JP3549005B2 - 電界放出型電子銃 - Google Patents
電界放出型電子銃 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3549005B2 JP3549005B2 JP20621494A JP20621494A JP3549005B2 JP 3549005 B2 JP3549005 B2 JP 3549005B2 JP 20621494 A JP20621494 A JP 20621494A JP 20621494 A JP20621494 A JP 20621494A JP 3549005 B2 JP3549005 B2 JP 3549005B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- cathode
- field emission
- light source
- secondary light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【産業上の利用分野】
この発明は、走査型電子顕微鏡に用いられる電界放射型電子銃に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、走査電子顕微鏡における電子銃は、図5に示すように、陰極1である電界放射電子源(FEチップ)から電子線を電界放出させて引き出す引出電極2と、陰極1から引き出された電子線を加速する加速電極3とから構成され、引出電極2及び加速電極3で形成された静電レンズ4が陰極1からの電子線を収束して、2次光源5を形成する。
【0003】
ここで、陰極1に対して引出電極2に印加する電圧をV1、陰極1に対して加速電極3に印加する電圧をV2とし、引出電極2から陰極1までの距離をL1、引出電極2から2次光源5までの距離をL2とした場合に、V2/V1を変化すると2次光源5までの距離L2は、図6のように変化する。
【0004】
すなわち、V2/V1=1のとき、即ち等電位の時には、図6(A)に示すように静電レンズの作用はなく、陰極1の位置から電子線が直線として放出され、2次光源5の位置は陰極1の位置と一致する。
【0005】
V2/V1を1から増加又は減少させていくと2次光源5の位置は、図6(B)(C)に示すように陰極1の上方へ移動する。この上方の位置を図7に示すように虚像領域と呼ぶ。
【0006】
さらに、V2/V1を増加又は減少させていくと、あるところで電子線は平行ビームとなる(図6(D)(E)参照)。このとき、2次光源5は上方の無限遠位置から手前側(下側)の無限遠位置へ移動する(図7参照)。
【0007】
ここで、V2/V1を1から減少させた際に2次光源5が無限遠位置となったときのV2/V1の値を第1境界値A1とし、又V2/V1を1から増加させた際に2次光源5が無限遠位置となったときのV2/V1の値を第2境界値A2(A1<A2)とする。さらに、V2/V1を増加又は減少させていくと、図7に示す実像領域に入るとともに2次光源5の位置は下から上の陰極1へ近かづいていく。そして、電子線は図6(F)(G)に示す状態となる。
【0008】
走査型電子顕微鏡では、一般に2次光源5の位置が上述した虚像領域の範囲内となるように使用される。
【0009】
走査型電子顕微鏡では、X線分析を効率よく行うため、加速電圧をある程度の分解能が得られるいわゆる高加速電圧(15K〜30KV)の範囲に設定して観察することが一般的である。その範囲で2次光源5が虚像領域となるように、電極形状が形成されている。しかし、第1境界値A1を低くする試みは、ほとんどなされていなかった。
【0010】
ところで、近年、非導電性の試料を直接観察したいという要望がでてきている。
【0011】
この場合には、上述の通常の加速電圧で使用すると試料表面に電荷が蓄積(帯電現象)し、このため像のひずみや異常なコントラストが生じる等の弊害がある。この弊害を防止するために、より低い低加速電圧(1〜5KV)で観察することが要求され、電子銃の第1境界値A1の値を小さくしなければならないという要求が高まってきた。
【0012】
一方、電界放出型チップは、加速電圧が低くても、熱電子銃に比べ輝度が高く、見掛上の光源の大きさも小さいため、観察には十分な分解能を確保することが出来る利点がある。しかし、従来のタングステンタイプの電子銃の電極構造と組み合わせた場合、要求される低加速電圧域において、2次光源が実像域に移動したり、高加速電圧での2次光源位置から大きく隔たったりする。このため、電子レンズ系の構成を大幅に変更しなければならないなどの問題が生じる。
【0013】
そこで、電界放出型チップを従来のタングステンタイプの電子銃の電極構造と組み合わせた場合でも、タングステンタイプの電子レンズ系の構成を変更せずに済むように、虚像領域を広げる電極構造が提案されている(特開平1−189843号公報参照)。
【0014】
この提案された引出電極は、加速電極側の下面が凸の円錐形状であると共に、その円錐形状の頂点に凹状の円柱形の窪みを有し、その窪みの中心部に電子線が通過する孔を有している。
【0015】
また、加速電極は、引出電極側の上面に円錐形の凹部が形成され、さらにこの円錐形の頂点側に連続形成された円柱形窪みを有し、この円柱窪みの中心部に電子線が通過する孔が形成されている。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、引出電極および加速電極は複雑な形状であり、精密に加工することが容易でないという問題があった。
【0017】
この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、虚像領域を拡大することができ、しかも、単純な形状の電極とすることのできる電界放出型電子銃を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
この発明は、上記目的を達成するため、電子線を電界放出する陰極と、
前記陰極から電子線を電界放出させて引き出すための電界を前記陰極との間に形成する引出電極と、
前記陰極から電界放出されて前記引出電極を通過する電子線を加速する加速電極とを備えた電界放出型電子銃において、
前記陰極から引き出された電子線が通過する第1孔を前記引出電極の中心部に設け、
前記加速電極と対向する引出電極の下面を平面状に形成し、
前記引出電極と対向する加速電極の上面の中央に円柱状の凹部を設け、
前記凹部の底の中心部に前記電子線が通過する第2孔を設け、
前記引出電極の前記下面と、前記加速電極の前記上面との間の間隔をh2とし、前記加速電極の凹部の深さをh1とし、その凹部の内径をDとしたとき、
1.7≦D/h2
0.8≦h1/D
となる関係を有することを特徴とする。
【0019】
【実施例】
以下、この発明に係わる走査型電子顕微鏡の電界放射型電子銃の実施例を図面に基づいて説明する。
【0020】
図1において、11は電界放射型電子銃10の陰極(FEチップ)、12は陰極11から電子線を電界放出させて引き出すための電界を前記陰極との間に形成する引出電極、20は引出電極12を通過する電子線を加速する加速電極である。
【0021】
[引出電極]
引出電極12の中心部には、電子線が通過する内径d1の第1孔14が設けられ、加速電極に対向する下面12cが平面状に形成されている。第1孔14の内径d1は電子線が通過する程度の径であれば足りる。一般的には1mm〜3mm程度である。
【0022】
また、引出電極12の厚さHは1mm〜2mm程度である。
【0023】
この引出電極12には、陰極11からの放出電流が所定の値(一例として略10μA)となるように引出し電圧V1(通常3〜7KV)が印加される。
【0024】
[加速電極]
引出電極12に対向する加速電極20の上面20aには、円柱状の凹部21が設けられており、この凹部21の中心部には電子線が通過する第2孔22が設けられている。ここで、凹部21の深さをh1、加速電極20の凹部21の内径をD、第2孔22の径をd2、加速電極20の上面20aと引出電極12の下面12cとの間隔をh2とする。また、加速電極20の下面20bは平面状に形成されている。
【0025】
第2孔22の内径d2は、凹部21の内径Dよりも小さく設定され(d2<<D)、電子線が通過する程度であれば足り、一般的に数mm程度とされる。
【0026】
このように、引出電極12には第1孔14を設けただけであり、また加速電極20には円柱状の凹部21と第2孔22を設けただけなので各電極12,20の形状は単純なものであり、その加工は容易なものとなる。
【0027】
加速電極20には、陰極11からの電子線を所定速度に加速するために加速電圧V2が印加される。そして、上述した引出電極12及び加速電極20で形成された静電レンズ25が陰極11から引き出された電子線を収束して、2次光源25を形成する。
【0028】
ここで、陰極11に対して引出電極12に印加する電圧をV1(1000V)、陰極11に対して加速電極20に印加する電圧をV2とし、引出電極12と陰極11との距離をS0(V2/V1=1のときの2次光源25の距離)、V2/V1を変化させたときの引出電極12と2次光源25までの距離をSとする。
【0029】
このときの2次光源像25の位置変化比S/S0は、磁場が存在しないことに留意しつつ、与えられた電極形状に関して有限要素法を利用して電極間の電位関数を得て、これに基づき下記近軸軌道方程式を解いて求められる。
【0030】
有限要素法とは、電極形状に合わせて空間を微小な三角形で分割し、その中での電位の変化が1次関数で表されるようにとり、各要素でのエネルギー△Fを計算し、これを全空間について和をとり、その最小条件を作ることで電位関数を得るものである。
【0031】
磁場が存在しないときの近軸軌道方程式は、
U´´+(Φ´/2Φ)U´+(Φ´´/4Φ)U=0
で表される。
【0032】
ただし、Uは、回転座標X,YをU=X+jYとして与えたものであり、Φは電位関数を示す。
【0033】
ここで、V1=1000V,
D=45mm
h1=70mm
h2=10mm
S0=4mm
d1,d2<<D
とし、引出電極12の印加電圧と加速電極20の印加電圧の比V2/V1を変化させたときの2次光源像25の位置変化比S/S0を上記近軸軌道方程式で求めた結果を図2に示す。
【0034】
一般に、引出し電圧V1は、チップ先端(陰極11先端)の曲率半径によって異なるが、放出電流が略10μAとなるように、通常3〜7KVの間で使用される。一方、加速電圧V2は、高加速電圧(15K〜30KV)から低加速電圧(1〜5KV)の範囲で使用される。
【0035】
これを考慮して、通常の走査型電子顕微鏡では、V2/V1が0.1〜10の範囲で使用されている。
【0036】
図2において、高加速電圧領域の上限値(V2/V1=10)付近について、考察してみると、V2/V1=10において、仮想電極である2次光源25の位置Sと実際の電極位置S0との比(S/S0)は2.35であり、V2 /V1=15においてでさえS/S0は3.4のように十分小さい値をとる。
【0037】
他方、低加速電圧領域の下限値(V2/V1=0.1)付近について、考察してみると、V2/V1=0.1において、仮想電極の像位置Sと実際の電極位置S0との比(S/S0)は4.78であり、V2 /V1=0.08におけるS/S0でも、6.49のように10よりも十分小さい値をとり、加速電圧を変更しても2次光源25の位置は大きく変わらない良好な特性を示すことが分かる。
【0038】
[適用範囲]
一般に、電子光学において、磁界がないときすべての電極電圧を同じ倍率で変えても電子の軌道は変わらず、電極電圧を変えないで電極寸法を同じ倍率で拡大、縮小すると軌道も同じ倍率で拡大・縮小されるという、相似則が適用できることが知られている。
【0039】
そこで、電極形状の許容範囲を求めるため、通常の走査型電子顕微鏡において使用されるV2/V1をパラメータとし、そのパラメータの下限値を0.1、そのパラメータの上限値を10として、加速電極20の凹部21の内径Dと、引出電極12の下面12cと加速電極20の上面20aとの間隔h2との比(D/h2)と、加速電極20の凹部21の深さh1と加速電極20の凹部21の内径Dとの比(h1/D)とを用いて、2次光源25の位置の変化比の特性を近軸軌道方程式から求めた結果を図3に示す。
【0040】
ここでは、V2/V1=0.08とD/h2=1.4を一定にしてh1/Dを変化させていったときのS/S0を求め、同様にして、D/h2=1.71、D/h2=2、D/h2=2.6、D/h2=3.1、D/h2=3.7を一定にしてh1/Dを変化させていったときのS/S0を求めた。
【0041】
また、同様に、V2/V1=10のとき、D/h2=1.4、D/h2=1.71、D/h2=2、D/h2=2.6、D/h2=3.1、D/h2=3.7を一定にしてh1/Dを変化させていったときのS/S0を求めた。
【0042】
図3を参照すると、低加速電圧領域の下限値近傍(V2/V1=0.08)においてh1/Dの値が小さすぎると2次光源25の位置変化比S/S0が著しく大きくなり、またD/h2の値が小さすぎると、どのようなh1/Dの値をとっても、2次光源25の位置変化比S/S0が10以下の値をとれない。
【0043】
従って、h1 /D≧0.8、D/h2≧1.7の範囲の電極形状を採用すれば、低加速電圧領域の下限値近傍のV2/V1=0.08付近においても、2次光源の位置変化比S/S0がさほど大きくなく十分使用可能な電子銃を形成することができる。すなわち、低加電圧速領域の下限値をV2/V1=1からV2/V1=0.08まで下げることができ、虚像領域が広がることとなる(但し、h1,h2,D≠0とする)。
【0044】
この低加速電圧領域の下限値を小さくすることができることにより、非導電性の試料上に電子線を連続して収束させても帯電現象を生じさせずに済み、この結果、像のひずみや異常なコントラストを生じさせることなく非導電性の試料を直接観察することができることとなる。
【0045】
また、特にh1/Dの値を1.2≦h1/D≦4とすれば、D/h2の値を変化、すなわち引出電極12の下面12cと加速電極20の上面20aとの間隔h2の値を変えても2次光源25の位置変化比S/S0の値は大きく変化しない。これは、低加電圧速領域の下限値近傍から高加速電圧領域の上限値近傍(V2/V1=10)までの範囲について云える。
【0046】
この2次光源25の位置変化比S/S0の値はさほど大きく変わらないことにより、2次光源25の位置の移動にともなう加速電極20の後の後段のレンズ系での補正の負担を軽減することができる。
【0047】
また、D/h2の値を2≦D/h2≦3.1の範囲とすれば、h1を変化させても、2次光源の位置変化比S/S0の値の変化はさらに小さなものとなる。このため、2次光源25の位置の移動にともなう加速電極20の後の後段のレンズ系での補正の負担をさらに軽減することができる。
【0048】
さらに、h1/Dの値を1.2≦h1/D≦4の範囲とし、かつD/h2の値を2≦D/h2≦3.1の範囲とすれば、2次光源25の位置変化比S/S0の値はほとんど一定となり、このためh1,h2又はDのいずれか一つの自由度が増えることとなり、設計上の選択の自由度が増えるという効果がある。
【0049】
従って、この場合の電極形状は、形状自体が単純で製作し易いだけでなく、その製作精度も厳しい要求がなされない。また、2次光源25の位置変化比S/S0の値はほとんど一定であるため、2次光源25の位置の移動にともなう加速電極20の後の後段のレンズ系での補正は不要となる。
【0050】
図5は他の実施例を示すものである。この実施例では加速電極20の上面20aを、半径rのR状に形成したものである。このR状により放電防止効果を図ったものである。
【0051】
【発明の効果】
請求項1の発明によれば、電子線が通過する第1孔を引出電極の中心部に設け、加速電極と対向する引出電極の下面を平面状に形成し、前記引出電極と対向する加速電極の上面の中央に円柱状の凹部を設け、前記凹部の底の中心部に前記電子線が通過する第2孔を設けただけなので、引出電極および加速電極の形状は単純な形状なものである。
【0052】
また、請求項1の発明によれば、高加速電圧領域の上限値をある程度の大きさに保ちつつ、低加速電圧領域の下限値を小さくすることができるので、高加速電圧領域から低加速電圧領域までの広い範囲を2次光源位置の虚像領域とすることができる。また、低加速電圧領域の下限値を小さくすることができるので、電子銃以降の集束レンズ系などによって非導電性の試料上に電子線を連続して収束させることができる。
【0053】
さらに、1.7≦D/h2、2≦h1/D2の範囲では2次光源の位置変化比S/S0の値はさほど大きく変わらないので、2次光源位置の移動にともなう後段のレンズ系での補正の負担を軽減することができる。
【0054】
請求項2の発明によれば、2≦D/h2≦3.1なので、2次光源の位置変化比S/S0の値をさらに小さくすることができ、2次光源位置の移動にともなう後段のレンズ系での補正の負担をさらに軽減することができる。
【0055】
請求項3の発明によれば、2≦h1/D≦3.5なので、2次光源の位置変化比S/S0の値は殆ど一定となり、2次光源位置の移動にともなう後段のレンズ系での補正は不要となる。また、2≦D/h2≦3.1の範囲内であれば、2次光源25の位置変化比S/S0の値はほとんど一定となり、このためh1,h2又はDのいずれか一つの自由度が増えることとなり、設計上の選択の自由度が増える。また、この場合の電極形状は、形状自体が製作し易いだけでなく、その製作精度も緩いもので済むこととなる。
【0056】
請求項4の発明によれば、加速電極の上面をR状に形成したので、放電防止効果が得るれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる電界放出型電子銃の構成を示した説明図である。
【図2】引出電極電圧と加速電極電圧の比と、陰極位置と2次光源位置の比との関係を表わしたグラフである。
【図3】2次光源像位置変化の特性を示したグラフである。
【図4】他の実施例を示した説明図である。
【図5】従来の電界放出型電子銃の構成を示した説明図である。
【図6】(A)はV2/V1=1のときの電子線の状態を示した説明図である。
(B)はV1>V2のときの電子線の状態を示した説明図である。
(C)はV1<V2のときの電子線の状態を示した説明図である。
(D)は電子線が平行ビームとなっている状態を示した説明図である。
(E)は電子線が平行ビームとなっている状態を示した説明図である。
(F)2次光源が実像領域に入っているときの電子線の状態を示した説明図である。
(G)2次光源が実像領域に入っているときの電子線の状態を示した説明図である。
【図7】V2/V1に対する2次光源位置を示す説明図である。
【符号の説明】
11 陰極
12 引出電極
12c 下面
14 第1孔
20 加速電極
20a 上面
21 凹部
22 第2孔
D 凹部の内径
h1 凹部の深さ
h2 間隔
Claims (4)
- 電子線を電界放出する陰極と、
前記陰極から電子線を電界放出させて引き出すための電界を前記陰極との間に形成する引出電極と、
前記陰極から電界放出されて前記引出電極を通過する電子線を加速する加速電極とを備えた電界放出型電子銃において、
前記陰極から引き出された電子線が通過する第1孔を前記引出電極の中心部に設け、
前記加速電極と対向する引出電極の下面を平面状に形成し、
前記引出電極と対向する加速電極の上面の中央に円柱状の凹部を設け、
前記凹部の底の中心部に前記電子線が通過する第2孔を設け、
前記引出電極の前記下面と、前記加速電極の前記上面との間の間隔をh2とし、前記加速電極の凹部の深さをh1とし、その凹部の内径をDとしたとき、
1.7≦D/h2
0.8≦h1/D
となる関係を有することを特徴とする電界放出型電子銃。 - 前記内径Dと前記間隔h2との比が
2≦D/h2≦3.1
となる関係を有することを特徴とする請求項1に記載の電界放出型電子銃。 - 前記深さh1と前記内径Dとの比を
1.2≦h1/D≦3.5
となる関係を有することを特徴とする請求項1ないし請求項2に記載の電界放出型電子銃。 - 前記加速電極の上面をR状に形成したことを特徴とする請求項1ないし請求項3に記載の電界放出型電子銃。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20621494A JP3549005B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 電界放出型電子銃 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20621494A JP3549005B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 電界放出型電子銃 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0869770A JPH0869770A (ja) | 1996-03-12 |
| JP3549005B2 true JP3549005B2 (ja) | 2004-08-04 |
Family
ID=16519661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20621494A Expired - Fee Related JP3549005B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 電界放出型電子銃 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3549005B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0021902D0 (en) | 2000-09-06 | 2000-10-25 | Kratos Analytical Ltd | Ion optics system for TOF mass spectrometer |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP20621494A patent/JP3549005B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0869770A (ja) | 1996-03-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20090309025A1 (en) | Particle optical arrangement | |
| US4853545A (en) | Particle beam apparatus for low-error imaging of line-shaped subjects | |
| US5677530A (en) | Scanning electron microscope | |
| JP2001185066A (ja) | 電子線装置 | |
| US5369279A (en) | Chromatically compensated particle-beam column | |
| EP4324012A1 (en) | High resolution, multi-electron beam apparatus | |
| TWI742226B (zh) | 提取設備及系統,電子束系統,以及掃描電子顯微鏡 | |
| US10615001B2 (en) | Wide field-of-view atom probe | |
| US12394585B2 (en) | Electron source, electron gun, and charged particle beam device | |
| JP2009076474A (ja) | 電子光学鏡筒およびその製造方法 | |
| JP3549005B2 (ja) | 電界放出型電子銃 | |
| JPH0794116A (ja) | 陰極線管用電子銃 | |
| US8835848B2 (en) | Ultra-miniaturized electron optical microcolumn | |
| JP3340327B2 (ja) | 非点収差補正方法及び非点収差補正装置 | |
| CN113690121B (zh) | 电子束偏转装置、扫描电子显微镜以及电子束曝光机 | |
| JP2000149850A (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| KR100308720B1 (ko) | 색보상파티클빔컬럼 | |
| JP6261228B2 (ja) | 集束イオンビーム装置、集束イオン/電子ビーム加工観察装置、及び試料加工方法 | |
| CN112086332A (zh) | 一种静电偏转装置及其偏转方法 | |
| JP3712559B2 (ja) | カソードレンズ | |
| EP0030270A1 (en) | Multiple beam cathode ray tube having reduced off-axis aberrations | |
| CN1084041C (zh) | 粒子光学柱 | |
| JPS6269455A (ja) | 静電形集束偏向装置 | |
| JPH06139983A (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JPH0793108B2 (ja) | 陰極線管 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040401 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040413 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040413 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090430 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090430 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100430 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110430 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120430 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |