JP3703942B2 - LCD panel inspection equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの良否を検査する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
長方形の形状を有する液晶表示パネルの1つとして、長方形の隣り合う2つの辺に対応する2つの縁部のそれぞれに複数の電極を備えたいわゆる片タブ方式のものがある。
【0003】
このような片タブ方式の液晶表示パネルを検査する装置は、一般に、検査すべき液晶表示パネルと相似形の開口を有する板状のベース部材と、該ベース部材の隣り合う2つの辺に対応する部位に支持された複数のプローブブロックとを備えたプローブユニットと、液晶表示パネルを受けるワークテーブルを備えた検査ステージ(測定ステージ)とを用いている。
【0004】
各プローブユニットには、複数のプローブが組み付けられている。各プローブは、液晶表示パネルの表示面に対し角度を有する状態に伸びており、また検査時に液晶表示パネルの電極に押圧される。
【0005】
検査すべき液晶表示パネルは、先ずプローブの先端(針先)から数mm程度離された状態で検査ステージにより、2次元的(XおよびY方向)に移動されるとともに、表示面すなわち表示領域と直角のZ軸線の周りに角度的に回転されることにより、プローブに対する位置決めをされ、次いでZ軸線の方向にさらに移動されることにより電極をプローブの針先に押圧され、その状態で所定のパターンを表示する駆動電力を供給される。これにより、液晶表示パネルは、作業者の目視によりまたは自動的に検査される。
【0006】
しかし、この種の検査装置では、検査時液晶表示パネルの隣り合う2つの縁部が多数のプローブの先端に同時に押圧されるから、1つのプローブが液晶表示パネルに及ぼす押圧力は小さいが、液晶パネルに及ぼす全てのプローブの押圧力は大きい。このため、検査時に、検査ステージにプローブによる押圧に起因する偏荷重が作用して、検査ステージ(特に、液晶表示パネルを受けるワークテーブル)が傾き、その結果、液晶表示パネルに対するプローブの押圧位置がずれて、電極とプローブとが電気的に接触しなくなり、検査不能になる。
【0007】
【解決しようとする課題】
本発明の目的は、プローブによる偏荷重が検査ステージに作用しても、そのときの検査ステージの傾きを押え、液晶表示パネルとプローブとの位置ずれを可能な限り小さくすることにある。
【0008】
【解決手段、作用、効果】
本発明の検査装置は、複数の電極が形成された第1の縁部および表示領域を間にして第1の縁部と反対の側の第2の縁部を有する多角形の液晶表示パネルを検査する装置として用いられる。そのような検査装置は、液晶表示パネルを受ける検査ステージと、第1および第2の縁部に対応する第1および第2の部位を有しかつ電極に当接される複数のプローブを第1の部位に備えるブローブユニットと、プローブが電極に押圧されたとき、液晶表示パネルまたはワークテーブルの第2の縁部またはこれに対応する箇所に押圧される押圧手段とを含む。
【0009】
検査ステージ上の液晶表示パネルとプローブとが相対的に押圧されると、押圧手段が検査ステージまたはその上の液晶表示パネルに押圧される。このため、検査ステージまたはその上の液晶表示パネルは、プローブによる荷重を第1の縁部またはこれに対応する部位に受けるとともに、押圧手段による荷重を第2の縁部またはこれに対応する部位に受ける。押圧手段に起因する荷重の作用箇所は、液晶表示パネルの表示領域に関して、プローブに起因する荷重の作用箇所と反対の箇所である。
【0010】
本発明によれば、液晶表示パネルの表示領域に関してプローブに起因する荷重の作用箇所と反対の箇所に荷重を作用させる押圧手段を設けたから、プローブの荷重に起因する検査ステージの傾きが押圧手段による荷重により押えられ、液晶表示パネルとプローブとの位置ずれが小さくなる。
【0011】
押圧手段は、プローブユニットの第2の部位に配置することができる。このようにすれば、プローブユニットと検査ステージ上の液晶表示パネルとを相対的に変位させることにより、プローブを液晶表示パネルに押圧させることができ、それと同時に押圧手段を検査ステージまたはその上の液晶表示パネルに押圧させることができる。
【0012】
第1の部位は多角形の隣り合う一対の辺に対応する部位とし、第2の部位は多角形の隣り合う他の一対の辺に対応する部位とすることができる。また、プローブユニットは、多角形に相似の開口を有する板状のベース部材であってプローブおよび押圧手段を支持するベース部材を備えることができる。
【0013】
押圧手段は、プローブユニットに組み付けられた1以上の組み付けブロックと、該組み付けブロックに支持されてワークテーブルに押圧される押圧体とを備えることができる。プローブユニットは、それぞれが複数のプローブを支持する複数のプローブブロックを備える。
【0014】
好ましい実施例では、押圧体として、圧縮コイルばね、U字状に曲げられた板ばねまたはシリンダ機構を用いている。また、押圧体は、検査ステージ、特にワークテーブルに押圧される。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1〜図5を参照するに、検査装置10は、四角形の液晶表示体すなわち液晶表示パネル12の検査に用いられる。液晶表示パネル12は、四角形の隣り合う2つの辺に対応する第1の縁部に複数の電極を有する片タブ方式のパネルである。第1の縁部は、長方形の1つの短い端縁部と1つの長い端縁部とにより形成される。
【0016】
液晶表示パネル12の第1の縁部以外の部分は、広い表示面すなわち表示領域とされている。長方形の他の1つの短い端縁部と他の1つの長い端縁部とは、四角形の隣り合う他の2つの辺に対応する第2の縁部を形成する。第2の縁部は、表示領域を間にして第1の縁部と反対の側に存在する。
【0017】
以下、理解を容易にするために、検査装置10および液晶表示パネル12のいずれにおいても、液晶表示パネル12の長い端縁の方向(左右方向)をX方向といい、液晶表示パネル12の短い端縁の方向をY方向といい、表示領域に垂直の方向をZ方向という。
【0018】
図1〜図5に示すように、検査装置10は、アングル材のような鋼材と、該鋼材に複数のねじ部材により取り付けられた複数の板材とにより形成されたフレームすなわち筐体20を含む。筐体20の前面上部は、傾斜部22とされている。傾斜部22は、液晶表示パネル12の受渡しに用いる開口24と、液晶表示パネル12の検査に用いる開口26とを有する。開口24,26は、液晶表示パネル12より大きくかつ液晶表示パネル12と相似の形状を有しており、またX方向に間隔をおいている。
【0019】
筐体20内には、検査すべき液晶表示パネル12を受ける検査ステージ28が開口24に対応する受渡し位置と、開口26に対応する検査位置とに移動可能に配置されている。
【0020】
位置決めユニットすなわち検査ステージ28は、液晶表示パネル12を左右方向(X方向)に移動させるXステージ30と、液晶表示パネル12を斜め上下方向(Y方向)へ移動させるYステージ32と、液晶表示パネル12を該パネルに直角の方向(Z方向)へ移動させるZステージ34と、液晶表示パネル12を該パネルに直角のZ軸線の周りに角度的に回転させるθステージ36と、液晶表示パネル12を傾斜した状態に受けるワークテーブル38とを備える。
【0021】
Yステージ32、Zステージ34、θステージ36およびワークテーブル38は、それぞれ、Xステージ30、Yステージ32、Zステージ34およびθステージ36に移動可能に支持されており、また対応するステージの移動にともなって同じように移動される。
【0022】
検査ステージ28は、筐体20内をX方向へ伸びる長方形の基台40に、ワークテーブル38が開口24,26の側となりかつXステージ30が基台40側となるように移動可能にXステージ30において組み付けられている。基台40には、長方形のベースプレート42が複数のポール44により連結されている。ベースプレート42は、開口26を閉鎖するように開口26に同軸的に配置されており、また開口26と相似形の開口46を有する。
【0023】
ワークテーブル38は、液晶表示パネル12を傾斜した状態に受けかつ支持するように、ベースプレート42の側に開口する直方体状の箱の形をしており、またその開口を形成する4つの端縁の少なくとも隣り合う2つの端縁のぞれぞれに溝を有する。溝は、液晶表示パネル12の電極が形成された端縁部に対応する部位に形成されており、また液晶表示パネル12の対応する端縁部の裏面を真空吸着する真空チャックとして作用するように図示しない真空源に連通される。
【0024】
ワークテーブル38内には、図示しないバックライトユニットが液晶表示パネル12を背面から照明するように収容されている。ワークテーブル38には、液晶表示パネル12の粗い位置決めをするための一対の細長い板部材が配置されている。板部材は、開口を形成する4つの端縁のうち隣り合う2つの端縁に対応する部位の外側面に、一部がベースプレート42の側に僅かに突出した状態に複数のねじ部材により取り付けられている。
【0025】
ベースプレート42には、プローブユニット50が配置されている。プローブユニット50は、長方形の板の形をしたプローブベース52と、1以上のねじ部材によりプローブベース52に組み付けられたL字型の複数のプローブブロック54,56とを備える。
【0026】
プローブベース52は、開口26,46と相似の開口58を有しており、また複数のねじ部材によりベースプレート42の外側に同軸的に取り付けられている。各プローブブロックは、一端部が開口58を介して開口46内に達するように、他端部においてプローブベース52の外側に取り付けられている。
【0027】
プローブブロック54は液晶表示パネル12の一方の電極群が形成された端縁部に対応する辺部に配置されており、プローブブロック56は液晶表示パネル12の他方の電極群が形成された端縁部に対応する辺部に配置されている。各プローブブロックは、その一端部に複数のプローブ60を支持している(図5参照)。各プローブ60は、液晶表示パネル12の表示面に対し角度を有する状態に伸びている。
【0028】
ベースプレート42には、また、一対のテレビカメラ62が組み付けられている。テレビカメラ62は、液晶表示パネル12を撮影するように、プローブブロック54が配置された辺部とその隣の辺部との境界部分に配置されてる。テレビカメラ62の出力信号は、プローブユニット50に対する液晶表示パネル12の正確な位置決めのために用いられる。
【0029】
ベースプレート42には、さらに、L字型の複数の組み付けブロック64,66が配置されている。各組み付けブロックは、一端部が開口58を介して開口46内に達してワークテーブル38の端縁部と対向するように、他端部においてプローブベース52に取り付けられている。
【0030】
組み付けブロック64および66は、それぞれ、プローブブロック54および56が配置された辺部と対向する辺部、すなわち開口58に関してプローブブロック54および56と反対の部位に配置されている。
【0031】
組み付けブロック64,66の先端(下端)には、1以上の板ばね68がワークテーブル38の縁部を押圧するための押圧体として設けられている。各板ばね68は、U字状に曲げられており、またワークテーブル38の端縁部に当接してワークテーブル38の対応する縁部に当接するように対応する組み付けブロックの下面に横U字状に取り付けられている。複数の板ばね68を共通の板部材を介してワークテーブル38に接触させてもよい。
【0032】
検査時、検査ステージ28は、そのワークテーブル38が開口24と対向する受渡し位置に移動されている。この受け渡し位置において、液晶表示パネル12は、人手または自動受渡し機械によりワークテーブル38に配置される。このとき、液晶表示パネル12は、粗い位置決めをされた後、ワークテーブル38に傾斜した状態に真空吸着される。
【0033】
次いで、検査ステージ28は、液晶表示パネル12を支持した状態で、開口26と対向する検査位置に移動される。この検査位置において、液晶表示パネル12は、各電極がプローブ60から離された状態で、X,Yステージ30,32により2次元的に移動されるとともに、θステージ36により表示領域と直角のZ軸線の周りに角度的に回転されることにより、プローブに対する正確な位置合わせをされ、Zステージ34によりプローブユニット50に向けて移動される。
【0034】
正確な位置合わせの結果、液晶表示パネル12は各電極がプローブ60に正しく当接した状態に維持され、ワークテーブル38は電極と反対の側の端縁部に対応する端縁部の上面が板ばね68に接触した状態に維持される。液晶表示パネルの正確な位置合わせは、各テレビカメラ62の出力信号を基に、制御回路により検査ステージ28を制御することにより、行ってもよいし、各テレビカメラ62の映像をモニタに映し出し、その映像を目視しつつ人手により行ってもよい。
【0035】
次いで、液晶表示パネル12およびワークテーブル38がZステージ34により、プローブユニット50および組み付けブロック64,66に向けて移動され液晶表示パネル12は各電極をプローブ60の先端(針先)に押圧され、ワークテーブル38は液晶表示パネル12の電極が配置された端縁部に対応する端縁部と反対の端縁部の上面を板ばね68に押圧される。
【0036】
液晶表示パネル12とプローブ60とが互いに押圧されると、ワークテーブル38をZ軸線に対し傾ける偏荷重が液晶表示パネル12を介してワークテーブル38に作用する。これは、1つのプローブ60による荷重は小さくても、多数のプローブ60が液晶表示パネル12に同時に押圧されることによる。
【0037】
上記のような傾きがワークテーブル38に生じると、液晶表示パネル12自体も傾くから、XY方向における液晶表示パネル12とプローブ60との相対的位置がずれ、その結果液晶表示パネル12の電極とプローブ60とが電気的に接触しなくなり、検査不能になる。
【0038】
しかし、検査装置10においては、ワークテーブル38は、プローブ60による荷重を隣り合う2つの端縁部に受けるのみならず、板ばね68による荷重を他の2つの端縁部に受け、しかも板ばね68による荷重の作用箇所は、液晶表示パネル12の表示領域に関して、プローブ60による荷重の作用箇所と反対の箇所となる。このため、プローブ60の荷重に起因するワークテーブル38の傾きが板ばね68による荷重により押えられ、液晶表示パネル12とプローブ60との位置ずれが小さくなる。
【0039】
板ばね68のばね力は、全ての板ばね68によりワークテーブル38に作用する総荷重がプローブ60によりワークテーブル38に作用する総荷重とほぼ同じになる値であることが好ましい。このようにすれば、プローブ60による荷重に起因するワークテーブル38の傾きが板ばね68による荷重により確実に押えられ、液晶表示パネル12とプローブ60との位置ずれが著しく小さくなる。
【0040】
次いで、液晶表示パネル12の良否の検査が行われる。このような検査は、液晶表示パネル12にプローブ60を介して駆動電力を供給して、所定のパターンを液晶表示パネル12に表示させ、表示されたパターンを作業者が目視することにより行われる。しかし、液晶表示パネル12に表示されたパターンをテレビカメラで撮影し、そのテレビカメラの出力信号をコンピュータで処理することにより、自動的に行うようにしてもよい。
【0041】
検査が終了すると、液晶表示パネル12が検査ステージ28によりプローブ60から離されるとともに、ワークテーブル38が板ばね68から離され、次いで検査ステージ28が開口24と対向する受渡し位置に移動され、その後液晶表示パネル12が人手または自動受渡し機械によりワークテーブル38から除去される。
【0042】
板ばね68は、ワークテーブル38を押圧する機能と、その際の衝撃を吸収する緩衝機能とを備えている。このような押圧体としては、上記のような板ばね68の外に、圧縮コイルばね、ゴムのように柔軟な弾性変形可能の弾性材料製のブロックまたは板部材、シリンダ機構等、他の手段を用いてもよい。
【0043】
図6および図7に示す実施例では、複数の圧縮コイルばね70を押圧体として各組み付けブロック64,66の下面に設けている。図示の例では、2つの圧縮コイルばね70が各組み付けブロック64,66の下面に間隔をおいて取り付けられている。
【0044】
圧縮コイルばね70のばね力は、全ての圧縮コイルばね70によりワークテーブル38に作用する総荷重がプローブ60によりワークテーブル38に作用する総荷重とほぼ同じになる値に選択されている。複数の圧縮コイルばね70を共通の板部材を介してワークテーブル38に接触させてもよい。
【0045】
押圧体として圧縮コイルばね70を用いた場合も、プローブ60による荷重に起因するワークテーブル38の傾きが圧縮コイルばね70による荷重により押えられ、液晶表示パネル12とプローブ60との位置ずれが小さくなる。
【0046】
図8および図9に示す実施例では、L字型の一対の組み付けブロック74,76と、各組み付けブロックに取り付けられたシリンダ機構78とを押圧手段として用いている。各組み付けブロックは、一端部が開口58を介して開口46内に達してワークテーブル38の端縁部と対向するように、他端部においてプローブベース52に取り付けられている。
【0047】
組み付けブロック74および76は、それぞれ、プローブブロック54および56が配置された辺部と対向する辺部、すなわち開口58に関してプローブブロック54および56と反対の部位に配置されている。
【0048】
各シリンダ機構78は、シリンダにおいて対応する組み付けブロックに取り付けられている。組み付けブロック74には2つのシリンダ機構78が、また、組み付けブロック76には3つのシリンダ機構78が、それぞれ、ピストンロッドをワークテーブル38の側とした状態に組み付けられている。
【0049】
各シリンダ機構78は、そのピストンロッドの端部に連結された押圧パッド80を有する。押圧パッド80は、ワークテーブル38がプローブユニット50に向けて移動されることにより、ワークテーブル38に当接し、ワークテーブル38を押圧する。押圧パッド80は、組み付けブロック74,76毎のシリンダ機構で共通の部材としてもよい。
【0050】
シリンダ機構78のばね力は、全てのシリンダ機構78によりワークテーブル38に作用する総荷重がプローブ60によりワークテーブル38に作用する総荷重とほぼ同じになる値に選択されている。シリンダ機構78としては、エアーシリンダが好ましいが、油圧シリンダであってもよい。
