JP4254228B2 - スイッチング素子及びその製造方法 - Google Patents

スイッチング素子及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4254228B2
JP4254228B2 JP2002369872A JP2002369872A JP4254228B2 JP 4254228 B2 JP4254228 B2 JP 4254228B2 JP 2002369872 A JP2002369872 A JP 2002369872A JP 2002369872 A JP2002369872 A JP 2002369872A JP 4254228 B2 JP4254228 B2 JP 4254228B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bistable material
switching element
material layer
layer
fine particles
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002369872A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004200569A (ja
Inventor
春雄 川上
久人 加藤
卓治 岩本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Holdings Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Holdings Ltd filed Critical Fuji Electric Holdings Ltd
Priority to JP2002369872A priority Critical patent/JP4254228B2/ja
Publication of JP2004200569A publication Critical patent/JP2004200569A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4254228B2 publication Critical patent/JP4254228B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機ELディスプレーパネルの駆動用スイッチング素子や、高密度メモリ等に利用される、有機双安定材料を2つの電極間に配置したスイッチング素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、有機電子材料の特性は目覚しい進展をみせている。特に、材料に電圧を印加していくと、ある電圧以上で急激に回路の電流が増加してスイッチング現象が観測される、いわゆる有機双安定材料は、有機ELディスプレーパネルの駆動用スイッチング素子や、高密度メモリなどへの適用が検討されている。
図5には、上記のようなスイッチング挙動を示す有機双安定材料の、電圧−電流特性の一例が示されている。
図5に示すように、有機双安定材料においては、高抵抗特性51(off状態)と、低抵抗特性52(on状態)との2つの電流電圧特性を持つものであり、あらかじめVbのバイアスをかけた状態で、電圧をVth2以上にすると、off状態からon状態へ遷移し、Vth1以下にすると、on状態からoff状態へと遷移して抵抗値が変化する、非線形応答特性を有している。つまり、この有機双安定材料に、Vth2以上、又はVth1以下の電圧を印加することにより、いわゆるスイッチング動作を行なうことができる。ここで、Vth1、Vth2は、パルス状の電圧として印加することもできる。
【0003】
このような非線形応答を示す有機双安定材料としては、各種の有機錯体が知られている。例えば、R.S.Potember等は、Cu−TCNQ(銅−テトラシアノキノジメタン)錯体を用い、電圧に対して、2つの安定な抵抗値を持つスイッチング素子を試作している(R.S.Potember et al. Appl. Phys. Lett. 34, (1979) 405)。
また、熊井等は、K−TCNQ(カリウム−テトラシアノキノジメタン)錯体の単結晶を用い、非線形応答によるスイッチング挙動を観測している(熊井等 固体物理 35 (2000) 35)。
更に、安達等は、真空蒸着法を用いてCu−TCNQ錯体薄膜を形成し、そのスイッチング特性を明らかにして、有機ELマトリックスへの適用可能性の検討を行なっている(安達等 応用物理学会予稿集 2002年春 第3分冊 1236)。
【0004】
また、同様の材料を用いたメモリ素子として、Yang Yangらは、アミノイミダゾールジカーボニトリル(AIDCN)、アルミキノリンやポリスチレン、ポリメチルメタクレート(PMMA)等の低導電率材料中に、金、銀、アルミニウム、銅、ニッケル、マグネシウム、インジウム、カルシウム、リチウム等などの高導電率材料を薄膜形成、もしくは分散微粒子として存在させることにより、前記の双安定特性が得られるとともに、印加する電圧をゼロとしてもその前のon/off状態を記憶できることを示した(WO02/37500)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のメモリ特性を持つスイッチング素子については以下の問題点があった。
