JP3585305B2 - 透明支持体の内部異物検査装置 - Google Patents

透明支持体の内部異物検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3585305B2
JP3585305B2 JP00331296A JP331296A JP3585305B2 JP 3585305 B2 JP3585305 B2 JP 3585305B2 JP 00331296 A JP00331296 A JP 00331296A JP 331296 A JP331296 A JP 331296A JP 3585305 B2 JP3585305 B2 JP 3585305B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foreign matter
transparent support
polarizer
analyzer
foreign
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP00331296A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09189668A (ja
Inventor
武彦 三好
昇 井出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP00331296A priority Critical patent/JP3585305B2/ja
Publication of JPH09189668A publication Critical patent/JPH09189668A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3585305B2 publication Critical patent/JP3585305B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、偏光作用を利用して透明支持体の内部に存在する異物を検出する検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体のマスクパターンの焼付けに用いる工業用リスフイルムやマイクロフイルム、並びに写真フイルム用のベース等の透明支持体では、表面に付着した異物に対しては搬送ローラー等によって取り除かれやすくそれほど問題がないのに対し、内部に異物が存在すると、露光時この部分だけ光が通過しないため黒く焼き付けられてしまう不具合が生じる。欠陥となる内在異物のサイズは、最少で15μm〜30μmであり、このような微細な異物の存在の検査を行う方法としては、顕微鏡を用いていた。特公昭57−37023号公報では、透明体の欠陥を光学的に検出し、識別する装置が提案されているが、この装置ではスポットビームを用いて検出を行っているから検出精度が低い。
【0003】
ところで、従来、物質の特定を行うために、偏光顕微鏡が用いられている。この偏光顕微鏡は、照明側から順に、偏光板(偏光子)、集光器、検査対象となる標本、対物レンズ、偏光板(検光子)、及び接眼レンズで構成されており、2枚の偏光板をそれぞれ通過させる光の偏光方向が互いに直交するように置けば、接眼レンズの視野は暗黒となる。そこで、透明支持体を標本として観察すれば、異物の存在の部分のみ光の偏光方向が異なるので、明暗の差ができ色づいたりするので、この顕微鏡を用いれば異物の存在の検査が行える。
【0004】
しかしながら、顕微鏡の検査では人為的な検査であるため、品質管理の面で問題がある。そこで、偏光顕微鏡で観察した接眼レンズの視野を撮像手段、例えばテレビカメラ等で撮像し、取り込んだ画像データを基に電気的に画像処理して異物の存在の検査を行うことが望まれている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、検光子を透過した光は、透明支持体の内部に異物によって生じた結晶方向の異なる透明支持体の情報、すなわち、内部異物の周りの明部の情報であるため、この情報をそのまま内部異物の存在の判断材料にすることができない。しかも、検光子を透過した光の情報には、内部異物以外に、透明支持体の表面に付着した異物までもが含まれることになる。このため、前述した顕微鏡による検査の前には、事前に表面に付着した異物を取り除くクリーニング作業を行う必要があった。
【0006】
本発明は上記問題点を考慮してなされたもので、偏光顕微鏡では判断できなかった内部異物の存在を確実に検査することができる検査装置を提供するとともに、品質向上を図り、しかも面倒なクリーニング作業を省略することができる検査装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の発明では、偏光子に対して検光子を相対的に回転させる第1回転手段と、前記偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させる第2回転手段とを備え、前記第1回転手段を利用して前記偏光子に対して検光子を互いの偏光方向が直交する状態に相対的にセットした後に、前記第2回転手段を利用して前記撮像信号から得られる画像の輝度が最も暗くなる位置まで前記偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させ、その後に前記第1回転手段を使用して検光子に対して偏光子を互いの偏光方向が直交状態から±5度〜±20度の角度ズラした回転位置に相対的に回転した後に、前記撮像手段から得られる画像に基づいて内部異物を検査するようにしたものである。
【0008】
第1回転手段を利用して偏光子に対して検光子を互いの偏光方向が直交する状態に相対的にセットした後に、第2回転手段を利用して撮像信号から得られる画像の輝度が最も暗くなる位置まで偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させ、その後に第1回転手段を使用して検光子に対して偏光子を互いの偏光方向が直交状態から±5度〜±20度の角度ズラした回転位置に相対的に回転した後に、撮像手段から得られる画像に基づいて内部異物を検査する。偏光子を透過した照明光の偏光方向は、偏光子の振動面と平行になる。そして、検光子の振動面を偏光子の振動面に対して直角となるように検光子を取り付けると、検光子を透過した光が内部異物の周り明部の情報だけとなる。そこで、互いの偏光方向が直交する状態から検光子を回転させると、多少不完全な偏光パターンが現れる。そして、内部異物の輪郭の情報を得るために、この効果が最大に得られる位置を実験により調べてみると、±5度〜±20度の角度でずらした範囲が好適であった。これにより、異物の輪郭情報とこの異物の周りの情報とが同時に得られる。また、表面付着異物の場合には、異物の輪郭情報しか得られない。これらの性質を利用して表面付着異物と内部異物とを判別することができる。さらに、内部異物を判別した情報には、欠陥とされる異物そのものの他に、気泡等の泡部が含まれている。このような泡部に対しては問題がないので除去する必要がある。この泡部の情報には、輪郭が内部の黒核に対して上下又は左右で明部の対称性をもっていない性質がある。そこで、このような性質を利用して異物種類判別手段27で黒核に対して明部の対称性の有無を判断して泡部を特定し、異物だけを抽出する。そこで、明部が左右方向又は上下方向に生じるように、偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させる。
【0009】
請求項2記載の発明では、前記検光子を透過した光を撮像する撮像手段と、前記撮影手段から得られる画像を取り込んで内部異物の有無を検査する検査手段とを備え、この検査手段を取り込んだ画像を二値化して内部異物の輪郭を抽出した異物輪郭二値データから異物以外の範囲をマスクするマスクデータを作成し、このマスクデータを取込み画像に合成して異物輪郭だけの濃淡階調データを作成する異物輪郭抽出処理手段と、前記濃淡階調データのうち異物として分析した範囲ごとに濃度分布の解析を行って表面付着異物と内部異物とを判別する異物判別処理手段とから構成したものである。
【0010】
請求項3記載の発明では、内部異物のうち異物と気泡等の泡部とを判別するために異物種類判別手段を備えたものである。この手段は、前記異物輪郭二値データから表面異物のデータを取り除き、内部異物だけのデータを作成し、このデータのうち異物として分析した範囲ごとに異物輪郭の周りに生じる明部の対称性の有無を検出して異物と泡部とを判別する。
【0011】
【発明の実施の形態】
図1に示す内部異物検査装置10は、下方から順に、光源11、コンデンサレンズ12、偏光板13、集光器14、ステージ15、対物レンズ16、偏光板17、及び接眼レンズ18で構成された偏光顕微鏡19に、テレビカメラ20、及び検査手段21を接続し、接眼レンズ18の視野をテレビカメラ20で撮像し、撮像した画像を検査手段21で内部異物の存在を検出し、検出した場合に欠陥として表示する。
【0012】
ステージ15には、検査対象となる透明支持体22が載置される。照明手段は、光源11、コンデンサレンズ12、偏光子13、及び集光器14で構成され、コンデンサレンズ12の焦点付近に光源11を置き、平行光束を集光器14に送り込むことでステージ面15aに光源像を結像させるクリティカル方式の照明とされている。この照明光は、集光器14の下に配置した偏光板13が偏光子(ポーラライザー)とされているため、偏光方向に対して平行方向の直線偏波光とされる。
【0013】
対物レンズ16は、ステージ15に載置された透明支持体22の像を後側焦点位置に結像させ、さらに、接眼レンズ18がこの像を後側焦点位置付近に結像させる。この像は、白黒のテレビカメラ20で撮像される。対物レンズ16と接眼レンズ18との間に配置した偏光板17は、検光子(アナライザー)とされている。
【0014】
図2に示すように、偏光子13を透過した照明光の偏光方向は、偏光子13の振動面と平行となる。そして、検光子17の振動面を偏光子13の振動面に対して直角となるように検光子17を取り付けると、検光子17を透過した光が内部異物の周り、すなわち透明支持体22の結晶方向が異なる部分の情報だけとなる。そこで、互いの偏光方向が直交する状態から検光子17を回転させ、内部異物の輪郭の情報を得るために、この効果が最大に得られる位置を実験により調べてみると、±5度〜±20度、望ましくは±10度〜±15度の角度でずらした範囲が好適であった。これにより、内部異物の場合には、異物の輪郭情報とこの異物の周りの情報とが同時に得られ、また、表面付着異物の場合には、異物の輪郭情報だけが得らる。なお、互いの偏光方向が直交となる状態は、直交ニコル、又は対称ニコルのどちらでもよい。
【0015】
検査手段21は、図3に示すように、異物輪郭抽出手段25、内部異物判別手段26、異物種類判別手段27、及び欠陥表示手段28とから構成されている。異物輪郭抽出手段25は、図4に示すように、テレビカメラ20から得られる画像データをいったんメモリに記憶する。次に、記憶した画像データを読み出し、濃淡を決定するのに注目画素の周囲画素の平均値からしきい値を決定し、このしきい値により二値化して異物部分を抽出した異物輪郭二値データを作る。次に、内部異物の存在の検出力を高めるために、異物部分の輪郭面積を小さくする処理を行う。この処理は、予めパターンを設定しておいた論理フィルタに異物輪郭二値データをm(mは0以上の整数)回通して膨張処理した画像データ1と、n(nは1以上の整数で、かつn>m)回通して膨張処理した画像データ2とを作成し、これらの画像データ1と画像データ2とで画素間排他的論理和演算処理を行い、異物輪郭部以外をマスクするためのマスク画像データを作成する。このマスク画像データと前記メモリに記録した取込み画像とで画素間論理積演算を行って階調をもった異物輪郭部分のみの濃淡画像データを得る。
【0016】
作成された濃淡画像データは、内部異物判別手段26に送られ、ここで、内部異物と表面付着異物とが判別される。内部異物判別手段26は、図5に示すように、濃淡画像データのうち異物と分析される範囲ごとに濃淡分布のヒストグラムを作成し、このヒストグラムから濃淡の最大値、最小値、及び平均値を求め、最大値から最小値を減算した値を予め定められたしきい値と比較する。この結果がしきい値を越える場合には、異物の輪郭情報とこの異物の周りの情報とが同時に得られる場合であり、したがって、内部異物と判定することができる。また、最大値から最小値を減算した値が前記しきい値を越えない場合には、異物の輪郭情報しか得られない場合であり、したがって、表面付着異物として判断することができる。この判別処理は、異物と分析される範囲の全部に対して行われる。
【0017】
ところで、内部異物を判別した情報には、欠陥とされる異物そのものの他に、気泡等の泡部が含まれている。このような泡部に対しては問題がないので除去する必要がある。この泡部の情報には、輪郭が内部の黒核に対して上下又は左右で明部の対称性をもっていない性質がある。そこで、このような性質を利用して異物種類判別手段27で黒核に対して明部の対称性の有無を判断して泡部を特定し、異物だけを抽出する。ここで、明部が左右方向又は上下方向に生じるようにする必要があるが、これは、ステージ15を回転式とし、偏光板13,17を固定化することにより設定可能となる。作業手順は、偏光板13,17を直交させた状態でステージ15を回転させて最も暗くなる位置に設定した後に、偏光板17を±5度〜±20度の範囲でずらす。
【0018】
明部の対称性の有無を判断する処理は、図6に示すように、異物輪郭抽出手段25で作成した異物輪郭二値データを利用し、この二値データから表面付着異物のデータを除去し、内部異物のみの情報を持った二値データに対して個々の異物輪郭の重心を求め、この重心を通る垂直線及び水平線で分割した異物輪郭の4つの領域の平均濃度をそれぞれ算出する。そして、明部の対称性の有無は、重心に対して上側、又は下側の領域の平均濃度から異物輪郭全体の平均濃度を減算した値が予め決められたしきい値と比較してこれを越える場合の条件▲1▼と、重心に対して右側、又は左側の領域の平均濃度から異物輪郭全体の平均濃度を減算した値が前記しきい値を越える場合の条件▲2▼との何れか一方の条件を満足する場合には、異物輪郭が内部の黒核に対して上下又は左右で明部の対称性をもっていると判断して異物と判定する。また、これらの条件のいずれも満たさない場合には、泡部と判定する。そして、この処理を、異物分析範囲の全部に対して行うことで、透明支持体22の内部に存在する異物だけを抽出することができる。欠陥表示手段は、異物種類判別手段27から異物が有るとの情報を得ることで、外部に欠陥である旨を表示する。
【0019】
【実施例】
透明支持体としては、写真フイルム用のベース用いた。ベースの材質は、ポリエチレンテレフタレート(PET)とした。ベースの検査は、約1500mm幅の帯状ベースから、例えば10cm四方をサンプリングし、このうち10cm2 〜50cm2 の範囲で行う。
【0020】
サンプリングしたベースをステージ15にセットして、例えばスタートスイッチを操作することで、接眼レンズ18の視野をテレビカメラ20が撮像し、撮像した画像が異物輪郭抽出手段25に取り込まれる。異物輪郭抽出手段26では、図4で説明したように、異物輪郭部分のみの濃淡画像データを作成する。このデータには、ベースの内部に存在する異物と、ベースの表面に付着する異物との両方の情報が含まれている。取込み画像では、図7に示すように、内部に存在する異物30が、異物である黒核31の周りに明部32,33が存在する情報となるのに対し、表面付着異物34に対しては、黒核35しか現れない情報となる。内部異物判別手段26でこの部分のヒストグラムを作成すると、表面付着異物に対しては図8に示すように、最大値から最小値を減算した値が小さいのに対し、内部異物の場合には図9に示すように、周辺の明部が有るため最大値から最小値を減算した値が大きくなる。これにより、内部異物と表面付着異物とを判別することができる。
【0021】
異物種類判別手段27では、判別された内部異物のうち泡部と異物との判別を行う。泡部39は、図10に示すように、輪郭のうち濃度の濃い部分40と薄い部分41とがあり、薄い部分41が輪郭として抽出されない。しかも、その周りのベース部分に明部が存在しない。これに対し、内部異物30は、左右又は上下に明部が存在するため、輪郭を抽出した結果から、図11に示すように、明部の対称性の有無を検出することで、異物30と泡部40とを判別することができる。
【0022】
上記実施例では、接眼レンズ18の視野をテレビカメラ20で撮像して電気的に内部異物の検査を行っているが、本発明ではこれに限らず、接眼レンズ18の視野を観察して人為的に検査してもよい。また、テレビカメラ20として白黒用を用いているが、本発明ではこれに限らず、カラーのテレビカメラを用いてもよい。この場合には、図12に示すように、3色の色成分ごとの画像データをフレームメモリに記録して、各色成分ごとに検査手段21で処理して内部の異物の判別を行えばよい。
【0023】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、請求項1記載の発明では、第1回転手段により偏光子に対して検光子を相対的に回転させることができるため、異物の輪郭周辺部の情報以外に、異物自体の輪郭の情報も同時に得られるようになり、偏光顕微鏡では判断できなかった内部異物と表面付着異物との存在を確実に検査することができる。また、第2回転手段により偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させることができるため、内部異物のうちの泡部の存在も確実に検査することができる。
【0024】
請求項2に記載した発明では、検査手段として、異物輪郭だけの濃淡階調データを作成する異物輪郭抽出処理手段と、前記濃淡階調データのうち異物として分析した範囲ごとに濃度分布の解析を行って表面付着異物と内部異物とを判別する異物判別処理手段とから構成したから、内部異物の検出における品質の信頼性の向上が図れ、表面付着異物のクリーニング作業を省略することができる。
【0025】
請求項3に記載した発明によれば、検査手段に、異物輪郭の周りに生じる明部の対称性の有無を検出する異物種類判別手段を備えたから、内部異物のうち異物と泡部とを判別することができ、請求項2記載の発明と比較してさらに内部異物の検出の信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の検査装置の概略を示す説明図である。
【図2】偏光子と検光子との配置関係を示した説明図である。
【図3】検査手段の構成を示すブロック部である。
【図4】異物輪郭抽出手段の処理手順を示すフローチャート図である。
【図5】内部異物判別手段の処理手順を示すフローチャート図である。
【図6】異物種類判別手段の処理手順を示すフローチャート図である。
【図7】取り込む画像に現れた内部異物と表面付着異物とを示す説明図である。
【図8】表面付着異物の濃度分布をヒストグラムにしたグラフである。
【図9】内部異物の濃度分布をヒストグラムにしたグラフである。
【図10】取り込む画像に現れた泡部を示す説明図である。
【図11】輪郭抽出した画像結果に現れた内部異物と泡部とを示す説明図である。
【図12】カラー画像を取り込んだ別の実施例の検査手段の処理手順を示すフローチャート図である。
【符号の説明】
11 光源
12 コンデンサレンズ
13 偏光子
14 集光器
15 ステージ
16 対物レンズ
17 検光子
18 接眼レンズ
19 偏光顕微鏡
20 テレビカメラ
21 検査手段

Claims (3)

  1. 検査対象となる透明支持体の一方の面との間に偏光子を配置し、前記偏光子に光を照射してこの偏光子の偏光方向に平行な照明光を前記透明支持体の一方の面に照射する照明手段と、前記透明支持体の他方の面との間に検光子を配置し、前記検光子を透過した光を撮像手段で撮像し、撮像手段から得られる画像に基づいて内部異物を検査する透明支持体の内部異物検査装置であって、
    前記偏光子に対して検光子を相対的に回転させる第1回転手段と、前記偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させる第2回転手段とを備え、
    前記第1回転手段を利用して前記偏光子に対して検光子を互いの偏光方向が直交する状態に相対的にセットした後に、前記第2回転手段を利用して前記撮像信号から得られる画像の輝度が最も暗くなる位置まで前記偏光子又は検光子に対して透明支持体を相対的に回転させ、その後に前記第1回転手段を使用して検光子に対して偏光子を互いの偏光方向が直交状態から±5度〜±20度の角度ズラした回転位置に相対的に回転した後に、前記撮像手段から得られる画像に基づいて内部異物を検査することを特徴とする透明支持体の内部異物検査装置。
  2. 検査対象となる透明支持体の一方の面との間に偏光子を配置し、前記偏光子に光を照射してこの偏光子の偏光方向に平行な照明光を前記透明支持体の一方の面に照射する照明手段と前記透明支持体の他方の面との間に検光子を、前記偏光子に対して互いの偏光方向が直交する位置から±5度〜±20度の角度で偏光方向をずらして配置し、前記検光子を透過した光に基づいて内部異物を検査する検査装置であって、
    前記検光子を透過した光を撮像する撮像手段と、前記撮影手段から得られる画像を取り込んで内部異物の有無を検査する検査手段とを備え、前記検査手段は、取り込んだ画像を二値化して内部異物の輪郭を抽出した異物輪郭二値データから異物以外の範囲をマスクするマスクデータを作成し、このマスクデータを取込み画像に合成して異物輪郭だけの濃淡階調データを作成する異物輪郭抽出処理手段と、前記濃淡階調データのうち異物として分析した範囲ごとに濃度分布の解析を行って表面付着異物と内部異物とを判別する異物判別処理手段とから構成されていることを特徴とする透明支持体の内部異物検査装置。
  3. 前記検査手段は、前記異物輪郭二値データから表面異物のデータを取り除いて内部異物だけの二値データを作成し、この二値データのうち異物として分析した範囲ごとに異物輪郭の周りに生じる明部の対称性の有無を検出して異物と泡部とを判別する異物種類判別手段を備えていることを特徴とする請求項2記載の透明支持体の内部異物検査装置。
JP00331296A 1996-01-11 1996-01-11 透明支持体の内部異物検査装置 Expired - Fee Related JP3585305B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00331296A JP3585305B2 (ja) 1996-01-11 1996-01-11 透明支持体の内部異物検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00331296A JP3585305B2 (ja) 1996-01-11 1996-01-11 透明支持体の内部異物検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09189668A JPH09189668A (ja) 1997-07-22
JP3585305B2 true JP3585305B2 (ja) 2004-11-04

Family

ID=11553850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP00331296A Expired - Fee Related JP3585305B2 (ja) 1996-01-11 1996-01-11 透明支持体の内部異物検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3585305B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001349839A (ja) * 2000-06-07 2001-12-21 Sumitomo Chem Co Ltd 偏光フィルムの欠陥検査方法
JP5390754B2 (ja) * 2007-06-28 2014-01-15 パナソニック株式会社 画像処理による外観検査方法およびその装置
KR101447857B1 (ko) * 2013-04-08 2014-10-06 한국영상기술(주) 렌즈 모듈 이물 검사 시스템
CN108195850A (zh) * 2018-03-28 2018-06-22 中国建筑材料科学研究总院有限公司 一种检测和识别玻璃缺陷的装置及方法
JP6606244B1 (ja) * 2018-09-18 2019-11-13 Ckd株式会社 外観検査装置及びptp包装機
CN113924968B (zh) * 2021-11-15 2023-03-17 中国农业科学院都市农业研究所 一种用于植物工厂的无人生产作业系统及方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0530761U (ja) * 1991-09-30 1993-04-23 京セラ株式会社 欠陥観察装置
JPH06148095A (ja) * 1992-10-30 1994-05-27 Nippon Steel Chem Co Ltd フィルム・シート類の透明欠陥検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09189668A (ja) 1997-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI480542B (zh) A defect detection method and apparatus therefor, and a defect observation method and apparatus therefor
JP4086934B2 (ja) 記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法
CN110208269B (zh) 一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统
JP2007017377A (ja) 蛍光探傷装置および蛍光探傷方法
JP2004037248A (ja) 検査装置および貫通孔の検査方法
JP3585305B2 (ja) 透明支持体の内部異物検査装置
JPH07159337A (ja) 半導体素子の欠陥検査方法
JP2007017376A (ja) 蛍光探傷装置および蛍光探傷方法
JPH05100413A (ja) 異物検査装置
JP2003185593A (ja) ウェーハ外観検査装置
JP2008039444A (ja) 異物検査方法及び異物検査装置
JPWO2020170389A1 (ja) 異物検査装置及び異物検査方法
JP2001021332A (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JPH06160062A (ja) 欠陥検査装置
KR100317174B1 (ko) 액체에 포함된 이물질의 광학 검사 방법과 장치
JP2004361085A (ja) 外観検査装置
JP3047168B2 (ja) 鶏卵の検査方法
JP7011348B2 (ja) 異物検査装置及び異物検査方法
TW202122787A (zh) 相位差薄膜的配向不均缺陷檢出方法及配向不均缺陷檢出裝置
JPH09304294A (ja) 被検査物の表面検査方法及びその装置
JP3202089B2 (ja) 周期性パターンの表面欠陥検査方法
JP6980241B2 (ja) 異物検査装置及び異物検査方法
JP2004286708A (ja) 欠陥検出装置、方法及びプログラム
JP3710915B2 (ja) 表面欠陥の検査方法
JP3149336B2 (ja) 光学部材検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040128

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040324

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040714

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040803

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070813

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070813

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100813

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110813

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees