JPH1097962A - Treating device and treating system - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は例えば半導体ウエハ
などの被処理体に対して、熱処理等の処理を行う処理装
置及び処理システムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus and a processing system for performing processing such as heat treatment on an object to be processed such as a semiconductor wafer.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)
の製造プロセスの1つとして、酸化膜の形成やド−パン
トの拡散などを行うために高温下で熱処理を行うプロセ
スがある。このような熱処理を行なう熱処理装置は、例
えば図10に示すように装置本体1とユ−ティリティボ
ックス11とポンプボックス12とから構成されてお
り、装置本体1は外部との間でウエハカセットCを搬入
出する入出力ポ−ト13、ウエハカセットCとウエハボ
−ト14との間でウエハの受け渡しを行なう図示しない
ウエハ移載機構、ウエハボ−ト14が搬入されて熱処理
を行なう熱処理炉15などを備えている。2. Description of the Related Art Semiconductor wafers (hereinafter referred to as "wafers")
As one of the manufacturing processes, there is a process of performing a heat treatment at a high temperature in order to form an oxide film, diffuse a dopant, and the like. A heat treatment apparatus for performing such a heat treatment includes, for example, an apparatus main body 1, a utility box 11 and a pump box 12, as shown in FIG. 10, and the apparatus main body 1 holds a wafer cassette C between itself and the outside. An input / output port 13 for loading and unloading, a wafer transfer mechanism (not shown) for transferring wafers between the wafer cassette C and the wafer boat 14, a heat treatment furnace 15 for loading the wafer boat 14 and performing heat treatment. Have.
【0003】またユ−ティリティボックス11は電気系
統部品を収納した電気系ユニット16、装置本体1に処
理ガスやパ−ジガス等を供給するためのガス供給ユニッ
ト17などを備えており、ポンプボックス12は熱処理
炉14内を排気するための真空ポンプ等を備えている。
ポンプボックス12は排気管12a、前記電気系ユニッ
ト16はケ−ブル16a、ガス供給ユニット17はガス
配管17aにより、装置本体1内部の各部と接続されて
いる。The utility box 11 is provided with an electric system unit 16 containing electric system components, a gas supply unit 17 for supplying a processing gas, a purge gas and the like to the apparatus main body 1, and the like. Is provided with a vacuum pump and the like for exhausting the inside of the heat treatment furnace 14.
The pump box 12 is connected to various parts inside the apparatus main body 1 by an exhaust pipe 12a, the electric system unit 16 is connected to a cable 16a, and the gas supply unit 17 is connected to a gas pipe 17a.
【0004】ここで半導体製造工場では、ウエハへのパ
ーティクルの付着を防止するためにフィルタなどの特別
な構造を備えたクリ−ン度の高い領域が設けられてい
る。そして上述の熱処理装置では、このクリ−ン度の高
い領域をクリ−ンル−ムCRと、クリ−ンル−ムCRよ
りはクリ−ン度が低いメンテナンスル−ムMRとに区画
し、クリ−ンル−ムCRにてウエハを管理する一方、メ
ンテナンスル−ムMRにて装置のメンテナンスを行なう
ようにしている。Here, in a semiconductor manufacturing plant, a region having a high degree of cleanliness having a special structure such as a filter is provided in order to prevent particles from adhering to a wafer. In the heat treatment apparatus described above, the high clean area is divided into a clean room CR and a maintenance room MR having a lower clean degree than the clean room CR. While the wafer is managed by the room room CR, the maintenance of the apparatus is performed by the maintenance room MR.
【0005】具体的には熱処理装置はクリ−ンル−ムC
Rとメンテナンスル−ムMRとの間に設置され、クリ−
ンル−ムCR側からウエハカセットCを搬入出するよう
に装置本体1のクリ−ンル−ムCR側の面に前記入出力
ポ−ト13が設けられると共に、前記ユ−ティリティボ
ックス11はメンテナンスル−ムMRに設置されてい
る。Specifically, the heat treatment apparatus is a clean room C
R is installed between the maintenance room MR and the
The input / output port 13 is provided on the clean room CR side surface of the apparatus main body 1 so that the wafer cassette C is carried in and out from the room CR side, and the utility box 11 is provided with a maintenance room. -Located at the MR.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとしている課題】ところで上述のク
リ−ンル−ムCRは、室空間の塵埃を高性能フィルタに
より除去することにより清浄化し、同時に温度や湿度を
要求された値に保つために制御された室である。このた
め密閉性が必要であると共に、高性能フィルタやエア循
環手段、温度や湿度の制御手段などの特別の設備が高価
であるため、クリ−ンル−ムCRを設置するためのコス
トが高く、維持管理のためのランニングコストも高い。By the way, the above-mentioned clean room CR is cleaned by removing dust in the room space by a high-performance filter, and at the same time, is controlled to keep the temperature and humidity at required values. The room was done. For this reason, airtightness is required, and special equipment such as a high-performance filter, air circulation means, temperature and humidity control means is expensive, so that the cost for installing the clean room CR is high, The running cost for maintenance is also high.
【0007】またメンテナンスル−ムMRについても、
ウエハが置かれる雰囲気ほどの高いクリ−ン度は必要で
ないにしてもかなり高いクリ−ン度が要求されるので、
やはり設置するためのコストやランニングコストは高く
なる。これはメンテナンス時にボ−トエレベ−タやウエ
ハ移載ア−ムの調整などを行うためにメンテナンスル−
ムMRと装置本体1内の移載領域との間をオペレ−タが
出入りし、これによりメンテナンスル−ムMRからクリ
−ンル−ムCRにエアが入り込み、また装置本体1内の
クリ−ン度を高めるため、メンテナンスル−ムMRから
フィルタを介して装置本体1内にエアを取り込み、これ
を清浄エアとして装置本体1内に循環させているからで
ある。[0007] Further, regarding the maintenance room MR,
Since a considerably high degree of cleanliness is required if not as high as the atmosphere in which the wafer is placed,
After all, installation costs and running costs are high. This is a maintenance routine for adjusting the boat elevator and the wafer transfer arm during maintenance.
The operator enters and exits between the maintenance room MR and the transfer area in the apparatus main body 1, whereby air enters the cleaning room CR from the maintenance room MR, and the cleaner in the apparatus main body 1. This is because air is taken into the apparatus main body 1 from the maintenance room MR via the filter and is circulated as clean air in the apparatus main body 1 in order to increase the degree.
【0008】このように半導体製造工場では、作業雰囲
気の確保のためのコストが本来高く、しかもウエハは大
口径化しつつあり、これに合わせて装置本体1やユ−テ
ィリティボックス11、ポンプボックス12も大型化
し、同一フロアでみれば装置の設置台数が減ってしまう
ので、処理単価が今まで以上に高くなってしまうという
問題がある。As described above, in a semiconductor manufacturing plant, the cost for securing a working atmosphere is inherently high, and the diameter of a wafer is increasing, and accordingly, the apparatus main body 1, the utility box 11, and the pump box 12 are also required. If the size is increased and the number of apparatuses is reduced on the same floor, there is a problem that the processing unit price becomes higher than before.
【0009】本発明はこのような事情のもとになされた
ものであり、その目的はユ−ティリティボックスやポン
プボックスをクリ−ンル−ムCRやメンテナンスル−ム
MRと隔離して設置することにより、クリ−ン度の高い
部屋の有効利用を図り、処理コストを低減することがで
きる処理装置及び処理システムを提供することにある。The present invention has been made in view of such circumstances, and a purpose thereof is to install a utility box and a pump box separately from a clean room CR and a maintenance room MR. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a processing apparatus and a processing system capable of effectively utilizing a room with a high degree of cleanliness and reducing processing costs.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】このため本発明は、被処
理体を処理するための処理部とこの処理部に対して被処
理体の移載が行われる移載領域とを含み、クリ−ン度の
高い部屋に設けられた処理装置本体と、この処理装置本
体に用力ラインを介して接続された用力設備と、を備え
た処理装置において、前記用力設備を、前記部屋から隔
離された部屋例えば前記部屋に対して上方側又は下方側
に区画された部屋に設けたことを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, the present invention includes a processing section for processing a target object and a transfer area in which the target object is transferred to the processing section. A processing apparatus main body provided in a room with a high degree of operation, and a utility facility connected to the processing apparatus main body via a utility line, wherein the utility facility is separated from the room. For example, it is provided in a room partitioned above or below the room.
【0011】ここで例えば用力設備は、ガス供給設備、
ガス排気設備及び電気系統設備を含み、この用力設備の
用力ラインは、処理装置本体が置かれる部屋と、用力設
備が置かれる部屋とを区画する壁部に設けられた中継部
に対して、処理装置本体側の用力ラインと用力設備側の
用力ラインとを着脱自在に接続することとにより接続さ
れる。Here, for example, the utility equipment is a gas supply equipment,
The utility line of the utility facility includes a gas exhaust facility and an electrical system facility. The utility line on the device body side and the utility line on the utility facility side are connected by being detachably connected.
【0012】また本発明は、クリ−ン度の高い第1の部
屋と、被処理体を処理するための処理部とこの処理部に
対して被処理体の移載が行われる移載領域とを含み、前
記第1の部屋に設けられた複数の処理装置本体と、前記
第1の部屋に対して上方側又は下方側に区画して設けら
れた第2の部屋と、この第2の部屋に設けられ、前記処
理装置本体に用力ラインを介して接続された用力設備
と、を備える処理システムとして構成してもよい。According to the present invention, there is provided a first room having a high degree of cleanliness, a processing section for processing an object to be processed, and a transfer area for transferring the object to the processing section. A plurality of processing device main bodies provided in the first room, a second room partitioned above or below the first room, and a second room And a utility facility connected to the main body of the processing apparatus via a utility line.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】本発明を縦型熱処理装置に適用し
た実施の形態について説明するが、先ずこの実施の形態
の構想について述べておく。従来熱処理装置では、ウエ
ハはクリ−ンル−ム側から装置本体内に搬入され、熱処
理後はまたクリ−ンル−ムへ搬出されていく。このため
装置本体はクリ−ン度の高い領域に配置する必要はある
が、ユ−ティリティボックスやポンプボックスへはウエ
ハは搬入されないため、これら用力設備自体をクリ−ン
度の高い領域に配置する必要はなく、別の領域に設置す
れば、この設置領域分メンテナンスル−ムを小さくした
り、あるいは有効に使用することができる。本実施の形
態ではこの点に着目して装置を構成している。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to a vertical heat treatment apparatus will be described. First, the concept of this embodiment will be described. In a conventional heat treatment apparatus, a wafer is carried into the apparatus main body from a clean room side, and after the heat treatment, is carried out again to the clean room. For this reason, it is necessary to arrange the apparatus main body in an area with a high degree of cleanness, but since the wafer is not carried into the utility box or the pump box, these utility facilities themselves are arranged in an area with a high degree of cleanness. It is not necessary, and if it is installed in another area, the maintenance room can be reduced or used effectively by this installation area. The present embodiment focuses on this point when constructing the apparatus.
【0014】この実施の形態に係る縦型熱処理装置は、
図1及び図2に示すように処理装置本体例えば装置本体
2と、ユ−ティリティボックス3と、ポンプボックス4
とを備えている。前記装置本体2は図示しない清浄設備
が付設されたクリ−ン度が高い部屋である第1の部屋S
1内に設けられている。The vertical heat treatment apparatus according to this embodiment
As shown in FIGS. 1 and 2, a processing apparatus main body, for example, the apparatus main body 2, a utility box 3, and a pump box 4
And The apparatus main body 2 is a first room S, which is a room with a high degree of cleanliness, provided with cleaning equipment (not shown).
1.
【0015】前記第1の部屋S1はクリ−ンル−ムCR
と、メンテナンスル−ムMRとに仕切り板51により仕
切られており、装置本体2は第1クリ−ンル−ムCRと
メンテナンスル−ムMRとに亘って設置されていて、ウ
エハカセットCの入出力ポ−トをなすカセットステ−ジ
21が設けられた前面部がクリ−ンル−ムCR内に位置
している。The first room S1 is a clean room CR.
And the maintenance room MR are partitioned by a partition plate 51, and the apparatus main body 2 is installed over the first clean room CR and the maintenance room MR, and the wafer cassette C is inserted therein. The front surface provided with the cassette stage 21 serving as an output port is located in the clean room CR.
【0016】この装置本体2内の各部について図3を参
照しながら簡単に説明すると、前記カセットステ−ジ2
1は回転軸21aにより奥側に90度倒れるようにつま
りカセットC内の縦置きのウエハが水平になるように構
成される。カセットステ−ジ21の後方にはカセット搬
送機構22の搬送路を介して、上側にストッカ23、下
側に中間ステ−ジ24が配設されている。Each part of the apparatus main body 2 will be briefly described with reference to FIG.
Numeral 1 is configured so as to be tilted 90 degrees to the back side by the rotation shaft 21a, that is, so that vertically placed wafers in the cassette C are horizontal. A stocker 23 is disposed on the upper side and an intermediate stage 24 is disposed on the lower side of the cassette stage 21 via a transport path of a cassette transport mechanism 22 behind the cassette stage 21.
【0017】中間ステ−ジ24の後方側には、ウエハ移
載手段25を介して、ウエハ保持具であるウエハボ−ト
26が設けられている。このウエハボ−ト26は多数枚
のウエハを夫々水平に棚状に配列保持できるように構成
され、ボ−トエレベ−タ27の上に保温筒28を介して
載置されている。ウエハボ−ト26の上方には処理部例
えば熱処理炉29が配設されており、ボ−トエレベ−タ
27が上昇してウエハボ−ト26が熱処理炉29内に搬
入されることとなる。A wafer boat 26 as a wafer holder is provided behind the intermediate stage 24 via a wafer transfer means 25. The wafer boat 26 is configured so that a large number of wafers can be arranged and held horizontally in a shelf shape, and is mounted on a boat elevator 27 via a heat retaining cylinder 28. A processing unit, for example, a heat treatment furnace 29 is provided above the wafer boat 26, and the boat elevator 27 is raised to carry the wafer boat 26 into the heat treatment furnace 29.
【0018】前記メンテナンスル−ムMRはクリ−ンル
−ムCRよりはクリ−ン度が低く構成されており、装置
本体2内のウエハ移載領域との間に図示しないドア部が
設けられていて、熱処理装置のメンテナンス時例えばボ
−トエレベ−タやウエハ移載ア−ムの調整などを行うと
きに、オペレ−タがメンテナンスル−ムMRから装置本
体2内に出入りできるように構成されている。The maintenance room MR has a lower degree of cleanness than the clean room CR, and a door (not shown) is provided between the maintenance room MR and the wafer transfer area in the apparatus main body 2. When the maintenance of the heat treatment apparatus is performed, for example, when adjusting a boat elevator or a wafer transfer arm, the operator can enter and exit the apparatus main body 2 from the maintenance room MR. I have.
【0019】前記ユ−ティリティボックス3とポンプボ
ックス4とは用力設備をなすものであり、これらは装置
本体2が設けられた第1の部屋S1とは隔離された第2
の部屋に設けられている。この第2の部屋S2は第1の
部屋S1の床部5の例えば下方側領域に形成されてお
り、清浄設備は付設されてなくクリ−ンル−ムとしては
構成されていない。The utility box 3 and the pump box 4 constitute a utility facility, and these are provided in a second room separated from the first room S1 in which the apparatus main body 2 is provided.
It is provided in the room. The second room S2 is formed, for example, in a lower region of the floor portion 5 of the first room S1, and is not provided with a cleaning facility and is not configured as a clean room.
【0020】前記ユ−ティリティボックス3は内部に、
熱処理炉29内に処理ガスやパ−ジ用の非酸化ガスを供
給するためのバルブ、流量計などを備えたガス供給部を
なすガス供給ユニット31と、装置全体の動力を供給す
る電力供給部及び搬送系やヒ−タの制御回路等の電気系
統部品を備えた電気系統設備をなす電気系ユニット32
と、熱処理炉29内を冷却するための冷却水ユニット3
3等を備えている。またポンプボックス4はガス排気設
備をなすものであり、熱処理炉29内を真空排気するた
めの真空ポンプ等を備えている。The utility box 3 has therein:
A gas supply unit 31 serving as a gas supply unit having a valve, a flow meter, and the like for supplying a processing gas and a non-oxidizing gas for purge into the heat treatment furnace 29, and a power supply unit for supplying power to the entire apparatus. And an electric system unit 32 which constitutes electric system equipment including electric system components such as a transport system and a heater control circuit.
And a cooling water unit 3 for cooling the inside of the heat treatment furnace 29
3 and so on. The pump box 4 constitutes a gas exhaust system, and includes a vacuum pump and the like for evacuating the inside of the heat treatment furnace 29.
【0021】前記用力設備と装置本体2とは、排気管、
ガス供給管群、ケ−ブル群及び冷却水通水管等の用力ラ
インで接続されるが、この例では第1の部屋S1と第2
の部屋S2とを区画する区画壁である床部5(第2の部
屋S2からみると天井部)に用力ラインの中継部である
中継ユニット6を設け、第1の部屋S1側の用力ライン
即ち排気管41b、ガス供給管群31b,ケ−ブル群3
2b、冷却水通水管33bと第2の部屋S2側の用力ラ
イン(排気管41a、ガス供給管群31a,ケ−ブル群
32a、冷却水通水管33a)とを、中継ユニット6に
対して着脱自在に接続している。The utility equipment and the apparatus main body 2 are provided with an exhaust pipe,
Although connected by utility lines such as a gas supply pipe group, a cable group, and a cooling water flow pipe, in this example, the first room S1 and the second room S1 are connected.
A relay unit 6 which is a relay section of a utility line is provided on a floor portion 5 (a ceiling portion as viewed from the second room S2) which is a partition wall for partitioning the room S2 of the first room S2. Exhaust pipe 41b, gas supply pipe group 31b, cable group 3
2b, the cooling water passage 33b and the utility lines (exhaust tube 41a, gas supply tube group 31a, cable group 32a, cooling water passage 33a) on the second room S2 side are attached to and detached from the relay unit 6. Connected freely.
【0022】前記中継ユニット6はユニット本体60内
に中継用の用力ライン(排気管61、ガス供給管群6
2、ケ−ブル群63、冷却水通水管64)を上下方向に
貫通させ、ユニット本体60の上下両端部から前記用力
ラインの両端部が突出するように設けて構成されてい
る。前記ユニット本体60は例えば左右両端にフランジ
部65a,65bを備え、床板5に形成された開口部5
2に着脱自在に挿入されて、第2の部屋S2の空気が第
1の部屋S1に流れ込まないように構成されている。The relay unit 6 has a relay utility line (exhaust pipe 61, gas supply pipe group 6) inside the unit body 60.
2. The cable group 63 and the cooling water passage 64) are vertically penetrated, and are provided such that both ends of the utility line project from upper and lower ends of the unit main body 60. The unit main body 60 includes, for example, flange portions 65a and 65b at both left and right ends, and an opening 5 formed in the floor plate 5.
2 so that the air in the second room S2 does not flow into the first room S1.
【0023】そして上述の装置本体2を複数備えた処理
システムは例えば図6に示すように構成され、例えば複
数の装置本体2が同一フロアの第1の部屋S1内に横に
並べて配設されており、各装置本体2に対応するユ−テ
ィリティボックス3等が例えば地下室である第2の部屋
S2に並べて配設されている。A processing system having a plurality of the above-described apparatus main bodies 2 is configured as shown in FIG. 6, for example, and a plurality of the apparatus main bodies 2 are arranged side by side in the first room S1 on the same floor. A utility box 3 and the like corresponding to each apparatus main body 2 are arranged side by side in a second room S2 which is a basement, for example.
【0024】次に上述の実施の形態の作用について説明
する。中継ユニット6では、図5に示すように、中継用
の用力ラインの上部側の接続端部に、第1の部屋S1に
おいて装置本体2側の用力ラインが接続され、同様に中
継用の用力ラインの下部側の接続端部に、第2の部屋S
2において用力設備側の用力ラインが接続される。こう
して第1の部屋S1に置かれた装置本体2の各機構と第
2の部屋S2に置かれた用力設備とが用力ラインにより
接続される。Next, the operation of the above embodiment will be described. In the relay unit 6, as shown in FIG. 5, a utility line on the device body 2 side in the first room S <b> 1 is connected to a connection end on the upper side of the utility line for relay. A second room S is provided at the connection end on the lower side of the
In 2, the utility line on the utility facility side is connected. In this way, each mechanism of the apparatus main body 2 placed in the first room S1 and the utility equipment placed in the second room S2 are connected by the utility line.
【0025】そして装置本体2の各機構は電気系ユニッ
ト32により電力が供給されて駆動され、また電気系ユ
ニット32との間で信号の授受が行われる。そして所定
のプロセス条件に基づいて熱処理炉29内がポンプボッ
クス4内の真空ポンプにより所定の圧力まで排気され、
熱処理炉29内にガス供給ユニット31により所定の処
理ガスやパ−ジガスが所定の流量で供給される。Each mechanism of the apparatus main body 2 is driven by being supplied with electric power by the electric system unit 32, and exchanges signals with the electric system unit 32. Then, the inside of the heat treatment furnace 29 is evacuated to a predetermined pressure by a vacuum pump in the pump box 4 based on predetermined process conditions,
A predetermined processing gas or purge gas is supplied into the heat treatment furnace 29 at a predetermined flow rate by a gas supply unit 31.
【0026】熱処理装置の動作については先ずウエハW
が収納されたウエハカセットCが外部からカセットステ
−ジ21に搬入され、カセット搬送機構22により中間
ステ−ジ24に搬送される。その後ウエハ移載手段25
によりウエハカセットC内からウエハWがウエハボ−ト
26に移載され、ウエハボ−ト26に所定枚数例えば1
00枚搭載された後ボ−トエレベ−タ27によりウエハ
ボ−ト26が熱処理炉29内に搬入される。熱処理炉2
9内ではプロセス条件に基づいて所定の熱処理が行われ
る。The operation of the heat treatment apparatus is as follows.
Is loaded into the cassette stage 21 from the outside and transported to the intermediate stage 24 by the cassette transport mechanism 22. Thereafter, wafer transfer means 25
As a result, the wafer W is transferred from the wafer cassette C to the wafer boat 26, and a predetermined number of wafers, e.g.
After the 00 sheets are loaded, the wafer boat 26 is carried into the heat treatment furnace 29 by the boat elevator 27. Heat treatment furnace 2
In 9, a predetermined heat treatment is performed based on the process conditions.
【0027】このような熱処理装置では、第1の部屋S
1をクリ−ン度が高い部屋とすると共に第2の部屋S2
を第1の部屋S1とは隔離して地下に設け、クリ−ン度
の高い部屋に置かれる必要のある装置本体2のみを第1
の部屋S1に設置し、クリ−ン度が高い部屋に置かれる
必要のないユ−ティリティボックス3やポンプボックス
4は地下室である第2の部屋S2に設置している。In such a heat treatment apparatus, the first room S
1 is a room with a high degree of cleanliness and a second room S2.
Is installed in the basement, separated from the first room S1, and only the apparatus main body 2, which needs to be placed in a room with a high degree of cleanliness, is the first
The utility box 3 and the pump box 4, which need not be placed in a room with a high degree of cleanliness, are placed in the second room S2 which is a basement.
【0028】このため用力設備(ユ−ティリティボック
ス3やポンプボックス4)も装置本体2と同一フロアの
クリ−ン度が高い部屋に設けられていた従来の熱処理装
置に比べて、用力設備の設置分、熱処理装置の設置に必
要なクリ−ン度の高い部屋を小さくすることができ、こ
れによりクリ−ン度の高い部屋の設置コストや維持管理
のためのランニングコストを低くすることができる。For this reason, the utility equipment (the utility box 3 and the pump box 4) is also provided with a utility equipment as compared with the conventional heat treatment apparatus provided in a room with a high degree of cleanness on the same floor as the apparatus main body 2. For this reason, a room with a high degree of cleanliness required for installation of the heat treatment apparatus can be reduced, thereby reducing the installation cost of a room with a high degree of cleanliness and the running cost for maintenance.
【0029】またクリ−ン度の高い部屋が予め区画され
ている場合には、この部屋に設置される装置台数を多く
することができるので、クリ−ン度の高い部屋を有効利
用することができ、これによりこの部屋のランニングコ
ストをも含めた熱処理装置1台当たりの運転コストを低
減することができる。このことは設置台数が同じであれ
ば、従来のシステムに比べてクリ−ンル−ムのスペ−ス
を狭くできることを意味する。When a room with a high degree of cleanliness is partitioned in advance, the number of devices installed in this room can be increased, so that a room with a high degree of cleanliness can be effectively used. As a result, the operating cost per heat treatment apparatus including the running cost of this room can be reduced. This means that if the number of installations is the same, the space of the clean room can be narrowed as compared with the conventional system.
【0030】さらに中継ユニット60を介して各部屋S
1、S2の用力ラインが互いに着脱自在に接続されてい
るので、装置本体2及び用力設備各々のメンテナンスを
容易に行なうことができる。Further, each room S is connected via the relay unit 60.
Since the utility lines 1 and 2 are detachably connected to each other, the maintenance of the apparatus body 2 and the utility facilities can be easily performed.
【0031】続いて本発明の第2の実施の形態について
説明する。本実施の形態の形態が上述の第1の実施の形
態と異なる点は、ウエハカセットを図7に示すようなク
ロ−ズ型カセット7(以下カセット7という)としたこ
とにある。このカセット7について簡単に説明すると、
このカセット7は例えば13枚のウエハW1を棚状に保
持するようにウエハ保持部70が多段に形成されたカセ
ット本体71と、このカセット本体71のウエハ取り出
し口である開口部72を気密に塞ぐための蓋体73とを
備えている。Next, a second embodiment of the present invention will be described. The difference between the present embodiment and the first embodiment is that the wafer cassette is a close cassette 7 (hereinafter referred to as a cassette 7) as shown in FIG. Briefly describing this cassette 7,
The cassette 7 hermetically closes, for example, a cassette main body 71 in which wafer holding portions 70 are formed in multiple stages so as to hold 13 wafers W1 in a shelf shape, and an opening 72 which is a wafer take-out port of the cassette main body 71. And a lid 73.
【0032】前記蓋体73はカセット本体71の開口部
72の内側に入り込むように設けられており、また蓋体
73には例えば2か所に鍵穴74が設けられていて、こ
の鍵穴74にキ−75を挿入して回すことにより、蓋体
73の上端と下端とから例えば4本のロックピン76が
突出してカセット本体71に蓋体73が固定されるよう
に構成されている。The cover 73 is provided so as to enter the inside of the opening 72 of the cassette body 71. The cover 73 is provided with, for example, two key holes 74 at the key holes 74. By inserting and turning −75, for example, four lock pins 76 project from the upper end and the lower end of the lid 73, and the lid 73 is fixed to the cassette body 71.
【0033】このようなカセット7を用いる場合には、
装置本体8は例えば図8及び図9に示すように構成され
る。この装置本体8はクリ−ン度の高い部屋である第1
の部屋S1に設けられるが、第1の部屋S1はクリ−ン
ル−ムCRとメンテナンスル−ムMRとに区画されおら
ず、従来のオ−プン型カセットを用いていた場合のクリ
−ン度よりは低い、いわば中程度のクリ−ン度に維持さ
れている。When such a cassette 7 is used,
The apparatus main body 8 is configured, for example, as shown in FIGS. The apparatus main body 8 is a first room which is a clean room.
The first room S1 is not divided into a clean room CR and a maintenance room MR, and the degree of cleanness when a conventional open-type cassette is used. It is maintained at a lower, so to say medium, degree of cleanness.
【0034】このような構成の熱処理装置では、装置本
体8の常時は蓋体で閉じられている受け渡し口81aに
外部からカセット7が装着され、カセット7の蓋体73
と受け渡し口81aの蓋体とを図示しない開閉機構によ
り開き、この後カセット7内のウエハがウエハ移載手段
85によりウエハボ−ト83、84に移載され、このウ
エハボ−ト83、84がボ−トエレベ−タ83a,84
aにより熱処理炉82内に交互に搬入されて所定の熱処
理が行われる。In the heat treatment apparatus having such a configuration, the cassette 7 is mounted on the delivery port 81a of the apparatus main body 8 which is always closed by the cover, and the cover 73 of the cassette 7 is provided.
And the lid of the transfer port 81a are opened by an opening / closing mechanism (not shown). Thereafter, the wafers in the cassette 7 are transferred to the wafer boats 83 and 84 by the wafer transfer means 85, and the wafer boats 83 and 84 are transferred to the boats. -Elevators 83a, 84
The predetermined heat treatment is carried out by being alternately carried into the heat treatment furnace 82 by a.
【0035】本実施の形態においては、装置本体8内の
移載領域(ウエハ移載手段85の移載領域及びウエハボ
−ト83、84の移動領域)を外部から区画すると共
に、カセット7自体を蓋体を設けたクロ−ズ型とし、装
置本体8内やカセット7内にパーティクルが入り込まな
いようにしているため、装置本体8内はクリ−ン度が高
くなければならないが、第1の部屋S1自体は上述のよ
うに中程度のクリ−ン度でよい。従って高度のクリ−ン
度が必要である場合に比べて、第1の部屋S1の設置コ
ストやランニングコストが低いため、ユ−ティリティボ
ックス3やポンプボックス4を第2の部屋S2に設ける
ことにより第1の部屋S1を小さくすることができれ
ば、第1の部屋S1の設置コストやランニングコストを
より低減することができる。In the present embodiment, the transfer area (the transfer area of the wafer transfer means 85 and the movement areas of the wafer boats 83 and 84) in the apparatus main body 8 is partitioned from the outside, and the cassette 7 itself is separated. Since the inside of the apparatus main body 8 must be high in the degree of cleanness because it is of a closed type provided with a lid to prevent particles from entering the apparatus main body 8 and the cassette 7, the first room S1 itself may have a moderate degree of cleanness as described above. Therefore, since the installation cost and the running cost of the first room S1 are lower than the case where a high degree of cleanliness is required, the utility box 3 and the pump box 4 are provided in the second room S2. If the first room S1 can be made smaller, the installation cost and running cost of the first room S1 can be further reduced.
【0036】以上において本発明では、クリ−ン度の高
い第1の部屋の上部に前記部屋とは区画された第2の部
屋を設け、第1の部屋に処理装置本体を設置し、第2の
部屋に用力設備を設置するようにしてもよいし、第2の
部屋は第1の部屋と同一フロアに設けられていてもよ
い。また第1の部屋に複数の処理装置本体を設置する場
合に、2体あるいは3体の処理装置本体に共通の用力設
備を第2の部屋に設置するようにしてもよい。As described above, according to the present invention, a second room partitioned from the room is provided above the first room having a high degree of cleanliness, and the processing apparatus main body is provided in the first room. The utility equipment may be installed in the first room, or the second room may be provided on the same floor as the first room. When a plurality of processing apparatus main bodies are installed in the first room, utility equipment common to two or three processing apparatus main bodies may be installed in the second room.
【0037】[0037]
【発明の効果】本発明によれば、クリ−ン度の高い部屋
の有効利用を図ることができる。また中継部を設けるこ
とにより処理装置本体側の用力ラインと用力設備側の用
力ラインとを容易に接続することができる。According to the present invention, a room having a high degree of cleanliness can be effectively used. Further, by providing the relay section, the utility line on the processing apparatus main body side and the utility line on the utility facility side can be easily connected.
【図1】本発明を熱処理装置に適用した場合の実施の形
態に係る熱処理装置を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a heat treatment apparatus according to an embodiment when the present invention is applied to a heat treatment apparatus.
【図2】本発明の実施の形態に係る熱処理装置を示す側
面図である。FIG. 2 is a side view showing a heat treatment apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施の形態に係る熱処理装置の装置本
体を示す側面図である。FIG. 3 is a side view showing an apparatus main body of the heat treatment apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図4】中継ユニットを示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a relay unit.
【図5】中継ユニットを示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a relay unit.
【図6】本発明の熱処理システムを示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a heat treatment system of the present invention.
【図7】クロ−ズ型カセットを示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing a close type cassette.
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る熱処理装置を
示す斜視図である。FIG. 8 is a perspective view showing a heat treatment apparatus according to a second embodiment of the present invention.
【図9】本発明の第2の実施の形態に係る熱処理装置を
示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing a heat treatment apparatus according to a second embodiment of the present invention.
【図10】従来の熱処理装置を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view showing a conventional heat treatment apparatus.
2、8 装置本体 29 熱処理炉 3 ユ−ティリティボックス 31 ガス供給ユニット 32 電気系ユニット 33 冷却水ユニット 4 ポンプボックス 5 床部 6 中継ユニット 7 クロ−ズ型カセット S1 第1の部屋 S2 第2の部屋 2, 8 Main unit 29 Heat treatment furnace 3 Utility box 31 Gas supply unit 32 Electric system unit 33 Cooling water unit 4 Pump box 5 Floor 6 Relay unit 7 Closed cassette S1 First room S2 Second room
Claims (5)
処理部に対して被処理体の移載が行われる移載領域とを
含み、クリ−ン度の高い部屋に設けられた処理装置本体
と、この処理装置本体に用力ラインを介して接続された
用力設備と、を備えた処理装置において、 前記用力設備を、前記部屋から隔離された部屋に設けた
ことを特徴とする処理装置。1. A processing unit provided in a room with a high degree of cleanness, including a processing unit for processing an object to be processed and a transfer area where the object to be processed is transferred to the processing unit. A processing apparatus comprising: an apparatus main body; and a utility facility connected to the processing apparatus main body via a utility line, wherein the utility facility is provided in a room isolated from the room. .
処理部に対して被処理体の移載が行われる移載領域とを
含み、クリ−ン度の高い部屋に設けられた処理装置本体
と、この処理装置本体に用力ラインを介して接続された
用力設備と、を備えた処理装置において、 前記用力設備を、前記部屋に対して上方側又は下方側に
区画された部屋に設けたことを特徴とする処理装置。2. A processing unit provided in a room with a high degree of cleanness, including a processing unit for processing an object to be processed and a transfer area for transferring the object to and from the processing unit. In a processing apparatus including an apparatus main body and a utility facility connected to the processing apparatus main body via a utility line, the utility facility is provided in a room partitioned on an upper side or a lower side with respect to the room. A processing device, characterized in that:
備及び電気系統設備を含むことを特徴とする請求項1又
は2記載の処理装置。3. The processing apparatus according to claim 1, wherein the utility equipment includes a gas supply equipment, a gas exhaust equipment, and an electric system equipment.
備が置かれる部屋とを区画する壁部に用力ラインの中継
部を設け、処理装置本体側の用力ラインと用力設備側の
用力ラインとを前記中継部に対して着脱自在に接続した
ことを特徴とする請求項1又は2記載の処理装置。4. A utility line relay section is provided on a wall section separating a room where the processing apparatus main body is placed and a room where the utility equipment is placed, and a utility line on the processing apparatus main body side and a utility line on the utility facility side are provided. The processing apparatus according to claim 1, wherein the processing unit is detachably connected to the relay unit.
被処理体の移載が行われる移載領域とを含み、前記第1
の部屋に設けられた複数の処理装置本体と、 前記第1の部屋に対して上方側又は下方側に区画された
第2の部屋と、 この第2の部屋に設けられ、前記処理装置本体に用力ラ
インを介して接続された用力設備と、を備えたことを特
徴とする処理システム。5. A first room having a high degree of cleanliness, a processing unit for processing an object to be processed, and a transfer area for transferring an object to and from the processing unit, The first
A plurality of processing device main bodies provided in a room; a second room partitioned above or below the first room; provided in the second room; A utility system connected via a utility line.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26921396A JPH1097962A (en) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | Treating device and treating system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26921396A JPH1097962A (en) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | Treating device and treating system |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006306571A Division JP4000174B2 (en) | 2006-11-13 | 2006-11-13 | Processing system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1097962A true JPH1097962A (en) | 1998-04-14 |
Family
ID=17469255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26921396A Withdrawn JPH1097962A (en) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | Treating device and treating system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1097962A (en) |
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-
1996
- 1996-09-19 JP JP26921396A patent/JPH1097962A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051107 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060912 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061113 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20070202 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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|
A761 | Written withdrawal of application |
Effective date: 20090512 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 |