すなわち、Yangらが示した高導電率材料のうちアルミニウム薄膜は微粒子の寸法を制御するのが困難であり大面積に均一に形成することが困難である。また金、銀、アルミニウム、銅、ニッケル、マグネシウム、インジウム、カルシウム、リチウムなどの微粒子は一般に寸法が20nm以上のものしか得られないため、一般に膜厚が100nm以下である双安定有機材料層中に均一に分散させるには困難な点があった。また、当該層中に均一に分散させた場合には、当該金属微粒子と金属電極との距離が一定とはならないため、当該金属微粒子へ注入される電荷が一定とはならずばらつきが生ずるため、特性にばらつきが生じる原因となる。
【0006】
さらに、低導電率材料のうち双安定特性が優れたアミノイミダゾールジカーボニトリル(AIDCN)、アルミキノリンは真空蒸着で形成されていたが、真空蒸着法は、成膜装置として高価な真空装置が必要であり、かつ、真空引きに長時間を要する事等から、量産時の製造コストダウンに限界があるという問題点があった。
本発明は、上記従来技術の問題点を鑑みてなされたもので、有機双安定材料を2つの電極間に配置したスイッチング素およびその製造方法において、特性のばらつきが少ない安定したメモリ特性を実現することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本願発明は、印加される電圧に対して2種類の安定な抵抗値を持つ有機双安定材料からなる双安定材料層を、少なくとも2つの電極間に有するスイッチング素子において、前記双安定材料層が、一つの分子内に電子供与性の官能基と電子受容性の官能基とを有する有機双安定材料を少なくとも含有し、前記双安定材料層中に、平均粒径が5nm以下の導電性微粒子が分散されてなる微粒子分散層を有することとする( 請求項1の発明)。また、前記双安定材料層を、第1の双安定材料層、前記微粒子分散層、及び第2の双安定材料層の順に成膜するものとする( 請求項2の発明)。
【0008】
さらに、前記導電性微粒子として、白金またはロジウムの微粒子を用いることとする( 請求項3の発明)本願発明のスイッチング素子の製造方法は、基板上に第1の電極を成膜する工程と、第1の双安定材料層を成膜する工程と、第1の双安定材料層上に、平均粒径が5nm以下の導電性微粒子を分散させた前記有機双安定材料を含有する塗液を塗布することにより微粒子分散層を成膜する工程と、前記微粒子分散層上に第2の双安定材料層を成膜する工程と、第2の電極を成膜する工程とを有することとする( 請求項の発明) 。
【0009】
上記構成を有する本発明に係るスイッチング素子においては、導電性微粒子を双安定材料層中の微粒子分散層にのみ分散させることとしたので、電極から一定範囲の距離に微粒子を分散することができ、また、導電性材料として平均粒径の小さな白金やロジウムの微粒子を用いるので粒径にばらつきの少ない微粒子を膜厚の薄い微粒子分散層中に均一に分散することができるので、安定した特性のスイッチング素子が得られる。また、本発明の製造方法においては、微粒子分散層を塗布法で形成することとしたので、特性が安定なスイッチング素子を安価に製造することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明を詳細に説明する。図1は、本発明のスイッチング素子の一実施形態を示す概略構成図である。
図1に示すように、このスイッチング素子は、基板10上に、電極層21a、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31b、電極層21bが順次積層された構成となっている。
基板10としては特に限定されないが、従来公知のガラス基板等が好ましく用いられる。
【0011】
電極層21a、21bとしては、アルミニウム、金、銀、ニッケル、鉄などの金属材料や、ITO、カーボン等の無機材料、共役系有機材料、液晶等の有機材料、シリコンなどの半導体材料などが適宜選択可能であり、特に限定されない。
次に、本発明においては、双安定材料層30に用いる有機双安定材料として、一つの分子内に電子供与性の官能基と、電子受容性の官能基とを有する化合物を少なくとも含有することを特徴としている。
電子供与性の官能基としては、−SCH3、−OCH3、−NH2、−NHCH3、−N(CH32等が挙げられ、電子受容性の官能基としては、−CN、NO2、−CHO、−COCH3、−COOC25、−COOH、−Br、−Cl、−I、−OH、−F、=O等が挙げられる。
【0012】
また、一つの分子内に上記の電子供与性の官能基と、上記の電子受容性の官能基とを有する化合物としては、アミノイミダゾール系化合物、ジシアノ系化合物、ピリドン系化合物、スチリル系化合物、スチルベン系化合物、ブタジエン系化合物等が挙げられる。微粒子分散層32としては、微粒子として白金、もしくはロジウムの平均粒径が5nm以下の金属微粒子を用い、これを有機材料中に分散させたものである事を特徴と、微粒子の平均直径は1nm〜5nmである事が特に望ましい。
上記の電極層21a、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31b、電極層21bは、基板10上に順次薄膜として形成されることが好ましい。
【0013】
電極層21a、21bの形成には、真空蒸着法等の従来公知の方法が好ましく用いられ特に限定されない。電極層21a、21bの蒸着時の基板温度は、使用する電極材料によって適宜選択されるが、0〜150℃が好ましい。
次に、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31bの形成方法としては、真空蒸着法、スパッタ法等の真空工程も技術的には可能であるが、スピンコート法、ディップ法、バーコート法、インクジェット法、単分子膜累積法(LB法)、スクリーン印刷法等の有機薄膜の形成方法が量産性に優れており好ましい。
【0014】
第1および第2の双安定材料層31a、31bを塗布法により形成する場合に用いられる塗布溶剤としては、ハロゲン系のジクロロメタン、ジクロロエタン、クロロホルム、エーテル系のテトラヒドロフラン(THF)、エチレングリコールジメチルエーテル、芳香族のトルエン、キシレン、アルコール系のエチルアルコール、エステル系の酢酸エチル、酢酸ブチル、ケトン系のアセトン、メチルエチルケトン(MEK)、その他アセトニトリル等が用いられるがそれに限定されない。これらの溶剤中に重量比で0.001〜30%の範囲で双安定材料を溶解させ、また必要に応じてバインダー樹脂を加えて塗布液とする。
【0015】
バインダー樹脂としてはポリカーボネート、ポリエステル、ポリビニールアルコール、ポリスチレン等、多くの材料が適用可能である。
微粒子分散層32を塗布法により形成する場合に用いられる塗布溶剤としては、特に分散微粒子として白金、ロジウム等の金属を用いる場合は、当該材料の分散が容易なアルコール系のエチルアルコール、メチルアルコール、プロピルアルコール、グリコール系のエチレングリコール、エーテル系のテトラヒドロフラン(THF)、エチレングリコールジメチルエーテル、もしくは純水が望ましいが、それに限定されない。これらの溶剤中に重量比で0.001〜30%の範囲で微粒子を分散させ、また必要に応じてバインダー樹脂を加えて塗布液とする。バインダー樹脂としてはポリカーボネート、ポリエステル、ポリビニールアルコール、ポリスチレン等、多くの材料が適用可能である。
【0016】
第1及び第2の双安定材料層31a、31b、及び微粒子分散層32をスピンコート法で製膜する場合の条件としては通常、目標膜厚に応じて回転数200〜3600rpmの範囲で選定されるが、それに限定されるものでは無い。
また、各層の膜厚は、電極層21a、21bは50〜200nmが好ましく、第1及び第2の双安定材料層31a、31bは20〜150nmが好ましい。また、微粒子分散層32としては3〜20nmが好ましい。
【0017】
【実施例】
以下、実施例により、本発明のスイッチング素子について更に詳細に説明する。
実施例1
以下の手順で、図1に示すような構成のスイッチング素子を作成した。
まず、基板10としてガラス基板を用い、電極層21aとしてアルミニウムを真空蒸着法により形成し、この電極層21aの反ガラス基板側の表面上に、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31bを順次スピンコートにより形成後、さらに第2の双安定材料層31bの表面上に電極層21bとしてアルミニウムを真空蒸着法により成膜して、実施例1のスイッチング素子を形成した。
【0018】
前記電極層21a,21bの形成時のアルミニウムの蒸着は、抵抗加熱方式により成膜速度は3A/secで行い、蒸着装置は拡散ポンプ排気で、3×10-6torrの真空度で行なった。
前記第1及び第2の双安定材料層31a、31bの形成に際しては、有機双安定材料として下記の構造式(I)のジシアノ系化合物を用い、当該ジシアノ系化合物の塗布液中に占める割合が1.0wt%となるように、溶剤としてのテトラヒドロフラン(THF)に溶解させて塗布液を調整し、これをスピンコート法で回転数2400rpmの条件で成膜した。
【0019】
【化1】
Figure 0004254228
【0020】
また前記微粒子分散層32の形成においては、テトラヒドロフラン(THF)中に平均直径2nmの白金微粒子を(全塗布液に対する重量比で)0.1wt%分散し、さらに上記ジシアノ系化合物(I)を(同じく全塗布液に対する重量比で)0.05wt%溶解させて塗布液を調整し、これをスピンコート法で回転数3600rpmの条件で成膜した。 上記の手順により、電極層21a、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31b、電極層21bの各膜厚を、それぞれ、100nm、40nm、5nm、40nm、100nmの厚さとなるように成膜した。
実施例2
微粒子分散層32に分散させる金属微粒子として平均直径4nmの白金微粒子を用い、微粒子分散層32の厚さを10nmとした以外は、実施例1と同一の条件で、実施例2のスイッチング素子を作製した。
【0021】
実施例3
有機双安定材料として実施例1で用いた上記構造式(I)のジシアノ系化合物に代えて下記の構造式(II)のジシアノ系化合物を用いた点、各蒸着層の厚さを、電極層21a、第1の双安定材料層31a、微粒子分散層32、第2の双安定材料層31b、電極層21bが、それぞれ100nm、50nm、5nm、50nm、100nmの厚さとなるように成膜した点以外は、実施例1と同一の条件で実施例3のスイッチング素子を作製した。
【0022】
【化2】
Figure 0004254228
【0023】
比較例1
微粒子分散層32を、真空蒸着によりアルミニウムを20nmの厚さに成膜した以外は、実施例1と同一の条件で比較例1のスイッチング素子を作製した。
比較例2
実施例1で用いた白金微粒子に代えて平均粒径20nmの金微粒子を用い、微粒子分散層32の膜厚を35nmとなるよう成膜した点以外は、実施例1と同一の条件で比較例2のスイッチング素子を作製した。
比較例3
微粒子分散層32を設けず、第1及び第2の双安定材料層31a、31bを連続して合計の膜厚が80nmとなるよう成膜した点以外は、実施例1と同一の条件で比較例3のスイッチング素子を作製した。
【0024】
試験例
上記の実施例1〜5の各スイッチング素子について、それぞれ10点、室温環境において以下の手順で電流−電圧特性の測定を行った。すなわち、電圧をゼロから、OFF状態からON状態への転移が観測されるVth2まで上げた後、ON状態からOFF状態への転移が観測されるVth1まで電圧を低下させる。前記手順においてVth1とVth2を測定した後、再度OFF状態からON状態への転移が観測されるVth2まで上げた後、電圧をゼロに戻して、試料を室温で10日間保管した。
なお、測定条件としては、各スイッチング素子には、1MΩの電気抵抗を直列に接続し、ON状態の電流を制限して過電流による素子の損傷を抑制した。
【0025】
なお、図2、図3及び図4には、それぞれ、実施例1、2及び3のスイッチング素子についての電流−電圧特性を示す。
表1、表2には各実施例、比較例のVth1, Vth2の測定結果を示す。実施例ではVth1はすべてマイナスの値であり、Vth2はばらつきが少なくなっている。比較例1では実施例と同様Vth1の値はすべてマイナスの値であるが、Vth1, Vth2の値のばらつきは実施例に比して大きく実用上の問題となる。比較例2では測定数10個のうち3個で絶縁破壊が生じ双安定特性が認められず、またVth2の値が実施例に比して極端に低く実用できるレベルに無かった。また比較例3ではVth1, Vth2の値ともばらつきが大きく、特にVth1の値はプラスの値を示す場合もあった。
【0026】
【表1】
Figure 0004254228
【0027】
【表2】
Figure 0004254228
【0028】
10日後の測定において、実施例1,2,3では各10点の測定点全てが10日前の最終状態(ON状態)を記憶しており、ON状態の電流―電圧特性を示した。一方、比較例1では10点中8点、比較例2では絶縁破壊していない測定点7点のうち5点がON状態を示したが、それぞれ2点はOFF状態へ戻っていた。比較例3では10点中1点のみがON状態であり、9点はOFF状態へ戻っていた。
また、図2,図3,図4で明らかなように、実施例1,2,3においては、平均低閾値電圧Vth1の値が−2.08〜-1.65V、平均高閾値電圧Vth2の値が2.69〜3.61V、及び低抵抗状態/高抵抗状態の比として約103以上の値が得られており双安定特性として良好な結果が得られていた。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、有機双安定材料を2つの電極間に配置したスイッチング素子において、転移電圧のばらつきが少なく、メモリ特性の安定したスイッチング特性を実現することができる。したがって、本発明のスイッチング素子は、有機ELディスプレーパネルの駆動用スイッチング素子や、高密度メモリ等に好適に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のスイッチング素子の一実施形態を示す概略構成図である。
【図2】 実施例1におけるスイッチング素子の電流−電圧特性を示す図表である。
【図3】 実施例2におけるスイッチング素子の電流−電圧特性を示す図表である。
【図4】 実施例3におけるスイッチング素子の電流−電圧特性を示す図表である。
【図5】 従来のスイッチング素子の電圧−電流特性の概念を示す図表である。
【符号の説明】
10:基板
21a、21b:電極層
30:双安定材料層
31a:第1の双安定材料層
32b:第2の双安定材料層
32:微粒子分散層
51、61、71、81:高抵抗状態
52、62、72、82:低抵抗状態
Vth1:低閾値電圧
Vth2:高閾値電圧

Claims (4)

  1. 印加される電圧に対して2種類の安定な抵抗値を持つ有機双安定材料からなる双安定材料層を、少なくとも2つの電極間に有するスイッチング素子において、前記双安定材料層が、一つの分子内に電子供与性の官能基と電子受容性の官能基とを有する有機双安定材料を少なくとも含有し、前記双安定材料層中に、平均粒径が5nm以下の導電性微粒子が分散されてなる微粒子分散層を有することを特徴とするスイッチング素子。
  2. 前記双安定材料層が、第1の双安定材料層、前記微粒子分散層、及び第2の双安定材料層の順に成膜されたものであることを特徴とする請求項1に記載のスイッチング素子。
  3. 前記導電性微粒子が、白金またはロジウムの微粒子である事を特徴とする請求項1に記載のスイッチング素子。
  4. 請求項1に記載のスイッチング素子の製造方法において、基板上に第1の電極を成膜する工程と、第1の双安定材料層を成膜する工程と、第1の双安定材料層上に、平均粒径が5nm以下の導電性微粒子を分散させた前記有機双安定材料を含有する塗液を塗布することにより微粒子分散層を成膜する工程と、前記微粒子分散層上に第2の双安定材料層を成膜する工程と、第2の電極を成膜する工程とを有することを特徴とするスイッチング素子の製造方法。
JP2002369872A 2002-12-20 2002-12-20 スイッチング素子及びその製造方法 Expired - Fee Related JP4254228B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002369872A JP4254228B2 (ja) 2002-12-20 2002-12-20 スイッチング素子及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002369872A JP4254228B2 (ja) 2002-12-20 2002-12-20 スイッチング素子及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004200569A JP2004200569A (ja) 2004-07-15
JP4254228B2 true JP4254228B2 (ja) 2009-04-15

Family

ID=32765968

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002369872A Expired - Fee Related JP4254228B2 (ja) 2002-12-20 2002-12-20 スイッチング素子及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4254228B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4585209B2 (ja) * 2003-03-19 2010-11-24 大日本印刷株式会社 有機双安定性メモリ装置
WO2006101241A1 (en) * 2005-03-25 2006-09-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory element, memory device, and semiconductor device
CN101167189B (zh) * 2005-04-27 2013-09-18 株式会社半导体能源研究所 半导体器件的制造方法
CN102222765B (zh) 2006-03-10 2012-12-12 株式会社半导体能源研究所 存储元件以及半导体器件
EP1883109B1 (en) 2006-07-28 2013-05-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory element and method of manufacturing thereof
US7988057B2 (en) 2006-11-28 2011-08-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and semiconductor device
WO2009031507A1 (ja) 2007-09-03 2009-03-12 Kyushu University 有機スイッチング素子およびその製造方法
JP5484961B2 (ja) * 2010-03-02 2014-05-07 国立大学法人九州大学 有機スイッチング素子の製造方法
JP6033731B2 (ja) * 2013-04-23 2016-11-30 株式会社平和 遊技機

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004200569A (ja) 2004-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1594176B1 (en) Switching device
JP4254228B2 (ja) スイッチング素子及びその製造方法
JP4729721B2 (ja) スイッチング素子
JP4826254B2 (ja) スイッチング素子
KR101224768B1 (ko) 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법
WO2004006351A1 (ja) スイッチング素子
JP4618131B2 (ja) スイッチング素子
US7645777B2 (en) Switching device
JP4835158B2 (ja) スイッチング素子
KR100939543B1 (ko) 패턴형성용 고분자 및 이를 이용한 유기메모리 소자
TWI305961B (en) Method of fabricating a electrical device
JPWO2005088746A1 (ja) スイッチング素子
JP2005123394A (ja) スイッチング素子及びその製造方法
JP2007142357A (ja) 双安定デバイス、双安定メモリ素子、および製造方法
JP2004200570A (ja) スイッチング素子及びその製造方法
JPWO2005041318A1 (ja) スイッチング素子
JP2004247529A (ja) スイッチング素子
JP2010186936A (ja) 有機半導体膜及びその製造方法、有機半導体素子、有機トランジスタ、並びに有機半導体膜形成用塗布液
JP2005332977A (ja) スイッチング素子
JP2005353694A (ja) 電界効果型有機トランジスタ
JP2005268444A (ja) 非線形素子
JP2006261164A (ja) スイッチング素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050117

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20060703

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060704

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080925

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081120

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20081215

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090106

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090119

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4254228

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees