JP4154518B2 - 電子部品の測定装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品の測定装置、特に、積層セラミックコンデンサ等の電子部品を搬送しつつその絶縁抵抗を測定するようにした測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術と課題】
通常、積層セラミックコンデンサ等の電子部品は、その製造の最終段階で（パッケージングの前に）搬送装置での搬送途中において絶縁抵抗等の特性を測定し、合格品のみを選別するようにしている。絶縁抵抗値は所定の電圧を印加して漏れ電流を測定することで算出している。
【０００３】
ところで、電子部品の特性測定は、搬送装置の測定位置で電子部品を吸引保持しながら行われるが、漏れ電流の測定などは測定時の環境温度に左右されやすく、電子部品を測定位置に吸引保持するための空気の流れに伴って外気が電子部品に当たり、漏れ電流の測定値がばらつき、真の絶縁抵抗が不良のもの以外の電子部品を見掛け上不良として排除してしまう問題点を有していた。
【０００４】
その対策として、測定室の環境温度をほぼ一定に保つように管理して測定を行っている。しかし、測定室の温度管理を十分に行ったとしたも、測定時に印加される電圧で電子部品が発熱し、電子部品を吸引保持するための空気の流れがその都度変化することで放熱性が変化し、その結果、電子部品自体の温度にばらつきを生じて漏れ電流の測定値がばらつくという問題点が残されていた。特に、大容量のコンデンサにあっては高電圧が印加されるため発熱量が大きく、放熱性の変化に起因する測定値のばらつきも顕著であった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、絶縁抵抗の測定をばらつきなく正確に行うことのできる電子部品の測定装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】
以上の目的を達成するため、本発明に係る電子部品の測定装置は、周縁部において複数のキャビティを有し、回転駆動される搬送テーブルの該キャビティ内に吸引保持された電子部品の絶縁抵抗を、該搬送テーブルの所定の位置に設けられた測定手段により測定する電子部品の測定装置であって、前記搬送テーブルは、電子部品の少なくとも三つの側面を囲む隔壁と、該電子部品の底面を囲む底板と、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品の上面を囲む押さえ部材とを有し、前記三つの側面以外の側面側には、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品を外気から遮蔽する遮蔽部材を備え、前記遮蔽部材の反対側に位置する隔壁に、電子部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、前記測定手段は、前記吸引口による前記電子部品への吸引力が働いていない状態又は該吸引力が搬送中よりも弱い状態で、該電子部品の絶縁抵抗を計測することを特徴とする。
【０００７】
本発明に係る電子部品の測定装置は、少なくとも測定位置に移動したキャビティの開口部を外気から遮蔽する遮蔽部材を設けたため、測定時にキャビティへの外気の進入が極力排除され、外気変化の影響をほとんど受けることがない。また、キャビティ内での空気流の発生もほとんどなくなり、放熱性が均一化される。従って、絶縁抵抗を正確に測定することが可能となる。
【０００８】
本発明に係る電子部品の測定装置において、遮蔽部材は少なくとも電子部品の高さ寸法よりも高いことが好ましい。また、吸引口は電子部品の断面面積よりも小さく、かつ、キャビティの奥側であって中央部からは偏在して設けられていることが好ましい。
【０００９】
このように、遮蔽部材が高く突出していると、測定時における外気変化の影響がより一層排除され、それぞれの電子部品の測定時の放熱性も一層均一化される。また、吸引口の開口面積を小さくして偏在させることで電子部品が吸引口にぴったりと吸引され、測定時における気流の流れがほとんどなくなり、外気変化の影響がより一層排除され、放熱性もより均一化される。
【００１０】
さらに、本発明に係る電子部品の測定装置においては、底板からキャビティ内に進入して電子部品の外部電極に接触する測定子を備えた測定手段を備えていてもよい。この場合、測定子と前記押さえ部材との間で電子部品を挟持することにより、電子部品の絶縁抵抗を測定する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の測定装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１２】
本発明の一実施形態である電子部品の測定装置は、図１、図２に示すように、回転式の搬送テーブル１０の周縁部に設けた多数のキャビティ１２に電子部品（典型的な電子部品として、直方体状のチップ型積層セラミックコンデンサ１を示す）を収容し、搬送途中においてその漏れ電流を測定することで絶縁抵抗値を求め、不良品を選別するようにしたものである。なお、図１、図２においては、図３に示されている押さえ部材１５を省略している。
【００１３】
即ち、搬送テーブル１０は矢印Ａ方向に所定の速度で回転駆動され、図示しない上流側（例えばリニアフィーダ）からコンデンサ１がテーブル１０上に投入され、キャビティ１２に１個ずつ収容される。そして、測定位置Ｂにおいて、テーブル１０は間欠的に一定時間回転を停止され、所定の電圧を印加して絶縁抵抗が測定される。その後、テーブル１０の回転が再開され、絶縁抵抗の合格品は図示しない下流側でキャリアテープにパッケージされ、不合格品は排除される。
【００１４】
なお、コンデンサ１をテーブル１０に投入してキャビティ１２に収容するメカニズム、コンデンサ１をキャリアテープへパッケージするメカニズム等については、本出願人が既に提案した特開平１１−２６８８２４号公報等において開示されている周知の技術である。
【００１５】
キャビティ１２は、前記テーブル１０を構成する底板１１の周縁部において三つの隔壁１２ａで仕切られており、コンデンサ１の長さ寸法、幅寸法及び高さ寸法よりもそれぞれ一回り大きい寸法とされている。また、キャビティ１２の奥側（手前の開口部１２ｂの反対側）には負圧が作用する空気吸引口１３が開口しており、ここからの吸引力によってコンデンサ１をキャビティ１２内に吸引保持する。なお、空気吸引口１３は必ずしもキャビティ１２の奥側に設けられなくてもよく、三つの隔壁１２ａのいずれの隔壁に設けられてもよい。
【００１６】
測定位置Ｂ部分を詳述すると、図３に示すように、各キャビティ１２に対応する底板１１に二つの穴１４が形成されており、測定位置Ｂにおいて測定子２１がこの穴１４からキャビティ１２内に進入してコンデンサ１の外部電極２に接触し、電圧の印加及び漏れ電流の測定を行う。
【００１７】
測定位置Ｂの上方には、キャビティ１２に収容されているコンデンサ１を上方から規制する（測定時の測定子２１による突き上げを規制する）押さえ部材１５が設けられている。さらに、測定位置Ｂの外方（開口部１２ｂ）には、キャビティ１２を外気から遮蔽するための遮蔽部材１６が設けられている。
【００１８】
押さえ部材１５はその下面がキャビティ１２の隔壁１２ａとほぼ同じ高さに位置し、かつ、少なくとも測定位置Ｂにおけるキャビティ１２の全面積を覆っている。遮蔽部材１６の底板１１より上の高さ寸法ｈ１はコンデンサ１の高さ寸法ｈ２よりも高く、かつ、キャビティ１２の高さと同じかそれ以上で、押さえ部材１５の底面に近接するまで突出し、少なくとも測定位置Ｂにおけるキャビティ１２の開口部１２ｂの全面積を覆っている。なお、押さえ部材１５は少なくとも測定位置Ｂの上方にコンデンサ１を囲むように設けられていればよく、すべてのキャビティ１２を覆っている必要はない。
【００１９】
以上の構成において、キャビティ１２内には吸引口１３から負圧が作用する。しかし、キャビティ１２は測定位置Ｂにおいて、押さえ部材１５と遮蔽部材１６によって外気の進入が極力排除され、外気変化の影響をほとんど受けることがない。従って、絶縁抵抗を正確に測定することができる。
【００２０】
一方、室内は２５℃±２℃に温度管理を行うことにより、外気の影響自体を緩和することができる。しかし、温度管理を十分に行ったとしても、個々のキャビティ１２内で吸引口１３に流入する空気の流れが変化すると、コンデンサ１の放熱性が変化して正確な絶縁抵抗を測定することが妨げられる。
【００２１】
そのためには、空気の流れの変化を極力防止すること、あるいは空気の流れ自体をほとんど止めてしまうことが好ましい。本実施形態では、キャビティ１２の開口部分を前記押さえ部材１５と遮蔽部材１６とで完全な気密状態ではないが閉じてしまうことにより、外気の影響を排除するばかりでなく、個々のキャビティ１２内での空気流の変化を極力防止し、放熱性の変化を防止している。
【００２２】
また、本実施形態では、図４に示すように、キャビティ１２の奥側に形成した吸引口１３の開口をコンデンサ１が吸引される側面の面積よりも小さく、かつ、一方向に（図４では中央部よりも左側に）偏在させている。吸引口１３の開口をこのように形成することにより、コンデンサ１はキャビティ１２内において、吸引口１３が開口している左側に偏って吸引され、その端面が吸引口１３の全面を閉鎖することになる。これにて、キャビティ１２内の空気の流れがほとんど停止し、コンデンサ１の放熱性が一定となり、測定した絶縁抵抗のばらつきを抑えることができる。
【００２３】
また、前記実施形態では、搬送中と同様にコンデンサ１の測定中も空気吸引口１３により吸引保持しているが、測定中は押さえ部材１５と測定子２１によりコンデンサ１が保持されるので、測定中は搬送中よりもその吸引力を下げてもよい。また、測定時間が長い場合には、吸引力を下げても影響を受けやすいので、吸引をオフしてもよい。吸引力を下げるあるいはオフすることで、さらに測定中の外気の流れを防止できる。
【００２４】
ここで、本発明者らが前記測定装置を用いて絶縁抵抗を測定した実験について説明する。
【００２５】
実験例１として、前記遮蔽部材１６に代えて、高さがコンデンサ１よりも低くて遮蔽効果の期待できない部材を設けた測定装置を用い、室内環境を２５℃±２℃で環境空気の流れが存在しないように管理し、約２００００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、０．５８％のコンデンサを絶縁抵抗不良と選別した。しかし、真の不良品は０．５４％であり、０．０４％の測定誤差を生じたことになった。
【００２６】
さらに、実験例２として、前記実験例１と同じ測定装置及び同じ室内環境温度で、かつ、ファンで環境空気を強制的に対流させ、約５０００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、９０％のコンデンサを絶縁不良と選別した。室内に空気流が生じること、及び、搬送テーブルのキャビティに空気流防止対策を施さないと、実際上絶縁抵抗の測定は不可能であった。
【００２７】
一方、実験例３として、コンデンサよりも高くてキャビティ１２を十分に遮蔽する前記遮蔽部材１６を設けた測定装置を用い、室内環境を２５℃±２℃に管理し、ファンで室内に強制的に空気流を発生させた状態で、約２００００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、０．５４％のコンデンサを絶縁不良と選別した。不良品と選別されたコンデンサの全ては真の不良品であり、測定誤差はなきに等しかった。また、室内に空気流が生じたとしても、その影響で測定誤差が発生しないことも確認された。
【００２８】
なお、本発明に係る電子部品の測定装置は前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できることは勿論である。
【００２９】
特に、本発明は、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の測定以外にも、幅広く種々の電子部品の絶縁抵抗の測定に適用することができる。また、搬送テーブルは回転式ではなく、直線的に移動する形態であってもよく、電子部品を投入してキャビティに収容する構成等は任意である。
【００３０】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、少なくとも測定位置に移動したキャビティの開口部を外気から遮蔽する遮蔽部材を設け、キャビティの上面を押さえ部材で囲むようにしたため、キャビティ内を外気変化の影響から排除し、かつ、個々のキャビティ内で放熱性に変化が生じることを極力防止することができ、ひいては電子部品の絶縁抵抗を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子部品の測定装置の一実施形態の要部を示す斜視図。
【図２】図１に示した測定装置（遮蔽部材を図示した）を示す斜視図。
【図３】図１に示した測定装置における測定位置での断面図。
【図４】図１に示した測定装置におけるキャビティの斜視図。
【符号の説明】
１…積層セラミックコンデンサ
２…外部電極
１０…搬送テーブル
１１…底板
１２…キャビティ
１２ａ…隔壁
１２ｂ…開口部
１３…吸引口
１５…押さえ部材
１６…遮蔽部材
２１…測定子
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品の測定装置、特に、積層セラミックコンデンサ等の電子部品を搬送しつつその絶縁抵抗を測定するようにした測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術と課題】
通常、積層セラミックコンデンサ等の電子部品は、その製造の最終段階で（パッケージングの前に）搬送装置での搬送途中において絶縁抵抗等の特性を測定し、合格品のみを選別するようにしている。絶縁抵抗値は所定の電圧を印加して漏れ電流を測定することで算出している。
【０００３】
ところで、電子部品の特性測定は、搬送装置の測定位置で電子部品を吸引保持しながら行われるが、漏れ電流の測定などは測定時の環境温度に左右されやすく、電子部品を測定位置に吸引保持するための空気の流れに伴って外気が電子部品に当たり、漏れ電流の測定値がばらつき、真の絶縁抵抗が不良のもの以外の電子部品を見掛け上不良として排除してしまう問題点を有していた。
【０００４】
その対策として、測定室の環境温度をほぼ一定に保つように管理して測定を行っている。しかし、測定室の温度管理を十分に行ったとしたも、測定時に印加される電圧で電子部品が発熱し、電子部品を吸引保持するための空気の流れがその都度変化することで放熱性が変化し、その結果、電子部品自体の温度にばらつきを生じて漏れ電流の測定値がばらつくという問題点が残されていた。特に、大容量のコンデンサにあっては高電圧が印加されるため発熱量が大きく、放熱性の変化に起因する測定値のばらつきも顕著であった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、絶縁抵抗の測定をばらつきなく正確に行うことのできる電子部品の測定装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】
以上の目的を達成するため、本発明に係る電子部品の測定装置は、周縁部において複数のキャビティを有し、回転駆動される搬送テーブルの該キャビティ内に吸引保持された電子部品の絶縁抵抗を、該搬送テーブルの所定の位置に設けられた測定手段により測定する電子部品の測定装置であって、前記搬送テーブルは、電子部品の少なくとも三つの側面を囲む隔壁と、該電子部品の底面を囲む底板と、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品の上面を囲む押さえ部材とを有し、前記三つの側面以外の側面側には、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品を外気から遮蔽する遮蔽部材を備え、前記遮蔽部材の反対側に位置する隔壁に、電子部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、前記測定手段は、前記吸引口による前記電子部品への吸引力が働いていない状態又は該吸引力が搬送中よりも弱い状態で、該電子部品の絶縁抵抗を計測することを特徴とする。
【０００７】
本発明に係る電子部品の測定装置は、少なくとも測定位置に移動したキャビティの開口部を外気から遮蔽する遮蔽部材を設けたため、測定時にキャビティへの外気の進入が極力排除され、外気変化の影響をほとんど受けることがない。また、キャビティ内での空気流の発生もほとんどなくなり、放熱性が均一化される。従って、絶縁抵抗を正確に測定することが可能となる。
【０００８】
本発明に係る電子部品の測定装置において、遮蔽部材は少なくとも電子部品の高さ寸法よりも高いことが好ましい。また、吸引口は電子部品の断面面積よりも小さく、かつ、キャビティの奥側であって中央部からは偏在して設けられていることが好ましい。
【０００９】
このように、遮蔽部材が高く突出していると、測定時における外気変化の影響がより一層排除され、それぞれの電子部品の測定時の放熱性も一層均一化される。また、吸引口の開口面積を小さくして偏在させることで電子部品が吸引口にぴったりと吸引され、測定時における気流の流れがほとんどなくなり、外気変化の影響がより一層排除され、放熱性もより均一化される。
【００１０】
さらに、本発明に係る電子部品の測定装置においては、底板からキャビティ内に進入して電子部品の外部電極に接触する測定子を備えた測定手段を備えていてもよい。この場合、測定子と前記押さえ部材との間で電子部品を挟持することにより、電子部品の絶縁抵抗を測定する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の測定装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１２】
本発明の一実施形態である電子部品の測定装置は、図１、図２に示すように、回転式の搬送テーブル１０の周縁部に設けた多数のキャビティ１２に電子部品（典型的な電子部品として、直方体状のチップ型積層セラミックコンデンサ１を示す）を収容し、搬送途中においてその漏れ電流を測定することで絶縁抵抗値を求め、不良品を選別するようにしたものである。なお、図１、図２においては、図３に示されている押さえ部材１５を省略している。
【００１３】
即ち、搬送テーブル１０は矢印Ａ方向に所定の速度で回転駆動され、図示しない上流側（例えばリニアフィーダ）からコンデンサ１がテーブル１０上に投入され、キャビティ１２に１個ずつ収容される。そして、測定位置Ｂにおいて、テーブル１０は間欠的に一定時間回転を停止され、所定の電圧を印加して絶縁抵抗が測定される。その後、テーブル１０の回転が再開され、絶縁抵抗の合格品は図示しない下流側でキャリアテープにパッケージされ、不合格品は排除される。
【００１４】
なお、コンデンサ１をテーブル１０に投入してキャビティ１２に収容するメカニズム、コンデンサ１をキャリアテープへパッケージするメカニズム等については、本出願人が既に提案した特開平１１−２６８８２４号公報等において開示されている周知の技術である。
【００１５】
キャビティ１２は、前記テーブル１０を構成する底板１１の周縁部において三つの隔壁１２ａで仕切られており、コンデンサ１の長さ寸法、幅寸法及び高さ寸法よりもそれぞれ一回り大きい寸法とされている。また、キャビティ１２の奥側（手前の開口部１２ｂの反対側）には負圧が作用する空気吸引口１３が開口しており、ここからの吸引力によってコンデンサ１をキャビティ１２内に吸引保持する。なお、空気吸引口１３は必ずしもキャビティ１２の奥側に設けられなくてもよく、三つの隔壁１２ａのいずれの隔壁に設けられてもよい。
【００１６】
測定位置Ｂ部分を詳述すると、図３に示すように、各キャビティ１２に対応する底板１１に二つの穴１４が形成されており、測定位置Ｂにおいて測定子２１がこの穴１４からキャビティ１２内に進入してコンデンサ１の外部電極２に接触し、電圧の印加及び漏れ電流の測定を行う。
【００１７】
測定位置Ｂの上方には、キャビティ１２に収容されているコンデンサ１を上方から規制する（測定時の測定子２１による突き上げを規制する）押さえ部材１５が設けられている。さらに、測定位置Ｂの外方（開口部１２ｂ）には、キャビティ１２を外気から遮蔽するための遮蔽部材１６が設けられている。
【００１８】
押さえ部材１５はその下面がキャビティ１２の隔壁１２ａとほぼ同じ高さに位置し、かつ、少なくとも測定位置Ｂにおけるキャビティ１２の全面積を覆っている。遮蔽部材１６の底板１１より上の高さ寸法ｈ１はコンデンサ１の高さ寸法ｈ２よりも高く、かつ、キャビティ１２の高さと同じかそれ以上で、押さえ部材１５の底面に近接するまで突出し、少なくとも測定位置Ｂにおけるキャビティ１２の開口部１２ｂの全面積を覆っている。なお、押さえ部材１５は少なくとも測定位置Ｂの上方にコンデンサ１を囲むように設けられていればよく、すべてのキャビティ１２を覆っている必要はない。
【００１９】
以上の構成において、キャビティ１２内には吸引口１３から負圧が作用する。しかし、キャビティ１２は測定位置Ｂにおいて、押さえ部材１５と遮蔽部材１６によって外気の進入が極力排除され、外気変化の影響をほとんど受けることがない。従って、絶縁抵抗を正確に測定することができる。
【００２０】
一方、室内は２５℃±２℃に温度管理を行うことにより、外気の影響自体を緩和することができる。しかし、温度管理を十分に行ったとしても、個々のキャビティ１２内で吸引口１３に流入する空気の流れが変化すると、コンデンサ１の放熱性が変化して正確な絶縁抵抗を測定することが妨げられる。
【００２１】
そのためには、空気の流れの変化を極力防止すること、あるいは空気の流れ自体をほとんど止めてしまうことが好ましい。本実施形態では、キャビティ１２の開口部分を前記押さえ部材１５と遮蔽部材１６とで完全な気密状態ではないが閉じてしまうことにより、外気の影響を排除するばかりでなく、個々のキャビティ１２内での空気流の変化を極力防止し、放熱性の変化を防止している。
【００２２】
また、本実施形態では、図４に示すように、キャビティ１２の奥側に形成した吸引口１３の開口をコンデンサ１が吸引される側面の面積よりも小さく、かつ、一方向に（図４では中央部よりも左側に）偏在させている。吸引口１３の開口をこのように形成することにより、コンデンサ１はキャビティ１２内において、吸引口１３が開口している左側に偏って吸引され、その端面が吸引口１３の全面を閉鎖することになる。これにて、キャビティ１２内の空気の流れがほとんど停止し、コンデンサ１の放熱性が一定となり、測定した絶縁抵抗のばらつきを抑えることができる。
【００２３】
また、前記実施形態では、搬送中と同様にコンデンサ１の測定中も空気吸引口１３により吸引保持しているが、測定中は押さえ部材１５と測定子２１によりコンデンサ１が保持されるので、測定中は搬送中よりもその吸引力を下げてもよい。また、測定時間が長い場合には、吸引力を下げても影響を受けやすいので、吸引をオフしてもよい。吸引力を下げるあるいはオフすることで、さらに測定中の外気の流れを防止できる。
【００２４】
ここで、本発明者らが前記測定装置を用いて絶縁抵抗を測定した実験について説明する。
【００２５】
実験例１として、前記遮蔽部材１６に代えて、高さがコンデンサ１よりも低くて遮蔽効果の期待できない部材を設けた測定装置を用い、室内環境を２５℃±２℃で環境空気の流れが存在しないように管理し、約２００００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、０．５８％のコンデンサを絶縁抵抗不良と選別した。しかし、真の不良品は０．５４％であり、０．０４％の測定誤差を生じたことになった。
【００２６】
さらに、実験例２として、前記実験例１と同じ測定装置及び同じ室内環境温度で、かつ、ファンで環境空気を強制的に対流させ、約５０００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、９０％のコンデンサを絶縁不良と選別した。室内に空気流が生じること、及び、搬送テーブルのキャビティに空気流防止対策を施さないと、実際上絶縁抵抗の測定は不可能であった。
【００２７】
一方、実験例３として、コンデンサよりも高くてキャビティ１２を十分に遮蔽する前記遮蔽部材１６を設けた測定装置を用い、室内環境を２５℃±２℃に管理し、ファンで室内に強制的に空気流を発生させた状態で、約２００００個のコンデンサの絶縁抵抗を測定した。その結果、０．５４％のコンデンサを絶縁不良と選別した。不良品と選別されたコンデンサの全ては真の不良品であり、測定誤差はなきに等しかった。また、室内に空気流が生じたとしても、その影響で測定誤差が発生しないことも確認された。
【００２８】
なお、本発明に係る電子部品の測定装置は前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できることは勿論である。
【００２９】
特に、本発明は、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の測定以外にも、幅広く種々の電子部品の絶縁抵抗の測定に適用することができる。また、搬送テーブルは回転式ではなく、直線的に移動する形態であってもよく、電子部品を投入してキャビティに収容する構成等は任意である。
【００３０】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、少なくとも測定位置に移動したキャビティの開口部を外気から遮蔽する遮蔽部材を設け、キャビティの上面を押さえ部材で囲むようにしたため、キャビティ内を外気変化の影響から排除し、かつ、個々のキャビティ内で放熱性に変化が生じることを極力防止することができ、ひいては電子部品の絶縁抵抗を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子部品の測定装置の一実施形態の要部を示す斜視図。
【図２】図１に示した測定装置（遮蔽部材を図示した）を示す斜視図。
【図３】図１に示した測定装置における測定位置での断面図。
【図４】図１に示した測定装置におけるキャビティの斜視図。
【符号の説明】
１…積層セラミックコンデンサ
２…外部電極
１０…搬送テーブル
１１…底板
１２…キャビティ
１２ａ…隔壁
１２ｂ…開口部
１３…吸引口
１５…押さえ部材
１６…遮蔽部材
２１…測定子
Claims (4)
- 周縁部において複数のキャビティを有し、回転駆動される搬送テーブルの該キャビティ内に吸引保持された電子部品の絶縁抵抗を、該搬送テーブルの所定の位置に設けられた測定手段により測定する電子部品の測定装置であって、
前記搬送テーブルは、電子部品の少なくとも三つの側面を囲む隔壁と、該電子部品の底面を囲む底板と、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品の上面を囲む押さえ部材とを有し、
前記三つの側面以外の側面側には、少なくとも前記測定手段に対応した位置で該電子部品を外気から遮蔽する遮蔽部材を備え、
前記遮蔽部材の反対側に位置する隔壁に、電子部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、
前記測定手段は、前記吸引口による前記電子部品への吸引力が働いていない状態又は該吸引力が搬送中よりも弱い状態で、該電子部品の絶縁抵抗を計測すること、
を特徴とする電子部品の測定装置。 - 前記遮蔽部材の高さ寸法は、電子部品の高さ寸法よりも高いことを特徴とする請求項１に記載の電子部品の測定装置。
- 前記吸引口は、前記遮蔽部材の反対側に位置する隔壁の中央部からは偏在して設けられ、かつ、該吸引口の面積は、吸引される電子部品の側面の面積よりも小さいことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電子部品の測定装置。
- 前記測定手段は、電子部品の底面を囲む前記底板から前記キャビティ内に進入して、電子部品の外部電極に接触する測定子を備え、該測定子と前記押さえ部材との間で電子部品を挟持することにより、電子部品の絶縁抵抗を測定することを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載の電子部品の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002108544A JP4154518B2 (ja) | 2002-04-10 | 2002-04-10 | 電子部品の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002108544A JP4154518B2 (ja) | 2002-04-10 | 2002-04-10 | 電子部品の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003302432A JP2003302432A (ja) | 2003-10-24 |
| JP4154518B2 true JP4154518B2 (ja) | 2008-09-24 |
Family
ID=29392299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002108544A Expired - Lifetime JP4154518B2 (ja) | 2002-04-10 | 2002-04-10 | 電子部品の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4154518B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5725010B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2015-05-27 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの方向識別方法、積層セラミックコンデンサの方向識別装置及び積層セラミックコンデンサの製造方法 |
-
2002
- 2002-04-10 JP JP2002108544A patent/JP4154518B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003302432A (ja) | 2003-10-24 |
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