JP3970785B2 - 半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子をテストするためのハンドラにより半導体素子を装着して移送するテストレイ及び該テストトレイに設けられて半導体素子を保持するキャリアモジュールに関するもので、特に、ハンドラのテストサイトにおいて半導体素子のテストがなされる間、発熱補償装置により半導体素子に冷却流体が噴射されて半導体素子の発熱補償が行われるときに、斯かる発熱補償の効果を向上させる半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイに関する。
【0002】
【従来の技術】
メモリ又は非メモリ半導体素子及びそれらを適切に一つの基板上に回路的に構成したモジュールは、通常、製造後に各種テスト過程を経てから出荷される。ハンドラは、斯かるテスト工程において半導体素子及びモジュールの自動移送及びテストに用いられる装置であって、ハンドラでは、テストする半導体素子を収納したトレイを作業者がハンドラのローディングスタッカに積載した後、ローディングスタッカの半導体素子を別のテストトレイに再装着し、該半導体素子が装着されたテストトレイをテストサイトに移送し半導体素子のリードをテストソケットのコネクタに電気的に接続して所定のテストを行った後、テストトレイの半導体素子を分離し、アンローディングスタッカの顧客トレイにテスト結果に従って分類装着する。
【0003】
通常、斯かるハンドラのうち大部分が常温状態における一般的な性能テストのみならず、密閉されたチャンバ内に電熱ヒータ及び液体窒素噴射システムにより高温及び低温の極限の温度状態の環境を造成して半導体素子及びモジュールがそのような極限温度条件でも正常に機能するかどうかをテストする高温テスト及び低温テストも、行うことができるように構成されている。
【0004】
ところが、上述のように半導体素子の温度テストが可能なハンドラでテストを行うとき、半導体素子をテストソケットに電気的に接続してテストを行う間に、半導体素子自体から所定の熱が発生する発熱現象があり、これによってユーザの所望する正確な温度でのテストがなされない場合が発生する。斯かる現象は、最近の半導体素子の小型化及び高集積化の傾向に従って深刻化しつつあり、テスト及び実際の使用環境において解決することが必要な問題となっている。
【0005】
例えば、高温テスト時に、ユーザがチャンバ内部の温度を80℃に設定してテストを行う場合、半導体素子自体の発熱現象がなかったら、設定テスト温度の80℃でテストが可能であるが、テストの間、半導体素子から熱が発生して温度偏差が15℃程度発生すると、実際のテストは95℃で行われる。
【0006】
従って、半導体素子は設定テスト温度より高い温度でテストがなされ、これによって正確な温度範囲内でのテストが行われず、歩留まり及び信頼性が低下するという問題があった。
【0007】
最近、テストがなされている半導体素子の一方側から液体窒素と乾燥空気とが混合された冷却流体を半導体素子に直接噴射することにより、正確な温度範囲内で半導体素子のテストが行われるようにする発熱補償システムに対する研究が盛んである。
【0008】
しかしながら、上記のような発熱補償システムを用いて半導体素子に冷却流体を噴射して半導体素子を冷却するに際し、従来のテストトレイに備えられたキャリアモジュールは、噴射された冷却流体が半導体素子の全面に均一に拡散できない構造を有しているので、発熱補償システムの発熱補償効率が低下するという問題がある。
【0009】
即ち、添付した図面の図1乃至図3に示すように、従来のキャリアモジュール10は、テストトレイに固定する矩形状になったプラスチック材質の本体11と、該本体11に凹形状に形成された載置溝12と、上記本体11の下部に結合して上記載置溝12の底面をなし、その上に素子が載置される放熱ブロック13と、上記載置溝12の両側に設置されて、放熱ブロック13の上面に載置された半導体素子20を保持する一対のラッチ15とからなる。
【0010】
上記放熱ブロック13は、半導体素子の冷却性能を向上させるために熱伝導性に優れたアルミニウム等の金属材質からなり、放熱ブロック13の中央には、発熱補償システムから噴射される冷却流体を半導体素子に誘導するための貫通孔14が形成され、放熱ブロック13の下部は、冷却流体を上記貫通孔14に誘導し放熱効果を高めるために複数のガイドリブ17が形成されており、上記ガイドリブ17の位置する本体11の下部面の両側には、噴射された冷却流体を本体11の外部に排出するために複数の排気孔18が形成されている。
【0011】
しかしながら、上記のような従来のキャリアモジュール10は、半導体素子20が載置される面の放熱ブロック13の底面が平らになっていて、放熱ブロック13の貫通孔14を通過する冷却流体は半導体素子の中央部の一箇所に集中することとなり、従って、半導体素子の中央部と周辺部との間における冷却性能の偏差が大きく、全体的に冷却効率が低下するという問題を生ずることとなる。
【0012】
また、キャリアモジュール10に噴射される冷却流体が上記本体11の側面に形成された排気孔18を介して外部に排出されるので、放熱ブロック13の全体を十分に冷却せずに排出することになって冷却効率を低下させるという問題があった。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためのもので、発熱補償システムから噴射される冷却流体が半導体素子の全面に均一に拡散できるようにすると共に、キャリアモジュールに噴射された冷却流体が一定時間キャリアモジュール内に留まるようにすることにより冷却効率を向上させ得るようにしたキャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイを提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明によると、テストハンドラのテストトレイに装着して半導体素子を解除可能に固定するようになっているキャリアモジュールであって、テストトレイに結合されるキャリア本体と、前記キャリア本体の上面に凹形状に形成されて素子が載置される素子載置部と、前記素子載置部に載置された半導体素子を解除可能に固定する少なくとも一つの固定部材と、前記素子載置部に貫通するように形成されて冷却流体が通過するようになっている貫通孔と、前記本体の下部に形成されて、前記貫通孔に向かって導かれる冷却流体が外部に漏れることなく、閉鎖された流動経路をなすように互いに交差して形成される複数のガイドリブと、前記素子載置部の素子が載置される面上に前記貫通孔の外周部と連通され、かつ、冷却流体の連続的な流動路を形成するように互いに連結されて形成され、キャリア本体の下側から噴射されて前記貫通孔を通過した冷却流体を半導体素子の周辺部に導く複数のガイド溝と、を備えていることを特徴とする半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュールが提供される。
【0015】
また、本発明の他の一実施形態によると、テストハンドラにより複数の半導体素子を移送するようになっているテストトレイであって、テストトレイ本体と、前記テストトレイ本体に着脱可能に装着される複数のキャリアモジュールと、を備え、前記キャリアモジュールは、前記テストトレイに結合されるキャリア本体と、前記キャリア本体の上面に凹形状に形成されて素子が載置される素子載置部と、前記素子載置部に載置された半導体素子を解除可能に固定する少なくとも一つの固定部材と、前記素子載置部に貫通するように形成されて冷却流体が通過するようになっている貫通孔と、前記素子載置部の素子が載置される面上に前記貫通孔の外周部と連通されて形成され、キャリア本体の下側から噴射されて前記貫通孔を通過した冷却流体を半導体素子の周辺部に導く複数のガイド溝と、前記キャリア本体の下部面から垂直に延長されて下部面が開放され、前記貫通孔の周囲を囲む六面体状をなす複数のガイドリブと、を備え、前記複数のガイド溝は、冷却流体が前記素子載置部のガイド溝から排出されるように外側に連通して形成され、冷却流体の連続的な流動路を形成するように互いに連結されて形成されていることを特徴とする半導体素子テストハンドラ用テストトレイが提供される。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照して本発明を詳細に説明する。
図4乃至図7は、本発明に係るハンドラテストトレイ及びこれに装着されたキャリアモジュールの構造を示すもので、キャリアモジュール100は、略直方体状をなしテストトレイ200に結合する本体101と、中央部に半導体素子20に相応する形態の開口部103が形成され、上記本体101の上面に結合する素子載置用プレート102とからなる。上記素子載置用プレート102の開口部103は、本体101の上面と共に半導体素子20が載置される部分を形成する。説明を明確にするために、以下の説明では、上記開口部103内に位置する本体101の上面部分を素子載置面104と称する。
【0017】
上記本体101は、熱伝導性が良好なアルミニウム材質により形成され、上記素子載置用プレート102は、プラスチック等の合成樹脂材質又は本体101と同一のアルミニウム材質から形成してもよいし、これとは異なり、本体101と同一の材質により本体101の上面に一体的に形成することもできる。
【0018】
尚、上記素子載置面104の両側部には、素子載置面104上に載置された半導体素子を解除可能に固定するための固定部材として一対のラッチ106及びラッチ作動片107が設けられ、上記ラッチ106は上記ラッチ作動片107を押圧することによって開放され、ラッチ作動片107に加えていた力を除去すると閉鎖されるように構成されている。
【0019】
また、上記素子載置面104の中央には、発熱補償システムのノズルアセンブリ30から噴射される冷却流体を半導体素子側に案内する貫通孔105が形成され、上記素子載置面104には、一端が上記貫通孔105の外周部に連通し他端が本体101の外側面に連通している複数のガイド溝108が互いに連通するように形成されて、上記貫通孔105を通過した冷却流体がガイド溝108に沿って流動し半導体素子20の全面にわたって誘導された後、外部に排出されるようになっている。ここで、上記ガイド溝108は、半導体素子20の面積の25%以上にわたって形成されるのが望ましい。
【0020】
上記本体101の下部には、ノズルアセンブリ30から噴射された冷却流体を上記貫通孔105側に案内する複数のガイドリブ109が一体的に形成されているが、該ガイドリブ109は、上記貫通孔105が形成された部位を囲むように下部面が開放された六面体状をなしている。従って、ガイドリブ109がなす空間内に噴射された冷却流体がガイドリブ109の間に漏れる現象が防止されて冷却効率の低下を防止することができる。
【0021】
上述のように構成されたキャリアモジュールの動作は、以下の通りである。
【0022】
キャリアモジュール100の本体101の上面に形成された素子載置面104に半導体素子20が全て載置されてラッチ106によって固定されると、キャリアモジュール100が設けられたテストトレイ200は、ハンドラのテストサイトのテストチャンバに移送された後、各キャリアモジュール100に固定された半導体素子20のリードがテストソケットに接続されてテストが進行される。
【0023】
このとき、テストトレイ200の後方に位置する発熱補償システムのノズルアセンブリ30から乾燥空気及び液体窒素(LN2)が混合された冷却流体がキャリアモジュール100側に噴射され、このように噴射された冷却流体は、キャリアモジュール100のガイドリブ109により形成されている空間を介して貫通孔105に導かれる。そして、上述のように、上記ガイドリブ109により形成された空間内に流れ込んだ冷却流体は、ガイドリブ109の間に漏れていく隙間がないので、ガイドリブ109及び本体101と十分な熱交換を行うことができる。
【0024】
上記貫通孔105を通過した冷却流体は、貫通孔105の外周部に連通されたガイド溝108に導かれて半導体素子20の周辺部に流動し、半導体素子20を十分に冷却した後、本体101の外側面を介してキャリアモジュール100の外部に排出される。
【0025】
以上、本発明の好適な一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態のものに限定されるわけではなく、本発明の技術思想に基づいて種々の変形又は変更が可能である。
【0026】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によると、次のような効果がある。
即ち、発熱補償システムから噴射される冷却流体がキャリアモジュールに固定された半導体素子の中央部だけではなく周辺部にまで拡散しながら流動できるので、半導体素子の冷却性能を向上させることができ、半導体素子の温度の制御が容易になされるという利点がある。
また、キャリアモジュールのガイドリブの間の空間に噴射された冷却流体がガイドリブ間の空間内に一定時間の間、留まって貫通孔に導かれるので、従来のキャリアモジュールに比べて更に高度の冷却性能を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のハンドラ用キャリアモジュールの斜視図。
【図2】図1に示すキャリアモジュールの底面図。
【図3】図1に示すキャリアモジュールの側面図。
【図4】本発明に係るキャリアモジュール及びテストトレイを概略的に示す正面図。
【図5】本発明に係るキャリアモジュールの形態を示す斜視図。
【図6】図4に示すキャリアモジュールの底面図。
【図7】図4に示すキャリアモジュールの側面図。
【符号の説明】
30 ノズルアセンブリ
100 キャリアモジュール
101 本体
103 開口部
105 貫通孔
106 ラッチ
108 ガイド溝
200 テストトレイ
Claims (16)
- テストハンドラのテストトレイに装着して半導体素子を解除可能に固定するようになっているキャリアモジュールであって、
テストトレイに結合されるキャリア本体と、
前記キャリア本体の上面に凹形状に形成されて素子が載置される素子載置部と、
前記素子載置部に載置された半導体素子を解除可能に固定する少なくとも一つの固定部材と、
前記素子載置部に貫通するように形成されて冷却流体が通過するようになっている貫通孔と、
前記本体の下部に形成されて、前記貫通孔に向かって導かれる冷却流体が外部に漏れることなく、閉鎖された流動経路をなすように互いに交差して形成される複数のガイドリブと、
前記素子載置部の素子が載置される面上に前記貫通孔の外周部と連通され、かつ、冷却流体の連続的な流動路を形成するように互いに連結されて形成され、キャリア本体の下側から噴射されて前記貫通孔を通過した冷却流体を半導体素子の周辺部に導く複数のガイド溝と、
を備えていることを特徴とする半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。 - 前記ガイド溝は、素子載置部に載置された半導体素子面の25%以上にわたって形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記キャリア本体は、略直方体状になっていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記固定部材は、素子載置部の両側に互いに対をなすように対向設置されており、前記素子載置部に載置された半導体素子の両側部を解除可能に固定することを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記複数のガイドリブは、キャリア本体の下部面から垂直に延長されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記複数のガイドリブは、キャリア本体に一体的に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記複数のガイドリブは、下部面が開放され、前記貫通孔の周辺を囲む六面体状であることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記素子載置部は、キャリア本体の上面の凹形状の溝からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記素子載置部は、キャリア本体の上面に固定され且つその中央部に半導体素子が収容される開口部が形成されている素子載置プレートからなることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記素子載置プレートは、非導電性材質からなることを特徴とする請求項9に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記素子載置プレートは、プラスチックからなることを特徴とする請求項10に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記素子載置プレートは、キャリア本体と同一の材質からなることを特徴とする請求項9に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記キャリア本体は、金属と同様の熱伝導性材質からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記キャリア本体は、アルミニウム材質からなることを特徴とする請求項13に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- 前記複数のガイド溝は、冷却流体が前記素子載置部のガイド溝から排出されるように外側に連通されて形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール。
- テストハンドラにより複数の半導体素子を移送するようになっているテストトレイであって、
テストトレイ本体と、
前記テストトレイ本体に着脱可能に装着される複数のキャリアモジュールと、を備え、
前記キャリアモジュールは、
前記テストトレイに結合されるキャリア本体と、
前記キャリア本体の上面に凹形状に形成されて素子が載置される素子載置部と、
前記素子載置部に載置された半導体素子を解除可能に固定する少なくとも一つの固定部材と、
前記素子載置部に貫通するように形成されて冷却流体が通過するようになっている貫通孔と、
前記素子載置部の素子が載置される面上に前記貫通孔の外周部と連通されて形成され、キャリア本体の下側から噴射されて前記貫通孔を通過した冷却流体を半導体素子の周辺部に導く複数のガイド溝と、
前記キャリア本体の下部面から垂直に延長されて下部面が開放され、前記貫通孔の周囲を囲む六面体状をなす複数のガイドリブと、
を備え、
前記複数のガイド溝は、冷却流体が前記素子載置部のガイド溝から排出されるように外側に連通して形成され、冷却流体の連続的な流動路を形成するように互いに連結されて形成されていることを特徴とする半導体素子テストハンドラ用テストトレイ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0043681A KR100471357B1 (ko) | 2002-07-24 | 2002-07-24 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004061490A JP2004061490A (ja) | 2004-02-26 |
JP3970785B2 true JP3970785B2 (ja) | 2007-09-05 |
Family
ID=30439393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003055984A Expired - Fee Related JP3970785B2 (ja) | 2002-07-24 | 2003-03-03 | 半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7135703B2 (ja) |
JP (1) | JP3970785B2 (ja) |
KR (1) | KR100471357B1 (ja) |
CN (1) | CN1287436C (ja) |
TW (1) | TWI222525B (ja) |
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---|---|---|---|---|
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-
2002
- 2002-07-24 KR KR10-2002-0043681A patent/KR100471357B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-02-14 US US10/366,618 patent/US7135703B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-03 JP JP2003055984A patent/JP3970785B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-04-11 TW TW092108343A patent/TWI222525B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-04-21 CN CNB031218423A patent/CN1287436C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20040009667A (ko) | 2004-01-31 |
CN1471151A (zh) | 2004-01-28 |
US20040016993A1 (en) | 2004-01-29 |
TW200401898A (en) | 2004-02-01 |
CN1287436C (zh) | 2006-11-29 |
US7135703B2 (en) | 2006-11-14 |
JP2004061490A (ja) | 2004-02-26 |
KR100471357B1 (ko) | 2005-03-10 |
TWI222525B (en) | 2004-10-21 |
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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