JP4045222B2 - 精密切欠き装置及びそれを用いた試験片の割断方法 - Google Patents
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Description
11 ガラス基板
12 配線層
13 ノッチ
20 イオンビーム生成器
21 イオンビーム
30 電子顕微鏡
31 電子ビーム
40 試験片の精密切欠き装置
41 顕微鏡
42 レンズセット
421 接眼レンズ
422 対物レンズ
43 台座
43a 上プレート
43b 下プレート
431 開口
432 留め具
433 焦点調整器
434 第一位置調整器
434a X位置調整器
434b Y位置調整器
44 カッターアセンブリ
441 カッター
442 第二位置調整器
441a ダイアモンドチップ
441b ホールナイフ
45 光源
46 イメージセンサ
47 モニター
48 アーム
49 ベース
P 標的点
Q 第二ポイント
R 第一ポイント
C1 第一ノッチ
C2 第二ノッチ
d1 第一距離
d2 第二距離
Claims (11)
- 試験片を割断するためのノッチを形成する精密切欠き装置であって、
支持アーム、
開口と試験片を固定する留め具と試験片を所定領域内で水平に移動させる第一位置調整器とを備え、前記支持アームに移動可能に接続されるとともに試験片を支持できるようにされた台座と、
前記支持アームの上部に設置されるとともに試験片の微構造を表示するレンズセット、を有する光学顕微鏡と、
前記光学顕微鏡の台座の下に設置されるとともに前記開口を通過して試験片の表面上にノッチを形成することができるカッターと、
を備えることを特徴とする精密切欠き装置。 - 前記台座の下に設置されるとともに、前記カッターの垂直位置を調整する第二位置調整器を備える請求項1に記載の精密切欠き装置。
- 前記カッターはダイアモンドチップである請求項1又は請求項2に記載の精密切欠き装置。
- 前記カッターは、ホイールナイフを備える請求項3に記載の精密切欠き装置。
- 前記レンズセット上に設置され、光学イメージを感知するとともに当該光学イメージを電気信号に転換するイメージセンサと、
前記イメージセンサに電気的に接続され、前記電気信号を表示するモニターと、
を備える請求項1〜4いずれかに記載の精密切欠き装置。 - 前記イメージセンサは、電荷結合カメラである請求項5に記載の精密切欠き装置。
- 支持アーム、
開口を備え、前記支持アームに移動可能に接続されるとともに試験片を支持できるようにされ、試験片を所定領域内で水平に移動させる第一位置調整器を備える台座、
前記支持アームの上部に設置されるとともに試験片の微構造を表示するレンズセットを有した光学顕微鏡と、
前記光学顕微鏡の台座の下に設置されたカッターと、を備える精密切欠き装置を用いた試験片の割断方法であって、
表面に標的点を形成した試験片を提供する工程と、
前記標的点を形成した表面を前記台座に接触させるとともに標的点を開口の範囲に位置するように試験片を台座に固定する工程と、
前記レンズセットの拡大倍率を調整して、前記標的点の明瞭なイメージを表示する工程と、
前記標的点を含む所定線上に配列されるとともに、試験片の端点から標的点の近傍までの第一距離を有する第一ノッチ及び第二ノッチを前記表面上に形成する工程と、
前記試験片を、第一ノッチ及び第二ノッチを配列した所定線に沿って割断する工程と、
を備えることを特徴とする試験片の割断方法。 - 前記第一距離は、50μm〜1mmである請求項7に記載の試験片の割断方法。
- 前記カッターの垂直位置を変化させて、標的点を形成した表面にカッターの先端を接触させる工程と、
前記第一位置調整器により、台座上に設置された試験片を水平移動し、前記カッターの垂直位置を変化させて、標的点の近傍の第一ポイントに達する工程と、
前記カッターを、ノッチの深さに対応する第二距離だけ上昇させて、試験片に切り込む工程と、
前記第一位置調整器により試験片を水平移動させて、前記第一ノッチを形成する工程と、
前記カッターを第二距離だけ降下させる工程と、
前記第一位置調整器により試験片を水平移動させて、前記カッターの垂直位置を変化させ、標的点の近傍の第二ポイントに達する工程と、
前記カッターをノッチの深さに対応する第二距離だけ上昇させ、前記試験片を切り込む工程と、
前記第一位置調整器により、前記試験片を水平移動させて、前記第二ノッチを形成する工程と、
からなる請求項7又は請求項8に記載の試験片の割断方法。 - 前記第一ポイントは、標的点の最近傍における第一ノッチの基端であり、前記第二ポイントは、標的点の最近傍における第二ノッチの基端である請求項9に記載の試験片の割断方法。
- 前記第二距離は10μm〜50μmであることを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の試験片の割断方法。
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