JP4071382B2 - Driving method of plasma display panel - Google Patents

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Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
【0002】
本発明は、マトリクス表示方式のプラズマディスプレイパネル(以下、PDPと称する)の駆動方法に関する。
【従来の技術】
【0003】
近年、表示装置の大型化に伴い、薄型の表示装置が要求され、各種の薄型表示装置が実用化されている。AC(交流放電)型のPDPは、かかる薄型表示装置の1つとして着目されている。
【0004】
AC型のPDPは、複数の列電極(アドレス電極)と、これら列電極と直交して配列されておりかつ一対にて1走査ラインを形成する複数の行電極対とを備えている。これら各行電極対及び列電極は、放電空間に対して誘電体層で被覆されており、行電極対と列電極との交点にて1画素に対応した放電セルが形成される構造となっている。
【0005】
この際、PDPは放電現象を利用している為、上記放電セルは、"発光"及び"非発光"の2つの状態しかもたない。そこで、かかるPDPにより中間調の輝度表示を実現させるべく、サブフィールド法を用いる。サブフィールド法では、1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、各サブフィールド毎に、画素データ(Nビット)の各ビット桁の重み付けに対応した期間長を有する発光期間を夫々割り当てて発光駆動を行う。
【0006】
図1は、かかるサブフィールド法を用いて中間調の輝度表示を行うプラズマディスプレイ装置の概略構成を示す図である。
【0007】
図1において、駆動装置100は、入力されたビデオ信号を1画素毎に対応したディジタルの画素データに変換し、この画素データに対応した画素データパルスをPDP10の列電極D1〜Dmに印加すると共に、以下に説明するが如き各種の駆動パルスを行電極X1〜Xn及びY1〜Ynに印加して発光駆動制御を行う。尚、行電極X及びYは一対にてPDP10の1行を構成しており、上記列電極D1〜Dm各々に交叉して形成されている。これら列電極及び行電極対は、図示せぬ誘電体を挟んで形成されており、1組の列電極及び行電極対が交差する部分に1つの画素セルが形成される。
【0008】
図2は、上記駆動装置100による1フィールド期間での発光駆動フォーマットの一例を示す図である。
【0009】
図2に示されるように、1フィールドの表示期間は、サブフィールドSF1〜SF4なる4つのサブフィールドに分割されており、各サブフィールドにおいて、一斉リセット行程Rc、画素データ書込行程Wc、発光維持行程Ic、及び消去行程Eを夫々実行する。
【0010】
図3は、これら各行程を実施すべく、駆動装置100がPDP10の列電極及び行電極対に印加する各種駆動パルスの印加タイミング(1サブフィールド内での)を示す図である。
【0011】
先ず、一斉リセット行程Rcにおいて、駆動装置100は、図3に示されるが如き負極性のリセットパルスRPx及び正極性のリセットパルスRPYを行電極X1〜Xn及びY1〜Yn各々に同時に印加する。これらリセットパルスRPx及びRPYの印加に応じて、PDP10中の全ての放電セルがリセット放電されて、各放電セル内には一様に所定量の壁電荷が形成される。これにより、全ての放電セルは一旦、"発光セル"に初期設定される。
【0012】
次に、画素データ書込行程Wcにおいて、駆動装置100は、図3に示されるが如く、各行毎の画素データパルス群DP1〜DPnを順次列電極D1〜Dmに印加して行く。例えば、サブフィールドSF1の画素データ書込行程Wcでは、PDP10の全放電セル各々に対応した入力画素データ各々から第1ビット目だけを抽出し、この第1ビット目の論理レベルに応じた画素データパルス群DPを、1行分毎に順次列電極D1〜Dmに印加して行く。又、サブフィールドSF2では、PDP10の全放電セル各々に対応した入力画素データ各々から第2ビット目だけを抽出し、この第2ビット目の論理レベルに応じた画素データパルス群DPを、1行分毎に順次列電極D1〜Dmに印加して行くのである。この際、駆動装置100は、上記画素データの論理レベルが例えば"1"である場合には高電圧の画素データパルスを発生してこれを列電極Dに印加する一方、かかる画素データの論理レベルが"0"である場合には低電圧(例えば0ボルト)の画素データパルスを列電極Dに印加する。更に、駆動装置100は、かかる画素データパルス群DPの印加タイミングと同一タイミングにて、図3に示されるが如き負極性の走査パルスSPを発生しこれを行電極Y1〜Ynへと順次印加して行く。ここで、上記走査パルスSPが印加された"行"と、高電圧の画素データパルスが印加された"列"との交差部の放電セルにのみ放電(選択消去放電)が生じ、その放電セル内に残存していた壁電荷は選択的に消去される。かかる選択消去放電により、上記一斉リセット行程Rcにて"発光セル"の状態に初期化された放電セルは、"非発光セル"に推移する。一方、上記走査パルスSPと同時に低電圧の画素データパルスが印加された放電セルには上記選択消去放放電が生起されず、上記一斉リセット行程Rcにて初期化された状態、つまり"発光セル"の状態が維持される。
【0013】
次に、発光維持行程Icにおいて、駆動装置100は、図3に示されるが如き維持パルスIPX及びIPYを行電極X1〜Xn及びY1〜Ynに対して交互に印加する。ここで、各サブフィールド内において維持パルスIPX及びIPYを印加する回数(期間)は、各サブフィールドの重み付けに対応して設定されている。
【0014】
例えば、図2に示されるように、
SF1:1
SF2:2
SF3:4
SF4:8
なる回数(期間)比にて維持パルスIPX及びIPYを印加し続けるのである。
【0015】
この際、上記画素データ書込行程Wcの終了後、壁電荷が残留したままとなっている放電セル、すなわち"発光セル"のみが、これら維持パルスIPX及びIPYが交互に印加される度に放電発光して、上述した如き回数(期間)分だけ発光状態を維持する。
【0016】
次に、消去行程Eにおいて、駆動装置100は、図3に示されるが如き消去パルスEPを行電極X1〜Xnに印加することにより、全放電セルを一斉に消去放電せしめ、各放電セル内に残留している壁電荷を消去する。
【0017】
図4は、上述したサブフィールド法を利用した駆動により、1フィールド期間内で実施される発光駆動の全パターンを示す図である。
【0018】
例えば、放電セルを輝度"8"で表示させるべき映像信号(画素データ"1110"に対応)が供給された場合には、サブフィールドSF1〜SF4の内のSF4のみで発光を実施させる。具体的には、サブフィールドSF1〜SF3各々の画素データ書込行程Wcでは、走査パルスSPと同時に高電圧の画素データパルスを印加することにより選択消去放電を生起させて、放電セル内に形成されている壁電荷を消去する。これにより、サブフィールドSF1〜SF3各々の発光維持行程Icでは、維持パルスIPX及びIPYが印加されているものの、維持放電は生起されない。つまり、サブフィールドSF1〜SF3では非発光状態となる。一方、サブフィールドSF4の画素データ書込行程Wcでは、走査パルスSPと同時に低電圧の画素データパルスを印加する。このように画素データパルスが低電圧であると、例え走査パルスSPが同時に印加されていても、上記選択消去放電は生起されず、放電セル内に形成されていた壁電荷は残留したままとなる。これにより、サブフィールドSF4の発光維持行程Icでは、維持パルスIPX及びIPYが印加される度にその印加回数(期間)分、すなわち"8"回(期間)分だけ発光を伴う維持放電が生起される。従って、サブフィールドSF1〜SF4なる1フィールドの期間を通じて"8"なる回数(期間)だけ発光が生じ、輝度"8"に対応した表示が為されるのである。
【0019】
しかしながら、上述した如き駆動方法では、その表示すべき内容に拘わらず、図3に示されるが如き各種駆動パルスを周期的に常時印加していなければならないので、消費電力が高くなるという問題があった。
【発明が解決しようとする課題】
【0020】
本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、消費電力を低減させることが出来るプラズマディスプレイパネルの駆動方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0021】
請求項1記載によるプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期して1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、N個の前記サブフィールドにおける先頭部のサブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ、N個の前記サブフィールドの内のいずれか1のサブフィールドでの前記画素データ書込行程において前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめる。
又、請求項2記載によるプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期して1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、N個の前記サブフィールドの内のM個 ( 2≦M≦N ) の連続配列されたサブフィールドをサブフィールド群とし、前記サブフィールド群における先頭部の前記サブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ、前記サブフィールド群内のいずれか1の前記サブフィールドでの前記画素データ書込行程において、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめる。
又、請求項3記載によるプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期し て1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、N個の前記サブフィールドを、各々が連続配列された複数個のサブフィールドからなるサブフィールド群に分け、前記サブフィールド群における先頭部の前記サブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ、前記サブフィールド群内のいずれか1の前記サブフィールドでの前記画素データ書込行程において、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめる。
【0022】
以下、本発明の実施例を図を参照しつつ説明する。
【0023】
図5は、本発明による駆動方法に基づいてプラズマディスプレイパネルを発光駆動するプラズマディスプレイ装置の概略構成を示す図である。
【0024】
図5に示されるように、かかるプラズマディスプレイ装置は、プラズマディスプレイパネルとしてのPDP10と、これを駆動する各種機能モジュールから構成されている。
【0025】
PDP10は、アドレス電極としてのm個の列電極D1〜Dmと、これら列電極各々と交叉して配列されている夫々n個の行電極X1〜Xn及び行電極Y1〜Ynを備えている。これら行電極X及び行電極Yの一対にて、PDP10における1行分に対応した行電極を形成している。列電極D、行電極X及びYは放電空間に対して誘電体層で被覆されており、各行電極対と列電極との交点にて1画素に対応した放電セルが形成される構造となっている。
【0026】
A/D変換器1は、駆動制御回路2から供給されるクロック信号に応じて、アナログの入力映像信号をサンプリングしてこれを1画素毎に例えば8ビットの画素データ(入力画素データ)Dに変換し、これをデータ変換回路30に供給する。データ変換回路30は、かかる8ビットの画素データDを14ビットの変換画素データHDに変換し、これをメモリ4、非選択行判別回路51及び非発光SF(サブフィールド)判別回路52の各々に供給する。尚、これらデータ変換回路30、非選択行判別回路51及び非発光SF判別回路52各々の詳細な動作については後述する。
【0027】
メモリ4は、駆動制御回路2から供給された書込信号に従って上記変換画素データHDを順次書き込む。かかる書込動作によりPDP10における1画面(n行、m列)分の書き込みが終了すると、メモリ4は、駆動制御回路2から供給された読出信号に従って、この1画面分の変換画素データHD11-nmを各ビット桁毎 すなわち、
DB111-nm:変換画素データHD11-nmの第1ビット目
DB211-nm:変換画素データHD11-nmの第2ビット目
DB311-nm:変換画素データHD11-nmの第3ビット目
DB411-nm:変換画素データHD11-nmの第4ビット目
DB511-nm:変換画素データHD11-nmの第5ビット目
DB611-nm:変換画素データHD11-nmの第6ビット目
DB711-nm:変換画素データHD11-nmの第7ビット目
DB811-nm:変換画素データHD11-nmの第8ビット目
DB911-nm:変換画素データHD11-nmの第9ビット目
DB1011-nm:変換画素データHD11-nmの第10ビット目
DB1111-nm:変換画素データHD11-nmの第11ビット目
DB1211-nm:変換画素データHD11-nmの第12ビット目
DB1311-nm:変換画素データHD11-nmの第13ビット目
DB1411-nm:変換画素データHD11-nmの第14ビット目
の如く分割し、これらDB111-nm、DB211-nm、・・・・、DB1411-nm各々を1行分毎に順次読み出してアドレスドライバ6に供給する。
【0028】
駆動制御回路2は、上述した如く入力された映像信号中の水平及び垂直同期信号に同期して、上記A/D変換器1に対するクロック信号、及びメモリ4に対する書込・読出信号を発生する。更に、駆動制御回路2は、非選択行判別回路51及び非発光SF判別回路52からの各種判別信号を考慮しつつ図6に示される発光駆動フォーマットに従ってPDP10を駆動制御すべき各種タイミング信号をアドレスドライバ6、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8各々に供給する。尚、駆動制御回路2は、図6に示されるように、1フィールドの表示期間を14個のサブフィールドSF1〜SF14に分割してPDP10を駆動制御する。この際、各サブフィールド内では、PDP10の各放電セルに対して画素データの書き込みを行って"発光セル"及び非発光セル"の設定を行う画素データ書込行程Wcと、上記"発光セル"のみを図6に示される回数(期間)分だけ放電発光せしめることにより、発光状態を維持させる発光維持行程Icとを実施する。又、先頭のサブフィールドSF1のみで、PDP10の全放電セル内の壁電荷量を初期化せしめる一斉リセット行程Rcを実行し、最後尾のサブフィールドSF14のみで、全放電セル内の壁電荷を一斉に消去する消去行程Eを実行する。
【0029】
アドレスドライバ6、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8各々は、これら一斉リセット行程Rc、画素データ書込行程Wc、発光維持行程Ic、消去行程E各々での上記動作を実現すべく、PDP10の列電極D1〜Dm、行電極X1〜Xn及びY1〜Yn各々に対して各種駆動パルスを印加する。
【0030】
図7は、かかる駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【0031】
先ず、サブフィールドSF1の一斉リセット行程Rcにおいて、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8は、負極性のリセットパルスRPx及び正極性のリセットパルスRPYを行電極X1〜Xn及びY1〜Ynに同時に印加する。これらリセットパルスRPx及びRPYの印加により、PDP10中の全ての放電セルがリセット放電され、各放電セル内には一様に所定の壁電荷が形成される。これにより、PDP10における全ての放電セルは、一旦、"発光セル"に初期設定される。
【0032】
次に、サブフィールドSF1の画素データ書込行程Wcにおいて、アドレスドライバ6は、上述した如くメモリから供給されたDB111-nm各々の論理レベルに対応した電圧を有する画素データパルスを生成し、これを1行分毎に順次列電極D1-mに印加して行く。すなわち、先ず、上記DB111-nmの内から第1行目に対応した分、つまりDB111-1mを抽出し、これらDB111-1m各々の論理レベルに対応したm個分の画素データパルスからなる画素データパルス群DP11を生成して図7の如く列電極D1-mに同時印加する。次に、DB111-nmの第2行目に対応したDB121-2mを抽出し、これらDB121-2m各々の論理レベルに対応したm個分の画素データパルスからなる画素データパルス群DP12を生成して列電極D1-mに同時印加する。以下、同様にして、1行分毎の画素データパルス群DP13〜DP1nを順次列電極D1-mに印加して行く。尚、アドレスドライバ6は、DB1の論理レベルが例えば"1"である場合には高電圧の画素データパルスを生成し、DB1の論理レベルが"0"である場合には低電圧(0ボルト)の画素データパルスを生成するものとする。
【0033】
又、サブフィールドSF2の画素データ書込行程Wcでは、アドレスドライバ6は、上述した如くメモリから供給されたDB211-nm各々から、その論理レベルに対応した電圧を有する画素データパルスを生成し、これを1行分毎に順次列電極D1-mに印加して行く。すなわち、先ず、上記DB211-nmの内から第1行目に対応した分、つまりDB211-1mを抽出し、これらDB211-1m各々の論理レベルに対応したm個分の画素データパルスからなる画素データパルス群DP21を生成してこれらを図7の如く列電極D1-mに同時印加する。次に、DB211-nmの第2行目に対応したDB221-2mを抽出し、これらDB221-2m各々の論理レベルに対応したm個分の画素データパルスからなる画素データパルス群DP22を生成して、これらを列電極D1-mに同時印加する。以下、同様にして、1行分毎の画素データパルス群DP23〜DP2nを順次列電極D1-mに印加して行く。
【0034】
アドレスドライバ6は、サブフィールドSF3〜SF14各々での画素データ書込行程Wcにおいても上述した方法と同様に、DB311-nm〜DB1411-nm各々から画素データパルス群DP31-n〜DP141-nを生成し、これらを1行分毎に順次列電極D1-mに印加して行く。
【0035】
ここで、第2サスティンドライバ8は、上述した如き画素データパルス群DPの各印加タイミングと同一タイミングにて、図7に示されるが如き負極性の走査パルスSPを発生してこれを行電極Y1〜Ynへと順次印加して行く。この際、走査パルスSPが印加された"行"と、高電圧の画素データパルスが印加された"列"との交差部の放電セルにのみ放電(選択消去放電)が生じ、その放電セル内に残存していた壁電荷が選択的に消去される。つまり、上記変換画素データHDにおける各ビット(第1ビット〜第14ビット)の論理レベルが、サブフィールドSF1〜SF14各々での画素データ書込行程Wcにおいて選択消去放電を実施するか否かを決定しているのである。かかる選択消去放電により、上記一斉リセット行程Rcにて"発光セル"の状態に初期化された放電セルは、"非発光セル"に推移する。尚、上記高電圧の画素データパルスが印加されなかった"列"に形成されている放電セルには放電が生起されず、上記一斉リセット行程Rcにて初期化された状態、つまり"発光セル"の状態が維持される。
【0036】
すなわち、各画素データ書込行程Wcの実行により、その直後の発光維持行程cIにおいて後述するが如く発光を伴う維持放電が生起される"発光セル"と、維持放電が生起されずに非発光のままの"非発光セル"とが、画素データに応じて択一的に設定され、いわゆる各放電セルに対する画素データの書き込みが為されるのである。
【0037】
又、各サブフィールドSF1〜SF14各々で実行される発光維持行程Icでは、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8は、行電極X1〜Xn及びY1〜Ynに対して図7に示されるように交互に正極性の維持パルスIPX及びIPYを印加する。ここで、各サブフィールドの発光維持行程Icにおいて印加される維持パルスIPの回数は、
SF1:1
SF2:3
SF3:5
SF4:8
SF5:10
SF6:13
SF7:16
SF8:19
SF9:22
SF10:25
SF11:28
SF12:32
SF13:35
SF14:39
である。
【0038】
かかる維持パルスの印加により、上記画素データ書込行程Wcにて壁電荷が残留したままとなっている放電セル、すなわち"発光セル"は、維持パルスIPX及びIPYが印加される度に維持放電し、上記回数(期間)分だけその放電発光状態を維持する。この際、各サブフィールドSF1〜SF14で実行すべき維持放電の回数の比を上述した如き非線形(すなわち、逆ガンマ比率、Y=X2.2) にすることにより、入力画素データDの非線形特性(ガンマ特性)を補正するようにしている。
【0039】
又、図4に示されるように、最後尾のサブフィールドでの消去行程Eにおいて、アドレスドライバ6は、消去パルスAPを発生してこれを列電極D1-mの各々に印加する。第2サスティンドライバ8は、かかる消去パルスAPの印加タイミングと同時に消去パルスEPを発生してこれを行電極Y1〜Yn各々に印加する。これら消去パルスAP及びEPの同時印加により、PDP10における全放電セル内において消去放電が生起され、全ての放電セル内に残存している壁電荷が消滅する。すなわち、かかる消去放電により、PDP10における全ての放電セルが非"発光セル"になるのである。
【0040】
ここで、図5の非選択行判別回路51は、1画面分の上記変換画素データHD11-nmに基づき、選択消去放電が生起されない"行"(以下、非選択行と称する)を判別し、この非選択行各々を示す非選択行判別信号NSを駆動制御回路2に供給する。例えば、非選択行判別回路51は、変換画素データHD11-nmを各ビット桁毎にDB111-nm、DB211-nm、DB311-nm、・・・・、DB1411-nmの如く14分割して、サブフィールドSF1〜SF14各々に割り当て、各サブフィールド毎に、上記DBにおける第1列〜第m列各々に対応した1行分のデータビット各々の論理レベルが全て"0"である"行"を非選択行とするのである。尚、この非選択行が存在しない場合には、非選択行判別回路51は、レベル"0"の非選択行判別信号NSを駆動制御回路2に供給する。駆動制御回路2は、かかる非選択行判別信号NSがレベル"0"である場合には、図7に示されるが如く、負極性の走査パルスSPを行電極Y1〜Ynへと順次印加すべき走査パルスタイミング信号を第2サスティンドライバ8に供給する。一方、かかる非選択行判別信号NSが非選択行の存在を示す場合には、この非選択行に対してのみ、上記走査パルスSPの印加を停止するようにした走査パルスタイミング信号を第2サスティンドライバ8に供給する。
【0041】
図8は、かかる非選択行が存在する場合における1フィールドでの各種駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【0042】
図8においては、変換画素データHD11-nmの第1ビット目からなるDB111-nm中の第2行目に対応した分、つまりDB121-2mの全ビットが論理レベル"0"であり、更に、変換画素データHD11-nmの第2ビット目からなるDB211-nm中の第n行目に対応した分、つまりDB2n1-nmの全ビットが論理レベル"0"である場合を示している。
【0043】
このように、DB121-2mの全ビットが論理レベル"0"であると、アドレスドライバ6は、図8に示されるサブフィールドSF1での画素データ書込行程Wcにおいて、全てが低電圧(0ボルト)となる画素データパルス群DP12を列電極D1-mに印加することになる。又、DB2n1-nmの全ビットが論理レベル"0"であると、アドレスドライバ6は、サブフィールドSF2での画素データ書込行程Wcにおいて、全てが低電圧(0ボルト)となる画素データパルス群DP2nを列電極D1-mに印加することになる。この際、画素データパルス群DPが上述の如く低電圧であると、例え、走査パルスSPが印加されていても、選択消去放電は生起されない。
【0044】
そこで、非選択行判別回路51にて、第1列〜第m列のいずれにも選択消去放電が生起されない"行"、すなわち非選択行を、変換画素データHD11-nmに基づいて予め判別しておき、この非選択行に対しては、図8のSF1の第2行目及びSF2の第n行目に示されるように、走査パルスSPの印加を停止するようにしたのである。
【0045】
よって、走査パルスSPの印加を停止した分だけ消費電力が抑えられるようになる。
【0046】
又、図5の非発光SF判別回路52は、1画面分の上記変換画素データHD11-nmに基づき、各サブフィールド毎の発光維持行程Icにおいて、1画面分の全ての放電セルが非発光状態となるサブフィールド(以下、非発光SFと称する)を判別し、この非発光SFを示す非発光SF判別信号NLを駆動制御回路2に供給する。尚、この非発光SFが存在しない場合には、非発光SF判別回路52は、レベル"0"の非発光SF判別信号NLを駆動制御回路2に供給する。駆動制御回路2は、かかる非発光SF判別信号NLがレベル"0"である場合には、図7及び図8に示されるが如く、正極性の維持パルスIPX及びIPYを交互に行電極X及びYに印加すべき維持パルスタイミング信号を第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8に供給する。一方、かかる非発光SF判別信号NLが非発光SFの存在を示す場合には、この非発光SFにて示されるサブフィールドの発光維持行程Icに対してのみ、上記維持パルスIPX及びIPYの印加を停止するようにした維持パルスタイミング信号を第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8に供給する。
【0047】
図9は、かかる非発光SFがサブフィールドSF14である場合における各種駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【0048】
このように、非発光SF判別回路52により、全ての放電セルが非発光となるサブフィールドがSF14であると判別されると、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8は、図9に示されるが如くサブフィールドSF14の発光維持行程Icに対してのみ、維持パルスIPX及びIPYの印加を停止する。
【0049】
よって、維持パルスIPX及びIPYを印加しない分だけ消費電力が抑えられるようになるのである。
【0050】
図10は、図6に示されるが如き発光駆動フォーマットに基づいて実施される発光駆動の全パターンを示す図である。
【0051】
図10に示されるように、サブフィールドSF1〜SF14の内の1つのサブフィールドでの画素データ書込行程Wcにおいてのみで、各放電セルに対して選択消去放電を実施する(黒丸にて示す)。すなわち、一斉リセット行程Rcの実行によってPDP10の全放電セル内に形成された壁電荷は、上記選択消去放電が実施されるまでの間残留し、その間に存在するサブフィールドSF各々での発光維持行程Icにおいて発光を伴う維持放電を促す(白丸にて示す)。つまり、各放電セルは、1フィールド期間内において上記選択消去放電が為されるまでの間、"発光セル"となり、その間に存在するサブフィールド各々での発光維持行程Icにおいて、図6に示されるが如き回数の分だけ発光を繰り返すのである。
【0052】
この際、図10に示されるように、各放電セルが"発光セル"から"非発光セル"へと推移する回数は、1フィールド期間内において必ず1回以下となるようにしている。すなわち、1フィールド期間内において一旦、非"発光セル"に設定した放電セルを再び"発光セル"に復帰させるような発光駆動パターンを禁止したのである。
【0053】
よって、画像表示に関与していないにも拘わらず強い発光を伴う上記一斉リセット動作を図6〜図9に示されるように、1フィールド期間内において1回だけ実施しておけば良いので、コントラストの低下を抑えることが出来る。
【0054】
又、1フィールド期間内において実施する選択消去放電は、図10の黒丸にて示されるが如く1回である為、この選択消去放電が実施されたサブフィールド、及びそれ以降に存在するサブフィールド各々の発光維持行程Icでは、放電セルは非発光状態となる。
【0055】
よって、非発光SF判別回路52は、1画面分の上記変換画素データHD11-nmに基づいて1画面分の全ての放電セルが非発光状態となる非発光SFを検出した場合には、この非発光SFにて示されるサブフィールドと、それ以降に存在する全てのサブフィールド各々とを示す非発光SF判別信号NLを駆動制御回路2に供給すれば良い。
【0056】
ここで、かかる図10に示されるが如き発光駆動パターンによれば、発光輝度比が、
{0、1、4、9、17、27、40、56、75、97、122、150、182、217、256}
なる15段階の中間調表現が可能になる。
【0057】
ところが、上記A/D変換器1から供給される画素データDは、8ビット、すなわち、256段階の中間調を表現しているものである。
【0058】
そこで、上記15段階の階調駆動によっても256段階に近い中間調表示を実現させるべく、図2に示されるデータ変換回路30によってデータ変換を行うのである。
【0059】
図11は、かかるデータ変換回路30の内部構成を示す図である。
【0060】
図11において、ABL(自動輝度制御)回路31は、PDP10の画面上に表示される画像の平均輝度が所定の輝度範囲内に収まるように、A/D変換器1から順次供給されてくる各画素毎の画素データDに対して輝度レベルの調整を行い、この際得られた輝度調整画素データDBLを第1データ変換回路32に供給する。
【0061】
かかる輝度レベルの調整は、後述するが如く各サブフィールドでの発光回数の比を非線形に設定して逆ガンマ補正を行う前に行われる。よって、ABL回路31は、画素データDに逆ガンマ補正を施し、この際得られた逆ガンマ変換画素データの平均輝度に応じて上記画素データDの輝度レベルを自動調整するように構成されている。これにより、輝度調整による表示品質の劣化を防止するのである。
【0062】
図12は、かかるABL回路31の内部構成を示す図である。
【0063】
図12において、レベル調整回路310は、後述する平均輝度検出回路311によって求められた平均輝度に応じて画素データDのレベルを調整して得られた輝度調整画素データDBLを出力する。データ変換回路312は、かかる輝度調整画素データDBLを図13に示されるが如き非線形特性からなる逆ガンマ特性(Y=X2.2)にて変換したものを逆ガンマ変換画素データDrとして平均輝度レベル検出回路311に供給する。すなわち、データ変換回路312にて、輝度調整画素データDBLに対して逆ガンマ補正を施すことにより、ガンマ補正の解除された元の映像信号に対応した画素データ(逆ガンマ変換画素データDr)を復元するのである。
【0064】
平均輝度検出回路311は、各サブフィールドでの発光期間を指定する例えば図14に示されるが如き輝度モード1〜4の中から、上述の如く求めた平均輝度に応じた輝度にてPDP10を発光駆動し得る輝度モードを選択し、この選択した輝度モードを示す輝度モード信号LCを駆動制御回路2に供給する。この際、駆動制御回路2は、図6に示されるサブフィールドSF1〜SF14各々の発光維持行程Icにおいて維持放電する回数、すなわち、各発光維持行程Ic内において印加すべき維持パルスの数を、図14に示されるが如き輝度モード信号LCにて指定されたモードに従って設定する。すなわち、図6に示されている各サブフィールドでの発光回数は、輝度モード1が設定された際における発光回数を示すものであり、仮に輝度モード2が設定された場合には、
SF1:2
SF2:6
SF3:10
SF4:16
SF5:20
SF6:26
SF7:32
SF8:38
SF9:44
SF10:50
SF11:56
SF12:64
SF13:70
SF14:78
なる回数にて、各サブフィールドの発光維持行程Icにおいて維持放電が実施される。
【0065】
尚、かかる発光駆動においても、各サブフィールドSF1〜SF14各々での発光回数の比が非線形(すなわち、逆ガンマ比率、Y=X2.2)に設定されており、これにより入力画素データDの非線形特性(ガンマ特性)が補正される。
【0066】
又、平均輝度検出回路311は、かかる逆ガンマ変換画素データDrからその平均輝度を求めて上記レベル調整回路310に供給する。
【0067】
ここで、図11における第1データ変換回路32は、図15に示されるが如き変換特性に基づいて256階調(8ビット)の輝度調整画素データDBLを14×16/255(224/255)にした8ビット(0〜224)の変換画素データHDpに変換して多階調化処理回路33に供給する。具体的には、8ビット(0〜255)の輝度調整画素データDBLがかかる変換特性に基づく図16及び図17に示されるが如き変換テーブルに従って変換される。すなわち、この変換特性は、入力画素データのビット数 、多階調化による圧縮ビット数及び表示階調数に応じて設定される。このように、後述する多階調化処理回路33の前段に第1データ変換回路32を設けて、表示階調数、多階調化による圧縮ビット数に合わせた変換を施し、これにより輝度調整画素データDBLを上位ビット群(多階調化画素データに対応)と下位ビット群(切り捨てられるデータ:誤差データ)をビット境界で切り分け、この信号に基づいて多階調化処理を行うようになっている。これにより、多階調化処理による輝度飽和の発生及び表示階調がビット境界にない場合に生じる表示特性の平坦部の発生(すなわち、階調歪みの発生)を防止することができる。
【0068】
尚、下位ビット群は切り捨てられるので階調数が減少することになるが、その階調数の減少分は、以下に説明する多階調化処理回路33の動作により擬似的に得られるようにしている。
【0069】
図18は、かかる多階調化処理回路33の内部構成を示す図である。
【0070】
図18に示されるが如く、多階調化処理回路33は、誤差拡散処理回路330及びディザ処理回路350から構成される。
【0071】
先ず、誤差拡散処理回路330におけるデータ分離回路331は、上記第1データ変換回路32から供給された8ビットの変換画素データHDP中の下位2ビット分を誤差データ、上位6ビット分を表示データとして分離する。
【0072】
加算器332は、かかる誤差データとしての変換画素データHDP中の下位2ビット分と、遅延回路334からの遅延出力と、係数乗算器335の乗算出力とを加算して得た加算値を遅延回路336に供給する。遅延回路336は、加算器332から供給された加算値を、画素データのクロック周期と同一の時間を有する遅延時間Dだけ遅らせ、これを遅延加算信号AD1として上記係数乗算器335及び遅延回路337に夫々供給する。
【0073】
係数乗算器335は、上記遅延加算信号AD1に所定係数値K1(例えば、"7/16")を乗算して得られた乗算結果を上記加算器332に供給する。
【0074】
遅延回路337は、上記遅延加算信号AD1を更に(1水平走査期間−上記遅延時間D×4)なる時間だけ遅延させたものを遅延加算信号AD2として遅延回路338に供給する。遅延回路338は、かかる遅延加算信号AD2を更に上記遅延時間Dだけ遅延させたものを遅延加算信号AD3として係数乗算器339に供給する。又、遅延回路338は、かかる遅延加算信号AD2を更に上記遅延時間D×2なる時間分だけ遅延させたものを遅延加算信号AD4として係数乗算器340に供給する。更に、遅延回路338は、かかる遅延加算信号AD2を上記遅延時間D×3なる時間分だけ遅延させたものを遅延加算信号AD5として係数乗算器341に供給する。
【0075】
係数乗算器339は、上記遅延加算信号AD3に所定係数値K2(例えば、"3/16")を乗算して得られた乗算結果を加算器342に供給する。係数乗算器340は、上記遅延加算信号AD4に所定係数値K3(例えば、"5/16")を乗算して得られた乗算結果を加算器342に供給する。係数乗算器341は、上記遅延加算信号AD5に所定係数値K4(例えば、"1/16")を乗算して得られた乗算結果を加算器342に供給する。
【0076】
加算器342は、上記係数乗算器339、340及び341各々から供給された乗算結果を加算して得られた加算信号を上記遅延回路334に供給する。遅延回路334は、かかる加算信号を上記遅延時間Dなる時間分だけ遅延させて上記加算器332に供給する。加算器332は、上記誤差データ(変換画素データHDP中の下位2ビット分)と、遅延回路334からの遅延出力と、係数乗算器335の乗算出力とを加算し、この際、桁上げがない場合には論理レベル"0"、桁上げがある場合には論理レベル"1"のキャリアウト信号COを発生して加算器333に供給する。
【0077】
加算器333は、上記表示データ(変換画素データHDP中の上位6ビット分)に、上記キャリアウト信号COを加算したものを6ビットの誤差拡散処理画素データEDとして出力する。
【0078】
以下に、かかる構成からなる誤差拡散処理回路330の動作について説明する。
【0079】
例えば、図19に示されるが如きPDP10の画素G(j,k)に対応した誤差拡散処理画素データEDを求める場合、先ず、かかる画素G(j,k)の左横の画素G(j,k-1)、左斜め上の画素G(j-1,k-1)、真上の画素G(j-1,k)、及び右斜め上の画素G(j-1,k+1)各々に対応した各誤差データ、すなわち、
画素G(j,k-1)に対応した誤差データ:遅延加算信号AD1
画素G(j-1,k+1)に対応した誤差データ:遅延加算信号AD3
画素G(j-1,k)に対応した誤差データ:遅延加算信号AD4
画素G(j-1,k-1)に対応した誤差データ:遅延加算信号AD5
各々を、上述した如き所定の係数値K1〜K4をもって重み付け加算する。次に、この加算結果に、変換画素データHDPの下位2ビット分、すなわち画素G(j,k)に対応した誤差データを加算し、この際得られた1ビット分のキャリアウト信号COを変換画素データHDP中の上位6ビット分、すなわち画素G(j,k)に対応した表示データに加算したものを誤差拡散処理画素データEDとする。
【0080】
誤差拡散処理回路330は、かかる構成により、変換画素データHDP中の上位6ビット分を表示データ、残りの下位2ビット分を誤差データとして捉え、周辺画素{G(j,k-1)、G(j-1,k+1)、G(j-1,k)、G(j-1,k-1)}各々での誤差データを重み付け加算したものを、上記表示データに反映させるようにしている。この動作により、原画素{G(j,k)}における下位2ビット分の輝度が上記周辺画素により擬似的に表現され、それ故に8ビットよりも少ないビット数、すなわち6ビット分の表示データにて、上記8ビット分の画素データと同等の輝度階調表現が可能になるのである。
【0081】
尚、この誤差拡散の係数値が各画素に対して一定に加算されていると、誤差拡散パターンによるノイズが視覚的に確認される場合があり画質を損なってしまう。そこで、後述するディザ係数の場合と同様に4つの画素各々に割り当てるべき誤差拡散の係数K1〜K4を1フィールド毎に変更するようにしても良い。
【0082】
ディザ処理回路350は、かかる誤差拡散処理回路330から供給された誤差拡散処理画素データEDにディザ処理を施すことにより、6ビットの誤差拡散処理画素データEDと同等な輝度階調レベルを維持しつつもビット数を更に4ビットに減らした多階調化処理画素データDSを生成する。尚、かかるディザ処理では、隣接する複数個の画素により1つの中間表示レベルを表現するものである。例えば、8ビットの画素データの内の上位6ビットの画素データを用いて8ビット相当の階調表示を行う場合、左右、上下に互いに隣接する4つの画素を1組とし、この1組の各画素に対応した画素データ各々に、互いに異なる係数値からなる4つのディザ係数a〜dを夫々割り当てて加算する。かかるディザ処理によれば、4画素で4つの異なる中間表示レベルの組み合わせが発生することになる。よって、例え画素データのビット数が6ビットであっても、表現出来る輝度階調レベルは4倍、すなわち、8ビット相当の中間調表示が可能となるのである。
【0083】
しかしながら、ディザ係数a〜dなるディザパターンが各画素に対して一定に加算されていると、このディザパターンによるノイズが視覚的に確認される場合があり画質を損なってしまう。
【0084】
そこで、ディザ処理回路350においては、4つの画素各々に割り当てるべき上記ディザ係数a〜dを1フィールド毎に変更するようにしている。
【0085】
図20は、かかるディザ処理回路350の内部構成を示す図である。
【0086】
図20において、ディザ係数発生回路352は、互いに隣接する4つの画素毎に4つのディザ係数a、b、c、dを発生してこれらを順次加算器351に供給する。
【0087】
例えば、図21に示されるように、第j行に対応した画素G(j,k)及び画素G(j,k+1)、第(j+1)行に対応した画素G(j+1,k)及び画素G(j+1,k+1)なる4つの画素各々に対応した4つのディザ係数a、b、c、dを発生する。この際、ディザ係数発生回路352は、これら4つの画素各々に割り当てるべき上記ディザ係数a〜dを図21に示されるように1フィールド毎に変更して行く。
【0088】
すなわち、最初の第1フィールドにおいては、
画素G(j,k) :ディザ係数a
画素G(j,k+1) :ディザ係数b
画素G(j+1,k) :ディザ係数c
画素G(j+1,k+1):ディザ係数d
次の第2フィールドにおいては、
画素G(j,k) :ディザ係数b
画素G(j,k+1) :ディザ係数a
画素G(j+1,k) :ディザ係数d
画素G(j+1,k+1):ディザ係数c
次の第3フィールドにおいては、
画素G(j,k) :ディザ係数d
画素G(j,k+1) :ディザ係数c
画素G(j+1,k) :ディザ係数b
画素G(j+1,k+1):ディザ係数a
そして、第4フィールドにおいては、
画素G(j,k) :ディザ係数c
画素G(j,k+1) :ディザ係数d
画素G(j+1,k) :ディザ係数a
画素G(j+1,k+1):ディザ係数b
の如き割り当てにてディザ係数a〜dを循環して繰り返し発生し、これを加算器351に供給する。ディザ係数発生回路352は、上述した如き第1フィールド〜第4フィールドの動作を繰り返し実行する。すなわち、かかる第4フィールドでのディザ係数発生動作が終了したら、再び、上記第1フィールドの動作に戻って、前述した動作を繰り返すのである。
【0089】
加算器351は、上記誤差拡散処理回路330から供給されてくる上記画素G(j,k)、画素G(j,k+1)、画素G(j+1,k)、及び画素G(j+1,k+1)各々に対応した誤差拡散処理画素データED各々に、上述の如く各フィールド毎に割り当てられたディザ係数a〜dを夫々加算し、この際得られたディザ加算画素データを上位ビット抽出回路353に供給する。
【0090】
例えば、図21に示される第1フィールドにおいては、
画素G(j,k)に対応した誤差拡散処理画素データED+ディザ係数a、
画素G(j,k+1)に対応した誤差拡散処理画素データED+ディザ係数b、
画素G(j+1,k)に対応した誤差拡散処理画素データED+ディザ係数c、
画素G(j+1,k+1)に対応した誤差拡散処理画素データED+ディザ係数dの各々をディザ加算画素データとして上位ビット抽出回路353に順次供給して行くのである。
【0091】
上位ビット抽出回路353は、かかるディザ加算画素データの上位4ビット分までを抽出し、これを多階調化画素データDSとして図11に示される第2データ変換回路34に
供給する。
【0092】
第2データ変換回路34は、かかる多階調化画素データDSを図10に示されるが如き変換テーブルに従って、サブフィールドSF1〜SF14各々に対応した第1〜第14ビットからなる変換画素データHDに変換する。尚、多階調化画素データDSは、8ビット(256階調)の入力画素データDを第1データ変換(図16及び図17の変換テーブル)にしたがって224/225にし、更に、例えば誤差拡散処理及びディザ処理の如き多階調化処理により、夫々2ビット分が圧縮されて、計4ビット(15階調)のデータに変換されたものである。ここで、変換画素データHDにおける第1〜第14ビットの内、論理レベル"1"のビットは、そのビットに対応したサブフィールドSFでの画素データ書込行程Wcにおいて選択消去放電を実施させることを示すものである。
【0093】
上述した如きデータ変換回路30の動作によれば、図10に示されるが如き15段階の階調駆動でも、実際の視覚上における階調表現は256階調に迫るものとなる。
【0094】
以上の如く、本発明においては、非選択行判別回路51及び非発光SF判別回路52により、選択消去放電を生起させない"行"、並びに維持放電を生起させないサブフィールドを、画素データ(変換画素データHD)の段階で判別する。ここで、選択消去放電を生起させないと判別された"行"に対しては走査パルスSPの印加を停止し、維持放電を生起させないと判別されたサブフィールドに対しては維持パルスIPの印加を停止することにより、消費電力の低減を図るようにしたのである。
【0095】
尚、上記実施例においては、画素データの書込方法として、1フィールドの先頭において予め各放電セルに強制的に壁電荷を形成させて全放電セルを"発光セル"に設定しておき、画素データに応じて選択的にその壁電荷を消去することにより画素データの書込を為す、いわゆる選択消去アドレス法を採用した場合について述べた。
【0096】
しかしながら、本発明は、画素データの書込方法として、画素データに応じて選択的に壁電荷を形成するようにした、いわゆる選択書込アドレス法を採用した場合についても同様に適用可能である。
【0097】
図22は、かかる選択書込アドレス法を採用した場合における発光駆動フォーマットを示す図である。
【0098】
又、図23は、かかる選択書込アドレス法を採用した場合に第2データ変換回路34において用いられる変換テーブル、及び1フィールド期間内で実施される発光駆動の全パターンを示す図である。
【0099】
図22において、先頭のサブフィールドSF14での一斉リセット行程Rcでは、第1サスティンドライバ7及び第2サスティンドライバ8は、図7に示されるものと同様なリセットパルスRPx及びRPYをPDP10の行電極X及びYに夫々同時に印加する。これにより、PDP10中の全ての放電セルをリセット放電せしめ、各放電セル内に強制的に壁電荷を形成させる。その直後に、第1サスティンドライバ7は、短パルス幅の負極性の消去パルスをPDP10の行電極X1〜Xnに一斉に印加することにより、全放電セル内に形成された上記壁電荷を消去させる。すなわち、図22に示される一斉リセット行程Rcの実行によれば、PDP10における全ての放電セルは非"発光セル"の状態に初期化されるのである。
【0100】
一方、画素データ書込行程Wcでは、走査パルスSPが印加された"行"と、高電圧の画素データパルスが印加された"列"との交差部の放電セルにのみ放電(選択書込放電)が生じ、その放電セル内に選択的に壁電荷が形成される。かかる選択書込放電により、上記一斉リセット行程Rcにて"非発光セル"の状態に初期化された放電セルは、"発光セル"に推移する。尚、上記低電圧の画素データパルスが印加された"列"に形成されている放電セルには上述のような選択書込放電は生起されず、上記一斉リセット行程Rcにて初期化された状態、つまり"非発光セル"の状態を維持する。
【0101】
すなわち、画素データ書込行程Wcの実行により、後述する維持発光行程において発光状態が維持される"発光セル"と、非発光状態のままの"非発光セル"とが、画素データに応じて択一的に設定され、いわゆる各放電セルに対する画素データの書き込みが為されるのである。
【0102】
ここで、かかる選択書込アドレス法による発光駆動を実施する場合には、図23に示されるように、変換画素データHDにおける論理レベル"1"のビットに対応したサブフィールドSFにおいてのみで選択書込放電が実施される(黒丸にて示す)。この際、先頭のサブフィールドSF14からこの選択書込放電が実施されまでの間に存在するサブフィールド各々の発光維持行程Icでは維持放電が生起されず、この選択書込放電が実施されたサブフィールド以降に存在するサブフィールド各々の発光維持行程Icでは維持放電が生起され、その発光状態が維持される(白丸にて示す)。
【0103】
従って、このような選択書込アドレス法を採用した場合には、非選択行判別回路51及び非発光SF判別回路52は、選択書込放電を生起させない"行"、並びに維持放電を生起させないサブフィールドを、画素データ(変換画素データHD)の段階で判別する。ここで、選択書込放電を生起させないと判別された"行"に対しては走査パルスSPの印加を停止し、維持放電を生起させないと判別されたサブフィールドに対しては維持パルスIPの印加を停止することにより、消費電力の低減を図るのである。
【0104】
尚、上記実施例においては、1フィールド期間内において実施する一斉リセット行程Rcを1回とすることにより15階調の中間調駆動を行うものであるが、かかる一斉リセット行程Rcを1フィールド期間内において2回実行することによりその階調駆動数を増やすことも可能である。
【0105】
図24及び図25は、かかる点に鑑みて為された発光駆動フォーマットを示す図である。
【0106】
尚、図24は、画素データ書込方法として前述した如き選択消去アドレス法を採用した場合、図25は、選択書込アドレス法を採用した場合に適用される発光駆動フォーマットを夫々示すものである。
【0107】
これら図24及び図25に示される発光駆動フォーマットにおいても、1フィールド期間をサブフィールドSF1〜SF14なる14個のサブフィールドに分割している。各サブフィールドでは、画素データの書き込みを行って"発光セル"及び非"発光セル"の設定を行う画素データ書込行程Wcと、"発光セル"に対してのみ発光状態を維持させる発光維持行程Icとを実施する。この際、各発光維持行程Icでの発光回数は、サブフィールドSF1での発光期間を"1"とした場合、
SF1:1
SF2:1
SF3:1
SF4:3
SF5:3
SF6:8
SF7:13
SF8:15
SF9:20
SF10:25
SF11:31
SF12:37
SF13:48
SF14:50
に設定している。
【0108】
すなわち、各サブフィールドSF1〜SF14の発光回数の比を非線形(すなわち、逆ガンマ比率、Y=X2.2) に成るように設定し、これにより入力画素データDの非線形特性(ガンマ特性)を補正するようにしている。
【0109】
更に、これら各サブフィールドの内、先頭のサブフィールドと、中間のサブフィールドとで一斉リセット行程Rcを実行する。
【0110】
つまり、図24に示されるが如き、選択消去アドレス法を採用した際の駆動では、サブフィールドSF1とSF7とで一斉リセット行程Rcを実行し、図25に示されるが如き選択書込アドレス法を採用した際の駆動では、サブフィールドSF14とSF6とで一斉リセット行程Rcを実行するのである。又、これら図24及び図25に示されるように、1フィールド期間の最後尾のサブフィールド、及び一斉リセット行程Rcを実行する直前のサブフィールドにおいて、全ての放電セル内に残存している壁電荷を消滅せしめる消去行程Eを実行する。
【0111】
図26及び図27は、これら図24及び図25に示される発光駆動フォーマットに基づく発光駆動を行う際に、図11に示される第1データ変換回路32において用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【0112】
第1データ変換回路32は、図26及び図27の変換テーブルに基づいて、256階調(8ピット)の入力輝度調整画素データDBLを22×16/255(352/255)にした9ビット(0〜352)の変換画素データHDpに変換して多階調化処理回路33に供給する。多階調化処理回路33では、上述と同様に例えば4ビット分の圧縮処理を行い、5ビット(0〜22)の多階調化画素データDsを出力する。
【0113】
この際、図11に示される第2データ変換回路34は、かかる5ビットの多階調化画素データDSを、図28又は図29に示されるが如き変換テーブルに従って14ビットの変換画素データHDに変換する。
【0114】
この際、図28は、画素データ書込法として上記選択消去アドレス法を採用した場合、図29は、選択書込アドレス法を採用した場合に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブル及び発光駆動の全パターンを夫々示す図である。
【0115】
これら図24〜図29に示されるが如き駆動を実施すれば、発光輝度比が、
[0、1、2、3、6、9、17、22、30、37、45、57、65、82、90、113、121、150、158、195、206、245、256}
なる23段階の中間調駆動が可能になる。
【0116】
このように、図24〜図29に示されている駆動では、1フィールド期間内におけるサブフィールドを、互いに連続して配置された複数のサブフィールドからなる2つのサブフィールド群に分けている。例えば、選択消去アドレス法を採用した場合には、図24に示されるように、サブフィールドSF1〜SF6からなるサブフィールド群と、SF7〜SF14からなるサブフィールド群とに分けている。この際、各サブフィールド群の先頭のサブフィールドにおいてのみで夫々一斉リセット行程Rcを実行して、全ての放電セルを"発光セル"(選択消去アドレス法を採用した場合)又は"非発光セル"(選択書込アドレス法を採用した場合)の状態に初期化する放電を生起させる。ここで、各サブフィールド群内において、いずれか1のサブフィールドの画素データ書込行程Wcにおいてのみで、放電セルを画素データに応じて"非発光セル"又は"発光セル"に設定する。更に、各サブフィールドでの発光維持行程Icにおいて、上記"発光セル"のみをサブフィールドの重み付けに対応した発光回数だけ発光させるようにしている。従って、各サブフィールド群内において、一斉リセット動作、選択消去動作(選択書込動作)は、各1回となる。かかる駆動方法によれば、選択消去アドレス法の場合には、表示すべき輝度の増加につれて各サブフィールド群内における先頭のサブフィールドから順に発光状態となる。一方、選択消去アドレス法の場合には、表示すべき輝度の増加につれて各サブフィールド群内における最後尾のサブフィールドから順に発光状態となる。
【0117】
尚、上記図10及び図23に示した発光駆動パターンでは、サブフィールドSF1〜SF14の内のいずれか1の画素データ書込行程Wcにおいて、走査パルスSPと高電圧の画素データパルスとの同時印加によって選択消去(書込)放電を生起させるようにしている。
【0118】
しかしながら、放電セル内に残留する荷電粒子の量が少ないと、例え走査パルスSP及び高電圧の画素データパルスが同時に印加されても選択消去(書込)放電が正常に生起されず、放電セル内の壁電荷を消去(形成)できない場合がある。この際、例えA/D変換後の画素データDが低輝度を示すデータであっても、最高輝度に対応した発光が為されてしまい、画像品質を著しく低下させるという問題が生じる。
【0119】
そこで、図30及び図31に示されるが如き発光駆動パターンを採用して、このような誤った発光動作を防止するようにしても良い。尚、図30は、上記選択消去アドレス法を採用した場合、図31は、選択書込アドレス法を採用した場合に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブル及び発光駆動の全パターンを夫々示している。
【0120】
これら図30及び図31に示される発光駆動パターンにおいては、図中の黒丸にて示されるが如く、互いに連続した2つのサブフィールド各々の画素データ書込行程Wcにて、連続して選択消去(書込)放電を実施するようにしている。
【0121】
かかる動作によれば、例え、1回目の選択消去(書込)放電で放電セル内の壁電荷を正常に消滅(形成)させることが出来なくても、2回目の選択消去(書込)放電により壁電荷の消滅(形成)が正常に行われるので、前述した如き誤った維持発光が防止される。
【0122】
尚、これら2回分の選択消去(書込)放電は、互いに連続したサブフィールドで行う必要はない。要するに、1回目の選択消去(書込)放電が終了した後の、いずれかのサブフィールドで2回目の選択消去(書込)放電を行うようにすれば良いのである。
【発明の効果】
【0123】
以上詳述した如く、本発明においては、選択消去(書込)放電が生起されない非選択行、及び維持放電が生起されないサブフィールド各々を、画素データに基づいて予め判別しておき、かかる非選択行に対しては走査パルスの印加を停止し、維持放電が生起されないサブフィールドに対しては維持パルスの印加を停止するようにしている。
【0124】
よって、本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに対する上記走査パルス及び維持パルスの印加を停止した分だけ消費電力の低減を図ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 プラズマディスプレイ装置の概略構成を示す図である。
【図2】 16階調の中間調表示を実現する為の発光駆動フォーマットの一例を示す図である。
【図3】 PDP10に印加される駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【図4】 サブフィールド法による発光駆動パターンの一例を示す図である。
【図5】 本発明による駆動方法に従ってプラズマディスプレイパネルを駆動するプラズマディスプレイ装置の構成を示す図である。
【図6】 図5に示されるプラズマディスプレイ装置における発光駆動フォーマットを示す図である。
【図7】 本発明による駆動方法に従ってPDP10に印加される各種駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【図8】 本発明による駆動方法に従ってPDP10に印加される各種駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【図9】 本発明による駆動方法に従ってPDP10に印加される各種駆動パルスの印加タイミングの一例を示す図である。
【図10】 選択消去アドレス法を採用して画素データ書込を行う際における発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図11】 データ変換回路30の内部構成を示す図である。
【図12】 ABL回路31の内部構成を示す図である。
【図13】 データ変換回路312における変換特性を示す図である。
【図14】 輝度モードと各サブフィールド毎の発光維持回数との対応関係を示す図である。
【図15】 第1データ変換回路32における変換特性を示す図である。
【図16】 図15に示される変換特性に基づく変換テーブルの一例を示す図である。
【図17】 図15に示される変換特性に基づく変換テーブルの一例を示す図である。
【図18】 多階調化処理回路33の内部構成を示す図である。
【図19】 誤差拡散処理回路330の動作を説明する為の図である。
【図20】 ディザ処理回路350の内部構成を示す図である。
【図21】 ディザ処理回路350の動作を説明する為の図である。
【図22】 選択書込アドレス法を採用した際の発光駆動フォーマットを示す図である。
【図23】 選択書込アドレス法を採用した際における発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図24】 選択消去アドレス法を採用した際に、一斉リセット行程Rcを1フィールド内において2回実行するようにした発光駆動フォーマットの一例を示す図である。
【図25】 選択書込アドレス法を採用した際に、一斉リセット行程Rcを1フィールド内において2回実行するようにした発光駆動フォーマットの一例を示す図である。
【図26】 図24及び図25に示される発光駆動フォーマットに基づく発光駆動を行う際に第1データ変換回路32において用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図27】 図24及び図25に示される発光駆動フォーマットに基づく発光駆動を行う際に第1データ変換回路32において用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図28】 図24に示される発光駆動フォーマットに基づく発光駆動を行う際の発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図29】 図25に示される発光駆動フォーマットに基づく発光駆動を行う際の発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの一例を示す図である。
【図30】 選択消去アドレス法を採用した際における発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの他の一例を示す図である。
【図31】 選択書込アドレス法を採用した際における発光駆動パターンと、この発光駆動を実施する際に第2データ変換回路34で用いられる変換テーブルの他の一例を示す図である。
【符号の説明】
2 駆動制御回路
6 アドレスドライバ
7 第1サスティンドライバ
8 第2サスティンドライバ
10 PDP
51 非選択行判別回路
52 非発光SF判別回路
[0001]
[Technical field to which the invention belongs]
[0002]
  The present invention relates to a method for driving a matrix display type plasma display panel (hereinafter referred to as PDP).
[Prior art]
[0003]
  In recent years, with the increase in size of display devices, thin display devices are required, and various thin display devices have been put into practical use. An AC (alternating discharge) type PDP has attracted attention as one of such thin display devices.
[0004]
  The AC-type PDP includes a plurality of column electrodes (address electrodes) and a plurality of row electrode pairs that are arranged orthogonally to the column electrodes and form one scan line as a pair. Each of these row electrode pairs and column electrodes is covered with a dielectric layer with respect to the discharge space, and a discharge cell corresponding to one pixel is formed at the intersection of the row electrode pair and the column electrode. .
[0005]
  At this time, since the PDP uses a discharge phenomenon, the discharge cell has only two states of “light emission” and “non-light emission”. Therefore, the subfield method is used in order to realize halftone luminance display by such PDP. In the subfield method, a display period of one field is divided into N subfields, and a light emission period having a period length corresponding to the weighting of each bit digit of pixel data (N bits) is assigned to each subfield. The light emission is driven.
[0006]
  FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a plasma display apparatus that performs halftone luminance display using such a subfield method.
[0007]
  In FIG. 1, a driving apparatus 100 converts an input video signal into digital pixel data corresponding to each pixel, and a pixel data pulse corresponding to this pixel data is converted to a column electrode D of the PDP 10.1~ DmAnd various drive pulses as described below are applied to the row electrode X.1~ XnAnd Y1~ YnTo control the light emission drive. The row electrodes X and Y constitute one row of the PDP 10 as a pair, and the column electrode D1~ DmIt is formed to cross each other. These column electrode and row electrode pairs are formed with a dielectric (not shown) interposed therebetween, and one pixel cell is formed at a portion where one set of column electrode and row electrode pair intersects.
[0008]
  FIG. 2 is a diagram showing an example of a light emission driving format in one field period by the driving device 100. In FIG.
[0009]
  As shown in FIG. 2, the display period of one field is divided into four subfields, subfields SF1 to SF4. In each subfield, simultaneous reset process Rc, pixel data writing process Wc, and light emission maintenance are performed. The process Ic and the erase process E are executed.
[0010]
  FIG. 3 is a diagram showing application timings (within one subfield) of various drive pulses applied by the driving apparatus 100 to the column electrode and row electrode pairs of the PDP 10 in order to carry out these processes.
[0011]
  First, in the simultaneous reset process Rc, the driving device 100 performs a negative reset pulse RP as shown in FIG.xAnd positive reset pulse RPYRow electrode X1~ XnAnd Y1~ YnApply to each simultaneously. These reset pulses RPxAnd RPYIn response to the application, all the discharge cells in the PDP 10 are reset and discharged, and a predetermined amount of wall charges are uniformly formed in each discharge cell. Thereby, all the discharge cells are initially set to “light emitting cells”.
[0012]
  Next, in the pixel data writing process Wc, as shown in FIG. 3, the driving device 100 performs the pixel data pulse group DP for each row.1~ DPnSequentially column electrode D1~ DmApply to. For example, in the pixel data writing process Wc of the subfield SF1, only the first bit is extracted from each of the input pixel data corresponding to all the discharge cells of the PDP 10, and the pixel data corresponding to the logic level of the first bit The pulse group DP is sequentially switched to the column electrode D for each row.1~ DmApply to. In the subfield SF2, only the second bit is extracted from each input pixel data corresponding to each of all the discharge cells of the PDP 10, and the pixel data pulse group DP corresponding to the logic level of the second bit is set to one row. Sequential column electrode D every minute1~ DmIt is applied to. At this time, when the logical level of the pixel data is “1”, for example, the driving device 100 generates a high-voltage pixel data pulse and applies it to the column electrode D, while the logical level of the pixel data. When “0” is “0”, a pixel data pulse of a low voltage (for example, 0 volts) is applied to the column electrode D. Further, the driving device 100 generates a scanning pulse SP having a negative polarity as shown in FIG. 3 at the same timing as the application timing of the pixel data pulse group DP.1~ YnApply sequentially to. Here, a discharge (selective erasure discharge) occurs only in the discharge cell at the intersection of the “row” to which the scan pulse SP is applied and the “column” to which the high-voltage pixel data pulse is applied. The wall charges remaining inside are selectively erased. Due to the selective erasing discharge, the discharge cell initialized to the “light emitting cell” state in the simultaneous reset process Rc is changed to the “non-light emitting cell”. On the other hand, the selective erasure discharge is not generated in the discharge cells to which the low-voltage pixel data pulse is applied simultaneously with the scanning pulse SP, and is initialized in the simultaneous reset process Rc, that is, the “light emitting cell”. The state of is maintained.
[0013]
  Next, in the light emission sustaining step Ic, the driving device 100 performs the sustain pulse IP as shown in FIG.XAnd IPYRow electrode X1~ XnAnd Y1~ YnAre applied alternately. Here, in each subfield, sustain pulse IPXAnd IPYThe number of times (period) to apply is set corresponding to the weighting of each subfield.
[0014]
  For example, as shown in FIG.
            SF1: 1
            SF2: 2
            SF3: 4
            SF4: 8
  Sustain pulse IP at the number of times (period) ratioXAnd IPYIs continuously applied.
[0015]
  At this time, only the discharge cells in which the wall charges remain after the completion of the pixel data writing step Wc, that is, the “light emitting cells”, are supplied to these sustain pulses IP.XAnd IPYEach time is alternately applied, discharge light is emitted, and the light emission state is maintained for the number of times (period) as described above.
[0016]
  Next, in the erasing step E, the driving device 100 applies an erasing pulse EP as shown in FIG.1~ XnBy applying the voltage to, all the discharge cells are erased and discharged all at once, and the wall charges remaining in each discharge cell are erased.
[0017]
  FIG. 4 is a diagram illustrating all patterns of light emission driving performed within one field period by driving using the subfield method described above.
[0018]
  For example, when a video signal (corresponding to pixel data “1110”) for displaying the discharge cell with luminance “8” is supplied, light emission is performed only in SF4 among the subfields SF1 to SF4. Specifically, in the pixel data writing process Wc of each of the subfields SF1 to SF3, a selective erasing discharge is generated by applying a high voltage pixel data pulse simultaneously with the scanning pulse SP, and is formed in the discharge cell. Eliminate wall charges. Thus, in the light emission sustaining process Ic of each of the subfields SF1 to SF3, the sustain pulse IPXAnd IPYHowever, sustain discharge is not generated. That is, the subfields SF1 to SF3 are in a non-light emitting state. On the other hand, in the pixel data writing process Wc of the subfield SF4, a low-voltage pixel data pulse is applied simultaneously with the scanning pulse SP. Thus, when the pixel data pulse is at a low voltage, even if the scanning pulse SP is applied at the same time, the selective erasing discharge does not occur, and the wall charge formed in the discharge cell remains. . Thus, in the light emission sustaining process Ic of the subfield SF4, the sustain pulse IPXAnd IPYEach time is applied, a sustain discharge accompanied by light emission is generated for the number of times of application (period), that is, “8” times (period). Accordingly, light emission occurs for the number of times (period) of “8” throughout the period of one field of subfields SF1 to SF4, and display corresponding to luminance “8” is performed.
[0019]
  However, the driving method as described above has a problem that the power consumption becomes high because various driving pulses as shown in FIG. 3 must be periodically applied regardless of the contents to be displayed. It was.
[Problems to be solved by the invention]
[0020]
  The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a plasma display panel driving method capable of reducing power consumption.
[Means for Solving the Problems]
[0021]
  The plasma display panel driving method according to claim 1 forms a discharge cell corresponding to one pixel at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes. A driving method of a plasma display panel, wherein a display period of one field is divided into N subfields, and in each of the subfields, a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes and the scan pulse Each of the discharge cells is selected by applying each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each row of pixel data to each of the column electrodes in synchronism with each application timing. Pixel data writing process in which each discharge cell is set to either a light-emitting cell or a non-light-emitting cell by being discharged, and in each of the subfields Perform a light emission sustain process for discharging only the light emitting cells by the amount of the number of times by only sustain pulse number of times response is applied to the row electrodes,A reset process for initializing each of the discharge cells to one of the light emitting cells and the non-light emitting cells by discharging all the discharge cells only in the first subfield of the N subfields. Run,In the pixel data writing process, for each row electrode, it is determined whether or not all the logic levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode match a predetermined level. The application of the scan pulse is stopped only in the row electrode where it is determined that all the logical levels of the pixel data match the predetermined level., By selectively discharging the discharge cells according to the pixel data in the pixel data writing process in any one of the N subfields, the discharge cells emit light. The selective discharge is caused to occur again in the pixel data writing process in the subfield immediately after the subfield in which the selective discharge is caused.The
  According to a second aspect of the present invention, there is provided a plasma display panel driving method in which a discharge cell corresponding to one pixel is formed at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes. A method for driving a plasma display panel, wherein a display period of one field is divided into N subfields, and a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes in each of the subfields. By applying each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each row of pixel data to each of the column electrodes in synchronization with the application timing of each scan pulse, each of the discharge cells. A pixel data writing step of selectively discharging each of the discharge cells to set either one of the light emitting cells or the non-light emitting cells, and each of the subfields M number of the only light emitting cells running, and light emission sustain process which amount corresponding discharging of the number of the N number of said sub-fields by applying only sustain pulse number corresponding to the row electrode ( 2 ≦ M ≦ N ) The subfields arranged continuously are defined as subfield groups, and all the discharge cells are discharged only in the first subfield of the subfield group, whereby each of the discharge cells is changed to the light emitting cell or the non-light emitting cell. A reset process that is initialized to one of the states is executed, and in the pixel data writing process, for each row electrode, all of the logical levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode are set to a predetermined level. And the application of the scan pulse is stopped only for the row electrodes determined that all of the logical levels of the pixel data for one row match the predetermined level, In the pixel data writing process in any one of the subfields in the subfield group, the pixel data is selectively selected according to the pixel data. By selectively discharging the discharge cells, each of the discharge cells is set to either the light emitting cell or the non-light emitting cell, and the pixel data document in the subfield immediately after the subfield in which the selective discharge is generated The selective discharge is caused again in the charging process.
  According to a third aspect of the present invention, there is provided a plasma display panel driving method in which a discharge cell corresponding to one pixel is formed at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes. A method for driving a plasma display panel, wherein a display period of one field is divided into N subfields, and a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes in each of the subfields. Synchronized with the application timing of each scan pulse Then, each of the discharge cells is selectively discharged by applying each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each row of pixel data to each of the column electrodes for each row. A pixel data writing process in which each cell is set to either a light emitting cell or a non-light emitting cell, and a sustain pulse is applied to the row electrode for the number of times corresponding to each of the subfields, whereby only the light emitting cell is set to the number of times. A light emission sustaining step of discharging only the amount of N, and dividing the N sub-fields into sub-field groups each consisting of a plurality of sub-fields, each of which is continuously arranged. By discharging all the discharge cells only in the subfield, each of the discharge cells is changed to either the light emitting cell or the non-light emitting cell. A reset process that initializes to one state is executed, and in the pixel data writing process, for each row electrode, all the logical levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode are equal to a predetermined level. And the application of the scan pulse is stopped only for the row electrodes for which it is determined that all the logical levels of the pixel data for one row match the predetermined level, In the pixel data writing process in any one of the subfields in a field group, the discharge cells are selectively discharged according to the pixel data, thereby causing each of the discharge cells to be the light emitting cell or the non-emitting cell. In the pixel data writing process in the subfield immediately after the subfield in which the selective discharge is caused, the light emitting cell is set to one of the states. Again it allowed to rise to the selective discharge.
[0022]
  Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0023]
  FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a plasma display apparatus that drives a plasma display panel to emit light based on the driving method according to the present invention.
[0024]
  As shown in FIG. 5, the plasma display device is composed of a PDP 10 as a plasma display panel and various functional modules that drive the plasma display panel.
[0025]
  The PDP 10 includes m column electrodes D as address electrodes.1~ DmAnd n number of row electrodes X arranged crossing each of these column electrodes.1~ XnAnd row electrode Y1~ YnIt has. A pair of the row electrode X and the row electrode Y forms a row electrode corresponding to one row in the PDP 10. The column electrode D and the row electrodes X and Y are covered with a dielectric layer with respect to the discharge space, and a discharge cell corresponding to one pixel is formed at the intersection of each row electrode pair and the column electrode. Yes.
[0026]
  The A / D converter 1 samples an analog input video signal in accordance with a clock signal supplied from the drive control circuit 2 and converts it into, for example, 8-bit pixel data (input pixel data) D for each pixel. The data is converted and supplied to the data conversion circuit 30. The data conversion circuit 30 converts the 8-bit pixel data D into 14-bit conversion pixel data HD, which is converted into each of the memory 4, the non-selected row determination circuit 51, and the non-light emitting SF (subfield) determination circuit 52. Supply. The detailed operations of the data conversion circuit 30, the non-selected row determination circuit 51, and the non-light emitting SF determination circuit 52 will be described later.
[0027]
  The memory 4 sequentially writes the converted pixel data HD in accordance with the write signal supplied from the drive control circuit 2. When writing for one screen (n rows, m columns) in the PDP 10 is completed by such a writing operation, the memory 4 stores the converted pixel data HD for one screen in accordance with the read signal supplied from the drive control circuit 2.11-nmFor each bit digit, i.e.
          DB111-nm: Conversion pixel data HD11-nm1st bit of
          DB211-nm: Conversion pixel data HD11-nm2nd bit of
          DB311-nm: Conversion pixel data HD11-nmThe third bit of
          DB411-nm: Conversion pixel data HD11-nm4th bit of
          DB511-nm: Conversion pixel data HD11-nm5th bit of
          DB611-nm: Conversion pixel data HD11-nm6th bit of
          DB711-nm: Conversion pixel data HD11-nm7th bit of
          DB811-nm: Conversion pixel data HD11-nm8th bit of
          DB911-nm: Conversion pixel data HD11-nm9th bit of
          DB1011-nm: Conversion pixel data HD11-nm10th bit of
          DB1111-nm: Conversion pixel data HD11-nm11th bit of
          DB1211-nm: Conversion pixel data HD11-nm12th bit of
          DB1311-nm: Conversion pixel data HD11-nm13th bit of
          DB1411-nm: Conversion pixel data HD11-nm14th bit of
  These DB1 are divided11-nm, DB211-nm..., DB1411-nmEach of them is sequentially read for each row and supplied to the address driver 6.
[0028]
  The drive control circuit 2 generates a clock signal for the A / D converter 1 and a write / read signal for the memory 4 in synchronization with the horizontal and vertical synchronization signals in the video signal input as described above. Further, the drive control circuit 2 addresses various timing signals to drive and control the PDP 10 in accordance with the light emission drive format shown in FIG. 6 in consideration of various determination signals from the non-selected row determination circuit 51 and the non-light emission SF determination circuit 52. This is supplied to the driver 6, the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8, respectively. As shown in FIG. 6, the drive control circuit 2 controls the drive of the PDP 10 by dividing the display period of one field into 14 subfields SF1 to SF14. At this time, in each subfield, pixel data writing process Wc in which pixel data is written to each discharge cell of the PDP 10 to set “light emitting cell” and non-light emitting cell, and the above “light emitting cell”. 6 is performed for the number of times (periods) shown in Fig. 6 to perform a light emission sustaining step Ic for maintaining the light emission state, and in only the first subfield SF1, the discharge in all the discharge cells of the PDP 10 is performed. The simultaneous reset process Rc for initializing the wall charge amount is executed, and the erase process E for erasing the wall charges in all the discharge cells at the same time is executed only in the last subfield SF14.
[0029]
  The address driver 6, the first sustain driver 7, and the second sustain driver 8 each of the PDP 10 in order to realize the above-described operations in the simultaneous reset process Rc, the pixel data write process Wc, the light emission sustain process Ic, and the erase process E. Column electrode D1~ Dm, Row electrode X1~ XnAnd Y1~ YnVarious drive pulses are applied to each.
[0030]
  FIG. 7 is a diagram illustrating an example of the application timing of such drive pulses.
[0031]
  First, in the simultaneous reset process Rc of the subfield SF1, the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8 perform a negative reset pulse RP.xAnd positive reset pulse RPYRow electrode X1~ XnAnd Y1~ YnAre applied simultaneously. These reset pulses RPxAnd RPYAs a result, all discharge cells in the PDP 10 are reset and discharged, and predetermined wall charges are uniformly formed in each discharge cell. As a result, all discharge cells in the PDP 10 are temporarily set to “light emitting cells” once.
[0032]
  Next, in the pixel data writing process Wc of the subfield SF1, the address driver 6 receives the DB1 supplied from the memory as described above.11-nmA pixel data pulse having a voltage corresponding to each logic level is generated, and this is sequentially applied to the column electrode D for each row.1-mApply to. That is, first, the DB111-nmThe portion corresponding to the first line from that, that is, DB111-1mAnd extract these DB111-1mPixel data pulse group DP1 consisting of m pixel data pulses corresponding to each logic level1And the column electrode D as shown in FIG.1-mAre applied simultaneously. Next, DB111-nmDB1 corresponding to the second row of21-2mAnd extract these DB121-2mPixel data pulse group DP1 consisting of m pixel data pulses corresponding to each logic level2To generate a column electrode D1-mAre applied simultaneously. Hereinafter, similarly, pixel data pulse group DP1 for each rowThree~ DP1nSequentially column electrode D1-mApply to. The address driver 6 generates a high-voltage pixel data pulse when the logical level of DB1 is “1”, for example, and low voltage (0 volts) when the logical level of DB1 is “0”. It is assumed that the pixel data pulse is generated.
[0033]
  In the pixel data writing process Wc of the subfield SF2, the address driver 6 receives the DB2 supplied from the memory as described above.11-nmFrom each, a pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level is generated, and this is sequentially applied to the column electrode D every row.1-mApply to. That is, first, the DB211-nmThe amount corresponding to the first line from the inside, that is, DB211-1mAnd extract these DB211-1mPixel data pulse group DP2 consisting of m pixel data pulses corresponding to each logic level1And these are converted into column electrodes D as shown in FIG.1-mAre applied simultaneously. Next, DB211-nmDB2 corresponding to the second row of21-2mAnd extract these DB221-2mPixel data pulse group DP2 consisting of m pixel data pulses corresponding to each logic level2Are generated and the column electrodes D1-mAre applied simultaneously. Hereinafter, similarly, pixel data pulse group DP2 for each rowThree~ DP2nSequentially column electrode D1-mApply to.
[0034]
  In the pixel data writing process Wc in each of the subfields SF3 to SF14, the address driver 6 also applies DB3 in the same manner as described above.11-nm~ DB1411-nmPixel data pulse group DP3 from each1-n~ DP141-nAre generated, and these are sequentially applied to the column electrode D for each row.1-mApply to.
[0035]
  Here, the second sustain driver 8 generates a scanning pulse SP having a negative polarity as shown in FIG. 7 at the same timing as each application timing of the pixel data pulse group DP as described above, and outputs this to the row electrode Y.1~ YnApply sequentially to. At this time, a discharge (selective erasure discharge) occurs only in the discharge cell at the intersection of the “row” to which the scan pulse SP is applied and the “column” to which the high-voltage pixel data pulse is applied. The wall charges remaining in are selectively erased. That is, the logic level of each bit (first bit to 14th bit) in the converted pixel data HD determines whether or not to perform selective erasure discharge in the pixel data writing process Wc in each of the subfields SF1 to SF14. It is doing. Due to the selective erasing discharge, the discharge cell initialized to the “light emitting cell” state in the simultaneous reset process Rc is changed to the “non-light emitting cell”. Note that no discharge is generated in the discharge cells formed in the “column” to which the high-voltage pixel data pulse is not applied, and the state is initialized in the simultaneous reset process Rc, that is, the “light emitting cell”. The state of is maintained.
[0036]
  That is, when each pixel data writing process Wc is executed, in the light emission sustaining process cI immediately after that, a “light emitting cell” in which a sustain discharge accompanied by light emission occurs as described later, and no sustain discharge occurs and no light emission occurs. The remaining “non-light emitting cells” are alternatively set according to the pixel data, and so-called pixel data is written to each discharge cell.
[0037]
  In the light emission sustaining process Ic executed in each of the subfields SF1 to SF14, the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8 are connected to the row electrode X.1~ XnAnd Y1~ YnIn contrast, as shown in FIG.XAnd IPYApply. Here, the number of sustain pulses IP applied in the light emission sustain process Ic of each subfield is:
                SF1: 1
                SF2: 3
                SF3: 5
                SF4: 8
                SF5: 10
                SF6: 13
                SF7: 16
                SF8: 19
                SF9: 22
                SF10: 25
                SF11: 28
                SF12: 32
                SF13: 35
                SF14: 39
  It is.
[0038]
  By applying the sustain pulse, a discharge cell in which wall charges remain in the pixel data writing process Wc, that is, a “light emitting cell”XAnd IPYEach time is applied, sustain discharge is performed, and the discharge light emission state is maintained for the number of times (period). At this time, the ratio of the number of sustain discharges to be executed in each of the subfields SF1 to SF14 is set to a non-linear (that is, inverse gamma ratio, Y = X2.2Thus, the nonlinear characteristic (gamma characteristic) of the input pixel data D is corrected.
[0039]
  Further, as shown in FIG. 4, in the erasing step E in the last subfield, the address driver 6 generates an erasing pulse AP and supplies it to the column electrode D.1-mTo each of the above. The second sustain driver 8 generates an erase pulse EP simultaneously with the application timing of the erase pulse AP, and generates the erase pulse EP.1~ YnApply to each. By simultaneously applying these erasing pulses AP and EP, an erasing discharge is generated in all the discharge cells in the PDP 10, and the wall charges remaining in all the discharge cells are extinguished. That is, by this erasing discharge, all the discharge cells in the PDP 10 become non- “light emitting cells”.
[0040]
  Here, the non-selected row discriminating circuit 51 in FIG. 5 performs the conversion pixel data HD for one screen.11-nmBased on the above, a “row” (hereinafter referred to as a non-selected row) in which no selective erasing discharge is generated is discriminated, and a non-selected row discriminating signal NS indicating each non-selected row is supplied to the drive control circuit 2. For example, the non-selected row discriminating circuit 51 generates the converted pixel data HD.11-nmDB1 for each bit digit11-nm, DB211-nm, DB311-nm..., DB1411-nmAs shown in FIG. 14, the sub-fields SF1 to SF14 are assigned to the respective subfields SF1 to SF14. For each subfield, the logical levels of the data bits for one row corresponding to the first to mth columns in the DB are all "0". The “row” is a non-selected row. Note that, when this non-selected row does not exist, the non-selected row determination circuit 51 supplies the drive control circuit 2 with a non-selected row determination signal NS of level “0”. When the non-selected row determination signal NS is at level “0”, the drive control circuit 2 applies a negative scan pulse SP to the row electrode Y as shown in FIG.1~ YnScan pulse timing signals to be sequentially applied to the second sustain driver 8 are supplied. On the other hand, when the non-selected row determination signal NS indicates the presence of the non-selected row, the scan pulse timing signal for stopping the application of the scan pulse SP is applied only to the non-selected row. Supply to the driver 8.
[0041]
  FIG. 8 is a diagram illustrating an example of application timings of various drive pulses in one field when such non-selected rows exist.
[0042]
  In FIG. 8, the converted pixel data HD11-nmDB1 consisting of the first bit of11-nmThe amount corresponding to the second line in the middle, that is, DB121-2mAll the bits of the signal are at the logic level “0”, and the converted pixel data HD11-nmDB2 consisting of the second bit of11-nmThe portion corresponding to the nth row in the middle, that is, DB2n1-nmThis shows a case where all the bits of are at logic level “0”.
[0043]
  Thus, DB121-2mWhen all the bits in FIG. 5 are at the logic level “0”, the address driver 6 causes the pixel data pulse group in which all of them become low voltage (0 volts) in the pixel data writing process Wc in the subfield SF1 shown in FIG. DP12Column electrode D1-mWill be applied. DB2n1-nmWhen all the bits of are at the logic level “0”, the address driver 6 causes the pixel data pulse group DP2 to be all at a low voltage (0 volt) in the pixel data writing process Wc in the subfield SF2.nColumn electrode D1-mWill be applied. At this time, if the pixel data pulse group DP is at a low voltage as described above, even if the scan pulse SP is applied, the selective erasing discharge is not generated.
[0044]
  Therefore, in the non-selected row discriminating circuit 51, the “row” in which no selective erasing discharge is generated in any of the first column to the m-th column, that is, the non-selected row is converted into the converted pixel data HD.11-nmIn this case, the application of the scan pulse SP is stopped for this non-selected row, as shown in the second row of SF1 and the nth row of SF2 in FIG. It was.
[0045]
  Therefore, the power consumption can be suppressed by the amount that the application of the scan pulse SP is stopped.
[0046]
  Further, the non-light emitting SF discriminating circuit 52 of FIG.11-nmBased on the above, in the light emission sustaining process Ic for each subfield, a subfield in which all the discharge cells for one screen are in a non-light emission state (hereinafter referred to as non-light emission SF) is determined, and the non-light emission SF indicating the non-light emission SF is determined. The light emission SF discrimination signal NL is supplied to the drive control circuit 2. When the non-light-emitting SF does not exist, the non-light-emitting SF determination circuit 52 supplies a non-light-emitting SF determination signal NL of level “0” to the drive control circuit 2. When the non-light emitting SF discriminating signal NL is at the level “0”, the drive control circuit 2 performs positive sustain pulse IP as shown in FIGS.XAnd IPYAre supplied to the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8 as sustain pulse timing signals to be applied to the row electrodes X and Y alternately. On the other hand, when the non-light emitting SF determination signal NL indicates the presence of the non-light emitting SF, the sustain pulse IP is applied only to the light emission sustaining process Ic of the subfield indicated by the non-light emitting SF.XAnd IPYIs supplied to the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8.
[0047]
  FIG. 9 is a diagram illustrating an example of application timings of various drive pulses when the non-light-emitting SF is the subfield SF14.
[0048]
  As described above, when the non-light emitting SF discriminating circuit 52 determines that the subfield in which all the discharge cells do not emit light is SF 14, the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8 are shown in FIG. As shown in the figure, the sustain pulse IP is applied only to the light emission sustain process Ic of the subfield SF14.XAnd IPYThe application of is stopped.
[0049]
  Therefore, sustain pulse IPXAnd IPYTherefore, the power consumption can be suppressed by the amount not applied.
[0050]
  FIG. 10 is a diagram showing all the patterns of light emission driving performed based on the light emission driving format as shown in FIG.
[0051]
  As shown in FIG. 10, selective erasing discharge is performed on each discharge cell only in the pixel data writing process Wc in one of the subfields SF1 to SF14 (indicated by black circles). . That is, the wall charges formed in all the discharge cells of the PDP 10 by performing the simultaneous reset process Rc remain until the selective erasing discharge is performed, and the light emission sustaining process in each subfield SF existing in the meantime. In Ic, the sustain discharge accompanied by light emission is promoted (indicated by white circles). That is, each discharge cell becomes a “light emitting cell” until the selective erasing discharge is performed within one field period, and the light emission sustaining process Ic in each subfield existing between them is shown in FIG. The light emission is repeated for the number of times.
[0052]
  At this time, as shown in FIG. 10, the number of times each discharge cell transitions from the “light emitting cell” to the “non-light emitting cell” is always less than or equal to one within one field period. That is, a light emission drive pattern that once resets a discharge cell set to a non- “light emitting cell” to a “light emitting cell” again within one field period is prohibited.
[0053]
  Therefore, the above-described simultaneous reset operation accompanied by strong light emission regardless of image display need only be performed once within one field period as shown in FIGS. Can be suppressed.
[0054]
  In addition, since the selective erasing discharge performed in one field period is one time as shown by the black circles in FIG. 10, each subfield in which this selective erasing discharge is performed and each subfield existing thereafter In the light emission sustaining step Ic, the discharge cell is in a non-light emitting state.
[0055]
  Therefore, the non-light emitting SF discriminating circuit 52 performs the conversion pixel data HD for one screen.11-nmWhen a non-light-emitting SF in which all discharge cells for one screen are in a non-light-emitting state is detected based on the above, a subfield indicated by the non-light-emitting SF and all subfields existing thereafter are The non-light emitting SF discrimination signal NL indicating the above may be supplied to the drive control circuit 2.
[0056]
  Here, according to the light emission drive pattern as shown in FIG.
    {0, 1, 4, 9, 17, 27, 40, 56, 75, 97, 122, 150, 182, 217, 256}
  This makes it possible to express halftones in 15 levels
[0057]
  However, the pixel data D supplied from the A / D converter 1 expresses 8 bits, that is, 256 halftones.
[0058]
  Therefore, data conversion is performed by the data conversion circuit 30 shown in FIG. 2 in order to realize halftone display close to 256 levels even by the 15 levels of gradation driving.
[0059]
  FIG. 11 is a diagram showing an internal configuration of the data conversion circuit 30. As shown in FIG.
[0060]
  In FIG. 11, an ABL (automatic brightness control) circuit 31 is sequentially supplied from the A / D converter 1 so that the average brightness of the image displayed on the screen of the PDP 10 is within a predetermined brightness range. The brightness level is adjusted for the pixel data D for each pixel, and the brightness adjustment pixel data D obtained at this time is adjusted.BLIs supplied to the first data conversion circuit 32.
[0061]
  The luminance level is adjusted before the inverse gamma correction is performed by setting the ratio of the number of times of light emission in each subfield to be nonlinear as will be described later. Therefore, the ABL circuit 31 is configured to perform inverse gamma correction on the pixel data D and automatically adjust the luminance level of the pixel data D according to the average luminance of the inverse gamma conversion pixel data obtained at this time. . As a result, display quality deterioration due to brightness adjustment is prevented.
[0062]
  FIG. 12 is a diagram showing an internal configuration of the ABL circuit 31. As shown in FIG.
[0063]
  In FIG. 12, the level adjustment circuit 310 adjusts the brightness adjustment pixel data D obtained by adjusting the level of the pixel data D according to the average brightness obtained by the average brightness detection circuit 311 described later.BLIs output. The data conversion circuit 312 receives the brightness adjustment pixel data DBLAs shown in FIG. 13, the inverse gamma characteristic (Y = X2.2) Is supplied to the average luminance level detection circuit 311 as inverse gamma conversion pixel data Dr. That is, in the data conversion circuit 312, the brightness adjustment pixel data DBLBy applying inverse gamma correction to the pixel data, pixel data (inverse gamma conversion pixel data Dr) corresponding to the original video signal for which the gamma correction has been canceled is restored.
[0064]
  The average luminance detection circuit 311 designates the light emission period in each subfield. For example, as shown in FIG. 14, the average luminance detection circuit 311 emits the PDP 10 with luminance according to the average luminance obtained as described above. A luminance mode that can be driven is selected, and a luminance mode signal LC indicating the selected luminance mode is supplied to the drive control circuit 2. At this time, the drive control circuit 2 shows the number of sustain discharges in the light emission sustaining process Ic of each of the subfields SF1 to SF14 shown in FIG. 6, that is, the number of sustain pulses to be applied in each light emission sustaining process Ic. 14 is set according to the mode specified by the luminance mode signal LC. That is, the number of times of light emission in each subfield shown in FIG. 6 indicates the number of times of light emission when the luminance mode 1 is set. If the luminance mode 2 is set,
                SF1: 2
                SF2: 6
                SF3: 10
                SF4: 16
                SF5: 20
                SF6: 26
                SF7: 32
                SF8: 38
                SF9: 44
                SF10: 50
                SF11: 56
                SF12: 64
                SF13: 70
                SF14: 78
  At a certain number of times, the sustain discharge is performed in the light emission sustain process Ic of each subfield.
[0065]
  Even in such light emission driving, the ratio of the number of times of light emission in each of the subfields SF1 to SF14 is nonlinear (that is, the inverse gamma ratio, Y = X2.2Thus, the nonlinear characteristic (gamma characteristic) of the input pixel data D is corrected.
[0066]
  The average luminance detection circuit 311 obtains the average luminance from the inverse gamma conversion pixel data Dr and supplies it to the level adjustment circuit 310.
[0067]
  Here, the first data conversion circuit 32 in FIG. 11 has 256 gradation (8 bits) luminance adjustment pixel data D based on the conversion characteristics as shown in FIG.BLIs converted to 14 × 16/255 (224/255) 8-bit (0-224) conversion pixel data HDpAnd converted to the multi-gradation processing circuit 33. Specifically, 8-bit (0 to 255) luminance adjustment pixel data DBL16 and 17 based on such conversion characteristics are converted in accordance with a conversion table as shown in FIGS. That is, this conversion characteristic is set according to the number of bits of input pixel data, the number of compression bits by multi-gradation, and the number of display gradations. As described above, the first data conversion circuit 32 is provided in the preceding stage of the multi-gradation processing circuit 33 to be described later, and the conversion is performed according to the display gradation number and the compression bit number by the multi-gradation, thereby adjusting the luminance. Pixel data DBLThe upper bit group (corresponding to multi-gradation pixel data) and the lower bit group (data to be discarded: error data) are separated at bit boundaries, and multi-gradation processing is performed based on this signal. As a result, it is possible to prevent the occurrence of luminance saturation due to the multi-gradation processing and the occurrence of a flat portion of display characteristics (that is, the occurrence of gradation distortion) that occurs when the display gradation is not at the bit boundary.
[0068]
  Since the lower bit group is discarded, the number of gradations decreases. However, the decrease in the number of gradations can be obtained in a pseudo manner by the operation of the multi-gradation processing circuit 33 described below. ing.
[0069]
  FIG. 18 is a diagram showing an internal configuration of the multi-gradation processing circuit 33. As shown in FIG.
[0070]
  As shown in FIG. 18, the multi-gradation processing circuit 33 includes an error diffusion processing circuit 330 and a dither processing circuit 350.
[0071]
  First, the data separation circuit 331 in the error diffusion processing circuit 330 receives the 8-bit converted pixel data HD supplied from the first data conversion circuit 32.PThe lower 2 bits are separated as error data, and the upper 6 bits are separated as display data.
[0072]
  The adder 332 converts the converted pixel data HD as the error data.PAn addition value obtained by adding the lower two bits in the middle, the delay output from the delay circuit 334, and the multiplication output of the coefficient multiplier 335 is supplied to the delay circuit 336. The delay circuit 336 delays the addition value supplied from the adder 332 by a delay time D having the same time as the clock cycle of the pixel data, and delays the addition value AD.1Are supplied to the coefficient multiplier 335 and the delay circuit 337, respectively.
[0073]
  The coefficient multiplier 335 receives the delay addition signal AD.1The predetermined coefficient value K1A multiplication result obtained by multiplying (for example, “7/16”) is supplied to the adder 332.
[0074]
  The delay circuit 337 receives the delay addition signal AD.1Is further delayed by a time of (1 horizontal scanning period−the delay time D × 4).2To the delay circuit 338. The delay circuit 338 receives the delayed addition signal AD.2Is further delayed by the delay time D to obtain a delayed addition signal ADThreeAs a coefficient multiplier 339. In addition, the delay circuit 338 receives the delayed addition signal AD.2Is further delayed by the delay time D × 2 to obtain a delayed addition signal ADFourIs supplied to the coefficient multiplier 340. Further, the delay circuit 338 receives the delayed addition signal AD.2Is obtained by delaying the delay time D × 3 by the delay time signal D × 3.FiveIs supplied to the coefficient multiplier 341.
[0075]
  The coefficient multiplier 339 outputs the delayed addition signal ADThreeThe predetermined coefficient value K2The multiplication result obtained by multiplying (for example, “3/16”) is supplied to the adder 342. The coefficient multiplier 340 receives the delayed addition signal AD.FourThe predetermined coefficient value KThreeThe multiplication result obtained by multiplying (for example, “5/16”) is supplied to the adder 342. The coefficient multiplier 341 receives the delayed addition signal AD.FiveThe predetermined coefficient value KFourThe multiplication result obtained by multiplying (for example, “1/16”) is supplied to the adder 342.
[0076]
  The adder 342 supplies an addition signal obtained by adding the multiplication results supplied from the coefficient multipliers 339, 340, and 341 to the delay circuit 334. The delay circuit 334 delays the added signal by the time corresponding to the delay time D and supplies the delayed signal to the adder 332. The adder 332 outputs the error data (converted pixel data HD).P(The lower two bits in the middle), the delay output from the delay circuit 334, and the multiplication output of the coefficient multiplier 335 are added. At this time, when there is no carry, there is a logic level "0" and a carry. In this case, a carry-out signal C with a logic level "1"OIs generated and supplied to the adder 333.
[0077]
  The adder 333 receives the display data (converted pixel data HD).PIn the upper 6 bits), the above carry-out signal COIs added as 6-bit error diffusion processed pixel data ED.
[0078]
  The operation of the error diffusion processing circuit 330 having such a configuration will be described below.
[0079]
  For example, when obtaining the error diffusion processing pixel data ED corresponding to the pixel G (j, k) of the PDP 10 as shown in FIG. 19, first, the pixel G (j, k) on the left side of the pixel G (j, k) is first obtained. k-1), upper left pixel G (j-1, k-1), upper right pixel G (j-1, k), and upper right pixel G (j-1, k + 1) Each error data corresponding to each, that is,
        Error data corresponding to pixel G (j, k-1): delayed addition signal AD1
         Error data corresponding to pixel G (j-1, k + 1): delayed addition signal ADThree
         Error data corresponding to pixel G (j-1, k): delayed addition signal ADFour
        Error data corresponding to pixel G (j-1, k-1): delayed addition signal ADFive
  Each is represented by a predetermined coefficient value K as described above.1~ KFourIs weighted and added. Next, the conversion pixel data HD is added to the addition result.PThe error data corresponding to the lower 2 bits of the pixel, that is, the pixel G (j, k) is added, and the carrier-out signal C for 1 bit obtained at this time is added.OConvert pixel data HDPThe upper 6 bits, that is, the display data corresponding to the pixel G (j, k) is added to the display data corresponding to the pixel G (j, k) as error diffusion processing pixel data ED.
[0080]
  With this configuration, the error diffusion processing circuit 330 converts the converted pixel data HD.PThe upper 6 bits are displayed as display data, and the remaining lower 2 bits are regarded as error data. The peripheral pixels {G (j, k-1), G (j-1, k + 1), G (j-1 , k) and G (j−1, k−1)} are weighted and added to the display data. By this operation, the luminance of the lower 2 bits in the original pixel {G (j, k)} is expressed in a pseudo manner by the peripheral pixels, and therefore the number of bits is smaller than 8 bits, that is, the display data is 6 bits. Thus, luminance gradation equivalent to the 8-bit pixel data can be expressed.
[0081]
  If this error diffusion coefficient value is added to each pixel at a constant rate, noise due to the error diffusion pattern may be visually confirmed, and the image quality is impaired. Therefore, the error diffusion coefficient K to be assigned to each of the four pixels as in the case of the dither coefficient described later.1~ KFourMay be changed for each field.
[0082]
  The dither processing circuit 350 performs a dither process on the error diffusion processing pixel data ED supplied from the error diffusion processing circuit 330, thereby maintaining a luminance gradation level equivalent to the 6-bit error diffusion processing pixel data ED. Multi-gradation processing pixel data D with the number of bits further reduced to 4 bitsSIs generated. In this dither process, one intermediate display level is expressed by a plurality of adjacent pixels. For example, when performing gradation display corresponding to 8 bits using upper 6 bits of pixel data of 8 bits of pixel data, a set of four pixels adjacent to each other on the left, right, and top is taken as one set. Four dither coefficients a to d having different coefficient values are assigned to each pixel data corresponding to the pixel and added. According to such dither processing, four different combinations of intermediate display levels are generated with four pixels. Therefore, even if the number of bits of pixel data is 6 bits, the luminance gradation level that can be expressed is 4 times, that is, halftone display equivalent to 8 bits is possible.
[0083]
  However, if a dither pattern consisting of dither coefficients a to d is added to each pixel, noise due to the dither pattern may be visually confirmed and image quality is impaired.
[0084]
  Therefore, in the dither processing circuit 350, the dither coefficients a to d to be assigned to each of the four pixels are changed for each field.
[0085]
  FIG. 20 is a diagram showing an internal configuration of the dither processing circuit 350. As shown in FIG.
[0086]
  In FIG. 20, a dither coefficient generation circuit 352 generates four dither coefficients a, b, c, and d for every four adjacent pixels, and sequentially supplies these to the adder 351.
[0087]
  For example, as shown in FIG. 21, the pixel G (j, k) and pixel G (j, k + 1) corresponding to the jth row and the pixel G (j + 1, k) corresponding to the (j + 1) th row ) And four dither coefficients a, b, c and d corresponding to the four pixels G (j + 1, k + 1), respectively. At this time, the dither coefficient generation circuit 352 changes the dither coefficients a to d to be assigned to each of these four pixels for each field as shown in FIG.
[0088]
  That is, in the first first field,
              Pixel G (j, k): Dither coefficient a
              Pixel G (j, k + 1): Dither coefficient b
              Pixel G (j + 1, k): Dither coefficient c
              Pixel G (j + 1, k + 1): Dither coefficient d
  In the next second field,
              Pixel G (j, k): Dither coefficient b
              Pixel G (j, k + 1): Dither coefficient a
              Pixel G (j + 1, k): Dither coefficient d
              Pixel G (j + 1, k + 1): Dither coefficient c
  In the next third field,
              Pixel G (j, k): Dither coefficient d
              Pixel G (j, k + 1): Dither coefficient c
              Pixel G (j + 1, k): Dither coefficient b
              Pixel G (j + 1, k + 1): Dither coefficient a
  And in the fourth field,
              Pixel G (j, k): Dither coefficient c
              Pixel G (j, k + 1): Dither coefficient d
              Pixel G (j + 1, k): Dither coefficient a
              Pixel G (j + 1, k + 1): Dither coefficient b
  The dither coefficients a to d are repeatedly generated by the assignment as described above and supplied to the adder 351. The dither coefficient generation circuit 352 repeatedly performs the operations of the first field to the fourth field as described above. That is, when the dither coefficient generation operation in the fourth field is completed, the operation returns to the operation in the first field again, and the above-described operation is repeated.
[0089]
  The adder 351 supplies the pixel G (j, k), pixel G (j, k + 1), pixel G (j + 1, k), and pixel G (j) supplied from the error diffusion processing circuit 330. + 1, k + 1) is added to each of the error diffusion processing pixel data ED corresponding to each, and the dither coefficients a to d assigned to each field as described above are added, and the dither addition pixel data obtained at this time is added. This is supplied to the upper bit extraction circuit 353.
[0090]
  For example, in the first field shown in FIG.
       Error diffusion processing pixel data ED corresponding to the pixel G (j, k) + dither coefficient a,
       Error diffusion pixel data ED corresponding to pixel G (j, k + 1) + dither coefficient b,
       Error diffusion pixel data ED corresponding to the pixel G (j + 1, k) + dither coefficient c,
       Each of the error diffusion processing pixel data ED + dither coefficient d corresponding to the pixel G (j + 1, k + 1) is sequentially supplied to the upper bit extraction circuit 353 as dither addition pixel data.
[0091]
  The upper bit extraction circuit 353 extracts up to the upper 4 bits of the dither addition pixel data, and converts this to the multi-gradation pixel data DSTo the second data conversion circuit 34 shown in FIG.
Supply.
[0092]
  The second data conversion circuit 34 provides the multi-gradation pixel data DSIs converted into converted pixel data HD composed of first to fourteenth bits corresponding to each of the subfields SF1 to SF14 in accordance with a conversion table as shown in FIG. Multi-gradation pixel data DSConverts the 8-bit (256 gradations) input pixel data D into 224/225 according to the first data conversion (conversion tables in FIGS. 16 and 17), and further, for example, multi-gradation such as error diffusion processing and dither processing. By the conversion process, 2 bits are compressed and converted into data of a total of 4 bits (15 gradations). Here, among the first to 14th bits in the converted pixel data HD, the bit having the logic level “1” causes the selective erasure discharge in the pixel data writing process Wc in the subfield SF corresponding to the bit. Is shown.
[0093]
  According to the operation of the data conversion circuit 30 as described above, as shown in FIG. 10, even with 15 levels of gradation driving, the actual visual gradation expression approaches 256 gradations.
[0094]
  As described above, in the present invention, the non-selected row discriminating circuit 51 and the non-light emitting SF discriminating circuit 52 use the pixel data (conversion pixel data) as the “row” that does not cause the selective erasing discharge and the subfield that does not cause the sustain discharge. HD). Here, the application of the scan pulse SP is stopped for the “row” determined not to cause the selective erasure discharge, and the sustain pulse IP is applied to the subfield determined not to generate the sustain discharge. By stopping, power consumption is reduced.
[0095]
  In the above embodiment, as a pixel data writing method, wall charges are forcibly formed in advance in each discharge cell at the beginning of one field, and all discharge cells are set to “light emitting cells”. The case where the so-called selective erasure address method is adopted, in which pixel data is written by selectively erasing the wall charges according to data, has been described.
[0096]
  However, the present invention can be similarly applied to a case where a so-called selective write addressing method in which wall charges are selectively formed according to pixel data as a pixel data writing method.
[0097]
  FIG. 22 is a diagram showing a light emission drive format when such a selective write address method is employed.
[0098]
  FIG. 23 is a diagram showing a conversion table used in the second data conversion circuit 34 when the selective write address method is adopted, and all the patterns of light emission driving performed within one field period.
[0099]
  In FIG. 22, in the simultaneous reset process Rc in the first subfield SF14, the first sustain driver 7 and the second sustain driver 8 are reset pulses RP similar to those shown in FIG.xAnd RPYAre simultaneously applied to the row electrodes X and Y of the PDP 10, respectively. As a result, all discharge cells in the PDP 10 are reset and discharged, and wall charges are forcibly formed in each discharge cell. Immediately thereafter, the first sustain driver 7 applies a negative erase pulse with a short pulse width to the row electrode X of the PDP 10.1~ XnAre simultaneously applied to erase the wall charges formed in all the discharge cells. That is, according to the execution of the simultaneous reset process Rc shown in FIG. 22, all the discharge cells in the PDP 10 are initialized to a non-light emitting cell state.
[0100]
  On the other hand, in the pixel data write process Wc, only the discharge cells (selective write discharge) are discharged at the intersections between the “row” to which the scan pulse SP is applied and the “column” to which the high-voltage pixel data pulse is applied. ), And wall charges are selectively formed in the discharge cells. Due to the selective write discharge, the discharge cell initialized to the “non-light emitting cell” state in the simultaneous reset process Rc changes to “light emitting cell”. The selective write discharge as described above does not occur in the discharge cells formed in the “column” to which the low-voltage pixel data pulse is applied, and is initialized in the simultaneous reset process Rc. That is, the “non-light emitting cell” state is maintained.
[0101]
  That is, by executing the pixel data writing process Wc, a “light emitting cell” that maintains a light emitting state in a sustain light emitting process, which will be described later, and a “non-light emitting cell” that remains in a non-light emitting state are selected according to the pixel data. The pixel data is uniquely set and pixel data is written to each discharge cell.
[0102]
  Here, when the light emission driving by the selective writing address method is performed, as shown in FIG. 23, the selective writing is performed only in the subfield SF corresponding to the bit of the logical level “1” in the converted pixel data HD. Burst discharge is performed (indicated by black circles). At this time, no sustain discharge occurs in the light emission sustaining process Ic of each subfield existing between the first subfield SF14 and the execution of this selective write discharge, and the subfield in which this selective write discharge has been executed. In the light emission sustaining process Ic of each subfield existing thereafter, a sustain discharge is generated and the light emission state is maintained (indicated by a white circle).
[0103]
  Therefore, when such a selective write address method is adopted, the non-selected row discriminating circuit 51 and the non-light emitting SF discriminating circuit 52 are sub-rows that do not cause a selective write discharge and a sustain discharge. The field is determined at the stage of pixel data (converted pixel data HD). Here, the application of the scan pulse SP is stopped for the “row” determined not to cause the selective write discharge, and the sustain pulse IP is applied to the subfield determined not to generate the sustain discharge. By stopping the operation, power consumption is reduced.
[0104]
  In the above embodiment, the halftone drive of 15 gradations is performed by setting the simultaneous reset process Rc to be performed once in one field period. However, the simultaneous reset process Rc is performed in one field period. It is also possible to increase the number of gradation drives by executing twice in step.
[0105]
  FIG. 24 and FIG. 25 are diagrams showing a light emission drive format made in view of this point.
[0106]
  24 shows a light emission drive format applied when the selective erasure address method as described above is adopted as the pixel data writing method, and FIG. 25 shows a light emission drive format applied when the selective write address method is adopted. .
[0107]
  In these light emission drive formats shown in FIGS. 24 and 25, one field period is divided into 14 subfields SF1 to SF14. In each subfield, pixel data writing process Wc in which pixel data is written to set “light emitting cells” and non- “light emitting cells”, and a light emission sustaining process in which the light emitting state is maintained only for “light emitting cells”. Ic. At this time, the number of times of light emission in each light emission sustaining step Ic is as follows when the light emission period in the subfield SF1 is “1”:
                SF1: 1
                SF2: 1
                SF3: 1
                SF4: 3
                SF5: 3
                SF6: 8
                SF7: 13
                SF8: 15
                SF9: 20
                SF10: 25
                SF11: 31
                SF12: 37
                SF13: 48
                SF14: 50
  Is set.
[0108]
  That is, the ratio of the number of times of light emission in each of the subfields SF1 to SF14 is nonlinear (that is, the inverse gamma ratio, Y = X2.2In this way, the nonlinear characteristic (gamma characteristic) of the input pixel data D is corrected.
[0109]
  Further, among these subfields, the simultaneous reset process Rc is executed in the first subfield and the intermediate subfield.
[0110]
  That is, as shown in FIG. 24, when the selective erase address method is employed, the simultaneous reset process Rc is executed in the subfields SF1 and SF7, and the selective write address method as shown in FIG. In the drive when employed, the simultaneous reset process Rc is executed in the subfields SF14 and SF6. Further, as shown in FIGS. 24 and 25, the wall charges remaining in all the discharge cells in the last subfield of one field period and the subfield immediately before the simultaneous reset process Rc are executed. An erasing process E is executed to eliminate the.
[0111]
  26 and 27 are diagrams illustrating an example of a conversion table used in the first data conversion circuit 32 illustrated in FIG. 11 when performing light emission driving based on the light emission driving format illustrated in FIGS. 24 and 25. is there.
[0112]
  The first data conversion circuit 32, based on the conversion tables of FIG. 26 and FIG. 27, input luminance adjustment pixel data D of 256 gradations (8 pits).BL9-bit (0 to 352) conversion pixel data HD in which is 22 × 16/255 (352/255)pAnd converted to the multi-gradation processing circuit 33. The multi-gradation processing circuit 33 performs, for example, 4-bit compression processing as described above, and outputs 5-bit (0 to 22) multi-gradation pixel data Ds.
[0113]
  At this time, the second data conversion circuit 34 shown in FIG. 11 performs the 5-bit multi-gradation pixel data D.SAre converted into 14-bit converted pixel data HD in accordance with a conversion table as shown in FIG.
[0114]
  At this time, FIG. 28 shows a case where the selective erasure address method is adopted as the pixel data writing method, and FIG. 29 shows a conversion table and light emission used in the second data conversion circuit 34 when the selective write address method is adopted. It is a figure which shows all the patterns of a drive, respectively.
[0115]
  When driving as shown in FIGS. 24 to 29 is performed, the emission luminance ratio is
[0, 1, 2, 3, 6, 9, 17, 22, 30, 37, 45, 57, 65, 82, 90, 113, 121, 150, 158, 195, 206, 245, 256}
  This makes it possible to perform half-tone driving in 23 stages.
[0116]
  As described above, in the driving shown in FIGS. 24 to 29, the subfields in one field period are divided into two subfield groups including a plurality of subfields arranged continuously. For example, when the selective erasure address method is adopted, as shown in FIG. 24, it is divided into a subfield group consisting of subfields SF1 to SF6 and a subfield group consisting of SF7 to SF14. At this time, the simultaneous reset process Rc is executed only in the first subfield of each subfield group, and all discharge cells are changed to “light emitting cells” (when the selective erasing address method is adopted) or “non-light emitting cells”. The discharge is initialized to the state (when the selective write address method is adopted). Here, in each subfield group, only in the pixel data writing process Wc of any one of the subfields, the discharge cells are set to “non-light emitting cells” or “light emitting cells” according to the pixel data. Further, in the light emission sustaining process Ic in each subfield, only the “light emitting cell” is caused to emit light for the number of times of light emission corresponding to the weighting of the subfield. Therefore, in each subfield group, the simultaneous reset operation and the selective erase operation (selective write operation) are performed once. According to such a driving method, in the case of the selective erasure address method, the light emission state is started in order from the first subfield in each subfield group as the luminance to be displayed increases. On the other hand, in the case of the selective erasure address method, the light emission state is started in order from the last subfield in each subfield group as the luminance to be displayed increases.
[0117]
  In the light emission drive pattern shown in FIGS. 10 and 23, the scanning pulse SP and the high-voltage pixel data pulse are simultaneously applied in any one pixel data writing process Wc of the subfields SF1 to SF14. Thus, selective erasing (writing) discharge is generated.
[0118]
  However, if the amount of charged particles remaining in the discharge cell is small, even if the scan pulse SP and the high-voltage pixel data pulse are applied at the same time, selective erasing (writing) discharge does not occur normally, and the discharge cell In some cases, the wall charges of the film cannot be erased (formed). At this time, even if the pixel data D after A / D conversion is data indicating low luminance, light emission corresponding to the maximum luminance is performed, which causes a problem that the image quality is remarkably deteriorated.
[0119]
  Therefore, a light emission drive pattern as shown in FIGS. 30 and 31 may be employed to prevent such an erroneous light emission operation. 30 shows the conversion table used in the second data conversion circuit 34 and all the patterns of light emission drive when the selective erasure address method is adopted, and FIG. 31 shows the conversion table used in the second data conversion circuit 34 when the selective write address method is adopted. ing.
[0120]
  In the light emission drive patterns shown in FIGS. 30 and 31, as shown by the black circles in the figure, selective erasure is continuously performed in the pixel data writing process Wc of each of two consecutive subfields. Addressing) discharge.
[0121]
  According to such an operation, even if the wall charge in the discharge cell cannot be normally eliminated (formed) by the first selective erase (write) discharge, the second selective erase (write) discharge is performed. As a result, the disappearance (formation) of the wall charges is normally performed, so that the erroneous sustain light emission as described above is prevented.
[0122]
  These two selective erasing (writing) discharges need not be performed in consecutive subfields. In short, the second selective erasing (writing) discharge may be performed in any subfield after the first selective erasing (writing) discharge is completed.
【The invention's effect】
[0123]
  As described above in detail, in the present invention, each non-selected row in which no selective erasing (writing) discharge is generated and each subfield in which no sustain discharge is generated are determined in advance based on pixel data, and such non-selection is performed. The application of the scan pulse is stopped for the row, and the application of the sustain pulse is stopped for the subfield where no sustain discharge is generated.
[0124]
  Therefore, according to the present invention, power consumption can be reduced by the amount of application of the scan pulse and sustain pulse to the plasma display panel.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a plasma display device.
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a light emission drive format for realizing halftone display of 16 gradations.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of application timing of a driving pulse applied to the PDP 10;
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a light emission driving pattern by a subfield method.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of a plasma display apparatus for driving a plasma display panel according to a driving method according to the present invention.
6 is a diagram showing a light emission drive format in the plasma display device shown in FIG.
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of application timings of various drive pulses applied to the PDP 10 in accordance with the drive method according to the present invention.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of application timings of various drive pulses applied to the PDP 10 according to the drive method according to the present invention.
FIG. 9 is a diagram showing an example of application timings of various drive pulses applied to the PDP 10 according to the drive method according to the present invention.
FIG. 10 is a diagram showing an example of a light emission drive pattern when pixel data is written using the selective erasure address method and a conversion table used by the second data conversion circuit 34 when this light emission drive is performed. is there.
11 is a diagram showing an internal configuration of a data conversion circuit 30. FIG.
12 is a diagram showing an internal configuration of an ABL circuit 31. FIG.
13 is a diagram showing conversion characteristics in the data conversion circuit 312. FIG.
FIG. 14 is a diagram illustrating a correspondence relationship between a luminance mode and the number of times of light emission maintenance for each subfield.
15 is a diagram showing conversion characteristics in the first data conversion circuit 32. FIG.
16 is a diagram showing an example of a conversion table based on the conversion characteristics shown in FIG.
FIG. 17 is a diagram showing an example of a conversion table based on the conversion characteristics shown in FIG.
18 is a diagram showing an internal configuration of a multi-gradation processing circuit 33. FIG.
FIG. 19 is a diagram for explaining the operation of the error diffusion processing circuit 330;
20 is a diagram showing an internal configuration of a dither processing circuit 350. FIG.
FIG. 21 is a diagram for explaining the operation of the dither processing circuit 350;
FIG. 22 is a diagram showing a light emission drive format when the selective write address method is employed.
FIG. 23 is a diagram showing an example of a light emission drive pattern when the selective write address method is employed and a conversion table used by the second data conversion circuit 34 when the light emission drive is performed.
FIG. 24 is a diagram showing an example of a light emission drive format in which a simultaneous reset process Rc is executed twice in one field when the selective erase address method is adopted.
FIG. 25 is a diagram showing an example of a light emission drive format in which a simultaneous reset process Rc is executed twice in one field when the selective write address method is adopted.
26 is a diagram showing an example of a conversion table used in the first data conversion circuit 32 when performing light emission driving based on the light emission driving format shown in FIGS. 24 and 25. FIG.
27 is a diagram showing an example of a conversion table used in the first data conversion circuit 32 when performing light emission driving based on the light emission driving format shown in FIGS. 24 and 25. FIG.
28 is a diagram showing an example of a light emission driving pattern when performing light emission driving based on the light emission driving format shown in FIG. 24, and a conversion table used by the second data conversion circuit 34 when performing this light emission driving. is there.
29 is a diagram showing an example of a light emission drive pattern when performing light emission drive based on the light emission drive format shown in FIG. 25, and a conversion table used by the second data conversion circuit 34 when performing this light emission drive. is there.
30 is a diagram showing another example of the light emission drive pattern when the selective erasure address method is adopted and a conversion table used in the second data conversion circuit 34 when the light emission drive is performed. FIG.
FIG. 31 is a diagram showing another example of the light emission drive pattern when the selective write address method is employed and a conversion table used by the second data conversion circuit 34 when the light emission drive is performed.
[Explanation of symbols]
2 Drive control circuit
6 Address driver
7 First Sustain Driver
8 Second Sustain Driver
10 PDP
51 Non-selected row discrimination circuit
52 Non-light emitting SF discriminating circuit

Claims (7)

複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期して1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、
N個の前記サブフィールドにおける先頭部のサブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、
前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ
N個の前記サブフィールドの内のいずれか1のサブフィールドでの前記画素データ書込行程において前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
A driving method of a plasma display panel, in which a discharge cell corresponding to one pixel is formed at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes,
A display period of one field is divided into N subfields, and in each of the subfields, a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes, and one row is synchronized with the application timing of each of the scan pulses. Each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each pixel data is applied to each of the column electrodes for each row, thereby selectively discharging each of the discharge cells, thereby causing each of the discharge cells to be discharged. The pixel data writing process to be set in one of the light emitting cell and the non-light emitting cell, and applying the sustain pulse to the row electrode for the number of times corresponding to each of the subfields, so that only the light emitting cell is applied for the number of times. Performing a light emission sustaining step for discharging,
A reset process for initializing each of the discharge cells to one of the light emitting cells and the non-light emitting cells by discharging all the discharge cells only in the first subfield of the N subfields. Run,
In the pixel data writing process, for each row electrode, it is determined whether or not all the logic levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode match a predetermined level. The application of the scan pulse is stopped only for the row electrodes determined that all of the logic levels of the pixel data match the predetermined level ,
The discharge cells are selectively discharged according to the pixel data in the pixel data writing process in any one of the N subfields, thereby causing each of the discharge cells to be the light emitting cell. or the allowed set to any one state of non-light emitting cells, plasma, characterized in Rukoto allowed again rise to the selective discharge in the pixel data writing process in the subfield immediately after the subfield that rise to the selective discharge Display panel drive method.
複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期して1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、
N個の前記サブフィールドの内のM個 ( 2≦M≦N ) の連続配列されたサブフィールドをサブフィールド群とし、前記サブフィールド群における先頭部の前記サブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、
前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ、
前記サブフィールド群内のいずれか1の前記サブフィールドでの前記画素データ書込行程において、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
A driving method of a plasma display panel, in which a discharge cell corresponding to one pixel is formed at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes,
A display period of one field is divided into N subfields, and in each of the subfields, a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes, and one row is synchronized with the application timing of each of the scan pulses. Each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each pixel data is applied to each of the column electrodes for each row, thereby selectively discharging each of the discharge cells, thereby causing each of the discharge cells to be discharged. The pixel data writing process to be set in one of the light emitting cell and the non-light emitting cell, and applying the sustain pulse to the row electrode for the number of times corresponding to each of the subfields, so that only the light emitting cell is applied for the number of times. Performing a light emission sustaining step for discharging,
Of the N subfields, M ( 2 ≦ M ≦ N ) consecutively arranged subfields are defined as a subfield group, and all the discharge cells are set in only the first subfield in the subfield group. Performing a reset process for initializing each of the discharge cells to either one of the light-emitting cells or the non-light-emitting cells by discharging;
In the pixel data writing process, for each row electrode, it is determined whether or not all the logic levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode match a predetermined level. The application of the scan pulse is stopped only for the row electrodes determined that all of the logic levels of the pixel data match the predetermined level,
In the pixel data writing process in any one of the subfields in the subfield group, the discharge cells are selectively discharged according to the pixel data, whereby each of the discharge cells is changed to the light emitting cell or the light emitting cell. the non either light emitting cells allowed set to one state, the pixel data writing, characterized in that allowed to again rise to the selective discharge in the process and to pulp plasma in the subfield immediately after the subfield that rise to the selective discharge Display panel drive method.
複数の行電極と前記行電極に交叉して配列された複数の列電極との各交点にて1画素に対応した放電セルを形成しているプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
1フィールドの表示期間をN個のサブフィールドに分割し、前記サブフィールドの各々において、走査パルスを前記行電極の各々に順次印加して行くと共に前記走査パルス各々の印加タイミングに同期して1行分の画素データ各々の論理レベルに応じた電圧を有する画素データパルス各々を1行分毎に前記列電極の各々に印加することにより前記放電セル各々を選択的に放電せしめて前記放電セル各々を発光セル又は非発光セルのいずれか一方に設定する画素データ書込行程と、前記サブフィールド各々に対応した回数だけ維持パルスを前記行電極に印加することにより前記発光セルのみを前記回数の分だけ放電させる発光維持行程と、を実行し、
N個の前記サブフィールドを、各々が連続配列された複数個のサブフィールドからなるサブフィールド群に分け、前記サブフィールド群における先頭部の前記サブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に初期化するリセット行程を実行し、
前記画素データ書込行程において、各行電極毎に、その行電極に対応した1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが所定レベルと一致しているか否かを判別し、1行分の前記画素データ各々の論理レベルの全てが前記所定レベルと一致していると判別された行電極に限り前記走査パルスの印加を停止せしめ、
前記サブフィールド群内のいずれか1の前記サブフィールドでの前記画素データ書込行程において、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを選択放電せしめることにより前記放電セル各々を前記発光セル又は前記非発光セルのいずれか一方の状態に設定せしめ、前記選択放電を生起したサブフィールドの直後のサブフィールドにおける前記画素データ書込行程において再び前記選択放電を生起せしめることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
A driving method of a plasma display panel, in which a discharge cell corresponding to one pixel is formed at each intersection of a plurality of row electrodes and a plurality of column electrodes arranged to cross the row electrodes,
A display period of one field is divided into N subfields, and in each of the subfields, a scan pulse is sequentially applied to each of the row electrodes, and one row is synchronized with the application timing of each of the scan pulses. Each pixel data pulse having a voltage corresponding to the logic level of each pixel data is applied to each of the column electrodes for each row, thereby selectively discharging each of the discharge cells, thereby causing each of the discharge cells to be discharged. The pixel data writing process to be set in one of the light emitting cell and the non-light emitting cell, and applying the sustain pulse to the row electrode for the number of times corresponding to each of the subfields, so that only the light emitting cell is applied for the number of times. Performing a light emission sustaining step for discharging,
N subfields are divided into subfield groups each consisting of a plurality of subfields, each of which is continuously arranged, and all the discharge cells are discharged only in the first subfield of the subfield group. Performing a reset process to initialize each of the discharge cells to the state of either the light emitting cell or the non-light emitting cell;
In the pixel data writing process, for each row electrode, it is determined whether or not all the logic levels of the pixel data for one row corresponding to the row electrode match a predetermined level. The application of the scan pulse is stopped only for the row electrodes determined that all of the logic levels of the pixel data match the predetermined level,
In the pixel data writing process in any one of the subfields in the subfield group, the discharge cells are selectively discharged according to the pixel data, whereby each of the discharge cells is changed to the light emitting cell or the light emitting cell. the non either light emitting cells allowed set to one state, the pixel data writing, characterized in that allowed to again rise to the selective discharge in the process and to pulp plasma in the subfield immediately after the subfield that rise to the selective discharge Display panel drive method.
前記画素データの論理レベルに基づいて全ての前記放電セルが前記非発光セルとなる前記サブフィールドを判別しこの判別したサブフィールドでの前記発光維持行程では前記維持パルスの印加を停止せしめることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。 The subfield in which all the discharge cells become the non-light emitting cells is determined based on the logic level of the pixel data, and the application of the sustain pulse is stopped in the light emission sustaining process in the determined subfield. The method for driving a plasma display panel according to any one of claims 1 to 3 . 前記サブフィールド群における最後尾のサブフィールドのみにおいて全ての前記放電セルを非発光セルの状態にする放電を生起させる消去行程を設けたことを特徴とする請求項2又は3のいずれか1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。According to any one of claims 2 or 3, characterized in that a deletion process to generate discharge to all the discharge cells in the non-light emitting cell state in only the sub-field of the last of the sub-field group Driving method of the plasma display panel. 前記リセット行程では、前記放電セル各々をリセット放電せしめて全ての前記放電セル内に壁電荷を形成させることにより全ての前記放電セルを前記発光セルの状態に初期化し、前記画素データ書込行程では、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを前記非発光セルの状態に設定せしめる選択消去放電を生起することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。 In the reset process, each discharge cell is reset and discharged to form wall charges in all the discharge cells, thereby initializing all the discharge cells to the state of the light emitting cells. In the pixel data writing process, , the plasma display panel according to any one of claims 1 to 3, characterized in that to occur the selective erasure discharge allowed to set selectively the discharge cells in accordance with the pixel data on the state of the non-light emitting cells Driving method. 前記リセット行程では、前記放電セル各々をリセット放電せしめて全ての前記放電セル内に壁電荷を形成させ、その直後に消去放電を生起することにより前記放電セル各々内に形成された前記壁電荷を消去して全ての前記放電セルを前記非発光セルの状態に初期化し、前記画素データ書込行程では、前記画素データに応じて選択的に前記放電セルを前記発光セルの状態に設定せしめる選択書込放電を生起することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。 In the reset process, each of the discharge cells is reset and discharged to form wall charges in all of the discharge cells, and immediately after that, an erasing discharge is caused to cause the wall charges formed in each of the discharge cells to Erase and initialize all the discharge cells to the non-light emitting cell state, and in the pixel data writing step, a selection form for selectively setting the discharge cells to the light emitting cell state according to the pixel data the driving method of a plasma display panel according to any one of claims 1 to 3, characterized in that to rise to write discharge.
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