置200の動作異常を検知することができる検知手段280と電気的に接続されており、基板処理装置200内で動作異常が発生したときには、検知手段280から検知信号を受信することができる。そして、受信した検知信号に基づき、所定の情報を通信ラインNを介して基板処理装置100の制御手段90へ送信することもできる。
【0041】
<3.基板処理装置100における処理の流れ>
図5は、以上のような構成を備えた基板処理装置100における処理の流れを示すフローチャートである。図5を参照しつつ、基板処理装置100における一連の処理の流れについて、以下に説明する。
【0042】
基板処理装置100は、基板Wに対し反射防止膜塗布処理やレジスト塗布処理等の露光処理前の処理(以下、「露光前処理」という)を行った後、基板Wを一旦搬出して基板処理装置200に搬送する。そして、基板処理装置200において基板Wに対して露光処理が行われた後、基板処理装置100は、基板Wを再度搬入し、現像処理等の露光処理後の処理(以下、「露光後処理」という)を行うこととなる。
【0043】
まず、基板Wが基板処理装置100に搬入されると、基板処理装置100は基板Wに対して露光前処理を行う(ステップS1)。本実施形態では、基板Wに対して、反射防止膜塗布処理と、レジスト塗布処理と、エッジ露光処理と、それぞれの処理の前後に付随する熱処理とを行う。これらの処理は、所定のカセットから基板Wを取り出し、搬送手段によって反射防止膜塗布処理ユニット10と、レジスト塗布処理ユニット20と、エッジ露光処理ユニット40と、熱処理ユニット50とに基板Wを順次搬送し、各処理ユニットにおいて行われる。これらの処理によって、基板Wの表面は、反射防止膜の上にフォトレジスト膜が塗布形成され、その周縁部が露光された状態となっている。
【0044】
露光前処理が終了すると、続いて搬送機構76が基板Wを隣接する基板処理装置200に搬送する。基板処理装置200においては、基板Wに対して露光処理が施される(ステップS2)。
【0045】
露光処理が行われている間、基板処理装置200の検知手段280は、基板処理装置200の動作異常を常に監視しており、動作異常を検知すると、検知信号を制御手段290へ送信する(ステップS3)。
【0046】
検知手段280より検知信号を受けた場合、制御手段290は、その時に基板処理装置200において処理中の基板Wが「動作異常が発生した時に処理を受けていた基板」(以下、「特定基板」という)であると指定する情報を、通信ラインNを介して、基板処理装置100の制御手段90へ送信する(ステップS4)。具体的には、通常これらの装置間でやりとりをする基板Wごとの処理の履歴データに、特定基板であることを指定する1ビットの情報(フラグ)を付加するなどすればよい。動作異常を検知した時に基板処理装置200において処理を受けていた基板が複数枚存在する場合には、それらの全てについて特定基板として指定する情報が制御手段90へ送信される。また、この時、制御手段290は、検知手段280からの検知信号に基づき、動作異常が発生した箇所や動作異常が発生したタイミング等の、動作異常の種類を特定する情報も、同時に制御手段90へ送信する。
【0047】
基板処理装置100の制御手段90は、基板処理装置200の制御手段290から特定基板を指定する情報が送信されると、それを受信する(ステップS5)。
【0048】
露光処理中に動作異常が検知された場合と動作異常が検知されなかった場合との、何れの場合においても、その後、基板Wは、基板処理装置200から再び基板処理装置100へ搬送される。この時、通常であれば基板Wの表面は電子回路パターン通りに露光されており、フォトレジスト膜の露光された部分だけが変質している状態となっている。基板処理装置100は、再び基板Wが搬入されると、基板Wに対して露光後処理を行う(ステップS6)。本実施形態では、基板Wに対して現像処理とその前後に付随する熱処理とを行う。これらの処理は、搬送手段によって現像処理ユニット30と熱処理ユニット50とに基板Wを順次搬送し、各処理ユニットにおいて行われる。これらの処理によって、通常であれば、フォトレジスト膜が電子回路パターン通りに溶解し、基板W表面に電子回路パターンの形状が現出することとなる。
【0049】
基板Wに対して露光後処理が終了すると、基板処理装置100の制御手段90は、当該基板Wについて特定基板であると指定する情報を受信したか否かを確認する(ステップS7)。
【0050】
制御手段90が当該基板Wについて特定基板であると指定する情報を受信していない場合は、当該基板Wの露光処理中に基板処理装置200に動作異常は発生しなかったと判断できるため、制御手段90は当該基板Wを正常に処理が行われた基板であると判定し、搬送機構71〜74を制御して当該基板Wを通常使用するカセットC1〜C3のいずれかへ搬送して、収納する(ステップS8)。
【0051】
一方、制御手段90が当該基板Wについて特定基板であると指定する情報を受信していた場合は、当該基板Wの露光処理中に基板処理装置200に動作異常が発生したと判断できる。したがって、制御手段90は当該基板Wを検査対象基板であると判定し、搬送機構71〜74を制御して当該基板Wを検査ユニット61〜64へ搬送する。4箇所の検査ユニット61〜64のうち、何れの検査ユニットへ基板Wを搬送するかは、特定基板であることを指定する情報と同時に受信した動作異常の種類を特定する情報に基づいて、制御手段90が判定処理をして決定する。この判定処理は、予め制御手段90に備えた記憶手段に動作異常の種類と検査の種類とを関連づけたテーブルを記憶させておき、動作異常の種類を特定する情報をそのテーブルに照合させて検査の種類を決定するなどすればよい。動作異常の種類により2箇所以上の検査ユニットへ順次搬送し、2種類以上の検査を連続して行ってもよい。当該基板Wを受け取った検査ユニット61〜64は、それぞれ所定の検査を実行する(ステップS9)。
【0052】
検査ユニット61〜64において取得された検査結果は、各検査ユニットから制御手段90へ送信され、検査結果を受け取った制御手段は、検査結果に基づき、当該基板Wについて、正常と不良との何れの状態であるか判定処理を行う(ステップS10)。この判定処理は、制御手段90が予め記憶しているリファレンスデータと比較して、検査結果が許容範囲内であるか否かを判定するなどすればよい。また、この時、制御手段90は検査結果および判定結果を検査結果出力手段95に出力する。
【0053】
判定処理の結果、当該基板Wについて正常であると判定した場合、基板処理装置100の制御手段90は、搬送機構71〜74を制御して当該基板Wを通常使用するカセットC1〜C3のいずれかへ搬送して、収納する(ステップS8)。
【0054】
判定処理の結果、当該基板Wが不良であると判定した場合は、基板処理装置100の制御手段90は、搬送機構71〜74を制御して当該基板Wを不良基板用のカセットC4へ搬送して、収納する(ステップS11)。
【0055】
本実施形態においては、基板処理装置200において動作異常が発生したときに基板処理装置200において処理を受けていた特定基板を、自動的に検査ユニットへ搬送して検査を行うことができる。したがって、特定基板を別設の検査装置まで搬送して検査を行う必要がなくなり、また、特定基板を全て不良であると推定して正常な基板までも無駄にしてしまうこともなくなる。すなわち、特定基板の良否の判定を、基板の製造工程における生産効率の著しい低下を生じさせることなく行うことができる。
【0056】
特に、本実施形態においては、基板処理装置200において動作異常が発生した時に露光処理を受けていた特定基板Wの良否の判定を、後続の現像処理を終えて電子回路パターンの形状が現出した後に自動的に行うことができる。
【0057】
また、本実施形態においては、4つの検査ユニット61〜64は、何れもブロック1〜4の所定の箇所に配置しているため、基板Wが現像処理を受けて検査可能な状態となった後、基板処理装置100から搬出されるまでの搬送経路の途中で基板Wを迂回させることなく検査ユニット61〜64へ搬送することができる。したがって、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0058】
また、本実施形態においては、動作異常の種類に基づいて検査の種類を決定するため、検査ユニット61〜64のうち必要な検査ユニットのみに特定基板を搬送し、必要な種類の検査のみを効率よく実行することができる。したがって、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0059】
また、本実施形態においては、制御手段90は、検査ユニット61〜64における検査結果を受け、特定基板が不良であると判定した場合は、不良基板用のカセットC4へ当該基板を搬送させるように搬送機構71〜74を制御するため、不良基板を効率よく分別することができ、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0060】
また、本実施形態においては、検査ユニット61〜64における検査結果を検査結果出力手段95から出力することにより、基板処理装置200の異常対応作業に際して特定基板の検査結果および検査の種類を参照することができるため、基板処理装置200の動作状態を適切に改善することができ、基板処理装置200の動作異常の発生を低減させることができる。
【0061】
不良基板用のカセットとしてカセットC1〜C4のどのカセットを指定してもよいが、本実施形態のように検査ユニット61に最も近いカセットC4を不良基板用のカセットとすることによって、検査ユニット61において不良と判定された基板Wの搬送距離を短くすることができる。
【0062】
なお、本発明に係る基板処理装置の機構上の構成は、上述の基板処理装置100の例に限らず、処理ユニットの配置や搬送手段の構成など種々の設計変更が可能である。また、本発明に係る基板処理装置が行う処理内容も、上述の基板処理装置100の例に限らず、基板の製造工程に係る洗浄処理、露光処理、エッチング処理等であってもよい。また、本発明は、半導体基板に限らず、液晶表示装置用ガラス基板等の種々の基板を取り扱う基板処理装置に適用し得る。
【0063】
特に、検査ユニットの数や配置は、上述の実施形態の例に限らず、種々の設計変更が可能である。例えば、上述の検査ユニット61〜64は、相互に位置を入れ替えて配置してもよく、また、複数の反射防止膜塗布処理ユニット10、レジスト塗布処理ユニット20、現像処理ユニット30の一部を検査ユニットに置き換えるなどして配置してもよい。あるいは、複数種類の検査を行うことが可能な検査ユニットを用いて、配置する検査ユニットの数を減らしてもよく、また、他の種類の検査を行うことができる検査ユニットをさらに追加して配置してもよい。
【0064】
検査の種類によって、現像処理を行う前に検査を行うことが可能な場合は、現像処理を行う前に検査を行ってもよい。具体的には、露光後処理(ステップS6)の前にまず制御手段90が検査の要否を判定し(ステップS7)、検査の種類を決定するとともにその検査を現像処理前に行うことが可能か否かを判定を行う。現像処理前に可能な検査である場合には、基板Wを現像処理ユニット30に搬送する前にその種類の検査を行う検査ユニットへ搬送するように、搬送機構71〜76を制御するようにすればよい。例えば、本実施形態で例示した4種類の検査であれば、レジスト膜厚測定に限っては、現像処理を行う前の基板Wであってもフォトレジスト膜の膜厚を測定することが可能である。このようにすれば、基板処理装置100における不要な現像処理を省略できる場合があるため、基板の生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0065】
また、動作異常を検出する対象となる装置も、上述の基板処理装置200のような露光処理を行う装置に限らず、本発明の基板処理装置における処理の前段階の処理を行う装置であればよい。
【0066】
また、上述の実施形態における制御手段90は、被制御対象の処理ユニット、検査ユニット、および搬送機構のそれぞれを制御する補助制御手段と、補助制御手段を統括制御する主制御手段とを階層的に接続して構成された制御システムであってもよい。また、上述の実施形態における制御手段90と制御手段290とを統括制御するコンピュータを外部に備え、検査の種類を特定するための判定処理や検査結果の判定処理を外部のコンピュータにより遠隔的に行う構成であってもよい。
【0067】
また、上述の実施形態においては、不良基板用のカセット、例えばカセットC4を備えた構成について説明したが、不良基板用のカセットを特に設けない構成としてもよい。すなわち、検査ユニット61〜64における検査の結果、不良と判定した基板を特定できる状態としておけば、不良基板を搬送機構71〜76により正常基板と同一のカセットへ搬送して収納する構成としてもよい。検査ユニット61〜64において不良と判定した基板を特定する方法としては、例えば、検査結果を上述の検査結果出力手段95において画面上に表示あるいはプリントアウトしたり、検査結果をユーザ側のホストコンピュータに送信する方法などがある。このようにすることで、不良基板を搬送機構71〜76によって専用のカセットに搬送するという特別な搬送動作を行わないままで、不良基板を特定し、分別することができる。
【0068】
【発明の効果】
以上のように、請求項1から請求項6に記載の発明によれば、基板の製造工程に係る諸処理を分担して行う複数の装置の中の他の装置において動作異常が発生したときに当該他の装置において処理を受けていた基板を、自動的に検査部へ搬送して検査を行うことができる。したがって、そのような基板を別設の検査装置まで搬送して検査を行う必要がなくなり、また、そのような基板を全て不良であると推定して正常な基板までも無駄にしてしまうことがなくなる。すなわち、当該他の装置において処理を受けていた基板の良否の判定を、基板の製造工程における生産効率を著しく低下させることなく行うことができる。
また、請求項1から請求項6に記載の発明によれば、動作異常の種類に基づいて検査の種類を決定することができるため、必要な種類の検査のみを効率よく実行することができる。したがって、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0069】
特に、請求項3に記載の発明によれば、露光処理を行う装置において動作異常が発生した時に当該装置において処理を受けていた基板の良否の判定を、後続の現像処理を終えて電子回路パターンの形状が現出した後に自動的に行うことができる。
【0070】
特に、請求項4に記載の発明によれば、基板が現像処理を受けて検査可能な状態となった後、基板処理装置から搬出されるまでの搬送経路の途中で基板を迂回させることなく検査部へ搬送することができる。したがって、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【0072】
特に、請求項5に記載の発明によれば、検査部における検査結果を出力する検査結果出力手段を備えたことにより、検査により基板が不良であると判定した場合に当該不良基板を特定することができる。したがって、不良基板を分別することができ、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。また、検査結果出力手段から検査結果を出力することにより、動作異常が発生した装置の異常対応作業に際してその検査結果を参照することができるため、当該装置の動作状態を適切に改善することができ、動作異常の発生を低減させることができる。
【0073】
特に、請求項6に記載の発明によれば、制御手段は、検査部における検査結果を受け、基板が不良であると判定した場合は、不良基板用のカセットへ基板を搬送させるように搬送手段を制御するため、不良基板を効率よく分別することができ、基板の製造工程における生産効率の低下を更に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る基板処理装置100の平面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係る基板処理装置100の正面図である。
【図3】本発明の一実施形態に係る基板処理装置100の熱処理ユニット50の正面図である。
【図4】基板処理装置100の制御上の構成を概念的に示したブロック図である。
【図5】基板処理装置100における処理の流れを示すフローチャートである。
【図6】従来の基板処理装置300を示す平面図である。
【符号の説明】
10 反射防止膜塗布処理ユニット
20 レジスト塗布処理ユニット
30 現像処理ユニット
40 エッジ露光処理ユニット
50 熱処理ユニット
61〜64 検査ユニット
71〜76 搬送機構
90 制御手段
100 基板処理装置
200 基板処理装置
280 検知手段
290 制御手段
N 通信ライン
PASS1〜PASS5 基板載置部
W 基板[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing that is one of a plurality of devices that perform various processes related to a manufacturing process of a substrate such as a semiconductor substrate, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a photomask, and an optical disk substrate. Relates to the device.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a substrate manufacturing process, a substrate is subjected to various processes such as a cleaning process, a resist coating process, an exposure process, a developing process, an etching process, an interlayer insulating film forming process, a heat treatment, and a dicing process. These processes are not performed by one apparatus from the beginning to the end, but there are a plurality of substrate processing apparatuses that share these processes, and predetermined processes are sequentially performed on the substrates in each substrate processing apparatus. As a result, the substrate manufacturing process proceeds.
[0003]
For example, the
[0004]
When performing a series of processes on a substrate using the
[0005]
Incidentally, each of a plurality of substrate processing apparatuses that normally perform various processes related to the substrate manufacturing process is provided with a mechanism for detecting an abnormal operation of the apparatus. Then, when an operation abnormality occurs during the processing of the substrate and is detected, the substrate processing apparatus is configured to issue an alarm. The configuration of such a conventional substrate processing apparatus is disclosed in
[0006]
[Patent Document 1]
JP 09-251938 A
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Conventionally, when such an alarm is issued, an operator (or device manager) checks the content of the alarm and takes an abnormality every time. Whether or not the substrate being processed in the substrate processing apparatus when the alarm is issued is a defective substrate is determined after the processing in the substrate processing apparatus or the completion of the predetermined processing in another substrate processing apparatus. Later, the operator confirmed the board and made a judgment. However, in many cases, it is difficult for the operator to make an accurate judgment with the naked eye, so the board is transported to a separate inspection device for inspection, or it is estimated that the board is defective for safety. The playback process was performed.
[0008]
However, carrying out the inspection by transporting the substrate to a separate inspection device significantly reduces the production efficiency in the substrate manufacturing process due to the transportation of the substrate between the devices and the influence on other substrates to be inspected. It will be. In addition, assuming that the substrate is a defective substrate and performing the regeneration processing also wastes even a normal substrate, which also significantly reduces the production efficiency in the substrate manufacturing process. Therefore, it is required to determine the quality of such a substrate without significantly reducing the production efficiency.
[0009]
However, in order to determine the quality of such a substrate, it is necessary that the processing stage of the substrate is a stage that can be inspected. Depending on the substrate processing apparatus, even if an alarm is issued, it may be possible to determine whether or not the substrate is good only after processing in another subsequent substrate processing apparatus. For example, in the above-described
[0010]
The present invention has been made in view of these problems. When an operation abnormality occurs in another device among a plurality of devices related to a substrate manufacturing process, the substrate being processed in the other device is processed. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of determining pass / fail without significantly reducing production efficiency.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to
[0012]
The invention according to
[0013]
A third aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the second aspect, wherein the other apparatus is an apparatus that performs an exposure process on the substrate.
[0014]
A fourth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to any one of the second to third aspects, wherein the inspection unit is in the middle of a transport path until the substrate is unloaded after being subjected to the development process. It is arrange | positioned in the predetermined | prescribed location of this.
[0016]
Claim5The invention according to
[0017]
Claim6The invention according to
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0019]
<1. Configuration on Mechanism of
FIG. 1 is a plan view of a
[0020]
The
[0021]
Further, a
[0022]
The
[0023]
The antireflection
[0024]
The resist
[0025]
The
[0026]
The edge
[0027]
The
[0028]
The
[0029]
In addition, the
[0030]
The cassette mounting table 80 is disposed at a position on the −X side in the
[0031]
Of the substrate platforms PASS <b> 1 to PASS <b> 5, PASS <b> 1 to PASS <b> 3 are provided partially penetrating through the partition between the
[0032]
The
[0033]
The
[0034]
Further, the
[0035]
<2. Configuration on Control of
Next, a control configuration of the
[0036]
As shown in FIG. 4, the
[0037]
The control means 90 is electrically connected to each of the plurality of
[0038]
The
[0039]
On the other hand, the
[0040]
The
[0041]
<3. Process Flow in
FIG. 5 is a flowchart showing a processing flow in the
[0042]
The
[0043]
First, when the substrate W is carried into the
[0044]
When the pre-exposure processing is completed, the
[0045]
While the exposure process is being performed, the
[0046]
When the detection signal is received from the
[0047]
When the information specifying the specific substrate is transmitted from the
[0048]
Regardless of whether the operation abnormality is detected during the exposure process or the operation abnormality is not detected, the substrate W is then transferred from the
[0049]
When the post-exposure processing is completed for the substrate W, the
[0050]
If the control means 90 has not received information specifying that the substrate W is a specific substrate, it can be determined that no operation abnormality has occurred in the
[0051]
On the other hand, if the control means 90 has received information specifying that the substrate W is a specific substrate, it can be determined that an operation abnormality has occurred in the
[0052]
The inspection results acquired in the
[0053]
As a result of the determination processing, when it is determined that the substrate W is normal, the
[0054]
As a result of the determination processing, when it is determined that the substrate W is defective, the
[0055]
In the present embodiment, when a malfunction occurs in the
[0056]
In particular, in this embodiment, the quality of the specific substrate W that has been subjected to the exposure process when an operation abnormality has occurred in the
[0057]
In the present embodiment, since the four
[0058]
In the present embodiment, since the type of inspection is determined based on the type of abnormal operation, the specific substrate is transported only to the necessary inspection units among the
[0059]
In the present embodiment, the
[0060]
In the present embodiment, the inspection results in the
[0061]
Any of the cassettes C1 to C4 may be designated as the defective substrate cassette. However, in the
[0062]
The structural configuration of the substrate processing apparatus according to the present invention is not limited to the example of the
[0063]
In particular, the number and arrangement of the inspection units are not limited to the above-described embodiment, and various design changes can be made. For example, the above-described
[0064]
If the inspection can be performed before the development process depending on the type of inspection, the inspection may be performed before the development process. Specifically, before the post-exposure processing (step S6), the
[0065]
Further, the apparatus that is the target of detecting the abnormal operation is not limited to the apparatus that performs the exposure process such as the above-described
[0066]
Further, the control means 90 in the above-described embodiment hierarchically divides the auxiliary control means for controlling each of the processing unit to be controlled, the inspection unit, and the transport mechanism, and the main control means for comprehensively controlling the auxiliary control means. It may be a control system configured by connection. In addition, a computer that performs overall control of the
[0067]
In the above-described embodiment, the configuration including the cassette for defective substrates, for example, the cassette C4 has been described. However, a configuration in which a cassette for defective substrates is not particularly provided may be employed. In other words, as long as the substrate determined to be defective as a result of the inspection in the
[0068]
【The invention's effect】
As described above,
Further, according to the first to sixth aspects of the invention, since the type of inspection can be determined based on the type of abnormal operation, only the necessary types of inspection can be efficiently performed. Therefore, it is possible to further suppress a decrease in production efficiency in the substrate manufacturing process.
[0069]
In particular, according to the third aspect of the present invention, when an operation abnormality occurs in an apparatus that performs exposure processing, the quality of the substrate that has been subjected to processing in the apparatus is determined. This can be done automatically after the shape is revealed.
[0070]
In particular, according to the invention described in
[0072]
In particular, the claims5According to the invention described in (1), by providing the inspection result output means for outputting the inspection result in the inspection unit, the defective substrate can be specified when it is determined that the substrate is defective by the inspection. Therefore, it is possible to sort out defective substrates, and it is possible to further suppress a decrease in production efficiency in the substrate manufacturing process. Also, by outputting the inspection result from the inspection result output means, it is possible to refer to the inspection result at the time of the abnormality handling work of the apparatus in which the operation abnormality has occurred, so that the operation state of the apparatus can be improved appropriately. The occurrence of abnormal operation can be reduced.
[0073]
In particular, the claims6According to the invention described in the above, when the control means receives the inspection result in the inspection unit and determines that the substrate is defective, the control means controls the conveying means so as to convey the substrate to the cassette for defective substrates. Defective substrates can be efficiently separated, and a decrease in production efficiency in the substrate manufacturing process can be further suppressed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view of a
FIG. 2 is a front view of the
FIG. 3 is a front view of a
4 is a block diagram conceptually showing the control structure of the
FIG. 5 is a flowchart showing a processing flow in the
6 is a plan view showing a conventional
[Explanation of symbols]
10 Anti-reflective coating application unit
20 resist coating unit
30 Development processing unit
40 Edge exposure processing unit
50 Heat treatment unit
61-64 Inspection unit
71-76 transport mechanism
90 Control means
100 Substrate processing equipment
200 Substrate processing equipment
280 detection means
290 Control means
N communication line
PASS1 to PASS5 Substrate placement part
W substrate
Claims (6)
基板の搬送を行う搬送手段と、
基板に対して所定の検査を行う検査部と、
前記複数の装置の中の前記基板処理装置以外の他の装置において動作異常が発生した時に前記他の装置において処理を受けていた基板を指定する情報を含む所定の情報を、前記基板処理装置の外部より受信し、前記所定の情報により指定される基板を前記検査部へ搬送するとともに、他の基板を前記検査部へ搬送することなく下流側へ搬送するように前記搬送手段を制御し、更に、前記検査部へ搬送された基板を検査するように前記検査部を制御する制御手段と、
を備え、
前記所定の情報は、前記動作異常の種類を特定する情報をさらに含み、
前記制御手段は、前記動作異常の種類を特定する情報と、前記動作異常の種類と検査の種類とを関連づけたテーブルとに基づいて、前記検査部における検査の種類を決定することを特徴とする基板処理装置。A substrate processing apparatus installed as one of a plurality of apparatuses that perform various processes related to a substrate manufacturing process.
Transport means for transporting the substrate;
An inspection unit for performing a predetermined inspection on the substrate;
Predetermined information including information for designating a substrate that has undergone processing in the other apparatus when an operation abnormality occurs in an apparatus other than the substrate processing apparatus in the plurality of apparatuses is stored in the substrate processing apparatus. received from the outside, it conveys the substrate to be specified to the measurement part by said predetermined information, controlling the conveying means to convey to the downstream side without conveying the other substrate to the inspection unit, further A control means for controlling the inspection unit to inspect the substrate conveyed to the inspection unit ;
Equipped with a,
The predetermined information further includes information specifying the type of the abnormal operation,
The control means determines the type of inspection in the inspection unit based on information specifying the type of operation abnormality and a table in which the type of operation abnormality and the type of inspection are associated with each other. Substrate processing equipment.
基板に対してレジスト塗布処理を行うレジスト塗布処理部と、
基板に対して現像処理を行う現像処理部と、
をさらに備えることを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 1,
A resist coating processing unit that performs a resist coating process on the substrate;
A development processing unit for performing development processing on the substrate;
A substrate processing apparatus further comprising:
前記他の装置は、基板に対して露光処理を行う装置であることを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 2,
The other apparatus is an apparatus for performing an exposure process on a substrate.
前記検査部は、基板が現像処理を受けた後搬出されるまでの搬送経路途中の所定の箇所に配置されることを特徴とする基板処理装置。A substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 3,
The substrate processing apparatus is characterized in that the inspection unit is disposed at a predetermined position in the transport path from the substrate being subjected to development processing to being unloaded.
前記検査部における検査結果を出力する検査結果出力手段をさらに備えたことを特徴とする基板処理装置。A substrate processing apparatus, further comprising inspection result output means for outputting an inspection result in the inspection section.
不良基板用のカセットCassette for defective substrates
をさらに備え、Further comprising
前記制御手段は、前記検査部における検査結果を受け、基板が不良であると判定した場合は、前記不良基板用のカセットへ基板を搬送させるように前記搬送手段を制御することを特徴とする基板処理装置。The control means receives the inspection result in the inspection section, and when the substrate is determined to be defective, the control means controls the transfer means to transfer the substrate to the cassette for the defective substrate. Processing equipment.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003103101A JP4357861B2 (en) | 2003-04-07 | 2003-04-07 | Substrate processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003103101A JP4357861B2 (en) | 2003-04-07 | 2003-04-07 | Substrate processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004311714A JP2004311714A (en) | 2004-11-04 |
JP4357861B2 true JP4357861B2 (en) | 2009-11-04 |
Family
ID=33466352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003103101A Expired - Fee Related JP4357861B2 (en) | 2003-04-07 | 2003-04-07 | Substrate processing equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4357861B2 (en) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4566035B2 (en) | 2005-03-11 | 2010-10-20 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating and developing apparatus and method thereof |
JP4414921B2 (en) * | 2005-03-23 | 2010-02-17 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating and developing apparatus and coating and developing method |
JP4816217B2 (en) | 2006-04-14 | 2011-11-16 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating, developing device, coating, developing method and storage medium |
JP5006122B2 (en) | 2007-06-29 | 2012-08-22 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5128918B2 (en) | 2007-11-30 | 2013-01-23 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5318403B2 (en) * | 2007-11-30 | 2013-10-16 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5001828B2 (en) | 2007-12-28 | 2012-08-15 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5179170B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-04-10 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5270289B2 (en) * | 2008-09-30 | 2013-08-21 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP4760919B2 (en) * | 2009-01-23 | 2011-08-31 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating and developing equipment |
JP5408059B2 (en) * | 2010-07-09 | 2014-02-05 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating, developing device, coating, developing method and storage medium |
JP5566265B2 (en) | 2010-11-09 | 2014-08-06 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus, program, computer storage medium, and substrate transfer method |
JP4935927B2 (en) * | 2010-12-27 | 2012-05-23 | 東京エレクトロン株式会社 | Coating device, developing device, coating method, developing method, and storage medium |
JP2013207106A (en) * | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Avanstrate Inc | Production method, transfer method and damage detection method of glass plate |
JP5442890B2 (en) * | 2013-05-17 | 2014-03-12 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
JP5442889B2 (en) * | 2013-05-17 | 2014-03-12 | 株式会社Sokudo | Substrate processing equipment |
-
2003
- 2003-04-07 JP JP2003103101A patent/JP4357861B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004311714A (en) | 2004-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4357861B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP3916468B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP4004248B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate inspection method | |
US6593045B2 (en) | Substrate processing apparatus and method | |
US8477301B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing system and inspection/periphery exposure apparatus | |
JP3916473B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
KR101670940B1 (en) | Substrate processing apparatus, substrate transfer method, abnormal treatment unit determining method and computer storage medium | |
US8941809B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP2002009133A (en) | Substrate conveying apparatus | |
JP2006024638A (en) | Apparatus and method of processing substrate | |
JP2004087795A (en) | Substrate treatment apparatus and substrate treatment system | |
JP2000235949A (en) | Coating/developing equipment and its method | |
JP2010147361A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP6007171B2 (en) | Substrate processing system, substrate transfer method, program, and computer storage medium | |
JP4129215B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP3801849B2 (en) | Substrate processing apparatus and method | |
JP4142702B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing system | |
JP2009032898A (en) | Rotary substrate processing device | |
JP4202220B2 (en) | Inspection apparatus, substrate processing apparatus, and substrate processing method | |
JP3996845B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2010147360A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP2003037043A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing system | |
JP2006165192A (en) | Substrate processor and substrate processing method | |
JP4394095B2 (en) | Substrate processing system | |
KR101570160B1 (en) | Apparatus for Processing Substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071101 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071106 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071227 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20071227 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080129 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080331 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080409 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20080502 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090312 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090805 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4357861 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |