JP3960060B2 - Soldering method and soldering jig - Google Patents
Soldering method and soldering jig Download PDFInfo
- Publication number
- JP3960060B2 JP3960060B2 JP2002020425A JP2002020425A JP3960060B2 JP 3960060 B2 JP3960060 B2 JP 3960060B2 JP 2002020425 A JP2002020425 A JP 2002020425A JP 2002020425 A JP2002020425 A JP 2002020425A JP 3960060 B2 JP3960060 B2 JP 3960060B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- frame
- hoop
- ceramic element
- soldering
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、セラミック電子部品の主面電極に端子を半田付けするための半田付け方法、および半田付け用治具に関する。
【0002】
【従来の技術】
図19は、本発明を考案するきっかけとなった表面実装型のサーミスタを示す断面図である。サーミスタ40は、サーミスタ素体42の両主面に電極43,44が形成されてなるサーミスタ素子41と、半田付けにより電極43,44にそれぞれ接続された第1の端子45、第2の端子46とからなる。
【0003】
従来、第1の端子45および第2の端子46の半田付けは、以下のような方法で行われていた。まず、図20(A)に示すように、サーミスタ素子41の一方の電極43上に予備半田47を塗布する。次に、図20(B)に示すように、ホットプレート48上に載置された金属製の半田付け用治具49の治具穴49aにサーミスタ素子41を収納し、ホットプレート48で半田付け用治具49を加熱することにより、サーミスタ素子41を予熱する。次に、図20(C)に示すように、第1の端子45をサーミスタ素子41上に配置し、半田ゴテ50を第1の端子45に接触させて予備半田47を溶融させ、第1の端子45を電極43に半田付けする。次に、第1の端子45が取り付けられたサーミスタ素子41を治具穴49aから取り出し、サーミスタ素子41を裏返した後、同様にして第2の端子46の半田付けを行う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述のような半田付け方法では、
1.サーミスタ素子の予熱に時間がかかり生産効率が悪くなる
2.半田ゴテが端子に接触した際に端子の位置がずれてしまう
といった問題点があった。
【0005】
本発明は、上記の問題点を解決し、端子の位置ずれが起こりにくい半田付け方法、および半田付け用治具を提供することを目的とする。
【0008】
本発明に係る半田付け用治具は、セラミック素子の一方主面に形成された電極に第1の端子を、セラミック素子の他方主面に形成された電極に第2の端子を、それぞれ半田付けする際に用いられる半田付け用治具であって、枠内にセラミック素子を収納するための空間を有し、枠内の空間に向かって突出して形成された、セラミック素子の側面を支持するための第1の突起部を備える第1の枠体と、長手方向に沿って所定間隔ごとに穴が形成されたフープ基材と、フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとにフープ基材から突出して形成された複数の第1の端子と、を備える第1のフープ端子と、長手方向に沿って所定間隔ごとに穴が形成されたフープ基材と、フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとにフープ基材から突出して形成された複数の第2の端子と、を備える第2のフープ端子とからなり、第1のフープ端子および第2のフープ端子は、第1の枠体の枠内の空間を挟んで対向するように第1の枠体の上面に係止され、第1のフープ端子、または第2のフープ端子は、フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとにフープ基材から前記第1の枠体の枠内の空間に向かって突出して形成された、セラミック素子の側面を支持するための第2の突起部を備えており、第1の端子および第2の端子は、第1の枠体の枠内の空間内で所定の間隔を隔てて対向していることを特徴とする。
【0009】
また、第1の枠体は、第1の枠体における枠内の空間に向かって突起した、セラミック素子の一方主面を支持するための第3の突起部を備えることが好ましい。
【0011】
また、第1のフープ端子および第2のフープ端子を挟むようにして、第1の枠体の上面に重ね合わせられる第2の枠体をさらに備えることが好ましい。
【0012】
また、第2の枠体は、第2の枠体における枠内の空間に向かって突出して形成された、セラミック素子の他方主面を支持するための第4の突起部を備えることが好ましい。
【0013】
また、重ね合わせられた第1の枠体および第2の枠体の両端部を挟持して、第1の枠体および第2の枠体を高さ方向に締め付けるクリップをさらに備えることが好ましい。
【0014】
また、第1〜第4の突起部のうち少なくとも一つは、セラミック素子と点接触、あるいは線接触するような形状を有することが好ましい。
【0015】
また、セラミック素子は、第1の端子と第2の端子との間に配置される。
【0016】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係る半田付け用治具の一実施形態を示す斜視図である。図1に示すように、半田付け用治具1は、第1の枠体2と、第1の枠体2の上面に係止された第1のフープ端子3および第2のフープ端子4とを備える。また、図2は第1の枠体2を示す斜視図であり、図3は第1のフープ端子3を示す斜視図であり、図4は第2のフープ端子4を示す斜視図である。
【0017】
図1および図2に示すように、第1の枠体2は、枠内にセラミック素子を収納するための空間2aを有する。枠内の空間2aは、後述するように、半田付けの際、近赤外線ヒータ(IRヒータ)によって赤外線が照射される空間である。第1の枠体2を構成する材料としては、ステンレススチール(以下、SUS材とする)、鉄、アルミニウム、銅、銅合金(黄銅など)などを用いることができる。
【0018】
第1の枠体2の上面には突起2bが形成されている。本実施形態では、突起2bと、第1のフープ端子3のフープ基材3aに形成された穴3b、および第2のフープ端子4のフープ基材4aに形成された穴4bとを嵌合させることにより、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4を第1の枠体2の上面に係止させている。
【0019】
第1のフープ端子3のフープ基材3aは折り返し部3a1を有しており、第1の枠体2のうち、第1のフープ端子3が係止される側端部2cは、第1の枠体2のその他の部分に比べて小高くなっている。
【0020】
また、図2に示すように、枠内の空間2aの長手方向に沿って対向している内壁のうち、第1のフープ端子3が係止される側端部2c側の内壁は階段状になっており、内壁上部2d、階段面2e、および内壁下部2fで構成されている。
【0021】
第1の枠体2の内壁上部2dにおいては、セラミック素子の側面を支持するために、第1の突起部5a,5bが枠内の空間2aに向かって形成されている。第1の枠体2の内壁下部2fにおいては、セラミック素子の一方主面を支持するために、第3の突起部6が枠内の空間2aに向かって形成されている。なお、第1の突起部5a,5b、および第3の突起部6の詳細については後述する。
【0022】
また、第1の枠体2の内壁に階段面2eを設けることにより、第1のフープ端子3、具体的には第1の端子7を階段面2eに腰掛けさせて安定させることができる。
【0023】
図1に示すように、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4は、第1の枠体2の枠内の空間2aを挟んで対向している。第1のフープ端子3および第2のフープ端子4を構成する材料としては、SUS材、鉄、銅、銅合金(洋白、黄銅など)などを用いることができる。
【0024】
第1の端子7および第2の端子9は、第1の枠体2の枠内の空間2a内で所定の間隔を隔てて対向している。第1の端子7と第2の端子9との間にセラミック素子が挟持されることにより、セラミック素子の両主面が支持される。この対向部分の間隔はセラミック素子の厚みに対応するが、この対向部分の間隔をセラミック素子の厚みよりも若干狭くすることにより、第1の端子7および第2の端子9とセラミック素子とを密着させることができる。また、このように対向部分の間隔を狭くした場合、第1の端子7や第2の端子9としてバネ性を有するものを用いることが好ましい。これにより、端子の弾性力を利用してセラミック素子をより強固に挟持し、端子の位置ずれをさらに抑えることができる。
【0025】
図1および図3(A)に示すように、第1のフープ端子3は、長手方向に沿って所定間隔ごとに穴3bが形成されたフープ基材3aと、フープ基材3aの長手方向に沿って所定間隔ごとにフープ基材3aから突出して形成された複数の第1の端子7とを備える。
【0026】
フープ基材3aにおいては、長手方向に沿って所定間隔ごとに、セラミック素子の側面を支持するための第2の突起部8aが突出して形成されている。
【0027】
第1の端子7においては、予備半田が塗布される部分に貫通穴7aが設けられている。これにより、半田付けの際に第1の枠体2の枠内の空間2aに照射される赤外線は、貫通穴7aを通過して直接予備半田に到達するため、予備半田の加熱効率がよくなる。また、貫通穴7aから予備半田がはみ出すことにより、第1の端子7とセラミック素子とが立体的に接合するため、第1の端子7とセラミック素子との接合性を高めることができる。また、半田付け終了後、図3(B)に示すように、第1の端子7はフープ基材3aから切り離される。
【0028】
図1および図4(A)に示すように、第2のフープ端子4は、長手方向に沿って所定間隔ごとに穴4bが形成されたフープ基材4aと、フープ基材4aの長手方向に沿って所定間隔ごとにフープ基材4aから突出して形成された複数の第2の端子9とを備える。
【0029】
フープ基材4aにおいては、長手方向に沿って所定間隔ごとに、セラミック素子の側面を支持するための第2の突起部8bが突出して形成されている。
【0030】
第2の端子9においては、予備半田が塗布される部分に貫通穴9aが設けられている。これにより、半田付けの際に第1の枠体2の枠内の空間2aに照射される赤外線は、貫通穴9aを通過して直接予備半田に到達するため、予備半田の加熱効率がよくなる。また、貫通穴9aから予備半田がはみ出すことにより、第2の端子9とセラミック素子とが立体的に接合するため、第2の端子9とセラミック素子との接合性を高めることができる。また、半田付け終了後、図4(B)に示すように、第2の端子9はフープ基材4aから切り離される。
【0031】
次に、セラミック素子と、第1の突起部5a,5b、第2の突起部8a,8b、および第3の突起部6との関係について説明する。図5は、図1に示した半田付け用治具1にセラミック素子21を収納した状態を示す斜視図であり、図6はその部分上面図である。また、図7は、図5中のA−A線に沿った概略断面図である。なお、図5〜図7においては、セラミック素子21の一方主面に形成された電極22と第1の端子7との間、および他方主面に形成された電極23と第2の端子9との間にそれぞれ塗布される予備半田については図示を省略している。
【0032】
図6に示すように、第1の突起部5a,5bは、セラミック素子21の側面を支持している。本実施形態において、第1の突起部5a,5bは円柱状のピンで構成されている。
【0033】
第1の突起部5a,5bは、セラミック素子21と点接触、または線接触するような形状を有することが好ましい。例えば、図5に示すように第1の突起部5a,5bとして円柱状のピンを用いると、セラミック素子21の形状が円形状である場合は、セラミック素子21の側面と第1の突起部5a,5bの円周面とが点接触する。また、セラミック素子21の形状が方形状である場合は、セラミック素子21の側面と第1の突起部5a,5bの円周面とが線接触する。
【0034】
いずれの場合も、セラミック素子21と第1の突起部5a,5bとの接触面積が小さくなり、半田付けの際に加熱されたセラミック素子21から熱が拡散しにくくなるため、加熱効率がよくなる。同時に、加熱されたセラミック素子21と第1の突起部5a,5bとの温度差によってセラミック素子21にクラックが生じるのを防ぐことができる。
【0035】
第1の突起部5aは、第1の枠体2において対向する一方の内壁から枠内の空間2aに向かって突出して形成され、他方の内壁に到達している。第1の突起部5aの側面がセラミック素子21の側面と接触することにより、セラミック素子21のX方向におけるずれを抑えることができる。
【0036】
第1の突起部5bは、第1の枠体2において対向する一方の内壁から枠内の空間2aに向かって突出して形成されている。第1の突起部5bの先端外周縁がセラミック素子21の側面と接触することにより、セラミック素子21のXY方向におけるずれを抑えることができる。
【0037】
なお、第1の突起部5a,5bの寸法や位置については、セラミック素子21の寸法に合わせて適宜設計変更することができる。
【0038】
図7に示すように、第1の端子7はセラミック素子21の主面を支持しているが、第1の端子7の下面に第3の突起部6が位置しているため、この第3の突起部6によりセラミック素子21をさらに安定させることができる。さらに、この第3の突起部6は、第1のフープ端子3の第1の端子7および予備半田(図示せず)を介してセラミック素子21を支持するため、セラミック素子21のZ方向におけるずれを抑えるように機能するだけでなく、第1の端子7とセラミック素子21の電極22との接合性を高めるようにも機能する。
【0039】
また、第3の突起部6は、第1の突起部5a,5bと同様に、セラミック素子21と点接触、または線接触するような形状を有することが好ましい。
【0040】
さらに、第3の突起部6については、枠内の空間2aの開口方向に垂直な平面で切断したときの断面積が小さいことが好ましい。本実施形態に即して言えば、第3の突起部6は径が小さいものであることが好ましい。これにより、半田付けの際に枠内の空間2aに照射される赤外線を妨げることなく、効率よく予備半田を加熱することができる。なお、第3の突起部6の寸法や位置については、セラミック素子21の寸法に合わせて適宜設計変更することができる。
【0041】
図6に示すように、第2の突起部8a,8bは、セラミック素子21の側面を支持している。第2の突起部8a,8bは、セラミック素子21のX方向におけるずれを抑えるように機能する。なお、第2の突起部8a,8bの寸法や位置については、セラミック素子21の寸法に合わせて適宜設計変更することができる。
【0042】
図8は、第1の枠体2の上面に重ね合わせられる第2の枠体を示す斜視図であり、図9は、図8とは反対の方向から見たときの第2の枠体を示す一部切り欠き斜視図である。図9に示すように、第2の枠体10は、枠内の空間10aに向かって突出するように形成された第4の突起部11を備える。枠内の空間10aには、半田付けの際、近赤外線ヒータによって赤外線が照射される。第2の枠体10を構成する材料としては、SUS材、鉄、アルミニウム、銅、銅合金(黄銅など)などを用いることができる。
【0043】
図10は、第1の枠体2の上面に第2の枠体10を重ね合わせた状態を示す斜視図である。この半田付け用治具1aは、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4を挟むようにして、第2の枠体10を第1の枠体2の上面に重ね合わせることにより構成されている。また、第1の枠体2の側端部2cが小高くなっているのに対応させて、第2の枠体10の側端部10b(第1の枠体2の側端部2cと対面しない部分)を第2の枠体10のその他の部分に比べて小高くすることにより、第1の枠体2と第2の枠体10とを平行に重ね合わせている。
【0044】
このように、第2の枠体10を用いることにより、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4が第1の枠体2に強固に係止されるため、端子の位置ずれをさらに抑えることができる。また、第2の枠体10により第2の端子9が上方から加圧されるため、第1の端子7および第2の端子9とセラミック素子21との接合性を高めることができる。
【0045】
次に、セラミック素子と第4の突起部11との関係について説明する。図11は、図10中のB−B線に沿った断面図である。
【0046】
図11に示すように、第4の突起部11は、セラミック素子21の他方主面を支持している。第4の突起部11は、第2のフープ端子4の第2の端子9および予備半田(図示せず)を介してセラミック素子21を支持するため、セラミック素子21のZ方向におけるずれを防止するように機能するだけでなく、第2の端子9とセラミック素子21の電極23との接合性を高めるようにも機能する。また、第4の突起部11は、第1の突起部5a,5bと同様に、セラミック素子21と点接触、または線接触するような形状を有することが好ましい。なお、第4の突起部11の寸法や位置については、セラミック素子21の寸法に合わせて適宜設計変更することができる。
【0047】
また、図12に示すように、第1の枠体2および第2の枠体10の両端部をそれぞれクリップ12で挟持して、第1の枠体2および第2の枠体10を高さ方向に締め付けることが好ましい。これにより、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4が第1の枠体2に強固に係止されるため、端子の位置ずれをさらに抑えることができる。また、第2の端子9が上方から加圧されるため、第1の端子7および第2の端子9とセラミック素子21との接合性を高めることができる。このとき、クリップ12の締め付け力が500g〜1kgのものを用いると、半田付け用治具1aにダメージを与えることなく、第1の枠体2と第2の枠体10とを固定することができる。
【0048】
なお、本発明において半田付けの対象となるセラミック素子21としては、サーミスタ素子、抵抗素子、コンデンサ素子、コイル素子などを用いることができる。
【0049】
【実施例】
本発明に係る半田付け用治具を用いて、以下のようにサーミスタ素子の半田付けを行った。
【0050】
まず、図13に示すようなサーミスタ素子を準備した。このサーミスタ素子31は、直径8.0mm、厚さ2.0mmの円板状のサーミスタ素体32と、サーミスタ素体32の両主面に形成された電極33,34とからなる。電極33,34上には、Sn−Pb−Ag系の半田からなる厚さ150μmの予備半田35a,35bがあらかじめ塗布されている。サーミスタ素体32は、チタン酸バリウムを主成分とする材料から作製した。また、電極33,34としては、サーミスタ素体32の主面上に形成された厚さ1.0μmのNi電極33a,33bと、その上に形成された厚さ4.0μmのAg電極34a,34bとからなる2層構造の電極を採用した。
【0051】
次に、図14〜図18に示すように、本発明に係る半田付け用治具にサーミスタ素子31をセットして半田付けを行った。なお、図14〜図18においては、Ni電極33a,33bおよびAg電極34a,34bの図示を省略して、単に電極33,34としている。
【0052】
まず、図14に示すように、SUS材からなる第1の枠体2の側端部2c上面に、SUS材からなる第1のフープ端子3を係止させた。なお、第1の端子7の表面には半田メッキが施されている。
【0053】
次に、図15に示すように、サーミスタ素子31の電極33と第1の端子7とが接触するように、サーミスタ素子31を第1の端子7上に配置した。なお、図15において、予備半田35aは図示されていないが、サーミスタ素子31の電極33と第1の端子7との界面に存在している。
【0054】
次に、図16に示すように、サーミスタ素子31の電極34と第2の端子9とが接触するように、SUS材からなる第2のフープ端子4を第1の枠体2の上面に係止させた。なお、第2の端子9の表面には半田メッキが施されている。また、図16において、予備半田35bは図示されていないが、サーミスタ素子31の電極34と第2の端子9との界面に存在している。
【0055】
次に、図17に示すように、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4を挟むようにして、第1の枠体2の上面に第2の枠体10を重ね合わせた。次に、第1の枠体2および第2の枠体10の両端部をそれぞれ金属製のクリップで固定した。
【0056】
次に、図17に示すように、第1の枠体2側および第2の枠体10側の両側から、第1の枠体2の枠内の空間2aおよび第2の枠体10の枠内の空間10aに赤外線(図中直線矢印)を照射し、予備半田35a,35b(図示せず)を溶融させた。本実施例では、対向した2つの近赤外線ヒータの間に半田付け用治具を配置し、約20秒間赤外線を照射した。
【0057】
なお、上述にように、半田付け部分を半田付けに用いる加熱手段として赤外線照射手段を用いた場合、半田付け部分を選択的に加熱することができるため、加熱効率が良好である。ただし、加熱手段は赤外線照射手段に限定されるものではなく、例えば、本発明に係る半田付け用治具を熱処理炉内で加熱することにより、予備半田を溶融させてもよい。
【0058】
次に、半田付け用治具を冷却ノズルで約30秒間冷却した後、図18に示すように、半田付け用治具から、第1のフープ端子3および第2のフープ端子4が半田付けされたサーミスタ素子31を取り出した。次に、図18中の点線C1,C2に沿って、第1のフープ端子3から第1の端子7を、第2のフープ端子4から第2の端子9をそれぞれ切り離して、表面実装型サーミスタを得た。
【0059】
なお、図20に示すようなホットプレートを用いた従来の半田付け方法では、端子の取り付け精度(目的とする端子の取り付け位置からのずれ)が±1.0mm程度であったのに対し、本実施例では、端子の取り付け精度が±0.3mmであった。
【0062】
【発明の効果】
本発明に係る半田付け用治具によれば、突起部にてセラミック素子の側面や主面を支持することにより、セラミック素子と端子の位置ずれを確実に抑えることができる。
【0063】
また、突起部とセラミック素子とが点接触、または線接触させることにより、半田付けの際に加熱されたセラミック素子から熱が拡散しにくくなるため、加熱効率がよくなる。同時に、加熱されたセラミック素子と第1の突起部との温度差によってセラミック素子にクラックが生じるのを防ぐことができる。
【0064】
また、第1の枠体の上面に第2の枠体を重ね合わせることにより、第1のフープ端子および第2のフープ端子が強固に係止されるため、端子の位置ずれをさらに抑えることができる。また、第2の枠体により第2の端子が上方から加圧されるため、第1の端子および第2の端子とセラミック素子との接合性を高めることができる。
【0065】
また、重ね合わせられた第1の枠体および第2の枠体の両端部をクリップで挟持して、第1の枠体および第2の枠体を高さ方向に締め付けることにより、端子の位置ずれをさらに抑え、第1の端子および第2の端子とセラミック素子との接合性をさらに高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半田付け用治具の一実施形態を示す斜視図である。
【図2】図1に示した半田付け用治具1のうち、第1の枠体2を示す斜視図である。
【図3】図1に示した半田付け用治具1のうち、第1のフープ端子3を示す斜視図である。
【図4】図1に示した半田付け用治具1のうち、第2のフープ端子4を示す斜視図である。
【図5】図1に示した半田付け用治具1に、セラミック素子21を収納した状態を示す斜視図である。
【図6】図5の部分上面図である。
【図7】図5のA−A線に沿った断面図である。
【図8】第2の枠体10を示す斜視図である。
【図9】図8の反対方向から見たときの、第2の枠体10を示す一部切り欠き斜視図である。
【図10】本発明に係る半田付け用治具の他の実施形態を示す斜視図である。
【図11】図10のB−B線に沿った断面図である。
【図12】第1の枠体2および第2の枠体10の両端部をクリップ12で挟んだ状態を示す側面図である。
【図13】実施例で用いたサーミスタ素子を示す断面図である。
【図14】実施例における半田付け方法の一工程を示す断面図である。
【図15】実施例における半田付け方法の一工程を示す断面図である。
【図16】実施例における半田付け方法の一工程を示す断面図である。
【図17】実施例における半田付け方法の一工程を示す断面図である。
【図18】実施例における半田付け方法の一工程を示す断面図である。
【図19】一般的な表面実装型サーミスタを示す断面図である。
【図20】従来の表面実装型サーミスタの半田付け方法を示す工程図である。
【符号の説明】
1 半田付け用治具
2 第1の枠体
2a 第1の枠体の枠内の空間
3 第1のフープ端子
3a フープ基材
3b 穴
4 第2のフープ端子
4a フープ基材
4b 穴
5a,5b 第1の突起部
6 第3の突起部
7 第1の端子
8a、8b 第2の突起部
9 第2の端子
10 第2の枠体
10a 第2の枠体の枠内の空間
11 第4の突起部
12 クリップ
21 セラミック素子
22,23 電極
31 サーミスタ素子
32 サーミスタ素体
33,34 電極
35a,35b 予備半田[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a soldering method for soldering a terminal to a main surface electrode of a ceramic electronic component, and a soldering jig.
[0002]
[Prior art]
FIG. 19 is a cross-sectional view showing a surface-mount type thermistor that has been used to devise the present invention. The
[0003]
Conventionally, the soldering of the
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the soldering method as described above,
1. 1. It takes time to preheat the thermistor element, resulting in poor production efficiency. There is a problem that the position of the terminal is shifted when the soldering iron contacts the terminal.
[0005]
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a soldering method and a soldering jig in which terminal displacement is unlikely to occur.
[0008]
The soldering jig according to the present invention solders a first terminal to an electrode formed on one main surface of a ceramic element and a second terminal to an electrode formed on the other main surface of the ceramic element. A jig for soldering used in order to support a side surface of a ceramic element that has a space for accommodating a ceramic element in a frame and that protrudes toward the space in the frame first the first and the frame, full-loop and hoop substrate having holes formed at predetermined intervals along the longitudinal direction, at predetermined intervals along the longitudinal direction of the hoop substrate with the protrusion of the A first hoop terminal provided with a plurality of first terminals protruding from the base material, a hoop base material in which holes are formed at predetermined intervals along the longitudinal direction, and a longitudinal direction of the hoop base material Formed to protrude from the hoop base material at predetermined intervals along the A plurality of second terminals, and the first hoop terminal and the second hoop terminal are opposed to each other with a space in the frame of the first frame body interposed therebetween. The first hoop terminal or the second hoop terminal is locked to the upper surface of the first frame body, and the first hoop terminal or the second hoop terminal is separated from the hoop base material at predetermined intervals along the longitudinal direction of the hoop base material. A second protrusion for supporting the side surface of the ceramic element formed to protrude toward the space in the frame is provided, and the first terminal and the second terminal are frames of the first frame body. They are opposed to each other with a predetermined interval in the inner space.
[0009]
Moreover, it is preferable that a 1st frame is provided with the 3rd projection part for supporting the one main surface of a ceramic element which protruded toward the space in the frame in a 1st frame.
[0011]
In addition, it is preferable to further include a second frame body that is superimposed on the upper surface of the first frame body so as to sandwich the first hoop terminal and the second hoop terminal.
[0012]
Moreover, it is preferable that a 2nd frame is provided with the 4th projection part for supporting the other main surface of a ceramic element formed protruding toward the space in the frame in a 2nd frame.
[0013]
Moreover, it is preferable to further include a clip that clamps the first frame body and the second frame body in the height direction by sandwiching both end portions of the superimposed first frame body and second frame body.
[0014]
In addition, at least one of the first to fourth protrusions preferably has a shape that makes point contact or line contact with the ceramic element.
[0015]
The ceramic element is disposed between the first terminal and the second terminal.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a soldering jig according to the present invention. As shown in FIG. 1, the
[0017]
As shown in FIGS. 1 and 2, the
[0018]
A
[0019]
The
[0020]
Moreover, as shown in FIG. 2, the inner wall on the
[0021]
In the inner wall
[0022]
Further, by providing the
[0023]
As shown in FIG. 1, the
[0024]
The
[0025]
As shown in FIG. 1 and FIG. 3A, the
[0026]
In the
[0027]
In the
[0028]
As shown in FIGS. 1 and 4A, the
[0029]
In the
[0030]
In the
[0031]
Next, the relationship between the ceramic element and the
[0032]
As shown in FIG. 6, the
[0033]
The
[0034]
In either case, the contact area between the
[0035]
The
[0036]
The
[0037]
In addition, about the dimension and position of the
[0038]
As shown in FIG. 7, the
[0039]
Moreover, it is preferable that the
[0040]
Further, the
[0041]
As shown in FIG. 6, the
[0042]
FIG. 8 is a perspective view showing the second frame that is superimposed on the upper surface of the
[0043]
FIG. 10 is a perspective view showing a state in which the
[0044]
In this way, by using the
[0045]
Next, the relationship between the ceramic element and the
[0046]
As shown in FIG. 11, the
[0047]
Also, as shown in FIG. 12, both ends of the
[0048]
In the present invention, a thermistor element, a resistance element, a capacitor element, a coil element, or the like can be used as the
[0049]
【Example】
The thermistor element was soldered as follows using the soldering jig according to the present invention.
[0050]
First, a thermistor element as shown in FIG. 13 was prepared. The
[0051]
Next, as shown in FIGS. 14 to 18, the
[0052]
First, as shown in FIG. 14, the
[0053]
Next, as shown in FIG. 15, the
[0054]
Next, as shown in FIG. 16, the
[0055]
Next, as shown in FIG. 17, the
[0056]
Next, as shown in FIG. 17, the
[0057]
As described above, when the infrared irradiation means is used as the heating means for using the soldered part for soldering, the soldered part can be selectively heated, so that the heating efficiency is good. However, the heating means is not limited to the infrared irradiation means. For example, the preliminary solder may be melted by heating the soldering jig according to the present invention in a heat treatment furnace.
[0058]
Next, after cooling the soldering jig with a cooling nozzle for about 30 seconds, as shown in FIG. 18, the
[0059]
In the conventional soldering method using a hot plate as shown in FIG. 20, the terminal mounting accuracy (deviation from the target terminal mounting position) is about ± 1.0 mm. In the example, the terminal mounting accuracy was ± 0.3 mm.
[0062]
【The invention's effect】
According to the soldering jig according to the present invention, by supporting the side surface and the main surface of the ceramic element by the protrusion, it is possible to reliably suppress the positional deviation between the ceramic element and the terminal.
[0063]
Further, when the protrusion and the ceramic element are brought into point contact or line contact, heat becomes difficult to diffuse from the ceramic element heated at the time of soldering, so that heating efficiency is improved. At the same time, it is possible to prevent the ceramic element from cracking due to the temperature difference between the heated ceramic element and the first protrusion.
[0064]
Moreover, since the 1st hoop terminal and the 2nd hoop terminal are firmly latched by superimposing the 2nd frame on the upper surface of a 1st frame, the position shift of a terminal can be suppressed further. it can. In addition, since the second terminal is pressed from above by the second frame body, it is possible to improve the bonding property between the first terminal and the second terminal and the ceramic element.
[0065]
Further, the positions of the terminals can be obtained by clamping the first frame and the second frame in the height direction by holding both ends of the overlapped first frame and second frame with clips. The shift can be further suppressed, and the bonding property between the first terminal and the second terminal and the ceramic element can be further enhanced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a soldering jig according to the present invention.
2 is a perspective view showing a
3 is a perspective view showing a
4 is a perspective view showing a
5 is a perspective view showing a state in which a
6 is a partial top view of FIG. 5. FIG.
7 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.
FIG. 8 is a perspective view showing a
FIG. 9 is a partially cutaway perspective view showing the
FIG. 10 is a perspective view showing another embodiment of a soldering jig according to the present invention.
11 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG.
12 is a side view showing a state in which both ends of the
FIG. 13 is a cross-sectional view showing the thermistor element used in the examples.
FIG. 14 is a cross-sectional view showing one step of a soldering method in an embodiment.
FIG. 15 is a cross-sectional view showing one step of the soldering method in the embodiment.
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a step of the soldering method in the embodiment.
FIG. 17 is a cross-sectional view showing a step of the soldering method in the embodiment.
FIG. 18 is a cross-sectional view showing one step of a soldering method in an example.
FIG. 19 is a cross-sectional view showing a general surface mount type thermistor.
FIG. 20 is a process diagram showing a soldering method of a conventional surface mount type thermistor.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (7)
枠内にセラミック素子を収納するための空間を有し、前記枠内の空間に向かって突出して形成された、セラミック素子の側面を支持するための第1の突起部を備える第1の枠体と、 A first frame body having a space for accommodating a ceramic element in a frame and provided with a first protrusion for supporting a side surface of the ceramic element formed to protrude toward the space in the frame When,
長手方向に沿って所定間隔ごとに穴が形成されたフープ基材と、前記フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとに前記フープ基材から突出して形成された複数の第1の端子と、を備える第1のフープ端子と、A hoop base material in which holes are formed at predetermined intervals along the longitudinal direction, and a plurality of first terminals formed to protrude from the hoop base material at predetermined intervals along the longitudinal direction of the hoop base material. A first hoop terminal comprising:
長手方向に沿って所定間隔ごとに穴が形成されたフープ基材と、前記フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとに前記フープ基材から突出して形成された複数の第2の端子と、を備える第2のフープ端子とからなり、 A hoop base material in which holes are formed at predetermined intervals along the longitudinal direction, and a plurality of second terminals formed to protrude from the hoop base material at predetermined intervals along the longitudinal direction of the hoop base material. A second hoop terminal comprising
前記第1のフープ端子および前記第2のフープ端子は、前記第1の枠体の枠内の空間を挟んで対向するように前記第1の枠体の上面に係止され、The first hoop terminal and the second hoop terminal are locked to the upper surface of the first frame body so as to face each other across a space in the frame of the first frame body,
前記第1のフープ端子、または前記第2のフープ端子は、前記フープ基材の長手方向に沿って所定間隔ごとに前記フープ基材から前記第1の枠体の枠内の空間に向かって突出して形成された、セラミック素子の側面を支持するための第2の突起部を備えており、The first hoop terminal or the second hoop terminal protrudes from the hoop base material toward a space in the frame of the first frame body at predetermined intervals along the longitudinal direction of the hoop base material. A second protrusion for supporting the side surface of the ceramic element,
前記第1の端子および前記第2の端子は、前記第1の枠体の枠内の空間内で所定の間隔を隔てて対向していることを特徴とする半田付け用治具。The soldering jig according to claim 1, wherein the first terminal and the second terminal are opposed to each other at a predetermined interval in a space in the frame of the first frame body.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002020425A JP3960060B2 (en) | 2002-01-29 | 2002-01-29 | Soldering method and soldering jig |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002020425A JP3960060B2 (en) | 2002-01-29 | 2002-01-29 | Soldering method and soldering jig |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003220466A JP2003220466A (en) | 2003-08-05 |
JP3960060B2 true JP3960060B2 (en) | 2007-08-15 |
Family
ID=27743925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002020425A Expired - Fee Related JP3960060B2 (en) | 2002-01-29 | 2002-01-29 | Soldering method and soldering jig |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3960060B2 (en) |
-
2002
- 2002-01-29 JP JP2002020425A patent/JP3960060B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003220466A (en) | 2003-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000082636A (en) | Ceramic electronic component | |
US20070294892A1 (en) | Method for making a plate type heat pipe | |
JP4117807B2 (en) | Electronic component soldering method | |
JPH09183286A (en) | Ic card fixing cover | |
JP3960060B2 (en) | Soldering method and soldering jig | |
JPH1050928A (en) | Semiconductor device and manufacture thereof | |
JPH08293668A (en) | Soldering of electronic components onto printed board | |
JP2000164093A (en) | Thermal fuse and its manufacture | |
JP3716720B2 (en) | Electronic component assembly | |
JPS6160570B2 (en) | ||
JPS59117101A (en) | Method of connecting terminal of positive temperature coefficient thermistor | |
JPH0635382Y2 (en) | Lead terminal mounting structure for hybrid integrated circuit | |
JP2004247544A (en) | Manufacturing method of polymer ptc element | |
JP7405019B2 (en) | Manufacturing method for electronic components with metal terminals | |
JP2000021675A (en) | Lead frame and electronic component manufacturing method using the frame | |
JP2684863B2 (en) | Semiconductor device | |
JPH09139243A (en) | Electronic circuit device | |
JPH06176845A (en) | Welding device | |
JPH0610399Y2 (en) | Piezoelectric buzzer | |
JPH0356032Y2 (en) | ||
JP2000022013A (en) | Manufacture of electronic component | |
JPS643333B2 (en) | ||
JPH0416350Y2 (en) | ||
JP3751080B2 (en) | Electronic components | |
JPH05144658A (en) | Electronic component having lead terminal and its manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040922 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060823 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070109 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070312 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070424 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070507 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130525 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |