JP4219448B2 - Semiconductor device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、インテリジェントパワーモジュールなどを実施対象とした半導体装置、詳しくはそのパッケージの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
まず、頭記したインテリジェントパワーモジュールを例に、従来における半導体装置の組立構造を図5〜図7に示す。図において、1は端子一体型パッケージの樹脂ケース(樹脂成形品)、2は樹脂ケース1の上蓋、3は樹脂ケース1の一方の側壁部にインサート成形して上方に引出した主回路端子(入力端子+,−,出力端子U,V,W)、4は樹脂ケース1の他方側の側壁部にインサート成形して上方に引出した制御用信号端子であり、樹脂ケース1の内部には次記の構成になる主回路ブロック5,および制御回路ブロック6が組み込まれている。
【0003】
ここで、主回路ブロック5は、パワー素子(IGBT,フリーホイーリングダイオードなど)5aを絶縁基板(アルミ絶縁基板,あるいはダイレクト・ボンディング・カッパー(DBC)基板など)5bに搭載した構成になり、樹脂ケース1の底面に開口した基板取付用の穴1a(絶縁基板5aの外形寸法に相応した角穴)へ下面側から嵌め込み、絶縁基板5bの周縁と樹脂ケース側との間が第1の接着剤(シリコーン系接着剤)7で固着されている。一方、制御回路ブロック6はICなどの回路素子6aをプリント基板6bに実装した構成になり、前記の主回路ブロック5の側方に並べて樹脂ケース1の底壁に形成した凹状の台座面1(プリント基板の外形寸法に相応した窪み)の上に載置して第2の接着剤(エポキシ系接着剤など)8で固着されている。
【0004】
また、前記の主回路ブロック5と主回路端子3の間,制御回路ブロック6と制御用信号端子4の間,および主回路ブロック5と制御回路ブロック6の間はボンディングワイヤ9で接続され、さらに樹脂ケース1の内部に封止樹脂(シリコーンゲル)10を充填した上で上蓋2が被着されている。
次に、前記した主回路ブロック5を樹脂ケース1に組付ける工程の手順について詳しく述べる。すなわち、樹脂ケース1の底面に開口した穴1aの下面側周縁には段付き座面1a-1が形成されており、この座面全周に液状の接着剤7を塗布した上で、絶縁基板5bを下面側から嵌め込んで加圧力を加えながら接着剤7を加熱硬化する。一方、制御回路ブロック6を樹脂ケース1の台座面1bに固着するには、適量の液状接着剤8を凹状台座面1bに塗布した後にプリント基板6bを上方から重ね合わせ、加圧力を加えながら接着剤8を加熱硬化させる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記した従来の半導体装置のパッケージ構造では、特に樹脂ケースに主回路ブロック,制御回路ブロックを接着剤で固着する際に次記ような問題点が派生する。
(1) 主回路ブロック5の通電に伴ってパワー素子5aから発熱する熱を冷却フィンを介して外部へ効率よく放熱させるには、樹脂ケース1の裏面と絶縁基板5bの放熱面(裏面)との相対的な高さの管理が非常に重要である。すなわち、図6に示した半導体装置の組立状態で、絶縁基板5bの裏面が樹脂ケース1の裏面よりも0.1mm以上引っ込んでいると、伝熱グリースを塗布しても絶縁基板5bの裏面を冷却フィンに密着させることが困難で絶縁基板5bの放熱性で低下する。また、逆に絶縁基板5bの裏面が樹脂ケース1の裏面よりも0.1mm以上突き出していると、樹脂ケース1をその左右両端に開口しているボルト穴1cにボルトを通して冷却フィンに締結する際に、絶縁基板5bに過大な応力が発生して基板にクラック,割れを生じることがある。
【0006】
このために、図6(b) で表すように、半導体装置の組立時には主回路ブロック5の絶縁基板5bの裏面と樹脂ケース1の裏面との間の段差ΔSが前記した公差(0.1mm)以内に収まるような高い組立精度が要求される。この場合に、接着工程で段付き座面1a-1に塗布する接着剤の供給量が多めで、かつ絶縁基板5bを樹脂ケース1に押しつけ力が弱いと、絶縁基板5bの裏面が樹脂ケース1の裏面より下方に突き出したまま接着剤7が硬化する。逆に、絶縁基板5bを樹脂ケース1に強く押しつけ過ぎると、接着剤7の層厚さが極端に薄くなって所定の接着強度が得られなくなるほか、絶縁基板5bが樹脂ケース1の裏面より内側に引っ込んでしまい、さらに加圧により余剰の液状接着剤7が接合面からはみ出して絶縁基板5bの裏面側に回り込んで伝熱面に付着する。このために、後始末の処理として裏面側にはみ出た接着剤を拭き取る余分な作業工程が必要となる。
【0007】
このように、従来構造では主回路ブロック5を樹脂ケース1に固着する接着工程での組立精度にばらつきが生じ易く、このことが製品の品質維持を図る上でのネックとなっている。
(2) また、制御回路ブロック6を樹脂ケース1の台座面1bに接着剤8で固着する組立工程では、凹状台座面1bに塗布する接着剤8の供給量が多いと、プリント基板6bを台座面1bに押しつけた際に、余剰の接着剤8がプリント基板6bの周縁からはみ出し、特に樹脂ケース1の周壁側(ここには制御信号用端子4の内側先端が突き出ている)に接着剤がはみ出ると、制御用信号端子4,およびプリント基板5bの回路パターンの表面に付着し、このためにワイヤ9の接合不良を引き起こして信頼性が著しく低下するといった問題が生じる。
【0008】
本発明は上記の点に鑑みなされたものであり、その目的は前記課題を解決し、樹脂ケースに主回路ブロック,制御回路ブロックを組付ける接着工程で安定した品質が得られるように改良した半導体装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、この発明によれば、周壁部に主回路端子,および制御用信号端子をインサート成形した端子一体型の樹脂ケースに主回路ブロック,制御回路ブロックを組み込み、ボンディングワイヤで内部接続した半導体装置であり、前記主回路ブロックは絶縁基板を樹脂ケースの底面に開口した基板取付穴に下方から嵌め込んでその周縁を基板取付穴の裏面側周縁に形成した段付き座面に接着剤で固着し、制御回路ブロックは樹脂ケースの底面に形成した凹状の台座面の上にプリント基板を重ね合わせて接着剤で固着したものにおいて、
(1) 前記した基板取付穴の段付き座面に、主回路ブロックを加圧接着する際に接着剤の層厚を一定厚さに確保するためのスペーサとして機能するスタンドオフを分散形成し、前記した段付き座面の全周域に亘り樹脂ケースの裏面側に向けて広がるテーパー状の面取りを形成し、主回路ブロックを接着する際に余剰の接着剤を前記の面取り部分と絶縁基板の周面との間に残存するスペースで吸収するようにする(請求項1)。
【0010】
(2) 前記した基板取付穴の段付き座面に、主回路ブロックを加圧接着する際に接着剤の層厚を一定厚さに確保するためのスペーサとして機能するスタンドオフを分散形成し、樹脂ケースの底面に形成した凹状台座面に対し、樹脂ケースの周壁側に面した台座面の側縁にプリント基板の側縁に向けて突き出す突起状のスタンドオフを形成し、該スタンドオフをスペーサとして制御回路ブロックを凹状台座面に接着する際にはみ出した余剰の接着剤をプリント基板の側縁と凹状台座面の側面との間に残存する隙間スペースで吸収するようにする(請求項2)。
【0011】
上記の構成により、樹脂ケースに主回路ブロック,制御回路ブロックを組付ける接着工程で、その接着面に塗布する接着剤の量が多少多めにばらついた場合でも、余剰の接着剤が絶縁基板の裏面側、あるいはプリント基板,制御用信号端子の上面にはみ出すことがなく、かつ組立精度の面でも主回路ブロックの絶縁基板の裏面と樹脂ケースの裏面との間の段差が許容できる公差内に収まるようになって組立の信頼性が向上し、製品の品質も安定するようになる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図1〜図4の実施例に基づいて説明する。なお、実施例の図中で図6,図7に対応する同一部材には同じ符号を付してその説明は省略する。
まず、図1(a) 〜(c) ,および図2(a) 〜(c) において、半導体装置の組立構造,および樹脂ケースの構造は基本的に図6,図7と同様であるが、図示実施例の樹脂ケースは従来構造と比べて次の点が相違する。すなわち、
(1) 樹脂ケース1の底面に開口して基板取付穴1aの周縁に形成した段付き座面1a-1に対し、その座面周域には絶縁基板5bの上面に向けて突き出すように断面長円形になる突起状のスタンドオフ1a-2が複数箇所に振り分けて分散形成されている。
【0013】
このスタンドオフ1a-2は、座面1a-1の幅をdとしてその約1/2を幅寸法として基板取付穴1aの内周縁に沿って形成されている。また、スタンドオフ1a-2の突き出し高さHは、図示のように段付き座面1a-1に接着剤7を塗布してここに絶縁基板5bをスタンドオフ1a-2の先端に突き当てるように押しつけた状態で、絶縁基板5bの裏面と樹脂ケース1の裏面との間の段差ΔSが許容範囲(±0.1mm以内)に収まり、かつ座面1a-1の全周域で絶縁基板5bとの間に挟まれた接着剤7の層厚が接着強度面から接着剤の種類によって指定された厚さを確保できるように設定されている。
【0014】
(2) また、段付き座面1aの側壁部には全周域に亘り樹脂ケース1の裏面側に向けて広がるテーパー状の面取り1a-3(テーパー角α)が形成されている。
この面取り1a-3は次記のように接着剤8の余剰分を吸収する接着剤溜としての役目を果たすものであり、樹脂ケース1に主回路ブロック5の絶縁基板5bを接着剤7で固着する際に、絶縁基板5bの押しつけによって段付き座面1a-1からはみ出て基板の裏面側に回り込もうとする余剰の接着剤が、絶縁基板5bの周面と前記の面取り1a-3との間の断面三角スペースに吸収され、これにより裏面側への接着剤7の回り込みが防げ、はみ出した接着剤を拭き取る作業が必要なくなる。
【0015】
(3) さらに、制御回路ブロック6を搭載する凹状の台座面1bに対しては、信号端子4をインサートした樹脂ケース1の周壁側に面した台座面の側縁にプリント基板6bの側縁に向けて突き出す突起状のスタンドオフ1b-1が形成されている。このスタンドオフ1b-1は台座面1bの左右両サイドに形成されており、その底面からの高さhはプリント基板6bの上面よりも上方へ突き出さないように基板の厚さよりも低く抑えてある。
【0016】
そして、樹脂ケース1に制御回路ブロック6を組付ける組立工程では、前記のスタンドオフ1b-1を位置決め部材としてプリント基板6bを凹状の台座面1bに嵌め込むようにし、またプリント基板6bを接着剤8を塗布した台座面1bに押しつけて加熱硬化するする際には、前記のスタンドオフ1b-1をスペーサとしてプリント基板6bの側方へはみ出た余剰の接着剤を凹状台座面1bの側面との間に残る隙間スペースで吸収してプリント基板6bの回路パターン,あるいは信号端子の表面に接着剤が付着するのを防止するようにしている。
【0017】
次に、前記(1) で述べた段付き座面1aに形成したスタンドオフ1a-2についての応用実施例を図3,図4に示す。すなわち、図2の実施例では断面長円形の突起状スタンドオフ1a-2が基板取付穴1aの内周縁に沿って形成されているのに対して、図3(a),(b) の実施例では、図2(b),(c) と同形なスタンドオフ1a-2が段付き座面1aの外周縁に沿って形成されている。また、図4(a),(b) の実施例ではスタンドオフ1a-2が断面円形のピン状突起として形成されている。
【0018】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、次記の効果を奏する。
(1) 樹脂ケースの底面に開口した主回路ブロック取付用穴の周縁に形成した段付き座面に対し、該溝部に塗布して主回路ブロックの絶縁基板を固着する接着剤の層厚を一定厚さに確保するためのスペーサとして機能する突起状のスタンドオフを分散形成したことにより、従来構造で問題となっていた接着剤の層厚のばらつきを抑えて所定の厚さに安定よく管理することかでき、かつ組立精度の面でもパワー素子の発熱の放熱面となる主回路ブロックの絶縁基板の裏面と樹脂ケースの裏面との間の段差を許容範囲内に収めてヒートシンクである冷却フィンとの密着性を確保できる。
【0019】
(2) また、段付き座面の全周域に亘り樹脂ケースの裏面側に向けて広がるテーパー状の面取りを形成したことにより、主回路ブロックを接着する際に余剰の接着剤を前記の面取り部分と絶縁基板の周面との間に残存するスペースで吸収して樹脂ケース,絶縁基板の裏面側に余剰の接着剤が回り込むのを防止することができて、従来行っていたはみ出し樹脂の拭き取り作業が不要となる。
【0020】
(3) さらに、制御回路ブロックを搭載する樹脂ケースの凹状台座面に対し、樹脂ケースの周壁側に面した台座面の側面にプリント基板の側縁に向けて突き出す突起状のスタンドオフを形成し、該スタンドオフを介してプリント基板と凹状台座面の側面との間に残存する隙間スペースに基板の側縁からはみ出した接着剤の余剰分を回収するようにしたことにより、余剰の接着剤がプリント基板の回路パターン,あるいは信号端子の表面に不当に接着してその後に行うワイヤボンディングを阻害するなどのおそれもなくなる。
【0021】
その結果、半導体装置の組立工程における信頼性が向上し、製品の品質安定化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による半導体装置の構成図であり、(a) は半導体装置全体の縦断側面図、(b),(c) はそれぞれ(a) 図におけるA,B部の詳細構造を表す拡大断面図
【図2】図1における樹脂ケースの構造図であり、(a) は樹脂ケース全体の平面図、(b),(c) はそれぞれ(a) 図におけるA部のスタンドオフの形状,配置を表す拡大裏面図,および断面図
【図3】図2(b),(c) に対応したスタンドオフの異なる実施例の構造図であり、(a),(b) はそれぞれスタンドオフの形状,配置を表す拡大裏面図,および断面図
【図4】図2(b),(c) に対応したスタンドオフのさらに異なる実施例の構造図であり、(a),(b) はそれぞれスタンドオフの形状,配置を表す拡大裏面図,および断面図
【図5】この発明の実施対象となるインテリジェントパワーモジュールの外観斜視図
【図6】従来における半導体装置の組立構造を表す構成図であり、(a) は半導体装置全体の縦断側面図、(b),(c) はそれぞれ(a) 図におけるA,B部の詳細構造を表す拡大断面図
【図7】図6における樹脂ケースの構造図であり、(a) は樹脂ケース全体の平面図、(b),(c) はそれぞれ(a) 図におけるA部の段付き座面の形状を表す部分拡大裏面図,および断面図
【符号の説明】
1 樹脂ケース
1a 基板取付穴
1a-1 段付き座面
1a-2 スタンドオフ
1a-3 テーパー状面取り
1b 凹状台座面
1b-1 スタンドオフ
2 上蓋
3 主回路端子
4 制御用信号端子
5 主回路ブロック
5a パワー回路素子
5b 絶縁基板
6 制御回路ブロック
6a 回路素子
6b プリント基板
7,8 接着剤
9 ボンディングワイヤ
18 封止樹脂[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor device that implements an intelligent power module and the like, and more particularly to the structure of the package.
[0002]
[Prior art]
First, taking the intelligent power module mentioned above as an example, the conventional assembly structure of a semiconductor device is shown in FIGS. In the figure, 1 is a resin case (resin molded product) of a terminal-integrated package, 2 is an upper lid of the
[0003]
Here, the
[0004]
The
Next, the procedure of the process of assembling the
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the package structure of the conventional semiconductor device described above, the following problems are derived particularly when the main circuit block and the control circuit block are fixed to the resin case with an adhesive.
(1) In order to efficiently dissipate the heat generated from the
[0006]
For this reason, as shown in FIG. 6B, when assembling the semiconductor device, the step ΔS between the back surface of the
[0007]
As described above, in the conventional structure, the assembly accuracy in the bonding process for fixing the
(2) Further, in the assembly process of fixing the control circuit block 6 to the
[0008]
The present invention has been made in view of the above points, and its object is to improve the semiconductor in order to solve the above-mentioned problems and to obtain stable quality in the bonding process in which the main circuit block and the control circuit block are assembled to the resin case. An object is to provide an apparatus.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, according to the present invention, a main circuit block and a control circuit block are incorporated into a terminal-integrated resin case in which a main circuit terminal and a control signal terminal are insert-molded on a peripheral wall, and are bonded with bonding wires. The main circuit block is an internally connected semiconductor device, and the main circuit block is a stepped seating surface formed by fitting an insulating substrate from below into a substrate mounting hole opened on the bottom surface of the resin case and forming a peripheral edge on the back surface side peripheral edge of the substrate mounting hole. Adhering with an adhesive, the control circuit block is the one in which the printed circuit board is superimposed on the concave pedestal surface formed on the bottom of the resin case and fixed with an adhesive,
(1) A standoff functioning as a spacer for securing a constant thickness of the adhesive when the main circuit block is pressure-bonded to the stepped seating surface of the board mounting hole is dispersedly formed . A tapered chamfer that extends toward the back side of the resin case is formed over the entire circumference of the stepped seating surface, and excess adhesive is applied between the chamfered portion and the insulating substrate when the main circuit block is bonded. Absorption is performed in the remaining space between the peripheral surface (claim 1).
[0010]
(2) A standoff functioning as a spacer for ensuring a constant thickness of the adhesive when the main circuit block is pressure-bonded to the stepped seating surface of the board mounting hole is formed in a distributed manner. A projecting standoff projecting toward the side edge of the printed circuit board is formed on the side edge of the pedestal surface facing the peripheral wall side of the resin case with respect to the concave pedestal surface formed on the bottom surface, and the control circuit using the standoff as a spacer When the block is bonded to the concave pedestal surface, excess adhesive that protrudes is absorbed by the remaining gap space between the side edge of the printed circuit board and the side surface of the concave pedestal surface .
[0011]
With the above configuration, even if the amount of adhesive applied to the adhesive surface varies slightly in the bonding process for assembling the main circuit block and control circuit block to the resin case, the excess adhesive remains on the back surface of the insulating substrate. So that the step between the back of the insulating board of the main circuit block and the back of the resin case is within acceptable tolerances in terms of assembly accuracy. As a result, the reliability of the assembly is improved and the quality of the product is stabilized.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below based on the examples of FIGS. In addition, in the figure of an Example, the same code | symbol is attached | subjected to the same member corresponding to FIG. 6, FIG. 7, and the description is abbreviate | omitted.
First, in FIGS. 1A to 1C and FIGS. 2A to 2C, the assembly structure of the semiconductor device and the structure of the resin case are basically the same as those in FIGS. The resin case of the illustrated embodiment differs from the conventional structure in the following points. That is,
(1) With respect to the stepped
[0013]
The stand-off 1a-2 is formed along the inner peripheral edge of the
[0014]
(2) Further, a
The
[0015]
(3) Further, for the
[0016]
In the assembly process of assembling the control circuit block 6 to the
[0017]
Next, FIGS. 3 and 4 show an application example of the stand-off 1a-2 formed on the stepped
[0018]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
(1) For the stepped seating surface formed at the periphery of the hole for mounting the main circuit block opened on the bottom of the resin case, the layer thickness of the adhesive to apply to the groove and fix the insulating substrate of the main circuit block is constant. By dispersing and forming the protruding standoffs that function as spacers to ensure the thickness, the variation in the adhesive layer thickness, which has been a problem with conventional structures, is suppressed and stably managed to a predetermined thickness. In addition, in terms of assembly accuracy, a cooling fin that is a heat sink with a step between the back surface of the insulating substrate of the main circuit block and the back surface of the resin case serving as a heat dissipation surface for heat generation of the power element within an allowable range Can be secured.
[0019]
(2) Further, by forming a tapered chamfer extending toward the back side of the resin case over the entire circumference of the stepped seating surface, excess adhesive is removed when the main circuit block is bonded. Wiping off the excess resin that has been performed in the past can be prevented by absorbing the remaining space between the part and the peripheral surface of the insulating substrate and preventing excess adhesive from wrapping around the back side of the resin case and insulating substrate. Work becomes unnecessary.
[0020]
(3) Furthermore, a protruding standoff protruding toward the side edge of the printed circuit board is formed on the side surface of the pedestal surface facing the peripheral wall side of the resin case with respect to the concave pedestal surface of the resin case mounting the control circuit block. The excess adhesive that protrudes from the side edge of the substrate into the gap space remaining between the printed circuit board and the side surface of the concave pedestal surface via the standoff is recovered, so that the excess adhesive is There is no risk of improperly adhering to the circuit pattern of the printed circuit board or the surface of the signal terminal to hinder subsequent wire bonding.
[0021]
As a result, the reliability in the assembly process of the semiconductor device is improved, and the product quality can be stabilized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention, in which (a) is a longitudinal side view of the entire semiconductor device, and (b) and (c) are details of portions A and B in FIG. FIG. 2 is a structural view of the resin case in FIG. 1. (a) is a plan view of the entire resin case, and (b) and (c) are stand parts for part A in FIG. FIG. 3 is a structural diagram of a different embodiment of the stand-off corresponding to FIGS. 2 (b) and 2 (c). (A) and (b) FIG. 4 is a structural diagram of a further different embodiment of the stand-off corresponding to FIGS. 2 (b) and 2 (c). b) is an enlarged back view showing the shape and arrangement of the stand-off, and a cross-sectional view. FIG. FIG. 6 is a block diagram showing a conventional assembly structure of a semiconductor device, where (a) is a vertical side view of the entire semiconductor device, and (b) and (c) are portions A and B in FIG. FIG. 7 is a structural diagram of the resin case in FIG. 6, (a) is a plan view of the entire resin case, and (b) and (c) are portions A in FIG. Partial enlarged back view and cross-sectional view showing the shape of the stepped seating surface [Description of symbols]
1
Claims (2)
前記主回路ブロックを加圧接着する際に接着剤の層厚を一定厚さに確保するためのスペーサとして機能するスタンドオフを、前記基板取付穴の段付き座面に前記主回路ブロックの上面に向けて突き出すように、前記樹脂ケースに分散形成して設け、前記段付き座面の全周域に亘り樹脂ケースの裏面側に向けて広がるテーパー状の面取りを形成し、主回路ブロックを接着する際に余剰の接着剤を前記の面取り部分と絶縁基板の周面との間に残存するスペースで吸収するようにしたことを特徴とする半導体装置。A semiconductor device in which a main circuit block and a control circuit block are incorporated in a resin case of a terminal integrated type in which a main circuit terminal and a control signal terminal are insert-molded on a peripheral wall, and are internally connected by bonding wires. The main circuit block is insulated. The board is fitted into the board mounting hole opened on the bottom surface of the resin case from below, and the periphery thereof is fixed to the stepped seating surface formed on the peripheral edge of the back surface of the board mounting hole with an adhesive. In the one where the printed circuit board is overlaid on the concave pedestal surface formed on and fixed with an adhesive,
A stand-off functioning as a spacer for ensuring a constant thickness of the adhesive when the main circuit block is pressure bonded is provided on the stepped seating surface of the board mounting hole on the upper surface of the main circuit block. A tapered chamfer extending toward the back side of the resin case is formed over the entire circumference of the stepped seating surface, and bonded to the main circuit block. In such a case, a surplus adhesive is absorbed in the remaining space between the chamfered portion and the peripheral surface of the insulating substrate .
前記主回路ブロックを加圧接着する際に接着剤の層厚を一定厚さに確保するためのスペーサとして機能するスタンドオフを、前記基板取付穴の段付き座面に前記主回路ブロックの上面に向けて突き出すように、前記樹脂ケースに分散形成して設け、前記制御回路ブロックを搭載する樹脂ケースの凹状台座面に対し、樹脂ケースの周壁側に面した台座面の側縁にプリント基板の側縁に向けて突き出す突起状のスタンドオフを形成し、該スタンドオフをスペーサとして制御回路ブロックを凹状台座面に接着する際にはみ出した余剰の接着剤をプリント基板の側縁と凹状台座面の側面との間に残存する隙間スペースで吸収するようにしたことを特徴とする半導体装置。 A semiconductor device in which a main circuit block and a control circuit block are incorporated in a resin case of a terminal integrated type in which a main circuit terminal and a control signal terminal are insert-molded on a peripheral wall, and are internally connected by bonding wires. The main circuit block is insulated. The board is fitted into the board mounting hole opened on the bottom surface of the resin case from below, and the periphery thereof is fixed to the stepped seating surface formed on the peripheral edge of the back surface of the board mounting hole with an adhesive. In the one where the printed circuit board is overlaid on the concave pedestal surface formed on and fixed with an adhesive,
A stand-off functioning as a spacer for ensuring a constant thickness of the adhesive when the main circuit block is pressure bonded is provided on the stepped seating surface of the board mounting hole on the upper surface of the main circuit block. The printed circuit board is provided on the side edge of the pedestal surface facing the peripheral wall side of the resin case with respect to the concave pedestal surface of the resin case on which the control circuit block is mounted. Protruding standoffs protruding toward the edges are formed, and excess adhesive that protrudes when the control circuit block is bonded to the concave pedestal surface using the standoffs as spacers is printed on the side edges of the printed circuit board and the side surfaces of the concave pedestal surfaces. A semiconductor device characterized in that absorption is performed in a gap space remaining between the two .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24397098A JP4219448B2 (en) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24397098A JP4219448B2 (en) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | Semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000077602A JP2000077602A (en) | 2000-03-14 |
JP4219448B2 true JP4219448B2 (en) | 2009-02-04 |
Family
ID=17111768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24397098A Expired - Lifetime JP4219448B2 (en) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | Semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4219448B2 (en) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6774465B2 (en) | 2001-10-05 | 2004-08-10 | Fairchild Korea Semiconductor, Ltd. | Semiconductor power package module |
JP4628337B2 (en) * | 2006-10-04 | 2011-02-09 | 日本インター株式会社 | Power semiconductor module |
JP4452952B2 (en) | 2007-06-20 | 2010-04-21 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Power converter |
JP5279345B2 (en) * | 2008-05-27 | 2013-09-04 | 三菱電機株式会社 | Power conversion device storage structure |
JP2011010142A (en) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Kyocera Corp | Slide type electronic equipment |
JP5310660B2 (en) | 2010-07-01 | 2013-10-09 | 富士電機株式会社 | Semiconductor device |
JP6115172B2 (en) * | 2013-02-15 | 2017-04-19 | 富士電機株式会社 | Semiconductor device |
JP6981033B2 (en) * | 2017-04-19 | 2021-12-15 | 富士電機株式会社 | Semiconductor devices and methods for manufacturing semiconductor devices |
JP7238330B2 (en) | 2018-10-18 | 2023-03-14 | 富士電機株式会社 | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
JP7225746B2 (en) | 2018-12-07 | 2023-02-21 | 富士電機株式会社 | Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device |
CN113727519B (en) * | 2021-08-09 | 2023-02-03 | 维沃移动通信有限公司 | Circuit board assembly and electronic device |
-
1998
- 1998-08-28 JP JP24397098A patent/JP4219448B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000077602A (en) | 2000-03-14 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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|
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|
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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|
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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