JP3697275B2 - Interface box and its clean room for local cleaning - Google Patents

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JP3697275B2 JP22511494A JP22511494A JP3697275B2 JP 3697275 B2 JP3697275 B2 JP 3697275B2 JP 22511494 A JP22511494 A JP 22511494A JP 22511494 A JP22511494 A JP 22511494A JP 3697275 B2 JP3697275 B2 JP 3697275B2
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、クリーンルーム内に設置した製造装置内を超清浄度に保つための局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルームに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造用クリーンルームへの清浄度に対する要求はますます厳しくなっているが、ギガビット世代においても現在の全面垂直層流方式を中心としたクリーンルームを採用した場合、そのイニシャルコストとランニングコストが膨大になると予想されている。また歩留まり向上のためには、クリーンルームの循環空気の清浄度よりも、ウエハの表面汚染をいかにして防止するかに着目する必要があるといわれている。さらに、微粒子汚染だけでなく、空気中のガス、イオンなどの分子汚染の対策も必要である。
【0003】
これらの観点から、将来のクリーンルームでは清浄空間の局所化が必要とされ、米国においては、SMIF(Standard Mechanical InterFace )に代表される”ミニエンバイロメント”の開発が行われてきており、日本でも、大見忠弘等により”クローズド・マニファクチャリング・システム”(Break through for scientific semiconductor manufacturing in 2001-A proposal from Tohoku Univer-sity,REARIZE INC. No.71,May,1992 )の概念が発表されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、現在の半導体の量産工場においては、歩留まり向上のために製造装置の改良とメンテナンスが頻繁に実施されているので、これらのシステムの採用は、ほとんど行われていない。そこで、量産向上の実状に見合った新しいコンセプトの清浄空間の局所化を構築することが必要である。
【0005】
本発明者らは、次世代の半導体(64〜256MB)クリーンルーム用に、ウエハ処理領域と人を隔離する密閉された空間に高清浄度(微粒子及びガス対策)空気を供給し、かつ、個別の製造装置に対応可能で全体のランニングコストの低下が可能な局所クリーン化システムを開発してきた。
【0006】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、全室清浄化されたクリーンルーム内の製造装置内の超清浄化が達成できる局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルームを提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項1の発明は、クリーンルーム内のアクセスフロア上に設置される製造装置に接続され、その製造装置へ処理材を出入するための局所クリーン化におけるインターフェイスボックスにおいて、上記アクセスフロア上に上記製造装置の搬出入口に接続されるボックス本体を設置し、該ボックス本体内に処理材の搬出入室を形成し、ボックス本体の前面に、処理材を搬出入室に出入れするための開閉扉を設け、該搬出入室上部のボックス本体内に、送風機とケミカルフィルタとULPAフィルタとを設け、さらに搬出入室の下部のボックス本体に、搬出入室の超清浄空気をクリーンルーム床下チャンバに排気する排気系を設けると共に、搬出入室内の圧力をクリーンルーム空間の圧力より高くしたことを特徴とする局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0008】
請求項2の発明は、搬出入室上部のボックス本体内には、クリーンルーム内の清浄空気を吸引する送風機が配置され、その吹出口と搬出入室間にケミカルフィルタとULPAフィルタが吹出流路を仕切るように配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0009】
請求項3の発明は、ボックス本体の上面の吸込口に、ケミカルフィルタが設けられ、搬出入室上部のボックス本体内に、上記ケミカルフィルタを通してクリーンルーム内の清浄空気を吸引すると共にULPAフィルタを介して清浄化するフィルタ付き送風機ユニットが配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0010】
請求項4の発明は、搬出入室には、処理材を載置すると共に超清浄空気を排気系に排気するための多孔板からなる載置台を有する請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0011】
請求項5の発明は、載置台下方のボックス本体が前後に仕切られ、その前室に排気系が形成される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0012】
請求項6の発明は、排気系には、搬出入室内の圧力をクリーンルームに対して僅かに高い圧力に保って排気するための微差圧ダンパを有する請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0013】
請求項7の発明は、全面垂直層流で清浄空気が循環されるクリーンルーム空間と、そのクリーンルーム空間のアクセスフロア上に配置される各種製造装置と、クリーンルーム空間のアクセスフロア下の床下チャンに配置され、各種製造装置内の空気を吸引と共に外部に排気する真空ポンプを含む排気手段と、上記アクセスフロア上に設置されると共に各種製造装置に接続されるボックス本体を有し、そのボックス本体内に処理材を搬出入する搬出入室が形成されると共に上部に、フィルタ付き送風機ユニットとケミカルフィルタとULPAフィルタとが配置された超清浄空気供給手段を有し、下部に搬出入室内の超清浄空気を上記床下チャンに排気する排気系を有し、上記搬出入室内の圧力をクリーンルーム空間の圧力より高くするインターフェイスボックスとを備えたことを特徴とする局所クリーン化におけるクリーンルームである。
【0014】
【作用】
上記構成によれば、ボックス本体内の処理材の搬出入室に、送風機とケミカルフィルタとULPAフィルタにより超清浄空気を流すことで、クリーンルーム循環空気から製造装置への分子汚染防止と処理材収納時の分子汚染を防止できる。
【0015】
従って、このインターフェイスボックスを、製造装置の処理材の搬入口や搬出口にそれぞれ接続したり搬出入口が同じであればその搬出入口に接続することで、クリーンルーム内で製造装置の局所超清浄化が達成できる。
【0016】
請求項2によれば、ULPAフィルタと送風機とをユニット化し、その吸込口にケミカルフィルタを設けることで、ケミカルフィルタのフィルタ面積を自在に設定できる。
【0017】
請求項5によれば、ボックス本体下部の前室に排気系を形成することで、搬出入室内を流れる超清浄空気を前後に二分し、前方の超清浄空気流では処理材の出入れの際のエアカーテンとして、また後方では、製造装置内の清浄度の保持として作用させることで、クリーンルームと製造装置との分離が確実となる。
【0018】
請求項6によれば、排気系に微差圧ダンパを設けることで、搬出入室内の超清浄空気の流れを最適化できる。
【0019】
請求項7によれば、インターフェイスボックス内からの超清浄空気を床下チャンバーに直接排気することで、製造装置の配置が変更になってもその配置に応じて自在にインターフェイスボックスを接続することができる。
【0020】
【実施例】
以下、本発明の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。
【0021】
先ず、図3により本発明におけるクリーンルームの全体構成を説明する。
【0022】
図3において、10は、建屋11内に形成されるクリーンルーム空間で、建屋11内に設けたアクセスフロア12上に側壁13で周囲が囲まれ、その上部に天井壁14が設けられて区画形成される。この天井壁14にはフィルタ付き送風機ユニット(FFU)15が整列されて設けられる。
【0023】
このクリーンルーム空間10には、フィルタ付き送風機ユニット15から清浄空気が吹き出され、クリーンルーム空間10を層流状態で流れて下方のアクセスフロア12を介して床下チャンバ19に流入し、側壁13の周囲のドライコイル16で空調されて、側壁13外周の循環流路17を通って天井チャンバ18に流入し、再度フィルタ付き送風機ユニット15に吸引されてクリーンルーム空間10に循環される。
【0024】
床下チャンバー19には、床下チャンバ19内に外部空気を導入する外気ダクト19Aが配置され、また床下チャンバ19内の空気を、付属機器20で、排気ダクト20Aを介して建屋11の外部に排気できるようになっている。
【0025】
このクリーンルーム空間10内には、半導体ウエハや液晶基板などの処理材の洗浄処理やCVDによる成膜を行う製造装置21等が多数配置され、その製造装置21の搬出入口22に、処理材としての半導体ウエハカセット23を搬出入するための本発明のインターフェイスボックス24が接続される。なお、この処理材として液晶を製造するための基板であってもよい。
【0026】
床下チャンバ19には、製造装置21内を高真空に保つための真空ポンプ25やダクト26,27からなる排気手段28が配置される。
【0027】
このインターフェイスボックス24を図1により詳細に説明する。
【0028】
先ず、クリーンルーム空間10の上部の天井壁14には、ULPAフィルタ29が設けられているが、このULPAフィルタ29は、送風機と別個でも送風機ユニット15と一体に設けてもよい。
【0029】
クリーンルーム空間10のアクセスフロア12上には製造装置21が配置され、そのアクセスフロア12の下部の床下チャンバ19には、製造装置21内を排気するための排気ダクト26が接続される。
【0030】
この製造装置21の搬出入口22に接続されるインターフェイスボックス24は、アクセスフロア12上に設置されると共に、製造装置21の搬出入口22に接続されるボックス本体30からなり、そのボックス本体30内に、半導体ウエハカセット23を一時保管する搬出入室31が形成される。
【0031】
ボックス本体30の前面には、半導体ウエハカセット23を搬出入室31に出入れするための上下移動自在な開閉扉32が設けられ、その搬出入室31の上部のボックス本体30内に、その上部より送風機33とケミカルフィルタ34とULPAフィルタ35とが順に設けられる。
