JP4112966B2 - Pure water production apparatus and pure water production method - Google Patents

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JP4112966B2 JP2002368225A JP2002368225A JP4112966B2 JP 4112966 B2 JP4112966 B2 JP 4112966B2 JP 2002368225 A JP2002368225 A JP 2002368225A JP 2002368225 A JP2002368225 A JP 2002368225A JP 4112966 B2 JP4112966 B2 JP 4112966B2
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忠康 持田
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は純水製造装置及び純水の製造方法に関し、より詳しくは、特に半導体の製造工程で用いられる、溶存窒素濃度が極めて低い純水を製造するための純水製造装置及び純水の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造工程で使用される純水は、溶存酸素濃度を極めて低レベルに保持すること(純水)が要望されている。そのために、純水製造装置には各種の脱気装置を備えることが必要である。また、各純水貯槽には、外部からの酸素の溶解を防ぐために窒素ガスパージ装置を具備するとともに、各純水貯槽に純水を供給する際に酸素の同伴を防止する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
図3は、従来の純水製造装置の一例を説明するための図である。ここには、各システムで構成された純水製造装置300が示されている。純水製造装置300は、原水を脱塩処理して一次純水を製造する一次純水製造装置301と、一次純水を貯留するための一次純水貯槽303と、一次純水を一次純水貯槽303に導入するための一次純水導入管302と、一次純水貯槽303の上部空間部に窒素ガスをパージ封入するための窒素ガスパージ装置304と、脱気装置(図示せず)を備えた二次純水製造装置306と、一次純水を二次純水製造装置306に導入するための一次純水供給管305と、二次純水を貯留するための二次純水貯槽307と、二次純水を二次純水貯槽307に導入するための二次純水導入管309と、二次純水の一部を一次純水貯槽303に還流するための二次純水還流管310と、二次純水貯槽307の上部空間部に窒素ガスをパージ封入するための窒素ガスパージ装置308と、二次純水貯槽307に貯留された二次純水を供給するための二次純水供給ポンプ311と、二次純水をさらに精製するためのサブシステム313と、二次純水を二次純水供給ポンプ311に供給するための二次純水供給管312と、サブシステム313により精製された純水の一部を二次純水貯槽307に還流するための純水還流管314とから構成されている。
【0004】
図3に示すように、まず原水は、逆浸透膜及び/またはイオン交換等各種の脱塩手段を組み合わせた一次純水製造装置301により脱塩処理され、一次純水が製造される。一次純水は、一次純水導入管302を経由して一次純水貯槽303に送られて貯留される。一次純水導入管302は、一次純水貯槽303に貯留される一次純水の水面より下部の位置に付設されている。一次純水貯槽303に貯留された一次純水は、窒素ガスパージ装置304により貯槽の上部空間部を窒素ガスをパージ封入されて、大気中の酸素及び炭酸ガスの溶解が防止される。
【0005】
次に、一次純水貯槽303に貯留された一次純水は、一次純水供給管305を経て脱気装置を備えた二次純水製造装置306に送られ、微量イオン、コロイダル物質、有機物(TOC)及び溶存ガス等が除去された二次純水が製造され、この二次純水は、二次純水導入管309を経て二次純水貯槽307に貯留される。二次純水貯槽307に貯留された二次純水は、窒素ガスパージ装置308により貯槽の上部空間部に窒素ガスがパージ封入される。尚、二次純水導入管309は、二次純水貯槽307に貯留されている二次純水の液面よりも下部の位置に付設されており、二次純水を二次純水貯槽307に導入する際に、貯槽の上部空間部をパージ封入している窒素ガスの同伴を防止している。また、二次純水貯槽307に受け入れられなかった二次純水の一部は、二次純水導入管309から分岐した二次純水還流管310を経由して一次純水貯槽303に還流される。
【0006】
次に、二次純水貯槽307に貯留された二次純水は、二次純水供給管312及び二次純水供給ポンプ311を経由してサブシステム313に供給され、このサブシステム313により、二次純水はさらに精製されてユースポイント315に供給される。尚、この純水の一部は、純水還流管314により、二次純水貯槽307に戻される。
【0007】
【特許文献1】
特許第2920864号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上述のような従来の純水製造装置300においては、純水の溶存酸素濃度を1ppb以下に低減することは可能になったものの、ユースポイント315における純水中の溶存窒素濃度が上昇するという問題がある。
【0009】
これは、二次純水貯槽307において、二次純水導入管309を経て二次純水貯槽307に二次純水が導入される際、及び、純水還流管314を経由して純水の一部が二次純水貯槽307に還流される際に、溶存窒素濃度が飽和状態近くになっている水面付近の二次純水が二次純水貯槽307全体に拡散し、その結果、これらの溶存窒素濃度が高い二次純水が、二次純水供給管312及び二次純水供給ポンプ311を経由してサブシステム313に再び供給される二次純水中に、混入するためと考えられる。
【0010】
純水中に混入したこのような溶存窒素は、不活性なものではあるが、溶存窒素濃度が上昇した純水は、例えば、半導体製造工程におけるウエハ洗浄時に、洗浄効率を高めるために加温されて使用されると、純水中に混入した溶存窒素が原因となる気泡が発生し、その結果、ウエハの洗浄に重大な悪影響をおよぼすおそれがあるために解決策が求められている。
【0011】
本発明は、このような純水を製造する際に顕在化した問題を解決すべくなされたものであり、本発明の目的は、溶存窒素濃度が極めて低い純水を製造するための製造装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、溶存窒素濃度が極めて低い純水を製造するための製造方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決する手段】
かくして本発明が適用される純水製造装置は、処理された純水を貯槽に戻さずに還流させる構成、貯留された純水の窒素ガスの溶存濃度が高い表層部を絶えず溢留させる構成を採用している。即ち、本発明が適用される純水製造装置は、純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、貯槽に貯留された前記純水を処理するサブシステムと、貯槽に貯留された純水をサブシステムに供給する供給管と、を有し、この供給管は、サブシステムにより処理された純水の一部を還流供給させる還流管が配管連結されていることを特徴とするものである。この場合の貯槽は、貯槽に貯留される純水の上部空間をパージ封入するための窒素ガスパージ装置を備えていることを特徴とすることができる。
【0013】
次に、本発明が適用される純水製造装置は、純水を脱気処理する純水製造装置と、この純水製造装置により得られた純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、を有し、純水製造装置は、貯槽から溢流させた純水の脱気処理を少なくとも1回行うことを特徴とするものである。この場合、貯槽は、貯槽に貯留された純水の表層部を溢流させるための還流管が付設されていることを特徴とすることができる。また、貯槽は、貯槽に貯留される純水の上部空間をパージ封入するための窒素ガスパージ装置を備えていることを特徴としている。
【0014】
さらに、本発明が適用される純水製造装置は、純水を貯留する一次貯槽と、一次貯槽から供給された純水を処理する純水製造装置と、この純水製造装置から得られた純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する二次貯槽と、を有し、二次貯槽は、二次貯槽に貯留された純水を溢流させ、一次貯槽に還流させる還流管が付設されていることを特徴とするものである。この場合、還流管は、還流管と二次貯槽との取り付け位置が、二次貯槽に貯留されている純水の水面よりも下側になるように二次貯槽に取り付けられていることを特徴としている。また、還流管は、二次貯槽に貯留されている純水の液面に連動して作動する流量調節計が設けられていることを特徴とすることができる。さらに、還流管は、還流管と二次貯槽との取り付け位置が、二次貯槽に貯留されている純水の水面よりも10〜50cm下側に設けられていることが好ましい。
【0015】
また、本発明が適用される純水製造装置は、純水を処理する純水製造装置と、この純水製造装置により得られた純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、純水製造装置により得られた純水を前記貯槽に導入する導入管と、純水製造装置により得られた純水を処理するサブシステムと、純水製造装置により得られた純水を前記サブシステムに供給する供給管と、を有し、導入管は、供給管に分岐状に配管連結されていることを特徴とするものである。
【0016】
さらに、本発明が適用される純水製造装置は、原水を処理して得られた純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する一次貯槽と、一次貯槽から供給された純水を処理する純水製造装置と、この純水製造装置により得られた純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する二次貯槽と、純水製造装置により得られた純水を前記二次貯槽に導入する導入管と、純水製造装置により得られた純水を処理するサブシステムと、純水製造装置により得られた純水をサブシステムに供給する供給管と、を有し、導入管は、供給管に分岐状に配管連結され、且つ、供給管は、サブシステムにより処理された純水の一部が還流供給される還流管が配管連結され、二次貯槽は、二次貯槽に貯留された純水を溢流させ、一次貯槽に還流させる還流管が付設されていることを特徴とするものである。
【0017】
一方、本発明は、原水を処理して純水を製造する方法において、純水を窒素ガスによりパージ封入した貯槽に貯留する工程と、純水の一部を貯槽に戻さずに還流させる工程と、貯槽に貯留された純水の表層部を溢流させる工程と、純水を少なくとも2回脱気処理する工程と、を有することを特徴とする純水の製造方法として捉えることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づいて、本実施の形態が適用される純水製造装置及び純水の製造方法について説明する。
図1は、本実施の形態が適用される純水製造装置を説明するための図である。ここに示されている純水製造装置100は、原水を脱塩処理して一次純水を製造する一次純水製造装置101と、一次純水を貯留するための一次純水貯槽103と、一次純水を一次純水貯槽103に導入するための一次純水導入管102と、一次純水貯槽103の上部空間部に窒素ガスをパージ封入するための窒素ガスパージ装置104と、脱気装置(図示せず)を備えた二次純水製造装置106と、一次純水を二次純水製造装置106に導入するための一次純水供給管105と、二次純水を貯留するための二次純水貯槽107と、二次純水を二次純水供給管112に導入するための二次純水導入管109と、二次純水の一部を一次純水貯槽103に還流するための二次純水還流管110と、二次純水貯槽107の上部空間部に窒素ガスをパージ封入するための窒素ガスパージ装置108と、二次純水を供給するための二次純水供給ポンプ111と、二次純水をさらに精製するためのサブシステム113と、二次純水を二次純水供給ポンプ111に導入するための二次純水供給管112と、サブシステム113により精製された純水の一部を二次純水供給管112に還流するための純水還流管114とから構成されている。
【0019】
図1に示すように、まず原水は、逆浸透膜及び/またはイオン交換等各種の脱塩手段を組み合わせた一次純水製造装置101により脱塩処理され、一次純水が製造される。一次純水は、一次純水導入管102を経由して一次純水貯槽103に送られて貯留される。一次純水導入管102は、一次純水貯槽103に貯留される一次純水の水面より下部の位置に付設されている。一次純水貯槽103に貯留された一次純水は、窒素ガスパージ装置104により貯槽の上部空間部を窒素ガスをパージ封入されて、大気中の酸素及び炭酸ガスの溶解が防止される。
【0020】
次に、一次純水貯槽103に貯留された一次純水は、一次純水供給管105を経て脱気装置(図示せず)を備えた二次純水製造装置106に送られ、微量イオン、コロイダル物質、有機物(TOC)、溶存ガス、配管材等から溶出した微量の不純物等が除去された二次純水が製造される。この二次純水製造装置106には、溶存ガスを除去するために真空脱気、膜脱気等の脱気装置が配設されることが必須である。
【0021】
次に、二次純水製造装置106により製造された二次純水は、二次純水導入管109により二次純水供給管112に供給される。この二次純水導入管109は、二次純水供給管112に配管接続されている二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側の配管に分岐配管接続されている。二次純水導入管109から二次純水供給管112に供給された二次純水は、二次純水供給ポンプ111により、サブシステム113に送られ、サブシステム113により精製された純水がユースポイント115に供給されて使用される。
【0022】
サブシステム113で精製された純水の一部は、二次純水供給管112の二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側に分岐配管接続された純水還流管114により、再び二次純水供給管112に還流され、二次純水供給ポンプ111を経由して、再度サブシステム113に供給される。
【0023】
また、二次純水導入管109により二次純水供給管112に供給された二次純水の一部は、二次純水貯槽107に供給されて貯留される。二次純水貯槽107に貯留された二次純水は、窒素ガスパージ装置108により貯槽の上部空間部を窒素ガスによりパージ封入される。さらに、二次純水貯槽107に貯留された二次純水は、一定の容量を超える分は、二次純水還流管110を経て一次純水貯槽103に還流される。
【0024】
図2は、二次純水導入管109と二次純水供給管112及び純水還流管114とが分岐配管接続された部分及び二次純水還流管110の接続部分を説明するための図である。図2に示すように、二次純水導入管109は、二次純水供給管112に配管接続されている二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側の配管に分岐配管接続されている。また、純水還流管114は、二次純水供給管112の二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側の、二次純水導入管109が分岐配管接続される位置よりも二次純水供給ポンプ111に近い側に分岐配管接続されている。また、二次純水供給管112の、二次給水ポンプ111とは反対側の端部は、二次純水貯槽107の下部に配管され、二次純水導入管109から二次純水供給管112に供給された二次純水の一部が二次純水貯槽107に供給されて貯留される。さらに、二次純水貯槽107の上部に配管された二次純水還流管110の接続部分には、水封管116が取り付けられている。
【0025】
図2に示されたように、純水還流管114を、二次純水供給管112の二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側の、二次純水導入管109が分岐配管接続される位置よりも二次純水供給ポンプ111に近い側に分岐配管接続し、サブシステム113により製造された純水を二次純水供給管112に還流させることにより、サブシステム113により製造された純水が再び二次純水貯槽107に供給されることがなくなり、その結果、純水中の溶存窒素濃度の増加が防止される。
【0026】
また、二次純水供給管112の、二次給水ポンプ111とは反対側の端部が二次純水貯槽107の下部に配管され、二次純水導入管109から二次純水供給管112に供給された二次純水の一部が二次純水貯槽107に供給されることにより、二次純水供給管112内には二次純水貯槽107へ向かう水流が確保され、そのため、二次純水供給ポンプ111に溶存窒素を含んだ二次純水が吸入されることが阻止される。
【0027】
また、二次純水貯槽107の内部では、二次純水貯槽107の二次純水供給管112の入り口付近に、下部から上部へ向かう二次純水の上昇流が生じ、このため、溶存窒素ガス濃度が高い表面付近の二次純水が下部に向かって拡散することが阻止され、その結果、サブシステム113に供給される二次純水への溶存窒素の同伴が防止される。
【0028】
さらに、二次純水貯槽107の上部に二次純水還流管110を付設し、二次純水貯槽107に貯槽されている二次純水を溢流させ、一次純水貯槽103に還流させている。本実施の形態では、二次純水還流管110の二次純水貯槽107との接続部分に水封管116を付設している。二次純水還流管110の取り付け位置は、二次純水貯槽107に貯留される二次純水の水面下であればよく、通常、水面下10〜50cmになるように設けるのが好ましい。また、二次純水が絶えず溢流するように、二次純水還流管110には二次純水の液面に連動して作動する流量調節計等を設け、流量調整するのが好ましい。
【0029】
このように、二次純水貯槽107の上部に二次純水還流管110を付設することにより、二次純水貯槽107に貯槽されている二次純水の、溶存窒素濃度が高い表層部を絶えず溢流させ、それらを一次純水貯槽103に還流させることが可能となる。これらの溶存窒素濃度が高い二次純水は、一次純水貯槽層103から一次純水供給管105を経由して再び二次純水製造装置106に供給され、二次純水製造装置106の脱気装置により溶存窒素が除去される。その結果、サブシステム113に供給される二次純水の溶存窒素濃度が低減される。
【0030】
また、溶解した溶存窒素は二次純水貯槽107の上部液面からやや下に設けられた二次純水還流管110から一次純水貯槽103へ常時排出させるため、二次純水貯槽107の下部の二次純水には窒素ガスパージにより溶解した窒素の影響をほとんど受けることがない。このため、たとえ、一時的にユースポイント115で純水の使用量が過大になり、バランスがくずれることにより、二次純水貯槽107から二次純水供給管112を経て二次純水供給ポンプ111の吸い込み口側への流れが発生しても、溶解した窒素の影響をほとんど受けることがない。この結果、半導体製造工程における加熱処理によって純水中に溶存窒素の気泡が発生するおそれが消失し、ウエハ洗浄等における問題も解決することが可能となる。
【0031】
【実施例】
以下に、実施例に基づき本実施の形態をさらに詳細に説明する。なお、本実施の形態は実施例に限定されるものではない。
(実施例)
図1に示すフローと配管で構成される純水製造装置により、原水(水質:電気伝導率150〜156μS/cm,25℃、溶存窒素濃度;飽和状態、溶存酸素濃度;飽和状態)を用いて純水を製造した。主要装置の構成仕様は下記の通りである。
▲1▼処理量:18.4m3/h
▲2▼一次純水装置:逆浸透膜式
・逆浸透膜モジュール(日東電工(株)製NTR-759HR-S8)
▲3▼脱気装置:膜脱気式
・(一次)膜脱気モジュール(大日本インキ(株)製EF-040P)
▲4▼二次純水装置:逆浸透膜装置―紫外線式有機物酸化装置―非再生式イオン交換装置―二次脱気装置
・逆浸透膜装置(日東電工(株)製ES10-U8)
・紫外線式有機物酸化装置(日本フォトサイエンス(株)製)
・非再生式イオン交換装置(日本錬水(株)製)
・(二次)膜脱気モジュール(大日本インキ(株)製EF-040P)
▲5▼サブシステム:非再生式イオン交換装置−限外濾過膜装置
・限外濾過膜装置(旭化成(株)製OLT―6036G)
【0032】
この純水製造装置100で得られた純水の溶存窒素濃度および溶存酸素濃度を測定した。尚、これらの測定は、溶存窒素及び溶存酸素連続測定システム(オービスフェアーラボラトリーズジャパン製 商品名:システム3621シリーズ N2/O2分析計(CO2パージバージョン))を用いて測定した。結果を表1に示す。
【0033】
(比較例)
比較のために、実施例で用いた純水製造装置の配管を図3に示すフローになるように配管変更を行い、実施例と同様な条件により表1の原水を用いて純水を製造した。結果を表1に示す。
【0034】
【表1】

Figure 0004112966
【0035】
表1の結果から、図1に示すフローと配管で構成される純水製造装置(実施例)により製造した純水は、抵抗率が、18MΩ・cm(25℃)以上に増大し、溶存酸素濃度が1ppbに低減されるとともに、溶存窒素濃度が1ppm以下に低減していることが分かる。これに対して、図3に示すフローと配管で構成される純水製造装置(比較例)により製造した純水は、抵抗率が、18MΩ・cm(25℃)以上に増大し、溶存酸素濃度が1ppbに低減されているものの、溶存窒素濃度が2〜4ppmの数値を示し、溶存窒素が増大していることが分かる。
【0036】
【発明の効果】
かくして本発明によれば、溶存窒素濃度が極めて低い純水を製造する純水製造装置及び純水の製造方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本実施の形態が適用される純水製造装置を説明するための図である。
【図2】 二次純水導入管と二次純水供給管及び純水還流管とが分岐配管接続された部分及び二次純水還流管の接続部分を説明するための図である。
【図3】 従来の純水製造装置の一例を説明するための図である。
【符号の説明】
101,301…一次純水製造装置、102,302…一次純水導入管、103,303…一次純水貯槽、104,304,108,308…窒素ガスパージ装置、105,305…一次純水供給管、106,306…二次純水製造装置、107,307…二次純水貯槽、109,309…二次純水導入管、110,310…二次純水還流管、111,311…二次純水供給ポンプ、112,312…二次純水供給管、113,313…サブシステム、114,314…純水還流管、115,315…ユースポイント、116…水封管[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a pure water production apparatus and a pure water production method, and more specifically, a pure water production apparatus and pure water production for producing pure water having a very low dissolved nitrogen concentration, particularly used in a semiconductor production process. Regarding the method.
[0002]
[Prior art]
The pure water used in the semiconductor manufacturing process is required to maintain the dissolved oxygen concentration at an extremely low level (pure water). Therefore, it is necessary to provide various deaeration devices in the pure water production apparatus. Each pure water storage tank is provided with a nitrogen gas purging device to prevent the dissolution of oxygen from the outside, and a method for preventing entrainment of oxygen when supplying pure water to each pure water storage tank has been proposed. (For example, refer to Patent Document 1).
[0003]
FIG. 3 is a diagram for explaining an example of a conventional pure water production apparatus. Here, the pure water manufacturing apparatus 300 comprised by each system is shown. The pure water production apparatus 300 includes a primary pure water production apparatus 301 that demineralizes raw water to produce primary pure water, a primary pure water storage tank 303 for storing primary pure water, and primary pure water as primary pure water. A primary pure water introduction pipe 302 for introduction into the storage tank 303, a nitrogen gas purge device 304 for purging nitrogen gas in the upper space of the primary pure water storage tank 303, and a deaeration device (not shown) are provided. A secondary pure water production apparatus 306, a primary pure water supply pipe 305 for introducing primary pure water into the secondary pure water production apparatus 306, a secondary pure water storage tank 307 for storing secondary pure water, A secondary pure water introduction pipe 309 for introducing secondary pure water into the secondary pure water storage tank 307 and a secondary pure water reflux pipe 310 for returning a part of the secondary pure water to the primary pure water storage tank 303. And nitrogen for purging nitrogen gas in the upper space of the secondary pure water storage tank 307 A gas purging device 308, a secondary pure water supply pump 311 for supplying secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 307, a subsystem 313 for further purifying the secondary pure water, A pure water supply pipe 312 for supplying pure water to the secondary pure water supply pump 311 and a pure water for returning a part of the pure water purified by the subsystem 313 to the secondary pure water storage tank 307 And a reflux pipe 314.
[0004]
As shown in FIG. 3, the raw water is first desalted by a primary pure water production apparatus 301 that combines various desalination means such as a reverse osmosis membrane and / or ion exchange to produce primary pure water. The primary pure water is sent to the primary pure water storage tank 303 via the primary pure water introduction pipe 302 and stored. The primary pure water introduction pipe 302 is attached at a position below the surface of the primary pure water stored in the primary pure water storage tank 303. The primary pure water stored in the primary pure water storage tank 303 is purged with nitrogen gas in the upper space of the storage tank by the nitrogen gas purging device 304 to prevent dissolution of oxygen and carbon dioxide in the atmosphere.
[0005]
Next, the primary pure water stored in the primary pure water storage tank 303 is sent to a secondary pure water production apparatus 306 equipped with a deaeration device through a primary pure water supply pipe 305, and trace ions, colloidal substances, organic substances ( TOC) and secondary pure water from which dissolved gas and the like are removed are produced, and this secondary pure water is stored in a secondary pure water storage tank 307 through a secondary pure water introduction pipe 309. The secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 307 is purged with nitrogen gas in the upper space of the storage tank by the nitrogen gas purge device 308. The secondary pure water introduction pipe 309 is attached at a position below the surface of the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 307, and the secondary pure water is supplied to the secondary pure water storage tank. When introduced into 307, nitrogen gas that purges and encloses the upper space of the storage tank is prevented. Further, a part of the secondary pure water that has not been received in the secondary pure water storage tank 307 is returned to the primary pure water storage tank 303 via the secondary pure water reflux pipe 310 branched from the secondary pure water introduction pipe 309. Is done.
[0006]
Next, the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 307 is supplied to the subsystem 313 via the secondary pure water supply pipe 312 and the secondary pure water supply pump 311. The secondary pure water is further purified and supplied to the use point 315. A part of the pure water is returned to the secondary pure water storage tank 307 by the pure water reflux pipe 314.
[0007]
[Patent Document 1]
Japanese Patent No. 2920864 [0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional pure water producing apparatus 300 as described above, the dissolved oxygen concentration of pure water can be reduced to 1 ppb or less, but the concentration of dissolved nitrogen in pure water at the use point 315 increases. There is a problem.
[0009]
This is because when the secondary pure water is introduced into the secondary pure water storage tank 307 through the secondary pure water introduction pipe 309 in the secondary pure water storage tank 307 and through the pure water reflux pipe 314, When a part of the water is recirculated to the secondary pure water storage tank 307, the secondary pure water near the water surface where the dissolved nitrogen concentration is close to saturation is diffused throughout the secondary pure water storage tank 307. As a result, The secondary pure water having a high dissolved nitrogen concentration is mixed into the secondary pure water supplied again to the subsystem 313 via the secondary pure water supply pipe 312 and the secondary pure water supply pump 311. it is conceivable that.
[0010]
Although such dissolved nitrogen mixed in pure water is inactive, pure water having an increased dissolved nitrogen concentration is heated to increase cleaning efficiency, for example, during wafer cleaning in a semiconductor manufacturing process. When used, the solution is demanded because bubbles are generated due to dissolved nitrogen mixed in pure water, which may have a serious adverse effect on the cleaning of the wafer.
[0011]
The present invention has been made to solve the problems that have become apparent when producing such pure water, and an object of the present invention is to provide a production apparatus for producing pure water having a very low dissolved nitrogen concentration. It is to provide.
Another object of the present invention is to provide a production method for producing pure water having a very low dissolved nitrogen concentration.
[0012]
[Means for solving the problems]
Thus, the pure water production apparatus to which the present invention is applied has a configuration in which the treated pure water is refluxed without returning to the storage tank, and a configuration in which the surface layer portion where the nitrogen gas dissolved concentration of the stored pure water is high is constantly overflowed. Adopted. That is, the pure water production apparatus to which the present invention is applied includes a storage tank that purges and stores pure water with nitrogen gas, a subsystem that processes the pure water stored in the storage tank, and a pure water stored in the storage tank. A supply pipe for supplying water to the subsystem, and this supply pipe is connected to a reflux pipe for refluxing and supplying a part of the pure water treated by the subsystem. is there. The storage tank in this case can be characterized by including a nitrogen gas purge device for purging and filling the upper space of pure water stored in the storage tank.
[0013]
Next, a pure water production apparatus to which the present invention is applied includes a pure water production apparatus for degassing pure water, and a storage tank for purifying and storing the pure water obtained by the pure water production apparatus with nitrogen gas The pure water production apparatus is characterized in that the deaeration treatment of the pure water overflowed from the storage tank is performed at least once. In this case, the storage tank can be characterized in that a reflux pipe is provided for overflowing the surface layer of pure water stored in the storage tank. Further, the storage tank is characterized by including a nitrogen gas purge device for purging and sealing the upper space of pure water stored in the storage tank.
[0014]
Furthermore, a pure water production apparatus to which the present invention is applied includes a primary storage tank that stores pure water, a pure water production apparatus that processes pure water supplied from the primary storage tank, and a pure water obtained from the pure water production apparatus. A secondary storage tank for storing water by purging and storing water with nitrogen gas, and the secondary storage tank is provided with a reflux pipe for overflowing pure water stored in the secondary storage tank and returning to the primary storage tank It is characterized by being. In this case, the return pipe is attached to the secondary storage tank so that the attachment position of the return pipe and the secondary storage tank is below the surface of the pure water stored in the secondary storage tank. It is said. Further, the reflux pipe may be characterized in that a flow rate controller that operates in conjunction with the level of pure water stored in the secondary storage tank is provided. Furthermore, it is preferable that the reflux pipe is provided at a position where the reflux pipe and the secondary storage tank are attached 10 to 50 cm below the surface of the pure water stored in the secondary storage tank.
[0015]
Further, a pure water production apparatus to which the present invention is applied includes a pure water production apparatus for treating pure water, a storage tank for purifying and storing pure water obtained by the pure water production apparatus with nitrogen gas, An introduction pipe for introducing pure water obtained by the water production apparatus into the storage tank, a subsystem for processing the pure water obtained by the pure water production apparatus, and the pure water obtained by the pure water production apparatus as the subsystem. And the supply pipe is branched and connected to the supply pipe.
[0016]
Furthermore, the pure water production apparatus to which the present invention is applied includes a primary storage tank for purifying and storing pure water obtained by processing raw water with nitrogen gas, and a pure water for processing pure water supplied from the primary storage tank. A water production apparatus, a secondary storage tank for purging and storing pure water obtained by the pure water production apparatus with nitrogen gas, and an introduction for introducing pure water obtained by the pure water production apparatus into the secondary storage tank A pipe, a subsystem for treating the pure water obtained by the pure water production apparatus, and a supply pipe for supplying the pure water obtained by the pure water production apparatus to the subsystem. The supply pipe is connected to a reflux pipe through which a part of pure water treated by the subsystem is supplied by reflux, and the secondary storage tank is a pure tank stored in the secondary storage tank. A reflux pipe is attached to overflow the water and return it to the primary storage tank. It is characterized in.
[0017]
On the other hand, the present invention provides a method for producing pure water by treating raw water, a step of storing pure water in a storage tank purged with nitrogen gas, and a step of returning a part of pure water without returning to the storage tank. It can be understood as a method for producing pure water characterized by having a step of overflowing the surface layer of pure water stored in a storage tank and a step of degassing pure water at least twice.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a pure water production apparatus and a pure water production method to which the present embodiment is applied will be described with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a diagram for explaining a pure water production apparatus to which the present embodiment is applied. A pure water production apparatus 100 shown here includes a primary pure water production apparatus 101 for producing primary pure water by desalting raw water, a primary pure water storage tank 103 for storing primary pure water, and a primary A primary pure water introduction pipe 102 for introducing pure water into the primary pure water storage tank 103, a nitrogen gas purge device 104 for purging nitrogen gas into the upper space of the primary pure water storage tank 103, and a deaeration device (FIG. A secondary pure water production apparatus 106 provided with a primary pure water supply pipe 105 for introducing the primary pure water into the secondary pure water production apparatus 106, and a secondary for storing secondary pure water. A pure water storage tank 107, a secondary pure water introduction pipe 109 for introducing secondary pure water into the secondary pure water supply pipe 112, and a part for returning a part of the secondary pure water to the primary pure water storage tank 103. Nitrogen gas is passed through the upper space of the secondary pure water reflux pipe 110 and the secondary pure water storage tank 107. A nitrogen gas purge device 108 for enclosing the secondary pure water, a secondary pure water supply pump 111 for supplying secondary pure water, a subsystem 113 for further purifying the secondary pure water, and a secondary pure water A secondary pure water supply pipe 112 for introducing the secondary pure water supply pump 111 and a pure water reflux pipe 114 for returning a part of the pure water purified by the subsystem 113 to the secondary pure water supply pipe 112. It consists of and.
[0019]
As shown in FIG. 1, first, raw water is desalted by a primary pure water production apparatus 101 that combines various desalination means such as a reverse osmosis membrane and / or ion exchange to produce primary pure water. The primary pure water is sent to the primary pure water storage tank 103 via the primary pure water introduction pipe 102 and stored. The primary pure water introduction pipe 102 is attached at a position below the surface of the primary pure water stored in the primary pure water storage tank 103. The primary pure water stored in the primary pure water storage tank 103 is purged with nitrogen gas in the upper space of the storage tank by the nitrogen gas purging device 104 to prevent dissolution of oxygen and carbon dioxide in the atmosphere.
[0020]
Next, the primary pure water stored in the primary pure water storage tank 103 is sent to a secondary pure water production apparatus 106 equipped with a deaeration device (not shown) through a primary pure water supply pipe 105, and trace ions, Secondary pure water from which a small amount of impurities eluted from colloidal substances, organic substances (TOC), dissolved gases, piping materials and the like are removed is produced. It is essential that the secondary pure water production apparatus 106 is provided with a degassing device such as vacuum degassing and membrane degassing in order to remove dissolved gas.
[0021]
Next, the secondary pure water produced by the secondary pure water production apparatus 106 is supplied to the secondary pure water supply pipe 112 through the secondary pure water introduction pipe 109. The secondary pure water introduction pipe 109 is branched and connected to a pipe on the suction port side of the secondary pure water supply pump 111 connected to the secondary pure water supply pipe 112. The secondary pure water supplied from the secondary pure water introduction pipe 109 to the secondary pure water supply pipe 112 is sent to the subsystem 113 by the secondary pure water supply pump 111 and purified by the subsystem 113. Is supplied to the use point 115 for use.
[0022]
A portion of the pure water purified by the subsystem 113 is returned to the secondary pure water again by the pure water reflux pipe 114 connected to the secondary pure water supply pipe 111 at the suction port side of the secondary pure water supply pump 111. The water is returned to the water supply pipe 112 and supplied to the subsystem 113 again via the secondary pure water supply pump 111.
[0023]
A part of the secondary pure water supplied to the secondary pure water supply pipe 112 by the secondary pure water introduction pipe 109 is supplied to the secondary pure water storage tank 107 and stored. The secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 107 is purged and sealed with nitrogen gas in the upper space of the storage tank by the nitrogen gas purge device 108. Further, the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 107 is returned to the primary pure water storage tank 103 through the secondary pure water reflux pipe 110 for a portion exceeding a certain capacity.
[0024]
FIG. 2 is a diagram for explaining a portion where the secondary pure water introduction pipe 109, the secondary pure water supply pipe 112, and the pure water reflux pipe 114 are connected by branch piping, and a connection portion of the secondary pure water reflux pipe 110. It is. As shown in FIG. 2, the secondary pure water introduction pipe 109 is branched and connected to a pipe on the suction port side of the secondary pure water supply pump 111 connected to the secondary pure water supply pipe 112. The pure water reflux pipe 114 is more secondary pure water than the position where the secondary pure water introduction pipe 109 is connected to the branch pipe on the suction side of the secondary pure water supply pump 111 of the secondary pure water supply pipe 112. A branch pipe is connected to the side close to the supply pump 111. Further, the end of the secondary pure water supply pipe 112 opposite to the secondary feed water pump 111 is piped to the lower part of the secondary pure water storage tank 107, and the secondary pure water supply pipe 109 supplies secondary pure water. Part of the secondary pure water supplied to the pipe 112 is supplied to the secondary pure water storage tank 107 and stored. Furthermore, a water seal tube 116 is attached to a connecting portion of the secondary pure water reflux pipe 110 piped on the upper part of the secondary pure water storage tank 107.
[0025]
As shown in FIG. 2, the pure water recirculation pipe 114 is connected to the secondary pure water introduction pipe 109 on the suction side of the secondary pure water supply pump 111 of the secondary pure water supply pipe 112 by branch piping. The branch pipe is connected to the side closer to the secondary pure water supply pump 111 than the position, and the pure water manufactured by the subsystem 113 is returned to the secondary pure water supply pipe 112 to thereby return the pure water manufactured by the subsystem 113. Water is not supplied again to the secondary pure water storage tank 107, and as a result, an increase in dissolved nitrogen concentration in the pure water is prevented.
[0026]
Further, the end of the secondary pure water supply pipe 112 opposite to the secondary feed water pump 111 is piped to the lower part of the secondary pure water storage tank 107, and the secondary pure water supply pipe 109 to the secondary pure water supply pipe A part of the secondary pure water supplied to 112 is supplied to the secondary pure water storage tank 107, so that a water flow toward the secondary pure water storage tank 107 is secured in the secondary pure water supply pipe 112. The secondary pure water supply pump 111 is prevented from inhaling secondary pure water containing dissolved nitrogen.
[0027]
Further, in the secondary pure water storage tank 107, an upward flow of secondary pure water from the lower part to the upper part is generated near the entrance of the secondary pure water supply pipe 112 of the secondary pure water storage tank 107. The secondary pure water in the vicinity of the surface having a high nitrogen gas concentration is prevented from diffusing downward, and as a result, the entrainment of dissolved nitrogen in the secondary pure water supplied to the subsystem 113 is prevented.
[0028]
Further, a secondary pure water reflux pipe 110 is attached to the upper portion of the secondary pure water storage tank 107 to overflow the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 107 and return to the primary pure water storage tank 103. ing. In the present embodiment, a water seal tube 116 is attached to a connection portion between the secondary pure water reflux pipe 110 and the secondary pure water storage tank 107. The attachment position of the secondary pure water reflux pipe 110 may be below the surface of the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 107, and is usually preferably provided so as to be 10 to 50 cm below the surface of the water. Further, it is preferable to adjust the flow rate by providing a flow rate controller or the like that operates in conjunction with the liquid level of the secondary pure water in the secondary pure water reflux pipe 110 so that the secondary pure water continuously overflows.
[0029]
Thus, by attaching the secondary pure water reflux pipe 110 to the upper part of the secondary pure water storage tank 107, the surface layer portion of the secondary pure water stored in the secondary pure water storage tank 107 has a high dissolved nitrogen concentration. Can be continuously overflowed and returned to the primary pure water storage tank 103. The secondary pure water having a high dissolved nitrogen concentration is supplied again from the primary pure water storage layer 103 to the secondary pure water production apparatus 106 via the primary pure water supply pipe 105, and the secondary pure water production apparatus 106 Dissolved nitrogen is removed by the deaerator. As a result, the dissolved nitrogen concentration of the secondary pure water supplied to the subsystem 113 is reduced.
[0030]
In addition, since the dissolved dissolved nitrogen is always discharged from the secondary pure water reflux pipe 110 provided slightly below the upper liquid surface of the secondary pure water storage tank 107 to the primary pure water storage tank 103, the secondary pure water storage tank 107 The lower secondary pure water is hardly affected by the nitrogen dissolved by the nitrogen gas purge. For this reason, even if the use amount of pure water temporarily becomes excessive at the use point 115 and the balance is lost, the secondary pure water supply pump passes from the secondary pure water storage tank 107 via the secondary pure water supply pipe 112. Even when the flow of 111 toward the suction port occurs, it is hardly affected by the dissolved nitrogen. As a result, the risk of generating dissolved nitrogen bubbles in pure water by heat treatment in the semiconductor manufacturing process disappears, and problems in wafer cleaning and the like can be solved.
[0031]
【Example】
Hereinafter, the present embodiment will be described in more detail based on examples. Note that this embodiment is not limited to the examples.
(Example)
1 using raw water (water quality: electrical conductivity: 150 to 156 μS / cm, 25 ° C., dissolved nitrogen concentration; saturated state, dissolved oxygen concentration; saturated state), using the pure water production apparatus composed of the flow and piping shown in FIG. Pure water was produced. The configuration specifications of the main equipment are as follows.
(1) Amount of processing: 18.4 m 3 / h
(2) Primary pure water device: reverse osmosis membrane type / reverse osmosis membrane module (NTR-759HR-S8 manufactured by Nitto Denko Corporation)
(3) Degassing device: Membrane degassing type (primary) membrane degassing module (Dainippon Ink Co., Ltd. EF-040P)
(4) Secondary pure water device: Reverse osmosis membrane device-UV type organic matter oxidation device-Non-regenerative ion exchange device-Secondary degassing device / reverse osmosis membrane device (ES10-U8 manufactured by Nitto Denko Corporation)
・ Ultraviolet organic oxidation equipment (manufactured by Nippon Photoscience Co., Ltd.)
・ Non-regenerative ion exchanger (manufactured by Nippon Nensui)
-(Secondary) membrane degassing module (Dai Nippon Ink Co., Ltd. EF-040P)
(5) Subsystem: Non-regenerative ion exchange device-ultrafiltration membrane device / ultrafiltration membrane device (OLT-6036G manufactured by Asahi Kasei Corporation)
[0032]
The dissolved nitrogen concentration and dissolved oxygen concentration of pure water obtained with the pure water production apparatus 100 were measured. These measurements were performed using a dissolved nitrogen and dissolved oxygen continuous measurement system (trade name: System 3621 series N 2 / O 2 analyzer (CO 2 purge version) manufactured by Orbis Fair Laboratories Japan). The results are shown in Table 1.
[0033]
(Comparative example)
For comparison, the pipe of the pure water production apparatus used in the example was changed so that the flow shown in FIG. 3 was obtained, and pure water was produced using the raw water in Table 1 under the same conditions as in the example. . The results are shown in Table 1.
[0034]
[Table 1]
Figure 0004112966
[0035]
From the results of Table 1, the pure water produced by the pure water production apparatus (Example) composed of the flow and piping shown in FIG. 1 has a resistivity increased to 18 MΩ · cm (25 ° C.) or more, and dissolved oxygen. It can be seen that the concentration is reduced to 1 ppb and the dissolved nitrogen concentration is reduced to 1 ppm or less. In contrast, the pure water produced by the pure water production apparatus (comparative example) composed of the flow and piping shown in FIG. 3 has a resistivity increased to 18 MΩ · cm (25 ° C.) or more, and the dissolved oxygen concentration Is reduced to 1 ppb, but the dissolved nitrogen concentration shows a numerical value of 2 to 4 ppm, indicating that the dissolved nitrogen is increasing.
[0036]
【The invention's effect】
Thus, according to the present invention, there are provided a pure water production apparatus and a pure water production method for producing pure water having a very low dissolved nitrogen concentration.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining a pure water production apparatus to which the present embodiment is applied.
FIG. 2 is a diagram for explaining a portion where a secondary pure water introduction pipe, a secondary pure water supply pipe, and a pure water reflux pipe are connected by branch piping, and a connection portion of the secondary pure water reflux pipe.
FIG. 3 is a diagram for explaining an example of a conventional pure water production apparatus.
[Explanation of symbols]
101, 301 ... primary pure water production apparatus, 102, 302 ... primary pure water introduction pipe, 103, 303 ... primary pure water storage tank, 104, 304, 108, 308 ... nitrogen gas purge apparatus, 105, 305 ... primary pure water supply pipe 106,306 ... secondary pure water production apparatus, 107,307 ... secondary pure water storage tank, 109,309 ... secondary pure water introduction pipe, 110,310 ... secondary pure water reflux pipe, 111,311 ... secondary Pure water supply pump, 112, 312 ... Secondary pure water supply pipe, 113, 313 ... Subsystem, 114, 314 ... Pure water reflux pipe, 115, 315 ... Use point, 116 ... Water seal pipe

Claims (10)

純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、
前記貯槽に貯留された前記純水を精製処理するサブシステムと、
前記貯槽に貯留された前記純水を前記サブシステムに供給する供給管と、を有し、
前記供給管は、前記サブシステムにより精製処理された純水の一部を還流供給させる還流管が配管連結されていることを特徴とする純水製造装置。
A storage tank for purifying and storing pure water with nitrogen gas;
A subsystem for purifying the pure water stored in the storage tank;
A supply pipe for supplying the pure water stored in the storage tank to the subsystem,
An apparatus for producing pure water, wherein the supply pipe is connected to a reflux pipe for refluxing and supplying a part of pure water purified by the subsystem.
原水を脱塩処理して得られた一次純水を脱気処理する二次純水製造装置と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、を有し、
前記二次純水製造装置は、前記貯槽から溢流させた二次純水の脱気処理を少なくとも1回行うことを特徴とする純水製造装置。
A secondary pure water production apparatus for degassing the primary pure water obtained by desalting the raw water;
A storage tank for purging and storing secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus with nitrogen gas, and
The secondary pure water production apparatus performs the deaeration process of secondary pure water overflowed from the storage tank at least once.
前記貯槽は、当該貯槽に貯留された前記二次純水の表層部を溢流させるための還流管が付設されていることを特徴とする請求項2記載の純水製造装置。The pure water manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the storage tank is provided with a reflux pipe for overflowing a surface layer portion of the secondary pure water stored in the storage tank. 原水を脱塩処理して得られた一次純水を貯留する一次貯槽と、
前記一次貯槽から供給された一次純水を処理する二次純水製造装置と、
前記二次純水製造装置から得られた二次純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する二次貯槽と、を有し、
前記二次貯槽は、当該二次貯槽に貯留された二次純水を溢流させ、前記一次貯槽に還流させる還流管が付設されていることを特徴とする純水製造装置。
A primary storage tank for storing primary pure water obtained by desalting raw water;
A secondary pure water production apparatus for treating primary pure water supplied from the primary storage tank;
A secondary storage tank for purging and storing secondary pure water obtained from the secondary pure water production apparatus with nitrogen gas, and
The pure water production apparatus, wherein the secondary storage tank is provided with a reflux pipe for overflowing the secondary pure water stored in the secondary storage tank and returning the secondary pure water to the primary storage tank.
前記還流管は、当該還流管と前記二次貯槽との取り付け位置が、当該二次貯槽に貯留されている前記二次純水の水面よりも下側になるように当該二次貯槽に取り付けられていることを特徴とする請求項4記載の純水製造装置。The return pipe is attached to the secondary storage tank so that the attachment position of the return pipe and the secondary storage tank is below the surface of the secondary pure water stored in the secondary storage tank. The pure water manufacturing apparatus according to claim 4, wherein: 前記還流管は、前記二次貯槽に貯留されている前記二次純水の液面に連動して作動する流量調節計が設けられていることを特徴とする請求項4記載の純水製造装置。5. The pure water production apparatus according to claim 4, wherein the reflux pipe is provided with a flow rate controller that operates in conjunction with a liquid level of the secondary pure water stored in the secondary storage tank. . 前記還流管は、当該還流管と前記二次貯槽との取り付け位置が、当該二次貯槽に貯留されている前記二次純水の水面よりも10〜50cm下側に設けられていることを特徴とする請求項4乃至6いずれか1項記載の純水製造装置。In the reflux pipe, the attachment position of the reflux pipe and the secondary storage tank is provided 10 to 50 cm below the water surface of the secondary pure water stored in the secondary storage tank. The pure water manufacturing apparatus according to any one of claims 4 to 6. 原水を脱塩処理して得られた一次純水を脱気処理し二次純水を得る二次純水製造装置と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する貯槽と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を前記貯槽に導入する導入管と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を精製処理するサブシステムと、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を前記サブシステムに供給する供給管と、を有し、
前記導入管は、前記供給管の一部を分岐した配管に連結されていることを特徴とする純水製造装置。
A secondary pure water production apparatus for obtaining secondary pure water by degassing primary pure water obtained by desalting raw water;
A storage tank for purging and storing secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus with nitrogen gas;
An introduction pipe for introducing secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus into the storage tank;
A subsystem for purifying the secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus;
A supply pipe that supplies the secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus to the subsystem;
The pure water production apparatus, wherein the introduction pipe is connected to a pipe branched from a part of the supply pipe.
原水を処理して得られた一次純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する一次貯槽と、
前記一次貯槽から供給された一次純水を脱気処理する二次純水製造装置と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を窒素ガスによりパージ封入して貯留する二次貯槽と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を前記二次貯槽に導入する導入管と、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を精製処理するサブシステムと、
前記二次純水製造装置により得られた二次純水を前記サブシステムに供給する供給管と、を有し、
前記導入管は、前記供給管の一部を分岐した配管に連結され、
前記供給管は、前記サブシステムにより処理された二次純水の一部が還流供給される還流管が配管連結され、
前記二次貯槽は、当該二次貯槽に貯留された二次純水を溢流させ、前記一次貯槽に還流させる還流管が付設されていることを特徴とする純水製造装置。
A primary storage tank for purging and storing primary pure water obtained by treating raw water with nitrogen gas;
A secondary pure water production apparatus for degassing the primary pure water supplied from the primary storage tank;
A secondary reservoir for storing purged sealed by a secondary pure water and nitrogen gas obtained by the secondary pure water producing device,
An introduction pipe for introducing secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus into the secondary storage tank;
A subsystem for purifying the secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus;
A supply pipe that supplies the secondary pure water obtained by the secondary pure water production apparatus to the subsystem;
The introduction pipe is connected to a pipe branched from a part of the supply pipe,
The supply pipe is connected to a reflux pipe through which a part of the secondary pure water treated by the subsystem is supplied by reflux,
The pure water production apparatus, wherein the secondary storage tank is provided with a reflux pipe for overflowing the secondary pure water stored in the secondary storage tank and returning the secondary pure water to the primary storage tank.
原水に所定の処理を行って純水を得る純水の製造方法において、
原水を脱塩処理することにより得られた一次純水を脱気処理し二次純水を得る二次純水処理工程と、
前記二次純水処理工程において一次純水を脱気処理することにより得られた前記二次純水を精製処理し純水を得る精製処理工程と、
前記二次純水処理工程により得られた前記二次純水の一部を窒素ガスによりパージ封入した貯槽に貯留する貯留工程と、を有し、
前記精製処理工程において二次純水を精製処理することにより得られた純水の一部を窒素ガスによりパージ封入した前記貯槽に戻さずに還流させ精製処理を繰り返すと共に、前記貯留工程において前記貯槽に貯留した二次純水の表層部を当該貯槽から溢流させ少なくとも1回脱気処理した後に精製処理する
ことを特徴とする純水の製造方法。
In a pure water production method for obtaining pure water by performing a predetermined treatment on raw water ,
A secondary pure water treatment step for degassing the primary pure water obtained by desalting the raw water to obtain secondary pure water;
A purification treatment step for purifying the secondary pure water obtained by degassing the primary pure water in the secondary pure water treatment step to obtain pure water;
Anda storage step of storing a portion of the secondary pure water obtained by the secondary pure water treatment process tank was purged sealed with nitrogen gas,
A portion of the pure water obtained by purifying the secondary pure water in the purification treatment step is refluxed without returning to the storage tank purged with nitrogen gas, and the purification treatment is repeated, and in the storage step, the storage tank method for producing pure water of the surface layer portion of the reservoir and the secondary pure water is overflowing from the reservoir, and wherein the <br/> purifying treatment after at least one degassing treatment in.
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