JP3646153B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、論理閾値との比較でL状態又はH状態が判定されるデジタル信号を伝達しながら動作する回路を含む半導体集積回路に係り、特に、クロック信号等のデジタル信号による他信号へのカップリングノイズを低減し、回路の誤動作を防止すると共に、デジタル信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
回路の各部にクロック信号を分配するために、一例を図1に示すCTS(clock tree synthesis)方式では多数のバッファBAや、バッファBをツリー状に接続する。一例を図2に示すクロックトランク方式では、主となるバッファBAによってトランクTにクロック信号CLKを供給し、多数のバッファBによって該トランクTから回路各部に対してクロック信号を分配する。このトランクは他配線に比べ太くされた配線であり、抵抗成分が小さくなるため、該トランクT内の信号遅延はほぼ無視することができる。次に一例を図3に示すクロックバッファ方式は最も単純な方式であり、格段に出力駆動能力を大きくしたバッファBAを1つ用い、回路各部に対してクロック信号CLKを分配する。
【0003】
クロック信号CLKを分配するこれらいずれの方式も、出力駆動能力が大のバッファと、回路各部に対してクロック信号を分配するために張り巡らされた配線との組合せとなっている。
【0004】
又、以上に説明したクロック信号以外でも、半導体集積回路内で多く用いられ、分配される信号がある。このような信号でも、前述した図1〜図3に示すように半導体集積回路内で信号分配を行うことができる。例えば、図4に示すように多数のバッファBAやバッファBをツリー状に接続して、信号分配できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
前述のように、半導体集積回路のチップ全体、回路全体に信号分配すると、分配した信号の立ち上がりや立ち下がりで、他信号に対してカップリングノイズが生じ、問題になることが多い。例えば、クロック信号については、チップ全体、回路全体にクロック信号線が一様に分布するため、その信号の立ち上がりや立ち下がりで他信号に対してカップリングノイズが生じ、問題になることが多い。
【0006】
例えば図5においてクロック信号CLKが0Vから電源電圧VDDに立ち上がる際、クロック信号線に接近する配線の0Vの信号S1には、電圧プラス方向に立ち上がるカップリングノイズが発生してしまっている。又クロック信号線に接近する配線の電源電圧VDDの信号S2には、電圧マイナス方向のカップリングノイズが発生してしまっている。
【0007】
このようなノイズが信号に混入すると、該信号を入力する回路が誤動作してしまう虞がある。例えば図6のタイムチャートにおいて本来信号S3を入力し信号S4を出力するインバータ回路を考える。このような回路でカップリングノイズが混入してしまって信号S3が信号S3’となってしまうと、本来信号S4を出力するところ該回路が誤動作を生じ例えば信号S4’を出力してしまう。
【0008】
以上に説明したカップリングノイズの問題は、他のデジタル信号についても同様である。例えば、このような問題は、図4に示したように半導体集積回路内で信号分配しているデジタル信号でも生じることがある。
【0009】
又、半導体集積回路内で広く信号分配すると、セルが駆動する信号配線が長くなったり、他のセル入力か多くなったり等する。このようにセルの駆動する出力ネットの総負荷容量が大きくなった場合、該セルの出力信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間(以降、単に遷移時間と称する)が延長されてしまう。例えば、図4の信号OUT1については、図7に示されるように信号が立ち上がる際の、時刻TCからTDまでの遷移時間が延長される。あるいは、同信号OUT1について、図8に示されるように信号が立ち下がる際の、時刻TEからTFまでの遷移時間が延長される。セルが駆動する出力ネットの総負荷容量と、遷移時間との関係は、大体図9のグラフのようであり、負荷が大きい程、遷移時間も大きくなる。
【0010】
又、遷移時間が延長されると、半導体集積回路に組み込んだ回路のセルを伝わっていく信号の遅延時間も延長されてしまう。例えば図4においては、信号OUT1の電位の遷移が開始されてから、信号OUT2の電位の遷移が終了するまでの遅延時間が延長されてしまう。遷移時間と遅延時間との関係は、大体、図10のとおりであり、セル入力の遷移時間が大きい程、セルを伝わっていく信号の遅延時間も大きくなる。
【0011】
本発明は前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、クロック信号等のデジタル信号による他信号へのカップリングノイズを低減し、回路の誤動作を防止すると共に、デジタル信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる半導体集積回路を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、論理閾値との比較でL状態又はH状態が判定されるクロック信号を伝達しながら動作する回路を含む半導体集積回路において、前記論理閾値を挟むようにしながら、前記クロック信号の少なくとも一部の、L状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する信号振幅縮小回路を備え、前記信号振幅縮小回路の動作あるいは非動作を制御するイネーブル信号を、クロック信号自体から生成し出力する制御回路を備えると共に、前記信号振幅縮小回路が、前記イネーブル信号によって前記信号振幅縮小回路が非動作状態である場合、オン抵抗を前記出力信号のL状態の電位を上昇するために用いるトランジスタ、及びオン抵抗を前記出力信号のH状態の電位を下降するために用いるトランジスタを共にオフ状態にする回路であることを備えたことにより前記課題を解決したものである。
【0015】
又、本発明は、論理閾値との比較でL状態又はH状態が判定されるデジタル信号を伝達しながら動作する回路を含む半導体集積回路において、前記論理閾値を挟むようにしながら、前記デジタル信号の少なくとも一部の、L状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する信号振幅縮小回路を備えると共に、前記信号振幅縮小回路が、振幅を縮小しようとする前記デジタル信号がH状態の時にオフとなり、一方、L状態の時にオンとなって、該振幅縮小デジタル信号を電源電圧にプルアップし、これにより該振幅縮小デジタル信号のL状態の電位を高めて振幅を縮小するプルアップトランジスタと、該振幅縮小デジタル信号がL状態の時にオフとなり、一方、H状態の時にオンとなって、該振幅縮小デジタル信号をグランドにプルダウンし、これにより該振幅縮小デジタル信号のH状態の電位を低めて振幅を縮小するプルダウントランジスタとを有するものとすることにより、前記課題を解決したものである。かつ、前記信号振幅縮小回路を単純な構成で実現している。
【0016】
前記半導体集積回路において、前記プルアップトランジスタを経由する、前記振幅縮小デジタル信号から前記電源電圧までの区間の電気抵抗、又は、前記プルダウントランジスタを経由する、前記振幅縮小デジタル信号から前記グランドまでの区間の電気抵抗の内、少なくとも一方を増加するようにしたことにより、電源電圧からグランドに流れる貫通電流を減少することができる。
【0017】
前記半導体集積回路において、前記区間の少なくともいずれか一方に、前記プルアップトランジスタや前記プルダウントランジスタよりゲート幅が小の、常時オンのトランジスタを挿入することで、前記電気抵抗の増加を効果的に行うことができる。
【0018】
以下、本発明の作用を、カップリングノイズについて、続いて遷移時間や遅延時間について、この順に簡単に説明する。
【0019】
まずカップリングノイズについて、本発明の作用を説明する。
【0020】
図11は本発明の原理を示すタイムチャートである。このタイムチャートは前述の従来例の動作状態を示す図5に対応付けて作成されている。
【0021】
クロック信号によるカップリングノイズは主として電磁誘導によって、クロック信号線に接近する配線の他信号にクロック信号によるノイズが生じてしまうというものである。まず図5においてクロック信号CLKは0Vから電源電圧VDDまでの振幅となっている。クロック信号によるカップリングノイズの大きさを考えた場合、クロック信号の振幅が大きい程増大し、クロック信号がこのように0Vから電源電圧VDDまでフルスイングすると顕著に現れる。
【0022】
このため本発明では例えば図11に示すようにクロック信号の振幅を縮小するようにしている。本発明の半導体集積回路は、当該半導体集積回路の次段の回路のL状態又はH状態を判定する論理閾値を縮小された振幅が挟むようにしながら、L状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する信号振幅縮小回路を備えている。例えば図11のタイムチャートではクロック信号CLKの振幅は電圧VAからVBまでに縮小されている。即ち電圧VA、VB、VDDについて、次式の条件が成り立つようにしている。
【0023】
(0<VA<VB<VDD)…(1)
【0024】
ここでこのように振幅が縮小されたクロック信号を入力する、次段の回路の論理閾値、即ちL状態又はH状態の論理状態を判定する論理閾値をVTとする。すると該次段回路において入力されるクロック信号の論理状態を正しく判定できるためには、次式が成り立つ必要がある。即ち、電圧VAからVBまでの、縮小されたクロック信号の振幅は、論理閾値VTを挟む必要がある。
【0025】
(0<VA<VT<VB<VDD)…(2)
【0026】
又該次段回路の入力論理状態判定においては、本発明はこれに限定されるものではないが、ノイズマージンを大とするためには、次式が成り立つことが好ましい。後述する第1実施形態では次式が成り立っている。
【0027】
(VT−VA)=(VB−VT)…(3)
【0028】
又、このように振幅が縮小されたクロック信号であっても、それにつながる次段の回路を何等問題なく動作させることができる。
【0029】
ここで図12は振幅が0Vから電源電圧VDDまでのクロック信号、あるいは本発明の振幅が縮小されたクロック信号を、インバータに入力した場合のタイムチャートである。
【0030】
該タイムチャートでは本発明のクロック信号において前述の(1)〜(3)式のすべての条件が成立している。このため振幅が縮小された本発明のクロック信号を入力した場合も、0Vから電源電圧VDDまでの振幅のクロック信号と同様に、破線で示される次段のインバータの出力波形を得ることができている。これはインバータの出力が反転する論理状態の判定は、論理閾値VTを基準としてなされるためである。いずれのクロック信号も時刻TAあるいはTBで、論理閾値VTを横切っている。
【0031】
又本発明から出力されるクロック信号は振幅が縮小され、これによってカップリングノイズを低減することができる。例えば前述の図11のタイムチャートにおいて、信号S1’のノイズは図5の信号S1の場合に比べ減少され、信号S2’のノイズは図5の信号S2の場合に比べ減少されている。このように本発明によれば他信号へのカップリングノイズを低減することができ、回路の誤動作を防止することができる。なお、以上の作用の説明はクロック信号中心であったが、他のデジタル信号についても同様である。
【0032】
続いて遷移時間や遅延時間について、本発明の作用を簡単に説明する。
【0033】
図13は、デジタル信号の立ち下がりを示すタイムチャートである。又、図114は、立ち上がりを示すタイムチャートである。
【0034】
これらの図において、一点鎖線で示す従来例は、デジタル信号がH状態では、電源電圧VDDまで上昇している。一方、L状態では、グランドGNDの電位のゼロボルトまで下降している。
【0035】
これに対して、本発明では、信号振幅縮小回路を備えるようにし、該信号振幅縮小回路により、論理閾値VTを挟むようにしながら、デジタル信号のL状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する。例えば図13及び図14では、本発明が適用された信号は実線で示され、L状態の電圧は電圧VAまで高められ、H状態の電圧は電圧VBまで低められ、信号は論理閾値VTを挟む電圧VAからVBまでの振幅に縮小されている。
【0036】
ここで、L状態及びH状態の間で論理状態が遷移する際、単位時間当たりに電圧が上昇又は下降する大きさが同じであるとする。すると、論理状態遷移に要する電圧遷移量(電位差)が少ないほど、遷移時間が短くなる。例えば、図13の従来例における遷移時間TG〜TG2に比べ、本発明適用の遷移時間TG〜TG1の方が短い。又、図14の従来例における遷移時間TH〜TH2に比べ、本発明適用の遷移時間TH〜TH1の方が短い。
【0037】
このように、本発明によれば、デジタル信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる。
【0038】
【発明の実施の形態】
以下、図を用いて本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【0039】
図15は本発明が適用された第1実施形態の、信号振幅縮小回路を含む半導体集積回路の回路図である。
【0040】
本実施形態はインバータIと、2つの抵抗R1及びR2とによって構成される。ここで抵抗R1及びR2はいずれも抵抗値がRである。
【0041】
本実施形態では抵抗R1及びR2によって本発明の信号振幅縮小回路が構成される。まず抵抗R1はクロック信号の出力信号CLKOUTのL状態の電位を上昇するために用いる。一方抵抗R2は該出力信号CLKOUTのH状態の電位を下降するために用いる。このようにL状態の電位が上昇され、かつH状態の電位が下降され、クロック信号として出力される出力信号CLKOUTの振幅が縮小される。
【0042】
ここで本実施形態をより詳細に示した図16において、インバータIはPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNによって構成される。ここでこれらPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNのオン抵抗の抵抗値をいずれもrとする。すると本実施形態において、L状態を出力する場合等価回路は図17の通りとなり、H状態を出力する場合等価回路は図18に示す通りとなる。
【0043】
まずL状態を出力する場合図17において、クロック信号の出力信号CLKOUTの電圧Voは次式の通りとなる。
【0044】
Vo=VDD×(A/(R+A))…(4)
ここでAは次式の通りである。
【0045】
A=(R×r)/(R+r)…(5)
【0046】
次にH状態を出力する場合図18において、出力信号CLKOUTの電圧Voは次式の通りである。
【0047】
Vo=VDD×(R/(R+A))…(6)
【0048】
本実施形態では前述の(2)式が成立するようにされ、さらにノイズマージンを大とするため、前述の(3)式が成立するようにされている。従って図19において電圧VAからVBの振幅に縮小された出力信号CLKOUTでは、次式が成立する。
【0049】
VD=VA=(VDD−VB)=VDD×(A/(R+A))…(7)
【0050】
上記の(7)式に示されるように本実施形態によれば本発明を適用して、クロック信号の出力信号CLKOUTの振幅を縮小することができる。従ってクロック信号等のデジタル信号による他信号へのカップリングノイズを低減し、回路の誤動作を防止すると共に、デジタル信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる。
【0051】
但し、この回路構成の場合には、電源電圧VDDから抵抗R1、R2を介して常に電流が流れ、動作時以外にも余計な電力を消費してしまうという問題がある。そこで次に、この点を改善した本発明の第2実施形態を説明する。図20は本発明が適用された第2実施形態の、信号振幅縮小回路を含む半導体集積回路の一例を示す。
【0052】
本実施形態の入力信号CLKINから出力信号CLKOUTまでの論理は、図21に示すように2つのインバータIを直列接続したものと同じである。又従来からのこの図21のクロック信号出力回路の、クロック信号の入力信号CLKIN及び出力信号CLKOUTは図22に示す通りである。該従来例では出力信号CLKOUTの振幅は縮小されていない。又出力信号CLKOUTは入力CLKINよりタイミングがやや遅れている。該遅れは2段のインバータIの動作遅れ等による。
【0053】
本実施形態は図20に示すようにインバータI1〜I3と、遅延回路Dと、フリップフロップFFと、PチャネルMOSトランジスタTPと、NチャネルMOSトランジスタTNとにより構成される。
【0054】
ここで本実施形態では、遅延回路D及びフリップフロップFFによって、イネーブル信号を出力する制御回路が構成される。本実施形態において該イネーブル信号は信号Eとなっている。又PチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNによって、信号振幅縮小回路が構成されている。
【0055】
図23は本実施形態の動作を示すタイムチャートである。
【0056】
ここで遅延回路Dの遅延時間αは、フリップフロップFFの入力Dに入力するクロック信号がH状態であるときに、遅延されたパルスが立ち上がるタイミングであればよい。ここで遅延回路Dの遅延時間αは、クロック信号の周期をtとすると、次式の範囲に設定されている。
【0057】
t<α<(t+t/2)…(8)
【0058】
図23のタイムチャートではクロック信号の入力信号CLKINの各パルスに入力順に、符号P1〜P4が付されている。又遅延回路Dが出力する信号αCLK、及び出力信号CLKOUTにそれぞれ付されているP1〜P4はいずれも、上記の入力信号CLKINの対応するパルスと同符号が付されている。即ち出力信号CLKOUTのパルスP1〜P4はそれぞれ、入力信号CLKINのパルスP1〜P4よりやや遅れて出力される。これに対して信号αCLKのパルスP1〜P4はそれぞれ、入力信号CLKINのパルスP1〜P4より遅延時間αだけ遅れている。
【0059】
該タイムチャートを用いて本実施形態の動作を説明すると、まず初期状態では、フリップフロップFFの出力する信号EはL状態であり、PチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNはいずれもオフ状態である。従ってこの初期状態ではインバータI2の出力は、これらPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNの影響を受けることなく、出力信号CLKOUTとして出力される。該出力信号CLKOUTの振幅はこの初期状態では、0Vから電源電圧VDDである。
【0060】
次に遅延時間αだけ遅れた信号αCLKのパルスP1が立ち上がると、フリップフロップFFはH状態の入力信号CLKINのパルスP2を取り込む。従って該フリップフロップFFの出力する信号EはH状態となる。該信号EがH状態となると、PチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNは共にオン状態となる。
【0061】
ここでPチャネルMOSトランジスタTPは前述の第1実施形態の図15の抵抗R1と同様、出力信号CLKOUTのL状態の電位を上昇するために用いられる。一方NチャネルMOSトランジスタTNは図15の抵抗R2と同様、出力信号CLKOUTのH状態の電位を下降するために用いられる。ここでこれらPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNのオン抵抗の抵抗値をrとする。すると信号EがH状態である期間、本第2実施形態のPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNは、図16〜図19を用いて前述したような第1実施形態の抵抗R1及びR2と同様に作用し、出力信号CLKOUTの振幅を縮小する。又本実施形態でも前述の(2)式が満足されている。
【0062】
なお入力信号CLKINの最後のパルスP4が入力され、この時より遅延αだけ後に信号αCLKのパルスP4が立ち上がると、L状態の入力信号CLKINがフリップフロップFFに取り込まれ、信号EはL状態となる。すると本実施形態において出力信号CLKOUTの振幅は縮小されなくなる。
【0063】
以上説明した通り本実施形態においては入力信号CLKINにクロック信号のパルスが順次入力され、信号EがH状態となると、前述の第1実施形態と同様、クロック信号の出力信号CLKOUTの振幅が縮小される。従ってクロック信号の出力信号CLKOUTによる他信号へのカップリングノイズを低減し、回路の誤動作を防止することができる。又、振幅が縮小されることで、論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる。
【0064】
ここで本実施形態では、入力信号CLKINにクロック信号のパルスが入力されないときは、信号EがL状態となる。又信号EがL状態となると、信号振幅縮小回路として用いるPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNはいずれもオフ状態となり、直列接続されたこれらトランジスタのソース−ドレインには電流が流れない。これに対して前述の第1実施形態では、これらPチャネルMOSトランジスタTP及びNチャネルMOSトランジスタTNに対応して、信号振幅縮小回路として用いる抵抗R1及びR2には、入力信号CLKINのクロック信号のパルスの入力の有無にかかわらず常時電流が流れるため、動作時以外にも不必要な電力を消費してしまう。
【0065】
なお、以上に説明した第1実施形態及び第2実施形態では、本発明を適用して振幅を縮小する信号がクロック信号となっている。しかしながら、他のデジタル信号についても、同様に振幅を縮小することができる。従って、これら実施形態を他のデジタル信号に適用することも可能であることは明らかである。
【0066】
図24は、本発明が適用された第3実施形態の、信号振幅縮小回路を含む半導体集積回路の回路図である。
【0067】
本実施形態において、信号振幅縮小回路は、PチャネルMOSトランジスタTP1及びNチャネルMOSトランジスタTN1によって構成される。
【0068】
まず、PチャネルMOSトランジスタTP1は、本発明のプルアップトランジスタとして設けられている。該PチャネルMOSトランジスタTP1は、ネットOUT1の、振幅を縮小しようとするデジタル信号OUT1がH状態の時にオフとなる。一方、該信号OUT1がL状態の時にオンとなって、該信号OUT1を電源電圧にプルアップする。これにより、該信号OUT1のL状態の電位を高めて振幅を縮小する。
【0069】
又、NチャネルMOSトランジスタTN1は、本発明のプルダウントランジスタとして設けられている。該NチャネルMOSトランジスタTN1は、振幅を縮小しようとするデジタル信号OUT1がL状態の時にオフとなり、一方、H状態の時にオンとなって、該信号OUT1をグランドにプルダウンする。これにより、該信号OUT1のH状態の電位を低めて振幅を縮小する。
【0070】
図25は、本実施形態の主要部の等価回路図である。
【0071】
この図において、バッファBAは、PチャネルMOSトランジスタTP2及びNチャネルMOSトランジスタTN2で示されている。本実施形態では、本来電源電圧VDDからゼロボルトまでであった、バッファBAが出力するデジタル信号OUT1の振幅を、本発明を適用することで縮小することができる。なお、縮小後のL状態の電位VAや、H状態の電位VBや、これら電位の振幅VA〜VBは、PチャネルMOSトランジスタTP1、TP2、NチャネルMOSトランジスタTN1、2のオン抵抗の相互関係に依存している。
【0072】
このように本実施形態によれば、本発明を適用してデジタル信号OUT1の振幅を縮小することができる。従って、クロック信号等のデジタル信号による他信号へのカップリングノイズを低減し、回路の誤動作を防止すると共に、デジタル信号の論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる。
【0073】
ここで、本実施形態では、デジタル信号OUT1がL状態であると、論理状態が定常状態にある時にも、電源VDDからグランドGNDに、図26の矢印に示すように電流が流れてしまう。又、信号OUT1がH状態であると、論理状態が定常状態にある時にも、電源VDDからグランドGNDに、図27の矢印に示すように電流が流れてしまう。これらの貫通電流が流れると、消費電力が増大してしまう。なお、これらの貫通電流は、通常、前述した第1実施形態において、抵抗R1、R2を介して電源電圧VDDからグランドGNDに流れる電流よりは少ない。
【0074】
図28は、本発明が適用された第4実施形態の、信号振幅縮小回路を含む半導体集積回路の回路図である。
【0075】
本実施形態では、前述した第3実施形態の貫通電流に関する問題を低減するため、図28に示すように、第3実施形態に対してPチャネルMOSトランジスタTP3及びNチャネルMOSトランジスタTN3を追加している。PチャネルMOSトランジスタTP3は電源VDD側に設けられ、NチャネルMOSトランジスタTN3はグランドGND側に設けられている。又、これらPチャネルMOSトランジスタTP3及びNチャネルMOSトランジスタTN3は、いずれも、ゲート幅が狭い、小さいサイズのトランジスタであり、常時オンとなっている。
【0076】
まず、PチャネルMOSトランジスタTP3により、本発明のプルアップトランジスタとされるPチャネルMOSトランジスタTP1を経由する、ネットOUT1から電源電圧VDDまでの区間の電気抵抗が増加されている。従って、図26の矢印に示される貫通電流が抑えられ、消費電力が小さくされる。
【0077】
又、NチャネルMOSトランジスタTN3により、本発明のプルダウントランジスタとされるNチャネルMOSトランジスタTN1を経由する、ネットOUT1からグランドGNDまでの区間の電気抵抗が増加されている。従って、図27の矢印に示される貫通電流が抑えられ、消費電力が小さくされる。
【0078】
ここで、上述の第3実施形態を、図29のように実施例として適用する。
【0079】
この図29において、符号A、YA、YB、BA、BBは、いずれも該当ネットの信号である。信号YA及び信号BAは、比較例の信号である。信号YB及び信号BBは、第3実施形態を適用した信号である。又、信号YAに対しても、信号YBに対しても、同数の256個のバッファBが設けられている。信号BA及び信号BBは、いずれも、これらバッファBの内の1つが出力する信号である。
【0080】
又、図30は、本実施例において信号Aが立ち上がる際のタイムチャートである。一方、図31は、該信号Aが立ち下がる際のタイムチャートである。これらタイムチャートにおいて、論理閾値VTは、1.40ボルトである。
【0081】
まず、図30において、第3実施形態が適用される信号YBは、比較例の対応する信号YAに比べて、論理閾値VTを早い時刻に横切り、遷移時間が短縮されている。このため、これら信号YBや信号YAの後段となる信号BB及び信号BAについては、第3実施形態が適用される信号BBは、比較例の信号BAに比べて、早いタイミングで立ち上がっており、遅延時間が短縮されている。
【0082】
次に、図31においても、第3実施形態が適用される信号YBは、比較例の対応する信号YAに比べて、論理閾値VTを早い時刻に横切り、遷移時間が短縮されている。このため、これら信号YBや信号YAの後段となる信号BB及び信号BAについては、第3実施形態が適用される信号BBは、比較例の信号BAに比べて、早いタイミングで立ち下がっており、遅延時間が短縮されている。
【0083】
【発明の効果】
出力クロック信号の振幅を抑え、該クロック信号による他信号へのカップリングノイズを低減し、これによって回路の誤動作を防止することができる。又、振幅を抑えることで、論理状態がL状態及びH状態の間で遷移する時間を短縮し、これにより信号遅延時間を短縮して回路動作速度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】クロック信号を分配するための従来からのCTS方式の回路図
【図2】クロック信号を分配するための従来からのクロックトランク方式の回路図
【図3】クロック信号を分配するための従来からのクロックバッファ方式の回路図
【図4】多数のバッファをツリー状に接続して信号分配する従来から一般的な回路の回路図
【図5】従来のクロック信号出力回路が出力するクロック信号によるノイズの影響を示すタイムチャート
【図6】上記のノイズの影響による回路誤動作を示すタイムチャート
【図7】信号が立ち上がる際の遷移時間を示すタイムチャート
【図8】信号が立ち下がる際の遷移時間を示すタイムチャート
【図9】セルか駆動する出力ネットの総負荷容量と遷移時間との関係を示すグラフ
【図10】組み込んだ回路のセルを伝わる信号の遷移時間と遅延時間との関係を示すグラフ
【図11】本発明のクロック信号小振幅化回路の原理を示すタイムチャート
【図12】本発明において次段回路が正しく論理状態を判定できることを示すタイムチャート
【図13】本発明の作用を示すための信号の立ち下がりのタイムチャート
【図14】本発明の作用を示すための信号の立ち上がりのタイムチャート
【図15】本発明が適用された第1実施形態のクロック信号小振幅化回路の回路図
【図16】上記第1実施形態の詳細な回路図
【図17】前記第1実施形態がL状態を出力する際の等価回路図
【図18】前記第1実施形態がH状態を出力する際の等価回路図
【図19】前記第1実施形態の出力するクロック信号の振幅が縮小されることを示すタイムチャート
【図20】本発明が適用された第2実施形態のクロック信号小振幅化回路の回路図
【図21】上記第2実施形態と論理が同じ等価回路の回路図
【図22】上記等価回路のタイムチャート
【図23】前記第2実施形態の動作を示すタイムチャート
【図24】本発明が適用された第3実施形態の信号振幅縮小回路を含む回路図
【図25】上記第3実施形態の主要部の等価回路図
【図26】前記第3実施形態で振幅を縮小させる信号がL状態の際の貫通電流を示す回路図
【図27】上記信号がH状態の際の貫通電流を示す回路図
【図28】本発明が適用された第4実施形態の信号振幅縮小回路を含む回路図
【図29】上記第4実施形態を用いる実施形態の回路図
【図30】上記実施例の入力信号が立ち上がる際のタイムチャート
【図31】上記入力信号が立ち下がる際のタイムチャート
【符号の説明】
B、BA…バッファ
T…トランク
I、I1〜I3…インバータ
R1、R2…抵抗
TP、TP1〜TP3…PチャネルMOSトランジスタ
TN、TN1〜TN3…NチャネルMOSトランジスタ
D…遅延回路
FF…フリップフロップ
CLK…クロック信号
CLKIN…入力信号(クロック信号)
CLKOUT…出力信号(クロック信号)
IN、OUT1、OUT2、A、YA、YB、BA、BB…デジタル信号

Claims (4)

  1. 論理閾値との比較でL状態又はH状態が判定されるクロック信号を伝達しながら動作する回路を含む半導体集積回路において、
    前記論理閾値を挟むようにしながら、前記クロック信号の少なくとも一部の、L状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する信号振幅縮小回路を備え
    前記信号振幅縮小回路の動作あるいは非動作を制御するイネーブル信号を、クロック信号自体から生成し出力する制御回路を備えると共に、
    前記信号振幅縮小回路が、前記イネーブル信号によって前記信号振幅縮小回路が非動作状態である場合、オン抵抗を前記出力信号のL状態の電位を上昇するために用いるトランジスタ、及びオン抵抗を前記出力信号のH状態の電位を下降するために用いるトランジスタを共にオフ状態にする回路であることを特徴とする半導体集積回路。
  2. 論理閾値との比較でL状態又はH状態が判定されるデジタル信号を伝達しながら動作する回路を含む半導体集積回路において、
    前記論理閾値を挟むようにしながら、前記デジタル信号の少なくとも一部の、L状態の電位からH状態の電位までの振幅を縮小する信号振幅縮小回路を備えると共に、
    前記信号振幅縮小回路が、
    振幅を縮小しようとする前記デジタル信号がH状態の時にオフとなり、一方、L状態の時にオンとなって、該振幅縮小デジタル信号を電源電圧にプルアップし、これにより該振幅縮小デジタル信号のL状態の電位を高めて振幅を縮小するプルアップトランジスタと、
    該振幅縮小デジタル信号がL状態の時にオフとなり、一方、H状態の時にオンとなって、該振幅縮小デジタル信号をグランドにプルダウンし、これにより該振幅縮小デジタル信号のH状態の電位を低めて振幅を縮小するプルダウントランジスタとを有することを特徴とする半導体集積回路。
  3. 請求項に記載の半導体集積回路において、
    前記プルアップトランジスタを経由する、前記振幅縮小デジタル信号から前記電源電圧までの区間の電気抵抗、又は、前記プルダウントランジスタを経由する、前記振幅縮小デジタル信号から前記グランドまでの区間の電気抵抗の内、少なくとも一方を増加するようにしたことを特徴とする半導体集積回路。
  4. 請求項に記載の半導体集積回路において、前記区間の少なくともいずれか一方に、前記プルアップトランジスタや前記プルダウントランジスタよりゲート幅が小の、常時オンのトランジスタを挿入することで、前記電気抵抗の増加を行うようにしたことを特徴とする半導体集積回路。
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