【0051】
押圧体としてシリンダ機構72を用いた場合も、プローブ60による荷重に起因するワークテーブル38の傾きがシリンダ機構72による荷重により押えられ、液晶表示パネル12とプローブ60との位置ずれが小さくなる。
【0052】
本発明は、検査ステージに偏荷重を作用させるタイプのプローブユニットを用いた検査装置であれば、上記実施例のようなプローブユニット以外のプローブユニットを用いた検査装置にも適用することができる。
【0053】
上記実施例で用いたプローブユニット以外のプローブユニットの一例として、帯状の複数のプローブを用いたユニット(たとえば、特開平5−126851号公報)、針状(または、帯状)の複数のプローブをベースプレートに直接または針押えを介して取り付けたプローブカードまたはプローブボードと称されているユニット(たとえば、特開平1−124740号公報)、配線パターンを有する電気絶縁シートおよびばね材により複数のプローブを形成したユニット(たとえば、特開平4−363671号公報)、ピンおよび圧縮コイルばねの対を基板に形成された多数の貫通穴のそれぞれに配置したピンタイプの複数のプローブを用いたユニット(たとえば、特開平7−225245号公報)等がある。
【0054】
本発明は、また、液晶表示パネルを傾斜した状態で検査する装置のみならず、液晶表示パネルを水平または垂直の状態で検査する装置にも適用することができるし、四角形の液晶表示パネルのみならず、六角形、八角形等の他の多角形の液晶表示パネルにも適用することができ、さらには、多角形の1つの辺に設けられた電極を利用して液晶表示パネルを検査する装置にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る検査装置の一実施例を示す正面図である。
【図2】図1の検査装置の右側面図である。
【図3】図1の検査装置を図2の矢印3の方向から見た視図である。
【図4】図3における4−4線に沿って得た断面図である。
【図5】図4の一部を拡大した断面図である。
【図6】検査装置の第2の実施例を示す、図4と同様の断面図である。
【図7】図5の一部を拡大した断面図である。
【図8】検査装置の第3の実施例を示す、図3と同様の視図である。
【図9】図8における9−9線に沿って得た断面図である。
【符号の説明】
10 検査装置
12 液晶表示パネル。
20 筐体
28 検査ステージ
38 ワークテーブル
50 プローブユニット
52 プローブベース
54,56 プローブブロック
60 プローブ
64,66,74,76 組み付けブロック
68 板ばね(押圧体)
70 圧縮コイルばね(押圧体)
78 シリンダ機構(押圧体)[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an apparatus for inspecting the quality of a liquid crystal display panel.
[0002]
[Prior art]
As one of the liquid crystal display panels having a rectangular shape, there is a so-called one-tab type in which a plurality of electrodes are provided on each of two edges corresponding to two adjacent sides of the rectangle.
[0003]
An apparatus for inspecting such a one-tab type liquid crystal display panel generally corresponds to a plate-like base member having an opening similar to the liquid crystal display panel to be inspected and two adjacent sides of the base member. A probe unit including a plurality of probe blocks supported by a part and an inspection stage (measurement stage) including a work table for receiving a liquid crystal display panel are used.
[0004]
Each probe unit is assembled with a plurality of probes. Each probe extends in a state having an angle with respect to the display surface of the liquid crystal display panel, and is pressed by an electrode of the liquid crystal display panel at the time of inspection.
[0005]
The liquid crystal display panel to be inspected is moved two-dimensionally (in the X and Y directions) by the inspection stage while being separated from the tip (needle tip) of the probe by about a few millimeters, and the display surface, that is, the display area. The probe is positioned relative to the probe by being rotated angularly around a right Z axis, and then further moved in the direction of the Z axis to press the electrode against the probe tip. Is supplied with driving power. As a result, the liquid crystal display panel is inspected automatically or automatically by the operator.
[0006]
However, in this type of inspection apparatus, two adjacent edges of the liquid crystal display panel at the time of inspection are simultaneously pressed against the tips of a large number of probes, so that the pressure exerted by one probe on the liquid crystal display panel is small, but the liquid crystal The pressing force of all probes on the panel is large. For this reason, at the time of inspection, a biased load due to the pressing by the probe acts on the inspection stage, and the inspection stage (particularly, the work table that receives the liquid crystal display panel) is tilted. As a result, the probe pressing position with respect to the liquid crystal display panel As a result, the electrode and the probe are not in electrical contact with each other, and inspection becomes impossible.
[0007]
[Problems to be solved]
An object of the present invention is to suppress the tilt of the inspection stage at that time even when a bias load due to the probe acts on the inspection stage, and to reduce the positional deviation between the liquid crystal display panel and the probe as much as possible.
[0008]
[Solution, action, effect]
An inspection apparatus according to the present invention includes a polygonal liquid crystal display panel having a first edge on which a plurality of electrodes are formed and a second edge on the side opposite to the first edge with a display region in between. Used as an inspection device. Such an inspection apparatus includes an inspection stage that receives a liquid crystal display panel, and a plurality of probes that have first and second portions corresponding to the first and second edges and that are in contact with the electrodes. And a probe unit that is pressed against the second edge of the liquid crystal display panel or the work table or a portion corresponding thereto when the probe is pressed against the electrode.
[0009]
When the liquid crystal display panel on the inspection stage and the probe are relatively pressed, the pressing means is pressed against the inspection stage or the liquid crystal display panel thereon. For this reason, the inspection stage or the liquid crystal display panel on the inspection stage receives the load from the probe on the first edge or a part corresponding thereto, and the load by the pressing means on the second edge or the part corresponding thereto. receive. The application point of the load caused by the pressing means is the opposite of the application point of the load caused by the probe with respect to the display area of the liquid crystal display panel.
[0010]
According to the present invention, since the pressing means for applying a load to the position opposite to the position where the load caused by the probe is applied with respect to the display area of the liquid crystal display panel, the inclination of the inspection stage caused by the load of the probe is caused by the pressing means. Pressed by the load, the positional deviation between the liquid crystal display panel and the probe is reduced.
[0011]
The pressing means can be arranged at the second part of the probe unit. By doing so, the probe can be pressed against the liquid crystal display panel by relatively displacing the probe unit and the liquid crystal display panel on the inspection stage, and at the same time, the pressing means can be used for the inspection stage or the liquid crystal thereon. The display panel can be pressed.
[0012]
The first part may be a part corresponding to a pair of adjacent sides of the polygon, and the second part may be a part corresponding to another pair of adjacent sides of the polygon. The probe unit can include a base member that is a plate-like base member having an opening similar to a polygon and supports the probe and the pressing means.
[0013]
The pressing means can include one or more assembly blocks assembled to the probe unit, and a pressing body that is supported by the assembly block and pressed against the work table. The probe unit includes a plurality of probe blocks each supporting a plurality of probes.
[0014]
In a preferred embodiment, a compression coil spring, a leaf spring bent into a U-shape, or a cylinder mechanism is used as the pressing body. The pressing body is pressed against the inspection stage, particularly the work table.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Referring to FIGS. 1 to 5, the
[0016]
A portion other than the first edge of the liquid
[0017]
Hereinafter, in order to facilitate understanding, in both the
[0018]
As shown in FIGS. 1 to 5, the
[0019]
In the
[0020]
The positioning unit, that is, the
[0021]
The
[0022]
The
[0023]
The work table 38 is in the shape of a rectangular parallelepiped box that opens to the side of the
[0024]
In the work table 38, a backlight unit (not shown) is accommodated so as to illuminate the liquid
[0025]
A
[0026]
The
[0027]
The
[0028]
A pair of
[0029]
The
[0030]
The assembly blocks 64 and 66 are respectively disposed on the side opposite to the side where the probe blocks 54 and 56 are disposed, that is, on the opposite side of the probe blocks 54 and 56 with respect to the
[0031]
One or
[0032]
At the time of inspection, the
[0033]
Next, the
[0034]
As a result of accurate alignment, the liquid
[0035]
Next, the liquid
[0036]
When the liquid
[0037]
When the tilt as described above occurs in the work table 38, the liquid
[0038]
However, in the
[0039]
The spring force of the
[0040]
Next, the liquid
[0041]
When the inspection is completed, the liquid
[0042]
The
[0043]
In the embodiment shown in FIGS. 6 and 7, a plurality of compression coil springs 70 are provided on the lower surfaces of the assembly blocks 64 and 66 as pressing bodies. In the illustrated example, two compression coil springs 70 are attached to the lower surfaces of the respective assembly blocks 64 and 66 at intervals.
[0044]
The spring force of the
[0045]
Even when the
[0046]
In the embodiment shown in FIGS. 8 and 9, a pair of L-shaped assembly blocks 74 and 76 and a
[0047]
The assembly blocks 74 and 76 are respectively disposed on the side opposite to the side where the probe blocks 54 and 56 are disposed, that is, on the opposite side of the probe blocks 54 and 56 with respect to the
[0048]
Each
[0049]
Each
[0050]
The spring force of the
[0051]
Even when the cylinder mechanism 72 is used as the pressing body, the tilt of the work table 38 caused by the load by the
[0052]
The present invention can also be applied to an inspection apparatus using a probe unit other than the probe unit as in the above embodiment, as long as the inspection apparatus uses a probe unit of a type that applies a bias load to the inspection stage.
[0053]
As an example of a probe unit other than the probe unit used in the above embodiment, a unit using a plurality of strip-shaped probes (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-126851), a plurality of needle-shaped (or strip-shaped) probes is used as a base plate A plurality of probes are formed by a unit called a probe card or a probe board attached directly or via a needle presser (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 1-124740), an electrical insulating sheet having a wiring pattern, and a spring material Unit (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 4-363671), a unit using a plurality of pin type probes (for example, Japanese Patent 7-225245).
[0054]
The present invention can be applied not only to an apparatus for inspecting a liquid crystal display panel in an inclined state, but also to an apparatus for inspecting a liquid crystal display panel in a horizontal or vertical state. Furthermore, it can be applied to other polygonal liquid crystal display panels such as hexagons and octagons, and further, an apparatus for inspecting a liquid crystal display panel using an electrode provided on one side of the polygon It can also be applied to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view showing an embodiment of an inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a right side view of the inspection apparatus of FIG.
3 is a view of the inspection apparatus of FIG. 1 as viewed from the direction of an arrow 3 in FIG.
4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 in FIG.
5 is an enlarged cross-sectional view of a part of FIG.
6 is a cross-sectional view similar to FIG. 4, showing a second embodiment of the inspection apparatus. FIG.
7 is an enlarged cross-sectional view of a part of FIG.
FIG. 8 is a view similar to FIG. 3, showing a third embodiment of the inspection apparatus.
9 is a cross-sectional view taken along line 9-9 in FIG.
[Explanation of symbols]
10
20
70 Compression coil spring (pressing body)
78 Cylinder mechanism (pressing body)
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15432797A JP3703942B2 (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | LCD panel inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15432797A JP3703942B2 (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | LCD panel inspection equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10333111A JPH10333111A (en) | 1998-12-18 |
JP3703942B2 true JP3703942B2 (en) | 2005-10-05 |
Family
ID=15581730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15432797A Expired - Fee Related JP3703942B2 (en) | 1997-05-29 | 1997-05-29 | LCD panel inspection equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3703942B2 (en) |
-
1997
- 1997-05-29 JP JP15432797A patent/JP3703942B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10333111A (en) | 1998-12-18 |
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