JP4034935B2 - サブサンプリング技法を採用する動き推定方法及び装置 - Google Patents

サブサンプリング技法を採用する動き推定方法及び装置 Download PDF

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Description

【0001】
(技術分野)
本発明は、動き推定方法及び装置に関し、特に、サブサンプリング技法を採用する動き推定方法及び装置に関する。
【0002】
(背景技術)
テレビ電話、電子会議及び高精細度テレビジョン(HDTV)システムのようなディジタル・ビデオ・システムにおいて、映像フレーム信号の映像ライン信号は画素と呼ばれる一連のディジタル・データからなるので、映像フレーム信号を定義するためには、相当量のデータが必要である。
【0003】
しかし、従来の伝送部で使用可能な周波数領域が制限されているので、特に、テレビ電話、電子会議システムのような低ビットレートの映像信号符号化器の場合、そのような相当量のディジタル・データを該当部を通じて伝送するためには、多様なデータ圧縮技法を用いて伝送すべきデータの量を圧縮または低減する必要がある。
【0004】
多様なビデオ圧縮技法のうち、動き補償フレーム間符号化技法は隣接する2つのビデオ・フレーム間で映像信号の時間的冗長性を用いるもので、最も効率性よい圧縮技法の1つとして知られている。
【0005】
この動き補償フレーム間符号化技法において、現フレーム・データは、現フレーム及び前フレームにおける対応する画素データ間の動き推定値及び差分値に基づいて、その前フレーム・データから予測される。
【0006】
従来提案されている動きベクトル推定技法のうち1つが、ブロック整合技法である。このブロック整合技法で、現フレームは同一の大きさの複数の探索ブロックに分けられ、前フレームは現フレーム内の探索ブロックと同数の大きい探索領域に分割される。ここで、各探索ブロックは典型的に8×8個〜32×32個の画素からなるの大きさを有し、各探索領域は探索ブロックと同じ大きさの複数の候補ブロックに分割される。
【0007】
現フレーム内の探索ブロックに対する動きベクトルを決定するために、現フレームの探索ブロックと、前フレーム内の対応する探索領域に含まれる複数の候補ブロックの各々との間の類似度が計算される。現フレームの探索ブロックと対応する探索領域内の各候補ブロックとの間の類似度は、平均二乗誤差(MSE)関数または平均絶対誤差(MAE)関数のような誤差関数を用いて計算される。
【0008】
MSE及びMAE関数は、下記式のように示される。
【0009】
【数1】
Figure 0004034935
【0010】
ここで、H×Vは探索ブロックの大きさ、I(i,j)は探索ブロックで座標(i,j)に位置する画素の輝度レベル、P(i,j)は候補ブロックで座標(i,j)に位置する対応画素の輝度レベルを各々表す。
【0011】
従来のブロック整合技法では、探索ブロックと、最適整合の候補ブロックとの間の変位ベクトルが動きベクトルとして選択される。ここで、最適整合の候補ブロックは最小の誤差関数を齎す候補ブロックである。
【0012】
その後、動きベクトルと、探索ブロックと最適整合の候補ブロックとの間の差分を表す誤差信号とは各々符号化され受信端に伝送される。受信端では、受け取った符号化動きベクトル及び符号化誤差信号を用いて、その前フレームに基づきブロック単位で現フレームを復元する。
【0013】
一方、従来の動き推定方法及び装置では、符号化データの量及びその処理時間をより減らすために、所謂、サブサンプリング技法が用いられる。
図1には、サブサンプリング部を有する従来の動き推定装置100のブロック図が示されている。この動き推定装置100は、第1サブサンプリング部130、第2サブサンプリング部140、及び動き推定部150を有する。
【0014】
動き推定装置100において、一つのブロック、例えば、現フレーム内のN×M個の画素からなる探索ブロックが第1サブサンプリング部130に入力される。ここで、N及びMは各々予め定められた正の整数である。また、基準フレーム、例えば、前フレームが第2サブサンプリング部140に入力される。
【0015】
第1サブサンプリング部130は、従来のサブサンプリング方法を用いて、現フレーム内のブロックに対してサブサンプリングを行い、該サブサンプル・ブロックをサンプル・ブロックとしてラインL5を介して動き推定部150に供給する。
【0016】
従来のサブサンプリング方法によれば、現フレーム内のブロックは、K×L個の画素からなる同じ大きさの複数のサブブロックに分けられる。ここで、K及びLは各々予め定められた正の整数でNとMの約数である。しかる後、K×L個の画素のうち、サブブロック内の所定位置にある画素が、該サブブロックに対する代表画素として選択される。このような方法をもって、全サブブロックに対する代表画素(RP)が求められる。その後、各RPは組合わせられて、該ブロックに対応するサンプル・ブロックとして供給される。
【0017】
例えば、図2A及び図2Bには、従来のサブサンプリング方法を説明するのに用いられる、16×16個の画素からなるブロック20と、8×8個の画素からなるサンプル・ブロック29が示されている。図2Aを参照すると、ブロック20は、2×2個の画素からなる複数のサブブロックに分割される。しかる後、サブブロックにおける最下端右側に位置する画素をRPとして選択する。こうして、ブロック20の全サブブロックに対するRPを求め、ブロック20に対応するサンプル・ブロック29を発生する。ここで、各RPは、図2A及び図2B中で斜線で表すエリアとして表現される。
【0018】
第2サブサンプリング部140は前述の方法と同じくして、サブサンプリング方法を用いて、基準フレームに対するサブサンプリングを行い、該サブサンプル基準フレームをサンプル基準ブロックとしてラインL7を介して動き推定部150に供給する。
【0019】
この動き推定部150は通常のブロック整合方法を用いて、サンプル基準フレームに基づいて、サンプル・ブロックに対して動き推定を行うことにより、該サンプル・ブロックに対応する動きベクトルを発生する。
【0020】
しかし、サブサンプリング技法を用いる従来の動き推定方法及び装置は、アクティビティ値が高いか、または画素値の偏差が高いフレーム内のブロックに関するサンプル・ブロックに対して動き推定を行うとき生じ得る、動き推定の精度の劣化を解決できないという不都合がある。
【0021】
(発明の開示)
従って、本発明の主な目的は、サブサンプリング技法を採用して、動き推定の精度を向上させ得る動き推定方法及びその装置を提供することにある。
【0022】
上記目的を達成するために、本発明の好適実施例によれば、予め定められた基準フレームに基づいて、現フレーム内のN×M個(N及びMは各々予め定められた正の整数)の画素からなるブロックに対して動き推定を行う動き推定装置であって、前記ブロックを、K×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられた各SBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類して、前記A群のSB("ASB")と前記B群のSB("BSB")を供給するブロック分割手段であって、前記K及びLは各々予め定められた正の整数でN及びMの約数である、前記ブロック分割手段と、前記各ASBにおける前記画素のうち、予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ASBに対するA郡の代表画素として決定して、前記各ASBに対応するA郡の代表画素(ARP)を供給する第1決定手段と、各BSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件とは異なる予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BSBに対するB郡の代表画素として決定して、前記各BSBに対応するB郡の代表画素(BRP)を供給する第2決定手段と、前記各ARPと前記各BRPとを組合わせてサンプル・ブロックを生成するサンプル・ブロック生成手段と、前記ブロック分割手段、前記第1決定手段、前記第2決定手段及び前記サンプル・ブロック生成手段により前記サンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、前記予め定められた基準フレームをサブサンプリングし、サンプル基準フレーム(SRF)を生成する基準フレームサブサンプリング手段であって、前記SRFは各々の大きさがサンプル・ブロックの大きさと等しい、複数の候補ブロックを有する、前記基準フレームサブサンプリング手段と、予め定められたブロック整合方法を用いて、前記サンプル・ブロック及び前記SRFに基づいて、前記各CBのうち前記サンプル・ブロックに対して最小の誤差値をもたらすCBを最適整合候補ブロックとして検出する最適整合候補ブロック検出手段と、前記サンプル・ブロックと前記最適整合候補ブロックとの間の変位を、前記サンプル・ブロックに対応する動きベクトルとして生成する動きベクトル生成手段とを含む動き推定装置が提供される。
【0023】
(発明を実施するための形態)
