JP4049772B2 - 超電導テープを製造する方法及び装置 - Google Patents

超電導テープを製造する方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4049772B2
JP4049772B2 JP2004272240A JP2004272240A JP4049772B2 JP 4049772 B2 JP4049772 B2 JP 4049772B2 JP 2004272240 A JP2004272240 A JP 2004272240A JP 2004272240 A JP2004272240 A JP 2004272240A JP 4049772 B2 JP4049772 B2 JP 4049772B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
thin film
chamber
metal oxide
separation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004272240A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005344209A (ja
Inventor
チャン,パク
ド−ジュン,ユム
ホ−サップ,キム
クック−チェ,チョン
ビョン−ス,リー
スン−メ,リム
ヒョン−ジュン,キム
Original Assignee
コリア エレクトロテクノロジー リサーチ インスティチュート
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コリア エレクトロテクノロジー リサーチ インスティチュート filed Critical コリア エレクトロテクノロジー リサーチ インスティチュート
Publication of JP2005344209A publication Critical patent/JP2005344209A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4049772B2 publication Critical patent/JP4049772B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/80Constructional details
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B23/00Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
    • C30B23/02Epitaxial-layer growth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/025Continuous growth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • C30B29/22Complex oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B12/00Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/01Manufacture or treatment
    • H10N60/0268Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
    • H10N60/0296Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/922Static electricity metal bleed-off metallic stock
    • Y10S428/9265Special properties
    • Y10S428/93Electric superconducting
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49014Superconductor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Description

本発明は、金属酸化物素子を製造する方法及び製造装置に関するもので、より詳細には、複製工程を利用してエピタクシー成長された超電導テープ(coated conductor)を製造する方法及び製造装置に関するものである。
1986年、高温超電導体の発見以後、超電導テープに関する研究が活発に行われ、1世代線材としてBi−2223を利用したPIT(powder in tube)方法が現在常用化されている。この方法は、工程が単純で制作が容易である長所はあるが、配向性がよくない問題上、粒境界の角度が大きいため、臨界電流が単結晶超電導体での値を有することができないという問題点があった。
このような従来の問題点を解決するための方法がYBCOなどのReBCOを使用する2世代線材である。2世代線材は、Ni合金などの金属テープに薄膜を形成する方法で、2軸配向性が優れているため、ほとんど単結晶に近い臨界電流特性を有するという長所がある。
2世代線材技術は、YBCOなどの酸化物高温超電導体を薄膜の平面方向に2軸配向を有するように作るのである。このための方法は、大きく二つに分けられる。一つ目は、超電導薄膜形成用基板として使用される母材自体を単結晶のように作り、その上部の多結晶超電導体薄膜が2軸配向を有するようにする技術で、二つ目は、基板として使用される母材とは関係なく、母材上部のtemplate層を単結晶のように調節する技術である。
一つ目の方法が、RABiTS(rolling assisted biaxially textured substrate)で、二つ目の方法が、IBAD(ion beam assisted deposition)方法であり、その他ISD(inclined substrate deposition)とITEX(ion beam texture)などの方法が試みされている。
しかし、このような従来の方法で作られた超電導テープの超電導層は、2軸配向を有するもので、単結晶ではなく、単結晶に近い多結晶質で形成されている。従って、結晶粒間の粒境界により臨界電流が単結晶超電導体での値を有することができず、超電導体の長所を十分生かすことができないという問題点があった。
また、従来の技術、特にIBADの場合、素子全体を支持する支持層の上部にMgO,YSZなどの非電導性薄膜を形成した後、超電導層を形成することになるので、支持層が超電導層と電気的に分離され、過電流を支持層に迂回させることができないという問題点があった。更に、RABiTSでは、支持層としてNiなどの磁性体を使用するので、Ni上部に形成された超電導テープが磁気場の中に置かれると、Niの磁気場により特性が悪くなるという問題点があった。
また、従来の技術によると支持層の厚さが数十から数百μm以上でなければならないので、厚さの調節に限界があり、支持層の材質によって超電導薄膜の蒸着が異なることになるので、支持層材質の選択が自由でないという問題点があった。
本発明は、前記のような従来の技術の問題点を解決するために案出されたもので、理想的に整列された基本母材から超電導薄膜を連続的に複製することによって、単結晶に近い水準の超電導テープを製造することのできる方法及び製造装置を提供するためのものである。
本発明の別の目的は、超電導層と金属支持層とを直接接触するようにして、過度電流を迂回させることのできる超電導テープを製造することのできる方法及び製造装置を提供するためのものである。
本発明のまた別の目的は、磁性物質ではない支持層を使用することによって、磁気場による影響を少なく受けることのできる超電導テープを製造することのできる方法及び製造装置を提供するためのものである。
本発明のまた別の目的は、支持層の厚さおよび材質をより自由に選択することのできる超電導テープを製造する方法及び製造方法を提供するためのものである。
前記の目的を達成するための本発明の一実施例による薄膜テープの製造装置は、ループ型に連結された基本母材を回転させるための回転駆動部と、前記基本母材を回転させることによって、基本母材の上部に分離層を連続的に蒸着させるための分離層蒸着チェンバーと、前記分離層の上部に薄膜を蒸着するための、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバーと、前記分離層を除去することによって、前記分離層の上部に蒸着された薄膜を基本母材から分離し、前記薄膜のテープを作るための分離チャンバーとを含む。また、蒸着チェンバーおよび分離チャンバーには、前記ループ型に連結された基本母材が通過してチェンバーの内部に引入られる引入口と、前記基本母材をチェンバーの外部に排出するための排出口とを具備し、蒸着チェンバーおよび分離チェンバーとで構成されたチェンバーの間には、少なくとも一つのバッファチェンバーを更に含むことが可能である。
また、分離チェンバーで基本母材から分離された薄膜テープを巻いて保管するための巻取りロールを具備した巻取りチェンバーを更に含み、前記巻取りチェンバーと分離チェンバーとの間に、少なくとも一つの蒸着チェンバーを更に含むことを特徴とする。
また、本発明の他の実施例による薄膜テープの製造装置は、ループ型に連結された基本母材を上部面に付着して支持するためのシリンダー型支持体と、前記シリンダー型支持体およびその上部面に付着された基本母材を回転させるための回転駆動部と、前記基本母材を回転させることによって、基本母材の上部に溶媒に溶解可能な分離層を連続的に蒸着するための分離層蒸着チェンバーと、前記分離層の上部に薄膜を蒸着するための、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバーと、前記分離層を除去することによって、前記基本母材の上部面に蒸着された薄膜を基本母材から分離し、薄膜のテープを作るための分離チェンバーと、前記分離層蒸着チェンバー、薄膜蒸着チェンバー、分離チェンバーの各々の間に具備された、少なくとも一つのバッファチェンバーとを含み、前記分離層蒸着チェンバー、薄膜蒸着チェンバー、分離チェンバー及びバッファチェンバーは円形に配置され、各々シリンダー型支持体と基本母材が通過することのできる引入口と排出口とを具備することを特徴とする。
前記蒸着チェンバーは、金属酸化物層を蒸着するための酸化物蒸着チェンバーと、前記金属酸化物層を支持するための支持層を蒸着する支持層蒸着チェンバーとを含むことを特徴とする。
これによって、ループ形状の基本母材から超伝導体などの金属酸化物で構成され、長さの長いテープ形状の線材を製造することが可能である。
前記の目的を達成するための本発明の他の実施例による金属酸化物素子の製造方法は、単結晶または配向された表面を有する基本母材上に分離層を形成し、分離層の上部に金属酸化物層を形成し、金属酸化物層の上部に支持層を形成した後、分離層を除去することを特徴とする。これによって、基本母材から分離された単結晶質金属酸化物層と支持層とで構成された多層薄膜テープを製造することができる。
前記基本母材は、円形またはコンベヤー型のループであることが好ましい。これによって、ループ形状の基本母材から超電導体などの金属酸化物で構成され、長さの長いテープ形状の線材を製造するのが可能である。
前記分離層と金属酸化物層との間にバッファ層を追加で構成するのが好ましく、バッファ層は、金属酸化物層が安定して蒸着されるようにする。また、このような工程で作られた支持層、金属酸化物層およびバッファ層とで構成された構造体の上部に金属酸化物層を追加で形成するのが好ましい。
前記分離層は、水などの溶媒により溶解され得る物質であるBaO,NaCl、KClなどから構成することによって、基本母材から分離層を容易に除去し、分離層の上部に形成された多層薄膜から構成された素子を得ることができる。
前記分離層、前記金属酸化物層および前記バッファ層は、前記基本母材表面の配向性によってエピタクシー成長されることを特徴とする。基本母材の単結晶性がそのまま転写された金属酸化物素子をエピタクシー成長させるのが可能である。
また、本発明のまた他の実施例による金属酸化物素子を製造する方法は、単結晶または配向された表面を有する基本母材上に分離層を形成し、分離層の上部に支持層を形成した後、分離層を除去して基本母材から支持層を分離しながら、支持層の上部に金属酸化物層を形成することを特徴とする。
前記支持層と金属酸化物層の間にバッファ層を追加で形成するのが好ましく、バッファ層は、金属酸化物層が安定して蒸着されるようにする。金属酸化物層の上部には保護層を形成するのが好ましく、保護層は、異物質などから金属酸化物層の特性が変質されるのを防止する。
前記基本母材は、円形またはコンベヤー型のループであることが好ましい。これによって、ループ形状の基本母材から超電導体などの金属酸化物で構成され、長さの長いテープ形状の線材を製造するのが可能である。
前記分離層は、水などの溶媒により溶解され得る物質であるBaO,NaCl,KClなどから構成することによって、基本母材から分離層を容易に除去し、分離層の上部に形成された多層薄膜から構成された素子を得ることができる。
前記支持層、バッファ層および金属酸化物層は、前記基本母材表面の配向性によってエピタクシー成長されることを特徴とする。基本母材の単結晶性がそのまま転写された金属酸化物素子をエピタクシー成長させるのが可能である。
本発明により作られた金属酸化物素子は、超電導テープを含むが、これに限らず、金属酸化物で構成された強誘電体多層薄膜、光電素子などの多様な応用が可能な素子であることが自明である。
このように、本発明によると、理想的に整列された基本母材から単結晶の超電導薄膜を連続的に複製することによって、単結晶水準の超電導テープを製造することが可能であり、超電導テープの臨界電流密度を単結晶と同一な水準に維持することができる効果がある。
また、本発明によると、素子全体を支持する支持層が超電導層と直接接触するように形成するのが可能であるので、支持層が超電導層と電気的に接触されいて、過電流を支持層に迂回させることのできる超電導テープを得ることができる。
また、本発明によると、磁性物質でない支持層を使用することによって、磁気場による影響を少なく受けることのできる超電導テープを得ることができる。
また、本発明によると、支持層を超電導層の形成後に蒸着するものなので、支持層の厚さを任意通り調節することができ、支持層の材質の選択も従来の技術に比べ自由であるという長所がある。
前記で説明し、図面に図示された本発明の実施例は、本発明の技術的思想を限定するものとして解釈されてはならない。本発明の保護範囲は、請求の範囲に記載された事項によってのみ限定され、本発明の技術分野で通常の知識を有した者は、本発明の技術的思想を多様な形態に改良変更することが可能である。従って、このような改良および変更は、通常の知識を有した者に自明なものである限り、本発明の保護範囲に属することになる。
以下、添付の図面を参照に、本発明による好ましい実施例について説明する。本実施例は、本発明の権利範囲を限定するのではなく、単なる例示として提示されるものである。
図1は、本発明の一実施例による薄膜テープの製造装置10を概略的に示したものである。
図示されているように、ループ型に連結された基本母材11の上部面に薄膜を蒸着するための蒸着チェンバー12a,12b、12cと、前記基本母材の上部面に蒸着された薄膜を基本母材から分離して薄膜テープTを作るための分離チェンバー14と、基本母材を回転させるための回転駆動部17とで構成される。また、必要によって、チェンバーの間に具備されたバッファチェンバー13a,13b、13cと、分離チェンバーで基本母材から分離された薄膜テープTを巻いて保管するための巻取りロール16を具備した巻取りチェンバー15とを更に具備する。
前記基本母材11は多様な物質で作られており、好ましくは、Ni,Ptあるいはその他これらの合金から構成される。模様は、図1のような連続的なループ型である単結晶テープが好ましいが、これに限られるものではなく、ベルトなどの多様な変形が可能である。
このようなテープは多様な方法で制作可能である。一つの例を挙げると、長さが1mの長くて単結晶である棒形の金属材を薄く切断し、両端を繋げる方法である。単結晶テープを繋ぐ方法としてはいろいろあるが、金属の融点のすぐ下の温度で加熱することによって、原子がお互い拡散されるようにする原子拡散方法が一例である。図2は、Ni単結晶テープを1400℃にて原子拡散法で付けた接触面の結晶性を、X−線回折(XRD)方法で観察した結果である。図示されているように、元来の単結晶の有する結晶性が全く変わらずにあることが分かる。他の例としては、サファイアやシリコンのような大面積の単結晶基板に、NiあるいはPtなどを蒸着した後、基板から分離して薄い単結晶テープを得る。また別の一つは、表面が2軸配向されるように作られた金属などから得るのが可能である。このような2軸配向された金属などは、一般的なRABiTSあるいはIBAD方法で得ることができ、RABiTSおよびIBAD技術は、超電導テープ分野の技術者には自明なものなので、詳しい説明は省略する。
テープの厚さは0.2mm以上の多少厚いのが好ましく、適切な強度を維持するために複数個のテープが積層されたものも可能である。このように制作された単結晶テープは、それ自体で基本母材11として使用され、前記回転駆動部17により支持されるようにする。
蒸着手段12a、12b、12cは、スパッタ(sputter)、PLD(Pulsed Laser Deposition),CVD,E−ビーム蒸着、ゾルーゲルなどの多様な薄膜蒸着装置が可能であり、薄膜の種類および用途によって選択可能である。図1は、スパッタ装置を図示したものである。
バッファチェンバー13a,13b、13cは、蒸着チェンバーと分離チェンバーの間に設置される。隣接した蒸着チェンバーで形成される薄膜の蒸着方法がお互い異なり、工程ガスおよび圧力が異なる場合、これら蒸着チェンバー間に緩衝装置をおいて、両蒸着チェンバーお互いが影響を受けないようにするためのものである。バッファチェンバーにはガス注入口(未図示)及び真空装置(未図示)が各バッファチェンバーごとに具備され、隣接した蒸着チェンバーの内部圧力とは異なるよう、独立的に圧力が調節できるようにする。図1においては、隣接した蒸着チェンバーと分離チェンバーの間に一つのバッファチェンバーを具備するものを図示しているが、これに限定されず、二つ以上のバッファチェンバーを具備するようにするのも可能である。バッファチェンバーが二つ以上あるならば、二つ以上のバッファチェンバー各々のガス圧力を異なるように調節するようにして、隣接した蒸着チェンバーの工程条件と類似した雰囲気を提供することによって、蒸着チェンバーでの工程がより安定して進行されるようにすることができる。
分離チェンバー14は、水を貯蔵する水槽14aを含み、前記水槽の水を蒸発させ、水蒸気を生成するためのヒーター(未図示)が装着される。ヒーターに連結された電源14bを調節することによって、ヒーターの温度、およびこれによって発生する圧力を調節することができる。水槽14aで発生水蒸気を使用して基本母材に蒸着された分離層を溶解させることによって、基本母材から超伝導層の薄膜テープTを分離することになる。分離層を溶解させて除去するために水蒸気を例に挙げているが、必ずこれに限定されるものではなく、噴水(water jet)あるいは化学物蒸気(chemical vapor)などの多様な手段が可能であろう。
巻取りチェンバー15は、前記分離チェンバー14の後端に設置され、分離チェンバーで基本母材から分離された薄膜テープTを巻いて保管するための巻取りロール16を具備する。巻取りロール16は、分離手段で分離された薄膜テープTを巻くもので、超伝導線材の製造方法で広く使用されているものなので、詳しい説明は省略する。
回転駆動部17は、基本母材を回転させるためのものである。図1に図示されているように、蒸着チェンバー12,バッファチェンバー13または分離チェンバー14の内部に設置され、回転力を有する駆動手段によって駆動されるガイドリールから構成される。
一方、ループ型に連結された基本母材は、回転駆動部の回転力によってチェンバーの内部に引入られ、外部に排出されなければならないので、チェンバー各々の所定の位置には、引入口と排出口とを具備する。蒸着チェンバーは、隣接したバッファチェンバーの圧力など、工程雰囲気が異なり得るので、お互い影響を少なく受けるために、引入口と排出口は基本母材が通過できる程度のとても小さい大きさの隙間Gにするのが好ましい。
図1では、巻取りロール16を含む巻取りチェンバー15と分離チェンバー14の間に他の装置がない構造を説明しているが、分離チェンバー14から分離された薄膜テープT上に、また別の薄膜を蒸着するチェンバーを更に具備することも可能である。つまり、図4に図示されているように、分離チェンバー34と巻取りチェンバー35の間に複数の蒸着チェンバー32d及びバッファチェンバー33dを具備し、薄膜テープT上にまた別の薄膜を蒸着することによって、多様に応用することができるようにするのが可能である。
図3は、本発明の他の実施例による薄膜テープの製造装置20を概略的に示したものである。前記実施例の方法で作られた単結晶テープは、回転駆動部などの外部の力によって容易に変形され得るので、図3に図示されているように、回転駆動部によって回転駆動されるシリンダー型の支持体Sを準備し、基本母材用テープ21をシリンダー型支持体の外周面を包むようにして、テープが変形されないようにするのも可能である。他の構成は図1と同様なので、詳しい説明は省略する。
図5、6及び8は、本発明の製造装置を使用して超電導テープを製造する方法を図示したものである。
図5は、本発明のまた他の実施例による超電導テープの製造方法を示したものである。まず、回転する基本母材の一側に設置された蒸着装置から分離層111を蒸着する。(S11)分離層は、単結晶の金属で構成された基本母材の表面にエピタクシャル(Epitaxial)方式で結晶成長され、水などの溶媒に溶解可能な物質である。このような分離層を構成する物質としては、BaO,NaCl,KClなどが可能である。
分離層蒸着後、超電導体薄膜112を蒸着する。(S12)超電導体としてはYBCO(YBaCuO9)が好ましいが、これに限られず、多様な種類の金属酸化物で構成された薄膜が可能である。
