JP4008649B2 - 光学装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、CGH素子(computer generated hologram)のような回折型光学素子あるいは屈折型レンズ素子のような光学レンズ素子と、この光学レンズ素子に結合される光学素子とを含む光学装置に関し、特に、前記光学レンズ素子を含むこれら光学素子のアライメントを容易とする光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
光学素子の光学的結合のためのアライメント方法に、例えば、Tanaka 氏等により、IEIC Trans. Electron. E80-C 第107〜111頁(1997年)で開示されているようなパッシブアライメント法がある。
この従来方法では、光ファイバと光源であるレーザチップとの両者の位置決めのために、シリコンプラットフォームと呼ばれる支持基板が用いられる。このシリコンプラットフォームには、光ファイバを受け入れるV字状のエッチング溝が形成され、レーザチップを受ける半田パッドが形成される。これらエッチング溝および半田パッドは、フォトリソエッチング技術を用いて形成されることから、試験光等を用いたいわゆるアクティブアライメント法を適用することなく、前記支持基板上で、例えば1μm〜6μmのビームスポット径のビームを取り扱う両光学素子を、1〜2μmの許容誤差内で高精度に位置決めることができる。
【0003】
前記した支持基板上の光学素子に光学レンズ素子を結合する場合、この光学レンズ素子が形成された光学基板と前記支持基板との正確なアライメントが必要となる。
特に、CGH素子のような微小な光学レンズ素子を、前記した支持基板上に位置決められた光学素子に組み合わせる場合、この光学レンズ素子と前記光学素子との高精度での光学的結合を実現するために、光学レンズ素子が形成された光学基板と、光学素子が設けられた前記支持基板とを高精度で位置決めする必要がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明の目的は、前記したCGH素子のような光学レンズ素子と、支持基板に位置決められかつ前記レンズ素子に光学的に結合される光学素子とを含む光学装置であって光学的結合が比較的容易かつ高精度で行い得る光学装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
〈構成〉
本発明は、第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、ミラーが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードと光ファイバが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層とを備える積層構造を有し、前記エッチング処理により前記表層から露出した前記エッチングストッパ層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、前記光学基板は、前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される光を平行光束に変換して前記ミラーに入射し、前記ミラーが、前記平行光束に変換された光を前記第2光学レンズ素子に入射し、前記第2光学レンズ素子が、前記ミラーにより出射された光を前記光ファイバに集光して入射することを特徴とする。
他の発明は、第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、波長フィルタが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードとフォトダイオードと光ファイバとが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層とを備える積層構造を有し、前記エッチング処理により前記表層から露出した前記エッチングストッパ層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、前記光学基板は、前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される第1の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第1の光を前記第2光学レンズ素子に入射し、前記第2光学レンズ素子が、前記波長フィルタにより出射された第1の光を前記光ファイバに集光して入射し、該光ファイバから出射され前記第1の光とは波長の異なる第2の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第2の光を前記フォトダイオードに入射することを特徴とする。
【0006】
〈作用〉
本発明に係る前記光学装置では、前記支持基板のエッチング処理により露出する前記エッチングストッパ層が、前記光学レンズ素子が形成された光学基板を載置するための支持面として利用される。前記支持基板は、例えば半導体集積回路に用いられるSOI基板を用いることができ、このSOI基板のいわゆるBOX層と称される酸化シリコン層を前記したエッチングストッパ層として利用することにより、前記光学基板の支持面に前記高精度の平坦性が維持される。
従って、前記したエッチング処理により露出される前記エッチングストッパ層上での前記光学装置の二次元的な位置決めにより、前記光学レンズ素子と前記光学素子との高精度での光学的結合を比較的容易に行うことが可能となる。
【0007】
前記表層上に、前記光学素子の位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成し、さらに前記表層上に、前記光学基板の前記エッチングストッパ層上における位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成し、両マークを基準に前記光学素子および光学基板を前記支持基板に位置決めることにより、前記光学レンズ素子および前記光学素子の一層容易な位置決めが可能となる。
【0008】
前記支持面を構成すべく前記エッチングストッパ層を部分的に露出させるべく、前記表層に全体に矩形のエッチング開口を形成し、該エッチング開口を規定する縁部のうち、互い直角な関係をなして配置される両縁部を前記エッチング表層上に設けられる前記光学基板のためのマークとして利用することができる。
【0009】
前記光学基板は、前記エッチングストッパ層上に接する底面と、該底面から互いに間隔をおいて立ち上がる一対の直立面とを備える全体に矩形の板部材で構成することができ、この場合、前記直立面の少なくとも一方に前記レンズ素子を形成することができる。
【0010】
光学基板に形成される前記レンズ素子として、CGH素子のような回折型光学素子を用いることができる他、光の屈折現象を利用した屈折型光学素子であるバルクレンズあるいは非球面レンズ等、種々の光学レンズ素子を採用することができる。
【0011】
また、前記支持基板には、光ファイバの他、レーザダイオード或いはフォトダイオードのような発光器等、種々の光学素子を設けることができる。
【0012】
前記表層は、その厚さ寸法の許容誤差が前記光学基板と前記支持基板とのアライメントの許容誤差範囲内にあり、表層の厚さ寸法が例えば100μmであるとき、その許容誤差が例えば±0.5μmであることが望ましい。
【0013】
また、前記支持基板の前記積層構造が、前記エッチングストッパ層下に例えばシリコン結晶板のような支持層を有する場合、前記エッチングストッパ層を露出させた後、前記支持層が新たなエッチングストッパとして機能するエッチング処理により、前記表層下の前記エッチングストッパ層から前記支持層を部分的に露出させることにより、該支持層を前記光学基板の支持面として利用することができる。
【0014】
前記したシリコン結晶板のような支持層を前記光学基板の支持面として利用する場合、前記表層と、前記支持層上の前記エッチングストッパ層の合計の厚さ寸法の許容誤差が前記光学基板と前記支持基板とのアライメントの許容誤差範囲内にあり、このアライメントの許容誤差が例えば±2μmであるとき、前記合計の厚さ寸法の許容誤差は、±2μmの積層構造を有する支持基板が利用される。
【0015】
前記支持層を支持面とする場合においても、前記表層上に、前記光学素子の位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成し、さらに前記表層上に、前記光学基板の前記エッチングストッパ層上における位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成することができる。
【0016】
さらに、前記支持層を支持面とする場合、前記表層および前記支持層上の前記エッチングストッパ層に形成される全体に矩形のエッチング開口を形成し、該エッチング開口を規定する縁部のうち、互い直角な関係をなして配置される両縁部を前記支持層上に位置決められ前記光学基板のためのマークとして利用することができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図示の実施の形態について詳細に説明する。
〈具体例1〉
図1は、本発明に係る光学装置の具体例1を概略的に示す斜視図である。
本発明に係る光学装置10は、光学レンズ素子が形成される光学基板11と、該光学基板が組み付けられる支持基板12とを備える。
【0018】
光学基板11は、例えば、図2に示されているように、高さ寸法Hが3mm、幅寸法Wが3mmおよび厚さ寸法Tが2mmの全体に矩形の板状石英からなる。光学基板11は、その矩形底面11aの一対の長辺から互いに間隔をおいて前記底面11aに関して直角に立ち上がる一対の直立面11bおよび11cと、前記底面11aの短辺から互いに間隔をおいて直角に立ち上がる一対の側面11dおよび11eとを備え、一方の直立面11bには、一対の光学レンズ素子13(13aおよび13b)が形成されている。また、他方の直立面11cには、一方の前記レンズ素子13aまたは13bを透過した光を他方の前記レンズ素子13bまたは13aに向けるための全反射ミラー14が設けられている。
【0019】
前記光学レンズ素子13は、例えばCGH素子のような回折型光学素子からなる。CGH素子13は、従来よく知られているように、所望の回折光学特性に応じたマスクパターンを計算機により求め、各マスクパターンを用いたフォトリソグラフィ法により、光学基板11の一方の直立面11bにエッチング処理を施すことにより、形成される。これにより、例えば集光機能、コリメート機能あるいは偏向機能等、所望の一または複数の光学機能を有するCGH素子13を形成することができる。
【0020】
図示の例では、一方のレンズ素子13aは、後述する例えばレーザダイオードのような光学素子からの発散光を平行光束に変換するコリメート機能およびこのコリメート機能により得られた平行光束を前記ミラー14と共同して他方のレンズ素子に案内すべく偏向するための偏向機能が与えられ、他方のレンズ素子13bは前記一方のレンズ素子13aから前記ミラー14を経て案内される平行光束を後述する例えば光ファイバのような光学素子に集光させるための前記したと同様な偏向機能および集光機能が与えられている。
【0021】
各レンズ素子13は、例えば0.375mmの直径を有し、両光軸間のレンズ中心間距離が0.5mmに設定されている。前記したCGH素子に代えて、回折現象を利用したフレネルレンズのような種々の回折型光学素子および屈折現象を利用したバルクレンズのような種々の屈折型光学素子を用いることができる。
【0022】
それぞれに光学レンズ素子13および全反射ミラー14が形成された光学基板11は、例えば3インチの石英ウエハ基板上に集合的に形成された後、スライサーにより、個々に切り出すことができる。この切り出しは、両レンズ素子13の光軸を結ぶ中心線L1と前記底面11aとの間の距離の誤差範囲および両レンズ13の中間点を通りかつ中心線L1に直交する中心線L2と前記側面11dとの間の距離の誤差範囲がそれぞれ±0.3μm以内となる精度で、行うことができる。
【0023】
各CGH素子13(13a、13b)に光学的に結合される光学素子は、図1に示す例では、レーザダイオード15および光ファイバ16である。これら光学素子15および16光ファイバを支持する支持基板12は、例えば従来よく知られたSOI基板が利用されている。
【0024】
SOI基板12は、図3および図4に示されているように、全体に矩形の平板形状を呈する。SOI基板12は、図4に示されているように、シリコン結晶板12aと、該シリコン結晶板上に形成された酸化シリコン層12bと、該酸化シリコン層上に形成されたシリコン結晶層12cとから成る。例えば、シリコン結晶板12aは500μmの厚さ寸法を有し、酸化シリコン層12bは1μmの厚さ寸法を有し、シリコン結晶層12cは100μmの厚さ寸法を有する。
シリコン結晶層12cの厚さ寸法の許容誤差は、例えば±0.5μmであり、この許容誤差については、アライメントの図1に示すy軸方向での許容誤差に応じた厚さ寸法精度の表層すなわちシリコン結晶層12cを有するSOI基板12が用いられる。このシリコン結晶層12cの面方位は、例えば{100}である。
【0025】
シリコン結晶層12cには、表層たるシリコン結晶層12cを部分的に除去して該光学基板11を乗せるための支持面17を露出させるためのエッチング開口18が形成されている。
【0026】
エッチング開口18は、マスクを用いた従来よく知られたフォトリソエッチング技術により、形成することができる。
{100}面のシリコン結晶層12cにエッチング開口18を形成するためのエッチング媒体として、水酸化カリゥムのような異方性エッチング液を用い、このエッチング液を用いたウエットエッチング処理をシリコン結晶層12cに施すことにより、図3に示すように、(111)面で構成される一対の長縁部18a、18aおよび一対の短縁部18b、18bで規定される矩形のエッチング開口18が形成される。(111)面で構成される各長縁部18aおよび各短縁部18bは、支持面17に関して55度の仰角を有する傾斜縁部である。
【0027】
前記した酸化シリコン層12bは、水酸化カリゥムに対し、シリコン結晶層12cに比較して著しく低いエッチングレートを示すことから、実質的なエッチングストッパとして機能する。従って、前記したエッチング液を用いることにより、シリコン結晶層12cを部分的に除去して酸化シリコン層12bを部分的に露出させることにより、この露出された酸化シリコン層12bからなる平坦な支持面17を比較的容易に露出させることができる。
【0028】
支持基板12の表層すなわちシリコン結晶層12cには、CGH素子13に光学的に結合されるレーザダイオード15を位置決めるための一対の十字マーク19が一方の長縁部18aの近傍に設けられ、光ファイバ16を保持するためのV字溝20が前記一方の長縁部18aから支持基板12の端部に伸びる。さらに、前記シリコン結晶層12c上には、レーザダイオード15からの光の拡散路を確保するためのV溝21が、前記一方の長縁部18aと一対の十字マーク19との間に形成され、また後述する支持面17上での光学基板11のx軸およびz軸方向の位置決めに使用される一対の十字マーク22が一方の短縁部18bの近傍に設けられている。
【0029】
十字マーク19および22は、図1で見て、光学レンズ素子13の光軸方向に一致するz軸に沿った線分と、これに直角なx軸に沿った線分とからなる。
前記十字マーク19および22は、従来よく知られたフォトリソエッチング技術を用いたリフトオフ法により、それぞれ高精度で形成することができる。
この十字マーク22に代えて、種々の所望形状の位置決めマークを適宜使用することができる。
【0030】
前記V字溝20およびV溝21は、従来よく知られているように、フォトリソエッチング技術を利用して形成することにより、支持基板12の表面上に高精度で形成することができる。特に、支持基板12の表層12cが前記した結晶層から成るとき、エッチング処理として、結晶性を利用した異方性エッチング処理を行うことにより、特定の格子面により、一層正確なV字溝を形成することが可能となる。
【0031】
支持基板12へのレーザダイオード15の組み付けでは、従来よく知られているように、例えばレーザダイオード15を通しての赤外線による十字マーク19の透視により、該十字マークを基準として、レーザダイオード15が支持基板12上に高精度で位置決められる。
また、支持基板12への光ファイバ16の組み付けでは、フォトリソエッチング技術により形成されたV字溝20に光ファイバ16を配置することにより、該光ファイバは支持基板12上に高精度で位置決められる。
【0032】
さらに、レーザダイオード15および光ファイバ16が位置決められた支持基板12上への光学基板11の組み付けでは、支持面17上に底面11aを当接して配置される光学基板11が十字マーク22を基準に、支持基板12上で位置決められる。
【0033】
この支持基板12上での光学基板11の位置決めでは、前記したように光学基板11の底面11aを支持面17上に当接させた状態で、図1に示すx軸方向の位置は、両十字マーク22および22を結ぶ線と光学基板11のいずれか一方の側面11dまたは11eとの間隔に基づいて、決定される。また、図1に示すように、光軸方向に一致するz軸方向の位置は、いずれか一方の十字マーク22と、いずれか一方の直立面11bまたは11cとの間隔に基づいて、決定される。
【0034】
光学基板11のための支持面17は、露出されたエッチングストッパ面である酸化シリコン層12bで規定されることから、高い平坦度が維持され、かつエッチング開口18の深さ寸法D(図4参照)は、シリコン結晶層12cの厚さ寸法に一致することから、高精度でy軸方向の位置が規定される。
【0035】
従って、光学基板11の前記支持面17上での前記したx軸方向およびz軸方向での前記十字マーク22を利用した位置決めにより、光学基板11を支持基板12に正確に位置決めることができ、これにより、光学レンズ素子であるCGH素子13と、これに光学的に結合される光学素子であるレーザダイオード15および光ファイバ16との高精度での光軸合わせが、実際の光を用いることなく可能となる。
【0036】
このことから、従来のようなアクティブアライメント法を適用することなく、単に支持基板12の支持面17上での光学基板11の位置決めマークを用いた2次元的な位置決め作業により、図1に示すようなx軸、y軸およびz軸方向の誤差が1μm以下の精度で、CGH素子13と各光学素子15および16との光軸合わせであるアライメントを、いわゆるパッシブアライメントで行うことができ、これにより、迅速かつ容易な光軸合わせのためのアライメントが可能となる。
【0037】
光学基板11および支持基板12から成る光学装置10の特性評価試験によれば、レーザダイオード15からの2mWの入力光に対して光ファイバ16の出力端から1.8mWの出力光を取り出すことができ、90%を越える光結合効率を得ることができた。
【0038】
前記したところでは、x軸方向およびz軸方向の位置決めのためのマークとして、シリコン結晶層12c上に形成された十字マーク22を利用したが、この十字マーク22に代えて、エッチング開口18の互いに直角な関係で相互に隣り合う長縁部18aおよび短縁部18bを利用することができる。
これらの縁部18aおよび18bを位置決めマークとして利用する場合、エッチング開口18のエッチング処理では、エッチング処理を受けるシリコン結晶層の結晶性を利用した異方性エッチング媒体に代えて、エッチングガスのような指向性を利用した異方性エッチング媒体を用いることが望ましい。
指向性を利用した異方性エッチング媒体を用いたドライエッチング処理により、支持面17から垂直に立ち上がる各縁部18aおよび18bを形成することができ、これにより支持面17から垂直に立ち上がる各縁部18aおよび18bを位置決めマークとすることにより、光学基板11について、長縁部18aおよび短縁部18bに対応したz軸方向およびx軸方向の位置決め作業が、一層容易かつ正確に行うことができる。
【0039】
さらに、前記した具体例1では、表層たるシリコン結晶層12cの直下に位置する酸化シリコン層12bをエッチングストッパ層として、該エッチングストッパ層を光学基板11のための支持面17とする例を示したが、これに代えて、エッチングストッパ層たる酸化シリコン層12b下の支持層であるシリコン結晶板12aの表面を支持面17とすることができる。
【0040】
この場合、酸化シリコン層12bをエッチングストッパ層とする表層12cの部分的なエッチング処理により前記酸化シリコン層12bが部分的に露出すると、エッチングストッパ層として機能した酸化シリコン層12bを例えばフッ素系のエッチング液を用いたエッチング処理により、部分的に除去し、酸化シリコン層12b下のシリコン結晶板12aの表面を部分的に露出させることができる。
シリコン結晶板12は、フッ素系のエッチング液に対して、エッチングストッパとして機能することから、前記した酸化シリコン層12bへの部分的なエッチング処理により、平坦なシリコン結晶板12の表面を前記酸化シリコン層12bから露出させることにより、シリコン結晶板12の露出面を光学基板11の支持面17として、利用することができる。
【0041】
また、前記したシリコン結晶板のような支持層を前記光学基板の支持面として利用する場合、前記表層と、前記支持層上の前記エッチングストッパ層の合計の厚さ寸法の許容誤差が前記光学基板と前記支持基板とのアライメントのy軸方向での許容誤差範囲内にあるSOI基板が使用される。このアライメントの許容誤差が例えば±2μmであるとき、前記合計の厚さ寸法の許容誤差は、±2μmの積層構造を有するSOI基板が支持基板として利用される。
【0042】
前記支持層を支持面とする場合においても、前記表層上に、前記光学素子の位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成し、さらに前記表層上に、前記光学基板の前記エッチングストッパ層上における位置決めのためのマークをフォトリソエッチング技術により形成することができる。
【0043】
さらに、前記支持層を支持面とする場合、前記表層および前記支持層上の前記エッチングストッパ層に形成される全体に矩形のエッチング開口を形成し、該エッチング開口を規定する縁部のうち、互い直角な関係をなして配置される両縁部を前記支持層上に位置決められ前記光学基板のためのマークとして利用することができる。
【0044】
〈具体例2〉
図5に示す具体例は、双方向光通信を可能とする光学装置50の例を示す。
具体例2の光学装置50では、光学装置10に示されたと同様な支持基板12のシリコン結晶層12cには、エッチングストッパとして機能しかつ光学基板11のための支持面17として機能する酸化シリコン層12bを部分的に露出させるためのエッチング開口18が形成されている。
【0045】
シリコン結晶層12c上におけるエッチング開口18の一方の縁部18aの側には、発光器として、波長λ1の光を放射するレーザダイオード15が配置され、また光導波路として、波長λ2の光をその一端16aに受ける光ファイバ16が配置され、さらに、エッチング開口18の他方の縁部18aの側には、光ファイバ16に入射する前記波長λ2の光を受ける受光器として、フォトダイオード23が配置されている。
【0046】
シリコン結晶層12cのエッチング開口18から露出する支持面17上には、光学基板11が配置されている。
具体例2では、光学基板11は、従来におけると同様に、その表面24aを光ファイバ16の他端16bに対向させて配置され、その裏面24bに前記したと同様なCGH素子からなる回折型光学素子13(13aおよび13b)が形成された例えば石英からなる光学板24と、該光学板の裏面24bに一方の面25aが接合され、他方の面25bに例えば誘電体多層膜からなるWDMフィルタ26が設けられた光学板25とからなる。
【0047】
光学基板11は、レーザダイオード15から発せられる波長λ1の発散光からなる光信号をその光学レンズ素子13aに受けると、該レンズの偏向機能およびコリメート機能により、波長λ1の発散光を平行光束としてWDMフィルタ26に向ける。WDMフィルタ26は、従来よく知られているように、この波長λ1の平行光束を光学レンズ素子13bに向けて反射する。
WDMフィルタ26の反射作用により光学レンズ素子13bに向けられた平行光束は、該光学レンズ素子の集光機能および偏向機能により、光ファイバ16の他端16bに集光され、該光ファイバを経て、出力される。
【0048】
他方、光ファイバ16の一端16aから入射する波長λ2の光信号は、光ファイバ16の他端16bから光学レンズ素子13bに向けて発散される。この波長λ2からなる発散光は、従来よく知られているように、光学レンズ素子13bの集光機能および偏向機能により、WDMフィルタ26を通して、フォトダイオード23に案内される。
従って、光学装置50によれば、従来よく知られているように、波長λ1および波長λ2の光信号を用いた双方向通信が可能となる。
【0049】
支持基板12の表層であるシリコン結晶層12c上に設けられるレーザダイオード15および光ファイバ16は、具体例1に示したと同様に、フォトリソエッチング技術を用いて形成された十字マーク19およびV字溝20により、それぞれ高精度で支持基板12上に位置決められる。
また、支持基板12上のフォトダイオード23は、十字マーク19におけると同様な十字マーク27および27を用いることにより、正確に位置決められる。
【0050】
さらに、光学基板11は、その底面11aを支持面17に当接させた状態で、図5では省略されているが、具体例1を示す図3に示されたと同様な十字マーク22および22を用いて、x軸方向および光軸方向に沿ったz軸方向の位置決めがなされる。
【0051】
支持基板12のシリコン結晶層12cは、エッチング開口18を横切りかつ酸化シリコン層12bを露出させる凹溝28により、電気的に分断されている。この凹溝28は、フォトリソエッチング技術によりエッチング開口18を形成するとき、このエッチング開口18と同時的に形成することができる。
この凹溝28は、電気絶縁層たる酸化シリコン層12b上のシリコン結晶層12cを、レーザダイオード15が設けられる領域とフォトダイオード23が設けられる領域とに電気的に分断することにより、高周波による両素子の相互干渉を防止する作用をなす。
【0052】
具体例2の光学基板11によれば、前記した具体例1におけると同様に、単に支持基板12の支持面17上での光学基板11の前記した位置決めマークを用いた2次元的な位置決め作業により、各CGH素子13と各光学素子15、16および23との光軸合わせであるアライメントを、いわゆるパッシブアライメントで行うことができ、これにより、迅速かつ容易な光軸合わせのためのアライメントが可能となる。
【0053】
具体例2の光学装置50の特性評価試験によれば、レーザダイオード15から光ファイバ16への波長λ1の光信号については、85%の光結合効率を得ることができ、光ファイバ16からフォトダイオード23への波長λ2の光信号については、90%の光結合効率を得ることができた。
【0054】
前記光学装置50においても、支持面17上での光学基板11の位置決めのために、シリコン結晶層12c上に形成された前記した十字マーク(22)に代えて、エッチング開口18の互いに直角な関係で相互に隣り合う縁部18aおよび18bを利用することができる。
【0055】
〈具体例3〉
図6に示す具体例3の光学装置60では、支持基板12に複数のレーザダイオード15が相互に並列的に配置されており、各レーザダイオード15に対応して複数の光ファイバ16が相互に並列的に配置されている。
各レーザダイオード15は、前記したと同様なフォトリソエッチング技術により形成された位置決め用マーク19を用いて位置決められている。
【0056】
各光ファイバ16を収容するための前記したと同様なフォトリソエッチング技術により形成されたV字溝20が、対応するそれぞれのレーザダイオード15の近傍に達する。
支持基板12のシリコン結晶層12cには、各V字溝20を横切って、酸化シリコン層12bを部分的に露出させる矩形のエッチング開口18が形成されている。各V字溝20には、光ファイバ16がその端面をエッチング開口18の一方の縁部18aから間隔をおいて収容されている。
【0057】
酸化シリコン層12bのエッチング開口18から露出する支持面17上には、光学基板11が配置されている。
具体例3の光学基板11では、その一方の直立面11cに、各レーザダイオード15に対応して、該レーザダイオードからの発散光を平行光束に変換するためのコリメート機能を有する光学レンズ素子13aが、相互に間隔をおいて形成されている。また、光学基板11の他方の直立面11bには、各光学レンズ素子13aに対応して、該光学レンズ素子からの平行光束を対応する各光ファイバ16の前記端面に集光させるための光学レンズ素子13bが相互に間隔をおいて形成されている。
【0058】
具体例3の光学装置60では、支持面17上での光学基板11の位置決めマークとして、エッチング開口18の一対の長辺を規定する垂直な両長縁部18aおよびエッチング開口18の一対の短辺を規定する垂直な両短縁部18bのうち、それぞれが互いに直角な関係にある一組の両縁部18aおよび18bが利用されている。
【0059】
図6に示す例では、レーザダイオード15に近接して配置された一方の長縁部18aが光学基板11の前記一方の直立面11cに当接することにより、光学基板11のz軸方向の位置を規定する。また、一対の短縁部18bのうち、図6で見て上方に位置する一方の短縁部18bが光学基板11の一方の側面11dに当接することにより、光学基板11のx軸方向の位置を規定する。
【0060】
従って、支持面17上で光学基板11の前記直立面11cおよび側面11dをそれぞれに対応する前記縁部18aおよび18bに沿わせかつそれぞれに当接させることにより、光学基板11を支持基板12上に正確に位置決めることができる。
【0061】
具体例3の光学装置60の特性評価試験によれば、2mWの出力を示す各レーザダイオード15からの入力信号に対し、各光ファイバ16の出力端に1.8mWの光出力信号を得ることができ、90%以上の光結合効率を得ることができた。
【0062】
前記したところでは、光学基板11として石英を用いた例について説明したが光学基板として、シリコン基板のような種々の光学基板を採用することができる。
また、支持基板として、SOI基板を用いた例について説明したが、例えばガラス板と、該ガラス板上に例えばシリコンのような結晶層を堆積させた種々の積層構造体を用いることができる。このような積層体では、前記したと同様な水酸化カリゥムをエッチング媒体として用いるエッチング処理により、ガラス板をエッチングストッパとして機能させることができ、前記結晶層のエッチング処理により形成されるエッチング開口から露出するガラス板の露出面が光学基板の支持面として利用される。
【0063】
前記した支持面を露出させるエッチング開口の形状は、前記した矩形形状に限らず、種々の形状を選択することができ、またエッチング開口を形成するためのエッチング媒体は、積層構造体の各層の材料に応じて適宜選択することができる。
【0064】
【発明の効果】
本発明によれば、前記したように、CGH素子のような光学レンズ素子が形成された光学基板を搭載する支持基板へのエッチング処理により、該支持基板の表層下に位置するエッチングストッパ層あるいは該エッチングストッパ層下に位置する支持層の表面が露出され、このエッチングストッパ層あるいは支持層の露出部分が前記光学基板のための支持面として利用されることから、高精度の平坦性を有する支持面上での2次元的な位置決めにより、光学基板および支持基板の相互の位置決めが高精度でなされ、これにより、前記レンズ素子と該レンズ素子に光学的に結合される前記光学素子とを比較的容易かつ高精度で結合することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光学装置の具体例1を示す斜視図である。
【図2】図1に示した光学基板11を示す斜視図である。
【図3】図1に示した支持基板12の平面図である。
【図4】図3に示したIV-IV線に沿って得られた断面図である。
【図5】本発明に係る光学装置の具体例2を示す斜視図である。
【図6】本発明に係る光学装置の具体例3を示す平面図である。
【符号の説明】
10、50、60 光学装置
11 光学基板
12 支持基板
12a 支持層(シリコン結晶板)
12b エッチングストッパ層(酸化シリコン層)
12c 表層(シリコン結晶層)
13(13a、13b) 光学レンズ素子(CGH素子)
15、16、23 光学素子
17 支持面
18 エッチング開口
18a、18b、22 マーク

Claims (10)

  1. 第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、ミラーが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードと光ファイバが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、
    前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層とを備える積層構造を有し、
    前記エッチング処理により前記表層から露出した前記エッチングストッパ層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、
    前記光学基板は、
    前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される光を平行光束に変換して前記ミラーに入射し、
    前記ミラーが、前記平行光束に変換された光を前記第2光学レンズ素子に入射し、
    前記第2光学レンズ素子が、前記ミラーにより出射された光を前記光ファイバに集光して入射することを特徴とする光学装置。
  2. 第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、波長フィルタが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードとフォトダイオードと光ファイバとが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、
    前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層とを備える積層構造を有し、
    前記エッチング処理により前記表層から露出した前記エッチングストッパ層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、
    前記光学基板は、
    前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される第1の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、
    前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第1の光を前記第2光学レンズ素子に入射し、
    前記第2光学レンズ素子が、前記波長フィルタにより出射された第1の光を前記光ファイバに集光して入射し、該光ファイバから出射され前記第1の光とは波長の異なる第2の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、
    前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第2の光を前記フォトダイオードに入射することを特徴とする光学装置。
  3. 前記支持基板の表層上には、前記光学素子の位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成され、さらに前記表層上には、前記光学基板の前記エッチングストッパ層上における位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成されている請求項1または2のいずれか一項に記載の光学装置。
  4. 前記支持基板の表層上には、前記光学素子の位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成され、前記エッチングストッパ層は前記表層に設けられた全体に矩形のエッチング開口を通して部分的に露出され、前記エッチングストッパ層の前記した露出部分上の前記光学基板は、前記表層の前記開口を規定する縁部のうち、互い直角な関係をなして配置される両縁部により、前記エッチングストッパ層上の位置が規定されている請求項1〜3のいずれか一項に記載の光学装置。
  5. 前記支持基板は、シリコン結晶板、該シリコン結晶板上の酸化シリコン層および該酸化シリコン層上のシリコン結晶層を備えるSOI基板である請求項1〜4のいずれか一項に記載の光学装置。
  6. 第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、ミラーが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードと光ファイバが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、
    前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層と、該エッチングストッパ層下の支持層を備える積層構造を有し、
    前記エッチング処理による前記表層から露出した前記エッチングストッパ層へのエッチング処理より該エッチングストッパ層から露出する前記支持層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、
    前記光学基板は、
    前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される光を平行光束に変換して前記ミラー入射し、
    前記ミラーが、前記平行光束に変換された光を前記第2光学レンズ素子に出射し、
    前記第2光学レンズ素子が、前記ミラーにより出射された光を前記光ファイバに集光して入射することを特徴とする光学装置。
  7. 第1光学レンズ素子と第2光学レンズ素子とが形成された表面と、波長フィルタが形成された裏面とを有する光学基板と、光学素子としてレーザダイオードとフォトダイオードと光ファイバとが設けられ、前記光学基板が実装される支持基板とを含み、
    前記支持基板は、前記光学素子が支持され部分的にエッチング処理を受ける表層と、該表層下にあって該表層のためのエッチング媒体に関してエッチングストッパとして機能するエッチングストッパ層と、該エッチングストッパ層下の支持層を備える積層構造を有し、
    前記エッチング処理により前記表層から露出した前記支持層上に前記光学基板が載置されている光学装置であって、
    前記光学基板は、
    前記第1光学レンズ素子が、前記レーザダイオードから出射される第1の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、
    前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第1の光を前記第2光学レンズ素子に入射し、
    前記第2光学レンズ素子が、前記波長フィルタにより出射された第1の光を前記光ファイバに集光して入射し、該光ファイバから出射され前記第1の光とは波長の異なる第2の光を平行光束に変換して前記波長フィルタに入射し、
    前記波長フィルタが、前記平行光束に変換された第2の光を前記フォトダイオードに入射することを特徴とする光学装置。
  8. 前記支持基板の表層上には、前記光学素子の位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成され、さらに前記表層上には、前記光学基板の前記支持層上における位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成されている請求項6または7のいずれか一項に記載の光学装置。
  9. 前記支持基板の表層上には、前記光学素子の位置決めのためのマークがフォトリソエッチング技術により形成され、前記支持層は、前記表層および該表層下の前記エッチングストッパ層に設けられた全体に矩形のエッチング開口を通して部分的に露出され、前記支持層の前記した露出部分上の前記光学基板は、前記エッチング開口を規定する縁部のうち、互い直角な関係をなして配置される両縁部により、前記支持層上の位置が規定されている請求項6〜8のいずれか一項に記載の光学装置。
  10. 前記支持基板は、シリコン結晶板、該シリコン結晶板上の酸化シリコン層および該酸化シリコン層上のシリコン結晶層を備えるSOI基板である請求項6〜9のいずれか一項に記載の光学装置。
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