以下、本発明の好適実施例について、図面を参照しながらより詳しく説明する。
【0024】
図3を参照すると、本発明による動き推定装置300のブロック図が示されている。また、図4A及び図4Bを参照すると、本発明の好適実施例による動き推定装置300に用いられる動き推定方法を説明するのに用いられるブロック及びサンプル・ブロックが示されている。
【0025】
この動き推定装置300はブロック分割部202、第1決定部204、第2決定部206、サンプル・ブロック生成部208、基準フレーム・サブサンプリング部210、最適整合候補ブロック検出部220及び動きベクトル生成部222を含む。基準フレーム・サブサンプリング部210は、基準フレーム分割部212、第3決定部214、第4決定部216及びサンプル基準フレーム生成部218を有する。
【0026】
動き推定装置300において、現フレーム内のN×M個の画素からなるブロックが、現フレーム・メモリ(図示せず)からラインL11を介してブロック分割部202に入力される。ここで、N及びMは各々正の整数である。また、予め定められた基準フレームが基準フレーム・メモリ(図示せず)からラインL13を介して基準フレーム分割部212に入力される。予め定められた基準フレームは、通常、予め定められた復元方法により復元される前フレームであることに注目されたい。
【0027】
ブロック分割部202は、現フレームのブロックをK×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられたSBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類する。
【0028】
次に、ブロック分割部202は、A郡のSB("ASB")及びB郡のSB("bsb")を各々、ラインL21、L22を介して、第1決定部204及び第2決定部206に供給する。ここで、K及びLは各々予め定められた正の整数であって、N及びMの約数である。
【0029】
本発明の好適実施例によれば、N及びKは各々M及びLと等しい。普通、N及びKは例えば、各々8及び2である。また、本発明の他の好適実施例によれば、N及びKは各々16及び4である。
【0030】
例えば、図4Aを参照すると、斜線で表すエリアのASB(即ち、A1〜A8)と、斜線で表さないエリアのBSB(即ち、B1〜B8)とを有する、8×8個の画素からなるブロック40が示されている。図4Aにおいて、各ASB及び各BSBは、各々、2×2個の画素からなり、BSBのB1は図示の如く4個の画素、即ち、P1〜P4を有する。
【0031】
第1決定部204は、ASB内の画素のうちで、所定の第1条件を満たす画素をASBに対するA群の代表画素として決定する。本発明の好適実施例によれば、第1条件は該当画素がASB内の画素の中で最大の画素値を有することを表す。
【0032】
このようにして、第1決定部204は、全てのASBに対応するA群の代表画素(ARP)を決定し、該ARPをラインL23を介してサンプル・ブロック生成部208へ供給する。
【0033】
第2決定部206は、BSB内の画素のうちで、所定の第2条件を満たす画素をBSBに対するB群の代表画素として決定する。ここで、第2条件は第1条件とは異なる。
【0034】
本発明の好適実施例によれば、予め定められた第2条件とは、該画素が各画素のうち最小の画素値を有することである。例えば、P2はP1〜P4の画素のうち最小の画素値を有するもので、BSBのB1に対応するRPとして決定される。本発明による他の好適実施例によれば、予め定められた第2条件は、該当画素が各画素の平均値を有することである。
【0035】
このような方式で、第2決定部206は、全てのBSBに対応するB郡の各代表画素(BRP)を決定し、該BRPをラインL24を介してサンプル・ブロック生成部208に供給する。
【0036】
しかる後、サンプル・ブロック生成部208は各ARPと各BRPとを組合わせて、サンプル・ブロックを生成する。サンプル・ブロック生成部208にて、各ARPは、対応するASBの位置に対応する位置に各ARPを代替すると共に、対応するBSBの位置に対応する位置に各ARPを代替することにより、各BRPと組み合せられることに注目されたい。
【0037】
例えば、図4Bを参照すると、4×4個の画素からなるサンプル・ブロック45が示されている。このサンプル・ブロック45は、斜線で表すエリアの各ARP(即ち、ARP1〜ARP8)と、斜線で表さないエリアの各BRP(即ち、BRP1〜BRP8)とを組合わせて求められる。ここで、ARPi及びBRPiは各々Ai及びBiに対応するARP及びBRPであって、iの範囲は1より8までである。
【0038】
一方、基準フレーム・サブサンプリング部210は、ブロック分割部202、第1決定部204、第2決定部206及びサンプル・ブロック生成部208を通じてサンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、予め定められた基準フレームをサブサンプリングすることにより、ラインL35上にサンプル基準フレーム(SRF)を生成する。SRFは複数の候補ブロック(CB)を有し、各CBの大きさはサンプル・ブロックの大きさと等しいことに注目されたい。
【0039】
詳述すると、基準フレーム分割部212は基準フレームを、K×L個の画素からなる複数の基準サブブロック(RSB)に分け、分けられたRSBを、同一群内の全てのRSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のRSBとB群のRSBとに分類する。
【0040】
次に、基準フレーム分割部212は、A群のRSB(即ち、ARSB)及びB群のRSB(即ち、BRSB)を各々、ラインL31及びL32を介して、第3決定部214及び第4決定部216に供給する。ここで、本発明の好適実施例によれば、各ASBはブロックにおける最上端左側SB位置にあるSBを含み、各ARSBは基準フレームにおける最上端左側RSB位置にあるRSBを含むことに注目されたい。
【0041】
第3決定部214は、ARSB内の画素のうちで、上記所定の第1条件を満たす画素をARSBに対するA群の代表画素として決定する。このようにして、第3決定部214は、全てのARSBに対応するA群の代表画素(ATP)を決定し、該当ATPをラインL33を介してサンプル基準フレーム生成部218に供給する。
【0042】
第4決定部216は、BRSB内の画素のうちで、上記所定の第2条件を満たす画素をBRSBに対するB群の代表画素として決定する。このようにして、第4決定部216は、全てのBRSBに対応するB群の代表画素(BTP)を決定し、該当BTPをラインL34を介してサンプル・ブロック生成部208に供給する。
【0043】
サンプル基準フレーム生成部218は各ATPと各BTPとを組合わせて、複数のCBを有するSRFを生成する。サンプル基準フレーム生成部218にて、各ATPは、対応するARSBの位置に対応する位置に各ATPを代替すると共に、対応するBTBの位置に対応する位置に各BTPを代替することにより、各BTPと組み合せられることに注目されたい。
【0044】
最適整合候補ブロック検出部220は予め定められたブロック整合方法を用いて、サンプル・ブロック及びSRFに基づいて、各CBのうちでサンプル・ブロックに対して最小の誤差値を齎すCBを最適整合候補ブロックとして検出した後、該最適整合候補ブロックを動きベクトル生成部222に供給する。
この動きベクトル生成部222は、サンプル・ブロックと最適整合候補ブロックとの間の変位を、該サンプル・ブロックに対応する動きベクトル(MV)として生成する。
【0045】
従って、本発明によれば、サブサンプリング法を用いて、アクティビティ値が高いフレーム内のブロックに対するサンプル・ブロックに該当する動きベクトルを効果的に検出することによって、動き推定の精度をより一層向上させることができる。
【0046】
上記において、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明の請求範囲を逸脱することなく、当業者は種々の改変をなし得るであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 サブサンプリング部を有する従来の動き推定装置のブロック図である。
【図2A】 従来のサブサンプリング方法を説明するのに用いられるブロックを示す図である。
【図2B】 従来のサブサンプリング方法を説明するのに用いられるサンプル・ブロックを示す図である。
【図3】 本発明による動き推定装置のブロック図である。
【図4A】 本発明の好適実施例による動き推定方法を説明するのに用いられるブロックを示す図である。
【図4B】 本発明の好適実施例による動き推定方法を説明するのに用いられるサンプル・ブロックを示す図である。

Claims (14)

  1. 予め定められた基準フレームに基づいて、現フレーム内のN×M個(N及びMは各々予め定められた正の整数)の画素からなるブロックに対して動き推定を行う動き推定装置であって、
    前記ブロックを、K×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられた各SBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類して、前記A群のSB("ASB")と前記B群のSB("BSB")を供給するブロック分割手段であって、前記K及びLは各々予め定められた1より大きい正の整数でN及びMの約数である、前記ブロック分割手段と、
    前記各ASBにおける前記画素のうち、予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ASBに対するAの代表画素として決定して、前記各ASBに対応するAの代表画素(ARP)を供給する第1決定手段と、
    各BSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件とは異なる予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BSBに対するBの代表画素として決定して、前記各BSBに対応するBの代表画素(BRP)を供給する第2決定手段と、
    前記各ARPと前記各BRPとを組合わせてサンプル・ブロックを生成するサンプル・ブロック生成手段と、
    前記ブロック分割手段、前記第1決定手段、前記第2決定手段及び前記サンプル・ブロック生成手段により前記サンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、前記予め定められた基準フレームをサブサンプリングし、サンプル基準フレーム(SRF)を生成する基準フレームサブサンプリング手段であって、前記SRFは各々の大きさがサンプル・ブロックの大きさと等しい、複数の候補ブロックを有する、前記基準フレームサブサンプリング手段と、
    予め定められたブロック整合方法を用いて、前記サンプル・ブロック及び前記SRFに基づいて、前記各CBのうち前記サンプル・ブロックに対して最小の誤差値をもたらすCBを最適整合候補ブロックとして検出する最適整合候補ブロック検出手段と、
    前記サンプル・ブロックと前記最適整合候補ブロックとの間の変位を、前記サンプル・ブロックに対応する動きベクトルとして生成する動きベクトル生成手段とを含み、前記予め定められた第1条件が、上記画素が各画素のうちで最大の画素値を有することであり、前記予め定められた第2条件が、上記画素が各画素のうちで最小の画素値を有することを特徴とする動き推定装置。
  2. 予め定められた基準フレームに基づいて、現フレーム内のN×M個(N及びMは各々予め定められた正の整数)の画素からなるブロックに対して動き推定を行う動き推定装置であって、
    前記ブロックを、K×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられた各SBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類して、前記A群のSB( " ASB " )と前記B群のSB( " BSB " )を供給するブロック分割手段であって、前記K及びLは各々予め定められた1より大きい正の整数でN及びMの約数である、前記ブロック分割手段と、
    前記各ASBにおける前記画素のうち、予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ASBに対するA群の代表画素として決定して、前記各ASBに対応するA群の代表画素(ARP)を供給する第1決定手段と、
    各BSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件とは異なる予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BSBに対するB群の代表画素として決定して、前記各BSBに対応するB群の代表画素(BRP)を供給する第2決定手段と、
    前記各ARPと前記各BRPとを組合わせてサンプル・ブロックを生成するサンプル・ブロック生成手段と、
    前記ブロック分割手段、前記第1決定手段、前記第2決定手段及び前記サンプル・ブロック生成手段により前記サンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、前記予め定められた基準フレームをサブサンプリングし、サンプル基準フレーム(SRF)を生成する 基準フレームサブサンプリング手段であって、前記SRFは各々の大きさがサンプル・ブロックの大きさと等しい、複数の候補ブロックを有する、前記基準フレームサブサンプリング手段と、
    予め定められたブロック整合方法を用いて、前記サンプル・ブロック及び前記SRFに基づいて、前記各CBのうち前記サンプル・ブロックに対して最小の誤差値をもたらすCBを最適整合候補ブロックとして検出する最適整合候補ブロック検出手段と、
    前記サンプル・ブロックと前記最適整合候補ブロックとの間の変位を、前記サンプル・ブロックに対応する動きベクトルとして生成する動きベクトル生成手段とを含み、前記予め定められた第1条件が、上記画素が各画素のうちで最大の画素値を有することであり、前記予め定められた第2条件が、上記画素が前記各画素の平均画素値を有することを特徴とする動き推定装置。
  3. 前記基準フレームサブサンプリング手段が、
    前記基準フレームを、K×L個の画素からなる複数の基準サブブロック(RSB)に分け、分けられた各RSBを、同一群内の全てのRSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のRSBとB群のRSBとに分類して、前記A群のRSB("ARSB")と前記B群のRSB("BRSB")を供給する基準フレーム分割手段と、
    各ARSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ARSBに対するAの代表画素として決定し、前記ARSBに対応するAの代表画素(ATP)を供給する第3決定手段と、
    各BRSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BRSBに対するBの代表画素として決定し、前記BRSBに対応するBの代表画素(BTP)を供給する第4決定手段と、
    前記各ATPと前記各BTPとを組合わせて、前記複数のCBを有する前記SRFを生成するサンプル基準フレーム生成手段とを有することを特徴とする請求項に記載の動き推定装置。
  4. 前記各ASBが、前記ブロックにおける最上端左側SBの位置にあるSBを有し、前記各ARSBが、前記基準フレームにおける最上端左側RSBの位置にあるRSBを有することを特徴とする請求項に記載の動き推定装置。
  5. 前記予め定められた基準フレームが、予め定められた復元方法により復元される前フレームであることを特徴とする請求項に記載の動き推定装置。
  6. 前記N及びKが、各々、M及びLと等しいことを特徴とする請求項に記載の動き推定装置。
  7. 前記N及びKが、各々、8及び2であることを特徴とする請求項に記載の動き推定装置。
  8. 予め定められた基準フレームに基づいて、現フレーム内のN×M個(N及びMは各々予め定められた正の整数)の画素からなるブロックに対して動き推定を行う動き推定方法であって、
    前記ブロックを、K×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられた各SBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類して、前記A群のSB("ASB")と前記B群のSB("BSB")を供給する第1段階であって、前記K及びLは各々予め定められた1より大きい正の整数でN及びMの約数である、前記第1段階と、
    前記各ASBにおける前記画素のうち、予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ASBに対するAの代表画素として決定して、前記各ASBに対応するAの代表画素(ARP)を供給する第2段階と、
    各BSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件とは異なる予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BSBに対するBの代表画素として決定して、前記各BSBに対応するBの代表画素(BRP)を供給する第3段階と、
    前記各ARPと前記各BRPとを組合わせてサンプル・ブロックを生成する第4段階と、
    前記第1段階乃至前記第4段階により前記サンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、前記予め定められた基準フレームをサブサンプリングし、サンプル基準フレーム(SRF)を生成する第5段階であって、前記SRFは各々の大きさがサンプル・ブロックの大きさと等しい、複数の候補ブロックを有する、前記第5段階と、
    予め定められたブロック整合方法を用いて、前記サンプル・ブロック及び前記SRFに基づいて、前記各CBのうち前記サンプル・ブロックに対して最小の誤差値をもたらすCBを最適整合候補ブロックとして検出する第6段階と、
    前記サンプル・ブロックと前記最適整合候補ブロックとの間の変位を、前記サンプル・ブロックに対応する動きベクトルとして生成する第7段階とを含み、前記予め定められた第1条件が、上記画素が各画素のうちで最大の画素値を有することであり、前記予め定められた第2条件が、上記画素が各画素のうちで最小の画素値を有することを特徴とする動き推定方法。
  9. 予め定められた基準フレームに基づいて、現フレーム内のN×M個(N及びMは各々予め定められた正の整数)の画素からなるブロックに対して動き推定を行う動き推定方法であって、
    前記ブロックを、K×L個の画素からなる複数のサブブロック(SB)に分け、分けられた各SBを、同一群内の全てのSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のSBとB群のSBとに分類して、前記A群のSB( " ASB " )と前記B群のSB( " BSB " )を供給する第1段階であって、前記K及びLは各々予め定められた1より大きい正の整数でN及びMの約数である、前記第1段階と、
    前記各ASBにおける前記画素のうち、予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ASBに対するA群の代表画素として決定して、前記各ASBに対応するA群の代表画素(ARP)を供給する第2段階と、
    各BSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件とは異なる予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BSBに対するB群の代表画素として決定して、前記各BSBに対応するB群の代表画素(BRP)を供給する第3段階と、
    前記各ARPと前記各BRPとを組合わせてサンプル・ブロックを生成する第4段階と、
    前記第1段階乃至前記第4段階により前記サンプル・ブロックを生成する方法と同じくして、前記予め定められた基準フレームをサブサンプリングし、サンプル基準フレーム(SRF)を生成する第5段階であって、前記SRFは各々の大きさがサンプル・ブロックの大きさと等しい、複数の候補ブロックを有する、前記第5段階と、
    予め定められたブロック整合方法を用いて、前記サンプル・ブロック及び前記SRFに基づいて、前記各CBのうち前記サンプル・ブロックに対して最小の誤差値をもたらすCBを最適整合候補ブロックとして検出する第6段階と、
    前記サンプル・ブロックと前記最適整合候補ブロックとの間の変位を、前記サンプル・ブロックに対応する動きベクトルとして生成する第7段階とを含み、前記予め定められた第1条件が、上記画素が各画素のうちで最大の画素値を有することであり、前記予め定められた第2条件が、上記画素が前記各画素の平均画素値を有することを特徴とする動き推定方法。
  10. 前記第5段階が、
    前記基準フレームを、K×L個の画素からなる複数の基準サブブロック(RSB)に分け、分けられた各RSBを、同一群内の全てのRSBは互いに対角線関係で隣接するという規則により、A群のRSBとB群のRSBとに分類して、前記A群のRSB("ARSB")と前記B群のRSB("BRSB")を供給する段階と、
    各ARSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第1条件を満たす画素を、前記各ARSBに対するAの代表画素として決定し、前記ARSBに対応するAの代表画素(ATP)を供給する段階と、
    各BRSBにおける前記画素のうち、前記予め定められた第2条件を満たす画素を、前記各BRSBに対するBの代表画素として決定し、前記BRSBに対応するBの代表画素(BTP)を供給する段階と、
    前記各ATPと前記各BTPとを組合わせて、前記複数のCBを有する前記SRFを生成する段階とを有することを特徴とする請求項に記載の動き推定方法。
  11. 前記各ASBが、前記ブロックにおける最上端左側SBの位置にあるSBを有し、前記各ARSBが、前記基準フレームにおける最上端左側RSBの位置にあるRSBを有することを特徴とする請求項10に記載の動き推定方法。
  12. 前記予め定められた基準フレームが、予め定められた復元方法により復元される前フレームであることを特徴とする請求項11に記載の動き推定方法。
  13. 前記N及びKが、各々、M及びLと等しいことを特徴とする請求項12に記載の動き推定方法。
  14. 前記N及びKが、各々、8及び2であることを特徴とする請求項13に記載の動き推定方法。
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