JP3822104B2 - 行経路でのパイプライン構造を持ったメモリ - Google Patents

行経路でのパイプライン構造を持ったメモリ Download PDF

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Description

【0001】
【発明の背景】
【発明の分野】
本発明は、DRAMセルコア構造の変形を通して不規則な行アクセスに対して、行アクセスを減少させ、実効バンド幅を向上させるためのDRAM構造に関するものである。特に、順次的なアクセスに対して充分なバンド幅を確保しながら、同時に新しい技術の適用によって、行経路での時間を短縮し、待ち時間を短くするために既存の構造に採用した時、性能の向上があるものとして知られているVCM(Virtual Channel Memory)のチャンネル構造のセルコアアクセス方式を変化させて、行バッファ、デコーダごとのラッチ挿入を通してFCRAM等で使用したものと異なるパイプライン構造を提案して、ランダム行サイクルに対しても高速化を具現するための高速行サイクルが可能なメモリのパイプライン構造に関するものである。
【0002】
【関連技術の説明】
一般的に、DRAMの性能は、大きくバンド幅と待ち時間(Latency)で現すことができる。バンド幅というのは、一回に伝送できる情報の量を示し、これは、伝送される信号の周波数と信号線の個数に比例し、主にDRAMのカラム経路によって決定される。したがって、DRAMは、可能なら高いバンド幅を持つことがよく、こんな理由でDRAMのカラム経路を高速化するために、色々な方法が提案された。一方、待ち時間は、DRAMをアクセスするために特定住所を入力後DRAMからデータが出力されるまでの時間を示し、これは、主にDRAMの行経路により決定する。可能ならデータが早く出力される方がよいので、待ち時間は、短ければ短いほど良い性能を示す。
【0003】
この時、システム内に使用されるDRAMに対するアクセスが順次的な傾向を現す場合には、DRAMの構造的な特性上そのDRAMが現すことができる最大バンド幅を充分に活用できる。しかし、最近のコンピュータシステムは、価格低下のためにシステムメモリをフレームバッファに活用するUMA(Unified Memory Architecture)が提案されており、キャッシュコントローラ、PCIコントローラ、グラフィックコントローラ等、一つのシステム内にメインメモリを直接アクセスするマスタが複数存在するようになった。
【0004】
また、C++のようなモジュール化された形態の言語で開発されたソフトウェア等が多くなり、メモリアクセスの形態が、とても不規則的に現れている。このような場合、DRAMの待ち時間が長ければ、一つのアクセスに対してデータが出力される時間が長く、実際的に有効なバンド幅が大きく減少することになる。故に、バンド幅と一緒に待ち時間が、DRAMの性能を示す時に、とても重要な要素になってきた。
【0005】
しかし、上述したDRAMの待ち時間は、行経路によって決定される。これは、バンド幅に影響を与えるカラム経路に比べて、配線のRC時定数等の物理的な要素により多くの制限を受けており、時間短縮が難しい。
【0006】
したがって、上記のような待ち時間が増加するのを防止するために、または、短縮させるために多くの技術が提案されている。提案された代表的な技術に対して詳しく見てみると、多重バンク及びアクセス順序調整方式と一時バッファ使用方式とアドレス非多重化及び行経路パイプライン方式及びSRAMをDRAM内に一緒に集積する方式をあげられる。
【0007】
まず、多重バンク及びアクセス順序調整方式について見てみると、まず、数個のバンクを置き、お互いに異なるバンク間に連続的なアクセスがある時、バンクインターリービングを通じ、ページミスペナルティーを減少させDRAMをアクセスする順序を調整して実効バンド幅を改善させる構造が提案された。
【0008】
しかし、この構造は、行経路で時間を短縮させ待ち時間を減少させるものではなく、DRAM内部に多くのバンクを置きDRAMアクセス動作を重畳させ全体的に見る時、待ち時間が減ったような効果を見せる方式である。
【0009】
したがって、お互いに異なるバンクにアクセスが発生する場合には、待ち時間が減少する効果が現れるが、同じバンクに対して連続的なアクセスが必要な場合は、既存の待ち時間がそのまま出力に反映される短所があり、さらに数個の内部バンクによって雑音特性が悪化する短所がある。
【0010】
また、上述した従来の代表的な方式中、一時バッファ使用方式は、片側セルコアの構造を変形して行経路で所要される時間を直接減少させ、待ち時間をを減少させるもので、センスアンプに一時データバッファを採用した構造が提案された。
【0011】
上記の一時バッファの使用方式は、一時データバッファを活用して、ビットラインの信号振幅を最小化することによりプリチャージ時間を減らし、データ検出時間を短縮した。行経路にパイプラインの概念を導入して不規則な行アクセスに対する10nsecのサイクル時間を具現した。
【0012】
しかし、上述した一時バッファ使用方式は、まだ概念的なアイデアの段階であり、その運営に他の構造的運営的な諸般技術が下支えされておらず、一時バッファに貯蔵されたデータを再びセルコアに復元する問題及びこれをコントロールするためのコントローラの複雑度等、実際システムに使用する場合には、行待ち時間の速さを効果的に活用できない。また、一時バッファによる面積増加問題も深刻である。
【0013】
また、上述した従来の代表的な方式中、アドレス非多重化及び行経路パイプライン方式について見てみれば、行経路にパイプラインの概念を導入して既存の方式とは違ってアドレス非多重化方式を採択して20nsの行サイクルを具現したものとしてFCRAM(Fast Cycle RAM)がある。
【0014】
上記のアドレス非多重化及び行経路パイプライン方式は、サブ−ワードライン構造を採択し、セルコアのサブブロックの大きさを減らしてセルコアを駆動するドライバの負荷を減らして、ダイレクトセンシング方法等を使用して行経路での時間を短縮させる長所がある。
【0015】
しかし、上述した方式は、セルコアのアクセス時間を減らすためにサブブロックの大きさを非常に小さくし他の付加的な回路も多く追加して全体的に同じ集積度の他のDRAM構造に比べて30〜40%程度の面積が追加的に使用された。一方、アドレスの入力方式に非多重化方式を使用することによって、アドレス入力によるピンの数等、インターフェイス面での既存のシステムと互換性がないため、データ出力方式においても既存のDRAM構造と差異があり、これを現在使用しているシステムに適用するためには、データ出力端に付加的なインターフェイス回路が必要となる欠点がある。
【0016】
最後に、SRAMをDRAM内に一緒に集積する方式があるが、この方式は、前述した三つの方式とは、異なった形態で不規則な行アクセスに対しても充分なバンド幅を確保するためにDRAMにSRAMを集積するものである。これは、基本的にメモリアクセスパターンの時間的、空間的局地性を活用するものであり、共に集積されたSRAMをデータバッファに活用してSRAMとDRAMセルコアの動作を分離させ、同時動作が可能にすることによってページミスによる待ち時間を減らして実効バンド幅を向上させようとする試みでありESDRAM(Enhanced Synchronous DRAM)、CDRAM(Cache DRAM)、Wide CDRAM[6]、VCM(Virtual Channel Memory)がその代表的な例である。
【0017】
上述した色々な方式例の中で順次的なアクセスに対して充分なバンド幅を確保しながら同時に新しい技術の適用により行経路での時間を短縮して短い待ち時間特性を得るために既存の構造に採用した時、性能の向上があるものとして知られているVCM構造の技術背景と特徴に対して簡略に見てみると、VCMは、日本“NEC”社が提案したもので、ESDRAM、CDRAM構造と同様にSRAMバッファをDRAM内部に集積し、これを活用して実効バンド幅を増加させようとする構造である。集積したSRAMバッファを“チャンネル”と言い、ESDRAM、CDRAMの場合と同様にチャンネルを通じてDRAMセルコアの動作とSRAMバッファでの動作を分離させ、ページミスによるプリチャージ時間を隠す。しかし、ESDRAMとCDRAMが集積されたSRAMとDRAMコア間のデータ伝送及び一貫性維持のための制御をDRAM内部に一緒に集積したコントローラを利用して自体的に行なう反面、VCMは、外部からのコントロールによってSRAMとDRAMとのデータ伝送を制御しようとする。
【0018】
したがって、コントロールによるロジック部分がDRAM内部に含まれていないため、比較的構造が簡単でSRAM集積による面積増加は、3%程度であると知られている。外部から適切なコントロールを行なえる場合、SRAM及びDRAMの動作とデータ伝送を最適化して大部分のページミスによる時間遅延を隠すことができる柔軟性がある。
【0019】
一方、各々のメモリマスタが自身だけの行データバッファを割当られ、これを独立的にコントロールできるためシステム内に複数のメモリマスタが存在するシステムに対して適切に対応できる。
【0020】
図1は、従来のVCMの構成の例示図であり、VCM(ESDRAM, CDRAMを含む)は、根本的にセルコアの行経路時間を短縮させるものではなく、SRAMを通じてセルコアでの動作とチャンネル(SRAM)での動作を分離して重畳させ、多くのアクセスをチャンネル(SRAM)で速く処理できるようにして、待ち時間が減るのと同じ効果を利用するものである。
【0021】
つまり、通常的にチャンネルでライトミスが発生した場合(つまり必要なデータが16個のチャンネルに無い場合)16個のチャンネル中,一つを選択してそのデータを捨て、新しいデータを読込む方式もあるが、図1に図示してあるようなVCMでは、可能な一つのチャンネルをアクセスしないで、すぐにセルコアにデータを伝送するためにダミーチャンネルを使用する。
【0022】
この時、ダミーチャンネルの使用方式は、基本的に一旦セルコアで必要なセグメントを読込み、記録しようとするデータを記録した後、再びセルコアに書く方式であり(Read Modified Write 方式)、連続するライトミスの場合または、二つのライトミスが同一のセグメントに対して行なわれた場合には、はじめのライトミスによってデータをダミーチャンネルに読込んだ後、すぐにセルに再書き出しせずに二番目のライトミスデータを記録後、セルに該当セグメントを再び書込む。
【0023】
一方、お互いに異なるセグメントに対してライトミスが発生した場合には、各々に対してセグメントを読込み再書込みする動作が必要である。
【0024】
したがって、前述したようにVCMは、SRAMを通じてセルコアでの動作とチャンネル(SRAM)での動作を分離して重畳させ、多くのアクセスをチャンネル(SRAM)で速く処理できるようにして、待ち時間が減るのと同じ効果を利用するものである。連続的なチャンネルミス等によって連続的にDRAMのセルコアをアクセスしなければならない場合には、図1の場合と同じ概念で既存の長い待ち時間がそのまま出力に現れるようになり、セルコアからすぐにデータが出力されるのではなく、チャンネルを経てデータが外部に出力されるため、かえって既存の構造より待ち時間が長くなることがある。つまり、全体性能がセルコアをアクセスするバックグラウンド動作によって制限される。
【0025】
特に、お互いに異なるセグメントに対してライトミスが連続的に発生した場合、ダミーチャンネルを通じてこれを処理して、一つのライトミスに対して2回ずつセルコアをアクセスしなければならない負担がある。
【0026】
さらに、ダミーチャンネルをアクセスする間には、VCMの構造上、他のバックグラウンド動作を行なうことができないため、連続するライトミスによってバックグラウンド動作が連続しなければならない場合、待ち時間損害は深刻である。
【0027】
一方、一つのセグメント処理のためにVCMでは、全体行を活性化させている。使用するセグメント以外の他の3個のセグメントが次のアクセスに活用される場合には、問題が無いが、メモリアクセス方式の特性上、一緒に活性化された他のセグメントがほとんど活用できないため不必要な電力消費がある。
【0028】
【発明の概要】
本発明は、高速行サイクルのためのメモリのパイプライン構造を提供し、アドレスデコーディング動作とセルコアでの動作を分離して、アドレス多重化方式をそのまま使用して、既存のシステムと互換性を維持できる。また、ライトミスサイクルで2回のセルコアアクセスを1回に減らせ、データ伝送時の感知増幅器の動作を円滑にする方法を提供することを目的とする。
【0029】
本発明の目的は、既存のVCMのチャンネル構造のセルコアアクセス方式を変化させて、行バッファ、デコーダ毎のラッチ挿入によって、FCRAM等で使用するのとは異なるパイプライン構造を提案して、ランダム行サイクルに対しても高速化を具現するための高速行サイクルが可能なメモリのパイプライン構造を提供することである。
【0032】
上記の目的を達成するための本発明のまた他の特徴は、電気信号の論理状態を貯蔵可能な複数個のメモリセルコアが、N個の列とM個の行に配列されているメモリセルアレイと、列または行に配列されている各メモリセルコアのアドレスとビットラインの能動化を通じて該当セルコアに貯蔵されているデータの読出または書込動作を行なえるメモリ構造において、上記メモリセルアレイのワードラインを所定個数ずつ束ねて一つの群を形成し、上記の各群を代表するワードラインをメインワードラインに、上記メインワードラインを除いた残りのワードラインをサブワードラインとし、特定制御システムからアドレスデコーディングデータの入力を受け、これを一時貯蔵するバッファと、上記バッファから出力されるアドレスデコーディングデータから上記制御システムが要請するアドレス行を検出する行検出手段と、入力される上記制御システムが要請するアドレス行に対するデータに対応する上記メインワードラインを駆動するメインワードライン駆動部及び上記行検出手段と上記メインワードライン駆動部間の信号伝達経路上に位置し、アドレスデコーディングの動作とセルコアのアクセス動作を分離するラッチ部、及び上記メモリセルアレイを構成する各セルコアのデータビットラインに連結されている感知増幅器とデータ入出力チャンネル間に具備されており、データ検出動作とデータ伝送の動作を分離させる行バッファを含むところにある。
【0033】
【好ましい実施例の詳細な説明】
本発明の上述した目的と色々な長所は、この技術分野に熟練した人々により、添附した図面を参照し、後述する発明の好ましい実施例からさらに明確になるだろう。
【0034】
まず、本発明で適用しようとする技術的思想に対して見てみると、本発明は、DRAMセルコア構造の変形を通じて不規則な行アクセスに対して、行待ち時間を減少させ実効バンド幅を向上させるために、基本的に既存の構造に採用した時3%程度の小さな面積増加によって充分な大きさのブロック大きさとチャンネルヒット率及び柔軟性を維持し、順次的なアクセスに対して高いバンド幅を持つ性能向上を期待できるVCMのチャンネル構造を使用する。
【0035】
この時、上記VCMのチャンネル構造を使用する基本的な技術的土台上でバックグラウンド動作(セルコアアクセス)により性能が制限を受けるVCMの限界を克服するためにVCMのセルコアアクセス方式を変化させ、行バッファ、デコーダ単位のラッチ挿入によってFCRAM等で使用したのとは異なるパイプライン構造を提案し、ランダム行サイクルに対しても高速化を具現しようとするものである。また、アドレス多重化方式をそのまま採用して外部とのインターフェイス観点で既存のシステムに大きく修正作業することなく使用できる互換性を維持したアドレス入力方式を改善して、アドレスバスの使用効率を増加させようとするものである。
【0036】
一方、サブワードライン構造を使用してDRAMセルコアを部分的に活性化させ、一回に駆動する感知増幅器数を減らし、低消費電力を具現しようとするものである。
【0037】
上述した本発明の技術的思想をもう少し詳しく見るために、VCMの機能をおしひろげて見てみると、初期製品での VCMのチャンネルは、1Kビットの大きさを持っており総17個がDRAMに内蔵されていた。この内16個のチャンネルには、外部からRead・Writeが全て可能であり VCMでは、16Kビット容量の有効なSRAMが集積されていたと言えた。チャンネルは、セルコアのセンスアンプと外部の入出力部間に配置されており、外部またはセルコアにデータ伝送が可能である。
【0038】
セルコアとチャンネル間のデータ伝送は、セルコアが1Kbit単位(この単位をセグメントと言う)に分割され内部の広いバスを通じて一度になされる。現在は、一つの行(4Kbit)が4個のセグメントに分割されている。外部からは、セルコアを直接アクセスできず、必ずチャンネルを通じてのみアクセスが可能である。セルコアとチャンネル間の伝送動作は、バックグラウンド動作と言い、チャンネルと外部のインターフェイスとの伝送動作は、フォアグラウンド(Foreground)動作と言う。
【0039】
フォアグラウンド動作とバックグラウンド(Background)動作は、EDRAM、CDRAMにおけるのと同じ概念で動作が分離できるため、同時に並列で動作することができる。VCMは、上記の説明と同じくセルコアの構造を改善する技術ではなく、SRAMを集積して外部とのインターフェイス方式を改善するものであり、他のメモリ技術(RDRAM,SDRAM方式等)とも結合できる長所がある。
【0040】
16個のチャンネルは、外部のコントローラから動作及び該当チャンネルの特性を独立的にコントロールでき、フルアソシアティブな特性を持っており、システム内に複数のメモリマスタが存在する場合、各メモリマスタに特定チャンネルを割当して各々をコントロールできる。一方、16個のチャンネル以外の1個のチャンネルは、“ダアミーチャンネル”といい、書込動作のための専用チャンネルで、外部からは書込動作だけが行なえる。
【0041】
したがって、本発明では、上述したVCMの諸般技術に次のような技術的特徴を付加した。一番目は、行経路高速化。二番目は、ライトミス処理の変化。最後は、部分活性化である。
【0042】
上述した本発明による付加された技術的特徴を簡略に見てみると、行経路高速化と言うのは、VCM構造は、根本的に行経路を高速化した方式ではなく、SRAMバッファを通じて多くのアクセスをチャンネルで処理できるようにして性能の向上を得る方式であり、全体的な性能がバックグラウンド動作により制限されており、このような制約条件を解消するために本発明では、VCM構造の行経路にパイプラインの概念を導入する。
【0043】
また、本発明で適用する技術中、ライトミス処理の変化技術は、既存のVCMの場合に“Read Modified Write”形態でダミーチャンネルをアクセスするために連続するライトミスが同じセグメントに対するものでなければ、これに対する処理のため、セルコアを2回アクセスするようになる問題点を解消するために、ライトミスサイクルで“Read Modified Write”形態ではなく “Write Through”形態のダミーチャンネルアクセス方式を使用して、ライトミス発生時セルコアアクセスを1回に減少させる。
【0044】
また、本発明で適用する技術中、部分活性化技術は、VCMで現れた不必要な電力消費を減少させるために本発明では、低電力具現のためにセルコアをセグメント単位で部分活性化しようとするものである。
【0045】
以下、添付した図面を参照しながら上述した応用技術が適用されている本発明による好ましい実施例を説明する。
【0046】
図2は、本発明によるメモリの構成例示図である。大きくチャンネル1と部分活性化構造2と行経路におけるパイプライン構造3と行バッファ4及びデータ入出力部5に区分できる。
【0047】
上記の区分構成に対して特徴を見てみると、上記のチャンネル1の大きさは、1Kbitであり集積された個数は16個である。基本的にVCMで言われているチャンネル構造を大きく変形せず使用した構造である。ただし、ダミーチャンネルは、VCMで使用する構造ではなく、本構造では、感知増幅器下に存在する行バッファ4がダミーチャンネルの役割を行なう。
【0048】
また、参照番号2で表示される部分活性化構造は、セルコアからチャンネルに伝送する場合、VCMで全体行を活性化させるのとは異なり、一回に必要なセグメント単位でだけ部分的に活性化させる。この場合、データ検出動作を既存に比べて1/4程度に減らすことができるので不必要に消費される電力を減らせる反面、セルコアアクセスパターンの特性上性能低下は、ほとんどない。ただ、セルコアにサブワードライン構造を使用し、メインデコーダの出力部にラッチを挿入して既存のシステムとアドレス入力面で互換性をそのまま維持しながらもセルコアをセグメント単位で部分的にだけ活性化させられるようになり、XアドレスとYアドレス間の遅延時間であるtRCDは、ないと仮定する。
【0049】
また、参照番号3で表示される行経路でのパイプライン構造に対して見てみると、連続的なセルコアアクセス時間を高速化するために本発明では、行経路にたいしパイプライン構造を採用する。行経路を構成する動作は、アドレス入力及びデコーディング動作とセルコアアクセスを通じたデータ検出及び更新動作、及び次のアクセス準備のためのプリチャージ動作に分けられる。
【0050】
このデータの検出とプリチャージ動作は、セルコアに直接順次的に行なわれる動作であり、二動作の分離が不可能な反面、アドレスデコーディング動作とセルコアの動作は、セルコアとデコーディングロジックを回路的に分離させる場合、動作の重畳が可能である。
【0051】
したがって、本発明では、階層的ワードライン駆動方式によってメインデコーダロジックの出力部にラッチを挿入して、アドレスデコーディングの動作とコアでの動作を分離させた。また、センスアンプ出力端に行バッファを挿入してセルコアとチャンネル間のデータ伝送動作とセルコアアクセス動作を分離させた。
【0052】
また、参照番号4で表示される行バッファは、感知増幅器とチャンネル間に追加的にチャンネルとのデータパスにデータを貯蔵する機能を行ない、上記の行バッファ4を挿入して感知増幅器を通じたデータ検出動作とデータ伝送の動作を分離させ、行経路にパイプラインを構成する。行バッファは、ESDRAMと同様に各バンクのセグメントに対して一つずつ存在し、感知増幅器のすぐ下に位置している。
【0053】
つまり、セルコアからデータをチャンネルに伝送する場合、感知増幅器を通じて検出したデータをチャンネルに伝送する役割を感知増幅器の代わりに行ない、感知増幅器が駆動しなければならない負荷を減らす役割をし、チャンネルデータをセルコアに伝送しなければならない場合には、データ伝送とセルコアの検出動作が同時に進行できるようにデータを前もって貯蔵するバッファの役割をする。
【0054】
一方、外部から直接行バッファをアクセスできる経路をおき、チャンネルでのライトミス時にライターデータバッファとして活用して、VCM構造でのダミーチャンネルと類似した役割を行なう。このためには、行バッファに各ビットをコントロールできるYアドレス デコーダが追加的に必要である。
【0055】
この時、行バッファの構造は、一般的なSRAMセルの構造と同一のもので、インバーターが交差結合された構造である。
【0056】
最後に、参照番号5で表示されるデータ入出力部は、チャンネルでのライトミス状況が発生した場合、外部から直接行バッファをアクセスできるようにデータ経路を設けた。
【0057】
この時、本発明は、DRAMセルコアの構造を改善したもので、データの入出力構成及び他のインターフェイス等は、基本的に変わり無い。したがって、VCMが同一のインターフェイスを維持する長所はそのまま受け継ぎ、本発明もやはり既存のインターフェイスとの互換性をそのまま維持できる。
【0058】
以上で、各主要構成に対する動作特性を詳しく見てきたので、以下では、動作モードによる全体的な動作に対して詳しく見てみることにする。
【0059】
本発明によるメモリの動作を説明するにあたり、本発明によるメモリ構造はVCMのチャンネル構造を使用しており、チャンネルでなされるフォアグラウンド動作はVCMと同一であるのでその詳しい動作説明を省略し、本発明の要旨は、既存のVCMでなされるバックグラウンド動作を改善したものであるから、バックグラウンド動作を中心に説明する。
【0060】
図3(a)ないし図3(c)は、本発明によるセルコアに対する概念例示図であり、一つのメインワードライン(MWL)に対して4個のサブワードライン(SWL)が選択され、各サブワードライン(SWL)は、概念的に1Kビット大きさのセグメントを担当するようになる。
【0061】
ところで、一般的なサブワードライン構造では、メインワードラインが駆動以後すぐ続いて受信ドライバによって選択された一つのサブワードラインを駆動させ始めるが、本発明では、特定のセグメントに対して部分的にセルコアを駆動するために Xアドレスにすぐ続いて入ってくるYアドレスから与えられる情報を利用して(セグメント選択)特定なセグメントに対してだけサブワードラインを駆動させる。
【0062】
一方、Xデコーダであるメイン検出器12の出力端にラッチ13が挿入されており、セルコアのアクセスと以後のX−アドレスバッファ11を通じて流入するXアドレスに対するデコーディング作業を分離させる。
【0063】
つまり、本発明では、Xアドレスメイン検出器12以後に挿入されたラッチ13と階層的なワードライン駆動方式を使用してセルコアを1Kビット大きさのセグメント単位で部分活性化させる。
【0064】
このために本発明構造では、SDRAM、VCM等で使用しているアドレス多重化方式を使用し、既存の入出力インターフェイス構造と互換性を維持して、動作モード時、各アドレスが入力される時間が異なると仮定する。
【0065】
したがって、既存のSDRAMまたはVCM構造では、行選択によるXアドレスが入力された後、tRCD(RAS to CAS遅延)時間後に列選択のためのアドレスを入力する方式を使用しているが、本発明では、Xアドレスの入力後、tRCD時間遅延なしにすぐ続いてYアドレスがコントローラから供給されることを仮定する。
【0066】
ゆえに、セルコアのアクセス過程を時間の変化によって添付した図3bと図3cを参照して説明すれば、まず、参照番号C1で表示されたクロックのエッジからXアドレスをバッファ11に受入れればすぐにアドレスがデコーディングされ、その結果がメイン検出器12出力端に連結されたラッチ13に貯蔵されセルコアアクセスとアドレスデコーディング経路が分離される。
【0067】
一方、ラッチ13に貯蔵されたXアドレス値によってメインワードライン(MWL)が駆動始め、次に、参照番号C2で表示されたクロックのエッジからYアドレスの入力を受けると、4個のセグメント中、部分的に活性化させる部分を判断するためにYアドレスの上位2個のビットをデコーディングして特定なセグメントに対するサブワードライン(SWL)の駆動を活性化させる。
【0068】
したがって、実際セルコアのアクセスは、Yアドレスが入力された以後になる。
【0069】
一方, 既存の構造では、セルコアに対してプリチャージ動作が完了した以後その次のアクセスのためのXアドレスを入力できたが、本発明構造では、Xアドレスによってすぐにセルコアデータに対するアクセスが始まるのではないので、セルコアでプリチャージ動作が行なわれる途中に、次のコアアクセスのためのXアドレスを入力できるようになる(添付図3(c)参照)。
【0070】
以下では、添付図4を参照して読出動作について見てみることにする。
図4は、本発明によるメモリでセルコアの読出動作状態を説明するための例示図である。セルコアからチャンネルにデータを伝送する動作を説明すると次のようになる。
【0071】
セルコアをアクセスするために前に説明した順序によってアドレスが入力されると、Yアドレスが入力された以後、セルコアのアクセスが始まる(S1)。以後、感知増幅器(S/A)によってビットラインに適正な程度の電位差が形成(S2)されると、伝送スイッチを開き検出したデータを感知増幅器すぐ下に位置した行バッファ4に伝送する(S3)。
【0072】
以後、感知伝送スイッチを閉じ感知増幅器と行バッファ4が分離され、セルコアからのデータ更新(セル復元)動作とチャンネルにデータを伝送する動作が各々上記の感知増幅器と行バッファ4を通じて並列的に行なわれる(S4)。 つまり、上記の行バッファ4は、感知増幅器(S/A)が直接チャンネルのデータを更新しなければならない負担を減らす役割をするので、セルコアをアクセスする時間を減少させられる。
【0073】
図5は、本発明によるメモリでセルコアのデータ復元動作状態を説明するための例示図である。前で説明したように行バッファ4によってチャンネルとセルコアの動作が分離され、独立的に行なわれ得る。
【0074】
復元サイクルは、まず、クロックのエッジからデータ復元を行なおうとするチャンネル番号とデータを持ち込んだバンクの位置、該当バンクのセグメント情報を外部のコントローラから入力受け、セルコアアクセスが実行される前にチャンネルのデータを行バッファ4に伝送し始める(S11)。
【0075】
そして、その次のクロックで活性化させるバンクのXアドレスの入力を受け、セルコアアクセスを始める(S12)。 復元サイクルでは、読出サイクルとは異なり、Xアドレス以前に活性化しようとするセグメントに対する情報を前もって得たので、Xアドレス以後Yアドレス入力を待つ必要なしにすぐにメインワードライン(MWL)とサブワードライン(SWL)を順次的に活性化させられる。
【0076】
一方、該当セグメントに対するサブワードライン(SWL)の駆動が終り、セルのデータがビットラインにチャージ割当される時点では、時間的に見る時、チャンネルのデータがすでに行バッファに全て伝送されている状態であり、以後、ビットラインと行バッファを連結してビットラインに行バッファのデータ内容を伝達して感知増幅器(S/A)を活性化させビットラインを駆動する。
【0077】
一方、行バッファ4も回路的に感知増幅器(S/A)の役割を行なうことができるので、感知増幅器(S/A)と行バッファ4間の連結をそのまま維持しておいてビットラインを上記の感知増幅器(S/A)と一緒に駆動すれば、駆動能力が増加することによりセルデータの更新時間を速められる。
【0078】
図6は、本発明によるメモリでセルコアのデータ書込動作状態を説明するための例示図である。チャンネルライトミスサイクルに対して“Read Modified Write”方式ではなく“Write through”方式を使用する。つまり、本発明では、チャネルライトミスが発生した場合、セルコアアクセス動作と外部からライトミスに該当するデータを伝送する動作を並行して行なう。復元サイクルと同じくセルコアアクセスのためにXアドレスを供給する前にデータが書かれていなければならないバンクとセグメント位置、そして、それに該当するYアドレスを供給して、それと一緒に書こうとするデータも一緒に供給して、行バッファに前もって書込んでおく。一方、外部からデータが入力されている間、Xアドレスを受け入れセルコアに対するアクセスを並行して行なう。
【0079】
データ伝送が終わった時点または、バースト長さによってセルコアのデータがビットラインにチャージ割当される時点が過ぎれば、行バッファ4と感知増幅器(S/A)間を連結して上記の行バッファ4に記録されているデータをセルコアに伝送する。
【0080】
以上の説明で本発明は、特定の実施例と関連して図示及び説明したが、特許請求範囲によって示した発明の思想及び領域からはずれない限度内で多様な改造及び変化が可能であるということは、当業界で通常の知識を持った者なら誰でもたやすく理解できることである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 一般的なVCMの構成例示図である。
【図2】 本発明のメモリの概念的構成例示図である。
【図3】 図3(a)ないし図3(c)は、本発明のセルコアに対する概念例示図である。
【図4】 本発明のメモリでセルコアの読出動作状態を説明する例示図である。
【図5】 本発明のメモリでセルコアのデータ復元動作状態を説明する例示図である。
【図6】 本発明のメモリでセルコアのデータ書込動作状態を説明する例示図である。

Claims (1)

  1. 電気信号の論理状態を貯蔵可能な複数個のメモリセルコアがN個の列とM個の行に配列されているメモリセルアレイを備え、
    列または行に配列されている各メモリセルコアのアドレスとビットラインの能動化を通じ、該当セルコアに貯蔵されているデータの読出または書込動作を行なえるメモリ構造において上記のメモリセルアレイのワードラインを所定個数ずつ束ねて一つの群を形成し、上記の各群を代表するワードラインをメインワードラインに、上記メインワードラインを除いた残りのワードラインをサブワードラインとし、
    特定制御システムからアドレスデコーディングデータの入力を受け、それを一時貯蔵するバッファと;
    上記のバッファから出力されるアドレスデコーディングデータから上記の制御システムが要請するアドレス行を検出する行検出手段と;
    入力される上記の制御システムが要請するアドレス行に対するデータに対応する上記のメインワードラインを駆動するメインワードライン駆動部と;
    上記の行検出手段と上記のメインワードライン駆動部間の信号伝達経路上に位置し、アドレスデコーディングの動作とセルコアのアクセス動作を分離するラッチ部とを含む行経路でのパイプライン構造と、
    上記のメモリセルアレイを構成する各セルコアのデータビットラインに連結されている感知増幅器と
    前記メモリセルアレイとともに集積配置された外部からのアクセスが可能な複数のチャンネルを構成するSRAMバッファと、
    前記感知増幅器と前記SRAMバッファとの間に備えられ、データ検出動作とデータ伝送の動作を分離させる行バッファとをさらに備え、
    前記複数のチャンネルのうちライトミスが生じた場合には、ダミーチャネルとして前記行バッファが用いられる、行経路でのパイプライン構造を持ったメモリ。
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