JP4328303B2 - 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ - Google Patents

太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ Download PDF

Info

Publication number
JP4328303B2
JP4328303B2 JP2005072683A JP2005072683A JP4328303B2 JP 4328303 B2 JP4328303 B2 JP 4328303B2 JP 2005072683 A JP2005072683 A JP 2005072683A JP 2005072683 A JP2005072683 A JP 2005072683A JP 4328303 B2 JP4328303 B2 JP 4328303B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power generation
photovoltaic power
raw material
polycrystalline silicon
silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005072683A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006111519A (ja
Inventor
泰弘 加藤
浩志 萩元
達彦 本宮
Original Assignee
株式会社サンリック
信越フィルム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社サンリック, 信越フィルム株式会社 filed Critical 株式会社サンリック
Priority to JP2005072683A priority Critical patent/JP4328303B2/ja
Priority to US11/226,656 priority patent/US20060249200A1/en
Priority to DE102005044328A priority patent/DE102005044328A1/de
Publication of JP2006111519A publication Critical patent/JP2006111519A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4328303B2 publication Critical patent/JP4328303B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
    • H01L31/182Special manufacturing methods for polycrystalline Si, e.g. Si ribbon, poly Si ingots, thin films of polycrystalline Si
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/546Polycrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

本発明は、特には太陽光発電用多結晶シリコン原料および同ウエーハの安定供給に関する。
従来の高純度多結晶シリコンの製造方法は、シーメンス法およびモノシラン法が主流である。これらの方法は、密閉された炉内にシリコン製の芯棒を立設し、炉底部に設けたノズルから原料シランガスを導入するとともに上記芯棒を高温に加熱し、原料ガスの熱分解あるいは水素還元によって生じた多結晶シリコンをシリコン芯棒上に析着・成長させ、多結晶シリコンを製造するものである。
使用する原料シランガスは高度に精製した、式ClSiH4−n(n=0から4の整数)で示されるクロロシラン類で、モノシラン、ジクロロシラン、トリクロロシラン、テトラクロロシラン単独あるいはこれらの混合物が使用されているが、シーメンス法ではトリクロロシラン(n=3)が、モノシラン法ではモノシラン(n=0)が主である。これら原料ガスを高温下で熱分解または水素還元して得られるシリコンは、炉内に前もってセットされているシリコン芯棒(以下、Si種棒という)と同一組成・純度を有しているため、中心部から外周部まで均質・高純度である。このものは半導体工業に必須な純度を有しているため、半導体級多結晶シリコン(SEG・Si)と呼ばれている。
シーメンス法は戦前の発明にもかかわらず、均質・高純度の多結晶シリコンが安定的に得られるため、その基本要素は今日まで変わっていない。トリクロロシランの場合の反応式を以下の化学1式に示される。
Figure 0004328303
シーメンス法における初期の反応炉(ベルジャー)材質は石英が用いられていた。しかし、多結晶シリコン需要の増大に伴い、生産性をアップさせるため反応炉は大型化し、現在では炭素鋼や高ニッケル鋼のように耐食性金属で作られた金属性ベルジャーが用いられるようになった。また、炉内の温度管理を均一かつ容易にし、放熱による炉の損失を防止する手段として炉内面を鏡面化、或いは銀メッキを施す等の改良が行われてきている(特許文献1、参照)。
他方、反応炉の大型化と呼応して、種棒の本数が増加し、棒長も長尺化したため、径が均一で良質な高純度製品の収率が悪化した。また、ロット形状の均一化や平滑性を向上させるための解決策として、原料ガス供給ノズル構造の改良、排ガス口位置およびその構造の改善案(例えば、特許文献2、特許文献3、特許文献4、参照)、反応条件の変更(例えば、特許文献5参照)等々、今日まで種々の提案がなされてきた。
シーメンス法で得られた高純度SEG・Siは単結晶製造用の原料となる。単結晶製造方法は、CZ(チョコラルスキー)法またはFZ(フローテング)法で、製造時にP,B等のドーパントが添加される。得られた単結晶は次いでスライスされてIC用ウェーハとなる。なお、シーメンス法によるSEG・Siは容易に高純度の製品を得ることができるという利点を有しているものの、スタート時のSi種棒径は5mm前後と極めて細いため、反応の初期では比表面積が小さく、析着速度は遅いという欠点があった。従って、反応初期の生産性を改良出来れば、価格の安い高純度多結晶シリコンが容易に得られることが理解できる。
モノシラン法は、モノシラン(SiH)が原料である。モノシランの熱分解反応は分子中に塩素原子がないため、ほぼ100%シリコンに転化できるが、熱分解温度(600〜850℃)で気相分解するとアモルファスシリコン粉末となって、シリコン種棒上に析出・成長しない。シーメンス法同様シリコン種棒上に析出・成長するためには多量の水素の添加が必要となる。
本モノシラン法により得られた多結晶シリコン(SEG・Si)は、モノシランを原料としているため塩素汚染がなく、シーメンス法SEG・Siより高純度である。従って、モノシラン法SEG・Siは、主としてFZ法単結晶シリコンの製造用原料として利用されている。
FZ法は、直径が均一で、不溶性パウダー等の不純物を含まず、曲がりのない製品が要求されているため、種々の改良技術が提案されてきた。例えば、シリコンの析着を早めるために加熱フィラメント周囲に滞留する境膜を除去する目的で炉内ガス流速を規定するもの(例えば、特許文献6、参考)、不溶性パウダーの付着混入を避けるために反応ガスを連行されるシリコン粉末と共にパウダーキャッチャーの冷却壁に通送するもの(例えば、特許文献7、参照)、モノシランの分解を効果的な速度で行うためにシラン分解器から出る反応混合物の大部分を分解器の供給流に再循環させるもの(例えば、特許文献8、参照)、フィラメント芯線間接続用ブリッジを通電時に高温とならないように、電気抵抗の低いタンタル、モリブデン、タングステンまたはジルコニウムで構成させるもの(例えば、特許文献9)等が提案されている。
モノシランは発火性があり、多量の水素ガスを使用するため、その取り扱いに付随して多くの保安装置が要求されるばかりでなく、収率が低く、製造コストは高いものだった。
他方、太陽光発電用(高純度)シリコン原料を専用に製造する方法として、これまで、種々提案され、試行されてきた。その最終目的は、低コスト・高品質である。特に、太陽光発電用には価格の安い、しかも専用のシリコン原料が望まれているものの、残念ながら専用の原料ソースが見つかっていない。
現在、太陽光発電用に使用されているシリコン原料は、前述したシーメンス法やモノシラン法によるSEG・Si製造工程から副成するスクラップ品・仕様外品(トップと呼ばれる結晶頭部除去部分、テールと呼ばれる結晶底部除去部分、や結晶側面削り残り、坩堝残り)およびウェーハを製造する工程から副生成するスクラップウェーハに依存している。しかし、副生スクラップ量には限界があるばかりでなく、近年その量が減少傾向にあり、太陽光発電の発展にとって原料の安定的確保が大きな問題となっている。
低コストを達成するためには、出発原料が安いことが必要であり、これまで多くの試みがあった。その1は、金属珪素(MG・Si)あるいは、半導体産業から副生するシリコンを精製するものである。例えば、溶融シリコンの表面にプラズマジェットガスを噴射して精製する方法(例えば、特許文献10、特許文献11、及び特許文献12、参照)、直流アーク炉を使用する方法(例えば、特許文献13、参照)、電子ビームを利用する方法等が知られている。また、半導体産業から廃棄されるシリコン廃棄物を一方向凝固処理により精製する方法(例えば、特許文献14、参照)、溶融シリコンに不活性ガスと活性ガスあるいはCaO等の粉末を添加し、精製する方法(例えば、特許文献15、特許文献16、参照)、MG・Siを減圧下におき、沸点差を利用して精製する方法(例えば、特許文献17、特許文献18)等多くの方法が提案されている。しかし、これら原料を使用したもので満足のいく精製法はまだ確立していない。
溶融シリコンを精製することが困難な理由は、珪素原子は他元素と容易に安定な化合物を作ることも一要因であるが、p(ピー)型不純物のB(ホウ素)をシリコンから容易に除去し難いためである。BのSiに対する固液分配(偏析)係数は0.81と1に近いため、一方向凝固等の固液分離方法では分離・純化できない。沸点差、ガスの吹込み等を利用するにしても系(溶融物)全体を完全に処理することは困難であった。
Bの唯一の純化方法は「金属珪素」に「塩酸」を化学反応させ、シランガスとした後、B+HC1の反応で得られた塩素化ホウ素を蒸留または吸着により分離・精製するものである。不純物を含まない精製されたシランガスは、次いで還元されて、高純度SEG・Siとなる。即ちシーメンス法またはモノシラン法SEG・Siである。両方法とも、バッチ生産のため製造工程で多くのエネルギーを消費し、前述のとおり高価すぎるという欠点があり、太陽光発電用原料として利用するには問題があった。
このように不純物Bの除去はガス化し、蒸留で分離除去するのが最も確実な方法である。ガス化することによりSi中に固溶していたその他の不純物元素も塩素化(液化)され、蒸留により原料シランは純化・精製される。
前述したシーメンス法やモノシラン法以外でガス化により純化された原料を使用して多結晶シリコンを得る方法として、流動床反応を用いる方法がある。外熱式の反応炉中で、反応炉下部から精製原料シランと水素ガスを供給し、炉中のSi粒子を流動させて製品を析着・成長させ、多結晶シリコンを得る。反応後ガスは炉上部から排出させる(例えば、特許文献19、特許文献20、特許文献21参照)。純度はシックスナイン(99.9999%)以上で太陽発電用グレードは満足している。
この従来の法は、Si種棒の代わりにSi粒子を使用するためシリコンの析着面積が大きくなる。その結果、シリコンの析出・成長速度が増大し、連続反応が可能で安価に高純度品が得られるが、反応が外熱式のため、反応管内面にまでSiが析着・成長し、連続反応が継続できないこと、および反応管の大型化がネックとなって残念ながら現在まで実用化されていない。
純化シランガスと水素ガスを使用し、多結晶シリコンを得る他方の方法に溶融析出法(例えば、特許文献22、特許文献23、特許文献24、特許文献25等、参照)がある。熱分解温度がシリコンの融点(1410℃)以上なため、還元・成長した多結晶シリコンは溶融状態で得られる。
前述の方法は、「シリコンの析出・溶融ゾーン」と「析出・溶融したシリコンを下流・冷却して結晶を得るゾーン」とに大別でき、連続反応を特徴としている。析出・溶融ゾーンでは反応温度が高いため、原料供給端部での閉塞および反応器材質に起因する純度の問題が、結晶受けゾーンでは製品シリコンを密閉系から反応系外に定量的に取り出す方法が困難であるばかりでなく、その際に部材からの汚染が予想される。また、水素の漏洩防止対策としての、「析出・溶融ゾーン」と「結晶受けゾーン」とのシール構造等実用化には多くの障壁をクリアーする必要がある。
他方、シーメンス法に使用されているSi種棒に替わって再結晶化温度が1100℃以上のMo(再結晶化温度1200℃),W(1350℃)、Ta(1200℃),Nb(1100℃)、等金属製種棒を用いる方法(特許文献26)及び本発明者らによって結晶化温度が1100℃以上の部材が、Re−W(1500−1650℃)、W-Ta(1500−1650℃)、Zr−Nb(1200−1300℃)、TZM(1250−1350℃)及びTEM材(1200−1450℃)からなる合金製種棒を使用する方法(特願2004−184092)が提案されているが、これらの方法を目的とするところは種棒であって、加熱源として使用するものではなかった。また、これらの種棒を使って得られたSEG−SiまたはSOG−Siは、反応終了後、何らかの方法で種棒(芯材)を除去しなければならないため、他の工程が付加的に発生するという欠点があった。
以上から、純度の高い多結晶シリコンを得ようとするならば、ガス化し精製した原料を使用する方法が優れている。また、半導体用及び太陽光発電用原料の違いは純度レベルであり、前者はイレブンナイン(11N)、後者はそれより5桁低いシックスナイン(6N:99.9999%)以上でよい。従って、目標とする純度を満足させ、価格が前者より数段安くなり、安定的に供給できる方法が開発できれば「太陽光発電用原料の専用ソース」となり得ることが理解できる。
特公平6−41369号公報 特開平5−139891号公報 特開平6−172093号公報 特開2001−294416号公報 特開平11−43317号公報 特開昭63−123806号公報 特開平8−169797号公報 特開昭61−127617号公報 特開平3−150298号公報 特開昭63−218506号公報 特開平4−338108号公報 特開平5−139713号公報 特開平4−37602号公報 特開平5−270814号公報 特開平4−16504号公報 特開平5−330815号公報 特開昭64−56311号公報 特開平11−116229号公報 特開昭57−145020号公報 特開昭57−145021号公報 特開平8−41207号公報 特開昭54−124896号公報 特開昭59−121109号公報 特開2002−29726号公報 特開2003−54933号公報 特開昭47−22827号公報
そこで、本発明の技術的課題は、シーメンス法またはモノシラン法を利用し、太陽電池用原料に見合った純度を満足する多結晶シリコンを、安価に安定して得られる太陽光発電用多結晶シリコン材料及びその製造方法を提供することにある。
また、本発明のもう一つの技術的課題は、前記太陽光発電用多結晶シリコン材料を用いた太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法を提供することにある。
本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料は、高温下、密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解または水素還元して得られる多結晶シリコンであって、導電型がp型またはn型で、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒で、太陽光発電用シリコンウェーハの製造に使用されることを特徴とする。
また、前記シリコン種棒は、前記太陽光発電用多結晶シリコン原料から得られた多結晶シリコン、又は前記太陽光発電用多結晶シリコン原料を使用してCZ法,FZ法で得られた単結晶シリコン又はキャスト法で得られた多結晶シリコンを使用することを特徴とする。
また、前記原料シランガスがトリクロロシランまたはモノシランで、前記シランガス中のボロン濃度が10ppb以上、1000ppb好ましくは500ppb以下であることを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法は、高温下、密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解または水素還元して多結晶シリコンを得る方法であって、前記多結晶シリコンの導電型がp型またはn形、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒で、太陽光発電用シリコンウェーハの製造に使用されることを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法は、前記シリコン種棒として、前記太陽光発電用多結晶シリコン原料から得られた多結晶シリコン又は前記太陽光発電用多結晶シリコン原料を使用してCZ法,FZ法で得られた単結晶シリコン又はキャスト法で得られた多結晶シリコンを使用することを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法は、前記いずれか一つの太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、原料シランガスは、トリクロロシランまたはモノシランで、これらシラン中のボロン濃度が10ppb以上、1,000ppb好ましくは500ppb以下であることを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法は、前記いずれか一つの太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法で得られた多結晶シリコンにドーピング剤を添加せずに結晶化し、次いでスライスして、ウェーハを製造することを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法は、前記いずれか一つの太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法において、結晶化方法がCZ法またはFZ法で得られた単結晶シリコンであるか、またはキャスティング法で製造された多結晶シリコンをスライスして得られることを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法は、前記いずれかの太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法において、前記太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法によって得られた単結晶または多結晶ウェーハの導電型がp型またはn型、抵抗率が0.3〜10Ωcmであることを特徴とする。
また、本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法は、高温下密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解又は水素還元して得られる多結晶シリコンを製造するに際し、加熱方式を内部加熱方式とし、加熱源として再結晶温度が1100℃以上の金属又は合金であるか又は高純度グラファイト製のものを使用し、前記シリコン種棒は、前記太陽光発電用多結晶シリコン原料から得られた多結晶シリコン、又は前記太陽光発電用多結晶シリコン原料を使用してCZ法,FZ法で得られた単結晶シリコン又はキャスト法で得られた多結晶シリコンを使用することを特徴とする。なお、通常の外部加熱方式も採用できるが、製造に要する電力原単位は、内部加熱方式が優れる。また、種棒の導電型は最終セル使用によってP型、N型のいずれのものであって、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒のものを使用するのが好ましい。
また、本発明の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、前記加熱源を原料シランガスを供給する前に、900℃以下、好ましくは800℃以下に冷却した後に、前記原料シランガスを供給することを特徴とする。
本発明では、高温下、密閉した反応炉中の灼熟したSi種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解または水素還元して得られる多結晶シリコンを析着・成長させる方法であって、「Si種棒純度・種」および「原料純度」を太陽電他用に限定したものを使用する以外、反応炉の材質・構造、Si種棒と電極ホルダーとの接続方法及び炉内配置方法、電源回路の接続方法、近隣する部材との接触防止方法、インゴット表面状態の改善方法、シランガスと水素ガスとの混合比・流速、反応温度や時間等の諸条件は当業界で公知の方法を採用することができ、特別な手段の追加事項は不要で安価・多量に太陽光発電用の多結晶シリコン原料が製造できる。更に得られた原料多結晶シリコンに「ドーパントを添加せず」結晶化、次いでスライスすることにより安価に太陽光発電用ウェーハが製造できる。
本発明について更に詳細に説明する。
シーメンス法あるいはモノシラン法SEG・Siの最終用途はIC用のため、Si種棒は不純物のない高純度シリコンが使用されている。替わって本発明のSi種棒は単結晶、多結晶シリコンいずれもが利用でき、品質は最終目標である太陽光発電用純度を満足すれば良く、安価なものが使用できる。好ましくは、本法で得られた多結晶シリコン多結晶シリコン、又は本発明方法の太陽光発電用多結晶シリコン原料を使用してCZ法,FZ法で得られた単結晶シリコン又はキャスト法で得られた多結晶シリコンを種棒として再利用するのが、価格的に優位である。
シーメンス法による多結晶シリコン原料の製造方法は、主として外部加熱方式のため装置の大型化が困難であるばかりか、熱ロスによって製造コストが高くなるという問題もあった。それに対し、本発明は、内部加熱方式であって、加熱源が再結晶化温度110℃以上の金属、合金、又は高純度グラファイト製のものを使用し、Siを析着させる種棒は、本発明で得られた多結晶シリコンまたは、本発明で得られた多結晶シリコンを用いて製造されたCZ法又はFZ法単結晶あるいはキャスト法多結晶シリコンであるため、装置の大型化が可能なばかりでなく、熱ロスが少なく、コストも安い。なお、種棒品質は、最終セル仕様によって、p型またはん型いずれかのものであって、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒のものを使用することが好ましい。
再結晶化温度が1100℃以上の金属、合金としては、Mo,W,Ta,Nb,Re−W,W−Ta、Zr−Nb、TZM(Ti,Zr,C)があげられるが、高温、水素ガスおよびシランガスの存在下にあってもハイドライド化や知りサイド化の影響を受けず、脆性劣化のない、ランタン(La)ドープMo材、通称TEM材として市販されているものを使用するのが、好ましい。なお、高純度グラファイト材は灰分が5ppm以下のものが良い。
加熱源として使用されるこれらの部材の表面は、原料シランガスの分解反応が進行するに伴い,Siが析着を阻止するため原料ガスを供給する前に、これらの部材の表面温度を900℃、好ましくは800℃以下に冷却することによりSi析着が防止できる。Si析着が防止できた部材は、再び加熱源部材として再利用できるというメリットもある。900℃以下に冷却する他方のメリットは水素ガスによるハイドライド化が抑制できる点にある。しかし、トータルコストを度外視すれば、必ずしも冷却を必要とするものではない。なお、大型反応器を想定した場合における加熱源部材の反応機中の本数、配置方法は反応器の中心にかかわらず、適宜選択することができ、制限されるものではない。
トリクロロシランは950〜1,200℃、モノシランは600〜850℃の温度で熱分解される。得られた「多結晶シリコン」は、ナゲットと呼ばれる20〜100mmの塊状に粉砕されCZ法「単結晶シリコン」またはキャスティング法「多結晶シリコン」の原料となる。あるいは粉砕せず棒状のままFZ法原料に利用し「単結晶シリコン」とし、ついでスライスすることにより太陽光発電用太陽電池用ウェーハとなる。
安い原料(純度の低いシラン)を使用し、得られた多結晶品質が太陽光発電用多結晶シリコン純度を満足するものが得られるなら、安価で太陽光発電用に専用な多結晶シリコン原料が得られる事が理解できる。
シラン原料価格は純度に比例する。純度はシラン中に含まれるB濃度で決定され、その価格はB含有量に反比例する。半導体用グレードシラン中のB含有量はゼロ以下のppbレベル、ケミカルグレードはppmからパーセント(%)レベル。最少でも3桁以上の差があり、後者の価格も安い。
シーメンス法で得られる多結晶シリコンの純度は、B含有量がゼロ以下のppbレベルのトリクロロシランを使うためSEG・Siの高純度(11N:イレブンナイン)である。このレベルになると分析方法によっても精度が左右されるが、一般的なFe、Cu、Ni、Cr、Zn、Naこれら6元素合計で5ppb(測定方法:ICP法)以下、Al(アルミニウム)とBからなるドナー量0.1ppb(測定方法:フオトルミネッセンス法)以下、抵抗率はn型で1000Ω(測定方法:4端子法)以上、ライフタイム(測定法:ASTM F28−91)は1000μ秒以上が標準的な品質である。
原料シランの一般的な精製方法は蒸留である。例えば、蒸留前の粗トリクロロシラン中のB濃度は、数千ppbに達し、低沸点物をカットする割合を増やし、B濃度を徹底的にカットし、一桁以下のppbレベルに純化する。しかし、シランの熱分解で得られた多結晶シリコンは反応器材中に含まれるBにより汚染されるため、ゼロに近いものが得られるが、ゼロには出来ない。本発明に使用する原料シランの中のB濃度は10ppb以上、1,000ppb以下、好ましくは500ppb以下の範囲となることが好ましい。その理由は、10ppb以下は半導体用に必要であるが、太陽光発電用には割高となる。上限は原料MG・Siに含まれる太陽光発電効率に悪い影響を及ぼすその他金属含有量によっても左右されるが1,000ppb以上あっても良い場合があるものの、原料種、装置汚染等に関係なく安定的に光電変換効率を維持できるレベルは1,000ppb以下、好ましくは500ppb以下である。
他方、シリコーン樹脂生産に使用されているMG・Siの純度は98〜99%(1〜2ナインレベル)である。MG・Siの製造方法は珪石(SiO)を炭素(C)で還元して得られる。導電型および抵抗率はp型、0.01〜0.6Ωcmの範囲にあって、ライフタイムは測定できない(0秒レベル)ため、太陽光発電用原料には使用できない。
SEG・SiとMG・Siとの中間に位置するのが太陽電池用多結晶シリコン(SOG・Si)である。SOG・Si中に含まれる各種元素の不純物総量レベルについて、これまで明確に規定した基準はなく、専用の原料ソースもない。
ただ、SOG・Si中に含まれる単一元素についての報告がある。CZ法単結晶シリコン製造時に各種不純物元素を添加し、p型0.5Ωcmのウェーハとし、光電変換効率10%以上の基準値を満足するための量を求めたものである。それによると、Ni/5.0(ppm.以下同)、C/4.2、Al/0.57、Cu/0.31、B/0.3、Sb/0.06、Fe/0.023、P/0.015、Cr/0.0092、Ti/0.0001以下、その他Zr、V、MgもTi並みの値である。しかし、この値はこれら金属元素が単独でシリコン中に不純物として含まれている場合の値であって、系全体にこれら元素が混在した場合について示唆するものではない。
我々の実験結果によると、個々の元素単独の含有量を規定して系全体を論じることには、無理があることが判明した。何故なら、出発原料であるMG・Si中の不純物含有量は、生産地又は生産者により異なるばかりか、その後の反応工程においても、反応機部材から各種元素の不純物汚染が引き起こされるためである。さらに、太陽光発電用セルは単結晶ばかりでなく、多結晶セルも使用されている。純度レベルは、後者は前者よりさらに低くてもよい。
なお、SOG・Si中に含まれる元素の内、微量で太陽光発電効率に影響を及ぼす元素はCr、Ti、Zr、V、Mg(上項参照)であって、反応機部材にはこれらの元素の含有量が少ないものを選択すれば装置からの不純物汚染が抑制される。
大量に生産される多結晶シリコン原料を、使用する個々の原料毎に、どのような元素により汚染されているかを測定することは、多くの費用と時間を必要とし、経済的でない。
本発明者らは、鋭意検討した結果、SOG・Siの品質は導電型、抵抗率およびライフタイムで規定するのが良いことが判明した。その値は、導電型はpまたはn型、抵抗率は0.3〜500Ωcmおよびライフタイムは2〜500μ秒である。
今、SOG・Si品質がn型2Ωcmのものを使用し、ドープ剤を添加せずに、多結晶化すると、結晶化工程中に装置周辺部材からのp型不純物によって汚染され、得られる結晶はp型になり、抵抗率も低下する。現在、太陽光発電用に使用されているシリコンウェーハは単結晶および多結晶を問わず、その導電型はn型またはp型、抵抗率は0.3〜10Ωcm、厚さは150〜350μmである。従って、ウェーハになる前の出発原料であるSOG・Si品質はそれ以上の品質が必要である。
太陽光発電用のSOG・Siの品質は、結晶化工程での汚染を考慮し導電型はp型、n型を問わず、抵抗率は3Ωcm以上が好ましい。3Ωcm以下では、次工程での汚染によって求める特性の結晶が得られにくい。上限は500Ωcmである。IC用はn型1000Ωcm以上であるから、500〜1000Ωcm間は、グレーゾーンと言える。この間の値のものは、高い光電変換効率が期待できるが、太陽光発電用にはコスト高である。
ライフタイムに関しては、シリコン中の金属元素不純物量に比例し、量が多いほどライフタイムは短くなる。また、ライフタイムの長短は金属元素種・量により異なる。しかし、不純物含有量が多くても、それが光電変換効率に影響のない元素の場合では、値は小さいが効率が落ちない、あるいは多結晶の場合では結晶粒の大きさで、その値は左右される。また、測定試料の面状態にも大きく影響されるため、数値に大きなバラツキが発生するという難点がある。このようにライフタイム値は抵抗値のように不純物料と直線的な相関関係が成立しないが、インゴット特性を評価する手段としては必要なことである。
以上からSOG・Siのライフタイム値は2〜500μ秒が好ましい。2μ秒未満では、光電変換効率は低下する。上限は500μ秒である。なお、IC用インゴットは1,000μ秒以上なので、500〜1,000μ秒間は抵抗同様グレーゾーンである。500〜1,000μ秒間ものは高い光電変換効率が期待できるが、太陽光発電用にはオーバースペックである。なお、セル化後の太陽光発電用ウェーハのライフタイムは、セル化工程でのP(リン)拡散あるいは水素による表面安定化処理(パッシベーション)により大幅に改善されその値は向上する。処理前のインゴットのライフタイムが2〜50μ秒のものが、ウェーハに加工され、これら処理を行った後のセルでは50〜800μ秒にアップする。
従って、加工後ウェーハのライフタイム値を規定することはあまり意味がない。
従来の太陽光発電用シリコン原料は、前述したように半導体工業から副生するスクラップ品を使用し、所望の導電型および抵抗率になるような割合でこれらスクラップを混合した後、結晶化している。スクラップに求められる品質(抵抗率)はp型またはn型を問わず0.5Ωcm以上、時には1Ωcm以上、形状は卵大以上である。しかし、抵抗率および形状とも発生源で異なるばかりか安定的に数量を確保することは困難であった。また、これらスクラップ品を使用しこれに所望の抵抗率になるように、ドーパントを添加しなければならないため高価なドーパント材が必要であるばかりでなく、ドーパントを添加するという、混合手段が必要だった。
本発明はドーパントを添加する必要がないように、シランの熱分解開始段階から太陽光発電用シリコン原料に必要な品質のものを専用にかつ多量に製造できるよう管理できるので、結晶シリコンの製造コストが安価となる。管理対象は導電型、抵抗率およびライフタイムであり、従来の多結晶シリコンの製造方法では思考できなかった。なお、従来同様、夫々異なる導電型、抵抗率およびライフタイムからなる原料あるいはスクラップを混合し、必要に応じドーパントを添加して所望の特性を有する太陽光発電用結晶を得ることは拒まない。
太陽光発電用ウェーハを生産するためにはSOG・Siを原料にして、単結晶(CZ法またはFZ法)または多結晶(キャスト法)シリコンとした後、所望の厚さ、大きさのウェーハに切り出される。ウェーハに要求される特性は、単結晶/多結晶および導電型n型/p型を問わず、その抵抗率は0.3〜10Ωcmである。抵抗率0.3以下および10Ωcm以上では光電変換効率が低下する。ウェーハでのライフタイムは前述したようにスライス後の値とセル化後の値で大きく異なるので、一概に規定することは難しい。なお、太陽光発電用シリコン結晶の製造方法(CZ、FZ、キャスト法)および結晶からウェーハに加工(スライス)する方法は、当業界で公知の方法・条件を採用することができ、特別な手段の追加事項は不要である。
太陽光発電用シリコン原料は、前述した通り、半導体級レベルの純度は必要としない。また、前述した利点のため、価格の安い太陽光発電用多結晶シリコン原料およびウェーハが製造できることが理解できる。
本発明の製造の具体例について比較例も挙げて説明する。
(例1)
4mm角、n型4.5Ωcmである単結晶Si種棒(芯)を石英製ベル型ジャー(内径120mmφ、高さ500mm)に門型にセットし、外部加熱装置によりベルジャーを加熱した。ここでSi種棒高さは245mm、横棒の長さは87mm、縦棒のセンター間の距離は58mmだった。門型にセットする方法は、上端部をV宇型にカットし、その上に横棒を載せた。光高温計で芯表面の温度が1140℃に到達した後に、トリクロロシラン(温度25℃)溶液中にバブリングさせる水素ガス量0.6リットル/分、反応器中に直接導入する水素ガス量10.8リットル/分、反応器下部から器壁内面に向かって供給する反応器覗き窓用水素ガス量0.3リットル/分、計11.7リットル/分で2時間供給し、2時間経過後トリクロロシラン中の水素バブリング流量を0.8リットル/分(気化量250g/時間に相当)に増加させた。8時間経過後反応を停止して、析着Si量を測定したところ182.2gであった。なお、反応開始前のSi種棒の質量は21.27g、使用したトリクロロシラン中のB(ボロン)濃度は37ppb(化学分析法)のものを使用した。但し、Bの分析方法は化学分析法で、4回分析した値の平均値を採用した。なお、B以外の不純物量はFeが1ppb以下、その他各種金属不純物量合計0.2ppb以下であった。
得られたインゴットの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。測定方法は、導電型:レーザー光PN判定機、抵抗率:4探針法、ライフタイム:μ波減衰法(測定用サンプルは表面加工歪みをエッチングにより30μカットし、清浄水で洗浄したものを使用)で行った。結果はn型5kΩcm以上(検出限界以上)だった。なお、ライフタイムの平均値は67.2μ秒であった。
(例2)
4mm角、p型4.0Ωcmの単結晶Si種棒(芯)を使用し、上記例1と同じトリクロロシランを使い、同一方法で実験を行った。8時間経過後のシリコン量は182.3gであった。
得られたインゴットの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。結果は中心部p型270〜1kΩcm、外周部n型5kΩcm以上(検出限界以上)だった。なお、ライフタイムは中心部が低く15μ秒、外周部は57μ秒、平均値は42.0μ秒であった。
(例3)
4mm角、n型4.0〜5.7Ωcmのキャスト法多結晶Si種棒(芯)を使用し、上記例1と同様な反応を行った。但し、トリクロロシラン中のB濃度(n=4)は200ppbだった。得られたインゴットの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。その結果を下記表1に示した。なお、トリクロロシラン中のB以外の不純物量はFeが1ppb、その他各種金属不純物量合計0.3ppb以下であった。
(例4及び例5)
例4:Si種棒はp型1.3〜3.2Ωcmの4mm角のキャスト法多結晶シリコン、トリクロロシランは、例3と同濃度のものを使用して24時間反応を行った。その結果は下記表1に示した。
例5:Si種棒は、例3と同一の多結晶n型品、トリクロロシラン濃度は480ppmのものを使用して24時間反応を行った。その結果を表1に示した。なお、トリクロロシラン中のB以外の不純物量はFeが2ppb、その他各種金属不純物量は合計1ppb以下であった。
(例6)
例5で得られたn型多結晶シリコン棒を4mm角に加工し、Si種棒(芯)とした。トリクロロシラン中のB濃度200ppb品を使用し、8時間反応を行った。得られたインゴットの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。その結果を下記表1に示した。
Figure 0004328303
(例7)
B濃度980ppbのトリクロロシランを使用し、上記例1と同方法で8時間反応を行った。得られた多結晶シリコンの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。結果は夫々順にn型、5Ωcm、4.5μ秒だった。このものを使用しドープ剤なしで、キャスト法により太陽光発電用多結晶シリコンを製造した。得られたキャスト法多結晶シリコンの導電型、抵抗率およびライフタイムは、夫々順にp型、0.4Ωcm、2μ秒だった。また、セル化した後の変換効率は9.8%と低く、太陽光発電用多結晶ウェーハとしては使用できないものだった。なお、B以外の不純物量はFe、Ni、Crが夫々4.9、0.3、0.4ppb、その他各種金属不純物量合計0.2ppb以下であった。
他方、上記で得られた多結晶シリコンと参考例で得られた半導体グレード多結晶シリコンと1:1で混合し、キャスティング法で太陽電池用多結晶シリコンを製造した。得られた結晶の特性はn型、3.5Ωcm、25μ秒でセル化した後の変換効率は13.7%だった。以上から、単独での結晶では太陽光発電用原料としての利用には無理があるが、高純度原料との混合により十分太陽光発電用原料として利用できることが理解できる。
(例8)
上記例1で、反応時間8時間後に得られた多結晶シリコン(n型、5kΩcm以上)にB含有量(0.01Ωcm)のボロン合金を加え、キャスト法によりp型1.0Ωcmの太陽光発電用多結晶シリコンを製造した。ライフタイムは17.3p秒だった。
このものを300μの厚さにスライス(10mm角×300μm)し、エッチング後10mm角の太陽光発電用セルを作成し、光電変換効率を測定した。結果は15.7%だった。
(例9)
上記例4で、反応時間24時間後に得られたn型多結晶シリコン(中心部はp型)、にB含有量(0.01Ωcm)のボロン合金を加え、キャスト法によりp型1.0Ωcmの太陽光発電用多結晶シリコンを製造した。ライフタイムは16.7μ秒だった。
前例同様スライスし、エッチング後10mm角の太陽光発電用セルを作製し、光電変換効率を測定した。結果は16.0%だった。
(例10)
例5で、反応時間24時間後に得られた多結晶シリコン(n型)にドーパントを添加することなく、キャスト法により太陽電他用多結晶シリコンを製造した。得られた多結晶シリコンはp型0.6Ωcm、ライフタイムは17.5μ秒、セル化後の光電変換効率は15.8%だった。
(例11)
例5で、反応時間24時間後に得られた径30.5mm、長さ23.0mmの多結晶シリコン棒(n型)にドーパントを添加することなくFZ法により単結晶シリコンを製造した。FZ法での各種パレメータは反応器内径250mm、Arガス圧+0.5atm、結晶回転数5rpm、高周波誘導加熱コイル温度1470±5℃、成長速度2mm/分で、得られた太陽光発電用多結晶シリコンはp型0.9Ωcm、ライフタイムは330μ秒、セル化後の光電変換効率は18.5%だった。
例10〜11から、本発明により得られた多結晶シリコンは、ドーパントを添加せずに直接太陽電池用純度を有する結晶が得られることが理解できる。
(例12)
ランタン添加モリブデン(商品名TEM材:アライドマテリアル(株)製)を丸め加工して径7mmφの中空管とし、これを反応器中にセットして、加熱源とした。セット方法は、門型、高さ170mm、Si種棒と十字形にクロスするように設置した後、例1と同一なSi種棒を使用して、例1と同一条件で実験を行った。なお、通電は、反応器内を窒素ガスから水素ガスに置換後、内温900℃まではTEM材に、900℃以上ではSi種棒に切り替えSi種棒表面を1100℃に灼熱した。5分経過後、TEM材温度800℃以下になるように窒素ガスを管内に流して冷却するとともに、Si種棒温度を1150℃として直ちに原料シランガスを供給し、反応を行った。その結果、Si析着は種棒上に成長したが、TEM材表面上には、成長が認められなかった。なお、反応終了後、TEM材表面を観察したが、珪化物は認められず、再利用可能なものであった。
得られたインゴットの導電型は、n,抵抗は5kΩ以上、ライフタイムは67μ秒であった。また、TEM材に替わり高純度化処理した灰分3ppm以下のグラファイト(東洋炭素(株)製)を加熱源(冷却が無い方式)として同様な実験を行ったが、反応初期における電力原単位の向上は認められたものの、グラファイト製加熱棒上にもSi析着が成長しており、再利用はできなかった。
なお、例12において、再結晶温度が1100℃以上の金属又は合金の例としてランタン添加モリブデン合金を用いたが、本発明においては、再結晶温度が1100℃以上の金属又は合金として、W、Ta、Nb、Moの金属またはそれらの金属の内の少なくとも一種を含む合金を用いることができる。
(比較例1)
濃度1120ppbのトリクロロシランを使用し、上記例1と同方法で8時間反応を行った。得られた多結晶シリコンの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。結果は夫々順にp型、0.2Ωcm、1.5μ秒だった。このものを使用しドープ剤なしで、キャスト法により太陽光発電用多結晶シリコンを製造した。得られたキャスト法多結晶シリコンの導電型、抵抗率およびライフタイムは、夫々順にp型、0.4Ωcm、2μ秒だった。また、セル化した後の変換効率は9.8%と低く、太陽光発電用多結晶ウェーハとしては使用できないものだった。
なお、B以外の不純物量はFeが49ppb、その他各種金属不純物量合計8.0ppb以下であった。
(参考例、シーメンス法)
上記例1の種棒に替わり、4mm角のn型単結晶シリコン棒(FZ法で得られた高純度半導体用多結晶シリコンを4mm角に切り出したもの)を使用し、例1と同一条件で多結晶シリコンを製造した。8時間経過後反応を停止して、析着量を測定したところ181.5gであった。
得られたインゴットの導電型、抵抗率およびライフタイムを測定した。結果は、夫々順にn型、5kΩcm以上(検出限界外)、1.450μ秒で、本発明の例2で得られた多結晶シリコンより、ライフタイムが優れていた。これら特性は半導体用多結晶シリコン(SEG・Si)品質のそのものだった(SEG・Si純度を満足した)。
本発明によれば、太陽光発電用シリコン原料から直接同ウェーハまで製造できるので低コスト化が達成でき、太陽光発電用のシリコン素材製造の分野に貢献するところ大である。

Claims (13)

  1. 高温下、密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解または水素還元して得られる多結晶シリコンであって、導電型がp型またはn形で、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒で、太陽光発電用シリコンウェーハの製造に使用されることを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料。
  2. 請求項1記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料において、前記シリコン種棒は、請求項1記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料から得られた多結晶シリコンを使用することを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料。
  3. 請求項1記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料において、前記シリコン種棒は、請求項1記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料を使用して製造されたCZ法又はFZ法による単結晶、あるいは、キャスト法で得られた多結晶シリコンを使用することを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料。
  4. 請求項1乃至3の内のいずれか一つに記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料において、前記原料シランガスがトリクロロシランまたはモノシランで、前記シランガス中のボロン濃度が10ppb以上、1000ppb好ましくは500ppb以下であることを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料。
  5. 高温下、密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解または水素還元して多結晶シリコンを得る方法であって、前記多結晶シリコンの導電型がp型またはn形、抵抗率が3〜500Ωcm、ライフタイムが2〜500μ秒で、太陽光発電用シリコンウェーハの製造に使用されることを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
  6. 請求項5に記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、前記シリコン種棒として、請求項2記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料からなる多結晶シリコンを使用することを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
  7. 請求項5に記載の太陽発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、前記シリコン種棒として請求項3に記載の太陽発電用多結晶シリコン原料からなる単結晶シリコン又は多結晶シリコンを使用することを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
  8. 請求項5乃至7の内のいずれか一つに記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、前記原料シランガスは、トリクロロシランまたはモノシランで、前記シラン中のボロン濃度が10ppb以上、1,000ppb好ましくは500ppb以下であることを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
  9. 請求項5乃至8の内のいずれか一つに記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法で得られた多結晶シリコンにドーピング剤を添加せずに結晶化し、次いでスライスして、ウェーハを製造することを特徴とする太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法。
  10. 請求項9に記載の太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法において、結晶化方法がCZ法またはFZ法で得られた単結晶シリコンであるか、またはキャスティング法で得られた多結晶シリコンであることを特徴とする太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法。
  11. 請求項9又は10に記載の太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法において、前記太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法によって得られた単結晶または多結晶ウェーハの導電型がp型またはn型、抵抗率が0.3〜10Ωcmであることを特徴とする太陽光発電用シリコンウェーハの製造方法。
  12. 請求項1乃至4のうちのいずれか一つに記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料を製造する方法であって、高温下密閉した反応炉中の灼熱したシリコン種棒上に原料シランガスを供給し、熱分解又は水素還元して得られる多結晶シリコンを製造するに際し、加熱方式を内部加熱方式とし、加熱源として再結晶温度が1100℃以上の金属又は合金であるか又は高純度グラファイト製のものを使用し、前記シリコン種棒は請求項1乃至4のうちのいずれかの太陽光発電用多結晶シリコン原料を用いることを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
  13. 請求項12に記載の太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法において、前記加熱源を原料シランガスを供給する前に、900℃以下に冷却した後に、前記原料シランガスを供給することを特徴とする太陽光発電用多結晶シリコン原料の製造方法。
JP2005072683A 2004-09-16 2005-03-15 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ Expired - Fee Related JP4328303B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005072683A JP4328303B2 (ja) 2004-09-16 2005-03-15 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ
US11/226,656 US20060249200A1 (en) 2004-09-16 2005-09-15 Polycrystalline silicon material for solar power generation and silicon wafer for solar power generation
DE102005044328A DE102005044328A1 (de) 2004-09-16 2005-09-16 Polykristallines Siliziummaterial für die solare Stromerzeugung und Siliziumhalbleiterscheiben für die solare Stromerzeugung

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004269274 2004-09-16
JP2005072683A JP4328303B2 (ja) 2004-09-16 2005-03-15 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006111519A JP2006111519A (ja) 2006-04-27
JP4328303B2 true JP4328303B2 (ja) 2009-09-09

Family

ID=36001805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005072683A Expired - Fee Related JP4328303B2 (ja) 2004-09-16 2005-03-15 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20060249200A1 (ja)
JP (1) JP4328303B2 (ja)
DE (1) DE102005044328A1 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NO333757B1 (no) * 2006-12-04 2013-09-09 Elkem Solar As Solceller
DE102007023041A1 (de) * 2007-05-16 2008-11-20 Wacker Chemie Ag Polykristalliner Siliciumstab für das Zonenziehen und ein Verfahren zu dessen Herstellung
ES2331283B1 (es) * 2008-06-25 2010-10-05 Centro De Tecnologia Del Silicio Solar, S.L. (Centsil) Reactor de deposito de silicio de gran pureza para aplicaciones fotovoltaicas.
WO2010108065A1 (en) * 2009-03-19 2010-09-23 Ae Polysilicon Corporation Silicide - coated metal surfaces and methods of utilizing same
US8425855B2 (en) * 2009-04-20 2013-04-23 Robert Froehlich Reactor with silicide-coated metal surfaces
CA2759449A1 (en) * 2009-04-20 2010-10-28 Ae Polysilicon Corporation Processes and an apparatus for manufacturing high purity polysilicon
TWI454309B (zh) * 2009-04-20 2014-10-01 Jiangsu Zhongneng Polysilicon Technology Dev Co Ltd 用於將反應排出氣體冷卻之方法及系統
JP5681402B2 (ja) * 2010-07-09 2015-03-11 東京応化工業株式会社 拡散剤組成物および不純物拡散層の形成方法
JP2013103874A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Yutaka Kamaike シリコンおよび製造方法
DE102011089479A1 (de) 2011-12-21 2013-06-27 Wacker Chemie Ag Polykristallines Silicium
DE102012008640A1 (de) * 2012-05-02 2013-11-07 Heraeus Noblelight Gmbh Verfahren zur Herstellung eines optischen Moduls mit einer Polymeroptik
JP2014148455A (ja) * 2013-01-30 2014-08-21 Yutaka Kamaike シリコン結晶の製造方法
DE102013103495A1 (de) * 2013-04-08 2014-10-09 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Verfahren zum Herstellen eines Siliziumsubstrates für die Solarzellenfertigung
CN104928761B (zh) * 2014-03-19 2018-02-23 新特能源股份有限公司 一种硅片母合金的制备方法
JP6200857B2 (ja) * 2014-06-03 2017-09-20 信越化学工業株式会社 多結晶シリコンロッドの製造方法、多結晶シリコンロッド、および、多結晶シリコン塊
JP2017039634A (ja) * 2015-08-18 2017-02-23 蒲池 豊 シリコン結晶の製造方法
JP6734150B2 (ja) * 2015-08-26 2020-08-05 中美▲せき▼晶製品股▲ふん▼有限公司 多結晶シリコン柱
JP6454248B2 (ja) * 2015-09-14 2019-01-16 信越化学工業株式会社 多結晶シリコン棒

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6077115A (ja) * 1983-09-30 1985-05-01 Sumitomo Metal Ind Ltd 高純度シリコンの製造方法およびその装置
US4921026A (en) * 1988-06-01 1990-05-01 Union Carbide Chemicals And Plastics Company Inc. Polycrystalline silicon capable of yielding long lifetime single crystalline silicon
JPH0244021A (ja) * 1988-07-07 1990-02-14 Hoxan Corp 多結晶シリコンシートの製造方法
EP1099256A2 (en) * 1998-07-02 2001-05-16 Astropower Silicon thin-film, integrated solar cell, module, and methods of manufacturing the same
JP3734009B2 (ja) * 1999-06-17 2006-01-11 信越化学工業株式会社 クロロシラン類中のボロン化合物の分離方法及びクロロシラン類蒸発用組成物
JP3855082B2 (ja) * 2002-10-07 2006-12-06 国立大学法人東京農工大学 多結晶シリコンの作製方法、多結晶シリコン、及び太陽電池
JP2004140120A (ja) * 2002-10-16 2004-05-13 Canon Inc 多結晶シリコン基板
US7732012B2 (en) * 2004-06-22 2010-06-08 Shin-Etsu Film Co., Ltd Method for manufacturing polycrystalline silicon, and polycrystalline silicon for solar cells manufactured by the method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006111519A (ja) 2006-04-27
DE102005044328A1 (de) 2006-03-23
US20060249200A1 (en) 2006-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4328303B2 (ja) 太陽光発電用多結晶シリコン原料および太陽光発電用シリコンウェーハ
US7732012B2 (en) Method for manufacturing polycrystalline silicon, and polycrystalline silicon for solar cells manufactured by the method
US7939173B2 (en) Polycrystalline silicon rod for zone reflecting and a process for the production thereof
CN101460398A (zh) 通过闭合环路方法生产硅
EP2322477A1 (en) High-purity crystalline silicon, high-purity silicon tetrachloride, and processes for producing same
JPH02111613A (ja) 寿命の長い単結晶シリコンを生成可能な多結晶シリコン
CA2824088C (en) Process for deposition of polycrystalline silicon
CA2726003C (en) Halide-containing silicon, method for producing the same, and use of the same
KR101074304B1 (ko) 금속 실리콘과 그 제조 방법
Dietl et al. “Solar” silicon
JP2004035382A (ja) 多結晶シリコンの製造方法
JP5875744B1 (ja) シリコン単結晶の製造方法
EP3683015A1 (en) Polycrystalline silicon bar, polycrystalline silicon rod, and manufacturing method thereof
JP6870085B2 (ja) 多結晶シリコンの製造方法
EP3578513B1 (en) Polycrystalline silicon rod
JPS59121109A (ja) 高純度シリコンの製造方法
JP3864693B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
JP2007217262A (ja) シリコン製造装置
JP2015113252A (ja) 亜鉛還元法による多結晶シリコンの製造に用いられる反応容器
US20130206056A1 (en) Methods of producing crystalline semiconductor materials
JP2512340B2 (ja) チョクラルスキ―法によるシリコン単結晶の製造方法
CN112410872A (zh) 多晶硅材料及其制备方法
JPWO2013080575A1 (ja) 高純度シリコンの製造方法および高純度シリコン
JP2011121799A (ja) 多結晶シリコンの製造方法及び多結晶シリコン製造用の反応炉
JP2013071881A (ja) 多結晶シリコンの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060308

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090408

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090417

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090520

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090612

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees