JP3580992B2 - フォトマスク - Google Patents

フォトマスク Download PDF

Info

Publication number
JP3580992B2
JP3580992B2 JP25349297A JP25349297A JP3580992B2 JP 3580992 B2 JP3580992 B2 JP 3580992B2 JP 25349297 A JP25349297 A JP 25349297A JP 25349297 A JP25349297 A JP 25349297A JP 3580992 B2 JP3580992 B2 JP 3580992B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alignment
alignment pattern
magnification
pattern
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP25349297A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1195407A (ja
Inventor
保孝 石橋
Original Assignee
旭化成マイクロシステム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 旭化成マイクロシステム株式会社 filed Critical 旭化成マイクロシステム株式会社
Priority to JP25349297A priority Critical patent/JP3580992B2/ja
Publication of JPH1195407A publication Critical patent/JPH1195407A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3580992B2 publication Critical patent/JP3580992B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置製造工程等で使用されるフォトマスクであって、拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクに関する。
【0002】
【従来の技術】
フォトマスクには、ウエハに対する位置合わせのためのアライメントパターンが形成されており、通常、比較的低い倍率で拡大して全体を大まかに合わせるための低倍率パターンと、高い倍率で拡大して精度良く合わせるための高倍率パターンが形成されている。
【0003】
従来のフォトマスクのアライメントパターンは、図5に示すように、形状の異なる低倍率パターン21と高倍率パターン22がフォトマスク10の離れた位置に形成されている。そして、例えば低倍率パターン21は十字状に形成され、高倍率パターン22は平行な複数本の線分状に形成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来のアライメントパターンが形成されたフォトマスクでは、低倍率パターンと高倍率パターンが離れた位置に形成されているため、低倍率パターンによる位置合わせを行った後に、位置合わせ装置を高倍率パターンが形成されている位置まで移動させる必要がある。また、低倍率パターンと高倍率パターンの形状が異なるため、位置合わせ装置に、低倍率パターン用と高倍率パターン用とで異なる画像認識プログラムが必要である。
【0005】
本発明はこのような従来技術の問題点に着目してなされたものであり、拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、位置合わせ作業にかかる時間が低減できるとともに、位置合わせ装置の画像認識プログラムを共通にできるものを提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明のフォトマスクは、拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、全てのアライメントパターンは相似形であって、各アライメントパターンは、中心点の回りに複数個のマークが前記中心点に対して点対称に配置された形状であり、高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とする。
本発明はまた、拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、全てのアライメントパターンは相似形であって、各アライメントパターンは、中心点の回りに4個のマークが前記中心点に対して点対称に、且つ前記中心点で直交する十字状のライン上に配置され、前記各マークが、二本の前記ラインのうちの対応するラインと平行な複数本の線分からなる形状であり、高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とするフォトマスクを提供する。
本発明はまた、拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、全てのアライメントパターンは相似形であって、各アライメントパターンは、中心点の回りに4個のマークが前記中心点に対して点対称に、且つ前記中心点を中心とした正方形の四隅に配置され、前記各マークが複数本の平行な線分からなる形状であり、高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とするフォトマスクを提供する。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について説明する。
図1は本発明の一実施形態に相当するフォトマスクであって、アライメントパターンの位置を示す平面図である。図1に示すように、このフォトマスク1は、角部の一カ所にのみアライメントパターン2が形成されている。このアライメントパターン2としては、例えば図2〜4に示すものが挙げられる。
【0008】
図2のアライメントパターンは、低倍率のアライメントパターン3と高倍率のアライメントパターン4で構成されている。低倍率のアライメントパターン3は、4個の同一形状のマーク31が点Cを中心にして十字状に配置された形状である。このマーク31は長方形であり、十字のラインL,Lがその長辺と平行に且つ短辺の1/2の位置を通るように、また、ラインL,Lから点C側の各短辺までの距離Kが全て同一になるように配置されている。
【0009】
高倍率のアライメントパターン4は、低倍率のアライメントパターン3を構成するマーク31の内側(各マーク31の点C側の短辺と点Cとの間)に配置してあり、低倍率のアライメントパターン3を所定の倍率で縮小したときにぴったり重なる相似形となっている。
【0010】
すなわち、高倍率のアライメントパターン4は、4個の長方形マーク41が点Cを中心にして十字状に配置された形状であり、十字のラインL,Lがその長辺と平行に且つ短辺の1/2の位置を通るように、また、ラインL,Lから点C側の短辺までの距離Kが全て同一になるように配置されている。また、距離Kの距離Kに対する比、およびマーク41の寸法のマーク31の寸法に対する比は同じになっている。
【0011】
図3のアライメントパターンは、低倍率のアライメントパターン3と高倍率のアライメントパターン4と、拡大倍率が両者の間の値である中倍率のアライメントパターン5とで構成されている。
【0012】
低倍率のアライメントパターン3は、4個の同一形状のマーク32が点Cを中心にして十字状に(点Cで直交する十字状のラインL1 ,L2 上に)配置された形状である。各マーク32は、同一長さで同一太さの4本の線分状マークを、十字のラインL1 ,L2 と平行に且つラインL1 ,L2 の両側に2本ずつ、線分状マークの長さ方向各端を合わせて等間隔に配置したものであり、ラインL1 ,L2 から点C側の端部までの距離KA が全て同一になるように配置されている。
【0013】
中倍率のアライメントパターン5は、低倍率のアライメントパターン3を構成するマーク32の内側(各マーク32の点C側の端部と点Cとの間)に配置してあり、低倍率のアライメントパターン3を所定の倍率で縮小したときにぴったり重なる相似形となっている。
【0014】
すなわち、中倍率のアライメントパターン5は、4個の同一形状のマーク52が点Cを中心にして十字状に配置された形状である。各マーク52は、同一長さで同一太さの4本の線分状マークを、十字のラインL,Lと平行に且つラインL,Lの両側に2本ずつ、線分状マークの長さ方向各端を合わせて等間隔に配置したものであり、ラインL,Lから点C側の端部までの距離Kが全て同一になるように配置されている。また、距離Kの距離Kに対する比、およびマーク52の寸法のマーク32の寸法に対する比は同じになっている。
【0015】
高倍率のアライメントパターン4は、中倍率のアライメントパターン5を構成するマーク52の内側(各マーク52の点C側の端部と点Cとの間)に配置してあり、中倍率のアライメントパターン5を所定の倍率で縮小したときにぴったり重なる相似形となっている。
【0016】
すなわち、高倍率のアライメントパターン4は、4個の同一形状のマーク42が点Cを中心にして十字状に配置された形状である。各マーク42は、同一長さで同一太さの4本の線分状マークを、十字のラインL,Lと平行に且つラインL,Lの両側に2本ずつ、線分状マークの長さ方向各端を合わせて等間隔に配置したものであり、ラインL,Lから点C側の端部までの距離Kが全て同一になるように配置されている。また、距離Kの距離Kに対する比、およびマーク42の寸法のマーク52の寸法に対する比は同じになっている。
【0017】
図4のアライメントパターンは、倍率の異なる4つのアライメントパターン6〜9で構成されており、すべて相似形であって、より低倍率のアライメントパターンの内側に、より高倍率のアライメントパターンが配置されている。
【0018】
各アライメントパターン6〜9は、同一の点Cを中心にした各正方形の四隅にそれぞれマーク61〜91が配置された形状である。各マーク61〜91は、同一長さで同一太さの4本の平行な線分状マークを、この線分状マークの長さ方向各端を合わせて等間隔に、正方形の各辺のいずれかと平行になるように配置されたものであり、各アライメントパターン6〜9内で、点Cに対して点対称となるように配置されている。なお、ラインL,Lは各正方形の各辺の垂直二等分線であり、点CはラインLとラインLの交点である。
【0019】
このように、図1のフォトマスク1は、例えば図2〜4に示すようなアライメントパターン2がフォトマスク1の一カ所に配置されているため、低倍率側のアライメントパターンによる位置合わせから高倍率側のアライメントパターンによる位置合わせに移行する際に、位置合わせ装置を移動させる必要がない。そのため、位置合わせ作業にかかる時間が低減できる。また、全てのアライメントパターンの形状が相似形であるため、全てのアライメントパターンで共通の画像認識プログラムを使用することができる。
【0020】
なお、図3のアライメントパターンは、拡大倍率が3段階のアライメントパターン3〜5を有し、各アライメントパターン3〜5を構成するマーク32〜52がさらに複数本の平行線で構成されているため、図2のアライメントパターンと比較して高精度の位置合わせが可能になる。また、図4のアライメントパターンは、拡大倍率が4段階のアライメントパターン6〜9を有し、各アライメントパターン6〜9に正方形の四隅に点対称となるマーク61〜91が形成されているため、図2および3のアライメントパターンと比較して、特に高精度の位置合わせが可能になる。
【0021】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のフォトマスクによれば、低倍率側のアライメントパターンによる位置合わせから高倍率側のアライメントパターンによる位置合わせに移行する際に、位置合わせ装置を移動させる必要がないため、位置合わせ作業にかかる時間が低減できる。また、全てのアライメントパターンの形状が相似形であるため、全てのアライメントパターンで共通の画像認識プログラムを使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に相当するフォトマスクにおいて、アライメントパターンの位置を示す平面図である。
【図2】図1のアライメントパターンの一例を示す平面図である。
【図3】図1のアライメントパターンの一例を示す平面図である。
【図4】図1のアライメントパターンの一例を示す平面図である。
【図5】従来のフォトマスクの一例において、アライメントパターンの位置を示す平面図である。
【符号の説明】
1 フォトマスク
2 アライメントパターン
3 低倍率のアライメントパターン
4 高倍率のアライメントパターン
5 中倍率のアライメントパターン
6 アライメントパターン
7 アライメントパターン
8 アライメントパターン
9 アライメントパターン
10 フォトマスク
21 低倍率のアライメントパターン
22 高倍率のアライメントパターン
31 マーク
32 マーク
41 マーク
42 マーク
52 マーク
61 マーク
71 マーク
81 マーク
91 マーク
C 中心点

Claims (3)

  1. 拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、
    全てのアライメントパターンは相似形であって
    各アライメントパターンは、中心点の回りに複数個のマークが前記中心点に対して点対称に配置された形状であり、
    高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とするフォトマスク。
  2. 拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、
    全てのアライメントパターンは相似形であって、
    各アライメントパターンは、中心点の回りに4個のマークが前記中心点に対して点対称に、且つ前記中心点で直交する十字状のライン上に配置され、前記各マークが、二本の前記ラインのうちの対応するラインと平行な複数本の線分からなる形状であり、
    高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とするフォトマスク。
  3. 拡大倍率の異なる複数のアライメントパターンを備えたフォトマスクにおいて、
    全てのアライメントパターンは相似形であって、
    各アライメントパターンは、中心点の回りに4個のマークが前記中心点に対して点対称に、且つ前記中心点を中心とした正方形の四隅に配置され、前記各マークが複数本の平行な線分からなる形状であり、
    高倍率側のアライメントパターンが低倍率側のアライメントパターンより内側となり、且つ全てのアライメントパターンの中心点が同一となるように配置されていることを特徴とするフォトマスク。
JP25349297A 1997-09-18 1997-09-18 フォトマスク Expired - Fee Related JP3580992B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25349297A JP3580992B2 (ja) 1997-09-18 1997-09-18 フォトマスク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25349297A JP3580992B2 (ja) 1997-09-18 1997-09-18 フォトマスク

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1195407A JPH1195407A (ja) 1999-04-09
JP3580992B2 true JP3580992B2 (ja) 2004-10-27

Family

ID=17252138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25349297A Expired - Fee Related JP3580992B2 (ja) 1997-09-18 1997-09-18 フォトマスク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3580992B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW588414B (en) * 2000-06-08 2004-05-21 Toshiba Corp Alignment method, overlap inspecting method and mask
US7474401B2 (en) 2005-09-13 2009-01-06 International Business Machines Corporation Multi-layer alignment and overlay target and measurement method
US9927718B2 (en) 2010-08-03 2018-03-27 Kla-Tencor Corporation Multi-layer overlay metrology target and complimentary overlay metrology measurement systems
US10890436B2 (en) 2011-07-19 2021-01-12 Kla Corporation Overlay targets with orthogonal underlayer dummyfill
DE102013211403B4 (de) * 2013-06-18 2020-12-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum automatisierten Bestimmen eines Referenzpunktes einer Ausrichtungsmarkierung auf einem Substrat einer photolithographischen Maske

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1195407A (ja) 1999-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6077756A (en) Overlay target pattern and algorithm for layer-to-layer overlay metrology for semiconductor processing
US5982044A (en) Alignment pattern and algorithm for photolithographic alignment marks on semiconductor substrates
JP2006523949A (ja) 非長方形状のダイを有する半導体ウェハ
US7160656B2 (en) Method for determining pattern misalignment over a substrate
KR100381881B1 (ko) 얼라인먼트 마크 세트 및 얼라인먼트 정밀도 계측 방법
JP3580992B2 (ja) フォトマスク
US20030044057A1 (en) Method of checking overlap accuracy of patterns on four stacked semiconductor layers
JP2001102285A (ja) 位置合わせマーク
JP2995061B2 (ja) フォトマスク
JP2000294487A (ja) 半導体装置製造用重ね合わせ測定マークの配置構造
JP3698843B2 (ja) フォトマスク
KR100546336B1 (ko) 복수의 교점을 가지는 오버레이 키 및 이를 이용한오버레이 측정 방법
JP2007053140A (ja) 半導体装置
JPS5975627A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS588132B2 (ja) 集積回路製造方法
KR0131262B1 (ko) 포토 마스크 제작 방법
JP2000133572A (ja) 重ね合わせ精度測定用パターン
JPH04338625A (ja) 位置合わせマーク
JP2513540Y2 (ja) アライメント測定装置
JPS62193123A (ja) パタ−ン位置合わせ方法
KR20220146989A (ko) 오버레이 마크 및 이를 이용한 오버레이 계측방법 및 반도체 디바이스 제조방법
KR200245079Y1 (ko) 버니어 키
KR0144079B1 (ko) 웨이퍼의 정렬용 버니어
CN111508825A (zh) 一种器件偏移监测方法、半导体器件及其制作方法
KR20020045744A (ko) 반도체 소자의 오버레이 마크

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040106

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040305

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040406

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040603

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040713

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040721

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees