JP3768711B2 - 樹脂パッケージ型ledの検査方法および検査装置 - Google Patents

樹脂パッケージ型ledの検査方法および検査装置 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本願発明は、LED素子が樹脂パッケージ内に封入された形態を有する樹脂パッケージ型LEDの検査(導通チェックおよびLEDの発光色の判定、好ましくは樹脂パッケージの樹脂色の判定)を行う方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、LEDなどの電子部品の製造過程においては、電子部品が所望通り駆動するか否かといった性能検査が行われている。たとえば、樹脂パッケージ型として構成されたLEDでは、LEDに電流を印加することによって、いわゆる導通チェックが行なわれている。この導通チェックでは、LEDが発光するか否か、あるいはグランドやカソード側を流れる電流の大小を調べるといった極めて単純な判定方法によって、LEDの駆動状態(ワイヤボンディングやダイボンディングの状態)の検査が行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、LEDでは、赤、橙、緑などといったように、種々の発光色のものが製造されている。これらの発光色は、LED素子自体の発光色や樹脂パッケージの樹脂色に依存するが、LEDが、所定以上の強度をもって所望色の光を発するか否かの判定、あるいは樹脂パッケージの樹脂色自体の判定は、通常、人手によって行われている。すなわち、作業者の目視によってLEDの発光色や樹脂パッケージの樹脂色の判定が行われている。
【0004】
このため、LEDが所望色の光を発するか否かの判定に対する作業者の負担が大きく作業効率が悪いばかりか、作業者毎に判定の基準にバラツキがあった。すなわち、作業者の目視に頼るのでは、作業者が大きな負担を強いられるわりには、明確かつ適切な判定を行うことが困難である。
【0005】
本願発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、作業効率良く、しかも明確かつ適切にLEDの発光色や樹脂パッケージの樹脂色の判定が行えるようにすることをその課題としている。
【0006】
【発明の開示】
上記の課題を解決するため、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
【0007】
すなわち、本願発明の第1の側面では、樹脂パッケージ内にLED素子が封入された形態を有する樹脂パッケージ型LEDを検査する方法であって、上記樹脂パッケージ型LEDを発光させることによって導通チェックを行いつつ、このときの上記樹脂パッケージからの光を分光して波長分布を算出し、この波長分布に基づいて上記樹脂パッケージ型LEDの発光色を判定するとともに、上記波長分布に基づいて、上記樹脂パッケージの樹脂色の判定をさらに行なうことを特徴とする、樹脂パッケージ型LEDの検査方法が提供される。
【0008】
一方、本願発明の第2の側面では、樹脂パッケージ内にLED素子が封入された形態を有する樹脂パッケージ型LEDを検査する装置であって、電流を印加して上記樹脂パッケージ型LEDを発光させ、上記樹脂パッケージ型LEDの導通チェックを行う発光手段と、上記樹脂パッケージ型LEDからの光を分光する分光手段と、分光された光から波長分布を算出し、この波長分布に基づいて上記樹脂パッケージ型LEDの発光色を判定する判定手段と、を備えており、上記判定手段は、上記樹脂パッケージの樹脂色の判定をさらに行なうことを特徴とする、樹脂パッケージ型LEDの検査装置が提供される。
【0009】
本願発明では、樹脂パッケージ型LEDからの光を分光して得られる波長分布から、LEDの発光色が判定されるようになされている。もちろん、波長分布からLEDの発光強度を判定することもできる。そして、このような判定は、LEDの駆動状態の検査を行う導通チェックにおいて、LEDに電流を印加して発光させた際に、同時に行われている。すなわち、導通チェックの際にLEDが発光するのを利用して、発光強度を含めたLEDの発光色の判定が行なわれている。このように、本願発明では、LEDの発光色の判定を別工程として行うことなく、導通チェックと同時に行うようになされているため、LEDを検査する際の作業効率が改善される。また、発光色の判定が波長分布に基づいて行われることから、判定の基準が明確となって適切な判定を行うことができる。
【0010】
なお、LEDの導通チェックは、上記したようにLEDが発光するか否か(発光強度)によって、あるいはカソード側を流れる電流の大小に基づいて行なわれる。
【0012】
上記したように、LEDの発光色は、このLEDを発光させたときの光を分光して得られる波長分布から判定されている。このときに得られる波長分布には、樹脂パッケージ内での波長の変化も含まれていることから、当該波長分布から樹脂パッケージの樹脂色の判定をも同時に行なうことは可能である。このように本願発明では、樹脂パッケージの樹脂色の判定を、基準化された波長分布に基づいて、導通チェックやLEDの発光色の判定と同時に行なうことができるため、適切かつ効率良くLEDに関する種々の検査を行なうことができる。
【0013】
もちろん、樹脂パッケージの樹脂色の判定は、導通チェックとは別にこれに前後して行なってもよい。すなわち、導通チェックの前後において、LEDの表面に光を照射し、このときの反射光を調べることによって樹脂パッケージの樹脂色の判定を行なってもよい。なお、この判定は、LEDの発光色の判定と同様に、樹脂パッケージ表面での反射光を分光し、波長分布を調べることによって行なうことができ、LEDの発光色用判定システム(判定手段)を使用して行なうことができる。
【0014】
好ましい実施の形態においてはさらに、上記した波長分布の算出は、樹脂パッケージからの光を分光したものを撮像し、これを画像処理することによって行われる。
【0015】
本願発明では、樹脂パッケージからの光(樹脂パッケージの透過光および樹脂パッケージ表面での反射光)をカメラなどの適宜の手段によって撮像し、これをコンピュータなどを用いて画像処理することによって波長分布が算出される。このように、本願発明では、人手に頼ることなく、自動的にLEDの発光色、場合によっては樹脂パッケージ色の判定が行われるため、検査効率が著しく改善される。
【0016】
なお、発光手段は、たとえば1または複数のプローブを有するテスターなどによって実現され、分光手段は、たとえば分光器によって実現され、判定手段は、たとえばコンピュータ(CPUやROMなど)によって実現される。
【0017】
本願発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の好ましい実施の形態を、図1および図2を参照して具体的に説明する。なお、図1は、樹脂パッケージ型LEDの一例を表す断面図であり、図2は、樹脂パッケージ型LEDの検査方法および検査装置を説明するための概略構成図である。
【0019】
図1のLED1は、一対のリードピン14,15を有しており、一方のリードピン14の上端に反射皿14aが形成され、この反射皿14aの凹部中央底面にLED素子11が導電性ペーストを用いてダイボンディングされている。また、他方のリードピン15の上端は、LED素子11の上面とワイヤ13を介して電気的に接続されている。そして、LED素子11およびワイヤ13を封止するようにしてエポキシ樹脂などによって樹脂パッケージ10が形成されている。
【0020】
このように構成されたLED1は、たとえば図2に表されたリードフレーム4を用いて製造される。このリードフレーム4は、長手方向に延びるサイドフレーム40から、一対のリード部14A,15Aが複数組設けられた構成とされているとともに、一方のリード部14Aの先端部には反射皿14aが設けられている。このリードフレーム4においては、既存のダイボンディング装置を用いて、各反射皿14aに銀ペーストなどを介してLED素子11が連続的にダイボンディングされるとともに、既存のワイヤボンディング装置によって、LED素子11と他方のリード部15Aの先端部との間が、金線ワイヤ13などによって接続される。さらに、LED素子11および金線ワイヤ13を封止するようにして、所定の金型を用いた樹脂成形によって樹脂パッケージ10が形成され、リードフレーム4に対してLED1の構成要素が一通り造り込まれる。最終的には、隣り合うリード部14A,15Aの間および各リード部14A,15Aとサイドフレーム40との間が切断され、図1に示したような個々のLED1が得られる。
【0021】
このようにして製造されるLED1では、リードフレーム4に対してLED1の構成要素が一通り造り込まれた状態において種々の検査、たとえば導通チェック、LED1の発光色および樹脂パッケージの樹脂色の判定が行なわれる。具体的には、図2に良く表れているように、カソード側である一方のリード部14Aがサイドフレーム40に繋がり、隣り合うリード部14Aおよびリードピン15が分離された状態において種々の検査が行なわれる。すなわち、アノード側であるリードピン15に電流を印加した場合には、ワイヤ13を介してLED素子11に電流が供給されてLED素子11が発光させられるとともに、一方のリード部14Aないしサイドフレーム40がグランドとなるような状態とされている。
【0022】
このような状態とされたLED1の検査には、判定装置2およびテスター3を備えた検査装置が用いられる。判定装置2は、レンズ20、分光器21、カメラ22およびコンピュータ23を有しており、テスター3は、一対のプローブ30を有している。
【0023】
テスター3では、各々のプローブ30を、リードピン15および一方のリード部14Aに接触させることによってLED素子11に電流が供給される。このとき、LED素子11が発光させられるとともに、カソード側を流れる電流の値がテスター3において調べられる。すなわち、テスター3によって、LED1の導通チェックが行なわれる。一方、判定装置2では、LED1からの光がレンズ20において受光・集光され、分光器21において分光される。この分光状態はカメラ22において撮像され、たとえばCPUやROMなどを備えたコンピュータ23において、分光状態から波長分布が算出されるとともに、この波長分布にい基づいてLED1の発光色および樹脂パッケージ10の樹脂色が判定される。
【0024】
すなわち、LED1からの光には、樹脂パッケージ10を透過したLED素子11からの光と、樹脂パッケージ10内部での波長変化が含まれることから、得られた波長分布には、LED1の発光色を表す波長域や、樹脂パッケージ10の樹脂色の判定を行なうための波長域があり、また各波長の強度も同時に得られる。このため、波長分布に基づいて、発光強度を含めたLED1の発光色を判定することができ、また樹脂パッケージ10の樹脂色が緑色などのように短波長のものであるか否かの判定において、赤色などの長波長のものとなっている場合の判定が可能である。しかも、従来より行なわれていた導通チェックにおけるLED1の発光を利用してLED1の発光色と樹脂パッケージ10の樹脂色の判定が行なわれるようになされており、検査効率の改善を図ることができる。また、発光色や樹脂色の判定が従来の導通チェックの処理速度を落とすことなく自動で高速に行なえるばかりか、明確な基準である波長分布に基づいて判定が行なわれているため、人手に頼ることなく、的確かつ効率よく発光色や樹脂色の判定を行なうことができる。
【0025】
なお、本実施形態では、個々のLED1がリードフレーム4から分離されていない状態において検査が行なわれる場合について説明したが、LED1が個々に分離された状態において検査を行なう場合についても、本願発明を適用可能である。
【0026】
また、樹脂パッケージ10の樹脂色の判定を、導通チェックを行なう前後においてLED1に光を照射し、このときの反射光の波長を調べることによって行なってもよい。反射光の波長は、反射光を分光し、これを撮像して波長分布を得るといった方法によって測定することができ、この場合には、上記した判定装置2を使用して樹脂パッケージ10の表面での反射光の波長から樹脂色を判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】樹脂パッケージ型LEDの一例を表す断面図である。
【図2】樹脂パッケージ型LEDの検査方法および検査装置を説明するための概略構成図である。
【符号の説明】
1 樹脂パッケージ型LED
10 樹脂パッケージ(LEDの)
11 LED素子(LEDの)
2 判定装置
21 分光器(分光手段としての)
23 コンピュータ(判定手段としての)
3 テスター(発光手段としての)

Claims (3)

  1. 樹脂パッケージ内にLED素子が封入された形態を有する樹脂パッケージ型LEDを検査する方法であって、
    上記樹脂パッケージ型LEDを発光させることによって導通チェックを行いつつ、このときの上記樹脂パッケージからの光を分光して波長分布を算出し、この波長分布に基づいて上記樹脂パッケージ型LEDの発光色を判定するとともに、
    上記波長分布に基づいて、上記樹脂パッケージの樹脂色の判定をさらに行なうことを特徴とする、樹脂パッケージ型LEDの検査方法。
  2. 上記波長分布の算出は、上記樹脂パッケージからの光を分光したものを撮像し、これを画像処理することによって行われる、請求項1に記載の樹脂パッケージ型LEDの検査方法。
  3. 樹脂パッケージ内にLED素子が封入された形態を有する樹脂パッケージ型LEDを検査する装置であって、
    電流を印加して上記樹脂パッケージ型LEDを発光させ、上記樹脂パッケージ型LEDの導通チェックを行なう発光手段と、
    上記樹脂パッケージ型LEDからの光を分光する分光手段と、
    分光された光から波長分布を算出し、この波長分布に基づいて上記樹脂パッケージ型LEDの発光色を判定する判定手段と、を備えており、
    上記判定手段は、上記樹脂パッケージの樹脂色の判定をさらに行なうことを特徴とする、樹脂パッケージ型LEDの検査装置。
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US7023554B2 (en) 2003-11-14 2006-04-04 Test Coach Corporation Method and apparatus for determining a color and brightness of an LED in a printed circuit board
US7265822B2 (en) 2004-10-01 2007-09-04 Test Coach Corporation Method and apparatus for determining presence of a component in a printed circuit board
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