JP4246607B2 - パターン照合装置 - Google Patents
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Description
そこで、本出願人は、先に、空間周波数特性に基づいてN次元のパターン〔例えば、音声(1次元)、指紋(2次元)、立体(3次元)〕の照合を行うパターン照合装置を提案した(例えば、特許文献1参照)。
この発明によれば、フーリエ変換の施された合成フーリエN次元パターンデータ上の所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素が抽出され、この抽出されたn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分が相関ピークとされ、抽出されたn画素のうち相関ピークからの距離が1つでも所定値以上離れた画素があれば、直ちに登録パターンと照合パターンとが不一致であると判断される。
この発明によれば、合成フーリエN次元パターンデータに対してlog処理や√処理等の振幅抑制処理が行われたうえ、N次元離散的フーリエ変換あるいはN次元離散的逆フーリエ変換が施される。
この発明によれば、登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換が施され、log処理や√処理等の振幅抑制処理が行われることにより、登録フーリエN次元パターンデータが作成される。また、照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換が施され、log処理や√処理等の振幅抑制処理が行われることにより、照合フーリエN次元パターンデータが作成される。
また、本発明によれば、相関データ上の所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素が抽出され、この抽出されたn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分が相関ピークとされ、抽出されたn画素のうち相関ピークからの距離が1つでも所定値以上離れた画素があれば、直ちに登録パターンと照合パターンとが不一致であると判断されるものとなり、登録パターンと照合パターンとが異なる場合に出現する相関ピークから離れたところに位置する強度の高い相関成分が積極的に照合に用いられ、演算量が少なくて済み、これにより照合スピードがアップするものとなる。
この指紋照合装置において利用者の指紋は次のようにして登録される。すなわち、運用する前に、利用者は、テンキー10−1を用いて自己に割り当てられたIDナンバを入力のうえ(図2に示すステップ201)、指紋センサ10−3のプリズム10−32上に指を置く。プリズム10−32には光源10−31から光が照射されており、プリズム10−32の面に接触しない指紋の凹部(谷線部)では、光源10−31からの光は全反射し、CCDカメラ10−33に至る。逆にプリズム10−32の面に接触する指紋の凸部(隆線部)では全反射条件がくずれ、光源10−31からの光は散乱する。これにより、指紋の谷線部は明るく、隆線部は暗い、コントラストのある指紋の紋様が採取される。この採取された指紋(登録指紋)の紋様は、A/D変換により、例えば320×400画素,256階調の濃淡画像(画像データ:2次元パターンデータ)として、コントロール部20へ与えられる。
この指紋照合装置において利用者の指紋の照合は次のようにして行われる。すなわち、運用中、利用者は、テンキー10−1を用いて自己に割り当てられたIDナンバを入力のうえ(図5に示すステップ501)、指紋センサ10−3のプリズム10−32上に指を置く。これにより、指紋の登録の場合と同様にして、採取された指紋(照合指紋)の紋様が、320×400画素,256階調の濃淡画像(画像データ:2次元パターンデータ)として、コントロール部20へ与えられる。
また、制御部20−1は、操作部10より与えられる照合指紋の画像データをフレームメモリ20−5を介して取り込み(ステップ503)、この取り込んだ照合指紋の画像データに対してステップ203で行ったと同様の縮小処理を行う(ステップ504)。これにより、照合指紋の画像データが、64×128画素,256階調の画像データに縮小される。
A・B・exp(j(θ−φ))=A・B・cos(θ−φ)+j・A・B・sin(θ−φ) ・・・(1)
として表され、A・exp(jθ)=α1 +jβ1 、B・exp(jφ)=α2 +jβ2 とすると、A=(α1 2+β1 2)1/2,B=(α2 2+β2 2)1/2,θ=tan−1(β1 /α1 ),φ=tan−1(β2 /α2 )となる。この(1)式を計算することにより合成フーリエ画像データを得る。
Claims (6)
- 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対してN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が所定値以上離れた画素の相関成分に0又は負の重みをかけたうえで、これらn画素の相関成分の強度の平均値を相関値として求め、この相関値に基づいて前記登録パターンと前記照合パターンとの照合を行うパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。 - 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対して振幅抑制処理を行ったうえN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が所定値以上離れた画素の相関成分に0又は負の重みをかけたうえで、これらn画素の相関成分の強度の平均値を相関値として求め、この相関値に基づいて前記登録パターンと前記照合パターンとの照合を行うパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。 - 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施してから振幅抑制処理を行うことにより登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施してから振幅抑制処理を行うことにより照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対してN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が所定値以上離れた画素の相関成分に0又は負の重みをかけたうえで、これらn画素の相関成分の強度の平均値を相関値として求め、この相関値に基づいて前記登録パターンと前記照合パターンとの照合を行うパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。 - 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対してN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が1つでも所定値以上離れた画素があった場合、前記登録パターンと前記照合パターンとは不一致であると判断するパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。 - 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施して照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対して振幅抑制処理を行ったうえN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が1つでも所定値以上離れた画素があった場合、前記登録パターンと前記照合パターンとは不一致であると判断するパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。 - 登録パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施してから振幅抑制処理を行うことにより登録フーリエN次元パターンデータを作成する登録フーリエパターンデータ作成手段と、
照合パターンのN次元パターンデータにN次元離散的フーリエ変換を施してから振幅抑制処理を行うことにより照合フーリエN次元パターンデータを作成する照合フーリエパターンデータ作成手段と、
前記登録フーリエN次元パターンデータと前記照合フーリエN次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエN次元パターンデータに対してN次元離散的フーリエ変換およびN次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施して相関データとするパターン処理手段と、
このパターン処理手段によって得られた相関データ上に定められた所定の相関成分エリアの個々の画素毎の相関成分の中からその強度が高い上位n画素を抽出し、この抽出したn画素の相関成分のうちその強度が最も高い相関成分を相関ピークとし、前記抽出したn画素のうち前記相関ピークからの距離が1つでも所定値以上離れた画素があった場合、前記登録パターンと前記照合パターンとは不一致であると判断するパターン照合手段と
を備えたことを特徴とするパターン照合装置。
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- 2003-11-21 JP JP2003392082A patent/JP4246607B2/ja not_active Expired - Fee Related
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