JP4328360B2 - 再生信号歪み補償方法及び光ディスク再生方法 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスクに記録されているデータの再生信号の歪みを補償する技術に関する。

例えば、特開平１０−１９８９６３号公報には、ＲＦ信号に含まれる蛇行成分のオフセット変動や振幅変動を低減するための技術が開示されている。具体的には、トラックの側壁が蛇行した光記録媒体から情報を再生する光再生装置において、ＰＲＭＬで復調された結果によりＣＰＵの制御により、再生信号から蛇行信号を減算器により生成して、ＲＦ信号にオフセット変動に対応する蛇行信号成分を減算器で減算し、振幅変動に対応する蛇行成分に基づいて可変ゲインアンプの増幅度を制御するものである。但し、有機色素によるライトワンス・ディスクにおいて、マーク（ピットとも呼ぶ）が涙型形状になりやすいという問題に対する対応策は開示されていない。

また、特開２００４−２５９３１５号公報には、磁気テープ装置において記録データ再生時に発生するスペーシングロスによる振幅変動のために起こるデータ検出誤りをなくすための技術が開示されている。具体的には、記録媒体から記録された信号を読み出す再生ヘッドと、再生信号をデジタル信号に変換するアナログ／デジタル変換手段と、前記デジタル信号に含まれる振幅変動を補正する振幅補正手段とを備え、振幅補正手段は、アナログ／デジタル変換手段の出力信号のうち過去一定期間のサンプルから最大値を検出して信号レベルを求め、信号レベルと基準レベルの差分に応じて振幅補正手段の出力信号を増幅して振幅変動の補正を行うものである。この公報でも、有機色素によるライトワンス・ディスクにおいて、マーク（ピットとも呼ぶ）が涙型形状になりやすいという問題に対する対応策は開示されていない。
特開平１０−１９８９６３号公報 特開２００４−２５９３１５号公報

上で述べたが、有機色素によるライトワンス・ディスクは記録時の熱収支状態の乱れから、マークが涙型形状になりやすい特質を有している。また、近年、高密度化（すなわち大容量化）の流れから、オートスライス回路によりデータを時間軸（すなわちマーク等の長さ）で処理する方式から、ＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）回路によりデータを電圧軸（すなわち振幅）で処理する方式に移行してきている。このような背景の中で、涙型のマーク形状（特に長いマークで発生）は再生時に振幅変動を引き起こし、ビタビ復号時にエラーが発生するという問題が生じている。

より具体的には、ＰＲ（１，２，２，１）方式の場合、ＲＦ信号（アナログ信号）を位相調整し、振幅が概ね、０値から６値までの７値レベルになるように、ＡＤ変換（デジタルサンプリング）するのが一般的手法である。通常であれば、ビタビ復号処理で適切に補償されるためビットエラーは規定値以下となる。

しかし、長い符号長のマークは涙型形状になりやすいため、理想的な振幅レベルから大きく外れ、ビタビ復号時に判断を間違え、ビットエラー率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）が悪化する。

例えば、図１に示すような図で表される。図１では、Ｈｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗ記録極性の有機色素ライトワンス・ディスクの理想的な振幅レベル遷移（折れ線ｂ）と、涙型になったマークを再生した場合における振幅レベル遷移（折れ線ａ）を示している。縦軸は振幅レベルを表し、横軸はサンプリング・タイミングを示している。図１においては、サンプルポイント（１０）で、理論上振幅レベルは「１」であるが、信号波形の歪みにより「２」付近に上昇している。このような振幅レベルが悪影響を及ぼしてビットエラー率を上昇させる。

よって本発明の目的は、例えば有機色素ライトワンス・ディスクにおいて生ずる涙型マークに適切に対処するための技術を提供することである。

また、本発明の他の目的は、例えば有機色素ライトワンス・ディスクにおいて涙型マークが記録されてもビットエラー率を悪化させないようにするための技術を提供することである。

本発明の第１の態様に係る再生信号歪み補償方法は、光ディスクに記録されたデータの再生信号の歪みを補償する方法であって、所定長以上の長さを有するマークについての再生信号の部分を特定する特定ステップと、特定された上記再生信号の部分において、理想的な信号であれば出現することのない特定の振幅レベルが特定のサンプリング・タイミングにて検出された場合、特定のサンプリング・タイミングを含む所定のサンプリング・タイミングにおける振幅レベルを理想的な信号に基づく所定のレベルに設定するステップとを含む。

このような振幅レベルの補償を行うことによって、理想的な信号における振幅レベル遷移に近づけられるため、ビットエラー率の悪化を阻止することができるようになる。

また、上で述べた特定ステップが、予め定められた振幅レベル列が再生信号において存在するか判断するステップを含むようにしてもよい。例えば、所定長以上の長さを有するマークであって涙型マークでも影響を受けない特徴を用いて特定する。

さらに、本発明の第１の態様において、再生信号の振幅レベル推移に基づき、上記マークの形状タイプが先細りタイプであるか先太りタイプであるか判断するステップをさらに含むようにしてもよい。そして、所定のサンプリング・タイミングは、先細りタイプである場合には、特定のサンプリング・タイミング及び特定のサンプリング・タイミングより前のサンプリング・タイミングである場合もある。また、先太りタイプである場合には、特定のサンプリング・タイミング及び特定のサンプリング・タイミングより後のサンプリング・タイミングである場合もある。いずれのタイプの涙型マークであっても対処可能である。

また、本発明の第１の態様において、理想的な信号であれば出現することのない特定の振幅レベルが、再生信号において検出されるか判断するステップと、特定の振幅レベルが再生信号において検出されたと判断された場合には、特定の振幅レベルが検出された特定のサンプリング・タイミングの前後の振幅レベルに応じて、マークの形状タイプが先細りタイプであるか先太りタイプであるか特定するステップとをさらに含むようにしてもよい。そして、所定のサンプリング・タイミングが、先細りタイプである場合には、特定のサンプリング・タイミング及び特定のサンプリング・タイミングより前のサンプリング・タイミングである場合もある。さらに、先太りタイプである場合には、特定のサンプリング・タイミング及び特定のサンプリング・タイミングより後のサンプリング・タイミングである場合もある。

さらに、上で述べた所定のサンプリング・タイミングが、予め定められた振幅レベル列の出現タイミングと特定のサンプリング・タイミングとの間で特定される場合もある。

本発明の第２の態様に係る光ディスク再生装置は、所定長以上の長さを有するマークについての再生信号の部分を特定する特定手段と、特定された上記再生信号の部分において、理想的な信号であれば出現することのない特定の振幅レベルが特定のサンプリング・タイミングにて検出された場合、前記特定のサンプリング・タイミングを含む所定のサンプリング・タイミングにおける振幅レベルを前記理想的な信号に基づく所定のレベルに設定する手段とを有する。

本発明の第２の態様においても、上で述べた本発明の第１の態様におけるバリエーションを適用することができる。

また、本発明の第１の態様に係る再生信号歪み補償方法を実施する専用の回路を作成しても良いし、マイクロプロセッサ及びプログラムの組み合わせにて実施するようにしても良い。

なお、上記再生信号歪み補償方法をマイクロプロセッサに実行させるためのプログラムは、例えばフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置、メモリを有するマイクロプロセッサに格納される。また、ネットワークなどを介してデジタル信号として配信される場合もある。尚、中間的な処理結果は各種装置のワークメモリ領域などに一時保管される。

本発明によれば、例えば有機色素ライトワンス・ディスクにおいて生ずる涙型マークに適切に対処することができるようになる。

また、本発明の他の側面によれば、例えば有機色素ライトワンス・ディスクにおいて涙型マークが記録されてもビットエラー率を悪化させないようにすることができる。

本発明の一実施の形態に係る光ディスク再生装置の機能ブロック図を図２に示す。本実施の形態に係る光ディスク再生装置は、有機色素ライトワンス・ディスクであって既にデータ記録が行われている光ディスク１５に対してレーザー光を照射して再生を行うための光学ユニット（ＰＵ）１と、光学ユニット１に含まれるフォトディテクタからの電気信号を処理するプレイコライザ（Pre-Equalizer）３、ＡＧＣ（Auto Gain Controller）回路５及びＡＤＣ（Analog Digital Converter）回路７と、本実施の形態における主要な処理を実施する歪み補償回路９と、歪み補償回路９からの出力に対して周知のビタビ復号処理を実施するビタビデコーダ１１と、ビタビデコーダ１１の出力に対して周知の誤り訂正処理を実施する誤り訂正回路１３とを有する。歪み補償回路９以外の回路の機能については、周知であるからここでは詳しく述べない。

次に、歪み補償回路９の処理内容を説明する前に、涙型のマークと再生信号との関係について簡単に説明しておく。涙型のマークは、トラック方向に対して（ａ）先細り型のマーク（図３（ａ）参照）と、（ｂ）先太り型のマーク（図３（ｂ）参照）とがある。先細り型のマーク（例えば８Ｔのマーク）の場合、再生信号（ＲＦ信号）は、例えば図４に示すような波形となる。図４において、縦軸は振幅を表し、横軸は時間を表し、波形（１）は理想状態における信号であり、マークがより先細りになるにつれて、波形（２）、波形（３）、波形（４）、波形（５）と、信号が歪んでゆく。ここでは、Ｈｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗの記録極性の場合を示すが、Ｌｏｗ ｔｏ Ｈｉｇｈの場合には、およそ上下に反転したような信号波形となる。一方、先太り型のマーク（例えば８Ｔのマーク）の場合、再生信号は、例えば図５に示すような波形となる。図５において、縦軸は振幅を表し、横軸は時間を表し、波形（６）は理想状態における信号であり、マークがより先太りになるにつれて、波形（７）、波形（８）、波形（９）、波形（１０）と、信号が歪んでゆく。図４と図５を比較すると、先細りの場合には、波形の前半は先細りの程度に影響を受けないが、後半が影響を受けており、先太りの場合には、波形の後半は先太りの程度に影響を受けないが、前半が影響を受けていることが分かる。この点を考慮して、歪み補償回路９は信号の補償処理を実施しなければならない。

次に、図６乃至図７Ｆを用いて歪み補償回路９の処理内容について説明する。まず、歪み補償回路９は、ＡＤＣ回路７からの出力された再生信号のサンプリング値を１単位分、メモリに保存する（ステップＳ１）。例えば、図７Ａ乃至図７Ｆに示した例のように、１つのマーク分のサンプリング値を特定して、メモリに格納する。なお、図７Ａ乃至図７Ｆにおいて、縦軸は振幅レベルを表し、横軸はサンプリング・タイミング（又はサンプルポイントと呼ぶ）を示す。なお、図７Ａ乃至図７Ｆにおいて、サンプリング数が異なるのは、符号長の差のためである。

次に、歪み補償回路９は、涙型マーク特有の値が、メモリに格納されたサンプリング値に含まれているか判断する（ステップＳ３）。本実施の形態では、ＰＲ（１，２，２，１）を前提としており、その場合には「２±０．５」という値が涙型マーク特有の値であることが分かっている。メモリに格納されたサンプリング値において上記のような値が存在するか判断し、存在しない場合には、以降の歪み補償回路９の処理は不要であるので、ステップＳ１５に移行する。存在すると判断された場合には、その値が出現したサンプリング・タイミングを特定しておく。

一方、涙型マーク特有の値が存在すると判断された場合には、涙型マークが先細り型か先太り型かを判断する（ステップＳ５）。涙型マークが先細り型か否かは、例えば、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングの前後のサンプリング値で判断する。すなわち、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングより１つ前のサンプリング・タイミングにおけるサンプリング値が、１つ後のサンプリング・タイミングにおけるサンプリング値より小さい場合には、涙型マーク特有の値が図７Ａ乃至図７Ｃに示すように振幅レベル遷移の後半に生じており、先細り型の涙型マークであると判断できる。一方、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングより１つ前のサンプリング・タイミングにおけるサンプリング値が、１つ後のサンプリング・タイミングにおけるサンプリング値より大きい場合には、涙マーク特有の値が図７Ｄ乃至図７Ｆに示すように振幅レベル遷移の前半に生じており、先太り型の涙型マークであると判断できる。

なお、先細り型か先太り型か否かについては、他の方法で判断しても良い。具体的には、以下で述べるように先細り型は振幅レベル遷移の前半、先太り型は振幅レベル遷移の後半において、理想信号とあまり変わらない部分があるが、その部分においてもサンプリング値が下降していれば先細り型、上昇していれば先太り型と判断することができる。その他の方法を用いても良い。

このようにして先細り型の涙型マークであるか否かを判断し、先細り型の涙型マークであると判断された場合には、歪み補償回路９は、所定長以上の符号を処理しているか否かを判断する（ステップＳ７）。ＰＲ（１，２，２，１）の場合、涙型が問題となる４Ｔ符号以上のマークであれば、必ずサンプリング値が「３」次に「１」を通過することが分かっている。従って、マージンをとって「３±０．５」次に「１±０．５」を通過しているか判断する。このようなサンプリング値の組み合わせが存在しないようであれば、歪み補償回路９の処理は不要であるので、ステップＳ１５に移行する。

一方、「３±０．５」の次に「１±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせが存在するようであれば、歪み補償回路９は、先細りにより生じた信号の値を正常方向に修正する処理を実施する（ステップＳ９）。具体的には、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングの値を「１」に設定すると共に、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングの前から、「３±０．５」の次に「１±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせの出現後までのサンプリング値を「０」に設定する。

図７Ａのような場合には、サンプリング・タイミング「６」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「３±０．５」の次に「１±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「２」及び「３」であるから、サンプリング・タイミング「４」及び「５」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「６」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

同様に、図７Ｂのような場合には、サンプリング・タイミング「１０」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「３±０．５」の次に「１±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「３」及び「４」であるから、サンプリング・タイミング「５」乃至「９」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「１０」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

さらに、図７Ｃのような場合には、サンプリング・タイミング「７」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「３±０．５」の次に「１±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「２」及び「３」であるから、サンプリング・タイミング「４」乃至「６」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「７」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

そして、処理はステップＳ１５に移行して、処理終了が指示されていれば処理を終了し、処理終了が指示されていなければステップＳ１に戻る。

一方、涙型マークが先太り型であると判断された場合には、歪み補償回路９は、所定長以上の符号を処理しているか否かを判断する（ステップＳ１１）。ＰＲ（１，２，２，１）の場合、涙型が問題となる４Ｔ符号以上のマークであれば、必ずサンプリング値が「１」次に「３」を通過することが分かっている。従って、マージンをとって「１±０．５」次に「３±０．５」を通過しているか判断する。このようなサンプリング値の組み合わせが存在しないようであれば、歪み補償回路９の処理は不要であるので、ステップＳ１５に移行する。

一方、「１±０．５」の次に「３±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせが存在するようであれば、歪み補償回路９は、先太りにより生じた信号の値を正常方向に修正する処理を実施する（ステップＳ１３）。具体的には、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングの値を「１」に設定すると共に、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングの後から、「１±０．５」の次に「３±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせの出現前までのサンプリング値を「０」に設定する。

図７Ｄのような場合には、サンプリング・タイミング「１」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「１±０．５」の次に「３±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「４」及び「５」であるから、サンプリング・タイミング「２」及び「３」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「１」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

同様に、図７Ｅのような場合には、サンプリング・タイミング「２」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「１±０．５」の次に「３±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「８」及び「９」であるから、サンプリング・タイミング「３」乃至「７」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「２」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

さらに、図７Ｆのような場合には、サンプリング・タイミング「２」が、涙型マーク特有の値が検出されたサンプリング・タイミングであり、「１±０．５」の次に「３±０．５」というようなサンプリング値の組み合わせはサンプリング・タイミング「６」及び「７」であるから、サンプリング・タイミング「３」乃至「５」についてはサンプリング値を強制的に「０」に修正し、サンプリング・タイミング「２」についてはサンプリング値を強制的に「１」に修正する。

そして、処理はステップＳ１５に移行して、処理終了が指示されていれば処理を終了し、処理終了が指示されていなければステップＳ１に戻る。

このような処理を実施することによって、涙型マークを検出して理想信号に近づけるような信号補償を実施し、ビットエラー率の悪化を抑制することができるようになる。

例えば、図８に示すように、Ｉtop及び歪み振幅値を定義するものとする。すなわち、図８では、縦軸が振幅電圧を表し、横軸が時間を表しており、８Ｔのマークの場合の再生信号を、理想信号（１）、先細りマークの程度が大きくなるほど信号（２）、（３）、（４）及び（５）と変化し、基準電圧Ｉtopはマーク形状の影響を受けていない電圧値であり、歪み振幅値は、信号（１）が上昇し始める時間における振幅値として特定される。

そして、ここでＭｏｄｕｌａｔｉｏｎを以下のように定義する。
Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ＝（Ｉtop−歪み振幅値）／Ｉtop （１）
（１）式の値と、上で述べた処理を実施しない場合におけるＰＲＭＬ処理後のビットエラー率（ＢＥＲ）との関係を図９に示す。図９では、横軸はＭｏｄｕｌａｔｉｏｎの値を表し、縦軸はＢＥＲを表す。図８の例では、信号（１）乃至（３）についてはＢＥＲ＝０であるが、信号（４）でＢＥＲ＝０より大きくなり、最も歪みが大きい信号（５）では、ＢＥＲの許容範囲である１．００×１０^-4を超えてしまっている。

一方、上で述べた処理を実施した場合におけるＰＲＭＬ処理後のビットエラー率（ＢＥＲ）との関係を図１０に示す。図１０では、横軸はＭｏｄｕｌａｔｉｏｎの値を表し、縦軸はＢＥＲを表す。図１０で分かるように、上で述べた処理を実施すれば、ＢＥＲを０に抑えることができるようになる。

また、上で述べた信号（５）のような状況下で、２Ｔ符号から８Ｔ符号に変化させて入力信号（１−７ｐｐ信号）とし、光ディスク１５に記録させた後に再生信号から復号を行うと、図１１（ａ）に示すように、出力信号は入力信号とは異なる符号として判断される場合が多数発生する。図１１（ａ）においては縦軸は符号長（２Ｔ乃至８Ｔ）を表し、横軸は時間を表す。すなわち、ビットエラー率が高いことが分かる。

一方、再生信号に対して上で述べた処理を実施してから復号を行うと、図１１（ｂ）に示すように、出力信号は入力信号と完全に一致すると判断される。

さらに、理想信号の状態においてアシンメトリが変動した場合におけるビットエラー率の変動を、上で述べた処理を実施した場合及び実施しない場合で測定した結果を図１２に示す。図１２では、横軸はアシンメトリを表し、縦軸はビットエラー率を表す。このようにアシンメトリが０から離れるとビットエラー率が上昇するが、上で述べた処理を実施する場合も実施しない場合でもほぼ同様の結果を得られているので、上で述べた処理は悪影響を及ぼしていない。

また、信号（５）のような状況においてアシンメトリが変動した場合におけるビットエラー率の変動を、上で述べた処理を実施した場合及び実施しない場合で測定した結果を図１３に示す。図１３では、横軸はアシンメトリを表し、縦軸はビットエラー率を表す。このように、信号（５）のように信号が歪んでいると、上で述べた処理を実施しなければアシンメトリが０であってもビットエラー率が高くなってしまうが、上で述べた処理を実施すればアシンメトリが±０．１以上離れると効果はないがそれ以内であればアシンメトリの変動には対応することができるようになる。

以上のように本実施の形態ではビットエラー率の抑制に大きな効果があることが分かる。

以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、上で述べた例ではＨｉｇｈ ｔｏ Ｌｏｗ極性の場合を述べたが、逆極性であっても上下に反転したような信号波形となるだけなので、判断に用いられる値を適切な値に設定することによって同様の効果を得ることができる。

同様に、ＰＲ（１，２，２，１）ではなく、ＰＲ（１，２，２，２，１）の場合についても、判断に用いられる値を適切な値に設定することによって同様の効果を得ることができる。

さらに、涙型マークの影響がほぼ４Ｔの符号から生ずるということを述べたが、これは照射するレーザーのスポット径との関係があり、レーザーのスポット径が変更されれば、その基準も変わってくる。

その他、歪み補償回路９については専用の回路を設計して実現するようにしても良いし、プログラムとマイクロプロセッサの組み合わせにて実施するようにしても良い。

また、図６の処理フローも変形可能である。例えば、最初にマークが所定長以上であるか判断した後に、涙型マークであるか判断するようにしても良い。

涙型マークが記録された場合における影響を説明するための図である。 本発明の実施の形態に係る機能ブロック図である。 （ａ）は先細り型の涙型マークの一例を示し、（ｂ）は先太り型の涙型マークの一例を示す図である。 先細り型の涙型マークを再生した場合の信号波形の一例を示す図である。 先太り型の涙型マークを再生した場合の信号波形の一例を示す図である。 本発明の実施の形態における処理フローを示す図である。 先細り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 先細り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 先細り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 先太り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 先太り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 先太り型の涙型マークを再生した場合の信号の一例を示す図である。 Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎを説明するための図である。 本実施の形態における処理を実施しない場合におけるＭｏｄｕｌａｔｉｏｎ毎のＢＥＲを表す図である。 本実施の形態における処理を実施した場合におけるＭｏｄｕｌａｔｉｏｎ毎のＢＥＲを表す図である。 （ａ）は、本実施の形態における処理を行わない場合において涙型マークを読み取った場合の読み誤りの程度を表す図であり、（ｂ）は、本実施の形態における処理を行った場合における涙型マークを読み取った場合の読み誤りの程度を表す図である。 理想状態におけるアシンメトリとＢＥＲの関係を表す図である。 涙型マークを読み取った場合におけるアシンメトリＢＥＲの関係を表す図である。

符号の説明

１ ＰＵ ３ プレイコライザ ５ ＡＧＣ回路
７ ＡＤＣ回路 ９ 歪み補償回路 １１ ビタビデコーダ
１３ 誤り訂正回路 １５ 光ディスク

Claims (8)

1. 光ディスクに記録されたデータの再生信号の歪みを補償する方法であって、
   所定長以上の長さを有するマークについての再生信号の振幅レベル値をサンプリング・タイミング毎に特定する特定ステップと、
   特定された前記振幅レベル値に、マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が含まれる場合、前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が検出されたサンプリング・タイミングである特定のサンプリング・タイミングを含む所定のサンプリング・タイミングにおける振幅レベル値を理想的な信号に基づく所定のレベルに設定する設定ステップと、
   を含み、
   前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値は、
   前記マークの形状タイプが前記先細りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベル値の推移の後半部分に出現し、且つ第１の記録極性においては前記理想信号を上回り又は前記第１の記録極性とは反対の記録極性においては前記理想信号を下回る振幅レベル値であり、
   前記マークの形状タイプが前記先太りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベル値の推移の前半部分に出現し、且つ第１の記録極性においては前記理想信号を上回り又は前記第１の記録極性とは反対の記録極性においては前記理想信号を下回る振幅レベル値である
   ことを特徴とする再生信号歪み補償方法。
2. 前記特定ステップが、
   特定された前記再生信号の振幅レベル値の推移に、予め定められた振幅レベル列が存在するか判断するステップ
   を含む請求項１記載の再生信号歪み補償方法。
3. 前記設定ステップが、
   特定された前記振幅レベル値に、前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が含まれる場合、前記特定のサンプリング・タイミングの１つ前のサンプリング・タイミングにおける前記再生信号の振幅レベル値が１つ後のサンプリング・タイミングにおける前記再生信号の振幅レベル値より大きいか否かに基づき、前記マークの形状タイプが前記先細りタイプであるか前記先太りタイプであるか判断するステップ
   を含み、
   前記所定のサンプリング・タイミングが、
   前記マークの形状タイプが前記先細りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベルの推移の後半部分のサンプリング・タイミングであり、
   前記マークの形状タイプが前記先太りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベルの推移の前半部分のサンプリング・タイミングである
   請求項１記載の再生信号歪み補償方法。
4. 前記所定のサンプリング・タイミングが、
   前記予め定められた振幅レベル列の出現タイミングと前記特定のサンプリング・タイミングとの間で特定される
   請求項２記載の再生信号歪み補償方法。
5. 所定長以上の長さを有するマークについての再生信号の振幅レベル値をサンプリング・タイミング毎に特定する特定手段と、
   特定された前記振幅レベル値に、マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が含まれる場合、前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が検出されたサンプリング・タイミングである特定のサンプリング・タイミングを含む所定のサンプリング・タイミングにおける振幅レベル値を理想的な信号に基づく所定のレベルに設定する設定手段と、
   を有し、
   前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値は、
   前記マークの形状タイプが前記先細りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベル値の推移の後半部分に出現し、且つ第１の記録極性においては前記理想信号を上回り又は前記第１の記録極性とは反対の記録極性においては前記理想信号を下回る振幅レベル値であり、
   前記マークの形状タイプが前記先太りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベル値の推移の前半部分に出現し、且つ第１の記録極性においては前記理想信号を上回り又は前記第１の記録極性とは反対の記録極性においては前記理想信号を下回る振幅レベル値である
   ことを特徴とする光ディスク再生装置。
6. 前記特定手段が、
   特定された前記再生信号の振幅レベル値の推移に、予め定められた振幅レベル列が存在するか判断する
   請求項５記載の光ディスク再生装置。
7. 前記設定手段が、
   特定された前記振幅レベル値に、前記マークの形状タイプが先細りタイプ又は先太りタイプである場合に特有の値が含まれる場合、前記特定のサンプリング・タイミングの１つ前のサンプリング・タイミングにおける前記再生信号の振幅レベル値が１つ後のサンプリング・タイミングにおける前記再生信号の振幅レベル値より大きいか否かに基づき、前記マークの形状タイプが前記先細りタイプであるか前記先太りタイプであるか判断する手段
   を有し、
   前記所定のサンプリング・タイミングが、
   前記マークの形状タイプが前記先細りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベルの推移の後半部分のサンプリング・タイミングであり、
   前記マークの形状タイプが前記先太りタイプである場合には、前記再生信号の振幅レベルの推移の前半部分のサンプリング・タイミングである
   請求項５記載の光ディスク再生装置。
8. 前記所定のサンプリング・タイミングが、
   前記予め定められた振幅レベル列の出現タイミングと前記特定のサンプリング・タイミングとの間で特定される
   請求項６記載の光ディスク再生装置。

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