【0032】
搬出入室31には、半導体ウエハカセット23を複数載置する多孔板からなる載置台36を有し、その載置台36の下方のボックス本体30には、搬出入室31から載置台36を通過した超清浄空気を床下チャンバ19に排気する排気系37が設けられる。
【0033】
この排気系37は、例えば載置台36の下方のボックス本体30を前後に二つに仕切り、その前方に形成し、載置台36を通過した超清浄空気を図示の矢印38に示すようにアクセスフロア12を介して床下チャンバ19に排気するように形成される。
【0034】
次に本実施例の作用を述べる。
【0035】
図1において、天井チャンバ18内の循環空気流は、ULPAフィルタ29により超清浄化され、図示の矢印39に示すようにクリーンルーム空間10内に流入し、垂直層流となってアクセスフロア12より床下チャンバ19内に流れる。
【0036】
このクリーンルーム空間10は、各種製造装置や機器などにより分子レベルの汚染が有り、この分子汚染物質が製造装置21内に流入し、半導体ウエハに分子レベルの汚染質として付着しやすい。
【0037】
この際、製造装置21には、インターフェイスボックス24が接続され、半導体ウエハカセット23の出入れの際に、一旦インターフェイスボックス24の搬出入室31に収納し、クリーンルーム空間10と遮断した状態で、搬出入室31内の半導体ウエハカセット23を搬出入口22を通して製造装置21内に自動又は手動操作で搬出入することで分子汚染を防止できる。
【0038】
すなわち、インターフェイスボックス24の搬出入室31には、送風機33によりクリーンルーム空間10内の清浄空気が吸引され、ケミカルフィルタ34にて、吸引清浄空気中の炭化水素系やアルカリ性ガス、酸性ガスが吸着除去され、次にULPAフィルタ35で、サブミクロン以下の微粒子が除去され、図示の矢印で示したように超清浄空気が搬出入室31に流入し、常時は載置台36を通して排気系37により床下チャンバ19に流れている(例えば、流速約0.2m/sec)。従って、カセット23の出入れで、開閉扉32を開閉しても、この矢印で示した超清浄空気の流れがエアカーテンとなり、クリーンルーム空間10の空気が製造装置21側に流入することが防止される。
【0039】
またこの搬出入室31内の圧力は、クリーンルーム空間10の空気圧力よりやや高く維持され、また超清浄空気はボックス本体30の前部の排気系37を通って下部の床下チャンバ19に流れると共に一部は搬出入口22を通って製造装置21に流れる空気に二分され、その前方の空気流でエアカーテンを構成するため前方の超清浄空気流ではカセットの出入れの際のエアカーテンとして、また後方では、製造装置内の清浄度の保持として作用させることで、クリーンルームと製造装置との分離が確実となる。
【0040】
図3は、本発明の他の実施例を示したものである。
【0041】
この図2において、クリーンルームは、図3で説明したように、フィルタ付き送風機ユニット15で、床下チャンバ19内の空気を循環流路17を通って天井チャンバ18に循環するようになし、フィルタ付き送風機ユニット15に設けたULPAフィルタ(図示せず)より超清浄空気をクリーンルーム空間10に流すように構成される。
【0042】
インターフェイスボックス24は、ボックス本体30の上面の吸込口に、ケミカルフィルタ34が設けられ、搬出入室31上部のボックス本体30内には、ケミカルフィルタ34を通してクリーンルーム内の清浄空気を吸引すると共にULPAフィルタ35を介して清浄化するフィルタ付き送風機ユニット40が配置され、また載置台36の下部のボックス本体30には、排気系37として、搬出入室31内の圧力をクリーンルーム空間の圧力に対して僅かに高い圧力に保って排気するための微差圧ダンパ41を設けたものである。
【0043】
この図2の例においては、ケミカルフィルタ34がボックス本体30の上面の吸込口に取り付けることができるため、フィルタ面積を自在に設定でき、また排気系37として微差圧ダンパ41を設けることで、クリーンルーム空間10と搬出入室31との差圧が良好に調整でき、図1で説明した超清浄空気流の制御が確実に行える。
【0044】
【発明の効果】
以上要するに本発明によれば、ボックス本体内の処理材の搬出入室に、送風機とケミカルフィルタとULPAフィルタにより超清浄空気を流すことで、クリーンルーム循環空気から製造装置への分子汚染防止と処理材収納時の分子汚染を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概略図である。
【図2】図1の他の実施例を示す概略図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す正面図である。
【符号の説明】
10 クリーンルーム空間
21 製造装置
23 半導体ウエハカセット(処理材)
30 ボックス本体
31 搬出入室
32 開閉扉
33 送風機
34 ケミカルフィルタ
35 ULPAフィルタ
37 排気系
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to an interface box and a clean room for local cleaning in order to keep the inside of a manufacturing apparatus installed in a clean room at a super clean level.
[0002]
[Prior art]
The demand for cleanliness in clean rooms for semiconductor manufacturing is becoming stricter. However, even in the gigabit generation, if a clean room centered on the current vertical laminar flow method is adopted, the initial cost and running cost will be enormous. Expected. In order to improve the yield, it is said that it is necessary to focus on how to prevent wafer surface contamination rather than the cleanliness of the circulating air in the clean room. Furthermore, it is necessary to take measures against not only particulate contamination but also molecular contamination such as gas and ions in the air.
[0003]
From these viewpoints, it is necessary to localize the clean space in the future clean room. In the United States, “mini-environment” represented by SMIF (Standard Mechanical InterFace) has been developed. In Japan, The concept of “Closed Manufacturing System” (Break through for scientific semiconductor manufacturing in 2001-A proposal from Tohoku Univer-sity, REARIZE INC. No.71, May, 1992) was announced by Tadahiro Ohmi et al. .
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in today's semiconductor mass production factories, manufacturing systems are frequently improved and maintained to improve yields, and these systems are hardly adopted. Therefore, it is necessary to construct a new concept of clean space that matches the actual situation of mass production.
[0005]
For the next generation semiconductor (64-256 MB) clean room, the present inventors supply high cleanliness (fine particles and gas countermeasures) air to a sealed space separating a wafer processing area and a person, We have developed a local cleaning system that is compatible with manufacturing equipment and can reduce the overall running cost.
[0006]
Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems and to provide an interface box for local cleaning that can achieve ultra-cleaning in a manufacturing apparatus in a clean room that has been cleaned in all rooms, and the clean room.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The invention of claim 1 in order to achieve the above object, is connected to the manufacturing apparatus installed on the access in the clean room floor, in the interface box in locally cleaned for entering and exiting the treatment material to the manufacturing equipment, the To install a box main body connected to the carry-in / out entrance of the manufacturing apparatus on the access floor, to form a processing material carry-in / out chamber in the box main body, and to put the treatment material into / out of the box main body on the front side the door is provided in the exhaust to該搬and out chamber upper portion of the box body, and a blower and a chemical filter and a ULPA filter is provided, the further lower portion of the box body of the transport room, the super-clean air transport room below the floor chambers of the clean room Rutotomoni an exhaust system provided for, to characterized in that the pressure in the transport room and higher than the pressure of the clean room space It is an interface box in a local clean.
[0008]
In the invention of claim 2, a blower for sucking clean air in the clean room is disposed in the box body at the upper part of the carry-in / out chamber, and the chemical filter and the ULPA filter partition the blow-out flow path between the blow-out port and the carry-in / out chamber. It is an interface box in the local cleaning of Claim 1 arrange | positioned by these.
[0009]
In the invention of claim 3, a chemical filter is provided at the suction port on the upper surface of the box body, and clean air in the clean room is sucked into the box body at the upper part of the carry-in / out chamber through the chemical filter and cleaned through the ULPA filter. 2. The interface box for local cleaning according to claim 1, wherein a fan unit with a filter to be converted is disposed.
[0010]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the interface box for local cleaning according to the first aspect, wherein the loading / unloading chamber has a mounting table made of a perforated plate for mounting the processing material and exhausting the ultra-clean air to the exhaust system. is there.
[0011]
The invention according to claim 5 is the interface box in the local cleaning according to claim 1, wherein the box body below the mounting table is partitioned forward and backward, and an exhaust system is formed in the front chamber.
[0012]
According to a sixth aspect of the present invention, the exhaust system has a differential pressure damper for exhausting the exhaust system while maintaining the pressure in the carry-in / out chamber at a slightly higher pressure than the clean room. It is.
[0013]
The invention of claim 7, a clean room space clean air the entire surface vertical laminar flow is circulated, and various manufacturing apparatus is arranged on floor of the clean room space, arranged under the floor Chang server under floor of the clean room space And an exhaust means including a vacuum pump for suctioning and exhausting the air in the various manufacturing apparatuses to the outside, and a box body installed on the access floor and connected to the various manufacturing apparatuses. the Rutotomoni upper transport room is formed to loading and unloading the treated material has a super clean air supply means and the filter with a blower unit and chemical filter and ULPA filter is disposed, the ultraclean air in the transport room at the bottom in the above under the floor Chan have a exhaust system to exhaust into play, higher than the pressure of the pressure of the clean room space within the transport room A clean room in locally cleaned, characterized in that a chromatography face box.
[0014]
[Action]
According to the above configuration, by flowing ultra-clean air through the blower, chemical filter, and ULPA filter into the processing material carry-in / out chamber in the box body, molecular contamination can be prevented from clean room circulating air to the manufacturing apparatus and when the processing material is stored. Prevents molecular contamination.
[0015]
Therefore, if this interface box is connected to the inlet / outlet of the processing material of the manufacturing apparatus, or if the outlet / inlet is the same, the interface box is connected to the inlet / outlet, so that the local ultra-cleaning of the manufacturing apparatus can be performed in the clean room. Can be achieved.
[0016]
According to the second aspect, the filter area of the chemical filter can be freely set by unitizing the ULPA filter and the blower and providing the chemical filter at the suction port.
[0017]
According to claim 5, by forming an exhaust system in the front chamber at the lower part of the box body, the ultra-clean air flowing in the carry-in / out chamber is divided into front and rear, and in the front ultra-clean air flow, when the processing material is put in and out As the air curtain and behind, it acts as a maintenance of the cleanliness in the manufacturing apparatus, so that the clean room and the manufacturing apparatus are reliably separated.
[0018]
According to the sixth aspect, the flow of the ultra-clean air in the carry-in / out chamber can be optimized by providing the differential pressure damper in the exhaust system.
[0019]
According to the seventh aspect, the ultra-clean air from the inside of the interface box is directly exhausted to the underfloor chamber, so that the interface box can be freely connected according to the arrangement even if the arrangement of the manufacturing apparatus is changed. .
[0020]
【Example】
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0021]
First, the entire configuration of the clean room in the present invention will be described with reference to FIG.
[0022]
In FIG. 3, reference numeral 10 denotes a clean room space formed in the building 11, which is surrounded by a side wall 13 on an access floor 12 provided in the building 11, and a ceiling wall 14 is provided on the upper portion thereof to form a partition. The The ceiling wall 14 is provided with a fan unit (FFU) 15 with a filter aligned.
[0023]
Clean air is blown out from the blower unit 15 with a filter into the clean room space 10, flows through the clean room space 10 in a laminar flow state, flows into the underfloor chamber 19 through the lower access floor 12, and is dried around the side wall 13. The air is conditioned by the coil 16, flows into the ceiling chamber 18 through the circulation channel 17 on the outer periphery of the side wall 13, is again sucked into the blower unit 15 with a filter, and is circulated into the clean room space 10.
[0024]
In the underfloor chamber 19, an outside air duct 19A for introducing outside air into the underfloor chamber 19 is disposed, and the air in the underfloor chamber 19 can be exhausted to the outside of the building 11 by the accessory device 20 via the exhaust duct 20A. It is like that.
[0025]
In the clean room space 10, a large number of manufacturing apparatuses 21 and the like that perform cleaning processing of processing materials such as semiconductor wafers and liquid crystal substrates and film formation by CVD are arranged. An interface box 24 of the present invention for carrying in / out the semiconductor wafer cassette 23 is connected. In addition, the board | substrate for manufacturing a liquid crystal may be sufficient as this processing material.
[0026]
In the underfloor chamber 19, an exhaust means 28 including a vacuum pump 25 and ducts 26 and 27 for keeping the inside of the manufacturing apparatus 21 at a high vacuum is disposed.
[0027]
The interface box 24 will be described in detail with reference to FIG.
[0028]
First, the ULPA filter 29 is provided on the ceiling wall 14 in the upper part of the clean room space 10. However, the ULPA filter 29 may be provided separately from the blower or integrally with the blower unit 15.
[0029]
A manufacturing apparatus 21 is disposed on the access floor 12 of the clean room space 10, and an exhaust duct 26 for exhausting the interior of the manufacturing apparatus 21 is connected to the underfloor chamber 19 below the access floor 12.
[0030]
The interface box 24 connected to the carry-in / out port 22 of the manufacturing apparatus 21 is installed on the access floor 12 and includes a box main body 30 connected to the carry-in / out port 22 of the manufacturing apparatus 21. A carry-in / out chamber 31 for temporarily storing the semiconductor wafer cassette 23 is formed.
[0031]
On the front surface of the box main body 30, an openable / closable door 32 for moving the semiconductor wafer cassette 23 in and out of the carry-in / out chamber 31 is provided. The box main body 30 above the carry-in / out chamber 31 has a blower from above. 33, the chemical filter 34, and the ULPA filter 35 are provided in order.
[0032]
The loading / unloading chamber 31 has a mounting table 36 made of a perforated plate on which a plurality of semiconductor wafer cassettes 23 are mounted. The box body 30 below the mounting table 36 has a superposition that has passed through the mounting table 36 from the loading / unloading chamber 31. An exhaust system 37 for exhausting clean air to the underfloor chamber 19 is provided.
[0033]
The exhaust system 37 divides, for example, the box body 30 below the mounting table 36 into two parts in the front and the rear, and is formed in front thereof, and the ultra-clean air that has passed through the mounting table 36 is indicated on the access floor as indicated by an arrow 38 in the figure. 12 is formed so as to be exhausted to the underfloor chamber 19 through 12.
[0034]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0035]
In FIG. 1, the circulating air flow in the ceiling chamber 18 is ultra-cleaned by the ULPA filter 29 and flows into the clean room space 10 as indicated by an arrow 39 in the figure, and becomes a vertical laminar flow from the access floor 12 to the floor below. It flows into the chamber 19.
[0036]
This clean room space 10 is contaminated at the molecular level by various manufacturing apparatuses and devices, and this molecular contaminant flows into the manufacturing apparatus 21 and easily adheres to the semiconductor wafer as a molecular level contaminant.
[0037]
At this time, the interface box 24 is connected to the manufacturing apparatus 21, and when the semiconductor wafer cassette 23 is put in and out, the carry-in / out chamber is once stored in the carry-in / out chamber 31 of the interface box 24 and shut off from the clean room space 10. Molecular contamination can be prevented by loading / unloading the semiconductor wafer cassette 23 in 31 into / from the manufacturing apparatus 21 through the loading / unloading port 22 automatically or manually.
[0038]
That is, clean air in the clean room space 10 is sucked into the carry-in / out chamber 31 of the interface box 24 by the blower 33, and hydrocarbons, alkaline gas, and acidic gas in the sucked clean air are adsorbed and removed by the chemical filter 34. Then, the sub-micron fine particles are removed by the ULPA filter 35, and the ultra-clean air flows into the carry-in / out chamber 31 as indicated by the arrows in the figure, and is normally passed to the underfloor chamber 19 by the exhaust system 37 through the mounting table 36. It is flowing (for example, a flow rate of about 0.2 m / sec). Therefore, even if the opening / closing door 32 is opened and closed when the cassette 23 is put in and out, the flow of the ultra-clean air indicated by the arrow becomes an air curtain, and the air in the clean room space 10 is prevented from flowing into the manufacturing apparatus 21 side. The
[0039]
The pressure in the carry-in / out chamber 31 is maintained slightly higher than the air pressure in the clean room space 10, and the ultra-clean air flows through the exhaust system 37 at the front of the box body 30 to the lower underfloor chamber 19 and partly. Is divided into air flowing into the manufacturing apparatus 21 through the carry-in / out port 22, and the air flow in the front forms an air curtain, so that the front ultra-clean air flow is used as an air curtain when the cassette is put in and out, and in the rear By acting as a maintenance of the cleanliness in the manufacturing apparatus, separation between the clean room and the manufacturing apparatus is ensured.
[0040]
FIG. 3 shows another embodiment of the present invention.
[0041]
In FIG. 2, the clean room is a fan unit 15 with a filter so that the air in the underfloor chamber 19 is circulated to the ceiling chamber 18 through the circulation channel 17 as described with reference to FIG. 3. Ultra-clean air is configured to flow into the clean room space 10 from a ULPA filter (not shown) provided in the unit 15.
[0042]
The interface box 24 is provided with a chemical filter 34 at the suction port on the upper surface of the box body 30, and clean air in the clean room is sucked into the box body 30 above the carry-in / out chamber 31 through the chemical filter 34 and the ULPA filter 35. The blower unit 40 with a filter to be cleaned is disposed, and the box body 30 below the mounting table 36 has a slightly higher pressure in the carry-in / out chamber 31 as the exhaust system 37 than the pressure in the clean room space. A slight differential pressure damper 41 is provided for evacuating while maintaining the pressure.
[0043]
In the example of FIG. 2, since the chemical filter 34 can be attached to the suction port on the upper surface of the box body 30, the filter area can be set freely, and by providing the slight differential pressure damper 41 as the exhaust system 37, The differential pressure between the clean room space 10 and the carry-in / out chamber 31 can be adjusted satisfactorily, and the super-clean air flow described with reference to FIG. 1 can be reliably controlled.
[0044]
【The invention's effect】
In short, according to the present invention, by supplying ultra-clean air to the processing material carry-in / out chamber in the box body using a blower, a chemical filter, and a ULPA filter, molecular contamination prevention from clean room circulating air to the manufacturing apparatus and storage of the processing material are performed. It can prevent molecular contamination at the time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic view showing another embodiment of FIG. 1;
FIG. 3 is a front view showing another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
10 Clean Room Space 21 Manufacturing Equipment 23 Semiconductor Wafer Cassette (Processing Material)
30 Box body 31 Carry-in / out chamber 32 Open / close door 33 Blower 34 Chemical filter 35 ULPA filter 37 Exhaust system

Claims (7)

クリーンルーム内のアクセスフロア上に設置される製造装置に接続され、その製造装置へ処理材を出入するための局所クリーン化におけるインターフェイスボックスにおいて、上記アクセスフロア上に上記製造装置の搬出入口に接続されるボックス本体を設置し、該ボックス本体内に処理材の搬出入室を形成し、ボックス本体の前面に、処理材を搬出入室に出入れするための開閉扉を設け、該搬出入室上部のボックス本体内に、送風機とケミカルフィルタとULPAフィルタとを設け、さらに搬出入室の下部のボックス本体に、搬出入室の超清浄空気をクリーンルーム床下チャンバに排気する排気系を設けると共に、搬出入室内の圧力をクリーンルーム空間の圧力より高くしたことを特徴とする局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。Connected to the manufacturing equipment installed on the access floor in the clean room, and connected to the carry-in / out entrance of the manufacturing equipment on the access floor in the interface box in the local cleaning for entering and exiting the processing material to the manufacturing equipment A box body is installed , a processing material loading / unloading chamber is formed in the box body, and an opening / closing door is provided on the front surface of the box body to allow the processing material to enter and leave the loading / unloading chamber. in, and a blower and a chemical filter and a ULPA filter is provided, the further lower portion of the box body of the transport room, Rutotomoni provided an exhaust system for exhausting the ultraclean air transport room below the floor chamber of the clean room, the pressure in the transport room interface board in locally cleaned, characterized in that it has higher than the pressure of the clean room space Box. 搬出入室上部のボックス本体内には、クリーンルーム内の清浄空気を吸引する送風機が配置され、その吹出口と搬出入室間にケミカルフィルタとULPAフィルタが吹出流路を仕切るように配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。  2. A blower for sucking clean air in a clean room is arranged in the box body at the upper part of the carry-in / out chamber, and a chemical filter and a ULPA filter are arranged between the blow-out port and the carry-in / out chamber so as to partition the blow-out flow path. Interface box for local cleaning as described. ボックス本体の上面の吸込口に、ケミカルフィルタが設けられ、搬出入室上部のボックス本体内に、上記ケミカルフィルタを通してクリーンルーム内の清浄空気を吸引すると共にULPAフィルタを介して清浄化するフィルタ付き送風機ユニットが配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。  A blower unit with a filter that is provided with a chemical filter at the suction port on the upper surface of the box body, sucks clean air in the clean room through the chemical filter into the box body at the upper part of the carry-in / out chamber and cleans it through the ULPA filter. The interface box in the local cleaning according to claim 1, which is arranged. 搬出入室には、処理材を載置すると共に超清浄空気を排気系に排気するための多孔板からなる載置台を有する請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。  2. The interface box for local cleaning according to claim 1, wherein the carry-in / out chamber has a mounting table made of a perforated plate for mounting a processing material and exhausting ultra-clean air to an exhaust system. 載置台下方のボックス本体が前後に仕切られ、その前室に排気系が形成される請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。  2. The interface box for local cleaning according to claim 1, wherein the box body below the mounting table is partitioned forward and backward, and an exhaust system is formed in the front chamber. 排気系には、搬出入室内の圧力をクリーンルームに対して僅かに高い圧力に保って排気するための微差圧ダンパを有する請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボックス。  2. The interface box for local cleaning according to claim 1, wherein the exhaust system has a differential pressure damper for exhausting while keeping the pressure in the carry-in / out chamber at a slightly higher pressure than the clean room. 全面垂直層流で清浄空気が循環されるクリーンルーム空間と、そのクリーンルーム空間のアクセスフロア上に配置される各種製造装置と、クリーンルーム空間のアクセスフロア下の床下チャンに配置され、各種製造装置内の空気を吸引と共に外部に排気する真空ポンプを含む排気手段と、上記アクセスフロア上に設置されると共に各種製造装置に接続されるボックス本体を有し、そのボックス本体内に処理材を搬出入する搬出入室が形成されると共に上部に、フィルタ付き送風機ユニットとケミカルフィルタとULPAフィルタとが配置された超清浄空気供給手段を有し、下部に搬出入室内の超清浄空気を上記床下チャンに排気する排気系を有し、上記搬出入室内の圧力をクリーンルーム空間の圧力より高くするインターフェイスボックスとを備えたことを特徴とする局所クリーン化におけるクリーンルーム。A clean room space clean air the entire surface vertical laminar flow is circulated, and various manufacturing apparatus is arranged on floor of the clean room space, arranged under the floor Chang server under floor of the clean room space, the various manufacturing apparatus Exhaust means including a vacuum pump for sucking air to the outside while sucking, and a box body installed on the access floor and connected to various manufacturing apparatuses, and carrying out processing materials into and out of the box body enter the can Rutotomoni upper is formed, has a super clean air supply means and the filter with a blower unit and chemical filter and ULPA filter is arranged, to exhaust the ultraclean air in the transport room at the bottom to the floor Chang Bas the exhaust system is closed, the pressure within the transport room higher than the pressure of the clean room space interface box Clean room in locally cleaned, characterized in that it comprises and.
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US6123617A (en) * 1998-11-02 2000-09-26 Seh-America, Inc. Clean room air filtering system
JP2003289043A (en) * 2002-03-28 2003-10-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Semiconductor manufacturing device
JPWO2006035610A1 (en) * 2004-09-09 2008-05-15 国立大学法人 北海道大学 Functional element, memory element, magnetic recording element, solar cell, photoelectric conversion element, light emitting element, catalytic reaction device, and clean unit
JP4844285B2 (en) * 2006-08-11 2011-12-28 株式会社デンソー Local exhaust system for clean rooms
JP4525789B2 (en) * 2008-04-17 2010-08-18 株式会社デンソー Work equipment and local clean room in work equipment
JP5742619B2 (en) * 2011-09-16 2015-07-01 旭硝子株式会社 EUVL reflective mask manufacturing apparatus and EUVL mask blank manufacturing apparatus

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