JP3629696B2 - ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡 - Google Patents

ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP3629696B2
JP3629696B2 JP14940199A JP14940199A JP3629696B2 JP 3629696 B2 JP3629696 B2 JP 3629696B2 JP 14940199 A JP14940199 A JP 14940199A JP 14940199 A JP14940199 A JP 14940199A JP 3629696 B2 JP3629696 B2 JP 3629696B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
light
photon absorption
fluorescence microscope
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP14940199A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000338405A (ja
Inventor
信一郎 河村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP14940199A priority Critical patent/JP3629696B2/ja
Publication of JP2000338405A publication Critical patent/JP2000338405A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3629696B2 publication Critical patent/JP3629696B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、二光子吸収現象を利用した光学顕微鏡装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の二光子吸収蛍光顕微鏡の一例を図4に示す。図において、光源31から出た波長λの光はダイクロイックミラー32で反射し、顕微鏡の対物レンズ33で集光され、試料34に照射される。試料上の光照射強度が十分に大きくなると、波長λの光子が同時に二個吸収される二光子吸収が生じ、試料は波長λ/2の光で励起される。
【0003】
この二光子吸収は光強度の二乗に比例して起こる非線形過程であるため、光源には短パルスレーザが用いられることが多い。
蛍光を発する試料は、波長λ/2の光で励起されると、波長がλ/2よりもやや長い波長の蛍光を発するため、ダイクロイックミラー32はこの蛍光を透過するように作られている。
【0004】
ダイクロイックミラー32を透過後、蛍光は受光器35に導かれ、蛍光像を得ることができる。受光器35に入射する光を途中でミラー(図示せず)を介して折り曲げ、目視で観察することも可能である。
【0005】
ところで、図4のものは光源31の出射光が試料34上の1点にしか照射されず、また共焦点効果を得ることもできないため、図5に示すように光源31から出た光ビームを試料34上でX,Y方向に走査できるようなスキャンミラー36および37を設け、かつ共焦点効果を持たせるためのピンホール38を対物レンズ33の結像位置に配置する構成が従来とられていた。図5における受光器35からは光ビームのスキャン位置に応じて電気信号を取り出すことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の構成においては、試料に吸収されなかった光は試料34の後方に通りぬけてしまい、光利用効率が低く、そのため高価な大出力レーザを用いる必要があるという課題があった。
【0007】
本発明の目的は、上記の課題を解決するもので、光利用効率が高く、低パワーのレーザ光で十分な蛍光像を得ることのできるニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡を実現することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、請求項1の発明では、
レーザ光源からの励起光をマイクロレンズアレイディスクの個々のマイクロレンズにより集光し、各マイクロビームをピンホールディスクの対応するピンホールを通過させて試料上に照射すると共に、試料を通り抜けたビームを試料の集光面と光学的に共役な位置に配置された反射鏡で反射させて再び試料に照射するように構成されたニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡であって、
前記レーザ光源とマイクロレンズアレイディスクの間に部分反射鏡を配置し、この部分反射鏡と前記反射鏡が試料を挟んで光共振器を形成するように構成されたことを特徴とする。
このような構成によれば、試料を透過したレーザ光を励起光として再利用できるため、光利用効率が向上し、レーザパワーを低く抑えることができる。
【0009】
この場合、請求項2のように、光共振器からの反射光あるいは反射鏡からの反射光がレーザ光源側に戻らないように遮断する光学素子を配置することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。図1は本発明に係る二光子吸収蛍光顕微鏡の一実施例を示す要部構成図である。レーザ光源1から出たレーザビーム2は、コリメート拡大光学系部3によりビーム径が拡大された後、マイクロレンズアレイディスク4に入射する。
【0012】
個々のマイクロレンズによって集光された個々のマイクロビームは、ダイクロイックミラー5を透過後、ピンホールディスク6の個々の対応するピンホールを通過する。ピンホールを通過後、顕微鏡の第一の収斂レンズ10で平行光束となり、第一の対物レンズ11で試料12の上に集光する。
【0013】
なお、説明を簡明にするために、今後、収斂レンズ10以降については、個々のマイクロビームのうち、すべての焦点が光軸7上にあるビーム8と軸外にあるビーム9のみを示す。
【0014】
ピンホールディスク6のピンホールと試料上に個々のビームが集光する集光面13とは互いに光学的に共役である。生物試料の多くは光透過性が良いため照射光の大部分は試料を通り抜ける。通り抜けたビームは第二の対物レンズ14により再び平行光束になり、第二の収斂レンズ15により反射鏡16上に集光する。
【0015】
ここでビームは折り返され、全く同じ光路を経て第二の収斂レンズ15と第二の対物レンズ14を通り、再び試料12を照射する。試料は左側から入射した直接励起ビームと右側からの反射励起ビームの両方で励起される。
【0016】
試料から発せられた蛍光は第一の対物レンズ11、第一の収斂レンズ10、ピンホールディスク6を透過後、ダイクロイックミラー5で反射され、観察光学系部17(図示せず)に導かれる。また、蛍光は第二の対物レンズ側にも放たれるので、第二の対物レンズ14と収斂レンズ15を透過後、反射鏡16で折り返され、再び試料側に戻り、最初の蛍光と同じ光路を辿って観察系に導かれる。
【0017】
マイクロレンズアレイディスク4とピンホールアレイディスク6は互いに結合された状態で回転することにより試料12の上の集光面13全面を掃引している。試料は左側から入射した光子を同時に吸収した場合、右側から入射した反射光の光子を同時に吸収した場合に加えて左右から同時に光子を吸収した場合も二光子吸収を起こすことができる。
【0018】
励起レーザが連続発振波(以下CWという)である場合には、左右からの入射光が互いに強め合うように反射鏡16の位置を調整すれば良いが、パルス発振波の場合には、光速をc、パルス発振周波数をf、試料12と反射鏡16との間隔をdとして、
nc/f=2d (nは整数)
の条件を満たす必要がある。
【0019】
図2は本発明の他の実施例であり、図1の実施例に反射ビームがレーザ光源側に戻らないように偏光板20と1/4波長板21を追加したものである。レーザビーム2はコリメート光学系部3を透過後、偏光板20によって直線偏光となる。ただし、レーザビームが元々直線偏光を持つ場合は、この偏光板はなくてもよい。
【0020】
偏光板20の後方に透過ビームの偏光が円偏光になるように角度調整された1/4波長板21が配置されている。以下ビームがマイクロレンズディスクを透過して、試料を照射し、反射鏡で折り返され再度試料を照射することは図1の実施例と同じである。
【0021】
この後、試料を右側から左に向けて戻ったビームはマイクロレンズアレイディスク4を透過し、1/4波長板21に再度入射するが、反射鏡16によって円偏光は逆回転しているので1/4波長板21を透過したビームは最初の入射ビームとは90度回転した直線偏光となっている。
【0022】
したがって、反射ビームに対して偏光板20は丁度直交ニコルの位置に配置されたことになるため、反射ビームは偏光板20を通過できず、レーザ光源側に達することはない。
【0023】
励起光がCW発振の場合は、光共振器内に定在波が立つように反射鏡16の位置を光軸方向に調整する。パルス発振の場合には、光速をc、パルス発振周波数をf、試料12と反射鏡16との間隔をd、共振器長をLとして、次の条件を満たす必要がある。
nc/f=2d
mc/f=2(L−d)
ただし、m、nは整数
【0024】
図3は本発明の更に他の実施例図である。本実施例は、図2の構成に部分反射鏡を加え、この部分反射鏡と反射鏡とで試料を挟んだ光共振器を形成したものである。部分反射鏡は、反射領域全体にわたって入射光の一部を透過および反射する半透過特性を有する。
【0025】
1/4波長板21を出た照射ビームは部分反射鏡22を通過後、マイクロレンズアレイディスク4に入る。以下ビームがマイクロレンズディスクを透過して、試料を照射し、反射鏡で折り返され、再度試料を照射後、試料を右側から左に向けて戻ったビームがマイクロレンズアレイディスク4を透過することは図2の実施例の場合と同じである。
【0026】
マイクロレンズを右側から左側に通過したビームは再び平行光束となっているため、部分反射鏡22によって反射され、最初の励起ビームと同じ光路を経て試料に達する。部分反射鏡22と反射鏡16は試料12を挟んで光共振器を形成しており、中に閉じ込められたビームは常に試料の集光面13の上で集光する。
【0027】
最初の励起ビームが部分反射鏡22で反射された戻り光および反射鏡16からの反射光の一部は部分反射鏡22を透過するが、1/4波長板21を透過したビームは最初の入射ビームとは90度回転した直線偏光となっている。
【0028】
反射ビームに対して、偏光板20は丁度直交ニコルの位置に配置されたことになるため、反射ビームは偏光板20を通過できず、レーザ光源側に達することはない。
【0029】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【0030】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば次のような効果がある。
1)二光子吸収励起の効率を高めることができる。
2)レーザパワーを低く抑えることができる。
3)図3の実施例ではレーザ発振の安定化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る二光子吸収蛍光顕微鏡の一実施例を示す要部構成図である。
【図2】本発明の他の実施例を示す構成図である。
【図3】本発明の更に他の実施例を示す構成図である。
【図4】従来の二光子吸収蛍光顕微鏡の一例を示す構成図である。
【図5】従来の二光子吸収蛍光顕微鏡の他の一例を示す構成図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源
2 レーザビーム
3 コリメート拡大光学系部
4 マイクロレンズアレイディスク
5 ダイクロイックミラー
6 ピンホールディスク
7 光軸
8,9 ビーム
10 第一の収斂レンズ
11 第一の対物レンズ
12 試料
13 集光面
14 第二の対物レンズ
15 第二の収斂レンズ
16 反射鏡
17 観察光学系部
20 偏光板
21 1/4波長板
22 部分反射鏡

Claims (2)

  1. レーザ光源からの励起光をマイクロレンズアレイディスクの個々のマイクロレンズにより集光し、各マイクロビームをピンホールディスクの対応するピンホールを通過させて試料上に照射すると共に、試料を通り抜けたビームを試料の集光面と光学的に共役な位置に配置された反射鏡で反射させて再び試料に照射するように構成されたニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡であって、
    前記レーザ光源とマイクロレンズアレイディスクの間に部分反射鏡を配置し、この部分反射鏡と前記反射鏡が試料を挟んで光共振器を形成するように構成されたことを特徴とするニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡。
  2. 前記レーザ光源とマイクロレンズアレイディスクとの間に、前記光共振器からの反射光または部分反射鏡を透過した反射鏡からの反射光が、レーザ光源側に戻らないように遮断するための光学素子を配置したことを特徴とする請求項1に記載のニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡。
JP14940199A 1999-05-28 1999-05-28 ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡 Expired - Fee Related JP3629696B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14940199A JP3629696B2 (ja) 1999-05-28 1999-05-28 ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14940199A JP3629696B2 (ja) 1999-05-28 1999-05-28 ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000338405A JP2000338405A (ja) 2000-12-08
JP3629696B2 true JP3629696B2 (ja) 2005-03-16

Family

ID=15474334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14940199A Expired - Fee Related JP3629696B2 (ja) 1999-05-28 1999-05-28 ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3629696B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004022665A1 (ja) * 2002-09-09 2004-03-18 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 二光子吸収材料
JP4954452B2 (ja) 2004-07-06 2012-06-13 オリンパス株式会社 顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000338405A (ja) 2000-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4047225B2 (ja) 適応光学装置を有する顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡
US6737635B2 (en) Apparatus for combining light and confocal scanning microscope
CN108957720B (zh) 受激辐射损耗光学显微镜及其照明系统
CN108303806B (zh) 一种深度成像超分辨显微成像系统
US6934020B2 (en) Laser microscope
EP0627643A2 (en) Laser scanning optical system using axicon
US20060192975A1 (en) Surface shape measuring apparatus
JP2021516794A5 (ja)
KR20050119672A (ko) 간섭계 내에서 물체에 의해 산란/반사 또는 투과된 직교편광 빔의 필드의 결합 측정을 위한 장치 및 방법
US20070109546A1 (en) Scanning Microscopy
JP2010015026A (ja) 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子
JPH11119106A (ja) レーザ走査型顕微鏡
CN105765437B (zh) 具有声光设备的显微镜
JP2005508489A (ja) 試料の多光子励起の方法と装置
US20070183029A1 (en) Microscope and its optical controlling method
JP2011028208A (ja) 顕微鏡装置
US11314067B2 (en) Illumination arrangement and method for illumination in a microscope and microscope
JP3629696B2 (ja) ニポウディスク方式の二光子吸収蛍光顕微鏡
JP5489620B2 (ja) 観察装置
JP2006058477A (ja) 超解像顕微鏡
US6693945B1 (en) Scanning type laser microscope
JP3327432B2 (ja) 共焦点光スキャナ
CN111879737A (zh) 一种产生高通量超衍射极限焦斑的装置和方法
US20020030886A1 (en) Microscope
CN110567927B (zh) 双光子显微成像系统

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040819

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040902

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041026

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071224

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081224

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101224

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101224

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111224

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121224

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121224

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees