JP4093489B2 - 観測装置、観測方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
ソフトウェアシミュレーションによる検証によれば、論理回路の記述を終えると比較的即座に開始することができ、論理回路内の全ての信号の動作を記録して観測することができる。一方、大規模なシミュレーションには長い処理時間を要する。このため、ソフトウェアシミュレーションは、論理回路のデバッグの初期段階において、比較的少ないサイクル数の範囲で論理回路を動作させて初期の不良を発見したり、論理回路を部品単位で動作させて部品単体のデバッグを行ったりするために用いられる。ソフトウェアシミュレーションで検出した不良をデバッグしていくことにより、検証対象の部品単体の動作は次第に安定する。
まず、状態遷移選択部130は、発生時に通知すべき少なくとも1つの状態遷移が観測装置20の利用者により指定された場合、指定された状態遷移を指定情報記憶部135に記憶させる(ステップS202)。次に、観測対象装置10の試験が開始されると、観測装置20は、S210からS280の処理を試験の間繰り返す(S200、S290)。
(1)状態遷移通知部140は、出力信号取得部100により新たに取得された出力信号の組に対応する状態遷移を状態遷移追加部110aから受け取る。この状態遷移が、指定情報記憶部135に記憶された出力信号の組に対応する状態遷移と一致する場合に、観測装置20の利用者等により指定された状態遷移と一致する状態遷移が発生したことを状態遷移出力部120及び/又は他の観測装置に通知する。これにより、観測装置20は、指定した状態遷移が発生したことをトリガとして、デバッグを開始させることができる。また、観測装置20は、当該状態遷移が発生したことをトリガ信号として、ロジックアナライザによる信号の採取を開始させ、または、当該状態遷移の発生前から発生後の範囲において採取された信号を保存させることができる。
観測装置20内の表形式表示部122は、連続する2つのサイクルにおいて取得された出力信号の組に対応する各状態遷移の発生回数を状態遷移記憶部102aから取得し、表形式で表示する。すなわち、表形式表示部122は、一のサイクルにおいて取得された出力信号と当該一のサイクルの次のサイクルにおいて取得された出力信号との組に対応する状態遷移が生じた回数を、当該一のサイクルにおいて取得された出力信号を行方向とし、当該一のサイクルの次のサイクルにおいて取得された出力信号を列方向とした表の対応するセルに表示する。これに代えて表形式表示部122は、当該一のサイクルにおいて取得された出力信号を列方向とし、当該一のサイクルの次のサイクルにおいて取得された出力信号を行方向として各セルを表示してもよい。これにより、観測装置20の利用者は、各状態遷移の発生回数を適切に把握することができる。
これにより、観測装置20の利用者は、各セルに対応する状態遷移をより容易に把握することができる。
観測装置20内の状態遷移図表示部124は、状態遷移記憶部102a及び/又はbに記憶された出力信号の組に対応する状態遷移を、状態遷移図により表示する。すなわち、状態遷移図表示部124は、各サイクルにおいて取得された出力信号のそれぞれを、当該出力信号の状態を示すノード(図5及び6中一重丸又は二重丸)として表示する。また、状態遷移図表示部124は、連続する2つのサイクルにおいて取得された出力信号の組に対応する状態遷移を、1サイクル目の出力信号を示すノードから2サイクル目の出力信号を示すノードへのリンク(図5及び6中の矢印)として表示する。
本実施形態に係る状態遷移図表示部124は、複数の状態遷移図の比較機能を有する。すなわち、状態遷移図表示部124は、例えば直前に実行した試験の結果得られた第1の状態遷移図を、観測装置20の利用者により指定された第2の状態遷移図と比較し、第1の状態遷移図に表示するリンクのうち、第2の状態遷移図に含まれないリンクを、第2の状態遷移図に含まれるリンクと区別可能に表示する。
利用者が少なくとも2つのノードを順次選択すると、状態遷移図表示部124は、これらのノードを順番に経由する部分的な状態遷移の一覧をポップアップウィンドウ等に表示する。本実施形態において、状態遷移図表示部124は、このような状態遷移の一覧として、状態遷移を識別する番号、状態遷移の発生回数、及び、出力信号の組を表示する。状態遷移図表示部124は、状態遷移の一覧を表示するウィンドウ上でいずれかの状態遷移が選択されると、当該状態遷移に対応するノード及びリンクの組を区別可能に表示する。
観測装置20内のタイミングチャート表示部126は、状態遷移記憶部102a及び/又はbに記憶された各状態遷移を、タイミングチャートにより表示する。ここで、先頭の出力信号から1又は複数の出力信号が同一の値をとる第1の出力信号の組及び第2の出力信号の組が取得された場合において、タイミングチャート表示部126は、同一の値をとる1又は複数の出力信号と、第1の出力信号の組における当該1又は複数の出力信号に続く少なくとも1つの出力信号と、第2の出力信号の組における当該1又は複数の出力信号に続く少なくとも1つの出力信号とを、それぞれタイミングチャートとして表示する。
観測装置20内のヒストグラム表示部128は、利用者により指定された出力信号の列が連続して繰り返し出力された個数の度数分布をヒストグラムにより表示する。より具体的には、まず、状態遷移検索部145は、当該観測装置20の利用者により指定された出力信号の列を含む出力信号の組に対応する状態遷移を状態遷移記憶部102a内の状態遷移識別情報記憶部104a及び/又は状態遷移記憶部102b内の状態遷移識別情報記憶部104bから検索する。そして、状態遷移検索部145は、当該状態遷移とその発生回数を度数分布算出部150へ供給する。次に、度数分布算出部150は、状態遷移検索部145により検索されたそれぞれの状態遷移中に、当該出力信号の列が連続して含まれる個数を算出する。この出力信号の列は、1又は複数の出力信号の組であってよい。例えば、状態遷移(A→B→B→B→D)中に、出力信号の列(B)が連続して含まれる個数は3個である。そして、当該状態遷移の発生回数が100回であれば、当該状態遷移に関して当該出力信号の列(B)が連続3個出現する度数は300回となる。
20 観測装置
100 出力信号取得部
102a〜b 状態遷移記憶部
104a〜b 状態遷移識別情報記憶部
106a〜b 状態遷移回数記憶部
110a〜b 状態遷移追加部
115a〜b 状態遷移カウント部
120 状態遷移出力部
122 表形式表示部
124 状態遷移図表示部
126 タイミングチャート表示部
128 ヒストグラム表示部
130 状態遷移選択部
135 指定情報記憶部
140 状態遷移通知部
145 状態遷移検索部
150 度数分布算出部
160 後続出力信号選択部
170 トランザクション抽出部
172 初期状態検出部
174 状態遷移取得部
800、810、820、830 タイミングチャート
1900 コンピュータ
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 通信インターフェイス
2040 ハードディスクドライブ
2050 フレキシブルディスク・ドライブ
2060 CD−ROMドライブ
2070 入出力チップ
2075 グラフィック・コントローラ
2080 表示装置
2082 ホスト・コントローラ
2084 入出力コントローラ
2090 フレキシブルディスク
2095 CD−ROM
Claims (17)
- 観測対象の装置が出力する信号を入力し、当該観測対象装置の動作を観測する観測装置であって、
前記観測対象装置が出力する出力信号を取得する出力信号取得部と、
連続する2以上のサイクルにおいて取得された前記出力信号の組を、前記出力信号の状態遷移として記憶する状態遷移記憶部と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移が前記状態遷移記憶部に記憶されていない場合に、新たに取得された前記出力信号の組を、新たな前記状態遷移として前記状態遷移記憶部に追加して記憶させる状態遷移追加部と、
前記状態遷移記憶部に記憶された前記出力信号の状態遷移を出力する状態遷移出力部と
を備える観測装置。 - 前記状態遷移記憶部は、前記出力信号の状態遷移のそれぞれに対応して、当該状態遷移が生じた回数を記憶し、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移が前記状態遷移記憶部に記憶されている場合に、当該状態遷移が生じた回数をインクリメントする状態遷移カウント部
を更に備える請求項1記載の観測装置。 - 前記状態遷移記憶部は、
前記出力信号の組と、当該出力信号の組に対応する前記状態遷移を識別する状態遷移識別情報とを対応付けて記憶する状態遷移識別情報記憶部と、
前記状態遷移識別情報と、当該状態遷移識別情報により識別される前記状態遷移が生じた回数とを対応付けて記憶する状態遷移回数記憶部と
を有し、
前記状態遷移追加部は、新たに取得された前記出力信号の組が前記状態遷移識別情報記憶部に記憶されていない場合に、当該出力信号の組と、当該出力信号の組に新たに割り当てた前記状態遷移識別情報とを対応付けて前記状態遷移識別情報記憶部に記憶させると共に、前記状態遷移回数記憶部に記憶される、当該状態遷移識別情報により識別される前記状態遷移が生じた回数を初期化し、新たに取得された前記出力信号の組が前記状態遷移識別情報記憶部に記憶されている場合に、当該出力信号の組に対応付けられた前記状態遷移識別情報を前記状態遷移識別情報記憶部から読み出し、
前記状態遷移カウント部は、新たに取得された前記出力信号の組が前記状態遷移識別情報記憶部に記憶されている場合に、当該状態遷移識別情報に対応して前記状態遷移回数記憶部に記憶された前記回数をインクリメントする
請求項2記載の観測装置。 - 前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移が発生した回数が予め定められたしきい値未満である場合に、当該状態遷移が発生したことを通知する状態遷移通知部を更に備える請求項2記載の観測装置。
- 当該観測装置の利用者により指定された前記状態遷移を記憶する指定情報記憶部と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する状態遷移が、前記指定情報記憶部に記憶された前記出力信号の組に対応する状態遷移と一致する場合に、指定された前記状態遷移と一致する状態遷移が発生したことを通知する状態遷移通知部を更に備える請求項2記載の観測装置。 - 前記状態遷移出力部は、一のサイクルにおいて取得された前記出力信号と当該一のサイクルの次のサイクルにおいて取得された前記出力信号との組に対応する前記状態遷移が生じた回数を、当該一のサイクルにおいて取得された前記出力信号を行又は列の一方とし、当該一のサイクルの次のサイクルにおいて取得された前記出力信号を行又は列の他方とする表のセルに表示する表形式表示部を有する請求項2記載の観測装置。
- 前記表形式表示部は、予め定められた回数以上発生した前記状態遷移を表示するセルを、当該予め定められた回数以上発生していない前記状態遷移を表示するセルと区別可能な表示形式により表示する請求項6記載の観測装置。
- 当該観測装置の利用者により少なくとも1つのセルを選択させる状態遷移選択部と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する状態遷移が、選択された前記セルに対応する前記状態遷移と一致する場合に、選択された前記状態遷移と一致する状態遷移が発生したことを通知する状態遷移通知部と
を更に備える請求項6記載の観測装置。 - 前記状態遷移出力部は、各サイクルにおいて取得された前記出力信号のそれぞれをノードとし、連続する2つのサイクルにおいて取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移を1サイクル目の前記出力信号を示す前記ノードから2サイクル目の前記出力信号を示す前記ノードへのリンクとした状態遷移図を表示する状態遷移図表示部を有し、
当該観測装置の利用者により少なくとも1つのリンク又は少なくとも2つのノードを選択させる状態遷移選択部と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する状態遷移が、選択された前記リンク又は前記少なくとも2つの前記ノードに対応する前記状態遷移と一致する場合に、選択された前記状態遷移と一致する状態遷移が発生したことを通知する状態遷移通知部と
を更に備える請求項2記載の観測装置。 - 前記状態遷移出力部は、各サイクルにおいて取得された前記出力信号のそれぞれをノードとし、連続する2つのサイクルにおいて取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移を1サイクル目の前記出力信号を示す前記ノードから2サイクル目の前記出力信号を示す前記ノードへのリンクとした状態遷移図を表示する状態遷移図表示部を有し、
前記状態遷移図表示部は、第1の前記状態遷移図に表示する前記リンクのうち、当該観測装置の利用者により指定された第2の前記状態遷移図に含まれない前記リンクを、前記第2の状態遷移図に含まれる前記リンクと区別可能に表示する
請求項1記載の観測装置。
- 当該観測装置の利用者により指定された出力信号の列を含む前記出力信号の組に対応する前記状態遷移を前記状態遷移記憶部から検索する状態遷移検索部と、
前記状態遷移検索部により検索されたそれぞれの前記状態遷移に前記出力信号の列が連続して含まれる個数に基づいて、前記出力信号の列が繰り返し出力される個数の度数分布を算出する度数分布算出部と
を更に備え、
前記状態遷移出力部は、前記度数分布算出部が算出した前記度数分布のヒストグラムを表示するヒストグラム表示部を有する
請求項2記載の観測装置。 - 前記状態遷移出力部は、先頭の前記出力信号から所定の数の前記出力信号が同一の値をとる第1の前記出力信号の組及び第2の前記出力信号の組が取得された場合において、前記所定の数の前記出力信号と、前記第1の出力信号の組における前記所定の数の前記出力信号に続く少なくとも1つの前記出力信号と、前記第2の出力信号の組における前記所定の数の前記出力信号に続く少なくとも1つの前記出力信号とを、タイミングチャートとして表示するタイミングチャート表示部を有する
請求項1記載の観測装置。 - 前記タイミングチャート表示部により表示された、前記第1の出力信号の組における前記少なくとも1つの出力信号と、前記第2の出力信号の組における前記少なくとも1つの出力信号のいずれかを、当該観測装置の利用者により選択させる後続出力信号選択部を更に備え、
前記タイミングチャート表示部は、前記第1の出力信号の組における前記少なくとも1つの出力信号が選択された場合に、前記所定の数の前記出力信号及び前記第1の出力信号の組における前記少なくとも1つの出力信号を表示し、前記第2の出力信号の組における前記少なくとも1つの出力信号の表示を消去する
請求項12記載の観測装置。 - 前記第1の出力信号の組と、前記第2の出力信号の組と、先頭の前記出力信号から前記所定の数より大きい数の前記出力信号が前記第1の出力信号の組と同一の値をとる第3の前記出力信号の組とが取得された場合において、
前記タイミングチャート表示部は、
前記所定の数の前記出力信号と、前記第1の出力信号の組及び前記第3の出力信号の組に共通する、前記所定の数の前記出力信号に続く少なくとも1つの前記出力信号と、前記第2の出力信号の組における前記所定の数の前記出力信号に続く少なくとも1つの前記出力信号とを、タイミングチャートとして表示し、
前記第1の出力信号の組及び前記第3の出力信号の組に共通する前記少なくとも1つの出力信号が選択された場合に、前記第1の出力信号の組及び前記第3の出力信号の組に共通する前記所定の数より大きい数の前記出力信号と、前記第1の出力信号の組における、前記第1の出力信号の組及び前記第3の出力信号の組に続く少なくとも1つの前記出力信号と、前記第3の出力信号の組における、前記第1の出力信号の組及び前記第3の出力信号の組に続く少なくとも1つの前記出力信号とを表示する
請求項13記載の観測装置。 - 前記出力信号取得部が取得した前記出力信号が予め定められた条件を満たす場合に、前記出力信号が初期状態であることを検出する初期状態検出部と、
前記初期状態でない前記出力信号を取得してから前記初期状態である前記出力信号を取得する直前までの間に取得された前記出力信号の組を、前記出力信号の状態遷移として取得する状態遷移取得部と
を更に備え、
前記状態遷移追加部は、前記状態遷移取得部により取得された前記状態遷移が前記状態遷移記憶部に記憶されていない場合に、当該状態遷移を前記状態遷移記憶部に追加して記憶させる
請求項1記載の観測装置。 - 観測対象の装置が出力する信号を入力し、当該観測対象装置の動作を観測する観測方法であって、
前記観測対象装置が出力する出力信号を取得する出力信号取得段階と、
連続する2以上のサイクルにおいて取得された前記出力信号の組を、前記出力信号の状態遷移として記憶する状態遷移記憶段階と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移が前記状態遷移記憶段階において記憶されていない場合に、新たに取得された前記出力信号の組を、新たな前記状態遷移として前記状態遷移記憶段階において追加して記憶させる状態遷移追加段階と、
前記状態遷移記憶段階において記憶された前記出力信号の状態遷移を出力する状態遷移出力段階と
を備える観測方法。 - 観測対象の装置が出力する信号を入力し、当該観測対象装置の動作を観測する観測装置のプログラムであって、
当該プログラムは、前記観測装置を、
前記観測対象装置が出力する出力信号を取得する出力信号取得部と、
連続する2以上のサイクルにおいて取得された前記出力信号の組を、前記出力信号の状態遷移として記憶する状態遷移記憶部と、
前記出力信号取得部により新たに取得された前記出力信号の組に対応する前記状態遷移が前記状態遷移記憶部に記憶されていない場合に、新たに取得された前記出力信号の組を、新たな前記状態遷移として前記状態遷移記憶部に追加して記憶させる状態遷移追加部と、
前記状態遷移記憶部に記憶された前記出力信号の状態遷移を出力する状態遷移出力部と
として機能させるプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004298264A JP4093489B2 (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 観測装置、観測方法、及びプログラム |
US11/163,292 US20060080626A1 (en) | 2004-10-12 | 2005-10-13 | Visualization method and apparatus for logic verification and behavioral analysis |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004298264A JP4093489B2 (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 観測装置、観測方法、及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006113696A JP2006113696A (ja) | 2006-04-27 |
JP4093489B2 true JP4093489B2 (ja) | 2008-06-04 |
Family
ID=36146814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004298264A Expired - Fee Related JP4093489B2 (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 観測装置、観測方法、及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060080626A1 (ja) |
JP (1) | JP4093489B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4107612B2 (ja) | 2006-02-28 | 2008-06-25 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 観測装置、観測方法およびプログラム |
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-
2004
- 2004-10-12 JP JP2004298264A patent/JP4093489B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-10-13 US US11/163,292 patent/US20060080626A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006113696A (ja) | 2006-04-27 |
US20060080626A1 (en) | 2006-04-13 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071003 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20071207 |
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A975 | Report on accelerated examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
RD14 | Notification of resignation of power of sub attorney |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080229 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110314 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |