JP3812578B2 - 排ガス浄化触媒及び同触媒用酸素吸蔵材 - Google Patents

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本発明は排ガス浄化触媒及び同触媒用酸素吸蔵材に関するものである。
エンジン排ガス中のHC(炭化水素)、CO(一酸化炭素)及びNOx(窒素酸化物)を浄化する三元触媒等の排ガス浄化触媒では、Pt、Pd、Rh等の触媒貴金属がサポート材に担持されている。これら触媒貴金属の担持量を多くすると、触媒の浄化性能は向上するが、貴金属が排ガスの熱によってシンタリングして浄化性能が低下するという問題があり、さらにコスト高にもなる。従って、触媒貴金属をサポート材に対して高分散に配置することが触媒開発の重要な課題になっている。
この触媒貴金属の高分散化手段として、特許文献1には、ハニカム状担体のセル壁表面に、Ce、Zr及びNdを含有しさらに触媒貴金属としてのRhを結晶格子又は原子間に配置した複酸化物よりなる酸素吸蔵材と活性アルミナとを含む触媒層を形成すること、この酸素吸蔵材のRhを除く組成をZr0.79Ce0.19Nd0.022とし、そのRh量を0.486質量%とすることが記載されている。すなわち、Rhを複酸化物の結晶格子又は原子間に配置することによって、その高分散化を図るとともに、シンタリングを生じ難いようにするというものであり、さらに、複酸化物内部に存在するRhが該複酸化物の酸素吸蔵特性を改善するというものである。
また、上記特許文献1には、Ndを含まないCe−Zr複酸化物に関して、ZrO2成分比率に着目して触媒の浄化性能を評価すると、ZrO2成分比率を20〜30質量%又は65〜90質量%にすることが好ましいことも記載されている。
特開2004−174490号公報
本発明者は、触媒貴金属のシンタリング防止、触媒のコスト低減の観点から、上述の如き複酸化物に関して、その結晶格子又は原子間に配置する触媒貴金属量を少なくする方向でさらに研究を進めた。しかし、触媒貴金属は複酸化物表面に現れていることが触媒の排ガス浄化性能を高める上で重要であるところ、触媒貴金属量が少なくなると、複酸化物表面に現れる触媒貴金属が少なくなる。そのような状態において、当該複酸化物が排ガスの熱によって粒成長を起こすと、触媒貴金属が粒成長した複酸化物内部に埋もれ、排ガス浄化性能が大きく低下するという問題がある。
すなわち、本発明の課題は、触媒貴金属を結晶格子又は原子間に配置した複酸化物の熱による粒成長を抑制し、少ない触媒貴金属量でも高い排ガス浄化性能を長期間にわたって維持できるようにすること、併せて触媒のコスト低減を図ることにある。
本発明者は、Ce、Zr、Nd及び触媒貴金属を含有する複酸化物において、上記課題の解決に、そのCeO2/ZrO2質量比及びNd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が重要であることを見いだし、本発明を完成するに至った。
すなわち、請求項1に係る発明は、ハニカム状担体のセル壁表面に、CeとZrとを含有するとともに、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置された酸素吸蔵放出能を有する複酸化物と、活性アルミナとを含む触媒層が形成された排ガス浄化触媒であって、
上記複酸化物は、さらにNdを含有し、CeO2/ZrO2質量比が1.4以上であるとともに、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が3質量%以上20質量%以下であることを特徴とする。
また、請求項2に係る発明は、
CeとZrとを含有するとともに、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置された複酸化物よりなり、ハニカム状担体のセル壁表面の触媒層に含ませる排ガス浄化触媒用酸素吸蔵材であって、
さらにNdを含有し、CeO2/ZrO2質量比が1.4以上であるとともに、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が3質量%以上20質量%以下であることを特徴とする。
これら発明の場合、上記複酸化物は、そのCeO2/ZrO2質量比が1.4以上と大きいため、CeO2結晶を生成し易く、このCeO2結晶相とCeZr複酸化物結晶相との2相、或いはCeO2結晶相とCeZr複酸化物、その他の酸化物結晶相との混合相となり易く、加熱されても、それら相異なる結晶相同士が互いに障壁となるため粒成長することが抑制される。但し、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が大きくなると、CeO2の結晶化度が低くなり、粒成長し易くなることから、本発明では当該比率を20質量%以下としている。
よって、本発明によれば、上述の如く複酸化物の粒成長が抑制される結果、該複酸化物の表面に現れている触媒貴金属が複酸化物内部に埋もれることが少なくなり、長期間にわたって良好な酸素吸蔵特性及び良好な排ガス浄化性能が維持される。
上記Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率は12質量%以下であることが上記粒成長を抑制する上でさらに好ましい(請求項3,4)。
以上のように本発明によれば、触媒層に含まれる酸素吸蔵材としての複酸化物がCe、Zr及びNdを含有し、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置されたものであり、CeO2/ZrO2質量比が1.4以上であるとともに、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が3質量%以上20質量%以下であるから、高温の排ガスに晒されたときの粒成長が抑制され、少ない触媒貴金属量であっても長期間にわたって良好な排ガス浄化性能を維持する上で有利になる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1には本発明に係る自動車のエンジンの排ガス浄化触媒1が示されている。この触媒1は、排ガス流れ方向に貫通する多数のセル3を有する多孔質のモノリス担体(ハニカム状担体)2を有し、図2に示すように、各セル壁5の表面に、排ガス浄化用の触媒層6が形成されている。
触媒層6は、Ce、Zr及びNdを含有し、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置され、且つCeO2/ZrO2質量比が1.4以上、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が20質量%以下の酸素吸蔵放出能を有する複酸化物と活性アルミナとバインダとによって形成されている。
なお、上記複酸化物及び活性アルミナにはさらに上記触媒貴金属と同一の又は異なる触媒貴金属を担持させるようにしてもよく、また、本発明は、セル壁5の表面に上記触媒層6と、該触媒層とは配合の異なる他の触媒層とを層状に形成する場合もある。
以下、上記CeO2/ZrO2質量比及びNd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率の策定について触媒層6に関する実施例及び比較例に基いて説明する。
<CeO2/ZrO2質量比の策定>
−実施例1,2,比較例1,2−
表1に示す成分含有率となる(Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率は10質量%の一定、CeO2/ZrO2質量比が異なる)ように、オキシ硝酸ジルコニウム、硝酸セリウム、硝酸ネオジム及び硝酸ロジウム溶液(0.8294質量%)各々の所定量と水とを混合して合計300mLとし、この混合溶液を室温で約1時間撹拌した。この混合溶液を80℃まで加熱昇温させた後、この混合溶液に28%アンモニア水50mLを一気に加えて1秒以内に攪拌混合し反応を終了させた。アンモニア水の混合により白濁した溶液を一昼夜放置し、生成したケーキを遠心分離器にかけ、十分に水洗した。この水洗したケーキを約150℃の温度で乾燥させた後、400℃の温度に5時間保持し、次いで500℃の温度に2時間保持するという条件で焼成した。
Figure 0003812578
以上により得られた実施例1,2及び比較例1,2の各複酸化物は、原料溶液にRh成分を添加して共沈法により生成されているから、Rhは、CeやZrと同じく当該複酸化物の結晶格子に配置され、換言すれば、当該複酸化物に強く結合した状態になる。あるいはRhは当該複酸化物の原子間に配置された状態になる。いずれにしても、Rhが複酸化物の表面及び内部において均一に分散した複酸化物となる。当該複酸化物におけるRh量は0.1116質量%である。
上記各複酸化物について、これに活性アルミナ、バインダ(第一稀元素社製 ジルコゾールAC-7)及び水の所定量を混合することによりスラリーを調製し、これにコージェライト製ハニカム担体を浸漬して引き上げ、余分なスラリーを吹き飛ばした後、500℃の温度に2時間保持する焼成を行なうことにより、実施例1,2,比較例1,2の各触媒を得た。これら触媒に対しては、大気雰囲気において1000℃の温度に24時間保持するエージングを行なった。
上記担体は、直径25.4mm、長さ50mm、1平方インチ(約6.54cm2)当たりのセル数400、相隣るセルを隔てる壁厚4ミル(約0.1mm)である。また、上記各触媒における担体1L当たりのRh担持量は0.125gである。
−触媒性能評価−
モデルガス流通反応装置及び排ガス分析装置を用いて、上記実施例及び比較例の各触媒(上記エージング後のものをモデルガス流通反応装置に取り付け、空燃比リッチのモデルガス(温度600℃)を10分間流した後のもの)のHC、CO及びNOxの浄化に関するライトオフ温度T50及び高温浄化率C500を測定した。T50は、触媒に流入するモデルガス温度を常温から漸次上昇させていき、浄化率が50%に達したときの触媒入口のガス温度である。C500は触媒入口ガス温度が500℃のときの浄化率である。モデルガスは、A/F=14.7±0.9とした。すなわち、A/F=14.7のメインストリームガスを定常的に流しつつ、所定量の変動用ガスを1Hzでパルス状に添加することにより、A/Fを±0.9の振幅で強制的に振動させた。空間速度SVは60000h-1、昇温速度は30℃/分である。
結果を図3に示す。T50をみると、HC、CO及びNOxいずれの浄化に関しても実施例触媒の方が比較例触媒よりも低くなっている。また、HC、CO及びNOxのC500に関しても、実施例触媒の方が比較例触媒よりも高くなっている。
そうして、同図から、CeO2/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率が50質量%よりも高くなると、すなわち、CeO2/ZrO2質量比が1.25/1よりも大きくなると、T50及びC500のいずれも良好になることが推察され、特にCeO2/ZrO2質量比を1.4/1以上すれば、触媒の低温活性の向上及び高温浄化率の向上の有利であることがわかる。また、同図によれば、CeO2/ZrO2質量比が3/1であるときに最も良い結果を示しているが、3/1よりも大きくなっても、T50及びC500の性能は飽和状態になると認められ、また、ZrO2比率が小さくなると、触媒の耐熱性が低くなってくることから、CeO2/ZrO2質量比の上限は5/1程度、さらには4/1程度とすることが好ましい。なお、上記質量比を1.4/1以上3/1以下にすれば、良好な結果が得られることは図3から明らかである。
<Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率の策定>
−実施例1,3〜5,比較例3,4−
図3によれば、CeO2/ZrO2質量比を3/1としたときが最も良い結果を示したことから、今度は表2に示す成分含有率となる(CeO2/ZrO2質量比は3/1で一定、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率が異なる)ように、先の実施例及び比較例と同じ方法で実施例1,3〜5及び比較例3,4の各複酸化物を調製し、さらにそれら複酸化物を用いて触媒を調製した。また、それら触媒には先と同じエージングを行なった。
Figure 0003812578
−触媒性能評価−
そうして、上記エージング後の各触媒について先と同じ方法でT50及びC500を測定した。結果を図4に示す。
同図によれば、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)比率(以下では、Nd23比率という。)が3質量%及び10質量%のときにT50及びC500が共に良い結果を示している。従って、Nd23比率を3質量%以上10質量%以下にすると良いことは明らかである。また、Nd23比率が0質量%よりも大きくなるにつれて、10質量%まではT50は低下する傾向に、C500は上昇する傾向にあり、その後はT50は上昇に、C500は低下に転じているが、該比率が12質量%程度のときにT50及びC500は0質量%と略同じ程度若しくはこれよりも良い結果を示すと認められることから、その比率を12質量%以下にすることが好ましいということができる。
また、上記評価では、上記Nd23比率が12質量%を越えて大きくなると、T50及びC500は該比率が0質量%の場合よりも悪化しているが、次に示すXRD(X線分析)結果から、当該比率20質量%までは触媒の耐熱性を向上させる効果が得られると認められる。
−XRD−
実施例1〜3,5及び比較例1,2の各複酸化物について、XRDにより、フレッシュ時及びエージング(大気雰囲気で1000℃の温度に24時間保持)後の構造解析を行なった。図5〜図10各々の(a)はフレッシュ時のXRDチャート、(b)はエージング後のXRDチャートである。
図5(実施例1;CeO2/ZrO2質量比=3/1,Nd23比率=10質量%)、図6(実施例2;CeO2/ZrO2質量比=1.4/1,Nd23比率=10質量%)、図7(実施例3;CeO2/ZrO2質量比=3/1,Nd23比率=3質量%)によれば、これら実施例の複酸化物は、フレッシュ時(各図(a)参照)においてCeO2結晶と他の酸化物結晶との混合相になっている。従って、それらは、加熱されても、相異なる結晶相同士が互いに障壁となって粒成長することが抑制され、当該複酸化物表面に露出している触媒貴金属としてのRhの埋没が少ないということができる。しかも上記エージング後(各図(b)参照)でも、結晶の組成の変化は見られるものの、混合相になっており、耐熱性が高いことがわかる。
これに対して、図9(比較例1;CeO2/ZrO2質量比=1/1,Nd23比率=10質量%)及び図10(比較例2;CeO2/ZrO2質量比=1/3,Nd23比率=10質量%)によれば、これら比較例1,2の複酸化物は、フレッシュ時及びエージング後のいずれにおいてもCeZrNdO2結晶の単相となっている。これは、CeO2/ZrO2質量比が小さいためと考えられ、粒成長し易く、触媒貴金属としてのRhが複酸化物粒子内に埋没し易いということができる。
これら図5〜図7、図9及び図10のXRD結果は図3及び図4に示す結果と符合する。
一方、図8(実施例5;CeO2/ZrO2質量比=3/1,Nd23比率=20質量%)をみると、この実施例5の複酸化物の場合、フレッシュ時(同図(a)参照)にはCeZrO2結晶の単相であるが、エージング後(同図(b)参照)にはCeO2結晶とCe0.5Zr0.25Nd0.251.875結晶の二相に分かれている。従って、この分相により、実施例1〜3と同じく粒成長が抑制され、Rhが当該複酸化物内部に埋没することが少なく、耐熱性が高いということができる。
すなわち、CeO2/ZrO2質量比が3/1である実施例1,3,5に関して、CeO2結晶の2θ=28.5゜付近に現れているピークの半価幅をみると、Nd23比率=3質量%の実施例3ではフレッシュ時が0.610゜、エージング後が0.413゜と、半価幅が最も小さくその結晶化度が高い、つまり粒成長を生じ難くなっている。
そうして、図8の実施例5のようにNd23比率が大きくなると、上記半価幅が広くなり、CeO2結晶の結晶化度が低くなっているが、エージングによって上述の如き分相を生じていることから、Ce、Zr、Nd及び触媒貴金属を含有する複酸化物において、Nd23比率20質量%程度までは、CeO2/ZrO2質量比を大きくすることにより混合相を得てその耐熱性を高める(粒成長を抑制する)という本発明特有の効果が得られるということができる。
本発明に係る排ガス浄化触媒の斜視図である。 同触媒の一部を拡大して示す断面図である。 触媒のCeO2/ZrO2質量比とT50及びC500との関係を示すグラフ図である。 触媒のNd23比率とT50及びC500との関係を示すグラフ図である。 本発明の実施例1に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。 本発明の実施例2に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。 本発明の実施例3に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。 本発明の実施例5に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。 比較例1に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。 比較例2に係る複酸化物のフレッシュ時及びエージング後のXRDチャート図である((a)がフレッシュ時,(b)がエージング後)。
符号の説明
1 排ガス浄化触媒
2 担体
3 セル
5 セル壁
6 触媒層

Claims (4)

  1. ハニカム状担体のセル壁表面に、CeとZrとを含有するとともに、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置された酸素吸蔵放出能を有する複酸化物と、活性アルミナとを含む触媒層が形成された排ガス浄化触媒であって、
    上記複酸化物は、さらにNdを含有し、CeO2/ZrO2質量比が1.4以上であるとともに、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が3質量%以上20質量%以下であることを特徴とする排ガス浄化触媒。
  2. CeとZrとを含有するとともに、その結晶格子又は原子間に触媒貴金属が配置された複酸化物よりなり、ハニカム状担体のセル壁表面の触媒層に含ませる排ガス浄化触媒用酸素吸蔵材であって、
    さらにNdを含有し、CeO2/ZrO2質量比が1.4以上であるとともに、Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が3質量%以上20質量%以下であることを特徴とする排ガス浄化触媒用酸素吸蔵材。
  3. 請求項1において、
    上記Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が12質量%以下であることを特徴とする排ガス浄化触媒。
  4. 請求項2において、
    上記Nd23/(CeO2+ZrO2+Nd23)の比率が12質量%以下であることを特徴とする排ガス浄化触媒用酸素吸蔵材。
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