JP4320593B2 - Sawデバイスと併用される圧力モニター - Google Patents

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Description

本発明はSAWデバイスと併用される圧力モニターに関する。
SAWデバイスと併用される圧力モニターは、例えば本出願人による英国特許願GB−A−2352814に開示されている。このSAWデバイスは、圧力感知部材の位置を指示する電気信号を発生するのに使用され、例えばダイアフラムであって基準圧を保有するチェンバーを可変圧の印加されたチェンバーから分離するのに使用される。本発明はこのタイプの改良された圧力モニターに関する。GB2235533は圧電センサーデバイスを開示しており、その中の表面弾性波デバイスが一体形成硬質集合体によってその周辺の周りで支持された可撓性ダイアフラム上に取り付けられている。例えば、印加圧力の応答によるダイアフラムの偏位が、圧電材料に変形を誘起し、これに対応する変化がSAWデバイスの特性振動数(周波数)に変化を生ぜしめる。従って、SAWデバイスの特性振動数におけるこれらの変化が、ダイアフラムの偏位の大きさとして、すなわち、これに印加された圧力として使用される。このデバイスは、SAWデバイスをダイアフラムに取り付けることによって利点を発揮し、デバイスは非常に感度がよくなる。しかし、ダイアフラムのエッジの締め付けに関する機械的エッジ効果が、SAWデバイスからの信号受信の実行を相当困難にする。さらに、温度の変化がSAWデバイスの特性振動数の変化をもたらし、デバイスの精度に影響を与えることになる。
英国特許願GB−A−2352814 英国特許第2235533号
本発明の第1の観点によれば、硬質フレームを有するベースと;ベースに固定されこのベースとともに実質的に流体密なチェンバーを規定するとともに、少なくとも一部が可撓性であり周辺の流体圧の変化に応答して偏位するダイアフラムを形成する単純支持蓋と;フレームのエッジから離れて設けられ、ダイアフラムの偏位をチェンバー内に配設された基板の変形可能な部分伝送する伝送手段と;を含む圧力モニターであって、
前記基板は、この変形可能な部分に取り付けられた第1表面弾性波(SAW)デバイスとチェンバー内で変形不能な基準基板部分に取り付けられた少なくとも第2SAWデバイスおよび第3SAWデバイスを有しており、
前記第2SAWデバイスの伝播方向は、前記第1および第3SAWデバイスの少なくとも一つの伝播方向に対してある角度で傾斜し、
前記変形可能な部分は、単一基板の第1領域によって形成され、前記基準基板部分前記単一基板の第2領域によって形成されており、
前記圧力モニター周辺域内の圧力の変化によって生じるダイアフラムの偏位が、前記変形可能な部分の変形をもたらし、前記基準基板部分を変形させない状態で、前記変形可能な部分に取り付けられたSAWデバイスによって前記変形可能な部分の変形を測定できることを特徴とする圧力モニターを提供する。
SAWデバイスが共振装置タイプであれば、SAWデバイスの偏位が、偏位によって発生された共振周波数の変化を測定することによって測定でき、また遅延ラインタイプであれば、SAWデバイスの偏位は偏位によって発生された遅延特性の変化を測定することによって測定できる。従って、モニターに印加されている圧力の変化はSAWデバイスの特性中の変化を観察することによって決定できる。
本発明の特に好ましい実施例において、SAWデバイスはフレームによって支持され、硬質フレームと蓋によって包囲されたチェンバーの長さに沿って延長している。従って、ダイアフラムとして作用する蓋の偏位が、SAWデバイスの曲がりを生ぜしめ、これがSAWデバイスの出力の変化となる。
異なる共振周波数を有する三つのSAW共振装置デバイスを設けることによって、SAWデバイスの一つの偏位によって発生された周波数変化を分析して、SAWデバイスの偏位による温度補償指示、従ってダイアフラムの変位を、SAWデバイスの温度指示と合わせることで得ることができる。三つのSAWデバイスは、共通基板の同じ側に配置するか、二つを共通基板の一方側に、他の一つを共通基板の対向側に配置することができる。別の方法として、二つのそれぞれの基板、すなわち、二つのSAWデバイスを(その同じ側に、またはそれぞれの対向側に)担う一つの基板と、一つのSAWデバイスを担うSAWデバイスを設けてもよい。一つを超える基板を設ける場合、一つのSAWデバイスが蓋のゆがみに起因する変形の影響を受け、他の二つのSAWデバイスが圧力と温度測定のための基準を提供する変形されない構成にしなければならない。非変形SAWデバイスの一つの方向付けは、明白な温度情報を提供するように他の非変形SAWデバイスの伝播方向に対して非ゼロ角度である。
本発明の好ましい実施例において、ダイアフラムの偏位をSAWデバイスに伝送するためにフレームのエッジから離れている手段が、蓋に設けられた一つまたはそれ以上の隆起を含んでおり、これがSAWデバイスの基板を押圧するがSAWデバイスに張力を印加することはない。一つまたはそれ以上の隆起は、蓋の材料に形成されたくぼみによるか、または蓋に固定された適切な部材によって設けることができる。
一実施例において、チェンバーは基準圧で気密シールされている。基準圧は、デバイスが作動するゾーン内に配備されたときに、デバイスを取り巻く圧力が基準圧よりも高く、ダイアフラムがベースの内側にゆがむとともにSAWデバイスの一つに力を加える結果となるように選択される。
好ましくは、ベースはセラミックまたは金属ベースであり、これに蓋が固定される。
本発明の一実施例において、単一側部SAWデバイスが裏側から押圧されるダイアフラム隆起を備えたベースによってうつ伏せに支持され取り付けられ、また第2基板が非ストレイン域に取り付けられるとともに二つの基準SAWデバイス(一つが圧力用に、またもう一つが温度用に)設けられている。本発明のさらなる実施例において、両側SAWデバイスが二つの隆起によって伝送された圧力を検出するために使用され、基準SAWデバイスが温度および圧力基準情報のためにチェンバー内の非ストレイン個所に取り付けられる。
一つのSAWデバイスが他の少なくとも一つに対して傾斜している少なくとも三つのSAWデバイスが、温度と圧力測定の両方を達成するために必要である。SAWデバイスの二つを、二つの基板の一方側上にそれぞれ取り付けることができ、またはそれらの二つを一つの基板の対向両側上に取り付けることもできる。二つの基板が設けられる場合、蓋は三つの刻み目を含んでいるのが好ましく、これによって二つの基板が各々共通リッジによって一つのエッジに沿って支持され、またそれぞれのリッジによって対向エッジに沿って支持されるようにしてもよい。基板は蓋に沿って並んで延長するようにするのが好ましい。
デバイスは、二つがストレイン状態に、また一つが非ストレイン状態になるように構成される。従って、二つのストレイン状態SAWデバイスは、一つが圧縮によって変形され、他の一つが蓋の偏位による張力によって変形される。SAWデバイスは共通基板の対向両側上に、または別々の基板上に配備される。別々の基板が使用される場合、一つのSAWデバイスが圧縮によって変形され、また他のSAWデバイスが張力によって同時に変形されるように構成されなければならない。
好ましくは、ダイアフラムとして作用する蓋は、例えば鉄、コバルト、ニッケル合金のような金属合金である。例えば、蓋はコヴァール(Kovar)である。ベースは金属合金(例えば、コヴァール)が好ましいが、例えばセラミック材料のような適切な材料でもよい。
硬質材料の最適曲げ張力は、その寸法および剛性だけでなく、事前存在欠陥の有無にも依存している。本発明のシステム内のSAWデバイスが作動中に曲げられたときに、曲げの外側にある面が、張力を受け、一方曲げの内側にある面が圧縮力を受ける。従って、張力下の面に存在する事前存在欠陥が、弱点域となり、曲げ下にある要素の欠陥の初期源となりそうである。従って、曲げ動作下の欠陥強度は、要素内の最大事前存在欠陥の大きさによって制限される。
慣例的に、平らなクォーツ要素が研磨とラッピング操作によって生成され、結果としてその表面上の多数の小さい欠陥を生じ、その大きさは研磨とラッピング処理の特性となる。従って、要素の圧縮面が研磨仕上げされ、金属をその上に溶着してSAWデバイスの種々の要素を形成することが容易になる。しかし、習慣的に、被張力面は次の二つの理由で仕上げされない。すなわち、第1に要素の両面を研磨するのに包含される超過費用は不必要であると考えられていたため、第2に、非研磨面がSAWデバイスの動作中、多量の波の反射を抑制し、これによってこのような反射に起因する寄生損失を低減すると考えられていたからである。
従って、SAWデバイスの曲げ強度は、要素の対向両面が磨かれ、表面の欠陥の数および大きさが低減されておれば、すなわち、金属が溶着されSAWデバイスの要素が形成されるとともに圧縮下で使用される間デバイスの曲げられる表面と、使用中のデバイスの曲げがその対向面との両者が張力を受ければ、前記第1および第2面が磨かれ、相当改善されることが分かった。
さらなる改善が、ウエハからデバイスをカッティングすることによって生じるストレスをなくすためにSAWデバイスのエッジを磨くことによって有利に達成される。
本発明のSAWデバイスは、従来の接着剤を使用することで正しい位置に接着することができるが、得られる接着剤の機械的特性がSAWデバイスの応答性および感度を低下させることが分かった。従って、その代わりに、金属化層をデバイスの基板の接着面上に施すことによって達成できるハンダ付けによってSAWデバイスを固定できる利点のあることが分かった。ハンダ付け処理は、トランスデューサのストレイン特性および熱特性の伝送を大きく改善、従ってSAWの精度と感度を改善する利点を有している。
金で形成された外層を有するマルチ金属コーティングで形成された金属化層を提供し、特にAuSn共有合金成分ハンダを使用して正しい位置にSAWをハンダ付けする利点が見つかった。
これは金属化層にうまく接着する利点を有し、特にマルチ金属コーティングが、その外側コーティングが金になるようにSAWの接着面に適用されれば、AuSnの高い剛性(68Gpa)および強度(275Mpaテンシル)が、優れたストレイン伝送媒体として作用させることができるために、測定されることが意図された構造要素のストレス・フィールドに特に効果的にSAWを結合する。
従来のポリマー裏打ちフォイル・ストレイン・ゲージとは異なり、単一クリスタル・クォーツが、剛性材料(80Gpa)であり、例えば、クォーツSAWデバイス内にスチールで形成された構造部材からストレインをうまく伝送するのに必要とされるストレイン・レベルは必然的に高い。結果的にMボンド610のような従来のストレイン・ゲージ接着剤が使用されれば、クリープがずっと低い濃度で現れることになる。これに反して、AuSnが使用されると、一般的に自動車への適用において、遭遇される125℃までの高い温度でクリープおよびヒステリシスはずっと低いレベルとなる。
本発明は、添付図面を参照して例としてのみ示したその好ましい実施例の次なる説明からよりよく理解できるであろう。
まず図1Aと1Bを参照して、硬質フレーム3Aと硬質ベース313を有するベース2からなる圧力モニター1を概略的に示している。フレームとベースが一緒になって浅い矩形状容器4を規定している。この容器4は、適切な材料で形成でき、また本発明の好ましい実施例は例えばコヴァール(Kovar)のような金属材料で形成される。容器4にはその開口端に、ダイアフラムとして作用する主要面5Aを有する蓋5が固定されている。この蓋は例えばコヴァールのような適切な材料で形成される。ベースを形成している材料およびダイアフラムとして作用する蓋を形成している材料は、ガスの不浸透性であるのが好ましく、また蓋とベース間のシールもガスの不浸透性であるのが好ましい。蓋とベース間のシールは、好便な手段によって形成することができる。蓋とベース両者が適切な金属合金であれば、これら両者間のシールはハンダ付け処理によって形成することができる。ダイアフラムとして作用する蓋5がベース4に固定されると、シールされたチェンバー6が蓋とベースによって規定される。チェンバー6内に保持された絶対圧力は、デバイスが感知する圧力条件を考慮して製造時点で決定される。例えば、デバイスが車両タイヤ内の圧力をモニターすることに意図があれば、一般的に2から10バールの圧力を有する範囲内で作動され、またこれらの状況下でチェンバー6内にシールされた圧力は、例えば20℃の温度で1バールである。別の方法として、真空がチェンバー6内にシールされ絶対圧力読みが提供される。
チェンバー6内に単一基板7が取り付けられ、この上に三つのSAWデバイスX,Y,Zが形成され、温度補償圧力および温度モニター出力が提供される。例えば、SAWデバイスは異なる共振周波数を有するSAW共振装置であり、それぞれのSAWデバイスの共振周波数における変化が存在する従来のSAWデバイス質問技術を使用することで決定できる。
この構成の利点は、SAWデバイスXおよびZが非ストレイン(緊張)を維持し、圧力がセンサーに印加されたときにSAWデバイスYのみがストレインを受ける。これがセンサー校正の処理および周波数測定の結果から圧力と温度の算出を相当簡略化する。
実際に、二つの共振周波数間の測定差、|fx−fz|は、温度のみで、圧力に依存せず、従って、温度値は|fx−fz|から直ちに求めることができる。両デバイスXおよびZが、同じ基板上に製造されるので、周波数差|fx−fz|はデバイスZの温度特性がデバイスXの温度特性と異なる場合にのみ温度に左右される。このような異なる温度特性を達成するために、デバイスZは図1Aに示したようにある一定角度でデバイスXに対して回転される。温度感度はこの回転角度に依存する。角度が10〜30°、特に16〜20°が特に優れた結果を達成することが分っている。例えば、18°の角度がST−Xカットのクォーツ基板に対して約2kHz℃―1の感度を示す。
圧力値は測定された周波数差|fx−fz|から割り出すことができる。普通、圧力に対する|fx−fz|の感度も温度に依存する。校正データからこの依存性を求めることおよび|fx−fz|から温度を算出することは、測定圧の完全な温度補償を非直線代数式を解く必要なしに達成することを可能にする。
基板7はベース2によって支持されており、都合上可撓性接着剤によってベースに固定してもよい。接着剤が基板を正しい位置に固定するのに使用されれば、接着剤の可撓性は、基板7が蓋5と一体形成されるかまたはこれに固定された突出部10によって作用を受けたときに基板7の両端部8,9が移動するように自由でなければならない。従って、両端部8,9は、中央部がダイアフラムの動作の結果として張力を受けたときにおいてさえも実質的に張力を受けることはない。
蓋5にはその主要面5Aの中央に、蓋の材料にプレスされた窪みによって形成された突出部10が設けられている。突出部10の位置は、図1Aに破線で示されている。この突出部10は基板の中央において下方向力(図1Bに示したように)を生ぜしめることができるが、両端部8,9には力を発生させることができない。
適切なアンテナが、SAWデバイスX,Y,Zの各々に対する励起信号を受信し、SAWデバイスの各々から応答信号を伝送するために設けられている。このアンテナは容器4の外部に配備され、この場合適切な電気的接続が容器4の材料を通って延長して設けられなければならない。別の方法として、アンテナを容器4の内面上のトラックとして、またはSAWデバイス自体によって占有されない基板の適切な域上に敷設することができる。
使用について説明すると、上述した圧力モニターは、モニターされるべき圧力のあるゾーン内に配置される。圧力モニターは感知されることを意図した圧力を考慮して、特にデバイスが感知する領域で優勢である圧力によってダイアフラムがベース3Bに向かって偏位するように、チェンバー6内にシールされた絶対圧力が選択される。ダイアフラムのこの偏位は、フレーム3Aのエッジ11,12間のみで、基板7の曲げを生ぜしめ、従って中央SAWデバイスYの共振周波数の変化となる。SAWデバイスの共振周波数は、公知の技術によって決定でき、モニター・デバイスを校正できる。
デバイスを取り巻くゾーン内で圧力に変化があれば、これがダイアフラムとして作用する蓋5の偏位となる。圧力の増大が、ダイアフラムをベース3Bに向かう偏位結果となり、また圧力の低下がダイアフラムをベース3Bから離れさせる偏位となる。いずれの変化も基板7を曲げる変化となり、中央SAWデバイスYの共振周波数の総合的変化となる。SAWデバイスの共振周波数の変化をモニターすることによって、表示は圧力の変化を提供することができる。例えば、デバイスは車両のタイヤ内に配備して、その車両タイヤ内の圧力損失の遠隔指示を提供することができる。
図1の実施例は、一つの基板7が設けられ、従ってSAWデバイスが一つの面のみに設けられることが特に望ましい。
注意しなければならないのは、本発明の上述の実施例は特に製造が簡単であり、また本質的に四つの要素、すなわち、ベース2、基板7(その関連するSAWデバイスを伴う)、蓋5および適切なアンテナ(不図示)を備えていることである。さらに、デバイスは三つの同様のSAWデバイスを使用して構成され、YおよびZデバイスの異なる特性はそれらの異なる方向付けによって達成される。要素は簡単、かつ、論理的進行による工場条件下で集合される。すなわち、アンテナがベース2上の適切なトラックとして敷設され、アンテナに接続され、最終的に蓋5がベースに固定されてユニットが完成される。簡単な集合技術が、車両タイヤ内の圧力をモニターするような比較的低いコストの適用例に使用されるべき大量生産ユニットに対して実質上実用的な利点を提供する。一度製造されると、ユニットは完全に自蔵され、単に正しい位置に固定することを必要とするだけである。ユニットを正しい位置に固定することは、工場環境内で半熟練または未熟練の労働者によって実行することができる。
図2の第2実施例において、二つの基板20,21が図1の単一基板7の代わりに設けられている。また、少なくとも二つのSAWデバイスが下方の非ストレイン基板21に設けられ、その一つのデバイスが第1実施例のように他方に関して傾斜されている。他の観点において、図2に示した実施例の動作中の要素が、図1の実施例の要素と実質的に同じである。図1の実施例の場合におけるのと同様に、基板20,21は可撓性接着剤によって正しい位置に好適に保持される。
第3実施例(図3)において、二つの基板30,31が設けられ、また二つのSAWデバイスが上方ストレイン基板30の両対向面上に設けられている。他の観点において、図3の実施例の作動要素は、図2の実施例の要素と同じであり、すなわち、圧力と温度の読みの両方が得られるように第3SAWデバイスが前記ストレイン・デバイスの少なくとも一つに対して傾斜角度で非ストレイン基板上に設けられている。
ここで図4を参照して、本発明のさらなる実施例を示す。図1〜3の実施例の場合におけるのと同様に、デバイスはセラミックまたは金属材料による容器4からなる。容器4は硬質フレーム3AとベースBからなる。容器の開口部は、ダイアフラムとして作用し気密シール・チェンバー6を規定する蓋5によって閉封されている。本実施例の場合において、ダイアフラム5の偏位の変化を検出するSAWデバイス基板40がダイアフラム自体に固定されている。この目的で、プレスされた刻み目42,43がダイアフラム内に設けられている。刻み目42,43は、基板4が例えばハンダ付けによって固定されたチェンバー6内でリッジを規定している。基板40は一つまたはそれ以上のSAWデバイス上に取り付けられている。さらなる基板41がチェンバー6の非ストレイン域上に取り付けられ、圧力と温度モニター能力を備えた少なくとも二つのさらなるSAWデバイスを担っている。
図4の実施例の場合において、ダイアフラムとして作用する蓋5に対して圧力変化によってもたらされる偏位は、直接的に基板40の変形となり、結果としてこれに取り付けられたSAWデバイスの共振周波数の変化をもたらす。SAWデバイスのためのアンテナは、いずれ好便な手段、例えば容器4の表面に設けられた導電性トラックまたは容器4を通る外部アンテナへの電気的な接続部によって提供できる。
図5Aと5Bは本発明のさらなる実施例を示し、三つのSAWデバイスX,Y,Zが単一基板50上に取り付けられている。基板はベース2にその一端のみで固定され片持ち梁を形成し、基板の長さに沿った一点でダイアフラム上で突起部10と係合されている。図5Aに示すように、SAWデバイスYの一つが、支持端と突起部10の係合点間で片持ち梁で基板上に取り付けられ、一方他の二つのデバイスX,Zが突起部10の係合点と片持ち梁の自由端間に取り付けられている。はじめに説明した実施例と同様に、第3SAWデバイスZは第2デバイスXに対して傾斜しており、差温度特性を達成する。
突出部による基板への荷重が、支持端と突出部の係合点間における基板の第1部分にストレインをもたらし、これによって第1SAWデバイス(Y)内に圧力応答を発生する。しかし、突出部10の係合点と基板の自由端間における基板の第2部分は、ストレインを受けず基準領域となり、すなわち、基板上に取り付けられた二つのSAWデバイスX,Zの特性の変化が温度変化のみの結果となる。
図6Aと6Bは、図5Aと5Bの実施例の変形を示し、その基板はここでもベース2にその一端で固定され、その中央部が支持部材61によって支持され、基板が二つの部分、すなわち、ベース取付部と第1SAWデバイスYの取り付けられた支持部61間の第1ビーム部と、支持部材61から張り出すとともに第2(X)と第3(Z)SAWデバイスの取り付けられた基板の部分によって形成された第2片持ち梁部に分割されている。これまでの実施例と同様に、第3デバイス(Z)は、図6Aに示したように第2(X)デバイスに対して傾斜されている。ダイアフラム上の突出部10は、変形可能基板を構成する基板のビームと係合するように位置付けされ、第1SAWデバイスYのストレインがダイアフラムの偏位時のみに生じる。支持部材61の存在が、片持ち梁部分をして突出部10に向けて上方向に偏位せしめられ基板と係合するが、非ストレインを維持して基準領域を提供する。他の観点において、図5と6の実施例の動作はこれまでに説明した実施例の動作と同様である。もちろん、図5と6の実施例の第2および第3SAWデバイスX,Zは図に示した位置のまわりに対向するようにして取り付けることもできる。
蓋を取り付ける前の本発明の第1実施例の概略図である。 蓋を取り付けた図1Aの線1B〜1Bから見た本発明の第1実施例の概略断面図である。 図1Aに対応する概略図であるが、本発明の第2実施例を示す図である。 蓋を取り付けた図2Aの線2B〜2Bから見た本発明の第2実施例の概略断面図である。 図1Aに対応する概略図であるが、本発明の第3実施例を示す図である。 蓋を取り付けた図3Aの線3B〜3Bから見た本発明の第3実施例の概略断面図である。 本発明の第4実施例を示す概略平面図である。 図4Aの線4B〜4Bから見た本発明の第4実施例の概略断面図である。 本発明の第5実施例を示す概略平面図である。 図5Aの線5B〜5Bから見た本発明の第5実施例の概略断面図である。 本発明の第6実施例を示す概略平面図である。 図6Aの線6B〜6Bから見た本発明の第6実施例の概略断面図である。

Claims (10)

  1. 硬質フレームを有するベースと
    ベースに固定されこのベースとともに実質的に流体密なチェンバーを規定するとともに、少なくとも一部が可撓性であり周辺の流体圧の変化に応答して偏位するダイアフラムを形成する単純支持蓋と、
    フレームのエッジから離れて設けられ、ダイアフラムの偏位をチェンバー内に配設された基板の変形可能な部分伝送する伝送手段と、を含む圧力モニターであって、
    前記基板は、この変形可能な部分に取り付けられた第1表面弾性波(SAW)デバイスとチェンバー内で変形不能な基準基板部分に取り付けられた少なくとも第2SAWデバイスおよび第3SAWデバイスを有しており、
    前記第2SAWデバイスの伝播方向は、前記第1および第3SAWデバイスの少なくとも一つの伝播方向に対してある角度で傾斜し、
    前記変形可能な部分は、単一基板の第1領域によって形成され、前記基準基板部分前記単一基板の第2領域によって形成されており、
    前記圧力モニター周辺域内の圧力の変化によって生じるダイアフラムの偏位が、前記変形可能な部分の変形をもたらし、前記基準基板部分を変形させない状態で、前記変形可能な部分に取り付けられたSAWデバイスによって前記変形可能な部分の変形を測定できることを特徴とする圧力モニター。
  2. 前記単一基板が、第1支持部材によってベース上に一端で支持されるとともに、第2支持部材によって、前記単一基板の長さ方向に沿ったある一点で部分的に支持されたビームの形状をなし、前記第1領域は、前記第1支持部材と前記第2支持部材とのの前記基板の部分によって形成され、前記第2領域は、前記第2支持部材を越えて突出する前記基板の部分によって形成され、前記伝送手段が前記第1領域と係合する請求項1に記載の圧力モニター。
  3. 前記第1SAWデバイスが、前記第3SAWデバイスの伝播方向と平行である伝播方向を有している請求項1または請求項2に記載の圧力モニター。
  4. 前記SAWデバイスの各々が、SAW共振装置である請求項1から3のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  5. 前記SAWデバイスの各々が、異なる共振周波数を有している請求項1から4のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  6. 前記第2SAWデバイスが、前記第3SAWデバイスに対して10−30°の範囲の角度で傾斜した伝播方向に向けられている請求項1から5のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  7. 前記第2SAWデバイスが、前記第3SAWデバイスに対して16−20°の範囲の角度で傾斜した伝播方向に向けられている請求項1から6のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  8. 前記第2SAWデバイスが、前記第3SAWデバイスに対して18°の角度で傾斜した伝播方向に向けられている請求項1から7のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  9. 全てのSAWデバイスが、単一基板の同じ側に配置されている請求項1から8のいずれか一項に記載の圧力モニター。
  10. 前記SAWデバイスが単一基板の両側に設けられている請求項1から8のいずれか一項に記載の圧力モニター。
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