JP4145804B2 - 積層型モジュールの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、複数のパッケージが縦方向に積層されてなる積層型モジュールの製造方法に関する。
近年、電子機器の小型化にともない電子部品の高集積化、高密度化が進められている。このような要求に対するアプローチとして、半導体チップやパッケージを縦方向に積層するスタックドデバイスやPOP(パッケージオンパッケージ)のような積層モジュールによる高密度化が行われている(たとえば特許文献1)。
積層モジュールを製造する場合、モジュールを構成する各段のパッケージをそれぞれ完成させた後各段を積み重ねる方法と、複数のデバイスが樹脂封止されたまま分割されない板状の形態を有する1段目デバイス群上段に、2段目以降のパッケージを積層する方法がある。前者の場合は、常に良品のパッケージを選択して完成品を作ることができるが、1個の積層型モジュールの製造にかかる時間が多くなる。後者の場合だと、1個の積層型モジュールあたりの製造時間は短くてすむが、1段目のデバイスに不良品があるとそれを使用した積層モジュール自体も不良品となる。1段目の不良デバイスの上に上段用のパッケージを設けないようにすると、1段目のデバイス群をダイシングする際、不良のデバイスはダイシングシートで固定できずに飛散し、良品部分を破壊するおそれがでてくる。
特開2003−188342号公報
本発明は、上記のような問題を解決しようとするものであり、良品パッケージと不良パッケージとを組み合わせる必要がなく、ダイシング時のパッケージの飛散を防止することにより、製造コストの大幅な削減に寄与できる積層型モジュールの製造方法を提供することを目的としている。
本発明は、2段以上のパッケージが縦方向に装着され一体となる積層型モジュールの製造方法に関し、
積層型モジュールの2段目以降を構成するパッケージを作成する工程、
積層型モジュールの1段目を構成するデバイスが、複数個一括して樹脂封止された枚葉状のデバイス群を形成する工程、
1段目を構成するデバイス群のうち良品デバイス上に2段目以降を構成するパッケージを装着積層する工程、
1段目を構成するデバイス群のうち不良デバイス上に2段目以降を構成するパッケージと略同厚のスペーサーを積層する工程、
最上段のパッケージの上面を固定し、1段目を構成するデバイス群を各デバイス毎にダイシングしてパッケージ化する工程により積層型モジュールを製造することを特徴としている。
上記において、1段目を構成するデバイス群の端部でパッケージを構成しない部分の上面にさらにスペーサーを積層する工程を含むことが好ましい。また、本発明では、前記スペーサーが片面または両面に粘着剤層を有する発泡樹脂シートであることが好ましい。
このような本発明に係る積層型モジュールの製造方法によれば、1段目のデバイス群中の不良デバイス上に、2段目以降のパッケージを積層することなく1段目デバイス群のダイシングを行っても、不良デバイスはスペーサーを介してダイシングテープに固定されているので、不良デバイスが飛散することはない。また、1段目デバイス群の端部に、スペーサーを積層することで、1段目デバイス群の端部もスペーサーを介してダイシングテープに固定されているので、1段目デバイス群の端部の破片が飛散することもなく、ダイシングブレードやダイシング装置の破損を防止できる。さらに、1段目デバイス群の不良デバイス上に、2段目以降のパッケージを積層する代わりに、安価なスペーサーを積層しているので、製造コストの削減に寄与することができる。
以下、本発明について図面を参照しながらさらに具体的に説明する。
図1に示すように、本発明に係るの製造方法においては、まず、複数のデバイス(半導体チップ)2が一括して樹脂封止された1段目のデバイス群1の各デバイス2上に、2段目以降のパッケージ10を順次積層する。なお、図では、2段の積層構造を示したが、2段目以降のパッケージをさらに積み重ねた3層以上の積層構造としてもよい。
1段目デバイス群1の構造は特に限定はされないが、一般的には、表面に回路が形成されたポリイミドなどの樹脂基板3上に、1次元的または2次元的に配列、固定されたデバイス2が、一体的に樹脂封止された構造を有する。封止に用いられる樹脂4としては、エポキシなどの汎用樹脂が特に制限されること無く用いられる。また、樹脂基板3の反対面(すなわちデバイス2の積層面の反対側)には、マザーボード(図示せず)との接続を行うための導電端子5が形成されており、通常導電端子はハンダボールよりなる。封止樹脂の構造中には、図示されていないが貫通孔が設けられ、上段側のパッケージと下段の導通端子とを導通する導体が充填されている。
1段目デバイス群1は、樹脂封止された後、各デバイスの動作確認が行われ、この際に不良デバイスが検出されることがある。図中、不良デバイスは「NG」と示した。
本発明では、1段目デバイス群1の不良デバイス上に、2段目以降のパッケージを積層することなく、これに代えて2段目以降のパッケージの合計厚みと略同厚となるようにスペーサー20を積層する。図1では、スペーサー20は、パッケージ10と略同一厚さで示したが、本発明では、この態様に限定されず、2段目以降のパッケージの合計厚さと略同厚であれば、1枚のスペーサーであってもよく、複数枚のスペーサーを積層して2段目以降のパッケージの合計厚さと略同厚としてもよい。
2段目以降のパッケージ10としては、従来よりICパッケージとして用いられてきた種々のデバイスが特に制限されることなく用いられる。図1では、樹脂基板13上に、デバイス12が固定され、樹脂14により封止されてなり、基板13の反対面に導電端子15が形成された構造を示したが、本発明に用いるパッケージ10はこのような構造に限定されることはない。
スペーサー20の平面形状は、パッケージ10とほぼ同じであるか、またはこれよりも若干面積の小さいものを用いることが好ましい。
スペーサー20は、好ましくは発泡樹脂成形体、特に発泡樹脂シートからなる。発泡樹脂としては、発泡ポリエチレン、発泡ウレタン、発泡ポリスチレンなどの汎用の発泡樹脂が特に制限されることなく使用される。発泡樹脂を用いることで、スペーサーの圧縮が可能になるので、スペーサーの厚み精度が低くても、スペーサーの圧縮によりスペーサーの
厚みを2段目以降のパッケージ10の合計厚さと等しくすることが容易になる。
スペーサーの積層を容易にするために、スペーサーの片面または両面に粘着剤層21を設けておいてもよい。
一方、1段目デバイス群1の優良デバイス上には、2段目以降のパッケージ10が積層される。ICデバイスの積層は、ハンダなどの公知の手段により行うことができる。
さらに本発明では、1段目デバイス群1の端部に、上記と同様にして、スペーサー20を積層してもよい。
次いで、最上段のパッケージ(図1ではパッケージ10)上にダイシングテープ30を貼着して、1段目デバイス群1およびパッケージ10の積層体をダイシングテープ30上に保持する。この際、スペーサー20の最上面もダイシングテープ30により固定される。しかし、ダイシングテープを1段目のデバイス群に貼付けてしまうと、ボール状の導電端子5のため確実な固定ができずダイシングされた積層モジュールは飛散してしまう。このため、ダイシングテープの貼付は最上段の最上段のパッケージ面に対して行う。
ダイシングテープとしては、この種の用途に用いられている各種の粘着テープが特に制限されることなく用いられるが、特にUVテープと呼ばれる紫外線硬化型粘着テープが好ましく用いられる。
その後、1段目デバイス群1およびパッケージ10をダイシングテープ30上に保持した状態で、図中の破線で示した切断予定ラインに沿って、1段目のデバイス群1を各デバイス毎にダイシングする。
このような工程を経ることで、多段のパッケージが縦方向に装着され一体となる積層型モジュールが得られる。
このような本発明によれば、1段目のデバイス群中の不良デバイス上に、2段目以降のパッケージを積層することなく1段目デバイス群のダイシングを行っても、不良デバイスはスペーサーを介してダイシングテープに固定されているので、不良デバイスが飛散することはない。また、1段目デバイス群の端部に、スペーサーを積層することで、1段目デバイス群の端部もスペーサーを介してダイシングテープに固定されているので、1段目デバイス群の端部の破片が飛散することもなく、ダイシングブレードやダイシング装置の破損を防止できる。さらに、1段目デバイス群の不良デバイス上に、2段目以降のパッケージを積層する代わりに、安価なスペーサーを積層しているので、製造コストの削減に寄与することができる。
(実施例)
以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
(パッケージの作成)
ポリイミドフィルム50μmの片面に厚さ2mmとなるようにエポキシ樹脂よりなる封止
樹脂(住友ベークライト社製、商品名:CRP−3150)を流延し、175℃5時間加熱し硬化させた。封止樹脂の設けられない面に直径200μmのハンダボールを接着した。このようにして作成された材料を、170mmx170mmの枚葉状に切断し、1段目の模擬パッケージとした。さらに、同様にして作った同サイズの材料を別に用意し、この材料をさらに15mmx15mmのサイズにダイシングして2段目用の模擬パッケージとした。
なお、ハンダボールは1段目、2段目ともに15mmx15mmの1個のパッケージサイズに対し、各辺に10個ずつ40個を配列した。
(スペーサー)
スペーサーの基材として厚さ2mmのポリエチレンフォーム(積水化学工業社製、商品名:ソフトロンS#1002、発泡倍率:10倍)を用いた。ポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ38μm)の剥離フィルムに、アクリル系粘着剤(アクリル酸ブチル/ア
クリル酸2ヒドロキシエチル=91/9(重量部)、イソシアナート架橋剤2.2重量部)を乾燥膜厚が20μmとなるように塗布し、露出面を上記基材に積層した。これを16mm
x16mmサイズ及び5mmx165mmに切断して、片面に粘着剤層を有するスペーサーを得た。
(積層モジュールの作成)
1段目の模擬パッケージの封止樹脂面に2段目用のパッケージのハンダボール側を、位置合わせし整列させて接着した。なお、1段目のパッケージ全部ではなくランダムに5個の上段のパッケージを積層しなかった。2段目のパッケージを積層しなかった位置に合わせて、16mmx16mmサイズのスペーサーを貼りあわせ、上段のパッケージの外周4辺に5mmx165mmのスペーサーを貼付した。
上段のパッケージの上面をダイシングテープ(リンテック社製、Adwill D-850T)で固
定し、ダイシング装置(東京精密社製、AWD4000B)によりダイシングし、上段のサイズが15mmx15mm、下段が16mmx16mmの2段の積層モジュールを得た。不良パッケージに相当する部分(16mmx16mmのスペーサーを貼付した部分)も、外周4辺の封止樹脂の残部も飛散することがなく、他を傷つけるようなことはなかった。
本発明に係る積層型モジュールの製造方法の概略を示す。
符号の説明
1…1段目デバイス群
2,12…デバイス(半導体チップ)
3,13…基板
4,14…樹脂
5,15…導電端子
10…2段目以降のパッケージ
20…スペーサー
21…粘着剤層
30…ダイシングテープ

Claims (3)

  1. 2段以上のパッケージが縦方向に装着され一体となる積層型モジュールの製造方法において、
    積層型モジュールの2段目以降を構成するパッケージを作成する工程、
    積層型モジュールの1段目を構成するデバイスが、複数個一括して樹脂封止された枚葉状のデバイス群を形成する工程、
    1段目を構成するデバイス群のうち良品デバイス上に2段目以降を構成するパッケージを装着積層する工程、
    1段目を構成するデバイス群のうち不良デバイス上に2段目以降を構成するパッケージと略同厚のスペーサーを積層する工程、
    最上段のパッケージの上面を固定し、1段目を構成するデバイス群を各デバイス毎にダイシングしてパッケージ化する工程を含むことを特徴とする積層型モジュールの製造方法。
  2. 1段目を構成するデバイス群の端部でパッケージを構成しない部分の上面にさらにスペーサーを積層する工程を含む請求項1に記載の積層型モジュールの製造方法。
  3. 前記スペーサーが片面または両面に粘着剤層を有する発泡樹脂シートである請求項1または2に記載の積層型モジュールの製造方法。
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