JP4315010B2 - Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel - Google Patents

Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel Download PDF

Info

Publication number
JP4315010B2
JP4315010B2 JP2004035973A JP2004035973A JP4315010B2 JP 4315010 B2 JP4315010 B2 JP 4315010B2 JP 2004035973 A JP2004035973 A JP 2004035973A JP 2004035973 A JP2004035973 A JP 2004035973A JP 4315010 B2 JP4315010 B2 JP 4315010B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
weight
compound
spacer
ether
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004035973A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005227525A (en
Inventor
大吾 一戸
智子 岩渕
壽浩 西尾
徹 梶田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=34908355&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP4315010(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2004035973A priority Critical patent/JP4315010B2/en
Priority to CNB2005100051131A priority patent/CN100538518C/en
Priority to TW094103523A priority patent/TWI343510B/en
Priority to KR1020050011100A priority patent/KR100805598B1/en
Publication of JP2005227525A publication Critical patent/JP2005227525A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4315010B2 publication Critical patent/JP4315010B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/032Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
    • G03F7/033Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds, e.g. vinyl polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07DHETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D333/00Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom
    • C07D333/50Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom condensed with carbocyclic rings or ring systems
    • C07D333/72Benzo[c]thiophenes; Hydrogenated benzo[c]thiophenes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F20/00Homopolymers and copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride, ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F20/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms, Derivatives thereof
    • C08F20/10Esters
    • C08F20/34Esters containing nitrogen, e.g. N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/26Esters containing oxygen in addition to the carboxy oxygen
    • C08F220/32Esters containing oxygen in addition to the carboxy oxygen containing epoxy radicals
    • C08F220/325Esters containing oxygen in addition to the carboxy oxygen containing epoxy radicals containing glycidyl radical, e.g. glycidyl (meth)acrylate
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • G03F7/031Organic compounds not covered by group G03F7/029
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • G03F7/0397Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition the macromolecular compound having an alicyclic moiety in a side chain
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/075Silicon-containing compounds
    • G03F7/0755Non-macromolecular compounds containing Si-O, Si-C or Si-N bonds
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/075Silicon-containing compounds
    • G03F7/0757Macromolecular compounds containing Si-O, Si-C or Si-N bonds

Description

本発明は、感放射線性樹脂組成物、表示パネル用スペーサーおよび表示パネルに関わり、さらに詳しくは、液晶表示パネルやタッチパネルなどの表示パネルに用いられるスペーサーを形成するための材料として好適な感放射線性樹脂組成物、当該組成物から形成された表示パネル用スペーサー、および当該スペーサーを具備してなる表示パネルに関する。   The present invention relates to a radiation sensitive resin composition, a display panel spacer, and a display panel. More specifically, the present invention relates to a radiation sensitive material suitable as a material for forming a spacer used in a display panel such as a liquid crystal display panel or a touch panel. The present invention relates to a resin composition, a display panel spacer formed from the composition, and a display panel including the spacer.

液晶表示パネルには、従来から、2枚の基板間の間隔(セルギャップ)を一定に保つため、所定の粒径を有するガラスビーズ、プラスチックビーズ等のスペーサー粒子が使用されているが、これらスペーサー粒子は、ガラス基板などの透明基板上にランダムに散布されるため、画素形成領域にスペーサー粒子が存在すると、スペーサー粒子の写り込み現象を生じたり、入射光が散乱を受け、液晶パネルのコントラストが低下するという問題があった。
そこで、これらの問題を解決するために、スペーサーをフォトリソグラフィーにより形成する方法が採用されるようになってきている。この方法は、感光性樹脂組成物あるいは感放射線性樹脂組成物(以下、これらの組成物をまとめて「感放射線性樹脂組成物等」ともいう。)を基板上に塗布し、所定のマスクを介して紫外線等の放射線を露光したのち現像して、ドット状やストライプ状のスペーサーを形成するものであり、画素形成領域以外の所定の場所にのみスペーサーを形成することができるため、前述したような問題は基本的には解決される。
Conventionally, liquid crystal display panels use spacer particles such as glass beads and plastic beads having a predetermined particle size in order to keep the distance (cell gap) between two substrates constant. Since particles are randomly distributed on a transparent substrate such as a glass substrate, the presence of spacer particles in the pixel formation region may cause a phenomenon of spacer particle reflection or scattering of incident light, resulting in a contrast of the liquid crystal panel. There was a problem of lowering.
Therefore, in order to solve these problems, a method of forming a spacer by photolithography has been adopted. In this method, a photosensitive resin composition or a radiation-sensitive resin composition (hereinafter, these compositions are collectively referred to as “radiation-sensitive resin composition”) is applied onto a substrate, and a predetermined mask is applied. As described above, the film is exposed to radiation such as ultraviolet rays and then developed to form a dot-like or stripe-like spacer, and the spacer can be formed only in a predetermined place other than the pixel formation region. This problem is basically solved.

ところで、実際のスペーサー形成プロセス、例えばカラーフィルターなどに用いられる基板上にフォトリソグラフィーによりスペーサーを形成する場合には、プロキシミティー露光機を使用することが多い。このプロキシミティー露光の場合、マスクと感放射線性樹脂組成物等の被膜を形成した基板との間に一定のセルギャップを設けて露光しており、マスクどおりのパターンで露光されるのが理想的であるが、このセルギャップは空気や窒素で満たされており、マスクの開口部(透明部)を透過した放射線が該ギャップ部で拡散して広がるため、マスクパターンの設計サイズより広めに露光されるという問題があった。 そこで、このような問題を解決すべく、本出願人は既に、特許文献1に、感光性樹脂組成物の光重合開始剤として1,2−オクタンジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−ベンゾイルオキシム)を使用することにより、プロキシミティー露光によってもマスクパターンの設計サイズを忠実に再現でき、また強度、耐熱性等にも優れた表示パネル用スペーサーを形成できることを明らかにしている。   By the way, when a spacer is formed by photolithography on a substrate used in an actual spacer forming process, for example, a color filter, a proximity exposure machine is often used. In the case of this proximity exposure, exposure is performed with a certain cell gap between the mask and the substrate on which a film such as a radiation-sensitive resin composition is formed, and it is ideal that the exposure is performed in a pattern according to the mask. However, the cell gap is filled with air or nitrogen, and the radiation that has passed through the opening (transparent part) of the mask diffuses and spreads in the gap, so that it is exposed wider than the design size of the mask pattern. There was a problem that. Therefore, in order to solve such a problem, the present applicant has already disclosed Patent Document 1, 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio) phenyl] as a photopolymerization initiator of a photosensitive resin composition. It is clear that by using -2- (O-benzoyloxime), the design size of the mask pattern can be faithfully reproduced even by proximity exposure, and a display panel spacer excellent in strength, heat resistance, etc. can be formed. I have to.

特開2001−261761号公報JP 2001-261761 A

また、表示パネルの大型化に伴い、セルギャップをより正確に制御する必要があるが、スペーサー用の感放射線性樹脂組成物等から形成された被膜の基板との密着性が不十分であると、形成されたスペーサーが基板からずれてしまい、結果としてセルギャップを正確に保つことが不可能となる。また表示パネルでは、画素の高開口率化が進行しており、その結果スペーサーを配置できるブラックマトリックス領域の面積もだんだん小さくなってきている。したがって、スペーサーがある程度画素領域に入りこんでも画素の色調を損なわないためにも、スペーサーにはより高い透明性が求められている。
しかし、特許文献1記載のものも含め、スペーサーの形成に用いられる従来の感放射線性樹脂組成物等では、基板との密着性および透明性の面では依然として十分とはいえず、これらの特性も併せ備えた感放射線性樹脂組成物等の開発が強く望まれていた。
In addition, with the increase in the size of the display panel, it is necessary to control the cell gap more accurately, but the adhesion of the coating formed from the radiation-sensitive resin composition for the spacer and the like to the substrate is insufficient. The formed spacer is displaced from the substrate, and as a result, it is impossible to accurately maintain the cell gap. In the display panel, the aperture ratio of the pixels is increasing, and as a result, the area of the black matrix region where the spacer can be arranged is gradually decreasing. Therefore, the spacer is required to have higher transparency so that the color tone of the pixel is not impaired even if the spacer enters the pixel region to some extent.
However, conventional radiation-sensitive resin compositions and the like used for the formation of spacers, including those described in Patent Document 1, are still not sufficient in terms of adhesion to substrates and transparency, and these characteristics are also Development of the radiation sensitive resin composition etc. which were equipped together was strongly desired.

さらに近年、表示パネルの大面積化や生産性の向上などの観点から、マザーガラス基板の大型化が進んでいる。従来の基板サイズ(680×880mm程度)では、マスクサイズよりも基板サイズが小さいことから、一括露光方式で対応が可能であったが、大型基板(例えば、1,500×1,800mm程度)の場合、この基板サイズと同程度のマスクサイズを作製することはほぼ不可能であり、一括露光方式では対応が困難である。
そこで、大型基板に対応できる露光方式として、ステップ露光方式が提唱されている。しかし、ステップ露光方式では、一枚の基板毎に数回露光する必要があり、それぞれの露光時に位置合せやステップ移動に時間を要するため、一括露光方式の場合よりスループットが低減されるおそれがある。また、一括露光方式では3,000J/m2 程度の露光感度が許容されていたが、ステップ露光方式では露光感度を1,500J/m2 以下にすることが求められている。しかしながら、スペーサーの形成に用いられる従来の感放射線性樹脂組成物等では、1,500J/m2 以下の露光量で十分なスペーサー形状および膜厚を達成ことが困難であった。
Further, in recent years, the mother glass substrate has been increased in size from the viewpoint of increasing the area of the display panel and improving the productivity. With the conventional substrate size (about 680 × 880 mm), the substrate size is smaller than the mask size, so it was possible to cope with the collective exposure method, but for a large substrate (for example, about 1,500 × 1,800 mm) In this case, it is almost impossible to manufacture a mask size comparable to the substrate size, and it is difficult to cope with the batch exposure method.
Therefore, a step exposure method has been proposed as an exposure method that can handle a large substrate. However, in the step exposure method, it is necessary to expose several times for each substrate, and it takes time for alignment and step movement at the time of each exposure. Therefore, the throughput may be reduced as compared with the case of the batch exposure method. . In the batch exposure method, an exposure sensitivity of about 3,000 J / m 2 is allowed, but in the step exposure method, the exposure sensitivity is required to be 1,500 J / m 2 or less. However, it has been difficult to achieve a sufficient spacer shape and film thickness with an exposure dose of 1,500 J / m 2 or less in the conventional radiation-sensitive resin composition used for forming the spacer.

そこで、本発明の課題は、高感度でマスクパターンの設計サイズを忠実に再現でき、かつ基板との密着性に優れ、1,500J/m2 以下の露光量でも十分なスペーサー形状および膜厚を達成でき、また圧縮強度、ラビング耐性等にも優れた表示パネル用スペーサーを形成しうる感放射線性樹脂組成物を提供することにある。 Therefore, the problem of the present invention is that the design size of the mask pattern can be faithfully reproduced with high sensitivity, and the adhesion to the substrate is excellent, and a sufficient spacer shape and film thickness can be obtained even with an exposure amount of 1,500 J / m 2 or less. Another object of the present invention is to provide a radiation-sensitive resin composition that can be achieved and can form a display panel spacer excellent in compressive strength, rubbing resistance, and the like.

本発明は、第一に、
〔A〕(a1)エチレン性不飽和カルボン酸および/またはエチレン性不飽和カルボン酸無水物と(a2)エポキシ基含有エチレン性不飽和化合物と(a3)他のエチレン性不飽和化合物との共重合体、
〔B〕エチレン性不飽和結合を有する重合性化合物、並びに
〔C〕下記式(1)または式(2)で表される化合物を必須成分とする感放射線性重合開始剤
を含有することを特徴とする感放射線性樹脂組成物(以下、「感放射線性樹脂組成物(イ)」という。)、からなる。
The present invention, first,
[A] Copolymerization of (a1) ethylenically unsaturated carboxylic acid and / or ethylenically unsaturated carboxylic acid anhydride, (a2) epoxy group-containing ethylenically unsaturated compound, and (a3) other ethylenically unsaturated compound Coalescence,
[B] A polymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and [C] a radiation-sensitive polymerization initiator containing a compound represented by the following formula (1) or (2) as an essential component. The radiation-sensitive resin composition (hereinafter referred to as “radiation-sensitive resin composition (A)”).

Figure 0004315010
Figure 0004315010

Figure 0004315010
Figure 0004315010

〔式(1)および式(2)において、各R1 は相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基またはフェニル基を示し、各R2 は相互に独立に水素原子、炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基またはフェニル基を示し、各R3 は相互に独立に水素原子または炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示し、各R4 、各R5 および各R6 は相互に独立に水素原子または炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示す。但し、R1 、R2 、R3 、R4 、R5 およびR6 のアルキル基はそれぞれ、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルコキシル基、フェニル基およびハロゲン原子の群から選ばれる置換基で置換されてもよく、R1 およびR2 のフェニル基はそれぞれ、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルコキシル基、フェニル基およびハロゲン原子の群から選ばれる置換基で置換されてもよい。〕 [In the formulas (1) and (2), each R 1 independently represents a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or a phenyl group, and each R 2 is independent from each other. Represents a hydrogen atom, a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or a phenyl group, and each R 3 is independently a hydrogen atom or a linear or branched chain having 1 to 12 carbon atoms. Alternatively, it represents a cyclic alkyl group, and each R 4 , each R 5 and each R 6 independently represents a hydrogen atom or a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. However, the alkyl groups of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and R 6 are each a group of straight, branched or cyclic alkoxyl groups having 1 to 6 carbon atoms, phenyl groups and halogen atoms. And the phenyl groups of R 1 and R 2 are each a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, or a linear group having 1 to 6 carbon atoms. Further, it may be substituted with a substituent selected from the group consisting of a branched or cyclic alkoxyl group, a phenyl group and a halogen atom. ]

本発明は、第二に、前記感放射線性樹脂組成物から形成された表示パネル用スペーサー、からなる。   Secondly, the present invention comprises a display panel spacer formed from the radiation-sensitive resin composition.

本発明は、第三に、前記表示パネル用スペーサーを具備してなる表示パネル、からなる。   Thirdly, the present invention comprises a display panel provided with the display panel spacer.

以下、本発明について詳細に説明する。
感放射線性樹脂組成物(イ)
−共重合体〔A〕−
感放射線性樹脂組成物(イ)における〔A〕成分は、(a1)エチレン性不飽和カルボン酸および/またはエチレン性不飽和カルボン酸無水物(以下、「不飽和カルボン酸系化合物(a1)」という。)と(a2)エポキシ基含有エチレン性不飽和化合物(以下、「エポキシ基含有不飽和化合物(a2)」という。)と(a3)他のエチレン性不飽和化合物(以下、「他の不飽和化合物(a3)」という。)との共重合体(以下、「共重合体〔A〕」という。)からなる。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
Radiation sensitive resin composition (I)
-Copolymer [A]-
The component [A] in the radiation-sensitive resin composition (I) is (a1) an ethylenically unsaturated carboxylic acid and / or an ethylenically unsaturated carboxylic acid anhydride (hereinafter referred to as “unsaturated carboxylic acid compound (a1)”). And (a2) an epoxy group-containing ethylenically unsaturated compound (hereinafter referred to as “epoxy group-containing unsaturated compound (a2)”) and (a3) another ethylenically unsaturated compound (hereinafter referred to as “other unsaturated compounds”). And a copolymer (hereinafter referred to as “copolymer [A]”).

共重合体〔A〕を構成する各成分のうち、不飽和カルボン酸系化合物(a1)としては、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、コハク酸モノ(2−アクリロイロキシエチル)、コハク酸モノ(2−メタクリロイロキシエチル)、フタル酸モノ(2−アクリロイロキシエチル)、フタル酸モノ(2−メタクリロイロキシエチル)等のモノカルボン酸類;マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、メサコン酸、イタコン酸等のジカルボン酸類;前記ジカルボン酸の無水物類等を挙げることができる。
これらの不飽和カルボン酸系化合物(a1)のうち、共重合反応性、得られる共重合体〔A〕のアルカリ水溶液に対する溶解性および入手が容易である点から、アクリル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸等が好ましい。
共重合体〔A〕において、不飽和カルボン酸系化合物(a1)は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Among the components constituting the copolymer [A], examples of the unsaturated carboxylic acid compound (a1) include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, succinic acid mono (2-acryloyloxyethyl), and succinic acid. Monocarboxylic acids such as mono (2-methacryloyloxyethyl) acid, mono (2-acryloyloxyethyl) phthalate, mono (2-methacryloyloxyethyl) phthalate; maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, mesacone Examples thereof include dicarboxylic acids such as acid and itaconic acid; anhydrides of the dicarboxylic acid.
Of these unsaturated carboxylic acid compounds (a1), acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride are obtained from the viewpoints of copolymerization reactivity, solubility of the resulting copolymer [A] in an alkaline aqueous solution and easy availability. An acid or the like is preferable.
In copolymer [A], unsaturated carboxylic acid type compound (a1) can be used individually or in mixture of 2 or more types.

共重合体〔A〕において、不飽和カルボン酸系化合物(a1)に由来する繰り返し単位の含有率は、好ましくは5〜50重量%、さらに好ましくは10〜40重量%、特に好ましくは15〜30重量%である。この場合、不飽和カルボン酸系化合物(a1)に由来する繰り返し単位の含有率が5重量%未満であると、アルカリ水溶液に対する溶解性が低下する傾向があり、一方40重量%を超えると、得られる共重合体のアルカリ水溶液に対する溶解性が大きくなりすぎるおそれがある。   In the copolymer [A], the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid compound (a1) is preferably 5 to 50% by weight, more preferably 10 to 40% by weight, and particularly preferably 15 to 30%. % By weight. In this case, when the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid compound (a1) is less than 5% by weight, the solubility in an alkaline aqueous solution tends to decrease, and when it exceeds 40% by weight, There exists a possibility that the solubility with respect to the aqueous alkali solution of the copolymer obtained may become large too much.

また、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)としては、例えば、アクリル酸グリシジル、アクリル酸2−メチルグリシジル、アクリル酸3,4−エポキシブチル、アクリル酸6,7−エポキシヘプチル、アクリル酸3,4−エポキシシクロヘキシル、メタクリル酸グリシジル、メタクリル酸2−メチルグリシジル、メタクリル酸3,4−エポキシブチル、メタクリル酸6,7−エポキシヘプチル、メタクリル酸3,4−エポキシシクロヘキシル等の(メタ)アクリル酸エポキシアルキルエステル類;α−エチルアクリル酸グリシジル、α−エチルアクリル酸2−メチルグリシジル、α−エチルアクリル酸3,4−エポキシブチル、α−エチルアクリル酸6,7−エポキシヘプチル、α−エチルアクリル酸3,4−エポキシシクロヘキシル、α−n−プロピルアクリル酸グリシジル、α−n−ブチルアクリル酸グリシジル等のα−アルキルアクリル酸エポキシアルキルエステル類;o−ビニルベンジルグリシジルエーテル、m−ビニルベンジルグリシジルエーテル、p−ビニルベンジルグリシジルエーテル等の不飽和グリシジルエーテル類等を挙げることができる。   Examples of the epoxy group-containing unsaturated compound (a2) include glycidyl acrylate, 2-methylglycidyl acrylate, 3,4-epoxybutyl acrylate, 6,7-epoxyheptyl acrylate, and 3,4 acrylic acid. -Epoxycyclohexyl, glycidyl methacrylate, 2-methylglycidyl methacrylate, 3,4-epoxybutyl methacrylate, 6,7-epoxyheptyl methacrylate, 3,4-epoxycyclohexyl methacrylate, etc. Esters: α-ethyl acrylate glycidyl, α-ethyl acrylate 2-methylglycidyl, α-ethyl acrylate 3,4-epoxybutyl, α-ethyl acrylate 6,7-epoxyheptyl, α-ethyl acrylate 3 , 4-epoxycyclohexyl, α-n Α-alkylacrylic acid epoxyalkyl esters such as glycidyl propyl acrylate and glycidyl α-n-butyl acrylate; unsaturated glycidyl such as o-vinylbenzyl glycidyl ether, m-vinylbenzyl glycidyl ether, p-vinylbenzyl glycidyl ether Examples include ethers.

これらのエポキシ基含有不飽和化合物(a2)のうち、共重合反応性およびスペーサーの強度の点から、メタクリル酸グリシジル、メタクリル酸2−メチルグリシジル、メタクリル酸6,7−エポキシヘプチル、o−ビニルベンジルグリシジルエーテル、m−ビニルベンジルグリシジルエーテル、p−ビニルベンジルグリシジルエーテル等が好ましい。
共重合体〔A〕において、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Among these epoxy group-containing unsaturated compounds (a2), from the viewpoint of copolymerization reactivity and spacer strength, glycidyl methacrylate, 2-methylglycidyl methacrylate, 6,7-epoxyheptyl methacrylate, o-vinylbenzyl Glycidyl ether, m-vinylbenzyl glycidyl ether, p-vinylbenzyl glycidyl ether and the like are preferable.
In the copolymer [A], the epoxy group-containing unsaturated compound (a2) can be used alone or in admixture of two or more.

共重合体〔A〕において、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)に由来する繰り返し単位の含有率は、好ましくは10〜70重量%、さらに好ましくは20〜60重量%、特に好ましくは30〜50重量%である。この場合、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)に由来する繰返し単位の含有率が10重量%未満であると、得られるスペーサーの圧縮強度が低下する傾向があり、一方70重量%を超えると、得られる共重合体の保存安定性が低下する傾向がある。   In the copolymer [A], the content of the repeating unit derived from the epoxy group-containing unsaturated compound (a2) is preferably 10 to 70% by weight, more preferably 20 to 60% by weight, and particularly preferably 30 to 50%. % By weight. In this case, if the content of the repeating unit derived from the epoxy group-containing unsaturated compound (a2) is less than 10% by weight, the compressive strength of the resulting spacer tends to decrease, whereas if it exceeds 70% by weight, There is a tendency that the storage stability of the obtained copolymer is lowered.

さらに、他の不飽和単量体(a3)としては、例えば、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸n−プロピル、アクリル酸i−プロピル、アクリル酸n−ブチル、アクリル酸sec−ブチル、アクリル酸t−ブチル、アクリル酸シクロヘキシル、アクリル酸2−メチルシクロヘキシル、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸n−プロピル、メタクリル酸i−プロピル、メタクリル酸n−ブチル、メタクリル酸sec−ブチル、メタクリル酸t−ブチル、メタクリル酸シクロヘキシル、メタクリル酸2−メチルシクロヘキシル等の(メタ)アクリル酸アルキルエステル類;アクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル、アクリル酸2−(トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イルオキシ)エチル、アクリル酸イソボロニル、メタクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル、メタクリル酸2−(トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イルオキシ)エチル、メタクリル酸イソボロニル等の他の(メタ)アクリル酸脂環式エステル類;アクリル酸フェニル、アクリル酸ベンジル、メタクリル酸フェニル、メタクリル酸ベンジル等の(メタ)アクリル酸のアリールエステルあるいはアラルキルエステル類;アクリル酸2−ヒドロキシエチル、アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸2−ヒドロキシプロピル等の(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキルエステル類;テトラヒドロフリルアクリレート、テトラヒドロフルフリルアクリレート、(テトラヒドロフピラン−2−イル)メチルアクリレート、テトラヒドロフリルメタクリレート、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、(テトラヒドロフピラン−2−イル)メチルメタクリレート等の(メタ)アクリル酸の酸素原子を含む複素5員環エステルあるいは複素六員環エステル類;マレイン酸ジエチル、フマル酸ジエチル、イタコン酸ジエチル等の不飽和ジカルボン酸ジアルキルエステル類;スチレン、α−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−メトキシスチレン等のビニル芳香族化合物;1,3−ブタジエン、イソプレン、2,3−ジメチル−1,3−ブタジエン等の共役ジエン系化合物のほか、アクリロニトリル、メタクリロニトリル、アクリルアミド、メタクリルアミド、塩化ビニル、塩化ビニリデン、酢酸ビニル等を挙げることができる。 Furthermore, as other unsaturated monomer (a3), for example, methyl acrylate, ethyl acrylate, n-propyl acrylate, i-propyl acrylate, n-butyl acrylate, sec-butyl acrylate, acrylic T-butyl acid, cyclohexyl acrylate, 2-methylcyclohexyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-propyl methacrylate, i-propyl methacrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, methacrylic acid (Meth) acrylic acid alkyl esters such as t-butyl, cyclohexyl methacrylate, 2-methylcyclohexyl methacrylate; tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decane-8-yl acrylate, 2-acrylic acid 2- (tricyclo [5.2.1.0 2,6] decan-8-yloxy Ethyl, isobornyl acrylate, methacrylic acid tricyclo [5.2.1.0 2,6] decan-8-yl methacrylate, 2 (tricyclo [5.2.1.0 2,6] decan-8-yloxy ) Other (meth) acrylic acid alicyclic esters such as ethyl and isobornyl methacrylate; aryl or aralkyl esters of (meth) acrylic acid such as phenyl acrylate, benzyl acrylate, phenyl methacrylate and benzyl methacrylate (Meth) acrylic acid hydroxyalkyl esters such as 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate; tetrahydrofuryl acrylate, tetrahydrofurfuryl acrylate, ( Tetrahydrofupi N-2-yl) methyl acrylate, tetrahydrofuryl methacrylate, tetrahydrofurfuryl methacrylate, (tetrahydrofupyran-2-yl) methyl methacrylate and the like, 5-membered heterocyclic esters or 6-membered heterocycles containing oxygen atoms of (meth) acrylic acid Ring esters; unsaturated dicarboxylic acid dialkyl esters such as diethyl maleate, diethyl fumarate and diethyl itaconate; vinyl aromas such as styrene, α-methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene and p-methoxy styrene Group compounds: Conjugated diene compounds such as 1,3-butadiene, isoprene, 2,3-dimethyl-1,3-butadiene, acrylonitrile, methacrylonitrile, acrylamide, methacrylamide, vinyl chloride, vinylidene chloride, vinyl acetate And the like can be given.

これらの他の不飽和化合物(a3)のうち、共重合反応性および得られる共重合体〔A〕のアルカリ水溶液に対する溶解性の点から、アクリル酸2−メチルシクロヘキシル、メタクリル酸t−ブチル、メタクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、スチレン、p−メトキシスチレン、1,3−ブタジエン等が好ましい。
共重合体〔A〕において、他の不飽和化合物(a3)は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Of these other unsaturated compounds (a3), 2-methylcyclohexyl acrylate, t-butyl methacrylate, methacrylic acid, from the viewpoint of copolymerization reactivity and solubility of the resulting copolymer [A] in an aqueous alkali solution. Acid tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decan-8-yl, tetrahydrofurfuryl methacrylate, styrene, p-methoxystyrene, 1,3-butadiene and the like are preferable.
In the copolymer [A], the other unsaturated compounds (a3) can be used alone or in admixture of two or more.

共重合体〔A〕において、他の不飽和化合物(a3)に由来する繰り返し単位の含有率は、好ましくは10〜70重量%、さらに好ましくは20〜50重量%、特に好ましくは30〜50重量%である。この場合、他の不飽和化合物(a3)に由来する繰返し単位の含有率が10重量%未満であると、得られる共重合体の保存安定性が低下する傾向があり、一方70重量%を超えると、得られる共重合体のアルカリ水溶液に対する溶解性が低下する傾向がある。   In the copolymer [A], the content of the repeating unit derived from the other unsaturated compound (a3) is preferably 10 to 70% by weight, more preferably 20 to 50% by weight, and particularly preferably 30 to 50% by weight. %. In this case, if the content of the repeating unit derived from the other unsaturated compound (a3) is less than 10% by weight, the storage stability of the resulting copolymer tends to be lowered, whereas it exceeds 70% by weight. And there exists a tendency for the solubility with respect to the aqueous alkali solution of the copolymer obtained to fall.

共重合体〔A〕は、カルボキシル基および/またはカルボン酸無水物基とエポキシ基とを有しており、アルカリ水溶液に対して適度の溶解性を有するとともに、特別な硬化剤を併用しなくとも加熱により容易に硬化させることができるものであり、当該共重合体を含有する感放射線性樹脂組成物(イ)は、アルカリ水溶液からなる現像液による現像時に現像残りおよび膜減りを生じることなく、所定パターンのスペーサーを容易に形成することができる。   The copolymer [A] has a carboxyl group and / or a carboxylic anhydride group and an epoxy group, has an appropriate solubility in an alkaline aqueous solution, and does not require the use of a special curing agent. It can be easily cured by heating, and the radiation-sensitive resin composition (a) containing the copolymer does not cause development residue and film loss at the time of development with a developer composed of an alkaline aqueous solution. A spacer having a predetermined pattern can be easily formed.

共重合体〔A〕は、例えば、不飽和カルボン酸系化合物(a1)、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)および他の不飽和化合物(a3)を、適当な溶媒中、ラジカル重合開始剤の存在下で重合することにより製造することができる。
前記重合に用いられる溶媒としては、例えば、
メタノール、エタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、ベンジルアルコール、2−フェニルエタノール、3−フェニル−1−プロパノール等のアルコール類;
テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル類;
エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−プロピルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル等のエチレングリコールモノアルキルエーテル類;
エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−プロピルエーテルアセテート、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテルアセテート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
ジエチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のジエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
エチレングリコールモノメチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールモノエチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールモノ−n−プロピルエーテルプロピオネート、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテルプロピオネート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルプロピオネート類;
ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル等のジエチレングリコールアルキルエーテル類;
For example, the copolymer [A] is obtained by mixing an unsaturated carboxylic acid compound (a1), an epoxy group-containing unsaturated compound (a2), and another unsaturated compound (a3) with a radical polymerization initiator in a suitable solvent. It can be produced by polymerizing in the presence.
As the solvent used for the polymerization, for example,
Alcohols such as methanol, ethanol, n-propanol, i-propanol, benzyl alcohol, 2-phenylethanol, 3-phenyl-1-propanol;
Ethers such as tetrahydrofuran and dioxane;
Ethylene glycol monoalkyl ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol mono-n-propyl ether, ethylene glycol mono-n-butyl ether;
Ethylene glycol monoalkyl ether acetates such as ethylene glycol monomethyl ether acetate, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol mono-n-propyl ether acetate, ethylene glycol mono-n-butyl ether acetate;
Diethylene glycol monoalkyl ether acetates such as diethylene glycol monomethyl ether acetate and diethylene glycol monoethyl ether acetate;
Ethylene glycol monoalkyl ether propionates such as ethylene glycol monomethyl ether propionate, ethylene glycol monoethyl ether propionate, ethylene glycol mono-n-propyl ether propionate, ethylene glycol mono-n-butyl ether propionate ;
Diethylene glycol alkyl ethers such as diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol ethyl methyl ether;

プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテル、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
プロピレングリコールモノメチルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールモノエチルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテルプロピオネート等のプロピレングリコールモノアルキルエーテルプロピオネート類;
トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;
メチルエチルケトン、2−ペンタノン、3−ペンタノン、シクロヘキサノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン等のケトン類;
Propylene glycol monoalkyl ethers such as propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, propylene glycol mono-n-propyl ether, propylene glycol mono-n-butyl ether;
Propylene glycol monoalkyl ether acetates such as propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene glycol monoethyl ether acetate, propylene glycol mono-n-propyl ether acetate, propylene glycol mono-n-butyl ether acetate;
Propylene glycol monoalkyl ether propionate, propylene glycol monoethyl ether propionate, propylene glycol mono-n-propyl ether propionate, propylene glycol monoalkyl ether propionate such as propylene glycol mono-n-butyl ether propionate ;
Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene;
Ketones such as methyl ethyl ketone, 2-pentanone, 3-pentanone, cyclohexanone, 4-hydroxy-4-methyl-2-pentanone;

2−メトキシプロピオン酸メチル、2−メトキシプロピオン酸エチル、2−メトキシプロピオン酸n−プロピル、2−メトキシプロピオン酸n−ブチル、2−エトキシプロピオン酸メチル、2−エトキシプロピオン酸エチル、2−エトキシプロピオン酸n−プロピル、2−エトキシプロピオン酸n−ブチル、2−n−プロポキシプロピオン酸メチル、2−n−プロポキシプロピオン酸エチル、2−n−プロポキシプロピオン酸n−プロピル、2−n−プロポキシプロピオン酸n−ブチル、2−n−ブトキシプロピオン酸メチル、2−n−ブトキシプロピオン酸エチル、2−n−ブトキシプロピオン酸n−プロピル、2−n−ブトキシプロピオン酸n−ブチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸n−プロピル、3−メトキシプロピオン酸n−ブチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸n−プロピル、3−エトキシプロピオン酸n−ブチル、3−n−プロポキシプロピオン酸メチル、3−n−プロポキシプロピオン酸エチル、3−n−プロポキシプロピオン酸n−プロピル、3−n−プロポキシプロピオン酸n−ブチル、3−n−ブトキシプロピオン酸メチル、3−n−ブトキシプロピオン酸エチル、3−n−ブトキシプロピオン酸n−プロピル、3−n−ブトキシプロピオン酸n−ブチル等のアルコキシプロピオン酸アルキル類; Methyl 2-methoxypropionate, ethyl 2-methoxypropionate, n-propyl 2-methoxypropionate, n-butyl 2-methoxypropionate, methyl 2-ethoxypropionate, ethyl 2-ethoxypropionate, 2-ethoxypropion N-propyl acid, n-butyl 2-ethoxypropionate, methyl 2-n-propoxypropionate, ethyl 2-n-propoxypropionate, n-propyl 2-n-propoxypropionate, 2-n-propoxypropionic acid n-butyl, methyl 2-n-butoxypropionate, ethyl 2-n-butoxypropionate, n-propyl 2-n-butoxypropionate, n-butyl 2-n-butoxypropionate, methyl 3-methoxypropionate , Ethyl 3-methoxypropionate, 3-methoxy N-propyl propionate, n-butyl 3-methoxypropionate, methyl 3-ethoxypropionate, ethyl 3-ethoxypropionate, n-propyl 3-ethoxypropionate, n-butyl 3-ethoxypropionate, 3-n -Methyl propoxypropionate, ethyl 3-n-propoxypropionate, n-propyl 3-n-propoxypropionate, n-butyl 3-n-propoxypropionate, methyl 3-n-butoxypropionate, 3-n- Alkyl alkoxypropionates such as ethyl butoxypropionate, n-propyl 3-n-butoxypropionate, n-butyl 3-n-butoxypropionate;

酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸n−ブチル、ヒドロキシ酢酸メチル、ヒドロキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸n−プロピル、ヒドロキシ酢酸n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸n−ブチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸メチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、3−ヒドロキシプロピオン酸メチル、3−ヒドロキシプロピオン酸エチル、3−ヒドロキシプロピオン酸n−プロピル、3−ヒドロキシプロピオン酸n−ブチル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、メトキシ酢酸メチル、メトキシ酢酸エチル、メトキシ酢酸n−プロピル、メトキシ酢酸n−ブチル、エトキシ酢酸メチル、エトキシ酢酸エチル、エトキシ酢酸n−プロピル、エトキシ酢酸n−ブチル、n−プロポキシ酢酸メチル、n−プロポキシ酢酸エチル、n−プロポキシ酢酸n−プロピル、n−プロポキシ酢酸n−ブチル、n−ブトキシ酢酸メチル、n−ブトキシ酢酸エチル、n−ブトキシ酢酸n−プロピル、n−ブトキシ酢酸n−ブチル等の他のエステル類
等を挙げることができる。
Methyl acetate, ethyl acetate, n-propyl acetate, n-butyl acetate, methyl hydroxyacetate, ethyl hydroxyacetate, n-propyl hydroxyacetate, n-butyl hydroxyacetate, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-lactic acid Butyl, methyl 2-hydroxy-2-methylpropionate, ethyl 2-hydroxy-2-methylpropionate, methyl 3-hydroxypropionate, ethyl 3-hydroxypropionate, n-propyl 3-hydroxypropionate, 3-hydroxy N-butyl propionate, methyl 2-hydroxy-3-methylbutanoate, methyl methoxyacetate, ethyl methoxyacetate, n-propyl methoxyacetate, n-butyl methoxyacetate, methyl ethoxyacetate, ethyl ethoxyacetate, n-propyl ethoxyacetate, Ethoxyacetic acid n- Chill, n-propoxyacetate methyl, n-propoxyacetate ethyl, n-propoxyacetate n-propyl, n-propoxyacetate n-butyl, n-butoxyacetate methyl, n-butoxyacetate, n-butoxyacetate n-propyl, Other esters such as n-butoxyacetate n-butyl can be mentioned.

これらの溶媒のうち、ジエチレングリコールアルキルエーテル類、プロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、アルコキシプロピオン酸アルキル類等が好ましい。
前記溶媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Of these solvents, diethylene glycol alkyl ethers, propylene glycol monoalkyl ether acetates, alkyl alkoxypropionates and the like are preferable.
The said solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.

また、前記重合に用いられるラジカル重合開始剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビス−(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス−(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)、4,4’−アゾビス(4―シアノバレリアン酸)、ジメチル−2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオネート)、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)等のアゾ化合物;ベンゾイルペルオキシド、ラウロイルペルオキシド、t−ブチルペルオキシピバレート、1,1−ビス(t−ブチルペルオキシ)シクロヘキサン等の有機過酸化物;過酸化水素等を挙げることができる。ラジカル重合開始剤として過酸化物を用いる場合には、還元剤を併用してレドックス型開始剤としてもよい。
これらのラジカル重合開始剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
このようにして得られた共重合体〔A〕は、溶液のまま感放射線性樹脂組成物(イ)の調製に供しても、また溶液から分離して感放射線性樹脂組成物(イ)の調製に供してもよい。
The radical polymerization initiator used for the polymerization is not particularly limited, and examples thereof include 2,2′-azobisisobutyronitrile, 2,2′-azobis- (2,4-dimethylvalero). Nitrile), 2,2′-azobis- (4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile), 4,4′-azobis (4-cyanovaleric acid), dimethyl-2,2′-azobis (2-methyl) Azo compounds such as propionate) and 2,2′-azobis (4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile); benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, t-butylperoxypivalate, 1,1-bis (t- Examples thereof include organic peroxides such as butylperoxy) cyclohexane; hydrogen peroxide and the like. When a peroxide is used as the radical polymerization initiator, a redox initiator may be used in combination with a reducing agent.
These radical polymerization initiators can be used alone or in admixture of two or more.
The copolymer [A] thus obtained can be used in the preparation of the radiation-sensitive resin composition (a) as it is in the solution, or it can be separated from the solution and used in the radiation-sensitive resin composition (a). You may use for preparation.

共重合体〔A〕のゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)によるポリスチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」という。)は、通常、2,000〜100,000、好ましくは5,000〜50,000である。この場合、共重合体〔A〕のMwが2,000未満であると、得られる被膜の現像性や残膜率が低下したり、パターン形状や耐熱性が損なわれたりするおそれがあり、一方100,000を超えると、解像度が低下したり、パターン形状が損なわれたりするおそれがある。
本発明において、共重合体〔A〕は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
The polystyrene-converted weight average molecular weight (hereinafter referred to as “Mw”) of the copolymer [A] by gel permeation chromatography (GPC) is usually 2,000 to 100,000, preferably 5,000 to 50,000. It is. In this case, if the Mw of the copolymer [A] is less than 2,000, the developability and remaining film ratio of the resulting film may be reduced, or the pattern shape and heat resistance may be impaired. If it exceeds 100,000, the resolution may be lowered, or the pattern shape may be impaired.
In the present invention, the copolymer [A] can be used alone or in admixture of two or more.

−重合性化合物〔B〕−
感放射線性樹脂組成物(イ)における〔B〕成分は、エチレン性不飽和結合を有する重合性化合物(以下、「重合性化合物〔B〕」という。)
重合性化合物〔B〕としては、特に限定されるものではないが、単官能、2官能または3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類が、重合性が良好であり、得られるスペーサーの強度が向上する点から好ましい。
-Polymerizable compound [B]-
The component [B] in the radiation-sensitive resin composition (A) is a polymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond (hereinafter referred to as “polymerizable compound [B]”).
Although it does not specifically limit as polymeric compound [B], Monofunctional, bifunctional, or trifunctional or more (meth) acrylic acid ester has favorable polymerizability, and the intensity | strength of the spacer obtained is good. It is preferable from the viewpoint of improvement.

前記単官能(メタ)アクリル酸エステル類としては、例えば、アクリル酸2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアクリレート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルメタクリレート、アクリル酸イソボロニル、メタクリル酸イソボロニル、アクリル酸3−メトキシブチル、メタクリル酸3−メトキシブチル、フタル酸(2−アクリロイロキシエチル)(2−ヒドロキシプロピル)エステル、フタル酸(2−メタクリロイロキシエチル)(2−ヒドロキシプロピル)エステル等を挙げることができる。
また、単官能(メタ)アクリル酸エステル類の市販品としては、例えば、アロニックス−101、同−111、同−114(以上、東亜合成(株)製);KAYARAD TC−110S、同−120S(以上、日本化薬(株)製);ビスコート158、同2311(以上、大阪有機化学工業(株)製)等を挙げることができる。
Examples of the monofunctional (meth) acrylic acid esters include 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, diethylene glycol monoethyl ether acrylate, diethylene glycol monoethyl ether methacrylate, isobornyl acrylate, isobornyl methacrylate, and acrylic. 3-methoxybutyl acid, 3-methoxybutyl methacrylate, phthalic acid (2-acryloyloxyethyl) (2-hydroxypropyl) ester, phthalic acid (2-methacryloyloxyethyl) (2-hydroxypropyl) ester, etc. Can be mentioned.
Moreover, as a commercial item of monofunctional (meth) acrylic acid esters, for example, Aronix-101, ibid-111, ibid-114 (above, manufactured by Toagosei Co., Ltd.); KAYARAD TC-110S, ibid-120S As mentioned above, Nippon Kayaku Co., Ltd.); Biscoat 158, 2311 (above, Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) and the like can be mentioned.

前記2官能(メタ)アクリル酸エステル類としては、例えば、エチレングリコールジアクリレート、エチレングリコールジメタクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、テトラエチレングリコールジアクリレート、テトラエチレングリコールジメタクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート、1,9−ノナンジオールジアクリレート、1,9−ノナンジオールジメタクリレート、ビス(フェノキシエタノール)フルオレンジアクリレート、ビス(フェノキシエタノール)フルオレンジメタクリレート等を挙げることができる。
また、2官能(メタ)アクリル酸エステル類の市販品としては、例えば、アロニックス−210、同−240、同−6200(以上、東亜合成(株)製)、KAYARAD HDDA、同 HX−220、同 R−604(以上、日本化薬(株)製)、ビスコート260、同312、同335HP(以上、大阪有機化学工業(株)製)等を挙げることができる。
Examples of the bifunctional (meth) acrylic acid esters include ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol diacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, tetraethylene glycol diacrylate, tetraethylene glycol dimethacrylate, and 1,6-hexane. Examples include diol diacrylate, 1,6-hexanediol dimethacrylate, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,9-nonanediol dimethacrylate, bis (phenoxyethanol) full orange acrylate, bis (phenoxyethanol) full orange methacrylate, and the like. Can do.
Moreover, as a commercial item of bifunctional (meth) acrylic acid esters, for example, Aronix-210, -240, -6200 (above, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), KAYARAD HDDA, HX-220, R-604 (above, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), Biscoat 260, 312 and 335HP (above, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) and the like can be mentioned.

さらに、前記3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類としては、例えば、トリメチロールプロパントリアクリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ペンタエリスリトールテトラメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサメタクリレート、トリ(2−アクリロイロキシエチル)フォスフェート、トリ(2−メタクリロイロキシエチル)フォスフェートや、9官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類として、アルキレン鎖および脂環式構造を有し、かつ2個以上のイソシアネート基を含む化合物と、分子内に1個以上の水酸基を有する3官能、4官能または5官能の(メタ)アクリレート化合物とを反応させて得られるウレタンアクリレート系化合物等を挙げることができる。 また、3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類の市販品としては、例えば、アロニックスM−309、同−400、同−405、 同−450、同−7100、同−8030、同−8060、アロニックスTO−1450(以上、東亜合成(株)製)、KAYARAD TMPTA、同 DPHA、同 DPCA−20、同 DPCA−30、同 DPCA−60、同 DPCA−120(以上、日本化薬(株)製)、ビスコート295、同300、同360、同GPT、同3PA、同400(以上、大阪有機化学工業(株)製)や、ウレタンアクリレート系化合物を含有する市販品として、ニューフロンティア R−1150(第一工業製薬(株)製)、KAYARAD DPHA−40H(日本化薬(株)製)等を挙げることができる。   Further, the trifunctional or higher functional (meth) acrylic acid esters include, for example, trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, pentaerythritol tetramethacrylate. Dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, dipentaerythritol hexamethacrylate, tri (2-acryloyloxyethyl) phosphate, tri (2-methacryloyloxyethyl) phosphate, Nine or more functional (meth) acrylic acid esters with alkylene chain and alicyclic structure And a urethane acrylate compound obtained by reacting a compound containing two or more isocyanate groups with a trifunctional, tetrafunctional or pentafunctional (meth) acrylate compound having one or more hydroxyl groups in the molecule, etc. Can be mentioned. Moreover, as a commercial item of trifunctional or more (meth) acrylic acid esters, for example, Aronix M-309, -400, -405, -450, -7100, -8030, -8060, Aronix TO-1450 (above, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), KAYARAD TMPTA, DPHA, DPCA-20, DPCA-30, DPCA-60, DPCA-60, DPCA-120 (above, Nippon Kayaku Co., Ltd.) ), Biscoat 295, 300, 360, GPT, 3PA, 400 (above, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) and commercially available products containing urethane acrylate compounds such as New Frontier R-1150 ( Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.), KAYARAD DPHA-40H (Nippon Kayaku Co., Ltd.) and the like.

これらの単官能、2官能または3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類のうち、3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類がさらに好ましく、特に、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートおよびジペンタエリスリトールヘキサアクリレートが好ましい。
本発明において、重合性化合物〔B〕は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Among these monofunctional, bifunctional, or trifunctional or higher (meth) acrylic acid esters, trifunctional or higher functional (meth) acrylic acid esters are more preferable, and in particular, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, Pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate are preferred.
In this invention, polymeric compound [B] can be used individually or in mixture of 2 or more types.

感放射線性樹脂組成物(イ)において、重合性化合物〔B〕の使用量は、共重合体〔A〕100重量部に対して、好ましくは50〜140重量部、さらに好ましくは60〜120重量部である。この場合、重合性化合物〔B〕の使用量が50重量部未満では、アルカリ水溶液からなる現像液による現像時に現像残りが発生するおそれがあり、一方140重量部を超えると、得られるスペーサーの硬度が低下する傾向がある。   In the radiation sensitive resin composition (A), the amount of the polymerizable compound [B] used is preferably 50 to 140 parts by weight, more preferably 60 to 120 parts by weight, relative to 100 parts by weight of the copolymer [A]. Part. In this case, if the amount of the polymerizable compound [B] used is less than 50 parts by weight, there is a risk of developing residue during development with a developer composed of an alkaline aqueous solution, whereas if it exceeds 140 parts by weight, the hardness of the resulting spacer Tends to decrease.

−重合開始剤〔C〕−
感放射線性樹脂組成物(イ)における〔C〕成分は、前記式(1)または式(2)で表されるO−アシルオキシム型カルバゾール系化合物(以下、「カルバゾール系化合物(C1)」という。)を必須成分とし、可視光線、紫外線、遠紫外線、荷電粒子線、X線等の放射線による露光によって、重合性化合物〔B〕の重合を開始しうる活性種を発生する感放射線性重合開始剤(以下、「重合開始剤〔C〕」という。)からなる。
-Polymerization initiator [C]-
The component [C] in the radiation-sensitive resin composition (A) is an O-acyloxime-type carbazole compound (hereinafter referred to as “carbazole compound (C1)” represented by the above formula (1) or formula (2). .) Is an essential component, and radiation-sensitive polymerization initiation that generates active species capable of initiating polymerization of the polymerizable compound [B] upon exposure to radiation such as visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, charged particle beam, and X-ray (Hereinafter referred to as “polymerization initiator [C]”).

式(1)および式(2)において、R1 、R2 およびR3 の炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチ基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等を挙げることができる。 In formula (1) and formula (2), examples of the linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms of R 1 , R 2 and R 3 include, for example, a methyl group, an ethyl group, n- Propyl group, i-propyl group, n-butyl group, sec-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n- A decyl group, n-undecyl group, n-dodecyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, etc. can be mentioned.

また、R4 、R5 およびR6 の炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等を挙げることができる。 Examples of the linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms of R 4 , R 5 and R 6 include, for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, i-propyl group, n -Butyl group, sec-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group and the like can be mentioned.

1 、R2 、R3 、R4 、R5 およびR6 の各アルキル基に対する置換基、並びにR1 およびR2 の各フェニル基に対する置換基のうち、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルコキシル基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロポキシ基、n−ブトキシ基、t−ブトキシ基等を挙げることができ、ハロゲン原子としては、例えば、フッ素原子、塩素原子等を挙げることができる。
また、R1 およびR2 の各フェニル基に対する置換基のうち、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基等を挙げることができる。
これらの置換基は、各アルキル基および各フェニル基に1個以上あるいは1種以上存在することができる。
Of the substituents for the alkyl groups of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and R 6 , and the substituents for the phenyl groups of R 1 and R 2 , a straight chain having 1 to 6 carbon atoms Examples of the branched or cyclic alkoxyl group include a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an i-propoxy group, an n-butoxy group, and a t-butoxy group. As the halogen atom, For example, a fluorine atom, a chlorine atom, etc. can be mentioned.
Among the substituents for each phenyl group of R 1 and R 2 , examples of the linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, An i-propyl group, an n-butyl group, a t-butyl group, etc. can be mentioned.
One or more of these substituents may be present in each alkyl group and each phenyl group.

式(1)および式(2)において、R1 としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、フェニル基等が好ましく、R2 としては、水素原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基等が好ましく、R3 としては、水素原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基等が好ましく、さらにR4 、R5 およびR6 としては、水素原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基等が好ましい。 In Formula (1) and Formula (2), R 1 is preferably a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, a phenyl group or the like, and R 2 is a hydrogen atom , methyl group, ethyl group, n- propyl group, i- propyl, n- butyl, n- pentyl, n- hexyl, n- heptyl, preferably such as n- octyl group, a R 3 is A hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group and the like are preferable. Further, as R 4 , R 5 and R 6 , a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, n- A propyl group, i-propyl group, n-butyl group and the like are preferable.

好ましいカルバゾール系化合物(C1)としては、例えば、1−〔9−エチル−6−ベンゾイル−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−ノナン−1,2−ノナン−2−オキシム−O−ベンゾエート、1−〔9−エチル−6−ベンゾイル−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−ノナン−1,2−ノナン−2−オキシム−O−アセテート、1−〔9−エチル−6−ベンゾイル−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−ペンタン−1,2−ペンタン−2−オキシム−O−アセテート、1−〔9−エチル−6−ベンゾイル−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−オクタン−1−オンオキシム−O−アセテート、1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−ベンゾエート、1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−アセテート、1−〔9−エチル−6−(1,3,5−トリメチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−ベンゾエート、1−〔9−n−ブチル−6−(2−エチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−ベンゾエート等を挙げることができる。   Preferred carbazole compounds (C1) include, for example, 1- [9-ethyl-6-benzoyl-9. H. -Carbazol-3-yl] -nonane-1,2-nonane-2-oxime-O-benzoate, 1- [9-ethyl-6-benzoyl-9. H. -Carbazol-3-yl] -nonane-1,2-nonane-2-oxime-O-acetate, 1- [9-ethyl-6-benzoyl-9. H. -Carbazol-3-yl] -pentane-1,2-pentane-2-oxime-O-acetate, 1- [9-ethyl-6-benzoyl-9. H. -Carbazol-3-yl] -octane-1-one oxime-O-acetate, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-benzoate, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-acetate, 1- [9-ethyl-6- (1,3,5-trimethylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-benzoate, 1- [9-n-butyl-6- (2-ethylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-benzoate and the like.

これらのカルバゾール系化合物(C1)のうち、特に1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−アセテートが好ましい。
本発明において、カルバゾール系化合物(C1)は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Of these carbazole compounds (C1), 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-acetate is preferred.
In the present invention, the carbazole compound (C1) can be used alone or in admixture of two or more.

また、感光性樹脂組成物(イ)においては、カルバゾール系化合物(C1)と共に、他の感放射線性重合開始剤(以下、単に「他の重合開始剤」という。)を併用することもできる。
他の重合開始剤としては、O−アシルオキシム型化合物(以下、「他のO−アシルオキシム型重合開始剤」という。)が好ましい。
他のO−アシルオキシム型重合開始剤としては、例えば、1,2−オクタジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−ベンゾイルオキシム)、1,2−ブタンジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−ベンゾイルオキシム)、1,2−ブタンジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−アセチルオキシム)、1,2−オクタジオン−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−(O−ベンゾイルオキシム)、1,2−オクタジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−(4―メチルベンゾイルオキシム))等を挙げることができる。
これらの他のO−アシルオキシム型重合開始剤のうち、特に1,2−オクタジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−ベンゾイルオキシム)が好ましい。
前記他のO−アシルオキシム型重合開始剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
In the photosensitive resin composition (a), other radiation-sensitive polymerization initiator (hereinafter simply referred to as “other polymerization initiator”) can be used in combination with the carbazole compound (C1).
Other polymerization initiators are preferably O-acyloxime compounds (hereinafter referred to as “other O-acyloxime polymerization initiators”).
Examples of other O-acyloxime type polymerization initiators include 1,2-octadione-1- [4- (phenylthio) phenyl] -2- (O-benzoyloxime), 1,2-butanedione-1- [ 4- (phenylthio) phenyl] -2- (O-benzoyloxime), 1,2-butanedione-1- [4- (phenylthio) phenyl] -2- (O-acetyloxime), 1,2-octadione-1 -[4- (methylthio) phenyl] -2- (O-benzoyloxime), 1,2-octadion-1- [4- (phenylthio) phenyl] -2- (O- (4-methylbenzoyloxime)), etc. Can be mentioned.
Of these other O-acyloxime type polymerization initiators, 1,2-octadion-1- [4- (phenylthio) phenyl] -2- (O-benzoyloxime) is particularly preferable.
The other O-acyloxime type polymerization initiators can be used alone or in admixture of two or more.

本発明においては、重合開始剤〔C〕成分として、カルバゾール系化合物(C1)あるいはこれと他のO−アシルオキシム型重合開始剤とを用することにより、1,500J/m2 以下の露光量でも、高感度であり、かつ基板との密着性に優れた表示パネル用スペーサーを形成することができる。 In the present invention, the exposure amount of 1,500 J / m 2 or less is obtained by using the carbazole compound (C1) or this and another O-acyloxime type polymerization initiator as the polymerization initiator [C] component. However, a display panel spacer having high sensitivity and excellent adhesion to the substrate can be formed.

感放射線性樹脂組成物(イ)において、カルバゾール系化合物(C1)および他のO−アシルオキシム型重合開始剤の合計使用量は、重合性化合物〔B〕100重量部に対して、好ましくは5〜30重量部、さらに好ましくは5〜20重量部である。この場合、該合計使用量が5重量部未満では、アルカリ水溶液からなる現像液による現像時の残膜率が低下する傾向があり、一方30重量部を超えると、未露光部の該現像液に対する溶解性が低下する傾向がある。
また、カルバゾール系化合物(C1)と他のO−アシルオキシム型重合開始剤とを併用するときの他のO−アシルオキシム型重合開始剤の使用割合は、カルバゾール系化合物(C1)と他のO−アシルオキシム型重合開始剤との合計量に対して、好ましくは50重量%以下、さらに好ましくは1〜30重量%である。この場合、他のO−アシルオキシム型重合開始剤の使用割合が50重量%を超えると、得られるスペーサーのパターン形状が損なわれるおそれがある。
In the radiation sensitive resin composition (I), the total amount of the carbazole compound (C1) and the other O-acyloxime type polymerization initiator used is preferably 5 with respect to 100 parts by weight of the polymerizable compound [B]. -30 parts by weight, more preferably 5-20 parts by weight. In this case, if the total amount used is less than 5 parts by weight, the residual film ratio during development with a developer comprising an alkaline aqueous solution tends to decrease, whereas if it exceeds 30 parts by weight, the unexposed part with respect to the developer There is a tendency for solubility to decrease.
In addition, when the carbazole compound (C1) is used in combination with another O-acyloxime polymerization initiator, the proportion of the other O-acyloxime polymerization initiator used is the same as that of the carbazole compound (C1) and the other O-acyloxime polymerization initiator. -Preferably it is 50 weight% or less with respect to the total amount with an acyl oxime type polymerization initiator, More preferably, it is 1 to 30 weight%. In this case, if the proportion of other O-acyloxime polymerization initiator used exceeds 50% by weight, the pattern shape of the resulting spacer may be impaired.

さらに、他のO−アシルオキシム型重合開始剤以外の他の重合開始剤としては、例えば、ビイミダゾール系化合物、ベンゾイン系化合物、アセトフェノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、α−ジケトン系化合物、多核キノン系化合物、キサントン系化合物、ホスフィン系化合物、トリアジン系化合物等を挙げることができ、これらのうちアセトフェノン系化合物およびビイミダゾール系化合物が好ましい。   Furthermore, as other polymerization initiators other than O-acyloxime type polymerization initiators, for example, biimidazole compounds, benzoin compounds, acetophenone compounds, benzophenone compounds, α-diketone compounds, polynuclear quinone compounds A compound, a xanthone compound, a phosphine compound, a triazine compound and the like can be mentioned, and among these, an acetophenone compound and a biimidazole compound are preferable.

前記アセトフェノン系化合物としては、例えば、α−ヒドロキシケトン系化合物、α−アミノケトン系化合物等を挙げることができる。
前記α−ヒドロキシケトン系化合物としては、例えば、1−フェニル−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、1−(4−i−プロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル−(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等を挙げることができ、前記α−アミノケトン系化合物としては、例えば、2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルホリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタン−1−オン等を挙げることができる。
また、α−ヒドロキシケトン系化合物およびα−アミノケトン系化合物以外のアセトフェノン系化合物としては、例えば、2,2−ジメトキシアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン等を挙げることができる。
これらのアセトフェノン系化合物は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
本発明においては、他の重合開始剤としてアセトフェノン系化合物を用いることにより、感度、得られるスペーサーの形状や圧縮強度等をさらに改善することも可能となる。
Examples of the acetophenone compound include an α-hydroxyketone compound and an α-aminoketone compound.
Examples of the α-hydroxyketone compound include 1-phenyl-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1- (4-i-propylphenyl) -2-hydroxy-2-methylpropane-1 -One, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl- (2-hydroxy-2-propyl) ketone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone and the like. Examples of the α-aminoketone compound include 2- And methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butan-1-one, and the like. it can.
Examples of acetophenone compounds other than α-hydroxyketone compounds and α-aminoketone compounds include 2,2-dimethoxyacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, and the like. Can be mentioned.
These acetophenone compounds can be used alone or in admixture of two or more.
In the present invention, by using an acetophenone compound as another polymerization initiator, it is possible to further improve the sensitivity, the shape of the obtained spacer, the compressive strength, and the like.

前記ビイミダゾール系化合物としては、例えば、
2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラキス(4−エトキシカルボニルフェニル)−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2−ブロモフェニル)−4,4’,5,5’−テトラキス(4−エトキシカルボニルフェニル)−1,
2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4,6−トリクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,
2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2−ブロモフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジブロモフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4,6−トリブロモフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,
2’−ビイミダゾール等を挙げることができる。
Examples of the biimidazole compound include:
2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetrakis (4-ethoxycarbonylphenyl) -1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2-bromophenyl) ) -4,4 ′, 5,5′-tetrakis (4-ethoxycarbonylphenyl) -1,
2′-biimidazole, 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4- Dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4,6-trichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5 ′ -Tetraphenyl-1,
2'-biimidazole, 2,2'-bis (2-bromophenyl) -4,4 ', 5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4 -Dibromophenyl) -4,4 ', 5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4,6-tribromophenyl) -4,4', 5 , 5′-tetraphenyl-1,
2′-biimidazole and the like can be mentioned.

これらのビイミダゾール系化合物のうち、2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4,6−トリクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール等が好ましく、特に好ましくは2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾールである。
前記ビイミダゾール系化合物は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
本発明においては、他の重合開始剤としてビイミダゾール系化合物を用いることにより、感度、解像度、得られるスペーサーの基板との密着性等をさらに改善することも可能となる。
Among these biimidazole compounds, 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2 , 4-dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4,6-trichlorophenyl) -4,4 ′, 5 , 5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole and the like are preferable, and 2,2′-bis (2,4-dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1, 2'-biimidazole.
The biimidazole compounds can be used alone or in admixture of two or more.
In the present invention, by using a biimidazole compound as another polymerization initiator, it is possible to further improve sensitivity, resolution, adhesion of the resulting spacer to the substrate, and the like.

また、他の重合開始剤としてビイミダゾール系化合物を用いる場合、それを増感するため、ジアルキルアミノ基を有する芳香族系化合物(以下、「ジアルキルアミノ基含有増感剤」という。)を併用することができる。
ジアルキルアミノ基含有増感剤としては、例えば、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、p−ジメチルアミノ安息香酸エチル、p−ジエチルアミノ安息香酸エチル、p−ジメチルアミノ安息香酸i−アミル、p−ジエチルアミノ安息香酸i−アミル等を挙げることができる。
これらのジアルキルアミノ基含有増感剤のうち、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノンが好ましい。
前記ジアルキルアミノ基含有増感剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
ジアルキルアミノ基含有増感剤の使用量は、共重合体〔A〕100重量部に対して、好ましくは0.1〜50重量部、さらに好ましくは1〜20重量部である。この場合、ジアルキルアミノ基含有増感剤の使用量が0.1重量部未満では、得られるスペーサーの膜べりを生じたり、パターン形状が損なわれたりするおそれがあり、一方50重量部を超えると、スペーサーのパターン形状が損なわれるおそれがある。
Further, when a biimidazole compound is used as another polymerization initiator, an aromatic compound having a dialkylamino group (hereinafter referred to as “dialkylamino group-containing sensitizer”) is used in combination in order to sensitize it. be able to.
Examples of the dialkylamino group-containing sensitizer include 4,4′-bis (dimethylamino) benzophenone, 4,4′-bis (diethylamino) benzophenone, ethyl p-dimethylaminobenzoate, ethyl p-diethylaminobenzoate, Examples include i-amyl p-dimethylaminobenzoate and i-amyl p-diethylaminobenzoate.
Of these dialkylamino group-containing sensitizers, 4,4′-bis (diethylamino) benzophenone is preferred.
The dialkylamino group-containing sensitizer can be used alone or in admixture of two or more.
The amount of the dialkylamino group-containing sensitizer used is preferably 0.1 to 50 parts by weight, more preferably 1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the copolymer [A]. In this case, if the amount of dialkylamino group-containing sensitizer used is less than 0.1 parts by weight, the resulting spacer may be slipped or the pattern shape may be impaired. The pattern shape of the spacer may be damaged.

さらに、他の重合開始剤としてビイミダゾール系化合物とジアルキルアミノ基含有増感剤とを併用する場合、水素供与化合物としてチオール系化合物を添加することができる。ビイミダゾール系化合物はジアルキルアミノ基含有増感剤によって増感されて開裂し、イミダゾールラジカルを発生するが、このとき必ずしも高い重合開始能が発現されるとはいえず、得られるスペーサーが逆テーパ形状のような好ましくない形状となる場合が多い。この問題は、ビイミダゾール系化合物とジアルキルアミノ基含有増感剤とが共存する系に、チオール系化合物を添加することにより緩和することができる。即ち、イミダゾールラジカルにチオール系化合物から水素ラジカルが供与されることにより、イミダゾールラジカルが中性のイミダゾールに変換され、重合開始能の高い硫黄ラジカルを有する成分が発生する結果、スペーサーの形状がより好ましい順テーパ形状になるのである。   Furthermore, when a biimidazole compound and a dialkylamino group-containing sensitizer are used in combination as other polymerization initiators, a thiol compound can be added as a hydrogen donor compound. Biimidazole compounds are sensitized with a dialkylamino group-containing sensitizer and cleaved to generate imidazole radicals, but at this time, high polymerization initiating ability is not necessarily expressed, and the resulting spacer has a reverse taper shape. In many cases, such an unfavorable shape is obtained. This problem can be alleviated by adding a thiol compound to a system in which a biimidazole compound and a dialkylamino group-containing sensitizer coexist. That is, when a hydrogen radical is donated to the imidazole radical from a thiol compound, the imidazole radical is converted to a neutral imidazole, and as a result, a component having a sulfur radical having a high polymerization initiation ability is generated. It becomes a forward taper shape.

前記チオール系化合物としては、例えば、2−メルカプトベンゾチアゾール、2−メルカプトベンゾオキサゾール、2−メルカプトベンゾイミダゾール、2−メルカプト−5−メトキシベンゾチアゾール、2−メルカプト−5−メトキシベンゾイミダゾール等の芳香族化合物;3−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトプロピオン酸メチル、3−メルカプトプロピオン酸エチル、3−メルカプトプロピオン酸n−オクチルや、2官能以上の化合物として、3,6−ジオキサ−1,8−オクタンジチオール、ペンタエリストールテトラ(メルカプトアセテート)、ペンタエリストールテトラ(3−メルカプトプロピオネート)等の脂肪族化合物等を挙げることができる。
これらのチオール系化合物は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Examples of the thiol compound include aromatics such as 2-mercaptobenzothiazole, 2-mercaptobenzoxazole, 2-mercaptobenzimidazole, 2-mercapto-5-methoxybenzothiazole, 2-mercapto-5-methoxybenzimidazole. Compounds: 3-mercaptopropionic acid, methyl 3-mercaptopropionate, ethyl 3-mercaptopropionate, n-octyl 3-mercaptopropionate and 3,6-dioxa-1,8-octane as a bifunctional or higher compound Examples include aliphatic compounds such as dithiol, pentaerythritol tetra (mercaptoacetate), pentaerythritol tetra (3-mercaptopropionate), and the like.
These thiol compounds can be used alone or in admixture of two or more.

チオール系化合物の使用量は、カルバゾール系化合物(C1)100重量部に対して、好ましくは0.1〜50重量部、さらに好ましくは1〜20重量部である。この場合、チオール系化合物の使用量が0.1重量部未満では、得られるスペーサーの膜べりを生じたり、パターン形状が損なわれたりするおそれがあり、一方50重量部を超えると、スペーサーのパターン形状が損なわれるおそれがある。   The amount of the thiol compound used is preferably 0.1 to 50 parts by weight, more preferably 1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the carbazole compound (C1). In this case, if the amount of the thiol compound used is less than 0.1 parts by weight, the resulting spacer may be slipped or the pattern shape may be impaired. The shape may be damaged.

感放射線性樹脂組成物(イ)において、他の重合開始剤の使用割合は、全重合開始剤100重量部に対して、好ましくは100重量部以下、さらに好ましくは80重量部以下、特に好ましくは60重量部以下である。この場合、他の重合開始剤の使用割合が100重量部を超えると、本発明の所期の効果が損なわれるおそれがある。   In the radiation-sensitive resin composition (a), the use ratio of the other polymerization initiator is preferably 100 parts by weight or less, more preferably 80 parts by weight or less, particularly preferably 100 parts by weight of the total polymerization initiator. 60 parts by weight or less. In this case, when the proportion of other polymerization initiator used exceeds 100 parts by weight, the intended effect of the present invention may be impaired.

−添加剤−
感放射線性樹脂組成物(イ)には、必要に応じて、本発明の所期の効果を損なわない範囲内で、前記成分以外の添加剤、例えば、界面活性剤、接着助剤、保存安定剤、耐熱性向上剤等を配合することもできる。
前記界面活性剤は、塗布性を向上させるために使用される成分であり、好ましい界面活性剤としては、フッ素系界面活性剤およびシリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
-Additives-
In the radiation-sensitive resin composition (A), additives other than the above-mentioned components, for example, surfactants, adhesion assistants, storage stability, as long as they do not impair the intended effects of the present invention. An agent, a heat resistance improver, etc. can also be blended.
The said surfactant is a component used in order to improve applicability | paintability, As a preferable surfactant, a fluorochemical surfactant and a silicone type surfactant can be mentioned.

前記フッ素系界面活性剤としては、末端、主鎖および側鎖の少なくともいずれかの部位にフルオロアルキル基および/またはフルオロアルキレン基を有する化合物が好ましく、その例としては、1,1,2,2−テトラフロロ−n−オクチル(1,1,2,2−テトラフロロ−n−プロピル)エーテル、1,1,2,2−テトラフロロ−n−オクチル(n−ヘキシル)エーテル、オクタエチレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロ−n−ブチル)エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ−n−ペンチル)エーテル、オクタプロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロ−n−ブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ−n−ペンチル)エーテル、パーフロロ−n−ドデカンスルホン酸ナトリウム、1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフロロ−n−ドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ−n−デカンや、フルオロアルキルベンゼンスルホン酸ナトリウム類、フルオロアルキルホスホン酸ナトリウム類、フルオロアルキルカルボン酸ナトリウム類、フルオロアルキルポリオキシエチレンエーテル類、ジグリセリンテトラキス(フルオロアルキルポリオキシエチレンエーテル)類、フルオロアルキルアンモニウムヨージド類、フルオロアルキルベタイン類、フルオロアルキルポリオキシエチレンエーテル類、パーフルオロアルキルポリオキシエタノール類、パーフルオロアルキルアルコキシレート類、フッ素系アルキルエステル類等を挙げることができる。   The fluorine-based surfactant is preferably a compound having a fluoroalkyl group and / or a fluoroalkylene group in at least one of the terminal, main chain and side chain, and examples thereof include 1,1,2,2 -Tetrafluoro-n-octyl (1,1,2,2-tetrafluoro-n-propyl) ether, 1,1,2,2-tetrafluoro-n-octyl (n-hexyl) ether, octaethylene glycol di (1, 1,2,2-tetrafluoro-n-butyl) ether, hexaethylene glycol (1,1,2,2,3,3-hexafluoro-n-pentyl) ether, octapropylene glycol di (1,1,2,2) -Tetrafluoro-n-butyl) ether, hexapropylene glycol di (1,1,2,2,3,3-hexafluoro-n-pen L) Ether, sodium perfluoro-n-dodecanesulfonate, 1,1,2,2,8,8,9,9,10,10-decafluoro-n-dodecane, 1,1,2,2,3,3 -Hexafluoro-n-decane, sodium fluoroalkylbenzenesulfonates, sodium fluoroalkylphosphonates, sodium fluoroalkylcarboxylates, fluoroalkylpolyoxyethylene ethers, diglycerin tetrakis (fluoroalkylpolyoxyethylene ethers), Fluoroalkylammonium iodides, fluoroalkylbetaines, fluoroalkylpolyoxyethylene ethers, perfluoroalkylpolyoxyethanols, perfluoroalkylalkoxylates, fluorinated alkyl esters, etc. Can.

また、フッ素系界面活性剤の市販品としては、例えば、BM−1000、同−1100(以上、BM CHEMIE社製)、メガファックF142D、同172、同173、同183、同178、同191、同471、同476(以上、大日本インキ化学工業(株)製)、フロラードFC−170C、同−171、同−430、同−431(以上、住友スリーエム(株)製)、サーフロンS−112、同−113、同−131、同−141、同−145、同−382、サーフロンSC−101、同−102、同−103、同−104、同−105、同−106(以上、旭硝子(株)製)、エフトップEF301、同303、同352(以上、新秋田化成(株)製)、フタージェントFT−100、同−110、同−140A、同−150、同−250、同−251、フタージェントFTX−251、同−218、同−300、同−310、同−400S(以上、(株)ネオス製)等を挙げることができる。   Examples of commercially available fluorosurfactants include BM-1000, -1100 (above, manufactured by BM CHEMIE), MegaFuck F142D, 172, 173, 183, 178, 191, 471, 476 (above, manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), Florard FC-170C, -171, -430, -431 (above, manufactured by Sumitomo 3M), Surflon S-112 -113, -131, -141, -145, -382, Surflon SC-101, -102, -103, -104, -105, -106 (above, Asahi Glass ( Ftop EF301, 303, 352 (above, Shin-Akita Kasei Co., Ltd.), Footent FT-100, -110, -140A, -150, 250, the -251, Futargent FTX-251, the same -218, the -300, the -310, the -400S (or, Co. NEOS), and the like.

前記シリコーン系界面活性剤としては、例えば、トーレシリコーンDC3PA、同7PA、トーレシリコーンSH11PA、同21PA、同28PA、同29PA、同30PA、トーレシリコーンSH−190、同−193、トーレシリコーンSZ−6032、トーレシリコーンSF−8428、トーレシリコーンDC−57、同−190(以上、東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製)、TSF−4300、同−4440、同−4445、同−4446、同−4452、同−4460(以上、GE東芝シリコーン(株)製)等の商品名で市販されているものを挙げることができる。   Examples of the silicone-based surfactant include Torre Silicone DC3PA, 7PA, Torre Silicone SH11PA, 21PA, 28PA, 29PA, 30PA, Torresilicone SH-190, 193, Torresilicone SZ-6032, Torre Silicone SF-8428, Torre Silicone DC-57, Same -190 (above, manufactured by Toray Dow Corning Silicone Co., Ltd.), TSF-4300, Same 4440, Same 4445, Same 4446, Same 4442, Examples thereof include those commercially available under the trade name such as -4460 (manufactured by GE Toshiba Silicone Co., Ltd.).

さらに、前記以外の界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類;ポリオキシエチレンn−オクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンn−ノニルフェニルエーテル等のポリオキシエチレンアリールエーテル類;ポリオキシエチレンジラウレート、ポリオキシエチレンジステアレート等のポリオキシエチレンジアルキルエステル類等のノニオン系界面活性剤や、市販品として、KP341(信越化学工業(株)製)、ポリフローNo.57、同No.95(以上、共栄社化学(株)製)等を挙げることができる。   Furthermore, as surfactants other than the above, for example, polyoxyethylene alkyl ethers such as polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene oleyl ether; polyoxyethylene n-octylphenyl ether, polyoxy Polyoxyethylene aryl ethers such as ethylene n-nonylphenyl ether; nonionic surfactants such as polyoxyethylene dialkyl esters such as polyoxyethylene dilaurate and polyoxyethylene distearate, and commercially available products such as KP341 (Shin-Etsu) Chemical Industry Co., Ltd.), Polyflow No. 57, no. 95 (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.).

これらの界面活性剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
界面活性剤の配合量は、共重合体〔A〕100重量部に対して、好ましくは5重量部以下、さらに好ましくは2重量部以下である。この場合、界面活性剤の配合量が5重量部を超えると、塗布時に膜荒れを生じやすくなる傾向がある。
These surfactants can be used alone or in admixture of two or more.
The blending amount of the surfactant is preferably 5 parts by weight or less, and more preferably 2 parts by weight or less with respect to 100 parts by weight of the copolymer [A]. In this case, when the compounding amount of the surfactant exceeds 5 parts by weight, there is a tendency that film roughening is likely to occur during coating.

前記接着助剤は、基板との密着性をさらに向上させるために使用される成分であり、好ましい接着助剤としては、官能性シランカップリング剤を挙げることができる。
前記官能性シランカップリング剤としては、例えば、カルボキシル基、メタクリロイル基、ビニル基、イソシアネート基、エポキシ基等の反応性官能基を有するシランカップリング剤、より具体的には、トリメトキシシリル安息香酸、γ−メタクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−イソシアナートプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等を挙げることができる。
The adhesion aid is a component used for further improving the adhesion to the substrate, and a preferable adhesion aid may include a functional silane coupling agent.
Examples of the functional silane coupling agent include a silane coupling agent having a reactive functional group such as a carboxyl group, a methacryloyl group, a vinyl group, an isocyanate group, and an epoxy group, and more specifically, trimethoxysilylbenzoic acid. , Γ-methacryloyloxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-isocyanatopropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyl A trimethoxysilane etc. can be mentioned.

これらの接着助剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
接着助剤の配合量は、共重合体〔A〕100重量部に対して、好ましくは20重量部以下、さらに好ましくは10重量部以下である。この場合、接着助剤の配合量が20重量部を超えると、アルカリ水溶液からなる現像液による現像時に現像残りが生じやすくなる傾向がある。
These adhesion assistants can be used alone or in admixture of two or more.
The compounding amount of the adhesion assistant is preferably 20 parts by weight or less, more preferably 10 parts by weight or less with respect to 100 parts by weight of the copolymer [A]. In this case, when the blending amount of the adhesion assistant exceeds 20 parts by weight, there is a tendency that undeveloped development tends to occur during development with a developer composed of an alkaline aqueous solution.

前記保存安定剤としては、例えば、硫黄、キノン類、ヒドロキノン類、ポリオキシ化合物、アミン類、ニトロニトロソ化合物等、より具体的には、4−メトキシフェノール、N−ニトロソ−N−フェニルヒドロキシルアミンアルミニウム等を挙げることができる。
これらの保存安定剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
保存安定性の配合量は、共重合体〔A〕100重量部に対して、好ましくは3.0重量部以下、さらに好ましくは0.5重量部以下である。この場合、保存安定性の配合量が3.0重量部を超えと、感度が低下して、得られるスペーサーのパターン形状が損なわれるおそれがある。
Examples of the storage stabilizer include sulfur, quinones, hydroquinones, polyoxy compounds, amines, nitronitroso compounds, and more specifically, 4-methoxyphenol, N-nitroso-N-phenylhydroxylamine aluminum, and the like. Can be mentioned.
These storage stabilizers can be used alone or in admixture of two or more.
The amount of storage stability is preferably 3.0 parts by weight or less, more preferably 0.5 parts by weight or less with respect to 100 parts by weight of the copolymer [A]. In this case, when the storage stability compounding amount exceeds 3.0 parts by weight, the sensitivity is lowered, and the pattern shape of the obtained spacer may be impaired.

前記耐熱性向上剤としては、例えば、N−(アルコキシメチル)グリコールウリル化合物、N−(アルコキシメチル)メラミン化合物、2個以上のエポキシ基を有する化合物等を挙げることができる。
前記N−(アルコキシメチル)グリコールウリル化合物としては、例えば、N,N,N,N−テトラ(メトキシメチル)グリコールウリル、N,N,N,N−テトラ(エトキシメチル)グリコールウリル、N,N,N,N−テトラ(n−プロポキシメチル)グリコールウリル、N,N,N,N−テトラ(i−プロポキシメチル)グリコールウリル、N,N,N,N−テトラ(n−ブトキシメチル)グリコールウリル、N,N,N,N−テトラ(t−ブトキシメチル)グリコールウリル等を挙げることができ、これらのうちN,N,N,N−テトラ(メトキシメチル)グリコールウリルが好ましい。
Examples of the heat resistance improver include N- (alkoxymethyl) glycoluril compounds, N- (alkoxymethyl) melamine compounds, compounds having two or more epoxy groups, and the like.
Examples of the N- (alkoxymethyl) glycoluril compound include N, N, N, N-tetra (methoxymethyl) glycoluril, N, N, N, N-tetra (ethoxymethyl) glycoluril, N, N , N, N-tetra (n-propoxymethyl) glycoluril, N, N, N, N-tetra (i-propoxymethyl) glycoluril, N, N, N, N-tetra (n-butoxymethyl) glycoluril , N, N, N, N-tetra (t-butoxymethyl) glycoluril and the like, among which N, N, N, N-tetra (methoxymethyl) glycoluril is preferable.

前記N−(アルコキシメチル)メラミン化合物としては、例えば、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(メトキシメチル)メラミン、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(エトキシメチル)メラミン、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(n−プロポキシメチル)メラミン、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(i−プロポキシメチル)メラミン、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(n−ブトキシメチル)メラミン、N,N,N,N,N,N−ヘキサ(t−ブトキシメチル)メラミン等を挙げることができ、これらのうちN,N,N,N,N,N−ヘキサ(メトキシメチル)メラミンが好ましい。
また、N−(アルコキシメチル)メラミン化合物の市販品としては、例えば、ニカラックN−2702、ニカラックMW−30M(以上 三和ケミカル(株)製)等を挙げることができる。
Examples of the N- (alkoxymethyl) melamine compound include N, N, N, N, N, N-hexa (methoxymethyl) melamine, N, N, N, N, N, N-hexa (ethoxymethyl). Melamine, N, N, N, N, N, N-hexa (n-propoxymethyl) melamine, N, N, N, N, N, N-hexa (i-propoxymethyl) melamine, N, N, N, N, N, N-hexa (n-butoxymethyl) melamine, N, N, N, N, N, N-hexa (t-butoxymethyl) melamine and the like can be mentioned. Among these, N, N, N N, N, N-hexa (methoxymethyl) melamine is preferred.
Examples of commercially available N- (alkoxymethyl) melamine compounds include Nicarac N-2702, Nicalac MW-30M (manufactured by Sanwa Chemical Co., Ltd.), and the like.

前記2個以上のエポキシ基を有する化合物としては、例えば、エチレングリコールジグリシジルエーテル、ジエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、トリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、グリセリンジグリシジルエーテル、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル、ビスフェノールAジグリシジルエーテル等を挙げることができる。
また、2個以上のエポキシ基を有する化合物の市販品としては、例えば、エポライト40E、同100E、同200E、同70P、同200P、同400P、同1500NP、同80MF、同100MF、同1600、同3,002、同4000(以上 共栄社化学(株)製)等を挙げることができる。
これらの耐熱性向上剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Examples of the compound having two or more epoxy groups include ethylene glycol diglycidyl ether, diethylene glycol diglycidyl ether, polyethylene glycol diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether, tripropylene glycol diglycidyl ether, and polypropylene glycol diglycidyl ether. And neopentyl glycol diglycidyl ether, 1,6-hexanediol diglycidyl ether, glycerin diglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether, bisphenol A diglycidyl ether, and the like.
Examples of commercially available compounds having two or more epoxy groups include Epolite 40E, 100E, 200E, 70P, 200P, 400P, 1500NP, 80MF, 100MF, 1600, 3,002, 4000 (made by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.) and the like.
These heat resistance improvers can be used alone or in admixture of two or more.

組成物溶液
感放射線性樹脂組成物(イ)は、その使用に際して、通常、共重合体〔A〕、重合性化合物〔B〕、重合開始剤〔C〕等の構成成分を適当な溶剤を溶解して、組成物溶液として調製される。
前記組成物溶液の調製に使用される溶剤としては、感放射線性樹脂組成物(イ)を構成する各成分を均一に溶解し、各成分と反応せず、かつ適度の揮発性を有するものが用いられ、その例としては、共重合体〔A〕を製造する重合について例示した溶媒と同様のものを挙げることができる。
これらの溶剤のうち、各成分の溶解能、各成分との反応性および被膜形成の容易性の点から、アルコール類、エチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、ジエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、ジエチレングリコールアルキルエーテル類、プロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、アルコキシプロピオン酸アルキル類等が好ましく、特に、ベンジルアルコール、2−フェニルエタノール、3−フェニル−1−プロパノール、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート等が好ましい。
前記溶剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
Composition solution Radiation-sensitive resin composition (A) is usually dissolved in a suitable solvent in the constituent components such as copolymer [A], polymerizable compound [B], polymerization initiator [C]. Then, it is prepared as a composition solution.
Solvents used for the preparation of the composition solution include those that uniformly dissolve each component constituting the radiation-sensitive resin composition (A), do not react with each component, and have appropriate volatility. Examples thereof include the same solvents as those exemplified for the polymerization for producing the copolymer [A].
Among these solvents, alcohols, ethylene glycol monoalkyl ether acetates, diethylene glycol monoalkyl ether acetates, diethylene glycol alkyl ethers from the viewpoint of solubility of each component, reactivity with each component, and ease of film formation. , Propylene glycol monoalkyl ether acetates, alkyl alkoxypropionates and the like are preferable, and in particular, benzyl alcohol, 2-phenylethanol, 3-phenyl-1-propanol, ethylene glycol mono-n-butyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate , Diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol ethyl methyl ether, propylene glycol Monomethyl ether acetate, propylene glycol monoethyl ether acetate are preferred.
The said solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.

また、組成物溶液の調製に際しては、前記溶剤と共に、高沸点溶剤を併用することもできる。
前記高沸点溶剤としては、例えば、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジ−n−ヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、エチレングリコールモノフェニルエーテルアセテート等を挙げることができる。
これらの高沸点溶剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
このように調製された組成物溶液は、必要に応じて、孔径が例えば0.2〜0.5μm程度のミリポアフィルタ等によりろ過して、使用に供することもできる。
In preparing the composition solution, a high boiling point solvent may be used in combination with the solvent.
Examples of the high boiling point solvent include N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylformanilide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethylsulfoxide, and benzylethyl ether. , Di-n-hexyl ether, acetonyl acetone, isophorone, caproic acid, caprylic acid, 1-octanol, 1-nonanol, benzyl acetate, ethyl benzoate, diethyl oxalate, diethyl maleate, γ-butyrolactone, ethylene carbonate, Examples include propylene carbonate and ethylene glycol monophenyl ether acetate.
These high boiling point solvents can be used alone or in admixture of two or more.
The composition solution prepared in this way can be used for use after filtration through a Millipore filter having a pore size of, for example, about 0.2 to 0.5 μm, if necessary.

ここで、本発明における好ましい感放射線性樹脂組成物(イ)の組成をより具体的に例示すると、下記(i)〜(v)のとおりである。
(i) 共重合体〔A〕を構成する成分が、不飽和カルボン酸系化合物(a1)がアクリル酸、メタクリル酸および無水マレイン酸の群の単独または2種以上の混合物からなり、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)がメタクリル酸グリシジル、メタクリル酸6,7−エポキシヘプチル、o−ビニルベンジルグリシジルエーテル、m−ビニルベンジルグリシジルエーテルおよびp−ビニルベンジルグリシジルエーテルの群の単独または2種以上の混合物からなり、他の不飽和化合物(a3)がアクリル酸2−メチルシクロヘキシル、メタクリル酸t−ブチル、メタクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、、スチレン、p−メトキシスチレンおよび1,3−ブタジエンの群の単独または2種以上の混合物からなる組成物。
Here, when the composition of the preferable radiation sensitive resin composition (I) in this invention is illustrated more concretely, it is as following (i)-(v).
(I) The component constituting the copolymer [A] is an epoxy group-containing compound in which the unsaturated carboxylic acid compound (a1) is composed of a single group of acrylic acid, methacrylic acid and maleic anhydride or a mixture of two or more thereof. The unsaturated compound (a2) is glycidyl methacrylate, 6,7-epoxyheptyl methacrylate, o-vinylbenzyl glycidyl ether, m-vinylbenzyl glycidyl ether and p-vinylbenzyl glycidyl ether, or a mixture of two or more thereof The other unsaturated compound (a3) is 2-methylcyclohexyl acrylate, t-butyl methacrylate, tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decane-8-yl methacrylate, tetrahydrofurfuryl methacrylate. , Styrene, p-methoxystyrene and 1,3-butadiene alone Composition comprising a mixture of two or more thereof.

(ii) 共重合体〔A〕において、不飽和カルボン酸系化合物(a1)に由来する繰り返し単位の含有率が5〜40重量%、さらに好ましくは10〜30重量%であり、エポキシ基含有不飽和化合物(a2)に由来する繰り返し単位の含有率が10〜70重量%、さらに好ましくは20〜60重量%であり、他の不飽和化合物(a3)に由来する繰り返し単位の含有率が10〜70重量%、さらに好ましくは20〜50重量%である前記(i)の組成物。 (Ii) In the copolymer [A], the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid compound (a1) is 5 to 40% by weight, more preferably 10 to 30% by weight. The content of the repeating unit derived from the saturated compound (a2) is 10 to 70% by weight, more preferably 20 to 60% by weight, and the content of the repeating unit derived from the other unsaturated compound (a3) is 10 to 70% by weight. The composition according to the above (i), which is 70% by weight, more preferably 20 to 50% by weight.

(iii) 重合性化合物〔B〕が単官能、2官能または3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類、さらに好ましくは3官能以上の(メタ)アクリル酸エステル類、特に好ましくはトリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートおよびジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの群の単独または2種以上の混合物である前記(i)または(ii)の組成物。 (Iii) The polymerizable compound [B] is monofunctional, bifunctional or trifunctional or higher (meth) acrylic acid ester, more preferably trifunctional or higher functional (meth) acrylic acid ester, particularly preferably trimethylolpropane tri The composition according to the above (i) or (ii), which is a single group or a mixture of two or more of the group of acrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate.

(iv) 重合開始剤〔C〕がさらに他のO−アシルオキシム型重合開始剤の単独または2種以上の混合物を含む前記(i)〜(iii)のいずれかの組成物。
(v) 重合性化合物〔B〕の使用量が、共重合体〔A〕100重量部に対して、50〜140重量部、さらに好ましくは60〜120重量部であり、重合開始剤〔C〕の使用量が、重合性化合物〔B〕100重量部に対して、5〜30重量部、さらに好ましくは5〜20重量部である前記(i)〜(vi)のいずれかの組成物。
(Iv) The composition according to any one of (i) to (iii) above, wherein the polymerization initiator [C] further contains another O-acyloxime type polymerization initiator alone or a mixture of two or more thereof.
(V) The amount of the polymerizable compound [B] used is 50 to 140 parts by weight, more preferably 60 to 120 parts by weight, based on 100 parts by weight of the copolymer [A], and the polymerization initiator [C]. Is used in an amount of 5 to 30 parts by weight, more preferably 5 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the polymerizable compound [B].

感放射線性樹脂組成物(イ)は、特に、液晶パネルやタッチパネルなどの表示パネル用スペーサーを形成するための材料として極めて好適に使用することができる。   The radiation sensitive resin composition (A) can be used particularly suitably as a material for forming a spacer for a display panel such as a liquid crystal panel or a touch panel.

表示パネル用スペーサー
感放射線性樹脂組成物(イ)を用いて表示パネル用スペーサーを形成する際には、組成物溶液を基板の表面に塗布したのち、プレベークして溶剤を除去することにより、被膜を形成する。
組成物溶液の塗布方法としては、例えば、スプレー法、ロールコート法、回転塗布法(スピンコート法)、スリットダイ塗布法、バー塗布法、インクジェット法等の適宜の方法を採用することができるが、特に、スピンコート法、スリットダイ塗布法が好ましい。
また、プレベークの条件は、各構成成分の種類、配合割合などによっても異なるが、通常、70〜90℃で1〜15分間程度である。
次いで、プレベークされた被膜に、所定パターンのマスクを介し露光して重合させたのち、現像液により現像し、不要な部分を除去して、パターンを形成する。
露光に使用される放射線としては、可視光線、紫外線、遠紫外線、荷電粒子線、X線等の放射線を適宜に選択して使用することができるが、波長が190〜450nmの範囲にある放射線が好ましい。
When forming a display panel spacer using the display panel spacer radiation-sensitive resin composition (a), the composition solution is applied to the surface of the substrate and then pre-baked to remove the solvent. Form.
As a coating method of the composition solution, for example, an appropriate method such as a spray method, a roll coating method, a spin coating method (spin coating method), a slit die coating method, a bar coating method, an ink jet method or the like can be adopted. In particular, a spin coating method and a slit die coating method are preferable.
Moreover, although the conditions of prebaking differ also with the kind of each structural component, a mixture ratio, etc., it is normally about 1 to 15 minutes at 70-90 degreeC.
Next, the pre-baked film is exposed and polymerized through a mask having a predetermined pattern, and then developed with a developing solution, and unnecessary portions are removed to form a pattern.
As radiation used for exposure, radiation such as visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, charged particle beam, and X-ray can be appropriately selected and used, but radiation having a wavelength in the range of 190 to 450 nm can be used. preferable.

現像方法としては、例えば、液盛り法、浸漬法、シャワー法等のいずれでもよく、現像時間は、通常、常温で30〜180秒間程度である。
前記現像液としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア等の無機アルカリ類;エチルアミン、n−プロピルアミン等の1級アミン類;ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の2級アミン類;トリメチルアミン、メチルジエチルアミン、エチルジメチルアミン、トリエチルアミン等の3級アミン類;ジメチルエタノールアミン、メチルジエタノールアミン、トリエタノールアミン等の3級アルカノールアミン類;ピロール、ピペリジン、N−メチルピペリジン、N−メチルピロリジン、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネン等の脂環族3級アミン類;ピリジン、コリジン、ルチジン、キノリン等の芳香族3級アミン類;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の4級アンモニウム塩等のアルカリ性化合物の水溶液(アルカリ水溶液)を使用することができる。
また、前記アルカリ水溶液には、メタノール、エタノール等の水溶性有機溶媒および/または界面活性剤を適当量添加することもできる。
現像後、例えば流水洗浄等により、例えば30〜90秒間洗浄して、不要な部分を除去したのち、圧縮空気や圧縮窒素を吹きつけて乾燥させることにより、所定のパターンが形成される。
As a developing method, for example, any of a liquid filling method, a dipping method, a shower method and the like may be used, and the developing time is usually about 30 to 180 seconds at room temperature.
Examples of the developer include inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and ammonia; primary amines such as ethylamine and n-propylamine; Secondary amines such as n-propylamine; tertiary amines such as trimethylamine, methyldiethylamine, ethyldimethylamine and triethylamine; tertiary alkanolamines such as dimethylethanolamine, methyldiethanolamine and triethanolamine; pyrrole and piperidine , N-methylpiperidine, N-methylpyrrolidine, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -7-undecene, 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene 3 Secondary amines: pyridine, collidine, ru It can be used tetramethylammonium hydroxide, aqueous solution of an alkaline compound such as quaternary ammonium salts such as tetraethyl ammonium hydroxide (the aqueous alkali solution); Jin, aromatic tertiary amines such as quinoline.
In addition, an appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol and / or a surfactant can be added to the alkaline aqueous solution.
After development, for example, by washing with running water, for example, for 30 to 90 seconds, unnecessary portions are removed, and then compressed air or compressed nitrogen is blown to dry to form a predetermined pattern.

その後、このパターンを、ホットプレート、オーブン等の加熱装置により、所定温度、例えば150〜250℃で、所定時間、ホットプレート上では例えば5〜30分間、オーブン中では例えば30〜90分間、加熱(以下、「ポストベーク」という。)することにより、目的とするスペーサーを得ることができる。   Thereafter, the pattern is heated by a heating device such as a hot plate or an oven at a predetermined temperature, for example, 150 to 250 ° C., for a predetermined time, for example, for 5 to 30 minutes on the hot plate, for 30 to 90 minutes in the oven ( Hereinafter, the target spacer can be obtained by performing “post-baking”.

本発明の感放射線性樹脂組成物(イ)は、高感度でマスクパターンの設計サイズを忠実に再現でき、かつ基板との密着性に優れ、1,500mJ/m2 以下の露光量でも十分なスペーサー形状および膜厚を得ることができ、また圧縮強度、ラビング耐性等にも優れた表示パネル用スペーサーを形成することができる。 The radiation-sensitive resin composition (a) of the present invention has high sensitivity, can faithfully reproduce the design size of the mask pattern, has excellent adhesion to the substrate, and an exposure amount of 1,500 mJ / m 2 or less is sufficient. The spacer shape and film thickness can be obtained, and a display panel spacer excellent in compressive strength, rubbing resistance and the like can be formed.

以下に、実施例を示して、本発明の実施の形態をさらに具体的に説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。
合成例1
冷却管、撹拌機を備えたフラスコに、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)5重量部、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル200重量部を仕込み、引き続いてメタクリル酸18重量部、メタクリル酸グリシジル40重量部、スチレン5重量部、メタクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル32重量部を仕込んで、窒素置換したのち、さらに1,3−ブタジエン5重量部を仕込み、緩やかに攪拌しつつ、溶液の温度を70℃に上昇させ、この温度を5時間保持して重合させて、共重合体〔A〕の溶液(固形分濃度=33.0重量%)を得た。この共重合体〔A〕のMwは11,000であった。この共重合体〔A〕を「共重合体〔A-1〕」とする。
Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples.
Synthesis example 1
A flask equipped with a condenser and a stirrer was charged with 5 parts by weight of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) and 200 parts by weight of diethylene glycol methyl ethyl ether, followed by 18 parts by weight of methacrylic acid and methacrylic acid. After charging 40 parts by weight of glycidyl, 5 parts by weight of styrene, and 32 parts by weight of tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decan-8-yl methacrylate, and substituting with nitrogen, 5 weights of 1,3-butadiene is further added. The temperature of the solution was raised to 70 ° C. while gently stirring, and this temperature was maintained for 5 hours for polymerization to obtain a solution of the copolymer [A] (solid content concentration = 33.0% by weight). ) The Mw of this copolymer [A] was 11,000. This copolymer [A] is referred to as “copolymer [A-1]”.

合成例2
冷却管、撹拌機を備えたフラスコに、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)7重量部、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル200重量部を仕込み、引き続いてメタクリル酸18重量部、メタクリル酸グリシジル20重量部、スチレン5重量部、メタクリル酸トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカン−8−イル32重量部、テトラヒドロフルフリルメタクリレート25重量部を仕込んで、窒素置換したのち、緩やかに攪拌しつつ、溶液の温度を70℃に上昇させ、この温度を5時間保持して重合させて、共重合体〔A〕の溶液(固形分濃度=33.4重量%)を得た。この共重合体〔A〕のMwは9,000であった。この共重合体〔A〕を「共重合体〔A-2〕」とする。
Synthesis example 2
A flask equipped with a condenser and a stirrer was charged with 7 parts by weight of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) and 200 parts by weight of diethylene glycol methyl ethyl ether, followed by 18 parts by weight of methacrylic acid and methacrylic acid. After charging 20 parts by weight of glycidyl, 5 parts by weight of styrene, 32 parts by weight of tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decane-8-yl, and 25 parts by weight of tetrahydrofurfuryl methacrylate, and substituting with nitrogen, While gently stirring, the temperature of the solution was raised to 70 ° C., and this temperature was maintained for 5 hours for polymerization to obtain a solution of the copolymer [A] (solid content concentration = 33.4% by weight). . Mw of this copolymer [A] was 9,000. This copolymer [A] is referred to as “copolymer [A-2]”.

実施例1
組成物溶液の調製
〔A〕成分として共重合体〔A-1〕の溶液を共重合体(A-1) 100重量部(固形分)に相当する量、〔B〕成分としてジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(商品名KAYARAD DPHA、日本化薬(株)製)80重量部、〔C〕成分として1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−アセテート(商品名CGI−242、チバ・スペシャリティー・ケミカルズ社製)8重量部を、固形分濃度が35重量%になるようにプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解したのち、孔径0.2μmのミリポアフィルタでろ過して、組成物溶液(以下、「組成物(S−1) 」という。)を調製した。
Example 1
Preparation of composition solution The solution of copolymer [A-1] as component [A] is equivalent to 100 parts by weight (solid content) of copolymer (A-1), and dipentaerythritol hexahexa is used as component [B]. 80 parts by weight of acrylate (trade name KAYARAD DPHA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-acetate (trade name CGI-242, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Inc.) 8 parts by weight of propylene so that the solid content concentration is 35% by weight After dissolving in glycol monomethyl ether acetate, it was filtered through a Millipore filter having a pore size of 0.2 μm to prepare a composition solution (hereinafter referred to as “composition (S-1)”).

スペーサーの形成
無アルカリガラス基板上にスピンナーを用いて、組成物溶液(S−1) を塗布したのち、90℃で3分間、ホットプレート上でプレベークして、膜厚6.0μmの被膜を形成した。
次いで、得られた被膜に10μm角の残しパターンのマスクを介し、露光ギャップを150μmとして、波長365nmにおける露光強度が300W/m2 の紫外線により露光した。その後、0.05重量%水酸化カリウム水溶液により、25℃で60秒間現像したのち、純水で1分間洗浄した。その後、オーブン中150℃で120分間ポストベークして、所定パターンのスペーサーを形成した。
次いで、得られたスペーサーについて、下記の要領で各種評価を行った。評価結果を表2−1に示す。
Formation of spacers After applying the composition solution (S-1) on a non-alkali glass substrate using a spinner, pre-baking on a hot plate at 90 ° C. for 3 minutes to form a film with a thickness of 6.0 μm did.
Next, the obtained coating film was exposed to ultraviolet rays having an exposure intensity of 300 W / m 2 at a wavelength of 365 nm through a mask having a 10 μm square left pattern and an exposure gap of 150 μm. Thereafter, development was performed with a 0.05 wt% aqueous potassium hydroxide solution at 25 ° C. for 60 seconds, followed by washing with pure water for 1 minute. Thereafter, post-baking was performed in an oven at 150 ° C. for 120 minutes to form a spacer having a predetermined pattern.
Subsequently, various evaluation was performed about the obtained spacer in the following way. The evaluation results are shown in Table 2-1.

(I) 感度の評価
得られたパターンについて、現像後の残膜率(現像後の膜厚×100/初期膜厚。以下同様。)が90%以上になる露光量を感度とした。感度が1,500mJ/m2 以下の場合、感度が良好といえる。
(II) 解像度の評価
得られたパターンについて、現像後の残膜率が90%以上となる露光量における最小のパターンサイズにより評価した。パターンサイズが小さいほど解像度が良好といえる。
(I) Evaluation of Sensitivity For the obtained pattern, the exposure amount at which the residual film ratio after development (film thickness after development × 100 / initial film thickness; the same applies hereinafter) is 90% or more was defined as sensitivity. When the sensitivity is 1,500 mJ / m 2 or less, it can be said that the sensitivity is good.
(II) Evaluation of resolution The obtained pattern was evaluated by the minimum pattern size at an exposure amount at which the remaining film ratio after development was 90% or more. The smaller the pattern size, the better the resolution.

(III)パターン形状の評価
得られたパターンの断面形状を走査型電子顕微鏡にて観察し、その形状が図1に示すA〜Cのいずれに該当するかによって評価した。このとき、Aのようにパターンエッジが順テーパである場合は、パターン形状が良好、Bのようにパターンエッジが垂直である場合は、パターン形状がやや良好といえる。また、Cのようにパターンエッジが逆テーパ状(断面形状で、膜表面の辺が基板側の辺よりも長い逆三角形状)である場合は、後のラビング処理時にパターンが剥がれる可能性が非常に高いことから、パターン形状が不良といえる。
(III) Evaluation of pattern shape The cross-sectional shape of the obtained pattern was observed with a scanning electron microscope, and the shape was evaluated according to which of A to C shown in FIG. At this time, when the pattern edge is a forward taper like A, the pattern shape is good, and when the pattern edge is vertical like B, the pattern shape is slightly good. In addition, when the pattern edge is reversely tapered as shown in C (inverted triangular shape with a cross-sectional shape and whose film surface side is longer than the substrate side), the pattern may be peeled off during the subsequent rubbing process. Therefore, it can be said that the pattern shape is defective.

(IV) 圧縮強度の評価
得られたパターンの圧縮強度を、微小圧縮試験機(商品名MCTM−200、(株)島津製作所製)を用い、直径50μmの平面圧子により10mNの荷重を加えたときの変形量を、測定温度23℃で測定した。この値が0.55μm以下のとき、圧縮強度が良好といえる。
(V)ラビング耐性の評価
スペーサーを形成した基板に、液晶配向剤としてAL3046(商品名、JSR(株)製)を液晶配向膜塗布用印刷機により塗布したのち、180℃で1時間乾燥して、膜厚0.05μmの配向剤の塗膜を形成した。
次いで、この塗膜に、ポリアミド製の布を巻き付けたロールを有するラビングマシーンにより、ロールの回転数500rpm、ステージの移動速度1cm/秒の条件でラビング処理を行った。このとき、パターンの削れや剥がれの有無により評価した。
(IV) Evaluation of compressive strength When compressive strength of the obtained pattern was applied using a micro compression tester (trade name MCTM-200, manufactured by Shimadzu Corporation) and a load of 10 mN was applied by a flat indenter having a diameter of 50 μm. The amount of deformation of was measured at a measurement temperature of 23 ° C. When this value is 0.55 μm or less, it can be said that the compressive strength is good.
(V) Evaluation of rubbing resistance AL3046 (trade name, manufactured by JSR Co., Ltd.) as a liquid crystal aligning agent was applied to a substrate on which a spacer was formed by a printing machine for applying a liquid crystal alignment film, and then dried at 180 ° C. for 1 hour. Then, a coating film of an orientation agent having a film thickness of 0.05 μm was formed.
Next, this coating film was rubbed with a rubbing machine having a roll wound with a polyamide cloth under the conditions of a roll rotation speed of 500 rpm and a stage moving speed of 1 cm / sec. At this time, the evaluation was made based on the presence or absence of pattern shaving or peeling.

(VI) 密着性の評価
パターンマスクを使用しなかった以外は前記スペーサーの形成の場合と同様にして、密着性評価用の硬化膜を形成した。
次いで、JIS K−5400(1900)8.5の付着性試験のうち、8.5・2の碁盤目テープ法を行って、碁盤目100個中の残った碁盤目の数により評価した。
(VI) Evaluation of adhesion A cured film for evaluation of adhesion was formed in the same manner as in the formation of the spacer except that no pattern mask was used.
Next, of the adhesion test of JIS K-5400 (1900) 8.5, the cross-cut tape method of 8.5 · 2 was performed, and the evaluation was performed based on the number of remaining cross-cuts in 100 cross-cuts.

実施例2〜18
〔A〕成分、〔B〕成分および〔C〕成分を表1−1に示すとおりとした以外は、実施例1と同様にして、各組成物溶液を調製し、スペーサーを形成して、各種評価を行った。評価結果を表2−1に示す。
Examples 2-18
Each composition solution was prepared in the same manner as in Example 1 except that the components [A], [B] and [C] were as shown in Table 1-1. Evaluation was performed. The evaluation results are shown in Table 2-1.

実施例19
実施例3と同様の〔A〕成分、〔B〕成分および〔C〕成分を、固形分濃度が17.5重量%になるようにジエチレングリコールエチルメチルエーテルに溶解したのち、孔径0.2μmのミリポアフィルタでろ過して、組成物溶液(以下、「組成物(S−19) 」という。)を調製した。
組成物(S−1)に代えて組成物(S−19) を用い、スピンナーに代えてスリットダイコーターを用いて塗布した以外は、実施例1と同様にしてスペーサーを形成して、各種評価を行った。評価結果を表2−1に示す。
Example 19
The same [A] component, [B] component and [C] component as in Example 3 were dissolved in diethylene glycol ethyl methyl ether so that the solid content concentration was 17.5% by weight, and then the Millipore having a pore size of 0.2 μm was used. It filtered with the filter and the composition solution (henceforth "composition (S-19)") was prepared.
A spacer was formed in the same manner as in Example 1 except that the composition (S-19) was used instead of the composition (S-1), and a slit die coater was used instead of the spinner, and various evaluations were made. Went. The evaluation results are shown in Table 2-1.

実施例20
実施例5と同様の〔A〕成分、〔B〕成分および〔C〕成分を、固形分濃度が15重量%になるようにジエチレングリコールエチルメチルエーテル/ベンジルアルコール=90/10(重量比)混合物に溶解したのち、孔径0.2μmのミリポアフィルタでろ過して、組成物溶液(以下、「組成物(S−20) 」という。)を調製した。
組成物(S−1)に代えて組成物(S−20) を用い、スピンナーに代えてスリットダイコーターを用いて塗布した以外は、実施例1と同様にしてスペーサーを形成して、各種評価を行った。評価結果を表2−1に示す。
Example 20
The same [A] component, [B] component and [C] component as in Example 5 were mixed into a mixture of diethylene glycol ethyl methyl ether / benzyl alcohol = 90/10 (weight ratio) so that the solid content concentration was 15% by weight. After dissolution, the solution was filtered through a Millipore filter having a pore diameter of 0.2 μm to prepare a composition solution (hereinafter referred to as “composition (S-20)”).
A spacer was formed in the same manner as in Example 1 except that the composition (S-20) was used instead of the composition (S-1), and a slit die coater was used instead of the spinner. Went. The evaluation results are shown in Table 2-1.

比較例1〜10
〔A〕成分、〔B〕成分および重合開始剤を表1−2に示すとおりとした以外は、実施例1と同様にして、各組成物溶液を調製し、スペーサーを形成して、各種評価を行った。評価結果を表2−2に示す。
Comparative Examples 1-10
Each composition solution was prepared in the same manner as in Example 1 except that the components [A], [B], and the polymerization initiator were as shown in Table 1-2. Went. The evaluation results are shown in Table 2-2.

表1−1および表1−2中、〔A〕成分以外の各成分は下記のとおりである。
〔B〕成分
B-1:ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(商品名KAYARAD DPHA 、日本化薬(株)製)
B-2:商品名KAYARAD DPHA−40H(日本化薬(株)製)
In Table 1-1 and Table 1-2, each component other than [A] component is as follows.
[B] Component B-1: Dipentaerythritol hexaacrylate (trade name KAYARAD DPHA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
B-2: Trade name KAYARAD DPHA-40H (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

重合開始剤
C-1:1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9.H.−カルバゾール− 3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−アセテート(商品名CGI−24 2、チバ・スペシャルティー・ケミカルズ社製)
γ-1:1,2−オクタジオン−1−〔4−(フェニルチオ)フェニル〕−2−(O−ベ ンゾイルオキシム(商品名CGI−124、チバ・スペシャルティー・ケミカル ズ社製)
γ-2:2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルホリノプロパン− 1−オン(商品名イルガキュア907、チバ・スペシャルティー・ケミカルズ社 製)
γ-3:2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタン −1−オン(商品名イルガキュア369、チバ・スペシャルティー・ケミカルズ 社製)
γ-4:2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフ ェニル−1,2’−ビイミダゾール
γ-5:4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン
γ-6:2−メルカプトベンゾチアゾール
Polymerization initiator C-1: 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9. H. -Carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-acetate (trade name CGI-242, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
γ-1: 1,2-octadion-1- [4- (phenylthio) phenyl] -2- (O-benzoyloxime (trade name CGI-124, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
γ-2: 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one (trade name Irgacure 907, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
γ-3: 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butan-1-one (trade name Irgacure 369, manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
γ-4: 2,2′-bis (2,4-dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole γ-5: 4,4′-bis (diethylamino) ) Benzophenone γ-6: 2-mercaptobenzothiazole

Figure 0004315010
Figure 0004315010

Figure 0004315010
Figure 0004315010

Figure 0004315010
Figure 0004315010

Figure 0004315010
Figure 0004315010

パターンの断面形状を例示する図である。It is a figure which illustrates the cross-sectional shape of a pattern.

Claims (3)

〔A〕(a1)エチレン性不飽和カルボン酸および/またはエチレン性不飽和カルボン酸無水物と(a2)エポキシ基含有エチレン性不飽和化合物と(a3)他のエチレン性不飽和化合物との共重合体、
〔B〕エチレン性不飽和結合を有する重合性化合物、並びに
〔C〕下記式(1)または式(2)で表される化合物を必須成分とする感放射線性重合開始剤
を含有することを特徴とする感放射線性樹脂組成物。
Figure 0004315010
Figure 0004315010
〔式(1)および式(2)において、各R1 は相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基またはフェニル基を示し、各R2 は相互に独立に水素原子、炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基またはフェニル基を示し、各R3 は相互に独立に水素原子または炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示し、各R4 、各R5 および各R6 は相互に独立に水素原子または炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示す。但し、R1 、R2 、R3 、R4 、R5 およびR6 のアルキル基はそれぞれ、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルコキシル基、フェニル基およびハロゲン原子の群から選ばれる置換基で置換されてもよく、R1 およびR2 のフェニル基はそれぞれ、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルコキシル基、フェニル基およびハロゲン原子の群から選ばれる置換基で置換されてもよい。〕
[A] Copolymerization of (a1) ethylenically unsaturated carboxylic acid and / or ethylenically unsaturated carboxylic acid anhydride, (a2) epoxy group-containing ethylenically unsaturated compound, and (a3) other ethylenically unsaturated compound Coalescence,
[B] A polymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and [C] a radiation-sensitive polymerization initiator containing a compound represented by the following formula (1) or (2) as an essential component. A radiation sensitive resin composition.
Figure 0004315010
Figure 0004315010
[In the formulas (1) and (2), each R 1 independently represents a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or a phenyl group, and each R 2 is independent from each other. Represents a hydrogen atom, a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or a phenyl group, and each R 3 is independently a hydrogen atom or a linear or branched chain having 1 to 12 carbon atoms. Alternatively, it represents a cyclic alkyl group, and each R 4 , each R 5 and each R 6 independently represents a hydrogen atom or a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. However, the alkyl groups of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and R 6 are each a group of straight, branched or cyclic alkoxyl groups having 1 to 6 carbon atoms, phenyl groups and halogen atoms. And the phenyl groups of R 1 and R 2 are each a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, or a linear group having 1 to 6 carbon atoms. Further, it may be substituted with a substituent selected from the group consisting of a branched or cyclic alkoxyl group, a phenyl group and a halogen atom. ]
請求項1に記載の感放射線性樹脂組成物から形成された表示パネル用スペーサー。   The spacer for display panels formed from the radiation sensitive resin composition of Claim 1. 請求項2に記載の表示パネル用スペーサーを具備してなる表示パネル。   A display panel comprising the display panel spacer according to claim 2.
JP2004035973A 2004-02-13 2004-02-13 Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel Expired - Lifetime JP4315010B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004035973A JP4315010B2 (en) 2004-02-13 2004-02-13 Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel
CNB2005100051131A CN100538518C (en) 2004-02-13 2005-01-28 Radiation-sensitive resin composition, display panel sept and display panel
TW094103523A TWI343510B (en) 2004-02-13 2005-02-04 Radiation-sensitive resin composition, display panel separator and displayer panel
KR1020050011100A KR100805598B1 (en) 2004-02-13 2005-02-07 Radiation Sensitive Resin Composition, Spacer for Display Panel, and Display Panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004035973A JP4315010B2 (en) 2004-02-13 2004-02-13 Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005227525A JP2005227525A (en) 2005-08-25
JP4315010B2 true JP4315010B2 (en) 2009-08-19

Family

ID=34908355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004035973A Expired - Lifetime JP4315010B2 (en) 2004-02-13 2004-02-13 Radiation-sensitive resin composition, display panel spacer and display panel

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4315010B2 (en)
KR (1) KR100805598B1 (en)
CN (1) CN100538518C (en)
TW (1) TWI343510B (en)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4448381B2 (en) * 2004-05-26 2010-04-07 東京応化工業株式会社 Photosensitive composition
JP4633582B2 (en) * 2005-09-06 2011-02-16 東京応化工業株式会社 Photosensitive composition
JP4826415B2 (en) * 2005-10-12 2011-11-30 東レ株式会社 Photosensitive resin composition
JP4816917B2 (en) * 2006-03-17 2011-11-16 Jsr株式会社 Radiation-sensitive resin composition, spacer for liquid crystal display panel, method for forming spacer for liquid crystal display panel, and liquid crystal display panel
JP4954650B2 (en) * 2006-09-14 2012-06-20 太陽ホールディングス株式会社 Photosensitive paste composition and fired product pattern formed using the same
JP4833040B2 (en) * 2006-11-22 2011-12-07 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin composition and spacer for liquid crystal panel
JP4998735B2 (en) * 2006-12-28 2012-08-15 Jsr株式会社 Radiation sensitive composition, color filter, black matrix, and liquid crystal display device
JP4826803B2 (en) * 2007-03-20 2011-11-30 Jsr株式会社 Radiation-sensitive resin composition, spacer for liquid crystal display element and production method thereof
KR101121038B1 (en) * 2008-07-01 2012-03-15 주식회사 엘지화학 Photoresist resin composition containing a number of photo-initiators, transparent thin film layer and liquid crystal display using the same
KR102006751B1 (en) 2012-12-11 2019-08-02 제이에스알 가부시끼가이샤 Radiation-sensitive resin composition, cured film for display device, method for forming the cured film for display device, and display device

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4483758A (en) * 1982-01-25 1984-11-20 Polychrome Corporation Method for making a negative working lithographic printing plate
DE3421511A1 (en) * 1984-06-08 1985-12-12 Hoechst Ag, 6230 Frankfurt POLYMERIZABLE COMPOUNDS HAVING PERFLUORALKYL GROUPS, REPRODUCTION LAYERS CONTAINING THEM AND THEIR USE FOR WATERLESS OFFSET PRINTING
US5399604A (en) * 1992-07-24 1995-03-21 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Epoxy group-containing resin compositions
WO1994020583A1 (en) * 1993-03-11 1994-09-15 Minnesota Mining And Manufacturing Company Radiation curable acrylate/silicone permanently removable pressure sensitive adhesive
JP4117668B2 (en) * 1999-03-03 2008-07-16 Jsr株式会社 Radiation sensitive resin composition
AU8015701A (en) * 2000-08-29 2002-03-13 Jsr Corp Composition having refractive index sensitively changeable by radiation and method for forming refractive index pattern
JP2002278064A (en) * 2001-03-15 2002-09-27 Jsr Corp Radiation sensitive resin composition, spacer for display panel and display panel
JP2003096149A (en) * 2001-09-25 2003-04-03 Jsr Corp Composition for forming light diffusion reflective film, light diffusion reflective film and liquid crystal display element

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005227525A (en) 2005-08-25
CN1655060A (en) 2005-08-17
KR20070070286A (en) 2007-07-04
TW200535568A (en) 2005-11-01
CN100538518C (en) 2009-09-09
TWI343510B (en) 2011-06-11
KR100805598B1 (en) 2008-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4678271B2 (en) Photosensitive resin composition, protective film for liquid crystal display panel and spacer, and liquid crystal display panel comprising them
JP4631594B2 (en) Photosensitive resin composition, display panel spacer and display panel
JP4650638B2 (en) Radiation-sensitive resin composition, spacer, and formation method thereof
JP4844774B2 (en) Radiation-sensitive resin composition, spacer and protective film for liquid crystal display element, and method for forming them
JP4826803B2 (en) Radiation-sensitive resin composition, spacer for liquid crystal display element and production method thereof
JP4766235B2 (en) Radiation sensitive resin composition and spacer for liquid crystal display element
KR100805598B1 (en) Radiation Sensitive Resin Composition, Spacer for Display Panel, and Display Panel
JP2008077067A (en) Photosensitive resin composition, spacer for display panel, and the display panel
JP4888640B2 (en) Radiation sensitive resin composition and spacer for liquid crystal display element
KR100838001B1 (en) Polymer, Radiation Sensitive Resin Composition and Spacer for Liquid Crystal Display Element
JP2009001653A (en) Side chain-unsaturated polymer, radiation-sensitive resin composition and spacer for liquid crystal display device
JP4539165B2 (en) Radiation-sensitive resin composition, spacer, method for forming the same, and liquid crystal display device
KR20050076753A (en) Radiation sensitive resin composition for forming spacer, spacer and its forming method, and liquid crystal display device
JP2006259454A (en) Radiation-sensitive resin composition, projection and spacer formed of it, and liquid crystal display element with them
JP4419736B2 (en) Photosensitive resin composition, display panel spacer and display panel
JP2006257220A (en) Copolymer, radiation-sensitive resin composition using this, spacer for liquid crystal display element, and liquid crystal display element
JP4811584B2 (en) Side chain unsaturated polymer, radiation sensitive resin composition, and spacer for liquid crystal display device
JP4835835B2 (en) Side chain unsaturated polymer, radiation sensitive resin composition, and spacer for liquid crystal display device
JP4380359B2 (en) Radiation-sensitive resin composition for spacer formation, spacer, method for forming the spacer, and liquid crystal display element
JP2006184841A (en) Photosensitive resin composition, spacer for display panel and display panel
JP2006259472A (en) Radiation-sensitive resin composition, projection and spacer formed of it, and liquid crystal display element with them
JP2007246585A (en) Side chain unsaturated polymer, radiation sensitive resin composition and spacer for liquid crystal-displaying element
JP4862998B2 (en) Side chain unsaturated polymer, radiation sensitive resin composition, and spacer for liquid crystal display device
JP2006126397A (en) Photosensitive resin composition, spacer for display panel, and display panel
JP2008201910A (en) Branched unsaturated polymer, radiosensitive resin composition and spacer for liquid crystal display element

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060727

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090428

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090511

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4315010

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120529

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120529

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120529

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130529

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130529

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140529

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250