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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、処理基板を、処理する処理工程ラインの途中において、所定の時間だけ保管するためのパッファ装置に関し、更に具体的には、プラズマディスプレイ用の基板を処理基板として、露光、現像処理を一貫して行う装置における、露光部と現像部間に設けられるバッファ部として用いられるもので、ネガ型感光性レジストの光励起されたラジカルの反応を完結させるための装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、プラズマディスプレイパネル(以下PDPとも記す)は、その奥行きの薄いこと、軽量であること、更に鮮明な表示と液晶パネルに比べ視野角が広いことにより、種々の表示装置に利用されつつある。
一般に、プラズマディスプレイパネル(PDP)は、2枚の対向するガラス基板にそれぞれ規則的に配列した一対の電極を設け、その間にネオン、キセノン等を主体とするガスを封入した構造となっている。そして、これらの電極間に電圧を印加し、電極周辺の微小なセル内で放電を発生させることにより、各セルを発光させて表示を行うようにしている。特に情報表示をするためには、規則的に並んだセルを選択的に放電発光させている。
【0003】
ここで、PDPの構成を、図7に示すAC型PDPの1例を挙げて説明しておく。
図7はPDP構成斜視図であるが、分かり易くするため前面板(ガラス基板710)、背面板(ガラス基板720)とを実際より離して示してある。
図7に示すように、2枚のガラス基板710、720が互いに平行に且つ対向して配設されており、両者は背面板となるガラス基板720上に互いに平行に設けられた障壁(セル障壁とも言う)730により、一定の間隔に保持されている。
前面板となるガラス基板710の背面側には、放電維持電極である透明電極740とバス電極である金属電極750とで構成される複合電極が互いに平行に形成され、これを覆って、誘電体層760が形成されており、更にその上に保護層(MgO層)770が形成されている。
また、背面板となるガラス基板720の前面側には前記複合電極と直交するように障壁730間に位置してアドレス電極780が互いに平行に形成されており、更に障壁730の壁面とセル底面を覆うように螢光体790が設けられている。
障壁730は放電空間を区画するためのもので、区画された各放電空間をセルないし単位発光領域と言う。
このAC型PDPは面放電型であって、前面板上の複合電極間に交流電圧を印加し、で放電させる構造である。この場合、交流をかけているために電界の向きは周波数に対応して変化する。そして、この放電により生じる紫外線により螢光体790を発光させ、前面板を透過する光を観察者が視認できるものである。
なお、DC型PDPにあっては、電極は誘電体層で被膜されていない構造を有する点でAC型と相違するが、その放電効果は同じである。
また、図7に示すものは、ガラス基板720の一面に下地層767を設けその上に誘電体層765を設けた構造となっているが、下地層767、誘電体層765は必ずしも必要としない。
【0004】
そして、従来、上記PDPに使用する背面板の障壁の形成方法としては、ガラス基板上に障壁形成材料を障壁パターン形状に、スクリーン印刷にて複数回繰り返して重ねて印刷して所要の高さに積み上げ、乾燥させる第1の方法(スクリーン印刷法と呼ばれる)、あるいは、ガラス基板上に障壁形成材料を全面に塗布した後、塗布面上にサンドブラストに耐性を有するレジストを所定形状にパターニング形成し、該レジストをマスクとしてサンドブラストにより障壁形成材料を所定形状に形成する第2の方法(サンドブラスト法と呼ばれる)が採られていた。しかし、上記第1の方法によるPDPに使用する背面板の障壁形成においては、障壁としての所定の厚さを得るには、数回〜10数回程度のペーストのスクリーン印刷が必要で手間がかかる上に、印刷精度の管理が必要となり、品質的にも満足のいくものを得ることが難しく、現在では、第2の方法が主流となっている。
【0005】
ここで、第2の方法(サンドブラスト法)による障壁の形成の1例を図6に挙げて、サンドブラスト法による障壁形成方法を、更に説明しておく。
図6(a)に示すように、ガラス基板610の一面上に下引き層620を介して電極配線630を形成した後、該電極配線630上に、ガラス基板610面を覆うように、更に、誘電体層650を形成する。
次いで、誘電体層650上全面に、障壁形成用の低融点ガラスペーストからなる加工用素材660を塗布した(図6(b))後、加工用素材660上に、サンドブラスト処理に耐性のある感光性のレジスト640を配設し(図6(c))、次いで、形成する障壁の形状に対応した所定形状の絵柄を有するフォトマスクを用いて、レジスト640の所定領域のみを所定の電離放射線で露光し、これを現像して、所定形状にパターン化する。(図6(d))
そして、レジスト640を加工用素材660をサンドブラスト処理する際のマスクとして、サンドブラスト処理を行い、マスクから露出している加工用素材660のみを切削して、所定の形状にする。(図6(e))
この後、レジスト640を除去して、焼成処理を施して障壁660Aを誘電体層650上に形成する。(図6(f))
【0006】
上記のように、第2の方法によるPDPに使用する背面板となるガラス基板への障壁形成においては、ガラス基板上に塗膜された障壁形成用材料をサンドブラストに耐性のある感光性のレジスト640を所定の形状にしたマスクで覆い、複数本のノズルからガラスビーズ等の研磨砂を高圧空気にて吹きつけ、マスクから露出した部分を選択的に切削して障壁を形成していた。
また、同様に、電極配線630の形成の際にも、感光性のレジスを用い、これを所定形状の絵柄を有するフォトマスクを用いて、レジスト640の所定領域のみを所定の電離放射線で露光し、これを現像して、所定形状にパターン化する工程が採られていた。
【0007】
このように、PDP用の基板の作製においては、感光性のレジストの露光、現像を行う工程が種々あるが、使用される感光性のレジストとしては、ドライフィルムレジスト等のネガ型の感光レジストが、一般的に用いられていた。
そしてまた、近年、PDPの量産の要求は強く、これらPDP用の基板の作製においても、できるだけ処理を確実に一貫して行うことができる生産ラインが求められている。
このような状況のもと、PDP用の基板を処理基板として、露光、現像処理を一貫して行う装置においても、ネガ型感光性レジストを露光した後、光励起されたラジカルの反応を完結させる所定の時間が必要であるが、生産ライン全体を長くせず、且つ、露光後の処理基板に対し、ネガ型感光性レジストを露光した後、確実に、光励起されたラジカルの反応を完結させる所定の時間を確保させることができるバッファ部を設けることが難しく、問題となっていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、PDP用の基板の作製における露光、現像処理を一貫して行う装置においては、ネガ型感光性レジストを露光した後、光励起されたラジカルの反応を完結させために、露光部と現像処理部間に設けられ、できるだけ場所をとらず、露光後の処理基板を保管でき、且つ、所定の時間経過後に処理基板を現像処理部側へ送り出すことが、確実にできるバッファ装置が求められていた。
本発明は、これに対応するもので、PDP用の基板の作製における露光、現像処理を一貫して行う装置であって、ネガ型感光性レジストを露光した後、光励起されたラジカルの反応を完結させために、露光部と現像処理部間に設けられ、できるだけ場所をとらず、露光後の処理基板を保管でき、且つ、所定の時間経過後に処理基板を現像処理部側へ送り出すことが、確実にできるバッファ装置を提供しようとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明のバッファ装置は、処理基板を、処理する処理工程ラインの途中において、所定の時間だけ保管するためのバッファ装置であって、処理基板をほぼ水平な状態で搬送でき、且つ、その上に静止して置き、保管することができる、複数のロールからなるコンベア兼用の段を、複数重ねて棚状に設けた棚部と、棚部全体を一体として、上下方向にその位置を管理しながら移動する上下移動部と、処理基板の受け入れを検知するセンサー部と、棚部の各段の処理基板の有無の管理と、保管されている処理基板をコンベア搬送する各段の動作における時間管理、棚段の上下動作における時間管理を行い、且つ、各部の動作を関連つけて制御する制御部とを備え、処理基板の受け入れの際には、処理基板が置かれていない、所定の空の段の位置を、受け入れする処理基板の高さに合わせて、処理基板を内部へ受け入れするもので、処理基板の送り出しの際には、所定の時間保管された処理基板の置かれている段の位置を、送り出す位置に合わせて、処理基板を外部へ送り出すものであり、且つ、棚部を2個以上、処理基板受け入れ側から順に、処理基板送り出し側にかけて、隣接するように配置し、隣接する棚段間の処理基板の搬送は、それぞれの各段のコンベア搬送により行われるものであることを特徴とするものである。
そして、上記のバッファ装置であって、プラズマディスプレイ用の基板を処理基板として、露光、現像処理を一貫して行う装置における、露光部と現像部間に設けられるバッファ部として用いられるもので、ネガ型感光性レジストの光励起されたラジカルの反応を完結させるためのものであることを特徴とするものである。
【0010】
【作用】
本発明のバッファ装置は、このような構成にすることにより、PDP用の基板の作製における露光、現像処理を一貫して行う装置で、ネガ型感光性レジストを露光した後、光励起されたラジカルの反応を完結させるために、露光部と現像処理部間に設けられ、できるだけ場所をとらず、露光後の処理基板を保管でき、且つ、所定の時間経過後に処理基板を現像処理部側へ送り出すことが、確実にできるバッファ装置の提供を可能とするものである。
具体的には、処理基板をほぼ水平な状態で搬送でき、且つ、その上に静止して置き、保管することができる、複数のロールからなるコンベア兼用の段を、複数重ねて棚状に設けた棚部と、棚部全体を一体として、上下方向にその位置を管理しながら移動する上下移動部と、処理基板の受け入れを検知するセンサー部と、棚部の各段の処理基板の有無の管理と、保管されている処理基板をコンベア搬送する各段の動作における時間管理、棚段の上下動作における時間管理を行い、且つ、各部の動作を関連つけて制御する制御部とを備え、処理基板の受け入れの際には、処理基板が置かれていない、所定の空の段の位置を、受け入れする処理基板の高さに合わせて、処理基板を内部へ受け入れするもので、処理基板の送り出しの際には、所定の時間保管された処理基板の置かれている段の位置を、送り出す位置に合わせて、処理基板を外部へ送り出すものであることにより、これを達成している。
即ち、処理基板をその上に静止して置き、保管することができる複数のロールからなるコンベア兼用の段を棚状に設けていることにより、場所をとらないものとし、且つ、処理基板の受け入れを検知するセンサー部や、棚部の各段の処理基板の有無の管理と、保管されている処理基板をコンベア搬送する各段の動作における時間管理、棚段の上下動作における時間管理を行い、更に、各部の動作を関連つけて制御する制御部とを備えていることにより、処理基板毎に、保管の時間を管理することを可能としている。
【0011】
特に、プラズマディスプレイ(PDP)用の基板を処理基板として、露光、現像処理を一貫して行う装置における、露光部と現像部間に設けられるバッファ部として用いられるもので、ネガ型感光性レジストの光励起されたラジカルの反応を完結させるために適用される場合には、有効である。
PDP用のバッファ部として用いられる場合には、PDPの大型化(60インチ級で、サイズ1000mm×1500mm、厚さ5mm程度)のため、棚部は10段程度が、その重さから実用的である。
そして、棚部を10段程度とした場合には、棚部を2個、処理基板受け入れ側から順に、処理基板送り出し側にかけて、隣接するように配置することにより、2個の棚段を用い、処理基板を保管でき、結果、各処理基板を露光後所定の時間を経過して、確実に現像処理部へ送り出すことができ、実用的と言える。
尚、隣接する棚段間の処理基板の搬送は、それぞれの各段のコンベア搬送により行うことができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明のバッファ装置の実施の形態を挙げ、図に基づいて説明する。
図1は本発明のバッファ装置の実施の形態の1例の概略断面図で、図2(a)は、図1におけるA1−A2からみた図で、図3は上下移動の位置を検出するセンサー部の図で、図4、図5は、本例のバッファ装置の動作を説明するための図である。
尚、図3(a)は、図2中のB1−B2方向から見た羽根付近の図で、図3(b)は図3(a)のC1−C2における一部断面図である。
図1〜図3中、100はバッファ装置、110は棚部、111は段、113はローラ、113Aは軸、115は保持部、120は制御部、130は上下移動部、131はボールネジ、132はモータ、141、142、143はセンサー、145は位置センサー、145Aは投光部、145Bは受光部、148は羽根、148Sは面、151、152はローラ、161は受け入れ部、162は送り出し部、170はブース、180は処理基板である。
図1に示す本例のバッファ装置100は、PDP用の基板の作製の際に用いられ、露光装置と現像装置との間に設けて使用されるもので、ネガ型の感光性レジストの所定箇所のみを露光した後、保管して所定の時間だけ経過させて、現像処理部へ送り出すための装置である。
そして、図1に示すように、処理基板180をほぼ水平な状態で搬送でき、且つ、その上に静止して置き、保管することができる、複数のロール113からなるコンベア兼用の段111を、複数重ねて棚状に設けた棚部110を2個(110A、と110B)と、棚部110全体を一体として、上下方向にその位置を管理しながら移動する上下移動部130と、処理基板180の受け入れ部161において、処理基板180の受け入れと、処理基板180のサイズとを検知するセンサー141と、棚部110の各段111の処理基板の有無の管理と、保管されている処理基板をコンベア搬送する各段111の動作における時間管理、棚段110の上下動作における時間管理を行い、且つ、各部の動作を関連つけて制御する制御部120とを備えている。
そして、処理基板180の受け入れの際には、棚段110Bの処理基板180が置かれていない、所定の空の段111の位置を、受け入れする処理基板の高さに合わせて、処理基板180を内部へ受け入れ、処理基板180の送り出しの際には、処理基板180の置かれている段111の位置を、送り出す位置に合わせて、処理基板180を外部へ送り出すものである。
尚、必要に応じ、棚段110Bの処理基板のある段を、棚段110Aの空の段の高さに合わせ、空の段側に処理基板を各段のローラーを回転させて、送り込む。
【0013】
棚部110の各段111は、ほぼ水平に位置する複数の回転駆動できるローラ113からなり、処理基板180をほぼ水平な状態でコンベア搬送でき、且つ、その上に静止して置き、保管することができるものであり、各段のコンベア搬送、静止の制御は、制御部120により行われる。
各ローラ113の回転の駆動は、図1では図示していないが、例えば、ローラーの両端部の軸に所定のカップリング部を設け、適宜、これに嵌合する回転部を嵌めて、回転させてる方法が挙げられるが、特にこれに限定はされない。
【0014】
上下移動部130は、ボールネジ131をモータ132で回転駆動させることにより、保持部115を上下移動させ、結果、上下移動する保持部115に固定された棚部110全体を上下移動させるものである。
尚、保持部の内側は、ボールネジ131に嵌合するネジ部が設けられている。
【0015】
センサー145は、所定の位置に固定され、棚段110の上下移動の位置を検出するもので、棚段の位置が把握でき、且つ、処理基板の受け入れ、送り出しが、正常にでき、棚段間の処理基板のコンベア搬送ができるように、上下の位置制御をするためのセンサーである。
センサーとしては、本例ではフォトセンサーを挙げたが、これに限定されない、機械的なセンサーでも良い。
【0016】
センサー141は受け入れる処理基板180を確認するとともに、処理基板180のサイズを把握し、この情報を基に、受け入れる棚段のローラー113の駆動を制御し、ほぼ棚段の中心に位置するようにセットする。
処理基板のサイズは、ローラー151、ローラー113による搬送速度から算出することができる。
センサー142は、所定時間保管された、処理基板の送り出しを確認するものであるが、これは必ずしも必要ではない。
センサー143は、棚段110Bから110Aへ処理基板の移動を把握するものである。
【0017】
制御部120は、各センサーからの情報等をもとに、予め決められた、後述する図4や図5に示す動作フローに従い、装置100の状態を把握し、各部へ動作の指示を行うものである。
具体的には、制御部120は、各棚部110の各段111の処理基板180の有無の管理と、保管されている処理基板180をコンベア搬送する各段111の動作における時間管理、棚段110の上下動作における時間管理を行い、且つ、各部の動作を関連つけて制御するが、その制御方法には、種々あり、特に限定はされない。
尚、処理基板のサイズが複数ある場合は、制御部は、各段の処理基板のサイズも把握して、段のローラー回転駆動を制御する。
【0018】
次に、各センサー部について、さらに図3を基に説明する。
センサー145は、棚段110の上下の移動位置を把握するためのもので、例えば、図3(a)に示すように、棚段に一体的に固定された羽根148を多数所定の距離間隔で設けておき、羽根の一面からの反射光を感知するものである。
即ち、図3(b)に示すように、センサー145は所定の位置に固定された投光部145Aと受光部145Bを持つフォトセンサーで、ボールネジ131の回転による棚段の位置の移動により、羽根148の面148Sを検出することにより、その位置に対応した信号(データ)を得ることができる。
尚、他にも、ボールネジの回転軸にロータリーエンコーダを設け、その出力により位置管理することも可能である。
【0019】
図4に、本例の装置への処理基板の受け入れ動作フローの1例を示し、図5に本例の装置から処理基板をおくり出す動作フローの1例を示し、図に基づいて各動作を説明する。
図4、図5に示す動作は、基本的に図1に示す、棚部110Aの段に、棚部110Bよりも優先的に保管用の基板を送り込み、1度処理基板が、段に保管されたら、その段で所定の時間を経過させて、処理基板をその段から外部へ送り出すものである。
但し、各棚段の1番下側の段は、空にしておき、処理基板の受け入れ動作、送り出し動作の際に搬送用のコンベアとして用いるものである。
ここでは、段部110A、110Bの1番下側の段を、それぞれ、段A0、段B0として以下説明を行う。
尚、図4、図5に示す動作フローは1例で、別の動作フローを用いて、本例の装置を動作させても良いことは言うまでもない。
また、これを以て、制御部120の動作、棚段110の動作等の説明に代える。
【0020】
先ず図3に示す本例の装置への処理基板の受け入れ動作を、図4に基づき、図1、図2を参照にしながら説明する。
まず、受け入れ用の処理基板がローラー151にセットされる。(S410)受け入れ部161の手前で、処理基板180は静止した状態で受け入れ動作を待つ。
装置100が送り出しの動作や受け入れ動作等の動作中である場合は、処理基板はそのまま静止つづけ、受け入れを中止し、装置100が動作中でない場合には受け入れ動作を開始する。(S411)
装置100が送り出しの動作や受け入れ動作等の動作中でない場合は、まず棚段110Aに空きの段があるか否かを確認する。(S412)
そして、棚段110Aに空きがある場合、一応棚段110Bの搬送用の段B0が空であることを確認し(S413)、段B0が受け入れ位置の高さ位置にあることを確認する。(S414)
段B0が受け入れ位置の高さ位置にない場合には、棚段110Bを上下移動させ、段B0を受け入れ位置の高さ位置に移動する。
段B0が受け入れ位置の高さ位置において、棚段110Aの空の段のうち、処理基板を受け入れる段を選定する。(S415)
選定された段を受け入れ位置と同じ高さ位置に移動する。(S416)
次いで、ローラー151、段B0のローラー113、棚段110Aの選定された段のローラーを回転駆動し(S417)、処理基板を選定された段の所定の位置まで搬送してまず選定された段のローラーを停止し(S418)、次いで適宜、各ローラーの駆動を停止する。(S419)
このようにして、棚段の選定された段の所定の位置に処理基板が保管されたこととなるが、制御部120は、該受け入れられた処理基板の、受け入れ時間、該当する棚段、保管段等を対応して把握し、必要応じ、このデータを送り出し動作フロー側等に送る。
そして、受け入れが完了する。
【0021】
また、棚段110Aに、段A0の他に空きの段がない場合、棚段110Bに、段B0の他に空きの段があるか否かを確認する。(S421)
空きの段がある場合には、受け入れる段を選定する。(S422)
次いで、選定された段を受け入れ位置と同じ高さ位置に移動させる。(S423)
次いで、ローラ151と棚段110Bの選定された段のローラー113を回転駆動し、処理基板を受け入れる。(S424)
選定された段の所定の位置に処理基板が入った状態で、選定された段のローラー113を停止し(S425)、次いでローラー151も停止する。(S426)
同様に、棚段の選定された段の所定の位置に処理基板が保管されたこととなるが、制御部120は、該受け入れられた処理基板の、受け入れ時間、該当する棚段、保管段等を対応して把握し、必要に応じ、このデータを送り出し動作フロー側等に送る。
そして、受け入れが完了する。
【0022】
次に、図5に示す本例の装置への処理基板の送り出し動作を、図5に基づき、図1、図2を参照にしながら説明する。
各棚段の各段について、保管時間が所定の時間に達したものがあるか否かを逐次確認し、該当する段がある場合、その段の処理基板の送り出し動作を行う。
そして、まず、保管時間が所定の時間に達した段を選定(特定)する。(S510)
次いで、装置100が送り出しの動作や受け入れ動作等の動作中である場合は、処理基板は特定された段でそのまま静止つづけ、送り出しを中止し、装置100が動作中でない場合には、送り出し動作を開始する。(S511)
また、装置100が送り出しの動作や受け入れ動作等の動作中でない場合は、特定された段がまず棚段110Aにあるか否かを確認する。(S512)
特定された段が棚段110Aにある場合、特定された段を、送り出し位置と同じ高さに移動する。(S513)
移動後、ローラー152と棚段110Aの特定された段のローラー113を回転駆動して、処理基板を送り出す。(S514)
この後、各ローラーの回転を、適宜停止させる。
棚段の特定された段は空となるが、制御部120は、この情報を把握して、必要に応じ、受け入れ動作フロー側等に送る。
このようにして、送り出し動作を完了させる。
【0023】
また、特定された棚段が110Bである場合には、棚段110Aの段A0が空であることを一応確認し(S520)、段A0が送り出し位置と同じ高さの位置であるかを確認し、その位置になければ、その位置に移動させる。(S521)段A0が送り出し位置と同じ高さの位置にした状態で、棚段110Bの特定された段を、送り出し位置と同じ高さの位置に移動させる。(S522)
移動後、ローラー152と、段A0と棚段110Bの特定された段のローラー113とを回転駆動して、処理基板を送り出す。(S523)
この後、各ローラーの回転を、適宜停止させる。
棚段の特定された段は空となるが、制御部120は、この情報を把握して、必要に応じ、受け入れ動作フロー側等に送る。
このようにして、送り出し動作を完了させる。
【0024】
【発明の効果】
本発明は、上記のように、処理基板を、処理する処理工程ラインの途中において、所定の時間だけ保管するためのパッファ装置で、省スペースで、多数の処理基板の保管ができ、且つ、所定の時間経過後に処理基板を、外部へ送り出すことが、確実にできる装置の提供を可能とした。
特に、PDP用の基板の作製における露光、現像処理を一貫して行う装置に適用され、ネガ型感光性レジストを露光した後、光励起されたラジカルの反応を完結させために、露光部と現像処理部間に設けられた場合、場所をとらず、露光後の処理基板を保管でき、且つ、所定の時間経過後に処理基板を現像処理部側へ送り出すことが、確実にできるものとし、結果、品質的にも、作業面でもその効果は大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の1例のバッファ装置の概略図
【図2】実施の形態の1例のバッファ装置の一断面図
【図3】上下移動の位置を検出するセンサー部を説明するための図
【図4】処理基板の受け入れ動作フロー図
【図5】処理基板の送り出し動作フロー図
【図6】サンドブラスト処理による障壁の形成を説明するための図
【図7】PDP基板を説明するための図
【符号の説明】
100 装置
110、110A、110B 棚部
111 段
113 ローラ
113A 軸
115 保持部
120 制御部
130 上下移動部
131 ボールネジ
132 モータ
141、142、143 センサー
145 位置センサー
145A 投光部
145B 受光部
148 羽根
148S 面
151、152 ローラ
161 受け入れ部
162 送り出し部
170 ブース
180 処理基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a puffer device for storing a processing substrate for a predetermined time in the middle of a processing process line for processing. More specifically, the present invention relates to exposure and development processing using a plasma display substrate as a processing substrate. The present invention relates to an apparatus for completing a reaction of photoexcited radicals of a negative photosensitive resist, which is used as a buffer section provided between an exposure section and a development section in a consistent apparatus.
[0002]
[Prior art]
In recent years, plasma display panels (hereinafter also referred to as PDPs) are being used in various display devices because of their thin depth, light weight, and clear display and wider viewing angle than liquid crystal panels.
In general, a plasma display panel (PDP) has a structure in which a pair of regularly arranged electrodes are provided on two opposing glass substrates, and a gas mainly composed of neon, xenon, or the like is enclosed therebetween. Then, a voltage is applied between these electrodes, and discharge is generated in minute cells around the electrodes, thereby causing each cell to emit light for display. In particular, in order to display information, the regularly arranged cells are selectively discharged to emit light.
[0003]
Here, the configuration of the PDP will be described with reference to an example of the AC type PDP shown in FIG.
FIG. 7 is a perspective view of the PDP structure, but the front plate (glass substrate 710) and the back plate (glass substrate 720) are shown separated from each other for the sake of clarity.
As shown in FIG. 7, two glass substrates 710 and 720 are arranged in parallel and facing each other, and both of them are barriers (cell barriers) provided in parallel to each other on a glass substrate 720 as a back plate. (Also referred to as 730).
On the back side of the glass substrate 710 serving as the front plate, a composite electrode composed of a transparent electrode 740 serving as a discharge sustaining electrode and a metal electrode 750 serving as a bus electrode is formed in parallel with each other. A layer 760 is formed, and a protective layer (MgO layer) 770 is further formed thereon.
In addition, address electrodes 780 are formed between the barriers 730 so as to be orthogonal to the composite electrode on the front side of the glass substrate 720 serving as a back plate, and are formed in parallel with each other. A phosphor 790 is provided so as to cover.
The barrier 730 is for partitioning the discharge space, and each partitioned discharge space is called a cell or a unit light emitting region.
This AC type PDP is a surface discharge type, and has a structure in which an AC voltage is applied between the composite electrodes on the front plate to cause discharge. In this case, since alternating current is applied, the direction of the electric field changes corresponding to the frequency. Then, the phosphor 790 is caused to emit light by ultraviolet rays generated by this discharge, and the observer can visually recognize the light transmitted through the front plate.
The DC type PDP is different from the AC type in that the electrode has a structure not covered with a dielectric layer, but the discharge effect is the same.
7 has a structure in which a base layer 767 is provided on one surface of a glass substrate 720 and a dielectric layer 765 is provided thereon, but the base layer 767 and the dielectric layer 765 are not necessarily required. .
[0004]
Conventionally, as a method for forming a barrier for a back plate used in the above PDP, a barrier forming material is formed on a glass substrate in a barrier pattern shape and repeatedly printed a plurality of times by screen printing to a required height. A first method of stacking and drying (referred to as a screen printing method), or after applying a barrier forming material on the entire surface of a glass substrate, a resist having resistance to sandblasting is patterned and formed in a predetermined shape on the coated surface, A second method (referred to as a sandblasting method) in which a barrier forming material is formed into a predetermined shape by sandblasting using the resist as a mask has been adopted. However, in the barrier formation of the back plate used for the PDP according to the first method, it is necessary to perform screen printing of paste several times to several times in order to obtain a predetermined thickness as a barrier. In addition, it is necessary to manage the printing accuracy, and it is difficult to obtain a satisfactory product in terms of quality. At present, the second method is mainstream.
[0005]
Here, one example of the formation of the barrier by the second method (sand blasting method) will be described with reference to FIG. 6 to further explain the barrier forming method by the sand blasting method.
As shown in FIG. 6A, after the electrode wiring 630 is formed on one surface of the glass substrate 610 through the undercoat layer 620, the surface of the glass substrate 610 is further covered on the electrode wiring 630. A dielectric layer 650 is formed.
Next, a processing material 660 made of a low-melting glass paste for barrier formation is applied to the entire surface of the dielectric layer 650 (FIG. 6B), and then a photosensitive material that is resistant to sandblasting on the processing material 660. Next, only a predetermined region of the resist 640 is irradiated with a predetermined ionizing radiation using a photomask having a pattern with a predetermined shape corresponding to the shape of the barrier to be formed. It is exposed, developed, and patterned into a predetermined shape. (Fig. 6 (d))
Then, the resist 640 is used as a mask when the processing material 660 is sandblasted, and sandblasting is performed, and only the processing material 660 exposed from the mask is cut into a predetermined shape. (Fig. 6 (e))
Thereafter, the resist 640 is removed, and a baking process is performed to form a barrier 660A on the dielectric layer 650. (Fig. 6 (f))
[0006]
As described above, in the barrier formation on the glass substrate that is the back plate used in the PDP by the second method, the barrier forming material coated on the glass substrate is a photosensitive resist 640 that is resistant to sandblasting. Was covered with a mask having a predetermined shape, and polishing sand such as glass beads was blown from a plurality of nozzles with high-pressure air, and a portion exposed from the mask was selectively cut to form a barrier.
Similarly, when forming the electrode wiring 630, a photosensitive resist is used, and this is used to expose only a predetermined region of the resist 640 with a predetermined ionizing radiation using a photomask having a pattern with a predetermined shape. The process of developing this and patterning it into a predetermined shape has been adopted.
[0007]
As described above, in the production of a substrate for PDP, there are various processes for exposing and developing a photosensitive resist. As the photosensitive resist used, a negative photosensitive resist such as a dry film resist is used. , Commonly used.
In recent years, there is a strong demand for mass production of PDPs, and there is a demand for production lines that can perform processing as reliably and consistently as possible in the production of substrates for these PDPs.
Under such circumstances, even in an apparatus that performs exposure and development processing consistently using a PDP substrate as a processing substrate, after exposing the negative photosensitive resist, a predetermined reaction that completes the reaction of the photoexcited radicals is performed. However, after the negative photosensitive resist is exposed to the treated substrate after the exposure, the photo-excited radical reaction is surely completed. It was difficult to provide a buffer unit capable of securing time, which was a problem.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in an apparatus that consistently performs exposure and development processing in the production of a substrate for PDP, in order to complete the reaction of photoexcited radicals after exposing the negative photosensitive resist, There is a need for a buffer device that is provided between development processing units, can take up as little space as possible, can store a processed substrate after exposure, and can reliably send the processed substrate to the development processing unit after a predetermined time has elapsed. It was.
The present invention is a device that consistently performs exposure and development processing in the production of a substrate for PDP, and completes the reaction of photoexcited radicals after exposing a negative photosensitive resist. Therefore, it is provided between the exposure unit and the development processing unit, takes up as little space as possible, can store the processed substrate after exposure, and reliably sends out the processing substrate to the development processing unit side after a predetermined time has elapsed. It is an object of the present invention to provide a buffer device that can be used.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
Buffer device of the present invention, the substrate in the course of processing to process line, a buffer device for storing a predetermined time, can transport the substrate in a substantially horizontal state and, on the The shelf unit, which is a stack of multiple rolls and can be stored and stored in a shelf, and the shelf unit as a whole, is integrated with the entire shelf unit, and its position is managed in the vertical direction. Up and down moving part, sensor part detecting acceptance of processing substrate, management of presence / absence of processing substrate of each stage of shelf part, time management in operation of each stage conveying conveyor stored processing substrate A control unit that performs time management in the vertical movement of the shelf and controls the operation of each unit in association with each other, and when the processing substrate is received, the processing substrate is not placed, a predetermined empty The position of the step The processing substrate is received inside according to the height of the processing substrate to be received. When the processing substrate is sent out, the position of the stage where the processing substrate stored for a predetermined time is placed is the sending position. together the state, and are not delivering the processed substrate to the outside, and, the ledge 2 or more, in order from the substrate receiving side, toward the processing substrate feeding side, arranged so that adjacent, between adjacent trays The processing substrate is conveyed by conveyor conveyance at each stage .
The above-described buffer device is used as a buffer unit provided between an exposure unit and a development unit in a device that performs exposure and development processing consistently using a plasma display substrate as a processing substrate. It is for completing the reaction of the photoexcited radical of the type photosensitive resist.
[0010]
[Action]
The buffer device of the present invention is a device that consistently performs exposure and development processing in the production of a substrate for a PDP by adopting such a configuration, and after exposing a negative photosensitive resist, In order to complete the reaction, it is provided between the exposure unit and the development processing unit, takes up as little space as possible, can store the processed substrate after exposure, and sends the processed substrate to the development processing unit side after a predetermined time has elapsed. However, it is possible to provide a buffer device that can be surely provided.
Specifically, a plurality of conveyor-use stages made up of a plurality of rolls, which can be transported in a substantially horizontal state and can be placed and stored in a stationary manner, are stacked in a shelf shape. The shelf part, the whole shelf part as a whole, a vertically moving part that moves while managing its position in the up and down direction, a sensor part that detects the acceptance of the processing board, and the presence or absence of processing boards at each stage of the shelf part A control unit that performs management, time management in the operation of each stage that conveys the stored processing substrate and conveys the time, and time management in the up and down operation of the shelf, and controls the operation of each part in association with each other. When the substrate is received, the processing substrate is received inside by aligning the position of a predetermined empty step where the processing substrate is not placed with the height of the processing substrate to be received. In the case of a predetermined time The position of the stage is placed with the stored processed substrate, in accordance with the feeding position, by those for feeding the processed substrate to the outside, have achieved this.
In other words, the processing substrate can be placed on the shelf and stored in a shelf-like manner that can be stored and used as a conveyor, so that it does not take up space and accepts the processing substrate. Sensor unit to detect the presence or absence of processing substrates at each stage of the shelf, time management in the operation of each stage that conveys the stored processing substrate, and time management in the vertical movement of the shelf, Further, by including a control unit that controls the operation of each unit in association with each other, the storage time can be managed for each processing substrate.
[0011]
In particular, it is used as a buffer unit provided between an exposure unit and a development unit in an apparatus that performs exposure and development processing consistently using a substrate for a plasma display (PDP) as a processing substrate. It is effective when applied to complete the reaction of photoexcited radicals.
When used as a buffer for PDP, the shelf has about 10 tiers due to its large size (60 inch class, size 1000 mm × 1500 mm, thickness 5 mm). is there.
And when the shelf part is about 10 stages, two shelf parts are used by arranging the shelf parts adjacent to each other from the process substrate receiving side to the process substrate delivery side, The processed substrates can be stored, and as a result, each processed substrate can be surely sent out to the development processing section after a predetermined time has passed after exposure, which is practical.
In addition, conveyance of the processing board | substrate between adjacent shelf stages can be performed by the conveyor conveyance of each each stage.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the buffer device of the present invention will be given and described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic sectional view of an example of an embodiment of the buffer device according to the present invention. FIG. 2A is a view as viewed from A1-A2 in FIG. 1, and FIG. 3 is a sensor for detecting the position of vertical movement. 4 and 5 are diagrams for explaining the operation of the buffer device of this example.
FIG. 3A is a view of the vicinity of the blade viewed from the B1-B2 direction in FIG. 2, and FIG. 3B is a partial cross-sectional view taken along C1-C2 in FIG.
1-3, 100 is a buffer device, 110 is a shelf part, 111 is a step, 113 is a roller, 113A is a shaft, 115 is a holding part, 120 is a control part, 130 is a vertical movement part, 131 is a ball screw, 132 Is a motor, 141, 142, and 143 are sensors, 145 is a position sensor, 145A is a light emitting unit, 145B is a light receiving unit, 148 is a blade, 148S is a surface, 151 and 152 are rollers, 161 is a receiving unit, and 162 is a sending unit. , 170 is a booth, and 180 is a processing substrate.
A buffer device 100 of this example shown in FIG. 1 is used when a substrate for PDP is manufactured, and is used by being provided between an exposure device and a developing device. A predetermined portion of a negative photosensitive resist is used. This is an apparatus for storing only after exposure and storing it for a predetermined time and sending it to the development processing section.
And, as shown in FIG. 1, a conveyor combined stage 111 composed of a plurality of rolls 113 that can convey the processing substrate 180 in a substantially horizontal state, and can rest and store the processed substrate 180 thereon. Two shelves 110 (110A and 110B) provided in a plurality of overlapping shelves, the entire shelves 110 as a single unit, a vertical moving unit 130 that moves while managing the position in the vertical direction, and a processing substrate 180. In the receiving unit 161, the sensor 141 that detects the reception of the processing substrate 180 and the size of the processing substrate 180, the management of the presence / absence of the processing substrate in each stage 111 of the shelf 110, and the stored processing substrate as a conveyor And a control unit 120 that performs time management in the operation of each transporting stage 111 and time management in the up-and-down operation of the shelf 110 and controls the operation of each part in association with each other. To have.
Then, when the processing substrate 180 is received, the processing substrate 180 is placed in accordance with the height of the processing substrate to be received, with the position of the predetermined empty stage 111 where the processing substrate 180 of the shelf 110B is not placed. When the processing substrate 180 is received inside and sent out, the processing substrate 180 is sent out to the outside in accordance with the position of the stage 111 on which the processing substrate 180 is placed.
If necessary, the level of the processing substrate on the shelf 110B is adjusted to the height of the empty level on the shelf 110A, and the processing substrate is fed to the empty level side by rotating the rollers on each level.
[0013]
Each stage 111 of the shelf 110 is composed of a plurality of rollers 113 that can be driven to rotate substantially horizontally, and the processing substrate 180 can be conveyed by the conveyor in a substantially horizontal state, and placed and stored stationary on the substrate. The control of the conveyor conveyance and stationary of each stage is performed by the control unit 120.
The rotation driving of each roller 113 is not shown in FIG. 1, but for example, a predetermined coupling portion is provided on the shafts at both ends of the roller, and a rotation portion fitted to this is appropriately fitted and rotated. However, the method is not particularly limited to this.
[0014]
The up-and-down moving unit 130 moves the holding unit 115 up and down by rotating the ball screw 131 with a motor 132, and as a result, moves up and down the entire shelf 110 fixed to the holding unit 115 that moves up and down.
Note that a screw portion that fits into the ball screw 131 is provided inside the holding portion.
[0015]
The sensor 145 is fixed at a predetermined position and detects the position of the vertical movement of the shelf 110. The sensor 145 can grasp the position of the shelf, and can receive and send out the processing substrate normally. It is a sensor for controlling the vertical position so that the processed substrate can be conveyed by the conveyor.
As the sensor, a photo sensor is described in this example, but a mechanical sensor may be used without being limited thereto.
[0016]
The sensor 141 confirms the processing substrate 180 to be received, grasps the size of the processing substrate 180, controls the driving of the roller 113 of the receiving shelf based on this information, and is set so as to be positioned substantially at the center of the shelf. To do.
The size of the processing substrate can be calculated from the conveyance speed by the rollers 151 and 113.
The sensor 142 confirms delivery of the processed substrate stored for a predetermined time, but this is not always necessary.
The sensor 143 grasps the movement of the processing substrate from the shelf 110B to 110A.
[0017]
The control unit 120 grasps the state of the apparatus 100 according to a predetermined operation flow shown in FIGS. 4 and 5 to be described later based on information from each sensor, etc., and gives an operation instruction to each unit. It is.
Specifically, the control unit 120 manages the presence / absence of the processing substrate 180 in each stage 111 of each shelf unit 110, the time management, the shelf level in the operation of each stage 111 that conveys the stored processing substrate 180 by conveyor. The time management in the vertical movement of 110 is performed, and the operations of the respective units are controlled in association with each other.
When there are a plurality of processing substrate sizes, the control unit also grasps the size of the processing substrate at each stage and controls the roller rotation driving of the stage.
[0018]
Next, each sensor unit will be described with reference to FIG.
The sensor 145 is for grasping the vertical movement position of the shelf 110. For example, as shown in FIG. 3A, a large number of blades 148 integrally fixed to the shelf are arranged at predetermined distance intervals. It is provided to sense reflected light from one surface of the blade.
That is, as shown in FIG. 3B, the sensor 145 is a photosensor having a light projecting unit 145A and a light receiving unit 145B fixed at predetermined positions. By detecting the surface 148S of 148, a signal (data) corresponding to the position can be obtained.
In addition, it is also possible to provide a rotary encoder on the rotating shaft of the ball screw and manage the position by the output.
[0019]
FIG. 4 shows an example of an operation flow of receiving a processing substrate into the apparatus of this example, FIG. 5 shows an example of an operation flow of feeding the processing substrate from the apparatus of this example, and each operation based on the figure is shown. explain.
The operation shown in FIGS. 4 and 5 basically sends the storage substrate to the stage of the shelf 110A shown in FIG. 1 with priority over the shelf 110B, and the processed substrate is stored once in the stage. Then, after a predetermined time has passed at that stage, the processing substrate is sent out from that stage.
However, the lowermost level of each shelf is left empty and is used as a conveyor for transporting in the processing substrate receiving operation and sending out operation.
Here, the description will be given below assuming that the lowermost stage of the step parts 110A and 110B is the stage A0 and the stage B0, respectively.
Note that the operation flow shown in FIGS. 4 and 5 is an example, and it goes without saying that the apparatus of this example may be operated using another operation flow.
Moreover, it replaces with description of operation | movement of the control part 120, operation | movement of the shelf 110, etc. by this.
[0020]
First, the process substrate receiving operation to the apparatus of this example shown in FIG. 3 will be described based on FIG. 4 with reference to FIG. 1 and FIG.
First, a receiving processing substrate is set on the roller 151. (S410) Before the receiving unit 161, the processing substrate 180 stands still and waits for the receiving operation.
When the apparatus 100 is in operation such as sending out or receiving operation, the processing substrate is kept still, and the receiving is stopped. When the apparatus 100 is not operating, the receiving operation is started. (S411)
When the apparatus 100 is not in operation such as sending out or receiving, it is first checked whether or not there is an empty stage on the shelf 110A. (S412)
If there is a vacancy in the shelf 110A, it is confirmed that the transporting stage B0 of the shelf 110B is empty (S413), and it is confirmed that the stage B0 is at the height of the receiving position. (S414)
When the stage B0 is not at the height position of the receiving position, the shelf stage 110B is moved up and down, and the stage B0 is moved to the height position of the receiving position.
When the stage B0 is at the height of the receiving position, the stage that receives the processing substrate is selected from the empty stages of the shelf 110A. (S415)
Move the selected step to the same height as the receiving position. (S416)
Subsequently, the roller 151, the roller 113 of the stage B0, and the roller of the selected stage of the shelf stage 110A are rotationally driven (S417), and the processing substrate is transported to a predetermined position of the selected stage, and first of the selected stage. The rollers are stopped (S418), and then the driving of each roller is stopped as appropriate. (S419)
In this way, the processing substrate is stored at a predetermined position of the selected stage of the shelf, and the control unit 120 receives the processing time, the corresponding shelf, and storage of the received processing substrate. Correspondingly, the data is sent to the operation flow side or the like.
And acceptance is completed.
[0021]
When there is no empty stage other than the stage A0 in the shelf stage 110A, it is confirmed whether or not there is an empty stage other than the stage B0 in the shelf stage 110B. (S421)
If there is an empty stage, select the stage to accept. (S422)
Next, the selected step is moved to the same height position as the receiving position. (S423)
Next, the roller 151 and the roller 113 at the selected stage of the shelf 110B are rotationally driven to receive the processing substrate. (S424)
In a state where the processing substrate has entered the predetermined position of the selected stage, the roller 113 of the selected stage is stopped (S425), and then the roller 151 is also stopped. (S426)
Similarly, the processing substrate is stored at a predetermined position of the selected stage of the shelf, but the control unit 120 receives the processing time, the corresponding shelf, the storage stage, etc. of the received processing substrate. And send this data to the sending operation flow side as necessary.
And acceptance is completed.
[0022]
Next, the processing substrate delivery operation to the apparatus of this example shown in FIG. 5 will be described based on FIG. 5 with reference to FIG. 1 and FIG.
For each level of each shelf, it is sequentially checked whether there is a storage time that has reached a predetermined time. If there is a corresponding level, the processing substrate is sent out at that level.
First, a stage whose storage time has reached a predetermined time is selected (specified). (S510)
Next, when the apparatus 100 is in an operation such as a delivery operation or an acceptance operation, the processing substrate is kept still at the specified stage, the delivery is stopped, and when the apparatus 100 is not in operation, the delivery operation is performed. Start. (S511)
In addition, when the apparatus 100 is not in the operation of sending out or receiving, it is confirmed whether or not the specified stage is on the shelf stage 110A. (S512)
When the specified step is on the shelf step 110A, the specified step is moved to the same height as the delivery position. (S513)
After the movement, the roller 152 and the roller 113 of the specified stage of the shelf 110A are rotationally driven to send out the processing substrate. (S514)
Thereafter, the rotation of each roller is appropriately stopped.
Although the specified level of the shelf is empty, the control unit 120 grasps this information and sends it to the receiving operation flow side or the like as necessary.
In this way, the delivery operation is completed.
[0023]
If the specified shelf is 110B, it is temporarily confirmed that the level A0 of the level 110A is empty (S520), and it is confirmed whether the level A0 is at the same height as the delivery position. If not, move it to that position. (S521) With the stage A0 at the same height as the delivery position, the specified stage of the shelf 110B is moved to the same height as the delivery position. (S522)
After the movement, the roller 152 and the roller 113 at the specified stage of the stage A0 and the shelf 110B are rotationally driven to send out the processing substrate. (S523)
Thereafter, the rotation of each roller is appropriately stopped.
Although the specified level of the shelf is empty, the control unit 120 grasps this information and sends it to the receiving operation flow side or the like as necessary.
In this way, the delivery operation is completed.
[0024]
【The invention's effect】
As described above, the present invention is a puffer device for storing a processing substrate for a predetermined time in the middle of a processing process line for processing, and can store a large number of processing substrates in a space-saving manner. Thus, it has become possible to provide an apparatus capable of reliably delivering the processed substrate to the outside after the elapse of the time.
In particular, it is applied to an apparatus that consistently performs exposure and development processing in the production of a substrate for a PDP. After exposing a negative photosensitive resist, the exposure section and the development processing are completed in order to complete the reaction of photoexcited radicals. When it is provided between the parts, it is possible to store the processed substrate after exposure without taking up space, and to reliably send the processed substrate to the development processing part side after a predetermined time has passed, resulting in quality The effect is also great in terms of work.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic view of an example buffer device according to an embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view of an example buffer device according to an embodiment. FIG. 3 is a diagram for explaining a sensor unit that detects the position of vertical movement. FIG. 4 is a flow chart of receiving operation of a processed substrate. FIG. 5 is a flow chart of operating flow of the processed substrate. FIG. 6 is a diagram for explaining formation of a barrier by sandblasting. Figure [Explanation of symbols]
100 apparatus 110, 110A, 110B shelf 111 step 113 roller 113A shaft 115 holding unit 120 control unit 130 vertical movement unit 131 ball screw 132 motor 141, 142, 143 sensor 145 position sensor 145A light projecting unit 145B light receiving unit 148 blade 148S surface 151 , 152 Roller 161 Receiving unit 162 Sending unit 170 Booth 180 Processing substrate

Claims (2)

処理基板を、処理する処理工程ラインの途中において、所定の時間だけ保管するためのバッファ装置であって、処理基板をほぼ水平な状態で搬送でき、且つ、その上に静止して置き、保管することができる、複数のロールからなるコンベア兼用の段を、複数重ねて棚状に設けた棚部と、棚部全体を一体として、上下方向にその位置を管理しながら移動する上下移動部と、処理基板の受け入れを検知するセンサー部と、棚部の各段の処理基板の有無の管理と、保管されている処理基板をコンベア搬送する各段の動作における時間管理、棚段の上下動作における時間管理を行い、且つ、各部の動作を関連つけて制御する制御部とを備え、処理基板の受け入れの際には、処理基板が置かれていない、所定の空の段の位置を、受け入れする処理基板の高さに合わせて、処理基板を内部へ受け入れするもので、処理基板の送り出しの際には、所定の時間保管された処理基板の置かれている段の位置を、送り出す位置に合わせて、処理基板を外部へ送り出すものであり、且つ、棚部を2個以上、処理基板受け入れ側から順に、処理基板送り出し側にかけて、隣接するように配置し、隣接する棚段間の処理基板の搬送は、それぞれの各段のコンベア搬送により行われるものであることを特徴とするバッファ装置。The substrate, in the course of processing to process line, a buffer device for storing a predetermined time, can transport the substrate in a substantially horizontal state, and placed at rest on it, storage A plurality of rolls that can be used as conveyors, and a plurality of shelves provided in a shelf shape, and a vertical movement unit that moves the whole shelf part as a whole while managing the position in the vertical direction , Sensor unit for detecting acceptance of processing substrate, management of presence / absence of processing substrate at each stage of shelf part, time management in operation of each stage to convey conveyor stored processing substrate, up / down movement of shelf stage A control unit that performs time management and controls the operation of each unit in association with each other, and accepts the position of a predetermined empty stage where the processing substrate is not placed when receiving the processing substrate. Treated substrate In response to this, the processing substrate is received inside, and when the processing substrate is sent out, the position of the stage where the processing substrate stored for a predetermined time is placed in accordance with the sending position. der those for feeding the outside is, and, the ledge 2 or more, in order from the substrate receiving side, toward the processing substrate feeding side, it arranged so that adjacent, transport of the substrate between the adjacent trays is A buffer device, which is performed by conveyor conveyance at each stage . プラズマディスプレイ用の基板を処理基板として、露光、現像処理を一貫して行う装置における、露光部と現像部間に設けられるバッファ部として用いられるもので、ネガ型感光性レジストの光励起されたラジカルの反応を完結させるためのものであることを特徴とする請求項1に記載のバッファ装置。It is used as a buffer unit provided between the exposure unit and the development unit in an apparatus that consistently performs exposure and development processing using a substrate for plasma display as a processing substrate. buffer device according to claim 1 you, wherein the reaction is intended to complete the.
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