JP4272043B2 - 荷電粒子ビーム装置 - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 90
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 105
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 60
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 35
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 30
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 7
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
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- Electron Beam Exposure (AREA)
Description
2…チャンバ
3…電子銃
4…集束レンズ
5…対物レンズ
6…試料
7…偏向コイル
8…ステージ
9…二次電子検出器
10…走査信号発生回路
11…中央制御装置
12…ステージ駆動機構
13…表示装置
14…防振マウント
15…床
16…反射鏡
17…レーザー干渉計
Kb1,Kb2…バネ定数
Kg1,Kg2…減衰定数
21…加速度計
22…ローパスフィルタ
23…ハイパスフィルタ
24…二重積分器
25,26…ゲインコントロール回路
27…加算器
31,32…バンドパスフィルタ
41,42…遅延回路
51,52…ゲインコントロール回路
Claims (15)
- 鏡筒搭載台上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物支持体に取り付けられた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒及び/若しくは被ビーム照射物支持体に取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物支持体の固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物支持体の固有振動帯域のうち最も低い振動数以上の周波数成分を通過させる第2フィルタを並列に接続し、前記第2フィルタの出力を二重積分した信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて荷電粒子ビーム若しくは被ビーム照射物支持体を移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。
- 鏡筒搭載台上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物支持体に取り付けられた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒及び/若しくは被ビーム照射物支持体に取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物支持体の固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタと、前記被ビーム照射物支持体の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタとをそれぞれ並列に接続し、該各バンドパスフィルタの出力を元にして得た振動の変位信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて荷電粒子ビーム若しくは被ビーム照射物支持体を移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。
- 被照射物ステージを備えたチャンバ上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物ステージにセットされた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒及び/若しくは被ビーム照射物ステージに取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物ステージの固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物ステージの固有振動帯域のうち最も低い振動数以上の周波数成分を通過させる第2フィルタを並列に接続し、前記第2フィルタの出力を二重積分した信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて荷電粒子ビーム若しくは被ビーム照射物ステージを移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。
- 被照射物ステージを備えたチャンバ上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物ステージにセットされた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒及び/若しくは被ビーム照射物ステージに取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒及び被ビーム照射物ステージの固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタと、前記被ビーム照射物ステージの固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタとをそれぞれ並列に接続し、該各バンドパスフィルタの出力を元にして得た振動の変位信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて荷電粒子ビーム若しくは被ビーム照射物ステージを移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。
- 訂正前「鏡筒搭載台上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系,被ビーム照射物支持体、及び被ビーム照射物を透過した荷電ビームに基づく像が結像されるスクリーン体を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物支持体に取り付けられた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒に取り付け、該荷電粒子ビーム装置。加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒,被ビーム照射物支持体及びスクリーン体の固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒,被ビーム照射物支持体及びスクリーン体の固有振動帯域のうち最も低い振動数以上の周波数成分を通過させる第2フィルタを並列に接続し、前記第2フィルタの出力を二重積分した信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて被ビーム照射物支持体若しくはスクリーン体を移動させるように成した」
訂正後「鏡筒搭載台上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系,被ビーム照射物支持体、及び被ビーム照射物を透過した荷電ビームに基づく像が結像されるスクリーン体を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物支持体に取り付けられた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒に取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒,被ビーム照射物支持体及びスクリーン体の固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒,被ビーム照射物支持体及びスクリーン体の固有振動帯域のうち最も低い振動数以上の周波数成分を通過させる第2フィルタを並列に接続し、前記第2フィルタの出力を二重積分した信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて被ビーム照射物支持体若しくはスクリーン体を移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。」 - 鏡筒搭載台上に、荷電粒子ビーム発生手段,電子レンズ及び偏向器等の電子光学系,被ビーム照射物支持体、及び被ビーム照射物を透過した荷電ビームに基づく像が結像されるスクリーン体を備えた電子光学鏡筒を搭載し、荷電粒子ビーム発生手段からの荷電粒子ビームを被ビーム照射物支持体に取り付けられた被ビーム照射物に照射するように成した荷電粒子ビーム装置において、加速度測定手段を電子光学鏡筒に取り付け、該加速度測定手段の出力ライン上に、電子光学系鏡筒,被ビーム照射物支持体及びスクリーン体の固有振動数より低い周波数を通過させる第1フィルタと、前記電子光学系鏡筒の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタと、前記被ビーム照射物支持体の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタと、前記スクリーン体の固有振動数に対応した周波数を通過させるバンドパスフィルタとをそれぞれ並列に接続し、該各バンドパスフィルタの出力を元にして得た振動の変位信号と、前記第1フィルタの出力信号とを加算した信号に基づいて被ビーム照射物支持体若しくはスクリーン体を移動させるように成した荷電粒子ビーム装置。
- バンドパスフィルタの出力ラインに遅延回路を設けてバンドパスフィルタの加速度出力の位相を180度分遅らせるように成した請求項2,4,6に記載の何れかの荷電粒子ビーム装置。
- バンドパスフィルタの出力ラインに二重積分器を設けてバンドパスフィルタの加速度出力を変位に変換させるように成した請求項2,4,6に記載の何れかの荷電粒子ビーム装置。
- バンドパスフィルタの出力ラインに反転回路を設けてバンドパスフィルタの加速度出力の位相を180度分遅らせるように成した請求項2,4,6に記載の何れかの荷電粒子ビーム装置。
- スクリーン体は蛍光板である請求項5若しくは6に記載の荷電粒子ビーム装置。
- スクリーン体はフィルムである請求項5若しくは6に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 被ビーム照射物支持体とスクリーン体の間に偏向器が設けられており、第2フィルタの出力を二重積分した信号と、第1フィルタの出力信号とに基づいて、この偏向器により被ビーム照射物を透過した荷電粒子ビームを移動させるように成した請求項5記載の荷電粒子ビーム装置。
- 被ビーム照射物支持体とスクリーン体の間に偏向器が設けられており、各バンドパスフィルタの出力を元にして得た振動の変位信号と、前記第1フィルタの出力信号とに基づいて、この偏向器により被ビーム照射物を透過した荷電粒子ビームを移動させるように成した請求項6記載の荷電粒子ビーム装置。
- 電子光学鏡筒を搭載している鏡筒搭載台は防振マウントを介して床の上に設置されている請求項1,2,5,若しくは6記載の荷電粒子ビーム装置。
- 電子光学鏡筒を搭載しているチャンバは防振マウントを介して床の上に設置されている請求項3若しくは4記載の荷電粒子ビーム装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003405925A JP4272043B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 荷電粒子ビーム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003405925A JP4272043B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 荷電粒子ビーム装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005166538A JP2005166538A (ja) | 2005-06-23 |
JP4272043B2 true JP4272043B2 (ja) | 2009-06-03 |
Family
ID=34728457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003405925A Expired - Fee Related JP4272043B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 荷電粒子ビーム装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4272043B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007080668A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置の試料移動装置 |
JP5561968B2 (ja) * | 2009-08-12 | 2014-07-30 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法および振動成分抽出方法 |
EP3163597A1 (en) | 2015-11-02 | 2017-05-03 | FEI Company | Charged particle microscope with vibration detection/correction |
JP6700642B2 (ja) * | 2016-02-22 | 2020-05-27 | 株式会社ホロン | 画像振動抑制装置および画像振動抑制方法 |
US9793091B1 (en) * | 2016-06-28 | 2017-10-17 | Ngr Inc. | Image generation apparatus |
US9835959B1 (en) * | 2016-10-17 | 2017-12-05 | Cymer, Llc | Controlling for wafer stage vibration |
-
2003
- 2003-12-04 JP JP2003405925A patent/JP4272043B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005166538A (ja) | 2005-06-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060721 |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130306 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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