JP4185230B2 - 磁気記録媒体 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気記録媒体に関し、さらに詳細には、例えば磁気ディスク装置(HDD:ハードディスクドライブ)等の磁気記録再生装置に用いられる磁気記録媒体に関し、特に高い記録密度を有する垂直記録型の磁気記録媒体の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
大容量記憶装置、特にハードディスクドライブ装置は、高データ転送速度、高速アクセス、高信頼性、低価格等の点から大容量化、高密度化が著しく進展している。面記録密度の向上は、磁気記録層中に形成する記録磁区の微小化によって達成され、現在1平方インチ当たり5ギガビットを超え、10ギガビットから100ギガビットを目指した開発が進んでいる。
【0003】
記録再生を行う磁気ヘッドとしては、インダクティブヘッドを記録ヘッドとし、磁気抵抗効果型ヘッド(MRヘッド)を再生ヘッドとして、これらをスライダに搭載した複合型磁気ヘッドが用いられている。MRヘッドは、周方向における単位長さでの磁束変化によって出力が決まるため、原理的にはトラック幅をいくら狭くしても出力が減少しない。そのためMRヘッドを使用することにより、狭トラック化が見込める。さらに高記録密度が見込める巨大磁気抵抗効果型ヘッド(GMRヘッド)についても、同様のことがいえる。
【0004】
しかし、トラック幅があまりに狭くなると、隣接する記録トラックの磁気信号による干渉(クロストーク)が大きくなるので、再生信号の劣化が問題となる。
【0005】
また、記録ビット長の短縮によっても面記録密度を向上できるが、記録ビット長を短くしすぎると、隣接ビット間における磁気信号の干渉(パーシャルイレージャ)が大きくなり、再生信号の劣化が問題となる。
【0006】
特開平9−297918号公報には、トラック幅と最短ビット規定長とを2辺の長さとする矩形領域からなる記録部を複数設け、この複数の記録部が隙間部により互いに分離して配置されており、記録部で情報の蓄積を行う磁気記録媒体が記載されている。この媒体は、いわゆるパターンド媒体である。パターンド媒体では、クロストークやパーシャルイレージャによる再生信号の劣化を低減できる。
【0007】
パターンド媒体では、垂直記録方式を採用することにより、記録密度をさらに向上させることが可能である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ハードディスクドライブ装置内の磁気記録媒体には、通常の情報を記録しておく領域の他に、磁気ヘッドのトラッキングのためのサーボ情報を記録しておく領域が必要である。しかしながら、垂直記録型のパターンド媒体においてサーボ情報をどのように記録するかについての議論は、従来なされていなかった。
【0009】
本発明の発明者らは、パターンド媒体においてはサーボ情報の記録もデータ記録と同様に微小な記録部(以下、単位微小記録部という)に行えばよいという結論に達した。しかし、その場合、データの記録やその消去の際にサーボ情報が誤って書き換えられてしまったり消去されてしまったりするという問題が生じた。
【0010】
本発明は、垂直記録方式を採用したパターンド媒体において、サーボ情報の誤った書き換えや消去を防ぐことを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
このような目的は、下記(1)〜(6)の本発明により達成される。
(1) 垂直記録方式の磁気記録再生に用いられる磁気記録媒体であって、
非磁性体からなる非記録部を挟んで、磁性体からなる単位微小記録部が配列してなる記録トラックを有し、
記録トラック内にデータ領域とサーボ領域とが存在し、データ領域とサーボ領域とで単位微小記録部の表面積が実質的に同一であり、
単位微小記録部において厚さを表面積の平方根で除した値をアスペクト比とし、データ領域における単位微小記録部のアスペクト比をARDで表し、サーボ領域における単位微小記録部のアスペクト比をARSで表したとき、
ARS/ARD≧1.5
である磁気記録媒体。
(2)
ARS/ARD≦10
である上記(1)の磁気記録媒体。
(3)
ARD≦4
である上記(1)または(2)の磁気記録媒体。
(4)
ARD≧1
である上記(3)の磁気記録媒体。
(5) 単位微小記録部が、Co、Co−Cr、Co−Cr−Ta、Co−Cr−Pt、Co−Pt、Fe−Co、Fe−Co−Pt、X−Y−Co(XはDy、GdおよびTbの少なくとも1種、YはLa、Pr、NdおよびSmの少なくとも1種)のいずれか1種で構成されている上記(1)〜(4)のいずれかの磁気記録媒体。
(6) 各単位微小記録部が単磁区である上記(1)〜(5)のいずれかの磁気記録媒体。
【0012】
【作用および効果】
本発明では、サーボ領域におけるアスペクト比を、データ領域におけるアスペクト比の1.5倍以上に設定する。これにより、サーボ領域ではデータ領域に比べ、単位微小記録部の保磁力が十分に高くなる。そのため、データ領域だけに加えるべき記録消去磁界を誤ってサーボ領域に加えてしまったり、磁気記録媒体の再フォーマットを行ったり、記録消去磁界以外の外部磁界によりデータ領域の記録が消去されたりした場合でも、サーボ情報の消去を防ぐことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
本発明は、主として磁気ディスク媒体に適用される。図1に、本発明の磁気ディスク媒体の構成例を、平面図として示す。また、図2に、図1のA−A断面図を示す。
【0014】
図示される磁気ディスク媒体10は、ディスク状の基板12上に、同心円状またはスパイラル状に、周方向および半径方向に間隔をおいて配置された多数の単位微小記録部14と、隣り合う単位微小記録部14間を埋める非記録部16とを有する。単位微小記録部14は、情報を磁気的に記録する磁性体から構成され、非記録部16は、非磁性材料から構成される。各単位微小記録部14は、それぞれほぼ完全に磁気的に孤立した状態となるので、隣り合う単位微小記録部間におけるクロストークやパーシャルイレイジャを防ぐことができる。
【0015】
単位微小記録部14において、表面形状(媒体の表面側から見たときの形状)は特に限定されないが、例えば正方形、長方形、円形、楕円形等であることが好ましい。
【0016】
図示例において、単位微小記録部からなる記録トラックは図中の左右方向に延びている。記録トラックは、書き換え対象のデータが記録されるデータ領域18と、固定情報であるサーボ情報が記録されるサーボ領域20とに分割されている。サーボ領域では、単位微小記録部14が隣接する2本の記録トラックにまたがって、かつ、千鳥状に配置されている。
【0017】
単位微小記録部の表面積(媒体の表面側から見たときの表面積)は、データ領域18とサーボ領域20とで実質的に同一とされる。具体的には、サーボ領域20における表面積がデータ領域18における表面積の0.8〜1.2倍の範囲内にあることが好ましい。サーボ領域とデータ領域とで単位微小記録部の表面積が大きく異なると、本発明の効果が実現しにくくなる。なお、サーボ領域とデータ領域とで、単位微小記録部の構成材料は同一である。
【0018】
本発明では、単位微小記録部において、厚さを表面積の平方根で除した値をアスペクト比と定義する。データ領域18における単位微小記録部のアスペクト比をARDで表し、サーボ領域20における単位微小記録部のアスペクト比をARSで表したとき、本発明では
ARS/ARD≧1.5
とし、好ましくは
ARS/ARD≧3
とする。ARS/ARDを上記範囲内に設定すれば、単位微小記録部の保磁力がサーボ領域においてデータ領域よりも十分に高くなるので、サーボ情報の書き換えや誤消去を防ぐことができる。ただし、ARS/ARDが大きすぎると、サーボ領域において保磁力が高くなりすぎる結果、サーボ情報の記録が困難となる。また、サーボ領域におけるアスペクト比が高くなりすぎる結果、サーボ領域の単位微小記録部を形成することが困難となる。また、アスペクト比が一定以上高くなると、保磁力の向上が頭打ちとなる。そのため、好ましくは
ARS/ARD≦10
とし、より好ましくは
ARS/ARD≦5
とする。
【0019】
また、ARDが大きすぎると、データ領域において保磁力が高くなりすぎて情報の書き換えが困難となるので、好ましくは
ARD≦4
とする。ただし、ARDが小さすぎると、データ領域において磁気記録の安定性が不十分となるので、好ましくは
ARD≧1
とする。
【0020】
単位微小記録部14の表面寸法は特に限定されないが、通常、一辺の長さまたは直径が0.01〜1.0μmであることが好ましい。長軸と短軸とをもつ形状の場合には、長軸の長さが0.02〜1.0μm、短軸の長さが0.01〜0.5μmであることが好ましい。単位微小記録部14の厚さは特に限定されないが、通常、0.01〜1.0μmの範囲内であることが好ましい。
【0021】
各単位微小記録部14は、単磁区構造であることが好ましい。単磁区構造とすれば、単位微小記録部を構成する結晶粒径を大きくすることができるので、熱擾乱による磁化の劣化を抑えることができる。また、単磁区構造とすれば、磁化のスイッチング速度を高速化することができる。
【0022】
単位微小記録部14を構成する磁性材料は特に限定されないが、Co、Ni、Feまたはこれらの少なくとも1種を含有する合金であることが好ましく、特に、Co、Co−Cr、Co−Cr−Ta、Co−Cr−Pt、Co−Pt、Fe−Co、Fe−Co−Pt、X−Y−Co(XはDy、GdおよびTbの少なくとも1種、YはLa、Pr、NdおよびSmの少なくとも1種)のいずれか1種が好ましい。
【0023】
本発明の磁気記録媒体では、基板12と単位微小記録部14との間に、下地層が形成されていてもよい。下地層は、例えば単位微小記録部の磁化容易軸を垂直配向させるために設けられる。このような配向用下地層は、例えばPtまたはMgOから構成すればよく、単位微小記録部14に接して設ければよい。また、本発明の媒体は垂直記録方式で使用されるので、基板12と単位微小記録部14との間に、軟磁性下地層を設けることが好ましい。
【0024】
また、磁気ヘッドとの接触から媒体表面を保護するため、従来の媒体と同様に、表面に保護層や潤滑層を設けてもよい。保護層は例えばCやSiO2等から構成すればよく、スパッタリング法等で形成すればよい。潤滑層は公知の潤滑剤から構成すればよく、スピンコート法等により形成すればよい。
【0025】
非記録部16を構成する非磁性材料としては、SiO2、Al23、TiO2等の酸化物、Si34、AlN、TiN等の窒化物、TiC等の炭化物、BN等の硼化物、およびC系、CH系、CF系のうちいずれかの重合化合物等が用いられる。
【0026】
基板12は、アルミ合金、ガラス、シリコン、無定形炭素(Glassy Carbon)等の通常の磁気ディスク基板材料から構成すればよい。基板12の厚さは、通常、500〜1000μm程度とすればよい。
【0027】
次に、図3を参照して、本発明の磁気記録媒体を製造する方法の一例について説明する。
【0028】
まず、図3(a)に示すように、シリコン等の基板12上に、電気めっきのための下地層としてAu、Ti、Cr等の非磁性金属からなる金属層21、最終的に非記録部16となる非磁性層22、非記録部16をエッチングにより形成する際のマスクとなり、Crなどから構成されるマスク層24、および、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等から構成されるレジスト層26を、順次形成する。金属層21、非磁性層22およびマスク層24はスパッタ法や蒸着法等の真空成膜法により形成することが好ましい。レジスト層26は、例えば塗布法により形成することができる。
【0029】
次に、図3(b)に示すように、電子ビームリソグラフィー法を用いて、レジスト層26を、単位微小記録部14の配列パターンとなるようにドット状に露光する。次いで、現像処理を施して、レジスト層26をパターニングする。
【0030】
次に、図3(c)に示すように、レジスト層26をエッチングマスクとしてマスク層24をエッチングする。
【0031】
次いで、図7に示すマスク40を準備する。このマスク40は、図1に示すサーボ領域20に対応する開口部42を有する。このマスク40を、パターニングされたマスク層24上に配置し、マスク層24をエッチングマスクとして非磁性層22をドライエッチングし、図3(d)に示す状態とする。このときのエッチング深さは、サーボ領域20における単位微小記録部の厚さとデータ領域18における単位微小記録部の厚さとの差とする。ただし、このエッチングにより金属層21が露出することが必要なので、非磁性層22の厚さは、前記差以下、好ましくは前記差より小さく設定しておく。非磁性層22の厚さが前記差より小さい場合、このエッチングにより金属層20も深さ方向に一部エッチングされる。
【0032】
次いでマスク40を取り除いた状態で、マスク層24をエッチングマスクとしてドライエッチングを行うことにより、金属層21の露出した領域を深さ方向に一部エッチングすると共に、マスク40に被覆されていた非磁性層22の露出領域もエッチングする。その結果、図3(e)に示すように、データ領域18の単位微小記録部14に対応する凹部30aと、サーボ領域20の単位微小記録部14に対応する凹部30bとが形成される。なお、金属層21の厚さは、このエッチング後に、凹部30b内に金属層21が残るように設定しておく。非磁性層22および金属層21のエッチング方法は特に限定されず、RIE(Reactive Ion Etching)やイオンミリング等の各種方法から適宜選択すればよい。
【0033】
なお、このほか、図3(c)に示す状態から、マスク40を用いずにエッチングを行い、続いてマスク40を用いてサーボ領域に相当する領域だけをさらにエッチングする方法を用いても、図3(e)に示す状態とすることが可能である。この場合、非磁性層22と金属層21とが図示する厚さであれば、非磁性層22と金属層21とを同時にエッチングする必要がなく独立してエッチングできるので、両層の構成材料およびエッチング方法を選択する際の自由度を高くできる。
【0034】
続いて、図3(f)に示すように、電気めっき法を用いて、Co等の磁性材料32で上記凹部30a、30bを埋める。このとき、磁性材料32を非磁性層22の表面から突出させておき、次いで、化学的機械的研磨(CMP)を行えば、非磁性層22が研磨の際のストッパーとなるため、磁性材料32の突出部分が除去されて、図3(g)に示す状態となる。なお、化学的機械的研磨は、例えば粒径20〜60nmのSiO2を用いてpH9〜12程度で行えばよい。このようにして、サーボ領域20における単位微小記録部14の厚さがデータ領域18における単位微小記録部14の厚さよりも厚く、かつ、全表面が極めて平坦な磁気ディスク媒体10が得られる。
【0035】
次に、図4を参照して、本発明の磁気記録媒体を製造する方法の他の例について説明する。この方法は、磁性材料32を、スパッタ法や蒸着法等の真空成膜法により形成するほかは、図3に示す方法とほぼ同じである。
【0036】
この方法では磁性材料32の付着に電気めっきを利用しない。そのため、図4(a)では、図3(a)と異なり金属層21を形成しない。
【0037】
図4(b)および図4(c)に示す工程では、それぞれ図3(b)および図3(c)と同様にして、マスク層24のパターニングまでを行う。
【0038】
図4(d)に示す工程では、図7に示すマスク40を用いて、非磁性層22を厚さ方向に一部エッチングする。次いで、マスク40を外してエッチングを続け、図4(e)に示す状態とする。なお、このほか、図4(c)に示す状態から、マスク40を用いずにエッチングを行い、続いてマスク40を用いてサーボ領域に相当する領域だけをさらにエッチングする方法を用いても、図4(e)に示す状態とすることが可能である。
【0039】
その後、磁性材料32をスパッタ法や真空蒸着法などにより成膜し、図4(f)に示す状態とする。次いで、非磁性層22の表面から突出している磁性材料32をCMPにより除去して図4(g)に示す状態とし、磁気ディスク媒体10を得る。
【0040】
次に、図5および図6を参照して、本発明の磁気記録媒体を製造する方法の他の例について説明する。
【0041】
この方法では、まず、図5(a)に示すように、基体12の表面に、サーボ領域の全体が含まれるように凹部30cを形成する。この凹部は、電子ビームリソグラフィーやフォトリソグラフィーにより形成できる。この凹部30cの深さは、サーボ領域における単位微小記録部の厚さとデータ領域における単位微小記録部の厚さとの差とする。
【0042】
次いで、図5(b)に示すように、基体12表面に、スパッタ法等により磁性材料32を付着させる。そして、磁性材料32上に、カーボン層33をスパッタ法等により形成する。
【0043】
次に、図5(c)に示すように、カーボン層33上にレジスト層26を形成し、このレジスト層26を、単位微小記録部14の配列パターンとなるようにパターニングして、図5(d)に示す状態とする。
【0044】
次いで、図5(e)に示すように、レジスト層26上およびカーボン層33の露出した表面にマスク層24を形成した後、図5(f)に示すように、レジスト層26をその上のマスク層24と共に除去する。
【0045】
次いで、図6(g)に示すように、マスク層24をエッチングマスクとし、酸素ガスを用いるRIE等によりカーボン層33をエッチングする。
【0046】
次いで、図6(h)に示すように、マスク層24をエッチングマスクとして磁性材料32をRIE等によりエッチングする。
【0047】
次いで、図6(i)に示すように、マスク層24上および露出した基板12の表面に非磁性層22を形成する。
【0048】
次いで、超音波洗浄等により、マスク層24とその上の非磁性層22とを除去し、図6(j)に示す状態とする。なお、カーボン層33を設けたのは、マスク層24を超音波洗浄により剥離可能とするためである。
【0049】
次いで、磁性材料32上に残存しているカーボン層33を、酸素ガスを用いるRIE等により除去する。続いて、CMP等により磁性材料32および非磁性層22の表面を平滑化して図6(k)に示す状態とし、磁気ディスク媒体10を得る。
【0050】
【実施例】
図4に示す製造方法を用いて、表1に示す磁気ディスク媒体サンプルを作製した。単位微小記録部はCoから構成し、非記録部はSiO2から構成した。単位微小記録部の表面形状は正方形とした。各サンプルにおけるこの正方形の一辺の長さLを、表1に示す。なお、単位微小記録部の配列ピッチは、記録トラックの長さ方向および幅方向のいずれにおいても2Lとした。L=56nmは記録密度50Gb/in2に相当し、L=40nmは記録密度100Gb/in2に相当し、L=28nmは記録密度200Gb/in2に相当する。各サンプルについて、データ領域におけるアスペクト比ARD、サーボ領域におけるアスペクト比ARSおよびARS/ARDを、それぞれ表1に示す。
【0051】
また、これらのサンプルのデータ領域およびサーボ領域のそれぞれにおける単位微小記録部の保磁力Hcを、表1に示す。なお、この保磁力は、5mm角の基板上に、表1に示す寸法およびアスペクト比を有する単位微小記録部を形成した測定用サンプルについてVSM(試料振動型磁力計)により測定した値である。これらの測定用サンプルは、図4に示す方法により作製した。ただし、図4(d)に示す工程、すなわち、厚さの異なる単位微小記録部を設ける工程は省略した。
【0052】
これらのサンプルに一様な外部磁界を加えてすべての単位微小記録部を一方向に磁化することにより、初期化を行った。
【0053】
この状態で、データ領域の記録条件に対応させて、記録磁界をデータ領域およびサーボ領域に加え、サーボ領域の磁化反転の有無を調べた。磁化反転しなかった場合には表1に○を示し、磁化反転した場合には表1に×を示した。
【0054】
【表1】
Figure 0004185230
【0055】
表1から、ARS/ARDが本発明範囲内にあれば、単位微小記録部の表面寸法によらずサーボ領域において磁化反転が生じないことがわかる。すなわち、データ領域に記録を行う際に、誤ってサーボ領域にも記録磁界が印加された場合でも、サーボ情報は消去されないことがわかる。これに対し、ARS/ARDが本発明範囲を下回るサンプルでは、サーボ領域において磁化反転が生じてしまい、その後の使用が不可能となってしまった。
【0056】
以上の実施例により、本発明の効果が確認できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の磁気記録媒体の構成例の一部を示す平面図である。
【図2】図1に示す磁気記録媒体のA−A断面図である。
【図3】本発明の磁気記録媒体を製造する方法の一例を説明するための断面図である。
【図4】本発明の磁気記録媒体を製造する方法の一例を説明するための断面図である。
【図5】本発明の磁気記録媒体を製造する方法の一例を説明するための断面図である。
【図6】本発明の磁気記録媒体を製造する方法の一例を説明するための断面図である。
【図7】本発明の磁気記録媒体を製造する際に使用するマスクの平面図である。
【符号の説明】
10 磁気ディスク媒体
12 基板
14 単位微小記録部
16 非記録部
18 データ領域
20 サーボ領域
21 金属層
22 非磁性層
24 マスク層
26 レジスト層
30a、30b、30c 凹部
32 磁性材料
33 カーボン層
40 マスク
42 開口部

Claims (6)

  1. 垂直記録方式の磁気記録再生に用いられる磁気記録媒体であって、
    非磁性体からなる非記録部を挟んで、磁性体からなる単位微小記録部が配列してなる記録トラックを有し、
    記録トラック内にデータ領域とサーボ領域とが存在し、データ領域とサーボ領域とで単位微小記録部の表面積が実質的に同一であり、
    単位微小記録部において厚さを表面積の平方根で除した値をアスペクト比とし、データ領域における単位微小記録部のアスペクト比をARDで表し、サーボ領域における単位微小記録部のアスペクト比をARSで表したとき、
    ARS/ARD≧1.5
    である磁気記録媒体。
  2. ARS/ARD≦10
    である請求項1の磁気記録媒体。
  3. ARD≦4
    である請求項1または2の磁気記録媒体。
  4. ARD≧1
    である請求項3の磁気記録媒体。
  5. 単位微小記録部が、Co、Co−Cr、Co−Cr−Ta、Co−Cr−Pt、Co−Pt、Fe−Co、Fe−Co−Pt、X−Y−Co(XはDy、GdおよびTbの少なくとも1種、YはLa、Pr、NdおよびSmの少なくとも1種)のいずれか1種で構成されている請求項1〜4のいずれかの磁気記録媒体。
  6. 各単位微小記録部が単磁区である請求項1〜5のいずれかの磁気記録媒体。
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