超電導体薄膜の上部に支持層113を形成する。(S13)支持層は、超電導層を物理的に支持するためのもので、応力があり、高強度である物質から選択されるのが好ましい。このような支持層は、高強度非磁性合金または金属/非金属の組合層を低い温度で蒸着して形成される。Pt,Cu,Au,Agなど、あるいはこれらの合金、または、これらの組合層が可能である。支持層は超電導層の形成後に形成されるので、厚さを任意通り調節することができ、材質の選択もやはり従来の技術に比べ自由である長所がある。また、支持層が超電導層と直接接触するように形成することが可能なので、支持層が超電導層と電気的に接触されていて、過電流を支持層に迂回させることができる。
次に、前記の分離層を水などの溶媒に溶解させ、超電導層112/支持層113の多層薄膜テープ110を基本母材から分離させる。(S14)一方、図示していないが、このように形成された多層薄膜の上部にまた別の薄膜を形成することも可能である。
以上の方法にて、超電導層/支持層から構成された多層薄膜テープを得ることができ、基本母材を回転させることによって、長さの長い超電導テープ110を連続的に得ることができる。作られたテープは、巻取りロール16に巻かれて保管される。
図6は、本発明のまた他の実施例による超電導テープの製造方法を示したものである。
図5と異なる点は、分離層121の蒸着(S21)後、バッファ層122を追加形成することである。(S22)バッファ層は、上部に形成される超電導層が安定した構造で蒸着されることを手伝う役割をする。バッファ層としては、CeO,Y,YSZ,SrTiO,LaNiO,Re,MgOなどの多様な薄膜が可能である。
次に、図5と類似した方法で、超電導層123と支持層124を形成(S23,S24)した後、分離層を溶解し、基本母材からバッファ層122/超電導層123/支持層124とで構成された多層薄膜テープ120を分離させる。(S25)
前記の分離された多層薄膜テープを、そのまま超電導テープとして使用することができ、他の応用としては、前記の分離された多層薄膜テープ120の上部面に超電導体薄膜をもう一度追加形成するのである。(S26)これによって形成されたバッファ層/超電導層/支持層/超電導層の多層薄膜テープは、単一層の超電導体で構成された多層薄膜テープ120より電流輸送能力が優れていることは自明なことである。
図7は、Niの上にBaO分離層、SrTiOバッファ層、YBCO超電導層およびPt支持層を順次的に形成した後、水に浸してBaOを溶かして作られたSrTiO/YBCO/Pt多層薄膜のテープに関するXRD結果である。このような方法で作られた超電導層は、通常の超電導層と同様に良好な結晶性を維持していることが分かる。
図8は、本発明のまた他の実施例による超電導テープの製造方法を示したものである。
基本母材の上部面に分離層131と支持層132を連続して蒸着(S31,S32)した後、分離層を除去して(S33)、支持層だけで構成されたテープを作る。
その後、バッファ層133および超電導層134を連続的に蒸着して(S34,S35)、支持層/バッファ層/超電導層の多層薄膜テープ130テープを得る。
このように製造された素子の金属酸化物層の上部には保護層135を形成することができ(S36)、保護層は異物質などから金属酸化物層の特性が変質または変形されるのを防止する。
一方、段階S33で生成された支持層は、その下部面である基本母材の結晶方向に沿って生成されたものなので、それ自体で単結晶またはこれに近いテープである。従って、このように長さの長い単結晶支持層をまた別の基本母材として使用し、その上部に分離層、バッファ層、超伝導層およびまた別の支持層などを蒸着し、分離層を除去することによって、超伝導線材を複製することが可能である。
以上の製造方法で作られた分離層、バッファ層および超電導層などは、下部の結晶構造によってエピタクシー成長される。従って、製造された超電導層は、基本母材の単結晶性がそのまま転写された結晶構造を有するものなので、前記の製造方法は、一種のDNAが複製(Replication)されるのと類似した方法で超電導テープを製造する方法である。
本発明による薄膜テープの製造装置を、このような製造方法に応用するためには、蒸着チェンバー12として、溶媒に溶解可能な分離層を蒸着する分離層蒸着チェンバーと、超伝導層を蒸着するための超伝導層蒸着チェンバーと、超伝導層を支持するための支持層を蒸着する支持層蒸着チェンバーと、バッファ層を蒸着するためのバッファ層蒸着チェンバーと、保護層を蒸着するための保護層蒸着チェンバーなどが具備されなければならない。これらのチェンバーの並びは、前記の実施例、つまり望みの方法によって適宜選択して順番通り配置するようにする。
以上では、金属酸化物素子として超電導テープだけを説明したが、これに限られず、金属酸化物で構成された強誘電体、光電素子などの多様な応用および変形が可能であることは自明である。
本発明の一実施例による薄膜テープの製造装置である。 Ni単結晶テープを接着した接触面に関するX−ray pole figureである。 本発明の他の実施例による薄膜テープの製造装置である。 本発明のまた他の実施例による薄膜テープの製造装置である。 本発明の製造装置で超伝導線材を製造する方法の一実施例である。 本発明の製造装置で超伝導線材を製造する方法の他の実施例である。 図6の方法で製造された超伝導層のXRD結果である。 本発明の製造装置で超伝導線材を製造する方法のまた他の実施例である。
符号の説明
11,21,31,101、1 基本母材
12a,12b、12c、22a,22b、22c、32a,32b、32c、32d 蒸着チェンバー
13a,13b、13c、23a,23b、23c、33a,33b、33c、33d バッファチェンバー
14,24,34 分離チェンバー
14a 水槽
15,25,35 巻取りチェンバー
16,26,36 巻取りロール
S 支持体
110,120,130,T 薄膜テープ
111,121,131 分離層
112,122,132 超伝導層
113,123,133 支持層

Claims (30)

  1. ループ型に連結された基本母材を回転させるための回転駆動部;
    前記基本母材を回転させることによって、基本母材の上部に分離層を連続的に蒸着させるための分離層蒸着チェンバー;
    前記分離層の上部に薄膜を蒸着するための、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバー;及び
    前記分離層を除去することによって、前記分離層の上部に蒸着された薄膜を基本母材から分離し、前記薄膜のテープを作るための分離チャンバーとを含むことを特徴とする薄膜テープの製造装置。
  2. 前記蒸着チェンバーおよび分離チャンバーには、前記ループ型に連結された基本母材が通過してチェンバーの内部に引入られる引入口と、前記基本母材がチェンバーの外部に排出される排出口とが具備されることを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  3. 前記蒸着チェンバーおよび前記分離チェンバーとで構成されたチェンバーの間には、少なくとも一つのバッファチェンバーを更に含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  4. 前記バッファチェンバーは、隣接したチェンバーの内部圧力と異なるよう、独立的に圧力が調節できるように、ガス注入口及び真空装置とを具備することを特徴とする請求項3に記載の薄膜テープの製造装置。
  5. 前記分離チェンバーは、水を貯蔵する水槽を含み、前記水槽の水を蒸発させて水蒸気を生成するための蒸発装置を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  6. 前記蒸発装置にはヒーターが具備され、ヒーターの温度を調節することによって、発生する水蒸気の圧力を調節することを特徴とする請求項5に記載の薄膜テープの製造装置。
  7. 前記分離チェンバーで基本母材から分離された薄膜テープを巻いて保管するための巻取りロールを具備した巻取りチェンバーを更に含むことを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  8. 前記巻取りチェンバーと分離チェンバーとの間に、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバーを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の薄膜テープの製造装置。
  9. 前記分離層は、溶媒に溶解可能な物質であることを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  10. 前記基本母材は、単結晶または配向された表面を有することを特徴とする請求項1に記載の薄膜テープの製造装置。
  11. 前記回転駆動部は、前記蒸着チェンバー、前記バッファチェンバー及び前記分離チェンバーの内部に設置されたローラーを具備することを特徴とする請求項3乃至10のいずれかに記載の薄膜テープの製造装置。
  12. ループ型に連結された基本母材を上部面に付着して支持するためのシリンダー型支持体;
    前記シリンダー型支持体およびその上部面に付着された基本母材を回転させるための回転駆動部;
    前記基本母材を回転させることによって、基本母材の上部に溶媒に溶解可能な分離層を連続的に蒸着するための分離層蒸着チェンバー;
    前記分離層の上部に薄膜を蒸着するための、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバー;
    前記分離層を除去することによって、前記基本母材の上部面に蒸着された薄膜を基本母材から分離し、前記薄膜のテープを作るための分離チェンバー;及び
    前記分離層蒸着チェンバー、薄膜蒸着チェンバー、分離チェンバーの各々の間に具備された、少なくとも一つのバッファチェンバーとを含み;
    前記分離層蒸着チェンバー、薄膜蒸着チェンバー、分離チェンバー及びバッファチェンバーは円形に配置され、各々シリンダー型支持体と基本母材が通過することのできる引入口と排出口とを具備することを特徴とする薄膜テープの製造装置。
  13. 前記薄膜蒸着チェンバーは、金属酸化物層を蒸着するための酸化物蒸着チェンバーと、前記金属酸化物層を支持するための支持層を蒸着する支持層蒸着チェンバーとを含むことを特徴とする請求項12に記載の薄膜テープの製造装置。
  14. 前記分離チェンバーで基本母材から分離された薄膜テープを巻いて保管するための巻取りロールを具備した巻取りチェンバー;及び
    前記巻取りチェンバーと前記分離チェンバーとの間に、少なくとも一つの薄膜蒸着チェンバーを更に含むことを特徴とする請求項12に記載の薄膜テープの製造装置。
  15. 金属酸化物素子を製造する方法において、
    (a)単結晶または配向された表面を有する基本母材上に分離層を蒸着する段階;
    (b)前記分離層上に金属酸化物層を蒸着する段階;
    (c)前記金属酸化物層上に支持層を蒸着する段階;及び
    (d)前記分離層を除去することによって、前記基本母材から金属酸化物層と支持層とで構成された多層薄膜を分離し、多層薄膜の金属酸化物素子を形成する段階とを含むことを特徴とする金属酸化物素子の製造方法。
  16. 前記基本母材は、円形またはコンベヤー型のループであることを特徴とする請求項15に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  17. 前記金属酸化物素子は、超電導テープ(coated conductor)、強誘電体多層薄膜および光電素子とで構成されたグループから選択されることを特徴とする請求項15に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  18. 前記(a)段階と前記(b)段階の間にバッファ層を形成する段階を更に含むことを特徴とする請求項15に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  19. 前記(d)段階で製造された支持層、金属酸化物層およびバッファ層とから構成された構造体のバッファ層の上部に、金属酸化物層を追加で形成する段階を更に含むことを特徴とする請求項18に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  20. 前記分離層は、溶媒により溶解され得る物質から構成されることを特徴とする請求項15乃至19のいずれかに記載の金属酸化物素子の製造方法。
  21. 前記分離層は、BaO, NaClおよびKClとで構成されたグループから選択された一つであることを特徴とする請求項20に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  22. 前記分離層および前記金属酸化物層は、前記基本母材の配向性によってエピタクシー成長されることを特徴とする請求項15乃至19のいずれかに記載の金属酸化物素子の製造方法。
  23. 金属酸化物素子を製造する方法において、
    (a)単結晶または配向された表面を有する基本母材上に分離層を蒸着する段階;
    (b)前記分離層上に支持層を蒸着する段階;
    (c)前記分離層を除去することによって、前記基本母材から前記支持層を分離する段階;及び
    (d)前記支持層上に金属酸化物層を蒸着し、支持層及び金属酸化物層を含む多層薄膜の金属酸化物素子を形成する段階とを含むことを特徴とする金属酸化物素子の製造方法。
  24. 前記基本母材は、円形またはコンベヤー型のループであることを特徴とする請求項23に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  25. 前記金属酸化物素子は、超電導テープ、強誘電体多層薄膜および光電素子とで構成されたグループから選択された一つであることを特徴とする請求項23に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  26. 前記(c)段階と前記(d)段階の間にバッファ層を形成する段階を更に含むことを特徴とする請求項23に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  27. 前記金属酸化物層上に保護層を形成する段階を更に含むことを特徴とする請求項23に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  28. 前記分離層は、溶媒により溶解され得る物質から構成されることを特徴とする請求項23乃至27のいずれかに記載の金属酸化物素子の製造方法。
  29. 前記分離層は、BaO, NaClおよびKClで構成されたグループから選択された一つであることを特徴とする請求項28に記載の金属酸化物素子の製造方法。
  30. 前記分離層および前記金属酸化物層は、前記基本母材の配向性によってエピタクシー成長されることを特徴とする請求項23乃至27のいずれかに記載の金属酸化物素子の製造方法。
JP2004272240A 2004-06-02 2004-09-17 超電導テープを製造する方法及び装置 Expired - Fee Related JP4049772B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040040086A KR100618606B1 (ko) 2004-06-02 2004-06-02 금속 산화물 소자를 제조하는 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005344209A JP2005344209A (ja) 2005-12-15
JP4049772B2 true JP4049772B2 (ja) 2008-02-20

Family

ID=35446392

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004272240A Expired - Fee Related JP4049772B2 (ja) 2004-06-02 2004-09-17 超電導テープを製造する方法及び装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7175735B2 (ja)
JP (1) JP4049772B2 (ja)
KR (1) KR100618606B1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005047560A1 (ja) * 2003-11-17 2005-05-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 結晶膜の製造方法、結晶膜付き基体の製造方法、熱電変換素子の製造方法、および熱電変換素子
GB2432726B (en) * 2005-11-25 2008-06-18 Coated Conductors Consultancy Template for a superconducting coil
WO2007112370A1 (en) 2006-03-26 2007-10-04 Lotus Applied Technology, Llc Atomic layer deposition system and method for coating flexible substrates
KR100835334B1 (ko) * 2007-03-09 2008-06-04 한국전기연구원 일관 공정에 의한 초전도 테이프 제조방법 및 장치
JP5665290B2 (ja) * 2009-08-24 2015-02-04 富士フイルム株式会社 成膜装置
JP5427553B2 (ja) * 2009-10-30 2014-02-26 公益財団法人国際超電導産業技術研究センター 酸化物超電導導体用基材及びその製造方法と酸化物超電導導体及びその製造方法
BR112013000116A2 (pt) 2010-07-23 2016-05-24 Lotus Applied Technology Llc mecanismo de transporte de substrato contatando um único lado de um substrato de tela flexível para deposição de filme fino de rolo para rolo
KR101410841B1 (ko) * 2012-11-26 2014-06-23 한국전기연구원 고온 초전도 선재
WO2020197894A1 (en) * 2019-03-22 2020-10-01 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for deposition of multilayer device with superconductive film

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3205461A (en) * 1963-04-24 1965-09-07 Univ Minnesota Thin film magnetic energy accumulator
US5416063A (en) * 1987-04-10 1995-05-16 At&T Corp. Method of producing a layer of superconductive oxide
US5866195A (en) * 1988-03-31 1999-02-02 Lemelson; Jerome H. Methods for forming diamond-coated superconductor wire
US5528052A (en) 1992-07-20 1996-06-18 International Business Machines Corporation Superconductive-channel electric field-effect drive
JPH06239696A (ja) * 1993-02-16 1994-08-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高温超伝導薄膜
US5855716A (en) * 1996-09-24 1999-01-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Parallel contact patterning using nanochannel glass
JPH10330193A (ja) 1997-03-31 1998-12-15 Nec Corp 酸化物超電導膜の製造方法
KR100228185B1 (ko) * 1997-04-07 1999-11-01 윤덕용 고온 초전도체 성장용 금속기판 및 그 제조 방법
US6673387B1 (en) * 2000-07-14 2004-01-06 American Superconductor Corporation Control of oxide layer reaction rates
KR100388497B1 (ko) * 2001-06-01 2003-06-25 한국전자통신연구원 초전도 에피택셜 박막 및 그 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100618606B1 (ko) 2006-09-08
JP2005344209A (ja) 2005-12-15
US7175735B2 (en) 2007-02-13
US20050269021A1 (en) 2005-12-08
KR20050114953A (ko) 2005-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10446294B2 (en) Coated conductor high temperature superconductor carrying high critical current under magnetic field by intrinsic pinning centers, and methods of manufacture of same
JP5101779B2 (ja) 高臨界電流超伝導テープ用構造物
JP5630941B2 (ja) 超伝導体被覆テープのための二軸配向フィルム堆積
JP4690246B2 (ja) 超電導薄膜材料およびその製造方法
JP5858912B2 (ja) 磁束ピンニングを改善するためのプレファブ式に作製されたナノ構造を有する超伝導部材
US20030211948A1 (en) Method of depositing an electrically conductive oxide buffer layer on a textured substrate and articles formed therefrom
JP2004530046A (ja) 2軸性の集合組織を有する結晶薄膜のバッファ層ならびに構造を作製するための方法及び装置
JP2009507358A (ja) 高温超電導ワイヤ及びコイル
JP4049772B2 (ja) 超電導テープを製造する方法及び装置
JP5513154B2 (ja) 酸化物超電導線材及び酸化物超電導線材の製造方法
US20070032384A1 (en) Structure for improved high critical current densities in YBCO coatings
JP2006127847A (ja) 膜形成用配向基板および超電導線材
US20130210635A1 (en) High temperature superconducting tape conductor having high critical ampacity
US9362025B1 (en) Coated conductor high temperature superconductor carrying high critical current under magnetic field by intrinsic pinning centers, and methods of manufacture of same
JP5292054B2 (ja) 薄膜積層体とその製造方法及び酸化物超電導導体とその製造方法
US20120015818A1 (en) Method for producing a HTS coated conductor and HTS coated conductor with reduced losses
KR100669489B1 (ko) 박막 테이프 제조장치
JP4033945B2 (ja) 酸化物超電導導体およびその製造方法
Sathyamurthy et al. Solution-processed lanthanum zirconium oxide as a barrier layer for high I c-coated conductors
ES2372886T3 (es) Procedimiento para la preparación de un substrato conformado para un conductor recubierto y conductor recubierto utilizando dicho substrato.
KR100496930B1 (ko) 복제방법에 의한 초전도체의 제조방법
KR100721901B1 (ko) 초전도 소자 및 그 제조방법
JP2012212571A (ja) 酸化物超電導導体
JP2009501414A (ja) 超伝導材料の改善及び超伝導材料に関連する改善
Bauer et al. Biaxially aligned MgO buffer layers using electron beam evaporation on inclined substrates

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070712

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070717

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071016

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071127

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101207

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101207

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111207

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111207

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121207

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121207

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131207

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees