JP3624975B2 - Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 - Google Patents
Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3624975B2 JP3624975B2 JP27848295A JP27848295A JP3624975B2 JP 3624975 B2 JP3624975 B2 JP 3624975B2 JP 27848295 A JP27848295 A JP 27848295A JP 27848295 A JP27848295 A JP 27848295A JP 3624975 B2 JP3624975 B2 JP 3624975B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ptc thermistor
- tio
- metal
- thermistor material
- ptc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電流制御素子等に用いられるPTCサーミスタ材料に関する。
【0002】
【従来の技術】
PTCサーミスタ材料は、正の温度係数を有し、ある温度で抵抗が急激に増加するという特徴を有する材料であり、その特性を用いて、モーターの起動素子、温度補償素子、ヒーター素子等として広く応用されている。従来から材料については広く検討されており、前記素子用の材料として、例えばチタン酸バリウムを主成分とし、Ta、Sb、Biまたは希土類元素などのうち一種類以上を微量添加したチタン酸バリウム系PTCサーミスタ材料等が知られている。近年、過電流制限素子が注目されるようになり、その開発のために材料組成面やプロセス面からの改良がなされている。特に大電流遮断回路に用いるためには、電流制限素子として室温比抵抗が小さく、定格電流を大きくすることが必要である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記チタン酸バリウム系のPTCサーミスタでは、室温比抵抗値が10Ωcm程度と大きく、定常時において発熱するため、大電流遮断回路の電流制限素子としての利用が困難であり、さらに室温比抵抗が小さい優れた特性を有するPTCサーミスタ材料が求められている。本発明は、上記のような課題を解決し、大電流遮断回路の電流制限素子として利用可能な低比抵抗を有するPTCサーミスタを提供するものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本発明は、主成分としてTiO2を含有するPTCサーミスタ材料において、Bi金属をTiO2に対して30モル%以上150モル%以下含有させることを特徴とするPTCサーミスタ材料に関する。
また、本発明は、水素ガスを1〜100vol%含む窒素ガスまたはアルゴンガスの還元性雰囲気下、900〜1100℃の温度で焼成する工程を含むことを特徴とする前記PTCサーミスタ材料の製造方法に関する。
【0005】
本発明において、Bi金属を含有させることにより、常温における比抵抗を小さくすることができる。Bi金属の含有量は、過度に多い場合には、正の温度係数を有するPTCサーミスタ材料が得られなくなるので、主成分のTiO2に対して通常、0.1モル%以上150モル%以下、好ましくは30モル%以上120モル%以下が良い。
【0006】
このような組成でBi金属を含有させることにより主成分であるTiO2の相とBi金属の相との複合組織構造を有するPTCサーミスタ材料が得られる。
【0007】
本発明のTiO2系PTCサーミスタ材料において、主成分であるTiO2には半導体化剤としてBi金属以外のLa、Pr、Nd、Sm等の希土類元素、Y、Nb、W、Ta等を添加することができる。添加される半導体化剤の使用量が過度に多い場合には比抵抗が大きくなることがあるので、その使用量は、主成分であるTiO2に対して5モル%以下が好ましい。
【0008】
また、焼結性を向上させる目的でSiO2を添加することができる。その使用量が過度に多いと比抵抗が大きくなることがあるので、TiO2に対して3モル%以下が好ましい。
【0009】
【発明の実施の形態】
本発明のPTCサーミスタ材料の好適な製造法について次に説明する。出発原料として、TiO2、Nb2O5等の半導体化剤およびBi2O3とを所定の比率となるように調合し、ジルコニアボールを用いて2〜50時間湿式ボールミル混合を行う。乾燥後、700〜750℃の温度で空気雰囲気下に仮焼し、次いで粉砕した後、PVA(ポリビニルアルコール)を加えて加圧成形する。次いで水素ガスを1〜100vol%、好ましくは2〜10vol%含む窒素ガス、アルゴンガス等の還元性雰囲気中、900〜1100℃の温度で焼成する。得られた焼結体にオーミックコンタクトが良好な金属、例えばIn−Ga液体合金を塗布することによりPTCサーミスタが得られる。
【0010】
Bi金属を原料として使用する場合の製造は例えば以下のような方法により行う。
出発原料として、TiO2とNb2O5等の半導体化剤とを所定の比率となるように調合し、ジルコニアボールを用いて2〜50時間湿式ボールミル混合を行う。乾燥後、700〜750℃の温度で空気雰囲気下に仮焼し、次いで粉砕した後、所定量のBi金属およびPVA(ポリビニルアルコール)を加えて加圧成形する。次いでBi2O3を原料として用いる場合と同様な方法により焼成した後、電極を形成することによりPTCサーミスタが得られる。
【0011】
本発明において使用されるTi、あるいは所望により添加される半導体化剤、SiO2等の原料としては、焼成時に酸化物となるものであれば特に限定されず、水酸化物、炭酸塩、硝酸塩等を使用することもできる。
【0012】
また、Bi金属の原料としては、Bi金属そのもの以外に還元性雰囲気中で焼成する際にBi金属となるものであれば良く、Bi2O3のような酸化物等を使用することができる。
【0013】
【実施例】
以下に実施例および比較例を示し、本発明についてさらに詳細に説明する。
実施例1
酸化チタン(TiO2)に対してBi2O3を26.5モル%、および半導体化剤としてNb2O5を2.5モル%となるように調合し、ジルコニアボールを用いて18時間湿式ボールミル混合を行った。乾燥後、750℃で2時間空気雰囲気下に仮焼した後、粉砕し、次いでPVA(ポリピニルアルコール)を2重量%加えて、1000kg/cm2の圧力で直径10mm、厚さ1.5mmの円板に成形した。
【0014】
次に、これをN2(96vol%)とH2(4vol%)とからなる還元性雰囲気中、1000℃で2時間焼成し焼結体とした。得られた焼結体に、オーミックコンタクトの良好なIn−Ga液体合金を塗布し、PTC素子を得た。図1にこのPTC素子の抵抗−温度特性を示した。このように、Bi金属を含有させることにより、室温における比抵抗(図中、1で示す。)が0.256Ωcmと小さく、230℃付近から比抵抗が急増する正の抵抗温度係数を有するPTC素子が得られた。
【0015】
図2に得られたPTC素子のX線回折図を示す。図からPTC素子はTiO2とBi金属との複合組織構造となっていることがわかる。
【0016】
図3にPTC素子研磨面の粒子構造の電子顕微鏡写真を示す。図中、白い部分がBi金属であり、黒い部分がTiO2である。
【0017】
実施例2
酸化チタン(TiO2)に対してBi2O3を50モル%となるように調合したほかは、実施例1と同様な方法によりPTC素子を作製した。このPTC素子の室温における比抵抗は0.143Ωcmであり、230℃付近から比抵抗が急増する正の抵抗温度係数を有するPTC素子が得られた。
【0018】
比較例1
Bi金属を含有させなかったほかは、実施例1と同様な方法によりPTC素子を作製した。このPTC素子の抵抗−温度特性図を図1に示す。図1(図中、2で示す。)からBi金属を含有しない場合には230℃付近から抵抗が急増するような正の抵抗温度特性を示さないことが判る。
【0019】
【発明の効果】
本発明によると、10−1Ωcm程度の低比抵抗を実現することができ、大電流遮断回路の電流制限素子として利用されるPTCサーミスタを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】抵抗−温度特性を示す図である。
【図2】本発明で得られたPTC素子のX線回折図を示す。
【図3】PTC素子の研磨面の粒子構造を示す図面にかわる電子顕微鏡写真図である。
Claims (2)
- 主成分としてTiO2を含有するPTCサーミスタ材料において、Bi金属をTiO2に対して30モル%以上150モル%以下含有させることを特徴とするPTCサーミスタ材料。
- 水素ガスを1〜100vol%含む窒素ガスまたはアルゴンガスの還元性雰囲気下、900〜1100℃の温度で焼成する工程を含むことを特徴とする請求項1記載のPTCサーミスタ材料の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27848295A JP3624975B2 (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27848295A JP3624975B2 (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0992505A JPH0992505A (ja) | 1997-04-04 |
| JP3624975B2 true JP3624975B2 (ja) | 2005-03-02 |
Family
ID=17597952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27848295A Expired - Lifetime JP3624975B2 (ja) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3624975B2 (ja) |
-
1995
- 1995-09-21 JP JP27848295A patent/JP3624975B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0992505A (ja) | 1997-04-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3435607B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
| JP3368602B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
| JP5844507B2 (ja) | 半導体磁器組成物の製造方法及び半導体磁器組成物を用いたヒータ | |
| JP3624975B2 (ja) | Ptcサーミスタ材料およびその製造方法 | |
| JPH0230561B2 (ja) | ||
| US3316184A (en) | Barium titanate ceramic composition | |
| JP3039511B2 (ja) | 半導体セラミックおよび半導体セラミック素子 | |
| JP3321823B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
| JP2588951B2 (ja) | 高温ptcサーミスタ及びその製造方法 | |
| JP2689439B2 (ja) | 粒界絶縁型半導体磁器素体 | |
| JPH07297009A (ja) | 正特性サーミスタ及びその製造方法 | |
| JPH08321404A (ja) | BaTiO3基サーミスター及びその製造方法 | |
| JP3368599B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
| JP3385631B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
| JP2940182B2 (ja) | 正の抵抗温度係数を有する半導体磁器の製造方法 | |
| JPH07335404A (ja) | 正特性サーミスタの製造方法 | |
| JPH118103A (ja) | ワイドレンジ型サーミスタ素子 | |
| JPH11102802A (ja) | 正特性サーミスタおよびその製造方法 | |
| JPH04144201A (ja) | 正特性サーミスタおよびその製造方法 | |
| JPH10294203A (ja) | 正特性サーミスタの製造方法 | |
| JPH1070007A (ja) | 正特性サーミスタの製造方法 | |
| JPS61220305A (ja) | チタン酸バリウム系半導体の製造方法 | |
| JP3111630B2 (ja) | チタン酸バリウム系半導体磁器及びその製造方法 | |
| JP3178083B2 (ja) | チタン酸バリウム系セラミックス半導体およびその製造方法 | |
| JP2876770B2 (ja) | 電圧非直線抵抗体用半導体磁器組成物の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041026 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041124 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071210 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111210 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111210 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210 Year of fee payment: 9 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |