JP4077235B2 - 光走査装置のビーム位置調整方法 - Google Patents

光走査装置のビーム位置調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4077235B2
JP4077235B2 JP2002116214A JP2002116214A JP4077235B2 JP 4077235 B2 JP4077235 B2 JP 4077235B2 JP 2002116214 A JP2002116214 A JP 2002116214A JP 2002116214 A JP2002116214 A JP 2002116214A JP 4077235 B2 JP4077235 B2 JP 4077235B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
movable
laser beam
mirror
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002116214A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003307698A (ja
Inventor
紀雄 黒沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba TEC Corp
Original Assignee
Toshiba TEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba TEC Corp filed Critical Toshiba TEC Corp
Priority to JP2002116214A priority Critical patent/JP4077235B2/ja
Priority to US10/414,003 priority patent/US7005631B2/en
Publication of JP2003307698A publication Critical patent/JP2003307698A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4077235B2 publication Critical patent/JP4077235B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/12Scanning systems using multifaceted mirrors
    • G02B26/127Adaptive control of the scanning light beam, e.g. using the feedback from one or more detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光走査装置のビーム位置調整方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、高速デジタル複写装置や高速プリント装置などの画像形成装置において、光走査装置として、2以上の光ビームを同時に走査して感光体ドラムの帯電領域を露光するマルチビーム露光装置を使用したものが知られている。
【0003】
マルチビーム露光装置は、例えば、レーザビームを放射する複数の半導体レーザ素子と、各半導体レーザ素子から放射されたレーザビームの断面ビーム径を、要求された解像度に対応するように整え、各レーザビームの副走査方向(感光体ドラムの軸線方向と直交する方向)の間隔を所定の間隔に設定する光学部材と、各レーザビームを主走査方向(感光体ドラムの軸線方向)に沿って一括して偏向走査する偏向装置と、この偏向装置により偏向された各レーザビームを感光体ドラムの帯電領域に導き、結像させる結像レンズ系等を有する。
【0004】
このようなマルチビーム露光装置に使用される光学部材として、電磁コイルへの通電制御によりミラー面の角度を微小変化させることができるガルバノミラーを使用している。
例えば、固定レーザビームと可動レーザビームの2本のレーザビームを同時に走査させるマルチビーム露光装置では、ガルバノミラーのミラー面の角度を微調整することで可動レーザビームの副走査方向の間隔を調整する。
【0005】
この間隔の調整は、フォトダイオードなどのセンサを使用して行っている。すなわち、レーザビームをセンサの受光面上を走査させてレーザビームが通過する受光面上の位置を検出し、これをレーザビーム個々について行うことでレーザビーム相互間の間隔を検出し、この検出結果に基づいて間隔を調整するようにしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで固定レーザビームの副走査方向の位置は固定されているので本来であれば変化しないはずであるが、温度変化や電圧変化等の影響を受けて変化する場合があり、このような場合には固定レーザビームと可動レーザビームとの間隔が設定された間隔からずれてしまい精度の高いビーム走査ができなくなる問題があった。
【0007】
本発明は、このような問題を解決するために為されたもので、固定光ビームと可動光ビームとの位置調整を高い精度で行うことができ、精度の高いビーム走査ができる走査装置のビーム位置調整方法を提供する。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、駆動制御によってミラー面の角度を可変できるガルバノミラーを使用するとともに走査位置が固定された固定レーザビーム等の固定光ビームと走査位置がガルバノミラーのミラー面の角度調整により可動される可動レーザビーム等の可動光ビームとの通過位置を検出するセンサを使用した光走査装置において、センサの受光面上における固定光ビームの通過位置を検出し、この検出した固定光ビームの通過位置に対するセンサの受光面上における可動光ビームの通過位置を決定し、ガルバノミラーのミラー面の角度を調整して可動光ビームをその決定した通過位置に追い込むための制御を行い、可動光ビームの通過位置への移動終了が検出されるまで、固定光ビームの通過位置検出、可動光ビームの通過位置決定、可動光ビームの決定した通過位置への追い込み制御を繰り返す光走査装置のビーム位置調整方法にある。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
図1は、光走査装置としてマルチビーム露光装置を使用した画像形成装置、すなわち、デジタル複写装置の構成を概略的に示す図である。デジタル複写装置1は、スキャナ部10とプリンタ部20を有する。
【0010】
前記スキャナ部10は、矢印方向に移動可能に形成された第1キャリッジ11、この第1キャリッジ11に従動して移動する第2キャリッジ12、この第2キャリッジ12からの光に所定の結像特性を与える光学レンズ13、この光学レンズ13により所定の結像特性が与えられた光を光電変換して電気信号を出力するCCDセンサなどの光電変換素子14、原稿15を保持する原稿テーブル16、この原稿テーブル16に原稿15を押し付ける原稿固定カバー17等を有している。
【0011】
前記第1キャリッジ11には、原稿15を照明する光源18、この光源18が放射する光で照明されて原稿15から反射された反射光を前記第2キャリッジ12に向けて反射するミラー11aが設けられている。
前記第2キャリッジ12には、第1キャリッジ11のミラー11aから伝達された光を90°折り曲げるミラー12a及びこのミラー12aで折り曲げられた光をさらに90°折り曲げるミラー12bが設けられている。
【0012】
前記原稿テーブル16に載置された原稿15は、光源18によって照明され、画像の有無に対応する光の明暗が分布する反射光を反射する。原稿15からの反射光は画像情報としてミラー11a、12a及び12bを経由して、光学レンズ13に入射される。前記光学レンズ13に入射された原稿15からの反射光は、この光学レンズ13によって光電変換素子14の受光面に集光される。そして、第1キャリッジ11と第2キャリッジ12が相対速度2対1で原稿テーブル16に沿って移動することで原稿15の画像情報が光電変換素子14によって読み取られ、画像の濃淡を示すデジタル信号に変換される。
【0013】
前記プリンタ部20は、マルチビーム露光装置21と記録用紙Pに電子写真方式で画像形成する画像形成部22を有する。前記画像形成部22は、表面を感光層で形成したドラム状の感光体、すなわち、感光体ドラム23と、この感光体ドラム23の表面に帯電により所定極性の電位を与える帯電装置24と、前記マルチビーム露光装置21により感光体ドラム23の表面に形成された静電潜像にトナーを供給して現像する現像装置25と、この現像装置25による現像により形成されたトナー像に所定の電界を与えてそのトナー像を記録用紙Pに転写する転写装置26と、転写後の記録用紙Pを感光体ドラム23から分離する分離装置27と、転写後に感光体ドラム23の表面に残った転写残りトナーを除去し、感光体ドラム23の電位分布を帯電前の状態に戻すクリーニング装置28等を備えている。
【0014】
なお、帯電装置24、現像装置25、転写装置26、分離装置27及びクリーニング装置28は、感光体ドラム23が回転する矢印方向に沿って順に配列されている。また、前記マルチビーム露光装置21からのレーザビームは帯電装置24と現像装置25との間の所定位置Xに照射されるようになっている。
【0015】
前記スキャナ部10で原稿15から読み取られた画像信号は、画像処理部(図示せず)において例えば輪郭補正や中間調表示のための階調処理等が行われて印字信号に変換される。そして、この印字信号がマルチビーム露光装置21の半導体レーザ素子から放射されるレーザビームの光強度を変化するレーザ変調信号に変換される。
【0016】
マルチビーム露光装置21からのレーザビームによって感光体ドラム23の所定位置Xに画像信号に応じた静電潜像が形成される。感光体ドラム23の回転により静電潜像は現像装置25によりトナーが供給されて現像され、さらに、転写装置26と対向する位置に搬送される。一方、用紙カセット29から、給紙ローラ30及び分離ローラ31により1枚の記録用紙Pが取り出され、アライニングローラ32でタイミングが整合されて転写装置26と感光体ドラム23との対向位置に搬送される。そして、転写装置26からの電界によって感光体ドラム23に形成されたトナー像は記録用紙P上に転写される。
【0017】
トナー像が転写された記録用紙Pは、分離装置27により感光体ドラム23から分離され、搬送装置33により定着装置34に案内される。定着装置34に案内された記録用紙Pは、加熱、加圧によってトナーが定着され、排紙ローラ35によりトレイ36に排出される。
【0018】
一方、転写装置26によりトナー像を転写した後の感光体ドラム23は、引き続く回転によりクリーニング装置28の位置に移動し、表面に残っている転写残りトナーが除去され、さらに、表面電位が帯電前の初期状態に戻され、次の画像形成に対処するようになる。
以上のプロセスが繰り返されることで、連続した画像形成が可能になる。
【0019】
前記マルチビーム露光装置21は、図2に示すように光ビーム発生源として半導体レーザ素子41a,41bを設けている。なお、図2は、マルチビーム露光装置21を、ハウジング(本体フレーム)を取り除き、又、一部ミラーを省略して、レーザビームの光路を同一平面上に展開した状態を示している。
【0020】
前記半導体レーザ素子41a,41bは、所定波長のレーザビームLa,Lbを放射する。レーザビームLa,Lbは、それぞれ偏向前光学系42a,42bを通過してポリゴンミラー43aを有する偏向装置43に案内される。すなわち、レーザビームLaは、偏向前光学系42aを通過し、さらにハーフミラー42c及び副走査方向に関して収束性を与えるシリンダレンズ42dを通過してポリゴンミラー43aを有する偏向装置43に案内され、レーザビームLbは、偏向前光学系42bを通過し、さらに前記ハーフミラー42cで反射した後、前記シリンダレンズ42dを通過してポリゴンミラー43aを有する偏向装置43に案内される。
【0021】
前記偏向前光学系42aは、半導体レーザ素子41aからのレーザビームLaの断面スポット形状を所定の形状に整えるもので、半導体レーザ素子41aからの発散性のレーザビームに所定の収束性を与える有限焦点レンズ44a、この有限焦点レンズ44aを通過したレーザビームの断面ビーム形状を所定の形状に整える絞り45a、及びこの絞り45aを通過したレーザビームを折り曲げて前記ハーフミラー42cに案内する反射ミラー46を備えている。
【0022】
また、前記偏向前光学系42bは、半導体レーザ素子41bからのレーザビームLbの断面スポット形状を所定の形状に整えるもので、半導体レーザ素子41bからの発散性のレーザビームに所定の収束性を与える有限焦点レンズ44b、この有限焦点レンズ44bを通過したレーザビームの断面ビーム形状を所定の形状に整える絞り45b、及びこの絞り45bを通過したレーザビームを折り曲げて前記ハーフミラー42cに案内するとともに2つのレーザビームLa,Lbの副走査方向の間隔が所定の間隔となるようにビーム位置を調整するガルバノミラー47を備えている。
【0023】
なお、有限焦点レンズ44a,44bとしては、例えば、非球面ガラスレンズ、または球面ガラスレンズに紫外線硬化プラスチック非球面レンズを貼り合わせた単レンズを使用している。また、ガルバノミラー47は、レーザビームを反射する方向を任意の方向に微小量変更可能な光路変更装置付きのミラーである。
【0024】
前記反射ミラー46及びガルバノミラー47で反射したレーザビームLa,Lbはハーフミラー42c上において副走査方向に所定の間隔を開けた2本のレーザビームL(La+Lb)となり、シリンダレンズ42dを通過して偏向装置43に案内される。偏向装置43は、例えば外周に8面の平面反射鏡を備えた正多角形のポリゴンミラー43aをモータ43bによって所定の速度で回転するようになっている。
【0025】
偏向装置43と像面(感光体ドラム23の所定位置Xに対向する位置であって設計上の焦平面)との間には、偏向装置43からのレーザビームLに所定の光学特性を与える第1、第2の結像レンズ48a,48bからなる偏向後光学系48が配置されている。また、第2の結像レンズ48bを通過したレーザビームLが感光体ドラム23の所定位置Xにおける画像形成領域を走査する手前でそのレーザビームLの通過タイミング及びその通過位置を検出するビーム位置検出センサ49、第2の結像レンズ48bを通過したレーザビームLを反射して前記ビーム位置検出センサ49に案内する反射ミラー50が配置されている。なお、前記ビーム位置検出センサ49は、受光面が感光体ドラム23の表面の位置と光学的に同等の距離となるように配置されている。
【0026】
図3は前記マルチビーム露光装置21の制御部の構成を示す一部ブロックを含む図で、制御部本体を構成するCPU(中央処理装置)51を設け、このCPU51によって不揮発性メモリ52及び画像メモリ53に対するデータの書き込みや読み出しの制御を行うようになっている。また、前記CPU51によって前記偏向装置43のモータ43bを駆動制御するモータ駆動回路54の制御、前記ビーム位置検出センサ49から検出信号を取り込んでビーム位置を検出するビーム位置検出回路55の制御及び操作パネル56の制御を行うようになっている。さらに、前記CPU51によって前記半導体レーザ素子41a,41bを駆動するレーザ駆動回路57a,57bの制御及び前記ガルバノミラー47を駆動するD/Aコンバータを備えたガルバノミラー駆動回路58の制御を行うようになっている。
【0027】
前記半導体レーザ素子41a,41bは、それぞれレーザ駆動回路57a,57bにより所定のタイミングで前記画像メモリ53に記憶されている画像データによりレーザビームLa,Lbを放射する。この場合、半導体レーザ素子41a,41bは偏向装置43のポリゴンミラー43aが所定の回転数に達するまではレーザビームを放射することはなく、ポリゴンミラー43aが所定の回転数に達してCPU51から所定の制御コマンドが出力され、レーザ駆動電流が所定の大きさに達すると、レーザビームLa,Lbを放射する。
【0028】
前記ガルバノミラー47は、図4に示すように、ミラー100の角度を変位可能に保持する板ばね101及びこの板ばね101を支持するフレーム102を有する。なお、板ばね101には、ベリリウム銅やばね用ステンレス鋼SU304等が用いられる。前記板ばね101には、この板ばね101を変位させるための力を発生する推力発生部103を構成するボビン103a及びこのボビン103aの内側に収納されるコイル103bを設けている。
【0029】
前記板ばね101は、前記ミラー100を接着支持する支持面101aと、前記フレーム102に対する取り付けに使用される2つの保持面101bと、この各保持面101bと前記支持面101aを連結する捩れ変形部である2つのトーションバー部101cとで形成され、トーションバー101cが上下方向に捩じれることにより前記ミラー100を上下方向に回動するようになっている。
また、前記板ばね101は、フレーム102に設けられているネジ穴102aに、例えば樹脂により形成されたばね押え104とともにネジによって固定されるようになっている。
【0030】
前記コイル103bの内側には、このコイル103bに電流が流れた場合に前記板ばね101を所定量上下方向に回動させる力を生じさせるための磁界発生を提供するマグネット103cが収納されるようになっている。このマグネット103cは露光装置本体の所定の位置に固定するために使用される固定板105の中央部に固定されるようになっている。そして、ミラー100を支持した板ばね101をフレーム102に取り付け、このフレーム102を前記固定板105に一体的に取り付けている。
【0031】
また、マグネット103c及びコイル103bを収納したボビン103aをフレーム102の中空内に収納し、このフレーム102とボビン103aとの間の間隙に、外乱振動等によりミラー100が振動しないように、例えば、シリコーンゲルのようなダンピング材を充填している。なお、フレーム102は、マグネット103cからの磁力線に対する磁気回路を構成するヨークとして機能するようになっている。
【0032】
前記ガルバノミラー47においては、CPU51からガルバノミラー駆動回路58に対して、例えば、8ビットの指示値が供給され、これによりガルバノミラー駆動回路58がガルバノミラー47のコイル103bに対して所定極性の電流を通電し、これによりコイル103bとマグネット103cとの間に電磁力が生じ、これにより板ばね101の支持面101aが捩じれ変形しミラー100が指示値に応じた分だけ上下方向に回動する。そして、ミラー100の回動によってこのミラー面に反射するレーザビームの上下方向、すなわち、副走査方向の位置が調整される。そして、コイル103bに対する通電電流を保持することでミラー100の角度が保持される。ミラー100の回動する角度はCPU51からの指示値によって決まる。8ビットの指示値であれば、ミラー100の角度を256段階に制御することができる。
【0033】
前記ビーム位置検出センサ49は、図5に示すように、直角三角形状のセンサ49aを有し、このセンサ49aの受光面上に固定レーザビームSと可動レーザビームMを走査させてその副走査方向の位置を検出するようになっている。解像度が例えば600dpiのときには固定レーザビームSと可動レーザビームMとの副走査方向の間隔は42.3μmに設定される。
【0034】
前記ビーム位置検出センサ49からの出力をビーム位置検出回路55は、電流/電圧変換回路、増幅回路、積分回路を介して取り込み、最終的に2値化して前記CPU51に供給している。前記センサ49aからの出力値は、走査するビーム位置によってレーザビームの受光時間が異なるため異なる。従って、前記センサ49aからの出力値によってレーザビームがセンサ49aの受光面のどの位置を通過したかを検出することができる。
【0035】
前記半導体レーザ素子41aからの固定レーザビームSと前記半導体レーザ素子41bからの可動レーザビームMとの間隔の調整は図6に示す流れ図に基づいて行われる。すなわち、偏向装置43のポリゴンミラー43aを回転駆動している状態で、先ず、S1にて、半導体レーザ素子41aのみをオンし、固定レーザビームSがセンサ49aの受光面のどの位置を通過したかを検出して固定レーザビームSの位置を検出する。
【0036】
続いて、S2にて、固定レーザビームSに対する可動レーザビームMの追い込み位置を決定する。これは、例えば、解像度が600dpiであれば固定レーザビームSから42.3μm離れた位置が追い込み位置となる。そして、S3にて、半導体レーザ素子41bのみをオンし、ガルバノミラー47を調整し可動レーザビームMを追い込み位置に所定のステップで近づける制御を行う。
【0037】
続いて、S4にて、可動レーザビームMが追い込み位置に移動したかをチェックし、移動していなければ、S1にルーチンを戻し、再度S1から処理を繰り返す。そして、S4にて、可動レーザビームMが追い込み位置に移動したことを判断すると処理を終了する。
【0038】
このように、固定レーザビームSと可動レーザビームMとの副走査方向の間隔を調整する場合に、ビーム位置検出センサ49のセンサ49aを使用して先ず固定レーザビームSの位置を検出し、この固定レーザビームSの位置に対する可動レーザビームMの追い込み位置を決定し、可動レーザビームMを追い込み位置に所定のステップで近づける。
【0039】
そして、所定のステップで近づける毎に可動レーザビームMが追い込み位置に移動したかをチェックし、移動が終了していなければ、再び固定レーザビームSの位置を検出し、固定レーザビームSに対する可動レーザビームMの追い込み位置を決定し、可動レーザビームMを追い込み位置に所定のステップで近づけるという処理を繰り返す。
【0040】
このように、可動レーザビームMを移動させる度に固定レーザビームSの位置を検出し可動レーザビームMの追い込み位置を更新するようにしているので、温度変化や電圧変動等によって固定レーザビームSの位置が変化してもその変化した位置を基準に可動レーザビームMの追い込み位置が改めて決定され追い込みが行われるので、固定レーザビームSと可動レーザビームMとの位置調整を高い精度で行うことができる。これにより、精度の高いレーザビーム走査ができる。
【0041】
なお、この実施の形態は、可動レーザビームMを移動させる度に固定レーザビームSの位置を検出し可動レーザビームMの追い込み位置を更新するようにしたが必ずしもこれに限定するものではない。例えば、図7に示す流れ図に従って固定レーザビームSと可動レーザビームMの間隔調整を行ってもよい。
【0042】
この調整処理は、偏向装置43のポリゴンミラー43aを回転駆動している状態で、先ず、S11にて、半導体レーザ素子41aのみをオンし、固定レーザビームSがセンサ49aの受光面のどの位置を通過したかを検出して固定レーザビームSの位置を検出する。
【0043】
続いて、S12にて、固定レーザビームSに対する可動レーザビームMの追い込み位置を決定する。そして、S13にて、半導体レーザ素子41bのみをオンし、ガルバノミラー47を調整し可動レーザビームMを追い込み位置に所定のステップで近づける制御を行う。
【0044】
続いて、S14にて、可動レーザビームMが追い込み位置に移動したかをチェックし、移動していなければ、S13にルーチンを戻し、可動レーザビームMを追い込み位置に所定のステップで近づける制御を繰り返す。S14にて、可動レーザビームMが追い込み位置に移動したことを判断すると、S15にて、半導体レーザ素子41aのみをオンし、固定レーザビームSがセンサ49aの受光面のどの位置を通過したかを再度検出して固定レーザビームSの位置を検出する。
【0045】
そして、S16にて、固定レーザビームSの位置に変化があることを判断すると、ルーチンをS12に戻して、再度、S12、S13、S14、S15の処理を繰り返す。また、S16にて、固定レーザビームSの位置に変化がないことを判断すると処理を終了する。
【0046】
このように、可動レーザビームMを移動させ、追い込み位置への移動が終了する毎に固定レーザビームSの位置を再度確認し、このとき、もし、位置が変化していれば、再度可動レーザビームの追い込み位置の決定、追い込み制御を行い、固定レーザビームSの位置の再確認において位置の変化がなければ固定レーザビームSと可動レーザビームMの位置として決定するようにしている。従って、この場合も、固定レーザビームSと可動レーザビームMとの位置調整を高い精度で行うことができ、精度の高いレーザビーム走査ができる。
【0047】
なお、この実施の形態においては、光ビームとしてレーザビームを使用した場合を例として述べたがこれに限定されないのは勿論である。
また、この実施の形態においては、光走査装置として、マルチビーム露光装置を使用したものについて述べたがこれに限定されないのは勿論である。
【0048】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、固定光ビームと可動光ビームとの間隔を常に高い精度で保持でき、精度の高いビーム走査ができる光走査装置のビーム位置調整方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るマルチビーム露光装置を有するデジタル複写装置の構成を概略的に示す図。
【図2】同実施の形態に係るマルチビーム露光装置におけるレーザビームの光路を同一平面上に展開した状態を示す平面図。
【図3】同実施の形態に係るマルチビーム露光装置における制御部の構成を示す一部ブロックを含む図。
【図4】同実施の形態におけるガルバノミラーの構成を示す分解斜視図。
【図5】同実施の形態におけるビーム位置検出センサの要部構成を示す図。
【図6】同実施の形態におけるビーム位置調整処理を示す流れ図。
【図7】本発明の他の実施の形態に係るビーム位置調整処理を示す流れ図。
【符号の説明】
21…マルチビーム露光装置
41a,41b…半導体レーザ素子
43…偏向装置
47…ガルバノミラー
49…ビーム位置検出センサ

Claims (2)

  1. 駆動制御によってミラー面の角度を可変できるガルバノミラーを使用するとともに走査位置が固定された固定光ビームと走査位置が前記ガルバノミラーのミラー面の角度調整により可動される可動光ビームとの通過位置を検出するセンサを使用した光走査装置において、
    前記センサの受光面上における固定光ビームの通過位置を検出し、この検出した固定光ビームの通過位置に対する前記センサの受光面上における可動光ビームの通過位置を決定し、前記ガルバノミラーのミラー面の角度を調整して可動光ビームをその決定した通過位置に追い込むための制御を行い、可動光ビームの通過位置への移動終了が検出されるまで、固定光ビームの通過位置検出、可動光ビームの通過位置決定、可動光ビームの決定した通過位置への追い込み制御を繰り返すことを特徴とする光走査装置のビーム位置調整方法。
  2. 駆動制御によってミラー面の角度を可変できるガルバノミラーを使用するとともに走査位置が固定された固定光ビームと走査位置が前記ガルバノミラーのミラー面の角度調整により可動される可動光ビームとの通過位置を検出するセンサを使用した光走査装置において、
    前記センサの受光面上における固定光ビームの通過位置を検出し、この検出した固定光ビームの通過位置に対する前記センサの受光面上における可動光ビームの通過位置を決定し、前記ガルバノミラーのミラー面の角度を調整して可動光ビームをその決定した通過位置に向けて追い込む制御を行い、可動光ビームの通過位置への移動が終了すると、再度、前記センサの受光面上における固定光ビームの通過位置を検出し、固定光ビームの通過位置に変化がなければ可動光ビームの通過位置への追い込みを終了し、固定光ビームの通過位置に変化があると、改めて固定光ビームの通過位置に対する前記センサの受光面上における可動光ビームの通過位置を決定してその可動光ビームの通過位置への追い込みを行わせることを特徴とする光走査装置のビーム位置調整方法。
JP2002116214A 2002-04-18 2002-04-18 光走査装置のビーム位置調整方法 Expired - Fee Related JP4077235B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002116214A JP4077235B2 (ja) 2002-04-18 2002-04-18 光走査装置のビーム位置調整方法
US10/414,003 US7005631B2 (en) 2002-04-18 2003-04-16 Beam position adjusting method for optical scanning device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002116214A JP4077235B2 (ja) 2002-04-18 2002-04-18 光走査装置のビーム位置調整方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003307698A JP2003307698A (ja) 2003-10-31
JP4077235B2 true JP4077235B2 (ja) 2008-04-16

Family

ID=29207744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002116214A Expired - Fee Related JP4077235B2 (ja) 2002-04-18 2002-04-18 光走査装置のビーム位置調整方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7005631B2 (ja)
JP (1) JP4077235B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009053325A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Canon Inc 走査光学装置及びその調整方法
JP6584087B2 (ja) * 2015-02-17 2019-10-02 キヤノン株式会社 走査光学装置
JP6790171B2 (ja) * 2019-05-07 2020-11-25 キヤノン株式会社 走査光学装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3209690B2 (ja) * 1996-11-15 2001-09-17 株式会社東芝 ビーム光走査装置および画像形成装置
JP3172092B2 (ja) * 1996-06-03 2001-06-04 株式会社東芝 ビーム光走査装置および画像形成装置
JP4567829B2 (ja) 1999-09-24 2010-10-20 東芝テック株式会社 ビーム光走査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003307698A (ja) 2003-10-31
US20030197118A1 (en) 2003-10-23
US7005631B2 (en) 2006-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100477495B1 (ko) 광-주사 광학 시스템 및 이를 포함한 이미지-형성 장치
JPH0432389B2 (ja)
US5218413A (en) Optical device for image forming apparatus
JP2000147398A (ja) 露光装置およびこの露光装置を含む画像形成装置
JP4250156B2 (ja) 電子写真方式画像化デバイスおよび像面湾曲の補正方法
US20050146595A1 (en) Beam position adjusting method and device for optical scanning apparatus
US7813021B2 (en) Light scanning apparatus and image forming apparatus including light scanning apparatus
JP2007047748A (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP4077235B2 (ja) 光走査装置のビーム位置調整方法
EP1009157B1 (en) Color registration
US6958471B2 (en) Method and apparatus for forming image
JP2007047749A (ja) 光走査装置、画像形成装置及びレンズ
US6144478A (en) Flexible arm piezoelectric lens mover
JP4590111B2 (ja) 光走査装置及びそれを有する画像形成装置
JP2005049509A (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP2978688B2 (ja) 光学装置及び画像形成装置
JP4669656B2 (ja) 電子写真装置
US6888561B2 (en) Beam control device
JP4060423B2 (ja) 画像形成装置
JP2008003373A (ja) 走査光学装置およびこれを用いた画像形成装置
JP2988682B2 (ja) 光学装置及びこの光学装置が組込まれる画像形成装置或いは画像読取装置
JPH11212008A (ja) 光走査装置、画像形成装置及び光走査装置の光軸調整装置
JPH10104896A (ja) 画像形成装置
JPH11242169A (ja) 露光装置
JPH11227251A (ja) マルチビーム露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050322

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080131

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140208

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees