JP3892715B2 - 液晶表示装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、周囲から入射する外光のような外部光源またはこの外部光源に加えてバックライトのような内部光源を用いて画像を表示する液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年では、液晶表示装置が例えばパーソナルコンピュータ、テレビ、ワードプロセッサ、携帯電話のような様々な機器に応用されている。液晶表示装置の応用範囲がこのように広がる一方で、小型、省電力、低コストというような高機能化の要望も高まっている。特に携帯電話のような屋外、屋内を問わず使用されるような用途向けの表示装置としては、反射型液晶表示装置と透過型液晶表示装置の特徴を併せ持った半透過型液晶表示装置の開発の要求が高まってきている。
【0003】
半透過型液晶表示装置は、透過型液晶表示装置のように周囲から入射する外光の少ない室内環境でバックライトからの透過光を液晶層で光学変調することにより画像を表示するだけでなく、反射型液晶表示装置のように周囲から入射する外光の多い屋外環境で外光を反射板で反射させて液晶層で光学変調することにより画像を表示することも可能である。 反射型または半透過型液晶装置において外光を反射板で反射させる場合には、外光の光強度を出来る限り減衰させないことが明るい画像を表示するために重要となる。特に反射板の反射特性は光強度の減衰に大きく影響することから、あらゆる角度で入射する外光を効率よく反射する反射特性を得るための最適化が試みられている。
【0004】
図17は従来の反射型液晶表示装置において反射板として用いられる複数の画素電極の各々に形成された凹凸パターンを示す。この凹凸パターンは例えば電極表面に不規則に配置された複数の半球状凸部およびこれら円形凸部を取り囲むように配置された凹部を含み、一定範囲の領域に反射光を集中させたり、特定の観察方向に対する反射光強度を高めたりするように反射光の散乱を制御する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、単種の凹凸パターンが図17に示すように並んで複数の画素電極の各々に形成される場合、高品質な表示画像を得ることが出来ない。すなわち、これら画素電極の凹凸パターンで散乱される光の干渉が全体として規則的となるため、この干渉によって画像が見難くなる。また、液晶層の液晶材料は屈折率の波長依存性を有するため、白色外光が液晶層を介して一方向から画素電極の凹凸パターンに入射しても波長ごとに異なる方向に散乱する結果となる。従って、画像の色が表示面に対する観察者の視角によって変化してしまう。特にカラー表示用液晶表示装置では、これが色滲みとなって表示画像の品質を著しく劣化させてしまう。
【0006】
本発明は、このような不具合に鑑みてなされたものであり、周囲から入射する外光を用いてより高品質な表示画像を得られる液晶表示装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、第1および第2電極基板と、第1および第2電極基板間に挟持され、液晶分子配列が前記第1および第2電極基板から各々制御される複数の画素領域に区分される液晶層と、第2電極基板および前記液晶層を介して入射する光を散乱させるために第1電極基板に形成される反射板とを備え、複数の画素領域は略マトリクス状であり、反射板は同種の凹凸パターンが前記複数の画素領域の行および列方向の少なくとも一方において隣接しないように組み合わされる複数種の凹凸パターンを含む液晶表示装置が提供される。
【0008】
この液晶表示装置において、反射板は同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされる複数種の凹凸パターンを含んでいる。すなわち、複数の画素領域の行および列方向の少なくとも一方において隣接する凹凸パターンが互いに異なるため、これら凹凸パターンで散乱される光の干渉を全体として不規則にすることが出来る。従って、反射表示時に良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見難さを低減できる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第1実施形態に係る反射型液晶表示装置について添付図面を参照して説明する。
【0010】
図1はこの反射型液晶表示装置の部分的な平面構造を示し、図2は図1に示す画素付近の断面構造を示す。この液晶表示装置は図2に示すようにアレイ基板78、対向基板82、これら基板78および82間に挟持される液晶層85を備える。
【0011】
アレイ基板78は絶縁基板60、マトリクス状に配置される複数の画素電極77、これら画素電極77の列に沿って配置される複数の信号線71、これら画素電極77の行に沿って配置される複数の走査線62、各々対応走査線62および対応信号線71の交差位置近傍に画素用スイッチング素子として配置される複数の薄膜トランジスタ(TFT)SW、複数の走査線62および複数の信号線71を駆動する駆動回路、および複数の画素電極77を覆う配向膜83を含む。対向基板82は光透過性の絶縁基板79と、各々対応列の画素電極77に対向して行方向に順番に並ぶ赤、緑、および青のストライプ状カラーフィルタとして絶縁基板79上に形成される着色層80と、着色層80を覆う透明対向電極81と、この対向電極81を覆う配向膜84とを有する。また、偏光板40が着色層80とは反対側において透明絶縁基板79に貼り付けられる。この反射型液晶表示装置では、液晶層85が複数の画素電極77にそれぞれ対応して複数の画素領域PXに区画され、各画素領域PXが2本の隣接走査線62と2本の隣接信号線71との間にほぼ規定される。各薄膜トランジスタSWは対応走査線62から供給される走査パルスに応答して導通し、対応信号線71の電位を対応画素電極77に供給する。各画素電極77は対応信号線71の電位を画素電位として液晶層85の対応画素領域PXに印加し、この画素電位と対向電極81の電位との電位差に基づいて画素領域PXの透過率を制御する。走査線62および信号線71の駆動回路は画素用スイッチング素子と同様に形成される複数の薄膜トランジスタおよびこれらの配線により構成される。これら薄膜トランジスタはPチャネル型およびNチャネル型を含む。
【0012】
アレイ基板78において、各薄膜トランジスタSWは半導体層67と、この半導体層67の上方に絶縁して形成され対応走査線62に接続されるゲート電極64と、ゲート電極64の両側において半導体層67にコンタクトホール69,70を介してコンタクトし対応画素電極77および対応信号線71にそれぞれ接続されるソースおよびドレイン電極66,65とを有する。半導体層67は絶縁基板60上に形成され、絶縁基板60と一緒にゲート絶縁膜61により覆われる。ゲート電極64はこのゲート絶縁膜61により半導体層67から絶縁され、このゲート絶縁膜61上で対応走査線62と一体的に形成される。さらに複数の補助容量線63が複数行の画素電極77にそれぞれ容量結合するようにゲート絶縁膜61上に形成される。ゲート電極64および走査線62、および補助容量線63はゲート絶縁膜61と一緒に層間絶縁膜68により覆われる。コンタクトホール69,70はゲート電極64の両側において半導体層67内に形成されるソース67bおよびドレイン67aを露出するように層間絶縁膜68およびゲート絶縁膜61に形成される。ソースおよびドレイン電極66,65はこれらコンタクトホール69,70において半導体層67のソース67bおよびドレイン67aにそれぞれコンタクトして層間絶縁膜68上に形成される。ソース電極66は層間絶縁膜68上で拡張ソース電極72と一体的に形成され、ドレイン電極65は層間絶縁膜68上で対応信号線71と一体的に形成される。ソース電極66、拡張ソース電極72、ドレイン電極65、および信号線71は層間絶縁膜68と一緒に保護絶縁膜73により覆われる。この保護絶縁膜73は拡張ソース電極72を部分的に露出するコンタクトホール74を有し、有機絶縁膜76により覆われる。有機絶縁膜76は保護絶縁膜73のコンタクトホール74に対応して拡張ソース電極72を部分的に露出するコンタクトホール75を有する。画素電極77はコンタクトホール74,75において拡張ソース電極72にコンタクトして有機絶縁膜76上に形成され、配向膜83により覆われる。
【0013】
複数の画素電極77は対向基板82側から液晶層85を介して入射する光を高い反射率で散乱させる反射板としても機能し、有機絶縁膜76の上部表面を下地として形成される金属層である。有機絶縁膜76は各々画素領域PXの範囲においてランダムに配置される複数の半球状凸部76aおよびこれら凸部76aを囲むように配置される凹部76bから構成される複数の凹凸パターンを有する。複数の画素電極77は例えば銀、アルミニウム、あるいはこれらの合金のような金属材料を含み、有機絶縁膜76の凹凸パターンに沿って所定の厚さで形成される。このため、各画素電極77は対応画素領域PXの範囲においてランダムに配置されるように有機絶縁膜76の複数の半球状凸部76aによって規定される複数の半球状凸部77aおよびこれら凸部77aを囲んで配置されるように有機絶縁膜の凹部76bによって規定される凹部77bから構成される凹凸パターンを有する。複数の画素電極77の凹凸パターンは図3にA,Bで示す2種類であり、同種の凹凸パターンがこれら画素電極77の行および列方向において隣接しないように配列される。各画素電極の凹凸パターンにおいて、複数の凸部77aは入射光に対する主散乱部を構成し、凹部77bは入射光に対する副散乱部を構成する。
【0014】
次に、上述した反射型液晶表示装置の製造工程を説明する。
【0015】
アレイ基板78の製造では、高歪点ガラス板や石英板等が絶縁基板60として用いられ、半導体層67が例えばアモルファスシリコンをCVD法などにより50nm程度の厚さで絶縁基板60上に堆積し、450℃で1時間炉アニールを行った後XeClエキシマレーザを照射することによりアモルファスシリコンを多結晶シリコン膜として結晶化し、さらにこの多結晶シリコン膜をフォトエッチング法でパターニングすることにより形成される。続いて、ゲート絶縁膜61がSiOxをCVD法により100nm程度の厚さで半導体層67および絶縁基板60上に堆積することにより形成される。続いて、ゲート電極64、走査線62、補助容量線63、およびその他の駆動回路用薄膜トランジスタのゲート電極および配線がTa,Cr,Al,Mo,WおよびCuなどの単体又はその積層膜あるいは合金膜をゲート絶縁膜61上に400nm程度の厚さで堆積し、これをフォトエッチング法で所定形状にパターニングすることにより形成される。この後、例えばリンのような不純物がゲート電極64をマスクとして用いたイオン注入やイオンドーピング法で半導体層67にドープされる。ここでは、リンイオンが例えばPH/Hの雰囲気において加速電圧80keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms/cm2という高濃度で注入される。この後、画素用薄膜トランジスタのドレイン電極65、ソース電極66、および駆動回路用Nチャネル薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極が形成される。
【0016】
続いて、画素用薄膜トランジスタSW、駆動回路用Nチャネル薄膜トランジスタが不純物を注入されないようにレジストで覆われ、例えばボロンのような不純物が駆動回路用Pチャネル薄膜トランジスタのゲート電極をマスクとしてドープされる。ここでは、ボロンイオンが例えばB/Hの雰囲気において加速電圧80keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms/cm2という高濃度で注入される。この後、Pチャネル薄膜トランジスタのソース電極およびドレイン電極が形成される。さらに、Nチャネル型薄膜トランジスタSWをLDD(Lightly Doped Drain)構造とするための不純物注入が行われ、不純物注入領域をアニーリングすることにより活性化してソース67bおよびドレイン67aを構成する。
【0017】
続いて、層間絶縁膜68が例えばPECVD法を用いてSiOを500nm程度の厚さでゲート電極64、走査線62、補助容量線63、その他の駆動回路配線、およびゲート絶縁膜61上に堆積することにより形成される。層間絶縁膜68はフォトエッチング法で半導体層67のソース67bおよびドレイン67aを露出させるようにパターニングされ、これによりコンタクトホール69および70を形成する。
【0018】
続いて、Ta,Cr,Al,Mo,W,Cuなどの単体又はその積層膜あるいは合金膜が500nm程度の厚さで層間絶縁膜68上に堆積され、フォトエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これにより信号線71、ソース電極66、拡張ソース電極72、および駆動回路用の配線を形成する。
【0019】
続いて、保護絶縁膜73がSiNxをPECVD法でこれら配線および層間絶縁膜68上に堆積することにより形成され、コンタクトホール74が保護絶縁膜73をフォトエッチング法でパターニングすることにより形成される。
【0020】
続いて、例えば感光性樹脂が有機絶縁膜76として保護絶縁膜73上に2μm程度の厚さで塗布され、これがコンタクトホール75用フォトマスクを用いてコンタクトホール74に対応する範囲で部分的に露光され、さらに信号線71に重ならないように各画素領域PXの範囲においてランダムなピッチで配置された複数の円形遮光部を持つ凹凸パターン用フォトマスクを用いて露光される。ここで、凹凸パターン用露光量は有機絶縁膜76に形成されるコンタクトホール用の露光量の約10%〜50%に設定される。凹凸パターン用フォトマスクは図3において太線で示す2×2画素のサイズを有し、凹凸パターンAをパターン位置(1,1)および(2,2)で規定し凹凸パターンBをパターン位置(2,1)および(1,2)で規定する。露光は例えば図3に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に2画素分ずつシフトしながら行われる。この場合、フォトマスクは各行の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の列方向にさらに2画素分シフトされる。逆に、この露光はフォトマスクを画素電極77の列方向に2画素分ずつシフトしながら行われてもよい。この場合、フォトマスクは各列の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の行方向にさらに2画素分シフトされる。
【0021】
続いて、有機絶縁膜76が上述の露光部分を除去するために現像され、これにより複数の凸部76aおよび凹部76bをコンタクトホール75と共に有機絶縁膜76に形成する。この段階では凸部76aおよび凹部76bが鋭角状であるため、アレイ基板78の熱処理が例えば200℃で60分程度行われる。これにより、凸部76aおよび凹部76bの表面が角のとれた滑らかな状態になる。
【0022】
続いて、Al,Ni,CrおよびAg等の金属膜がスパッタ法により200nm程度の厚さで有機絶縁膜76上に堆積され、フォトエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これにより拡張ソース領域72にコンタクトし補助容量線63と容量結合する画素電極77を形成する。
【0023】
続いて、複数の柱状スペーサが液晶層85の厚さとなる所定の間隙を確保するために所定領域に形成され、配向膜83が低温キュア型のポリイミドを印刷により画素電極77および有機絶縁膜76を覆うように3μm程度塗布しこれをラビング処理することにより形成される。
【0024】
他方、対向基板82の製造では、高歪点ガラス板や石英板等が光透過性の絶縁基板79として用いられ、顔料などを分散させた着色層80がこの絶縁基板79上に形成される。透明な対向電極81は例えば1TOをスパッタ法で着色層80上に堆積することにより形成される。続いて、配向膜84が低温キュア型のポリイミドを印刷により透明対向電極81を覆うように3μm程度塗布しこれをラビング処理することにより形成される。尚、配向膜83および84のラビング処理は、これらの配向軸が互いに例えば70゜ずれる方向に行われる。
アレイ基板78および対向基板82は配向膜83および84の形成後に一体化される。具体的には、アレイ基板78および対向基板82が配向膜83および84を内側にして向かい合わされ、周縁シール材を介して貼り合わされる。液晶層85はアレイ基板78および対向基板82間において周縁シール材で囲まれた液晶注入空間をセルとし、ネマチック液晶のような液晶組成物をこのセルに注入し封止することにより得られる。偏光板40はこうして液晶層85がアレイ基板78および対向基板82間に挟持された状態で、着色層80とは反対側において透明絶縁基板79に貼り付けられる。反射型液晶表示装置は上述のようにして完成する。
【0025】
第1実施形態の液晶表示装置によれば、反射板が複数の画素電極77により構成され、各画素電極77が凹凸パターンA,Bの一方を持つ。ここで、凹凸パターンA,Bは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。すなわち、隣接する凹凸パターンが複数の画素領域PXの行および列方向の各々において互いに異なるため、これら画素電極77の凹凸パターンA,Bで散乱される光の干渉を全体として不規則にすることができる。このため、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさを低減できる。
【0026】
図4は図3に示すパターン配列の第1変形例を示す。第1変形例では、凹凸パターン用フォトマスクは図4において太線で示す3×3画素のサイズを有し、凹凸パターンAをパターン位置(1,1)、(2,3)および(3,2)で規定し、凹凸パターンBをパターン位置(1,2)、(2,1)および(3,3)で規定し、凹凸パターンCをパターン位置(1,3)、(2,2)および(3,1)で規定する。露光は例えば図4に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に3画素分ずつシフトしながら行われる。この場合、フォトマスクは各行の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の列方向に3画素分シフトされる。
【0027】
第1変形例によれば、凹凸パターンA,B,Cは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。特に第1変形例の配列はこれら画素電極77の凹凸パターンA,B,Cで散乱される光の干渉を全体として図3に示す配列の場合よりも不規則にすることができる。このため、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさをさらに低減できる。
【0028】
図5は図3に示すパターン配列の第2変形例を示す。第2変形例では、凹凸パターン用フォトマスクは図5において太線で示す3×3画素のサイズを有し、凹凸パターンAをパターン位置(1,1)、(2,3)および(3,2)で規定し、凹凸パターンBをパターン位置(1,2)、(2,1)および(3,3)で規定し、凹凸パターンCをパターン位置(1,3)、(2,2)および(3,1)で規定する。露光は例えば図5に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に3画素分および列方向に2画素分ずつシフトしながら行われる。
【0029】
第2変形例によれば、凹凸パターンA,B,Cは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。特に第2変形例の配列は、これら画素電極77の凹凸パターンA,B,Cで散乱される光の干渉を全体として図4に示す配列の場合よりも不規則にすることができる。このため、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさをさらに低減できる。
【0030】
次に、本発明の第2実施形態に係る反射型液晶表示装置を説明する。図6はこの反射型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す。この液晶表示装置は以下のことを除いて第1実施形態と同様に構成される。このため、図6において第1実施形態と同様な部分を同一参照符号で示し、その説明を省略する。
【0031】
この反射型液晶表示装置では、複数種の凹凸パターンが互いに異なる表示色の画素領域PXの画素電極77にそれぞれ形成され、各凹凸パターンの主散乱部の平均ピッチが対応画素領域PXの表示色の波長λに依存する。具体的には、各画素電極77にランダムに配置される複数の凸部76aの平均ピッチが着色層80の対応カラーフィルタ色の波長λに対応して決定される。
【0032】
n列の画素電極77、n+1列の画素電極77、およびn+2列の画素電極77(ここで、n=1,2,3,…)は赤、緑、青のカラーフィルタにそれぞれ対向し、例えば複数の凸部77aが赤画素用の主散乱部として平均ピッチdredでランダムに配置される凹凸パターンR、複数の凸部77aが緑画素用の主散乱部として平均ピッチdgreenでランダムに配置される凹凸パターンG、および複数の凸部77aが青画素用の主散乱部として平均ピッチdblueでランダムに配置される凹凸パターンBを有する。また、凹凸パターンR,G,Bの各々では、凹部が第1実施形態と同様に副散乱部として複数の凸部77aを囲むように配置される。
【0033】
これら平均ピッチdred,dgreen,dblueはカラーフィルタ色の波長λが短いほど短く、カラーフィルタ色の波長λが長いほど長く設定され、dred >dgreen > dblueという関係となる。具体的には、良好な白色表示を行うため、同一方向から入射した白色光が赤、緑、青の画素領域においてそれぞれの波長λに対応して互いに異なる方向に反射され、互いに等しい方向に出射されるように設定される。
【0034】
次に光線軌跡について図17に示すように単種の凹凸パターンが全画素電極に形成される従来の反射型液晶表示装置と図6に示す第2実施形態の反射型液晶表示装置と比較する。図18は図17に示すXVIII-XVIII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡を示し、図19は図17に示すXIX-XIX線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡を示す。図18および図19では、n1が空気中の屈折率、n2が液晶材料の屈折率、θが外部から液晶層に向かう入射光の入射角、θが液晶層で屈折され画素電極に向かう入射光の出射角、θが水平面に対する画素電極の傾き、θが画素電極で反射され液晶層の外部に向かう反射光の出射角をそれぞれ表す。出射角θは入射角θ,傾きθ,屈折率n1,および屈折率n2に対して次のような関係を持つ。
【0035】
【数1】
Figure 0003892715
【0036】
ここで、液晶材料の屈折率nは一般に短波長の方が大きいため、上式よりθ方向からの入射光に対して、出射角θは波長λが短いほど大きくなる。すなわち、 赤色成分光の出射角をθ4(red)、青色成分光の出射角をθ4(blue)とすると、これらはθ4(red) > θ4(blue)という関係になる。従って、図17に示す従来の反射型液晶表示装置のように表示色に関係なく全画素電極に単種の凹凸パターンを形成した場合、反射光の色づきが液晶層に対して斜め方向で観察されてしまうために良好な白色表示を行うことができない。
【0037】
これに対し、図6に示す第2実施形態の反射型液晶表示装置では、凹凸パターンR,G,Bが赤、緑、および青用の画素領域PXの画素電極77にそれぞれ形成され、凹凸パターンR,G,Bの主散乱部の平均ピッチがそれぞれの画素領域PXの表示色である赤、緑、および青の波長λに依存する。図7は図6に示すVII-VII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡を示し、図8は図6に示すVIII-VIII線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡を示す。図7および図8では、n1が空気中の屈折率、n2が液晶材料の屈折率、θが外部から液晶層85に向かう入射光の入射角、θが液晶層85で屈折され画素電極77に向かう入射光の出射角、θが水平面に対する画素電極77の傾き、θが画素電極77で反射され液晶層85の外部に向かう反射光の出射角をそれぞれ表す。凸部77aのピッチは図7において図8に示すピッチよりも長い。凸部77aと凹部77bの高低差は上述のピッチによって変化しないが、ピッチが長い方が水平面に対する画素電極77の傾きθの最大値を小さく形成できる。すなわち、画素電極77の傾きθとなるピッチをさらに長くして画素電極77の傾きθ’を得た場合、傾きθおよびθ’はθ’ < θという関係になる。ここで、赤色成分光の出射角θ4(red)=青色成分光の出射角θ4(blue)となるように、上式の関係からピッチを表示色毎に選定することで、出射角を表示色に依存しない一律の値にすることができる。これにより、反射光の色づきが液晶層85に対して斜め方向でも観察されることを無くすことができるため、良好な白色表示を行うことができる。
【0038】
凹凸パターン用フォトマスクは図9において太線で示す1×3画素のサイズを有し、凹凸パターンRをパターン位置(1,1)で規定し、凹凸パターンGをパターン位置(1,2)で規定し、凹凸パターンBをパターン位置(1,3)で規定する。露光は例えば図9に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に3画素分ずつシフトしながら行われる。この場合、フォトマスクは各行の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の列方向に1画素分シフトされる。
【0039】
第1実施形態の液晶表示装置によれば、凹凸パターンR,G,Bは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。これにより、画素電極77の凹凸パターンR,G,Bで散乱される光の干渉を全体として不規則にすることができる。従って、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさをさらに低減できる。さらに、これら凹凸パターンR,G,Bの主散乱部、すなわち凸部77aの平均ピッチが出射角θを一致させるようそれぞれ赤、緑および青のカラーフィルタの波長λに対応して決定されるため、反射光の色づきが液晶層85に対して斜め方向でも観察されること無く良好な白色表示を行うことができる。
【0040】
図10は図9に示す凹凸パターンの組合せおよび配列の変形例を示す。この変形例は、赤、緑、青のカラーフィルタがストライプ状の代わりにマトリクス状に配置された場合に適用される。この場合、凹凸パターン用フォトマスクは図10において太線で示す3×3画素のサイズを有し、凹凸パターンRを赤用画素領域PXに対応するパターン位置(1,1)、(2,3)および(3,2)で規定し、凹凸パターンGを緑用画素領域PXに対応するパターン位置(1,2)、(2,1)および(3,3)で規定し、凹凸パターンBを青用画素領域PXに対応するパターン位置(1,3)、(2,2)および(3,1)で規定する。露光は例えば図10に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に3画素分ずつシフトしながら行われる。この場合、フォトマスクは各行の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の列方向に3画素分シフトされる。
【0041】
この変形例によれば、画素領域PXの表示色が各列において異なる場合でも上述の第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0042】
以下、本発明の第3実施形態に係る半透過型液晶表示装置について添付図面を参照して説明する。
図11はこの半透過型液晶表示装置の部分的な平面構造を示し、図12は図1に示す画素付近の断面構造を示す。この液晶表示装置は図12に示すようにアレイ基板78、対向基板82、これら基板78および82間に挟持される液品層85を備える。図11および図12では、第1実施形態と同様な部分を同一参照符号で示す。
【0043】
アレイ基板78は絶縁基板60、マトリクス状に配置される複数の画素電極77、これら画素電極77の列に沿って配置される複数の信号線71、これら画素電極77の行に沿って配置される複数の走査線62、各々対応走査線62および対応信号線71の交差位置近傍に画素用スイッチング素子として配置される複数の薄膜トランジスタ(TFT)SW、複数の走査線62および複数の信号線71を駆動する駆動回路、および複数の画素電極77を覆う配向膜83を含む。対向基板82は光透過性の絶縁基板79と、各々対応列の画素電極77に対向して行方向に順番に並ぶ赤、緑、および青のストライプ状カラーフィルタとして絶縁基板79上に形成される着色層80と、着色層80を覆う透明対向電極81と、この対向電極81を覆う配向膜84とを有する。また、偏光板40が着色層80とは反対側において透明絶縁基板79に貼り付けられる。この半透過型液晶表示装置では、液晶層85が複数の画素電極77にそれぞれ対応して複数の画素領域PXに区画され、各画素領域PXが2本の隣接走査線62と2本の隣接信号線71との間にほぼ規定される。各薄膜トランジスタSWは対応走査線62から供給される走査パルスに応答して導通し、対応信号線71の電位を対応画素電極77に供給する。各画素電極77は対応信号線71の電位を画素電位として液晶層85の対応画素領域PXに印加し、この画素電位と対向電極81の電位との電位差に基づいて画素領域PXの透過率を制御する。走査線62および信号線71の駆動回路は画素用スイッチング素子と同様に形成される複数の薄膜トランジスタおよびこれらの配線により構成される。これら薄膜トランジスタはPチャネル型およびNチャネル型を含む。
【0044】
アレイ基板78において、各薄膜トランジスタSWは半導体層67と、この半導体層67の上方に絶縁して形成され対応走査線62に接続されるゲート電極64と、ゲート電極64の両側において半導体層67にコンタクトホール69,70を介してコンタクトし対応画素電極77および対応信号線71にそれぞれ接続されるソースおよびドレイン電極66,65とを有する。半導体層67は絶縁基板60上に形成され、絶縁基板60と一緒にゲート絶縁膜61により覆われる。ゲート電極64はこのゲート絶縁膜61により半導体層67から絶縁され、このゲート絶縁膜61上で対応走査線62と一体的に形成される。さらに複数の補助容量線63が複数行の画素電極77にそれぞれ容量結合するようにゲート絶縁膜61上に形成される。ゲート電極64および走査線62、および補助容量線63はゲート絶縁膜61と一緒に層間絶縁膜68により覆われる。コンタクトホール69,70はゲート電極64の両側において半導体層67内に形成されるソース67bおよびドレイン67aを露出するように層間絶縁膜68およびゲート絶縁膜61に形成される。ソースおよびドレイン電極66,65はこれらコンタクトホール69,70において半導体層67のソース67bおよびドレイン67aにそれぞれコンタクトして層間絶縁膜68上に形成される。ソース電極66は層間絶縁膜68上で拡張ソース電極72と一体的に形成され、ドレイン電極65は層間絶縁膜68上で対応信号線71と一体的に形成される。ソース電極66、拡張ソース電極72、ドレイン電極65、および信号線71は層間絶縁膜68と一緒に保護絶縁膜73により覆われる。この保護絶縁膜73は拡張ソース電極72を部分的に露出するコンタクトホール74を有し、有機絶縁膜76により覆われる。有機絶縁膜76は保護絶縁膜73のコンタクトホール74に対応して拡張ソース電極72を部分的に露出するコンタクトホール75を有する。画素電極77はコンタクトホール74,75において拡張ソース電極72にコンタクトして有機絶縁膜76上に形成され、配向膜83により覆われる。
【0045】
複数の画素電極77は対向基板82側から液晶層85を介して入射する光を高い反射率で散乱させる反射領域とバックライトからの光を透過したり吸収したりする透過領域とを兼ね備えており、有機絶縁膜76の上部表面を下地として形成されている。有機絶縁膜76は各々画素領域PXの範囲においてランダムに配置される複数の半球状凸部76aおよびこれら凸部76aを囲むように配置される凹部76bから構成される複数の凹凸パターンを有する。複数の画素電極77の透過領域電極77cは例えばITOからなる透過性導電性膜で形成されている。また、画素電極77の反射領域電極は例えば銀、アルミニウム、あるいはこれらの合金のような金属材料を含み、有機絶縁膜76の凹凸パターンに沿って所定の厚さで形成される。このため、各画素電極77の反射領域は対応画素領域PXの範囲においてランダムに配置されるように有機絶縁膜76の複数の半球状凸部76aによって規定される複数の半球状凸部77aおよびこれら凸部77aを囲んで配置されるように有機絶縁膜の凹部76bによって規定される凹部77bから構成される凹凸パターンを有する。複数の画素電極77の凹凸パターンは図3にA,Bで示す2種類であり、同種の凹凸パターンがこれら画素電極77の行および列方向において隣接しないように配列される。各画素電極の凹凸パターンにおいて、複数の凸部77aは入射光に対する主散乱部を構成し、凹部77bは入射光に対する副散乱部を構成する。
【0046】
次に、上述した半透過型液晶表示装置の製造工程を説明する。
【0047】
アレイ基板78の製造では、高歪点ガラス板や石英板等が絶縁基板60として用いられ、半導体層67が例えばアモルファスシリコンをCVD法などにより50nm程度の厚さで絶縁基板60上に堆積し、450℃で1時間炉アニールを行った後XeClエキシマレーザを照射することによりアモルフアスシリコンを多結晶シリコン膜として結晶化し、さらにこの多結晶シリコン膜をフォトエッチング法でパターニングすることにより形成される。続いて、ゲート絶縁膜61がSiOxをCVD法により100nm程度の厚さで半導体層67および絶縁基板60上に堆積することにより形成される。続いて、ゲート電極64、走査線62、補助容量線63、およびその他の駆動回路用薄膜トランジスタのゲート電極および配線がTa,Cr,Al,Mo,WおよびCuなどの単体又はその積層膜あるいは合金膜をゲート絶縁膜61上に400nm程度の厚さで堆積し、これをフォトエッチング法で所定形状にパターニングすることにより形成される。この後、例えばリンのような不純物がゲート電極64をマスクとして用いたイオン注入やイオンドーピング法で半導体層67にドープされる。ここでは、リンイオンが例えばPH/Hの雰囲気において加速電圧80keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms/cm2という高濃度でドープされる。この後、画素用薄膜トランジスタのドレイン電極65、ソース電極66、および駆動回路用Nチャネル薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極が形成される。
【0048】
続いて、画素用薄膜トランジスタSW、駆動回路用Nチャネル薄膜トランジスタが不純物を注入されないようにレジストで覆われ、例えばボロンのような不純物が駆動回路用Pチャネル薄膜トランジスタのゲート電極をマスクとしてドープされる。ここでは、ボロンイオンが例えばB/Hの雰囲気において加速電圧80keVで加速され、ドーズ量5×1015atoms/cm2という高濃度で注入される。この後、Pチャネル薄膜トランジスタのソース電極およびドレイン電極が形成される。さらに、Nチャネル型薄膜トランジスタSWをLDD(Lightly Doped Drain)構造とするための不純物注入が行われ、不純物注入領域をアニーリングすることにより活性化してソース67bおよびドレイン67aを構成する。
【0049】
続いて、層間絶縁膜68が例えばPECVD法を用いてSを500nm程度の厚さでゲート電極64、走査線62、補助容量線63、その他の駆動回路配線、およびゲート絶縁膜61上に堆積することにより形成される。層間絶縁膜68はフォトエッチング法で半導体層67のソース67bおよびドレイン67aを露出させるようにパターニングされ、これによりコンタクトホール69および70を形成する。
【0050】
続いて、Ta,Cr,Al,Mo,W,Cuなどの単体又はその積層膜あるいは合金膜が500nm程度の厚さで層間絶縁膜68上に堆積され、フォトエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これにより信号線71、ソース電極66、拡張ソース電極72、および駆動回路用の配線を形成する。
【0051】
続いて、保護絶縁膜73がSiNxをPECVD法でこれら配線および層間絶縁膜68上に堆積することにより形成され、コンタクトホール74が保護絶縁膜73をフォトエッチング法でパターニングすることにより形成される。
【0052】
続いて、例えば感光性樹脂が有機絶縁膜76として保護絶縁膜73上に2μm程度の厚さで塗布され、これがコンタクトホール75用フォトマスクを用いてコンタクトホール74に対応する範囲で部分的に露光され、さらに信号線71に重ならないように各画素領域PXの範囲においてランダムなピッチで配置された複数の円形遮光部を持つ凹凸パターン用フォトマスクを用いて露光される。ここで、凹凸パターン用露光量は有機絶縁膜76に形成されるコンタクトホール用の露光量の約10%〜50%に設定される。凹凸パターン用フォトマスクは第1実施形態と同様に図3において太線で示す2×2画素のサイズが繰り返しサイズとなり、凹凸パターンAをパターン位置(1,1)および(2,2)で規定し、凹凸パターンBをパターン位置(2,1)および(1,2)で規定する。
【0053】
続いて、有機絶縁膜76が上述の露光部分を除去するために現像され、これにより複数の凸部76aおよび凹部76bをコンタクトホール75と共に有機絶縁膜76に形成する。この段階では凸部76aおよび凹部76bが鋭角状であるため、アレイ基板78の熱処理が例えば200℃で60分程度行われる。これにより、凸部76aおよび凹部76bの表面が角のとれた滑らかな状態になる。
【0054】
続いて、ITO等の透過性導電性膜がスパッタ法により50nm程度の厚さで有機絶縁膜76上に堆積され、フォトエッチング法で所定の形状にパターニングされ、これにより画素電極77の透過領域77cを形成する。続いて、Al,Ni,Cr,MoおよびAgなどの単体又はその積層膜あるいは合金膜がスパッタ法により200nm程度の厚さで有機絶縁膜76上に堆積され、フォトエッチング法で所定の形状にパターニングされ、画素電極77の反射領域を形成する。画素電極77は拡張ソース領域72にコンタクトし補助容量線63と容量結合する。
【0055】
続いて、複数の柱状スペーサが液晶層85の厚さとなる所定の間隙を確保するために所定領域に形成され、配向膜83が低温キュア型のポリイミドを印刷により画素電極77および有機絶縁膜76を覆うように3μm程度塗布しこれをラビング処理することにより形成される。
【0056】
他方、対向基板82の製造では、高歪点ガラス板や石英板等が光透過性の絶縁基板79として用いられ、顔料などを分散させた着色層80がこの絶縁基板79上に形成される。透明な対向電極81は例えばITOをスパッ夕法で着色層80上に堆積することにより形成される。続いて、配向膜84が低温キュア型のポリイミドを印刷により透明対向電極81を覆うように3μm程度塗布しこれをラビング処理することにより形成される。尚、配向膜83および84のラビング処理は、これらの配向軸が互いに例えば70°ずれる方向に行われる。アレイ基板78および対向基板82は配向膜83および84の形成後に一体化される。具体的には、アレイ基板78および対向基板82が配向膜83および84を内側にして向かい合わされ、周縁シール材を介して貼り合わされる。液晶層85はアレイ基板78および対向基板82間において周縁シール材で囲まれた液晶注入空間をセルとし、ネマチック液晶のような液晶組成物をこのセルに注入し封止することにより得られる。偏光板40はこうして液晶層85がアレイ基板78および対向基板82間に挟持された状態で、着色層80とは反対側において透明絶縁基板79に貼り付けられる。半透過型液晶表示装置は上述のようにして完成する。
【0057】
第3実施形態の半透過型液晶表示装置によれば、反射板が複数の画素電極77により構成され、各画素電極77が凹凸パターンA,Bの一方を持つ。ここで、凹凸パターンA,Bは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。すなわち、隣接する凹凸パターンが複数の画素領域PXの行および列方向の各々において互いに異なるため、これら画素電極77の凹凸パターンA,Bで散乱される光の干渉を全体として不規則にすることができる。このため、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさを低減できる。
【0058】
尚、図3に示すパターン配列は図4、図5に示すパターン配列の変形例に置き換えられてもよい。
【0059】
次に、本発明の第4実施形態に係る半透過型液晶表示装置を説明する。図13はこの半透過型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す。この液晶表示装置は以下のことを除いて第3実施形態と同様に構成される。このため、図13において第3実施形態と同様な部分を同一参照符号で示し、その説明を省略する。
【0060】
この半透過型液晶表示装置では、複数種の凹凸パターンが互いに異なる表示色の画素領域PXの画素電極77にそれぞれ形成され、各凹凸パターンの主散乱部の平均ピッチが対応画素領域PXの表示色の波長に依存する。具体的には、各画素電極77にランダムに配置される複数の凸部76aの平均ピッチが着色層80の対応カラーフィルタ色の波長λに対応して決定される。
【0061】
n列の画素電極77、n+1列の画素電極77、およびn+2列の画素電極77(ここで、n=1,2,3,…)は赤、緑、青のカラーフィルタにそれぞれ対向し、例えば複数の凸部77aが赤画素用の主散乱部として平均ピッチdredでランダムに配置される凹凸パターンR、複数の凸部77aが緑画素用の主散乱部として平均ピッチdgreenでランダムに配置される凹凸パターンG、および複数の凸部77aが青画素用の主散乱部として平均ピッチdblueでランダムに配置される凹凸パターンBを有する。また、凹凸パターンR,G,Bの各々では、凹部が第1実施形態と同様に副散乱部として複数の凸部77aを囲むように配置される。
【0062】
これら平均ピッチdred,dgreen,dblueはカラーフィルタ色の波長λが短いほど短く、カラーフィルタ色の波長λが長いほど長く設定され、dred>dgreen>dblueという関係となる。具体的には、良好な白色表示を行うため、同一方向から入射した白色光が赤、緑、青の画素領域においてそれぞれの波長λに対応して互いに異なる方向に反射され、互いに等しい方向に出射されるように設定される。
【0063】
次に光線軌跡について図17に示すように単種の凹凸パターンが全画素電極に形成される従来の反射型液晶表示装置と図13に示す第4実施形態の半透過型液晶表示装置と比較する。第2実施形態で説明したように、図18は図17に示すXVIII−XVIII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡を示し、図19は図17に示すXIX−XIX線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡はを示す。図18および図19では、nが空気中の屈折率、nが液晶材料の屈折率、θが外部から液晶層に向かう入射光の入射角、θが液晶層で屈折され画素電極に向かう入射光の出射角、θが水平面に対する画素電極の傾き、θが画素電極で反射され液晶層の外部に向かう反射光の出射角をそれぞれ表す。出射角θは入射角θ,傾きθ,屈折率n,および屈折率nに対して次のような関係を持つ。
【0064】
【数2】
Figure 0003892715
【0065】
ここで、液晶材料の屈折率nは一般に短波長の方が大きいため、上式よりθ方向からの入射光に対して、出射角θは波長λが短いほど大きくなる。すなわち、赤色成分光の出射角をθ ( red )、青色成分光の出射角をθ ( blue )とすると、これらはθ ( red )>θ ( blue )という関係になる。従って、図17に示す従来の反射型液晶表示装置のように表示色に関係なく全画素電極に単種の凹凸パターンを形成した場合、反射光の色づきが液晶層に対して斜め方向で観察されてしまうために良好な白色表示を行うことができない。
【0066】
これに対し、図13に示す第4実施形態の半透過型液晶表示装置では、凹凸パターンR,G,Bが赤、緑、および青用の画素領域PXの画素電極77にそれぞれ形成され、凹凸パターンR,G,Bの主散乱部の平均ピッチがそれぞれの画素領域PXの表示色である赤、緑、および青の波長λに依存する。図13に示すVII−VII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡は図7に示すようになり、図13に示すVIII−VIII線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡は図8に示すようになる。図7および図8では、nが空気中の屈折率、nが液晶材料の屈折率、θが外部から液晶層85に向かう入射光の入射角、θが液晶層85で屈折され画素電極77に向かう入射光の出射角、θが水平面に対する画素電極77の傾き、θが画素電極77で反射され液晶層85の外部に向かう反射光の出射角をそれぞれ表す。凸部77aのピッチは図7において図8に示すピッチよりも長い。凸部77aと凹部77bの高低差は上述のピッチによって変化しないが、ピッチが長い方が水平面に対する画素電極77の傾きθの最大値を小さく形成できる。すなわち、画素電極77の傾きθとなるピッチをさらに長くして画素電極77の傾きθ’を得た場合、傾きθおよびθ’はθ’<θという関係になる。ここで、赤色成分光の出射角θ ( red )=青色成分光の出射角θ4(blue)となるように、上式の関係からピッチを表示色毎に選定することで、出射角を表示色に依存しない一律の値にすることができる。これにより、反射光の色づきが液晶層85に対して斜め方向でも観察されることを無くすことができるため、良好な白色表示を行うことができる。
【0067】
凹凸パターン用フォトマスクは第2実施形態で用いた図9において太線で示す1×3画素のサイズを有し、凹凸パターンRをパターン位置(1,1)で規定し、凹凸パターンGをパターン位置(1,2)で規定し、凹凸パターンBをパターン位置(1,3)で規定する。露光は例えば図9に矢印で示すようにこのフォトマスクを画素電極77の行方向に3画素分ずつシフトしながら行われる。この場合、フォトマスクは各行の最終画素電極77に到達する毎に画素電極77の列方向に1画素分シフトされる。
【0068】
第4実施形態の半透過型液晶表示装置によれば、第2実施形態の反射型液晶表示装置と同様の効果が得られる。すなわち、凹凸パターンR,G,Bは同種の凹凸パターンが隣接しないように組み合わされて複数の画素電極77に形成される。これにより、画素電極77の凹凸パターンR,G,Bで散乱される光の干渉を全体として不規則にすることができる。従って、良好なコントラストを損なうことなく光の干渉による画像の見にくさをさらに低減できる。さらに、これら凹凸パターンR,G,Bの主散乱部、すなわち凸部77aの平均ピッチが出射角θを一致させるようそれぞれ赤、緑および青のカラーフィルタの波長λに対応して決定されるため、反射光の色づきが液晶層85に対して斜め方向でも観察されること無く良好な白色表示を行うことができる。
【0069】
尚、図9に示す凹凸パターンの組み合わせおよび配列は図10に示す変形例に置き換えられても良い。この変形例は、第2実施形態で説明したように、赤、緑、青のカラーフィルタがストライプ状の代わりにマトリクス状に配置された場合に適用される。この変形例によれば、画素領域PXの表示色が各列において異なる場合でも上述の第4実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0070】
尚、本発明は上述の実施形態に限定されず、その要旨を逸脱しない範囲で様々変形可能である。
【0071】
例えば第3実施形態の半透過領域77cは図14および図15に示すように有機絶縁膜76の凹凸パターンを部分的に無くすことにより平坦に形成してもよい。さらに、第4実施形態の半透過領域77cについても同様にして図16に示すように平坦にしてもよい。
【0072】
第1から第4実施形態の有機絶縁膜76は各々画素領域PXの範囲においてランダムに配置される複数の半球状凹部およびこれら凹部を囲むように配置される凸部から構成される複数の凹凸パターンを有してもよい。この場合、各画素電極77は対応画素領域PXの範囲においてランダムに配置されるように有機絶縁膜76の複数の半球状凹部によって規定される複数の半球状凹部およびこれら凹部を囲んで配置されるように有機絶縁膜の凸部によって規定される凸部から構成される凹凸パターンを有することになる。従って、各画素電極77の凹凸パターンにおいて、複数の凹部は入射光に対する主散乱部を構成し、凸部は入射光に対する副散乱部を構成する。
【0073】
また、各薄膜トランジスタSWの半導体層67はポリシリコンで構成されたが、アモルファスシリコンで構成することもできる。これだけでなく、本発明は薄膜トランジスタSWのような画素スイッチング素子を持たない単純マトリクス方式の反射型および半透過型液晶表示装置に適用することもできる。
【0074】
また、散乱光の干渉を不規則にするだけで良い場合には、複数種の凹凸パターンが同種の凹凸パターンが複数の画素電極77の行方向および列方向の少なくとも一方で隣接しないように組み合わされることを条件に、各凹凸パターンが1以上の隣接画素領域PX、具体的には1以上の隣接画素電極77に割り当てられても良い。さらに、複数種の凹凸パターンを全て組み合わせる代わりに、例えば4種の凹凸パターンから選択される3種を組み合わせて並べるようにしても良い。
【0075】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、周囲から入射する外光を用いてより高品質な表示画像を得られる液晶表示装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る反射型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す図である。
【図2】図1に示すII-II線に沿った画素付近の断面構造を示す図である。
【図3】図1に示す複数の画素電極に形成される複数種の凹凸パターンの組み合わせおよび配列を示す図である。
【図4】図3に示す凹凸パターンの組み合わせおよび配列の第1変形例を示す図である。
【図5】図3に示す凹凸パターンの組み合わせおよび配列の第2変形例を示す図である。
【図6】本発明の第2実施形態に係る反射型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す図である。
【図7】図6に示すVII-VII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡を示す図である。
【図8】図6に示すVIII-VIII線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡を示す図である。
【図9】図6に示す複数の画素電極に形成される複数種の凹凸パターンの組み合わせおよび配列を示す図である。
【図10】図9に示す凹凸パターンの組み合わせおよび配列の変形例を示す図である。
【図11】本発明の第3実施形態に係る半透過型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す図である。
【図12】図11に示すXII-XII線に沿った画素付近の断面構造を示す図である。
【図13】本発明の第4実施形態に係る半透過型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す図である。
【図14】図11に示す半透過型液晶表示装置の変形例の平面構造を示す図である。
【図15】図14に示すXV-XV線に沿った画素付近の断面構造を示す図である。
【図16】図13に示す半透過型液晶表示装置の変形例の平面構造を示す図である。
【図17】従来の反射型液晶表示装置の部分的な平面構造を示す図である。
【図18】図17に示すXVIII−XVIII線に沿った赤用画素領域の断面での光線軌跡を示す図である。
【図19】図17に示すXIX-XIX線に沿った青用画素領域の断面での光線軌跡を示す図である。
【符号の説明】
76…有機絶縁膜
77…画素電極(反射板)
77a…凸部(主散乱部)
77b…凹部 (副散乱部)
78…アレイ基板
82…対向基板
85…液晶層
PX…画素領域

Claims (6)

  1. 第1および第2電極基板と、前記第1および第2電極基板間に挟持され、液晶分子配列が前記第1および第2電極基板から各々制御される複数の画素領域に区分される液晶層と、前記第2電極基板および前記液晶層を介して入射する光を散乱させるために前記第1電極基板に形成される反射板とを備え、前記複数の画素領域は略マトリクス状であり、前記反射板は同種の凹凸パターンが前記複数の画素領域の行および列方向の少なくとも一方において隣接しないように組み合わされる複数種の凹凸パターンを含み、各凹凸パターンはランダムに配置された複数の主散乱部と、前記複数の主散乱部を囲むように配置された副散乱部とにより構成され、前記複数種の凹凸パターンは互いに異なる表示色の画素領域にそれぞれ割り当てられ、各凹凸パターンの主散乱部の平均ピッチが対応画素領域の表示色の波長に依存することを特徴とする液晶表示装置。
  2. 前記反射板は光を透過させるための光透過部を含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 前記主散乱部が凸部および凹部の一方であり、前記副散乱部が前記凸部および前記凹部の他方であることを特徴とする請求項1または2に記載の液晶表示装置。
  4. 前記反射板は前記複数の画素領域に対応して前記第1電極基板に形成される複数の画素電極により構成され、各凹凸パターンが前記複数の画素電極のうちの対応する少なくとも1つに形成されることを特徴とする請求項1または2に記載の液晶表示装置。
  5. 各凹凸パターンは対応画素電極の下地として形成される有機絶縁膜の形状によって規定されることを特徴とする請求項に記載の液晶表示装置。
  6. 前記複数種の凹凸パターンの組み合わせが前記複数の画素領域において繰り返されるように配列されることを特徴とする請求項1または2に記載の液晶表示装置。
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