JP3921000B2 - 遅延時間制御回路 - Google Patents
遅延時間制御回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3921000B2 JP3921000B2 JP36772498A JP36772498A JP3921000B2 JP 3921000 B2 JP3921000 B2 JP 3921000B2 JP 36772498 A JP36772498 A JP 36772498A JP 36772498 A JP36772498 A JP 36772498A JP 3921000 B2 JP3921000 B2 JP 3921000B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- delay
- delay time
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、遅延時間制御回路に関し、詳しくは、データ、クロック等のパルス信号に対する遅延量を高精度に設定することができ、特に、CD−R/RW(CD−レコーダブル/リライタブル)において、その書込みデータに対して適正な遅延時間を設定することでシステムが要求するタイミングを実現することができるような遅延時間制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
最近のCD−R/RWでは、データの書込み速度が2倍、4倍、8倍、…とその速度が高速化されてきている。
CD−R/RWでは、通常、ホストコンピュータからSCSIやATPIのインタフェースを通して転送された書込みデータがEFM変調されてレーザコントローラに加えられ、レーザコントローラにより書込用に制御されたレーザ光がEFM変調されたデータによってON/OFFされてCDの所定のトラックに照射されることでデータの書込みが行われる。書込まれたデータは、読出用に制御されたレーザ光が照射されて、その反射光を受光素子が受けることで行われ、この受光素子を経て読出アンプで増幅されたEFM信号を復調して読出データを得て、それをSCSIやATPIのインタフェースを通してホストコンピュータ側に転送する。
【0003】
この場合、EFM変調されたデータをCDに書込む際に書込み倍速に応じて書込データの長さとデータあるいはクロックの周期とが相違してくる。そのためにデータあるいはクロックなどのタイミング調整が必要になる。このタイミング調整は、遅延回路により行われるが、CD−R/RW等の書込みの場合には、これに高い精度が要求される。しかも、データ、クロック等のパルス信号(1ビット)の立上がり、立下がり、双方において書込み倍速に応じた高精度な遅延制御をしなければならない。
この種の従来の遅延時間制御回路10は、図2に示すように、所定の遅延時間を持つバッファからなる遅延回路Da〜遅延回路Dhを従属接続して、初段の遅延回路Daの入力を入力INとして、その段数で適正な遅延量を発生させるものであり、それぞれの遅延回路Da〜遅延回路Dhの出力を入力として選択制御信号SELに応じてセレクタ11により入力の1つを選択して目的の遅延量をセレクタ11の出力OUTに得る。選択制御信号SELは、コントローラ等から送出されるデータをデコーダ12がデコードすることで生成され、セレクタ11の内部は、アンドゲートやオアゲートで構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
この種の遅延時間制御回路は、通常、遅延素子がCMOSICの内部回路としてIC化され形成される関係で温度や電源電圧(印加電圧)に影響され、それらに応じて遅延時間が変化する問題がある。
特に、CD−R/RW等では、このような遅延素子を用いてデータやクロック等のパルス信号の遅延量をプログラム可能に設定できるような遅延時間制御回路が必要であり、かつ、その遅延時間は、70nsec以下の分解能で、数十から数百ステップのダイナミックレンジにおいて遅延時間をプログラム設定できることが要求される。そのため、前記の温度変化や電源電圧変動などによる遅延時間の変動がいっそう大きく影響し、問題になる。
【0005】
このようなことを回避するために、遅延補正を行うことが考えられるが、遅延量の各ステップに対応して補正回路を設けることは回路規模の増加をまねき、ICとしては好ましくない。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、データ、クロック等のパルス信号に対する遅延量を高精度に設定することができ、システムが要求するタイミングを容易に実現することができる遅延時間制御回路を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するこの発明の遅延時間制御回路の特徴は、所定の遅延時間を持つ単位回路を複数段従属接続した遅延回路と、外部から入力されるパルス信号と遅延回路の出力を反転した出力とのいずれかを選択してこの遅延回路に入力する第1の選択回路と、各単位回路の出力のうちの1つを選択する第2の選択回路と、遅延回路から出力されるパルス信号を所定の期間カウントするカウンタと、第1の選択回路に遅延回路の出力を反転した出力側を選択させ、カウンタのカウント値から単位回路1つ当たりの遅延時間を算出して目的とする遅延時間に対応するあるいはこれに最も近い遅延時間となる単位回路の出力を選択する信号を第2の選択回路に送出する制御回路とを備えていて、
遅延回路に入力される反転した出力は、遅延回路の最終段の単位回路の出力かこれに対応するものであり、単位回路は、インバータが2段接続されたものであり、遅延回路は、単位回路を2のn乗個(ただし、nは正の整数)有し、各単位回路の出力側にそれぞれ接続された2のn乗個のスリーステートバッファと、これらスリーステートバッファを単位回路のうち隣接する2個を1組として接続し、その各組みトーナメント接続して1つの出力端子に接続する配線ラインと、単位回路の2個のインバータ間の接続点に接続されたスリーステートバッファと等価のバッファとを備え、単位回路の初段の入力側を遅延回路の入力とし、出力端子を遅延回路の出力とし、第2の選択回路は、スリーステートバッファの1つを出力として選択するものであり、目的とする遅延時間が外部から設定されるものである。
【0007】
【発明の実施の形態】
このように、単位回路の遅延時間を算出して目的とする遅延時間に対応するあるいはこれに最も近い遅延時間となる単位回路の出力を選択するようにしているので、たとえそのときどきの温度や印加電圧に応じて単位回路の遅延時間が変化してもこの変化した状態の現在の遅延時間を得ることができる。そこで、温度や印加電圧に影響されずに入力されるパルス信号に対して適正な遅延時間を持つ出力パルス信号を発生させる単位回路の出力を複数段の出力の中から選択することが可能になる。
その結果、データ、クロック等のパルス信号に対する遅延量を高精度に設定することができ、システムが要求するタイミングを容易に実現することができる遅延時間制御回路を実現することができる。しかも、目的とする遅延時間を外部から自由に設定するようにすればプログラム設定が可能になる。
【0008】
【実施例】
図1は、この発明を適用した一実施例の遅延時間制御回路のブロック図である。
図1において、1は、遅延時間制御回路であって、遅延回路2と、セクタ20、カウンタ21、コントローラ22、そしてインバータ23とからなり、遅延回路2は、入力端子4と出力端子6とを有している。
遅延回路2は、後述するように8個の単位遅延回路2a,2b,2c,…,2hが従属接続され、これら出力の1つを選択するデコーダ8を有している。セレクタ20は、入力パルス信号Pinを端子20aに受け、遅延回路2の出力端子6から得られる出力パルス信号POUTをインバータ23を介して反転させた信号として入力端子20bに受けていずれか一方を選択して遅延回路2の入力端子4に加える。
【0009】
なお、セレクタ20に対する選択信号は、外部からキャリブレーション信号CAとして端子24を介して与えられ、キャリブレーション信号CAを受けたときにセレクタ20は、出力パルス信号を受ける入力端子20b側を選択し、そうでないときには入力パルス信号Pinを受ける入力端子20a側を選択する。そこで、キャリブレーション信号CAにより入力端子20b側が選択されたときには、遅延時間制御回路1は、遅延回路2の出力パルス信号POUTが入力に帰還されて発振回路となり、出力端子6には、遅延回路2の総接続段数で決定される遅延時間に応じて一定周期のパルス信号が得られる。
また、以上の場合、8個の単位遅延回路のうち最終段の単位遅延回路2hの出力が選択されて出力端子6に出力されているものとする。
【0010】
カウンタ21は、遅延回路2の出力端子6に発生するパルス信号をあらかじめ決められた所定の期間カウントするカウンタである。その一定期間は、コントローラ22により設定される。コントローラ22は、バスを介して接続されたMPU22aとメモリ22b等から構成され、キャリブレーション信号CAを受けたときに、まず、コントローラ22は、MPU22aによりデコーダ8に最終段の単位遅延回路2hの出力を選択する信号として選択信号SELを発生させる。
次に、カウンタ21をリセットしてあらかじめ設定された一定期間後にカウンタ21の値を読込み、この処理を所定回数、例えば、10回、繰り返して、10回分のカウント値の平均値を採る。さらに、現在の遅延回路2の総接続段数(この例では8個)の遅延時間を算出して、単位遅延回路1段あたりの遅延時間を算出し、プログラム設定として外部から入力された設定すべき遅延時間に対応するあるいはこれに最も近い段数の出力を選択する選択信号(データ)SELをデコーダ8に送出する。
なお、単位遅延回路の遅延時間は、カウンタのカウント値をカウントする前記の一定期間が出力端子6に発生するパルス信号POUTの周期より十分長ければ誤差はほとんどないが、これが短い場合には、出力端子6に発生するパルス信号に同期させてカウンタ21のパルス信号発生の直後にカウント値を採取し、カウンタをリセットして一定期間の間のパルス信号POUTをカウントするようにするとよく、この場合、最初のカウント値は、正確な値ではないので排除すれば算出される単位遅延回路の遅延時間は誤差が少なくて済む。
【0011】
さて、MPU22aが実行するそのための処理プログラムとして前記メモリ22bに最適遅延時間設定プログラム22cが格納され、外部から設定された遅延時間を記憶するデータ記憶領域22eを有している。また、メモリ22bには、外部から設定された遅延時間に対して現在の遅延時間が最適か否かを判定する遅延時間判定処理プログラム22dが格納されている。
MPU22aがこの処理プログラム22dを実行することで、外部から入力された設定すべき遅延時間からカウンタ21の前記の一定期間におけるカウント値を算出し、これを期待値として前記カウンタ21のカウント値の平均値と比較して平均値が期待値から所定の判定基準値以上ずれているか否かの判定をする。判定基準値以上ずれているときには、セレクタ20にキャリブレーション信号CAと同様な制御信号Sを加えて遅延時間制御回路1を発振させる。そして、最適遅延時間設定プログラム22cをコールして前記の外部から入力された設定すべき遅延時間に最も近い段数の出力を選択する選択信号SELをデコーダ8に送出する。
なお、この遅延時間判定処理プログラム22dは、外部からコントローラ22に対して特定の制御信号が入力されたとき、あるいはコントローラ22の動作開始時にMPU22aにより実行されるようにするとよい。
【0012】
単位遅延回路2a,2b,2c,…,2hは、それぞれ従属接続された8個の単位遅延回路である。この例では2のn乗個の単位回路として8個の例を挙げる。各単位遅延回路2a〜2hは、所定の遅延時間を持つインバータ3a、3bが2段従属接続された回路であって、そのインバータ間の接続点には、負論理入力のスリーステートバッファ回路3cが接続されている。
初段の単位遅延回路2aの入力側には入力端子(IN)4が接続され、各単位遅延回路2a〜2hの各接続点には、負論理入力のスリーステートバッファ5が出力側として接続されている。さらに、隣接した2つ1組ごとのスリーステートバッファ5は、各接続点A,B,C,Dにおいて相互に接続され、さらに相互に接続された接続点A,B,C,Dの隣接した2つ1組ごとに相互に接続点E,Fにおいて接続され、最後に接続点E,Fが接続されて出力端子(OUT)6に接続される、トーナメント配線7により、いわゆるトーナメント配線接続がなされている。また、先のスリーステートバッファ回路3cは、スリーステートバッファ5と等価のダミー負荷回路となっている。
【0013】
各スリーステートバッファ3cは、その各制御端子(負論理有意)3dが電源ラインVDD(“H”)に接続され、ハイインピーダンスに設定されている。一方、各スリーステートバッファ5は、デコーダ8によりその各制御端子(負論理有意)5aのうち選択された1つの制御端子5aに“L”が設定され、出力として選択され、他の制御端子5aが“H”にされてハイインピーダンスに設定される。制御端子5aが“L”にされたスリーステートバッファ5の出力は、トーナメント配線7の各接続点A,B,C,D,E,Fの選択された経路を経て出力端子6に供給され、出力される。
【0014】
ここでのトーナメント配線7は、スリーステートバッファ5と各接続点A,B,C,Dまでの接続配線の長さが実質的に等しく、また、接続点A,Bから接続点Eまでと、接続点C,Dから接続点Fのまでのそれぞれの接続配線の長さが実質的に等しく、各接続点E,Fから出力端子6までの接続配線の長さが実質的に等しい。
これによりデコーダ8がどのスリーステートバッファ5の1つを選択したとしても、出力端子6までの配線長が等しくなり、かつ、入力端子4から単位遅延回路を介した遅延時間は、単位遅延回路の段数n+スリーステートバッファ5の1個の動作遅延時間+スリーステートバッファ5から出力端子6までの配線長による遅延時間で決定される。
ここで、スリーステートバッファ5の1個の動作遅延時間+スリーステートバッファ5から出力までの配線長による遅延時間は、ほぼ固定時間であり、それを一定時間td(オフセット時間)とすれば、設定できる遅延時間は、TD=n×t+tdとなる。ただし、tは、単位遅延回路1段の遅延時間、nは、入力から出力として選択されたスリーステートバッファ5までの単位遅延回路の接続段数。これにより、遅延時間は、単位遅延回路の段数分に相当する増減設定が可能になり、高精度な遅延時間の設定が可能になる。
なお、通常の遅延時間の場合には、t >> tdであるので無視できる。
【0015】
先に説明したように、デコーダ8による出力選択信号は、コントローラ22から送出される選択信号(データ)SELにより行われる。これにより外部から入力された設定すべき遅延時間に最も近い段数の出力が選択され、キャリブレーション信号CAを受けるごとにあるいは所定の制御信号を発生するごと、さらにはコントローラ22の動作開始時に、そのときどきの温度や電源電圧の状態に応じて、単位遅延回路1段あたりの正確な遅延時間が算出され、その遅延分解能において単位遅延回路1段あたりの遅延時間の整数倍で外部からプログラム設定が可能になる。
これにより温度や電源電圧の状態に影響を受けることなく、精度のよい遅延制御ができる。
ところで、この実施例では、単位遅延回路1段あたりの正確な遅延時間を算出するときには、コントローラ22から送出される選択信号(データ)SELは、最終段の単位遅延回路1の出力が出力端子6に出力されるようにしているが、これは、複数段を経た出力を採用してもよく、必ずしも最終段の出力でなくてもよい。
【0016】
ところで、各単位遅延回路のインバータ3a、3bは、それぞれ負荷としてスリーステートバッファ3cとスリーステートバッファ5とがそれぞれに接続されている。そこで、“H”,“L”のいずれの入力であっても、反転動作をする2段のインバータを経て出力されることになる。すなわち、入力側に“H”の信号が入力されたときには、最初のインバータで“L”にされ、この“L”を次のインバータが“H”にして出力する。また、“L”の信号が入力されたときには、最初のインバータで“H”にされ、この“H”を次のインバータが“L”にすることになる。そこで、いずれの場合も、インバータの動作は、“H”と“L”、“L”と“H”の反転動作の組み合わせになる。このような動作を経て出力されるので、データやクロック等のパルス信号(1ビット)の立上がり、立下がり双方の遅延時間が実質的に等しくなる。
なお、実施例では、ダミー負荷のスリーステートバッファ3cは、ハイインピーダンスに設定しているが、これは、適当な負荷を接続して動作状態に設定してもよいことはもちろんである。
【0017】
特に、この実施例では、各単位回路の出力側のスリーステートバッファは、実質的に等しい長さのトーナメント接続され、どの出力を選択しても1個のスリーステートバッファを経て出力される。これによりこのスリーステートバッファから出力までの遅延時間を固定した一定遅延時間として扱うことができる。
その結果、データやクロック等のパルス信号(1ビット)の立上がり、立下がり双方の遅延時間が実質的に等しくでき、例えば、CD−R/RWにおいてデータの書込み速度が2倍、4倍、8倍とその速度が高速化されても、デコーダ8によりそれぞれに対応する適正な遅延時間が設定でき、データ誤りが発生し難い。
【0018】
以上説明してきたが、実施例では、各単位遅延回路のインバータ3a、3bにより構成され、ダミー負荷を設けて、パルス信号の立上がり、立下がり両者において遅延時間が実質的に等しくなるようにしているが、単位遅延回路としてはいずれか一方の遅延時間を正確に設定するだけであってもよい。したがって、単位遅延回路は、前記のようなダミー負荷をもつ2段のインバータに限定されるものではない。
言い換えれば、従来技術として図2において示した複数段接続の遅延回路が用いられてもよい。
また、実施例では、コントローラ22としてMPUとプログラムとにより演算を行い、遅延時間の設定をしているが、コントローラ22は、ゲートアレイ等により実現されてもよいことはもちろんである。
【0019】
【発明の効果】
この発明にあっては、単位回路の遅延時間を算出して目的とする遅延時間に対応するあるいはこれに最も近い遅延時間となる単位回路の出力を選択するようにしているので、たとえそのときどきの温度や印加電圧に応じて単位回路の遅延時間が変化してもこの変化した状態の現在の遅延時間を得ることができる。そこで、温度や印加電圧に影響されずに入力されるパルス信号に対して適正な遅延時間を持つ出力パルス信号を発生させる単位回路の出力を複数段の出力の中から選択することが可能になる。
その結果、データ、クロック等のパルス信号に対する遅延量を高精度に設定することができ、システムが要求するタイミングを容易に実現することができる遅延時間制御回路を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、この発明を適用した一実施例の遅延時間制御回路のブロック図である。
【図2】図2は、従来の遅延時間制御回路のブロック図である。
【符号の説明】
1,10…遅延時間制御回路、2…遅延回路、
2a,2b,2c,2h…単位遅延回路、3a,3b…インバータe
3c,5…スリーステートバッファ回路、4…入力端子、
6…出力端子、7…トーナメント配線、
8,12…デコーダ、11…セレクタ。
Claims (2)
- 所定の遅延時間を持つ単位回路を複数段従属接続した遅延回路と、外部から入力されるパルス信号と前記遅延回路の出力を反転した出力とのいずれかを選択してこの遅延回路に入力する第1の選択回路と、各前記単位回路の出力のうちの1つを選択する第2の選択回路と、前記遅延回路から出力されるパルス信号を所定の期間カウントするカウンタと、前記第1の選択回路に前記遅延回路の出力を反転した出力側を選択させ、前記カウンタのカウント値から前記単位回路1つ当たりの遅延時間を算出して目的とする遅延時間に対応するあるいはこれに最も近い遅延時間となる前記単位回路の出力を選択する信号を前記第2の選択回路に送出する制御回路とを備え、
前記遅延回路に入力される反転した出力は、前記遅延回路の最終段の単位回路の出力かこれに対応するものであり、前記単位回路は、インバータが2段接続されたものであり、前記遅延回路は、前記単位回路を2のn乗個(ただし、nは正の整数)有し、各前記単位回路の出力側にそれぞれ接続された2のn乗個のスリーステートバッファと、これらスリーステートバッファを前記単位回路のうち隣接する2個を1組として接続し、その各組みに対してトーナメント接続して1つの出力端子に接続する配線ラインと、前記単位回路の2個のインバータ間の接続点に接続された前記スリーステートバッファと等価のバッファとを備え、前記単位回路の初段の入力側を前記遅延回路の前記入力とし、前記出力端子を前記遅延回路の前記出力とし、前記第2の選択回路は、前記スリーステートバッファの1つを出力として選択するものであり、前記目的とする遅延時間が外部から設定される遅延時間制御回路。 - さらに、デコーダを有し、前記配線ラインのトーナメント配線の各段階が実質的に等しい長さで接続され、前記等価のバッファは、その制御端子に所定の電圧を加えることでハイインピーダンスに設定されるスリーステートバッファであり、前記デコーダは、前記単位回路の出力側に接続された前記スリーステートバッファの制御端子に所定の信号を加えることでその中の1つを出力として選択し、他をハイインピーダンスに設定する請求項1記載の遅延時間制御回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36772498A JP3921000B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 遅延時間制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36772498A JP3921000B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 遅延時間制御回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000195166A JP2000195166A (ja) | 2000-07-14 |
JP3921000B2 true JP3921000B2 (ja) | 2007-05-30 |
Family
ID=18490039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36772498A Expired - Fee Related JP3921000B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 遅延時間制御回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3921000B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3575430B2 (ja) | 2001-02-01 | 2004-10-13 | 日本電気株式会社 | 2段階可変長遅延回路 |
-
1998
- 1998-12-24 JP JP36772498A patent/JP3921000B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000195166A (ja) | 2000-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4195327B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR100615115B1 (ko) | 지연회로 | |
US8134877B2 (en) | Semiconductor device having delay control circuit | |
US8867301B2 (en) | Semiconductor device having latency counter to control output timing of data and data processing system including the same | |
US20150323971A1 (en) | Semiconductor memory device including output buffer | |
JP2005539337A (ja) | 粗遅延間隔および精密遅延間隔のタイミングのためのリング発振器を含む同期ミラー遅延(smd)回路、およびその方法 | |
US6469557B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and delayed clock signal generation method | |
JP4274811B2 (ja) | 同期型半導体記憶装置 | |
US20070008793A1 (en) | Semiconductor apparatus | |
JPWO2005008677A1 (ja) | 内蔵されるメモリマクロのac特性を測定するテスト回路を有する集積回路装置 | |
US6784709B2 (en) | Clock generator to control a pules width according to input voltage level in semiconductor memory device | |
JP3712537B2 (ja) | 温度検出回路、温度検出回路の校正方法、及び、半導体記憶装置 | |
US11380409B2 (en) | Duty adjustment circuit, semiconductor storage device, and memory system | |
US11264078B2 (en) | Metastable resistant latch | |
JP3921000B2 (ja) | 遅延時間制御回路 | |
US6424580B1 (en) | Memory with an optimized setting of precharge times | |
US7877667B2 (en) | Semiconductor memory | |
KR100556179B1 (ko) | 어드레스 천이 검출 회로 | |
JP2023040523A (ja) | 半導体集積回路、及び、半導体記憶装置、並びに、メモリシステム | |
US5648932A (en) | Output control circuit for semiconductor memory | |
JP3079376B2 (ja) | 半導体メモリ | |
JP3980230B2 (ja) | 遅延時間制御回路 | |
US6307403B1 (en) | Delay time control circuit | |
US6369636B1 (en) | Method, architecture and circuit for selecting, calibrating and monitoring circuits | |
JP2000048588A (ja) | 読出し専用メモリ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061121 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070115 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070115 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070216 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |