JP4181594B2 - 画像再構成処理装置 - Google Patents
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Description
2の処理により得たデータを、X線が通過した( 焦点から検出器のチャンネルまでの) パス上に逆投影する。すなわち、焦点から逆投影するボクセルを通る直線が検出器面と交差する点を計算し、その点の周囲の2の処理のデータから逆投影するデータを補間などで作成し、それをFvoxelD(X)の2乗の逆数で重み付けして逆投影する。この逆投影は360°( 1回転 )にわたって行なう。
検出器列数 M列
( X線検出素子列 )
チャンネル数 Nチャンネル
各列のZ軸方向の高さ Dmm、
( 回転中心でのスライス厚 )
焦点−回転中心間距離 FCD(Focus-center-Distance )
焦点−検出器間距離 FDD(Focus-Detector-Distance )
有効視野直径 FOV(Field of View )
ファン角 α
コーン角 β
となっている。
tanβs=( H/Ls )=( H/[FCD・ cos( α/2 )] )= tanβe
が成立する。
tanβi=( H/Li )=[H/( FCD・ cosψi )]、
焦点位置Fcでの見かけ上のコーン角度βcについて、
tanβc=( H/Lc )=( H/FCD )が成立する。
Zi=FDD・ tanβi=( FDD/FCD )・( H/ cosψi )、
焦点位置Fcでの検出面高さZc=FDD・ tanβc=( FDD/FCD )・Hである。
FDD( ψi )=( FDDo/ cosψi )
であり、焦点位置での 検出面高さZ( ψi )は、
Z( ψi )=FDD( ψi )・ tanβi
=( FDDo/ cosψi )・[H/( FCD・ cosψi )]
=( FDDo/FCD )・[H/(cosψi・ cosψi )]
となる。
( I ) その全域にわたって再構成画像面( Z軸座標=ZI )より下側の場合。
Z( φi )=Z0+[( φi/360 )・HP]
で与えられる。なお、HPはヘリカルピッチである。
Claims (8)
- X線源から放射された円錐状のX線コーンビームを対象物に照射し、この対象物を透過したX線をX線検出素子を1列に配列した1次元X線検出器を複数列に配列した2次元X線検出器により検出し、前記X線源と前記2次元X線検出器とを前記対象物の回りを回転軸方向に移動させずに回転させるコンベンショナルスキャンにより得られた検出データに基づいて、前記対象物の断層画像を再構成する画像再構成処理装置において、
前記X線源と前記2次元X線検出器の所定の角度分の回転により得られた検出データから、前記X線源から前記2次元X線検出器へのビームが前記X線源及び前記2次元X線検出器の回転軸方向成分を無視して前記対象物への透過角度が平行であった変則パラレルビームの検出データを前記透過角度毎に収集して処理する変則パラレルデータ変換手段と、
この変則パラレルデータ変換手段により収集処理された変則パラレルビームの検出データに基づいて前記対象物の断層画像を再構成するパラレル再構成手段とを具備したことを特徴とする画像再構成処理装置。 - X線源から放射された円錐状のX線コーンビームを対象物に照射し、この対象物を透過したX線をX線検出素子を1列に配列した1次元X線検出器を複数列に配列した2次元X線検出器により検出し、前記X線源と前記2次元X線検出器とを前記対象物の回りを回転軸方向に移動させずに回転させるコンベンショナルスキャンにより得られた検出データに基づいて、前記対象物の断層画像を再構成する画像再構成処理装置において、
前記X線源と前記2次元X線検出器の所定の角度分の回転により得られた検出データから、前記X線源から前記2次元X線検出器へのビームが前記X線源及び前記2次元X線検出器の回転軸方向成分を無視して前記対象物への透過角度が平行であった変則パラレルビームの検出データを前記透過角度毎に収集して処理する変則パラレルデータ変換手段と、
この変則パラレルデータ変換手段により収集処理した変則パラレルビームの検出データに対して前記回転軸方向の歪みを補正する変則パラレルデータ補正手段と、
この変則パラレルデータ補正手段により補正された変則パラレルビームの検出データに基づいて前記対象物の断層画像を再構成するパラレル再構成手段とを具備したことを特徴とする画像再構成処理装置。 - X線源から放射された円錐状のX線コーンビームを対象物に照射し、この対象物を透過したX線をX線検出素子を1列に配列した1次元X線検出器を複数列に配列した2次元X線検出器により検出し、前記X線源と前記2次元X線検出器とを前記対象物の回りを回転して得られた検出データに基づいて、前記対象物の断層画像を再構成する画像再構成処理装置において、
前記X線源と前記2次元X線検出器の所定の角度分の回転により得られた検出データから、前記X線源から前記2次元X線検出器へのビームが前記X線源及び前記2次元X線検出器の回転軸方向成分を無視して前記対象物への透過角度が平行であった変則パラレルビームの検出データを前記透過角度毎に収集して処理する変則パラレルデータ変換手段と、
この変則パラレルデータ変換手段により収集処理された変則パラレルビームの検出データの検出位置を、前記パラレルビームの透過角度に応じて前記回転軸方向の位置について再配置するリサンプリング処理を行うことによって、中央断面に対する焦点位置の距離の変化により生じる前記回転軸方向の歪みを補正して前記対象物の断層画像を再構成するパラレル再構成手段とを具備したことを特徴とする画像再構成処理装置。 - X線源から放射された円錐状のX線コーンビームを対象物に照射し、この対象物を透過したX線をX線検出素子を1列に配列した1次元X線検出器を複数列に配列した2次元X線検出器により検出し、前記X線源と前記2次元X線検出器とを前記対象物の回りを回転して得られた検出データに基づいて、前記対象物の断層画像を再構成する画像再構成処理装置において、
前記X線源と前記2次元X線検出器の所定の角度分の回転により得られた検出データから、前記X線源から前記2次元X線検出器へのビームが前記X線源及び前記2次元X線検出器の回転軸方向成分を無視して前記対象物への透過角度が平行であった変則パラレルビームの検出データを前記透過角度毎に収集して処理する変則パラレルデータ変換手段と、
この変則パラレルデータ変換手段により収集処理した変則パラレルビームの検出データの検出位置を、前記パラレルビームの透過角度に応じて前記回転軸方向の位置について再配置するリサンプリング処理を行うことによって、中央断面に対する焦点位置の距離の変化により生じる前記回転軸方向の歪みを補正する変則パラレルデータ補正手段と、
この変則パラレルデータ補正手段により補正された変則パラレルビームの検出データに基づいて前記対象物の断層画像を再構成するパラレル再構成手段とを具備したことを特徴とする画像再構成処理装置。 - 前記変則パラレルデータ補正手段は、前記変則パラレルデータ変換手段により収集処理された検出データの検出位置を、前記パラレルビームの透過角度に応じて前記回転軸方向の位置について再配置するリサンプリング処理を行うことを特徴とする請求項2に記載の画像再構成処理装置。
- 前記変則パラレルデータ補正手段は、逆投影する空間画素としてのボクセルの列を所定の固定軸に平行に設定し、このボクセル列に対して平行な前記変則パラレルビームの焦点の軌道を想定し、この軌道に対して平行な面に前記変則パラレルデータ変換手段により収集処理した変則パラレルビームの検出データを予め設定されたセンタリング面へ前記回転軸方向の歪みを補正する前処理としての投影を行う類似センタリング処理を行うことを特徴とする請求項2、請求項4および請求項5のいずれか1項に記載の画像再構成処理装置。
- 前記パラレル再構成手段により再構成された断層画像に対するアーチファクト及び線質硬化の補正を中央断面定理を使用して補正する手段をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1頁に記載の画像再構成処理装置。
- 前記パラレル再構成手段により再構成された断層画像に対するアーチファクト及び線質硬化の補正を2次元中央断面定理を使用して2次元画像として補正する手段をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1頁に記載の画像再構成処理装置。
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