JP4322684B2 - 質量分析法のための渦流大気圧化学的イオン化源 - Google Patents
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Description
1つの実施形態における気体導管は、気体出口で終わるらせん路を含む。らせん路は様々な方法で形成させることができ、様々な例が下記に記載される。この実施形態は、らせん路がサンプル導管をその長手方向に沿う軸の周りを回るような構造にすることができる。より詳細には下記に記載される例示的な実施形態において、らせん路は、サンプル導管のこの長手方向に沿う軸の周りに対称的に、または実質的に対称的に配置されている。他の実施形態では、気体導管は、チャンバー内へのそれぞれの気体出口でそれぞれが終わる複数のらせん路を含む。
本明細書中に記載される実施形態のいずれかによれば、イオン源は、気化チャンバーの軸方向に沿った温度勾配を確立する、チャンバーと熱的に接触して配置された加熱装置を含むことができる。より多くの熱エネルギーが、より多くの熱が気化のために必要とされるチャンバーの上流領域でサンプルに移され、より少ないエネルギーが、より少ないエネルギーが必要とされる下流領域において移される。これは、気化が下流領域では完全または実質的に完全であるからである。従って、上流端と、上流端から軸方向に間隔を置いて配置された下流端とを含む加熱装置の場合、この加熱装置によって提供される熱エネルギー密度は、上流端において実質的に最大であり、下流端での実質的な最少に向かって徐々に低下する。
また、アーチ状の気体導管は、それぞれの気体出口で終わる複数のアーチ状通路を含むことができ、この場合、各気体出口は気化チャンバーと連絡している。各アーチ状通路により、そのそれぞれの気体出口を通って気化チャンバー内に導かれるそれぞれの気体流路が規定され、そして、各気体流路を流れる気体は中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含む。さらに、渦流形成区画は、アーチ状通路と流体的に連絡するマニホールド型構造またはプレナム型構造を含むことができる。
Claims (20)
- (a)中心軸を有するチャンバーと、
(b)前記チャンバーと連絡しているサンプル出口を含むサンプル導管と、
(c)前記サンプル導管から下流側に配置されたイオン化装置と、
(d)前記チャンバーと連絡している気体出口を含む気体導管であって、前記チャンバー内に導かれる気体流路を規定し、この気体流路を流れる気体が前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含むように構成された気体導管と
を含む、質量分析法において使用されるイオン源。 - 前記サンプル導管が、サンプル流路であって、このサンプル流路を流れるサンプルが前記チャンバーを通り抜ける下流方向で軸方向の速度成分を含むサンプル流路を規定し、かつ、前記気体流路は、この気体流路を流れる気体が前記チャンバーを通り抜ける下流方向で軸方向の速度成分を含むように構成されている、請求項1に記載のイオン源。
- 前記気体導管が前記気体出口で終わるらせん路を含む、請求項1に記載のイオン源。
- 前記らせん路が前記サンプル導管を、その長手方向に沿う軸の周りに巻いている、請求項3に記載のイオン源。
- 前記気体導管が、前記チャンバーと連絡している複数の気体出口を含み、かつ、前記チャンバー内に導かれる複数のそれぞれの気体流路を規定し、各気体流路が、それぞれの気体出口を通って導かれ、かつ各気体流路を流れる気体が前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含むように構成された、請求項1に記載のイオン源。
- 前記気体流路がそれぞれの前記気体出口で終わる複数のらせん路を含み、各らせん路が、前記サンプル導管を、その長手方向に沿う軸の周りに巻いている、請求項5に記載のイオン源。
- 前記チャンバーと連絡している前記サンプル出口に隣接し、かつその近くに配置された霧状化用流体出口を含む霧状化用流体導管を含む、請求項1に記載のイオン源。
- 前記チャンバーと熱的に接触して配置された加熱装置を含み、この加熱装置が上流端と、前記上流端から軸方向に間隔を置いた下流端とを含み、前記加熱装置によって提供される熱エネルギー密度が前記上流端において最大であり、前記下流端での最小に向かって徐々に減少している、請求項1に記載のイオン源。
- (a)中心軸を有する気化チャンバーと、
(b)前記チャンバーと連絡しているサンプル出口を含むサンプル導管であって、軸を備え、この軸に沿う長手形状を有するサンプル導管と、
(c)前記チャンバーと連絡している霧状化用気体出口を含む霧状化用気体導管であって、軸を備え、この軸に沿う長手形状を有し、前記サンプル導管の周りに同軸的に配置されている霧状化気体導管と、
(d)前記サンプル導管の周りのらせん路において、かつ前記サンプル導管の軸方向に沿って導かれる気化用気体導管であって、前記チャンバーと連絡している気化用気体出口を含む気化用気体導管であって、前記チャンバー内に導かれる気体流路を規定し、この気体流路を流れる気体が前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含むように構成された気化用気体導管と
を含む、質量分析法において使用されるイオン源。 - 前記霧状化用気体導管および前記サンプル導管が、前記チャンバーの前記中心軸と実質的に同一直線上にあるサンプル導入軸に沿って配置されている、請求項9に記載のイオン源。
- 前記霧状化用気体導管および前記サンプル導管が、前記チャンバーの前記中心軸から半径方向にずれているサンプル導入軸に沿って配置されている、請求項9に記載のイオン源。
- 前記霧状化用気体導管および前記サンプル導管が、前記チャンバーの前記中心軸に関して所定の角度で傾いているサンプル導入軸に沿って配置されている、請求項9に記載のイオン源。
- (a)中心軸を有する気化チャンバーと、
(b)前記気化チャンバーと連絡しているサンプル出口を含むサンプル導管と、
(c)前記気化チャンバーと流体的に連絡して配置されたイオン化区画と、
(d)前記気化チャンバーから上流側に配置されており、かつ、アーチ状の気体導管を含む渦流形成区画であって、前記アーチ状の気体導管は、前記気化チャンバーと連絡している気体出口を含み、前記アーチ状の気体導管により、前記気化チャンバー内に導かれる流路が規定され、この流路を流れる気体が前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含むように構成された渦流形成区画と
を含む、質量分析法において使用されるイオン源。 - 前記サンプル導管の一部が前記渦流形成区画を通って延び、前記アーチ状の気体導管は前記サンプル導管の前記一部の周りに沿って配置されている、請求項13に記載のイオン源。
- 前記気化チャンバーと流体的に連絡して前記渦流形成区画を通って延びる霧状化用気体導管を含む、請求項14に記載のイオン源。
- 前記アーチ状の気体導管がそれぞれの気体出口で終わる複数のアーチ状通路を含み、各気体出口は前記気化チャンバーと連絡しており、各アーチ状通路は、前記気化チャンバー内にそのそれぞれの気体出口を通って導かれるそれぞれの気体流路を規定し、各気体流路は、当該気体流路を流れる気体が前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向の速度成分を含むように構成されている、請求項13に記載のイオン源。
- 前記渦流形成区画が複数の前記アーチ状通路と流体的に連絡しているマニホールドを含む、請求項16に記載のイオン源。
- (a)チャンバーを提供する工程であって、このチャンバーが、その中心軸に関して半径方向に配置された壁によって規定され、入口端と、この入口端から軸方向に間隔が置かれた出口端とを有する工程と、
(b)サンプルを、前記入口端において前記チャンバー内に流す工程と、
(c)前記壁を加熱して、当該サンプルを気化させる工程と、
(d)気化用気体を前記チャンバー内に前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向に流して、当該サンプルを渦流の気体流に閉じ込め、当該サンプルを加熱された前記壁に向かって流し、それにより、当該サンプルを気化させる能力が高められる工程と、
(e)気化された当該サンプルを前記チャンバーから前記出口端より流出させる工程とを含む、質量分析法のための調製においてサンプルを気化させるための方法。 - 前記気化用気体を前記チャンバー内に前記中心軸の周りの周方向に関して接線方向に流す工程が、前記チャンバー内に進入する前に当該気化用気体をらせん路に沿って導く工程を含む、請求項18に記載の方法。
- 前記チャンバーの前記壁が前記チャンバーの前記入口端の近くにおいて最大値を有し、前記出口端の近くで最小値に低下する温度勾配に従って加熱される、請求項18に記載の方法。
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