JP3535484B2 - 差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チップ・アダプタ - Google Patents
差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チップ・アダプタInfo
- Publication number
- JP3535484B2 JP3535484B2 JP2001249316A JP2001249316A JP3535484B2 JP 3535484 B2 JP3535484 B2 JP 3535484B2 JP 2001249316 A JP2001249316 A JP 2001249316A JP 2001249316 A JP2001249316 A JP 2001249316A JP 3535484 B2 JP3535484 B2 JP 3535484B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- probing
- tip
- tips
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、測定プロ
ーブ用のプローブ・アダプタに関し、特に、超高周波の
差動測定プローブと共に使用できる可変間隔プローブ・
チップ・アダプタに関する。
ーブ用のプローブ・アダプタに関し、特に、超高周波の
差動測定プローブと共に使用できる可変間隔プローブ・
チップ・アダプタに関する。
【０００２】
【従来の技術】プローブ・チップ・アダプタは、種々の
形式の電気部品をプロービング（信号検出）できるよう
に、測定プローブ用に開発されたアクセサリである。こ
れらアダプタにより、回路基板に設けられた矩形ピン、
回路基板上の接地点、表面実装集積回路素子のリード線
などとの接続が可能になる。本願特許出願人であるアメ
リカ合衆国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス・
インコーポレイテッドが製造販売しているＰ６２４６型
能動プローブ１０は、図５に示す構成であり、測定プロ
ーブ・ヘッド１２と、第１及び第２ソケット型プローブ
・チップ１４及び１６とを具えている。これらソケット
型プローブ・チップ１４及び１６の全長は、０．２５５
インチ（６．４７７ｍｍ）であり、その直径は、０．０
６５インチ（１．６５１ｍｍ）である。これらソケット
に設けられたボア（穴）の直径は、０．０３８インチ
（０．９６５２ｍｍ）であり、その長さは、０．２２５
インチ（５．７１５ｍｍ）である。種々の形式のプロー
ブ・チップ・アダプタをソケット型プローブ・チップ１
２に挿入して、種々の形式のプロービングが可能とな
る。
形式の電気部品をプロービング（信号検出）できるよう
に、測定プローブ用に開発されたアクセサリである。こ
れらアダプタにより、回路基板に設けられた矩形ピン、
回路基板上の接地点、表面実装集積回路素子のリード線
などとの接続が可能になる。本願特許出願人であるアメ
リカ合衆国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス・
インコーポレイテッドが製造販売しているＰ６２４６型
能動プローブ１０は、図５に示す構成であり、測定プロ
ーブ・ヘッド１２と、第１及び第２ソケット型プローブ
・チップ１４及び１６とを具えている。これらソケット
型プローブ・チップ１４及び１６の全長は、０．２５５
インチ（６．４７７ｍｍ）であり、その直径は、０．０
６５インチ（１．６５１ｍｍ）である。これらソケット
に設けられたボア（穴）の直径は、０．０３８インチ
（０．９６５２ｍｍ）であり、その長さは、０．２２５
インチ（５．７１５ｍｍ）である。種々の形式のプロー
ブ・チップ・アダプタをソケット型プローブ・チップ１
２に挿入して、種々の形式のプロービングが可能とな
る。
【０００３】上述の差動測定プローブ１０用のある形式
のプローブ・チップ・アダプタは、デュアル・プロービ
ング・チップ可変間隔アダプタ１７である。このアダプ
タ１７は、第１及び第２プロービング・チップ１８及び
２０を具えており、これらプロービング・チップは、ワ
イヤから形成されている。これらワイヤの直径は、測定
プローブ・ヘッド１２のソケット型プローブ・チップ１
４及び１６内でプロービング・チップを回転移動できる
ものである。プロービング・チップ１８及び２０は、第
１及び第２直線部分２４及び２６を有し、これら直線部
分は、横方向の遷移部分２８及び３０によりオフセット
されている。これらプロービング・チップ１８及び２０
は、非導電性スペーサ３２を用いて互いに結合されてい
る。非導電性スペーサ３２には第１及び第２ボアが形成
され、それらの幾何学的ピッチ、即ち、中心から中心の
間隔は、測定プローブ・ヘッド１２のソケット型プロー
ブ・チップ１４及び１６の間隔と同じである。スペーサ
３２のボアに係合した第１直線部分２４に形成された外
側に伸びるリブにより、又は、第１直線部分２４で挿入
されスペーサ３２のプローブ側と係合するように位置決
めされた非導電性保持器により、プロービング・チップ
２０及び２２が固定される。いずれの保持手段も、ボア
内でプロービング・チップを回転移動が可能である。プ
ロービング・チップは、ソケット型プローブ・チップ１
４及び１６内で回転可能であり、スペーサ３２により、
集積回路素子のリードの幾何学的ピッチに合うように、
プロービング・チップの幾何学的ピッチを変更できる。
のプローブ・チップ・アダプタは、デュアル・プロービ
ング・チップ可変間隔アダプタ１７である。このアダプ
タ１７は、第１及び第２プロービング・チップ１８及び
２０を具えており、これらプロービング・チップは、ワ
イヤから形成されている。これらワイヤの直径は、測定
プローブ・ヘッド１２のソケット型プローブ・チップ１
４及び１６内でプロービング・チップを回転移動できる
ものである。プロービング・チップ１８及び２０は、第
１及び第２直線部分２４及び２６を有し、これら直線部
分は、横方向の遷移部分２８及び３０によりオフセット
されている。これらプロービング・チップ１８及び２０
は、非導電性スペーサ３２を用いて互いに結合されてい
る。非導電性スペーサ３２には第１及び第２ボアが形成
され、それらの幾何学的ピッチ、即ち、中心から中心の
間隔は、測定プローブ・ヘッド１２のソケット型プロー
ブ・チップ１４及び１６の間隔と同じである。スペーサ
３２のボアに係合した第１直線部分２４に形成された外
側に伸びるリブにより、又は、第１直線部分２４で挿入
されスペーサ３２のプローブ側と係合するように位置決
めされた非導電性保持器により、プロービング・チップ
２０及び２２が固定される。いずれの保持手段も、ボア
内でプロービング・チップを回転移動が可能である。プ
ロービング・チップは、ソケット型プローブ・チップ１
４及び１６内で回転可能であり、スペーサ３２により、
集積回路素子のリードの幾何学的ピッチに合うように、
プロービング・チップの幾何学的ピッチを変更できる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】プローブ・チップの静
電容量（以下、単に容量という）及びインダクタンス
は、測定プローブで単一又は複数のソケット型プローブ
・チップを用いる際の最大の欠点である。チップの容量
及びインダクタンスは、プローブの入力帯域幅を制限す
る。益々高いギガヘルツの周波数で動作する集積回路及
びハイブリッド回路を絶えず開発している電子工業分野
では、プローブ・チップの容量及びインダクタンスを著
しく低下させる新たな形式の測定プローブの開発が求め
られている。これには、プローブ・チップの長さ及び直
径を短くする必要がある。同様に、これら低容量プロー
ブ用に長さ及び直径を短くしたプローブ・チップ・アダ
プタが求められている。
電容量（以下、単に容量という）及びインダクタンス
は、測定プローブで単一又は複数のソケット型プローブ
・チップを用いる際の最大の欠点である。チップの容量
及びインダクタンスは、プローブの入力帯域幅を制限す
る。益々高いギガヘルツの周波数で動作する集積回路及
びハイブリッド回路を絶えず開発している電子工業分野
では、プローブ・チップの容量及びインダクタンスを著
しく低下させる新たな形式の測定プローブの開発が求め
られている。これには、プローブ・チップの長さ及び直
径を短くする必要がある。同様に、これら低容量プロー
ブ用に長さ及び直径を短くしたプローブ・チップ・アダ
プタが求められている。
【０００５】よって、縮小されたサイズのプロービング
・チップを有する低容量測定プローブと両立性のあるプ
ローブ・チップ・アダプタが必要とされている。かかる
アダプタは、種々の集積回路リードの幾何学的ピッチに
適用可能であり、これらアダプタの長さ及び直径を短く
して、付加的なプローブ・チップの容量及びインダクタ
ンスをできるだけ小さくしなければならない。
・チップを有する低容量測定プローブと両立性のあるプ
ローブ・チップ・アダプタが必要とされている。かかる
アダプタは、種々の集積回路リードの幾何学的ピッチに
適用可能であり、これらアダプタの長さ及び直径を短く
して、付加的なプローブ・チップの容量及びインダクタ
ンスをできるだけ小さくしなければならない。
【０００６】したがって、本発明は、小さなサイズのプ
ロービング・チップを有する低容量測定プローブと両立
性があり、種々の集積回路リードの幾何学的ピッチに適
用可能であり、プローブ・チップの容量及びインダクタ
ンスが小さい差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チ
ップ・アダプタの提供にある。
ロービング・チップを有する低容量測定プローブと両立
性があり、種々の集積回路リードの幾何学的ピッチに適
用可能であり、プローブ・チップの容量及びインダクタ
ンスが小さい差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チ
ップ・アダプタの提供にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、差動測定プロ
ーブ用の可変間隔プローブ・チップ・アダプタ（４０）
であり、測定プローブ・ヘッド（４２）を有し、このプ
ローブ・ヘッドから第１及び第２プローブ・チップ（５
０、５２）が伸びている。プローブ・ヘッド（４２）に
リブ（５６）及び溝（５８）が形成され、これらプロー
ブ・チップ（５０、５２）の各々から放射状に伸びる。
第１及び第２オフセット・プロービング・チップ（６
０、６２）の各々は、導電性シャフト（６４）を有し、
この導電性シャフトの一端にボア（６６）が形成され
て、測定プローブの各プローブ・チップ（５０、５２）
がかみ合う。各導電性シャフト（６４）は、ボア（６
６）と垂直の面を有し、ここに形成されたリブ（７０）
及び溝（７２）は、ボアから放射状に伸びて、プローブ
・ヘッド（４２）の対応する溝（５８）及びリブ（５
６）とかみ合う。導電性シャフト（６４）の他端は、プ
ロービング・ポイント（７６）に向かって先細になって
おり、このシャフトの先細端に向かうシャフトの部分
は、ある角度で折れ曲がり、プロービング・チップ（６
０、６２）をオフセットする。導電性シャフト（６４）
は、測定プローブのプローブ・チップ（５０、５２）上
で回転可能であり、プローブ・ヘッド（４２）及びプロ
ービング・ピン（６０、６２）のリブ及び溝とかみ合っ
て、その位置が拘束される。導電性シャフトのボア及び
測定プローブのプローブ・チップの各々の周囲に形成さ
れた溝及びリブは、プロービング・ポイントを選択され
た間隔にする。好ましくは、プロービング・ポイントの
間隔は、０．０２５インチ（０．６３５ｍｍ）、０．０
５０インチ（１．２７ｍｍ）及び０．０１０インチ
（０．２５４ｍｍ）の集積回路リードの幾何学的ピッチ
と一致する。可変間隔プローブ・チップ・アダプタは、
第１及び第２プローブ・チップを受けるために形成され
た第１及び第２ボアを含んでもよい。なお、本明細書で
は、プローブ・チップ及びプロービング・チップという
用語を用いるが、これら用語の使い分けは便宜的であ
り、厳密に区別するものではない。
ーブ用の可変間隔プローブ・チップ・アダプタ（４０）
であり、測定プローブ・ヘッド（４２）を有し、このプ
ローブ・ヘッドから第１及び第２プローブ・チップ（５
０、５２）が伸びている。プローブ・ヘッド（４２）に
リブ（５６）及び溝（５８）が形成され、これらプロー
ブ・チップ（５０、５２）の各々から放射状に伸びる。
第１及び第２オフセット・プロービング・チップ（６
０、６２）の各々は、導電性シャフト（６４）を有し、
この導電性シャフトの一端にボア（６６）が形成され
て、測定プローブの各プローブ・チップ（５０、５２）
がかみ合う。各導電性シャフト（６４）は、ボア（６
６）と垂直の面を有し、ここに形成されたリブ（７０）
及び溝（７２）は、ボアから放射状に伸びて、プローブ
・ヘッド（４２）の対応する溝（５８）及びリブ（５
６）とかみ合う。導電性シャフト（６４）の他端は、プ
ロービング・ポイント（７６）に向かって先細になって
おり、このシャフトの先細端に向かうシャフトの部分
は、ある角度で折れ曲がり、プロービング・チップ（６
０、６２）をオフセットする。導電性シャフト（６４）
は、測定プローブのプローブ・チップ（５０、５２）上
で回転可能であり、プローブ・ヘッド（４２）及びプロ
ービング・ピン（６０、６２）のリブ及び溝とかみ合っ
て、その位置が拘束される。導電性シャフトのボア及び
測定プローブのプローブ・チップの各々の周囲に形成さ
れた溝及びリブは、プロービング・ポイントを選択され
た間隔にする。好ましくは、プロービング・ポイントの
間隔は、０．０２５インチ（０．６３５ｍｍ）、０．０
５０インチ（１．２７ｍｍ）及び０．０１０インチ
（０．２５４ｍｍ）の集積回路リードの幾何学的ピッチ
と一致する。可変間隔プローブ・チップ・アダプタは、
第１及び第２プローブ・チップを受けるために形成され
た第１及び第２ボアを含んでもよい。なお、本明細書で
は、プローブ・チップ及びプロービング・チップという
用語を用いるが、これら用語の使い分けは便宜的であ
り、厳密に区別するものではない。
【０００８】本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添
付図を参照した以下の詳細な説明から一層明らかになろ
う。
付図を参照した以下の詳細な説明から一層明らかになろ
う。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は、本発明による可変間隔プ
ローブ・チップ・アダプタ４０の斜視図である。可変間
隔プローブ・チップ・アダプタ４０は、差動測定プロー
ブの測定プローブ・ヘッド４２を含んでおり、その鼻部
分４４には平行なボア４６及び４８が形成されて、第１
及び第２プローブ・チップ５０及び５２を受ける。プロ
ーブ・チップ５０及び５２の各々の一端は、プローブ・
ヘッド４２内に配置された基板５４を受ける。プローブ
・チップ５０及び５２の各々の他端は、ポイント（尖
端）に向かって先細になっており、鼻部分４４から伸び
る。ボア４６及び４８の直径は、０．０１９インチ
（０．４８３ｍｍ）のレンジであり、その長さは、０．
０６０インチ（１．５２４ｍｍ）のレンジである。ボア
４６及び４８の中心から中心の間隔、即ち、これらボア
の間の幾何学的ピッチは、０．１００インチ（２．５４
ｍｍ）のレンジである。プローブ・チップ５０及び５２
の直径は、約０．０１８インチ（０．４５７ｍｍ）であ
り、その全長は、０．２０４インチ（５．１８２ｍｍ）
のレンジであり、鼻部分４４の端部からプロービング・
チップが０．１０７インチ（２．７１８ｍｍ）のレンジ
で伸びている。リブ５６及び溝５８は、プローブ・チッ
プ５０及び５２の各々の周囲の鼻部分４４に形成され、
プロービング・チップと垂直に外側に放射状になってい
る。好適実施例において、リブ及び溝の放射状の長さ
は、０．０１１インチ（０．２７０ｍｍ）から０．０１
３インチ（０．３３０ｍｍ）のレンジである。リブ５６
の頂部及び溝５８の底部の間の高さの差は、選択した位
置で、可変間隔プローブ・チップ・アダプタ４０のオフ
セット・プロービング・チップ６０及び６２を拘束する
のに充分な値である。
ローブ・チップ・アダプタ４０の斜視図である。可変間
隔プローブ・チップ・アダプタ４０は、差動測定プロー
ブの測定プローブ・ヘッド４２を含んでおり、その鼻部
分４４には平行なボア４６及び４８が形成されて、第１
及び第２プローブ・チップ５０及び５２を受ける。プロ
ーブ・チップ５０及び５２の各々の一端は、プローブ・
ヘッド４２内に配置された基板５４を受ける。プローブ
・チップ５０及び５２の各々の他端は、ポイント（尖
端）に向かって先細になっており、鼻部分４４から伸び
る。ボア４６及び４８の直径は、０．０１９インチ
（０．４８３ｍｍ）のレンジであり、その長さは、０．
０６０インチ（１．５２４ｍｍ）のレンジである。ボア
４６及び４８の中心から中心の間隔、即ち、これらボア
の間の幾何学的ピッチは、０．１００インチ（２．５４
ｍｍ）のレンジである。プローブ・チップ５０及び５２
の直径は、約０．０１８インチ（０．４５７ｍｍ）であ
り、その全長は、０．２０４インチ（５．１８２ｍｍ）
のレンジであり、鼻部分４４の端部からプロービング・
チップが０．１０７インチ（２．７１８ｍｍ）のレンジ
で伸びている。リブ５６及び溝５８は、プローブ・チッ
プ５０及び５２の各々の周囲の鼻部分４４に形成され、
プロービング・チップと垂直に外側に放射状になってい
る。好適実施例において、リブ及び溝の放射状の長さ
は、０．０１１インチ（０．２７０ｍｍ）から０．０１
３インチ（０．３３０ｍｍ）のレンジである。リブ５６
の頂部及び溝５８の底部の間の高さの差は、選択した位
置で、可変間隔プローブ・チップ・アダプタ４０のオフ
セット・プロービング・チップ６０及び６２を拘束する
のに充分な値である。
【００１０】図２は、本発明の可変間隔プローブ・チッ
プ・アダプタ４０のオフセット・プロービング・チップ
６０及び６２の一方の斜視図である。オフセット・プロ
ービング・チップ６０及び６２は、導電性シャフト６４
で形成され、その一端６８にはボア６６が形成される。
このボア６６は、差動測定プローブのプローブ・チップ
５０及び５２の一方とかみ合う。シャフト６８のボア側
の端部の直径は、リブ７０及び溝７２を形成するのに充
分な大きさであり、これらリブ及び溝は、ボア６６と垂
直に外側に放射状となる。リブ７０の頂部と、溝７２の
底部との高さの差は、好ましくは、リブ５６及び溝５８
の間の高さの差と同じであり、オフセット・プロービン
グ・チップ６０及び６２を選択位置に拘束する。導電性
シャフト６４の他端７４は、尖端７６に向かって先細に
なっている。シャフト６４の遷移部分７８は、シャフト
６４の先細尖端７６をシャフト６８のボア側の端部から
オフセットする。このオフセットは充分であり、オフセ
ット・プロービング・チップ６０及び６２の尖端７６が
回転して、プロービング・チップの間隔を種々の値とし
て、集積回路リードの種々のリード間隔、即ち、幾何学
的ピッチに一致する。かかる幾何学的ピッチには、０．
０２５インチ（０．６３５ｍｍ）、０．０５０インチ
（１．２７ｍｍ）、０．１００インチ（２．５４ｍｍ）
などがある。
プ・アダプタ４０のオフセット・プロービング・チップ
６０及び６２の一方の斜視図である。オフセット・プロ
ービング・チップ６０及び６２は、導電性シャフト６４
で形成され、その一端６８にはボア６６が形成される。
このボア６６は、差動測定プローブのプローブ・チップ
５０及び５２の一方とかみ合う。シャフト６８のボア側
の端部の直径は、リブ７０及び溝７２を形成するのに充
分な大きさであり、これらリブ及び溝は、ボア６６と垂
直に外側に放射状となる。リブ７０の頂部と、溝７２の
底部との高さの差は、好ましくは、リブ５６及び溝５８
の間の高さの差と同じであり、オフセット・プロービン
グ・チップ６０及び６２を選択位置に拘束する。導電性
シャフト６４の他端７４は、尖端７６に向かって先細に
なっている。シャフト６４の遷移部分７８は、シャフト
６４の先細尖端７６をシャフト６８のボア側の端部から
オフセットする。このオフセットは充分であり、オフセ
ット・プロービング・チップ６０及び６２の尖端７６が
回転して、プロービング・チップの間隔を種々の値とし
て、集積回路リードの種々のリード間隔、即ち、幾何学
的ピッチに一致する。かかる幾何学的ピッチには、０．
０２５インチ（０．６３５ｍｍ）、０．０５０インチ
（１．２７ｍｍ）、０．１００インチ（２．５４ｍｍ）
などがある。
【００１１】導電性シャフト６４は、好ましくは、ベリ
リウム銅、真鍮、又は類似の導電性材料から機械加工さ
れる。ボア６６は、ブランク（素材）の一端に機械加工
により形成する。好ましくは、ボアは６６は、プローブ
・チップ５０及び５２と一致するように形成される。ブ
ランクの他端は、研削盤などの旋盤や類似の機械装置を
用いて機械加工して、先細のプロービング・ポイント７
６を形成する。準備した導電性シャフト・ブランクを加
熱処理し、スルファメート・ニッケルの鍍金層の上を金
鍍金する。ブランク用に用いた材料の形式に応じて、熱
処理が不要になる。例えば、ブランクを真鍮で形成して
もよい。これは、充分な硬度を有するが、熱処理からの
利点がない。一方、ブランクは、ベリリウム銅から形成
されるが、硬度を増すために熱処理が必要である。
リウム銅、真鍮、又は類似の導電性材料から機械加工さ
れる。ボア６６は、ブランク（素材）の一端に機械加工
により形成する。好ましくは、ボアは６６は、プローブ
・チップ５０及び５２と一致するように形成される。ブ
ランクの他端は、研削盤などの旋盤や類似の機械装置を
用いて機械加工して、先細のプロービング・ポイント７
６を形成する。準備した導電性シャフト・ブランクを加
熱処理し、スルファメート・ニッケルの鍍金層の上を金
鍍金する。ブランク用に用いた材料の形式に応じて、熱
処理が不要になる。例えば、ブランクを真鍮で形成して
もよい。これは、充分な硬度を有するが、熱処理からの
利点がない。一方、ブランクは、ベリリウム銅から形成
されるが、硬度を増すために熱処理が必要である。
【００１２】導電性シャフト６４のボア６６における全
体の直径は、０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）から
０．０４５インチ（１．１４３ｍｍ）のレンジであり、
ボア６６の開口における直径は、約０．０１８インチ
（０．４５７ｍｍ）であり、鼻部分４４のインタフェー
スにおけるプローブ・チップ５０及び５２の直径に一致
する。リブ７０及び溝７２の放射状の長さは、０．０１
１インチ（０．２７９ｍｍ）から０．０１３インチ
（０．３３４ｍｍ）のレンジである。ボア６６の全長
は、０．１１０インチ（２．７９４ｍｍ）のレンジであ
る。オフセット・プロービング・チップ６０及び６２
は、ボア６６内でのプローブ・チップ５０及び５２の摩
擦適合によって、プローブ・チップ５０及び５２に保持
される。オフセット・プロービング・チップ６０及び６
２の全長は、０．３００インチ（７．７２ｍｍ）から
０．３５０インチ（８．８９ｍｍ）のレンジである。
体の直径は、０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）から
０．０４５インチ（１．１４３ｍｍ）のレンジであり、
ボア６６の開口における直径は、約０．０１８インチ
（０．４５７ｍｍ）であり、鼻部分４４のインタフェー
スにおけるプローブ・チップ５０及び５２の直径に一致
する。リブ７０及び溝７２の放射状の長さは、０．０１
１インチ（０．２７９ｍｍ）から０．０１３インチ
（０．３３４ｍｍ）のレンジである。ボア６６の全長
は、０．１１０インチ（２．７９４ｍｍ）のレンジであ
る。オフセット・プロービング・チップ６０及び６２
は、ボア６６内でのプローブ・チップ５０及び５２の摩
擦適合によって、プローブ・チップ５０及び５２に保持
される。オフセット・プロービング・チップ６０及び６
２の全長は、０．３００インチ（７．７２ｍｍ）から
０．３５０インチ（８．８９ｍｍ）のレンジである。
【００１３】図３は、プロービング・チップ・ホルダ８
０を用いて、オフセット・プロービング・チップ６０及
び６２を一体に結合した場合の斜視図である。このプロ
ービング・チップ・ホルダ８０は、アクリルニトリル・
ブタジエン・スチレン（ＡＢＳ）プラスチックなどの非
導電性材料から形成される。プローブ・チップ・ホルダ
８０には、第１ボア８２及び第２ボア８４が形成され、
これらボアの中心から中心の間隔は、差動サプレッショ
ンのプローブ・チップ５０及び５２の中心から中心の間
隔に一致する。オフセット・プロービング・チップ６０
及び６２のボア側の端部６８を、オフセット・プロービ
ング・チップ６０及び６２の遷移部分７８の上にて、ボ
ア８２及び８４に挿入する。外側に伸びたリブをシャフ
ト６４に形成して、ボア８２及び８４の内側とかみ合わ
せて、プロービング・チップ６０及び６２をホルダ８０
内に固定する。オフセット・プロービング・チップ６０
及び６２をプローブ・チップ５０及び５２上に位置決め
して、オフセット・プローブ・チップ６０及び６２のリ
ブ７０を測定プローブ・ヘッド４２の鼻部分４４内の溝
５８と入れ子（ネスティング）状態にする。同様に、鼻
部４４のリブ５６は、オフセット・プローブ・チップ６
０及び６２内の溝７２と入れ子状態にする。オフセット
・プローブ・チップ６０及び６２は、プローブ・チップ
５０及び５２の周囲で回転可能であり、リブ５６、７０
及び溝５８、７２がオフセット・プロービング・チップ
６０及び６２を種々の回転位置に拘束する。
０を用いて、オフセット・プロービング・チップ６０及
び６２を一体に結合した場合の斜視図である。このプロ
ービング・チップ・ホルダ８０は、アクリルニトリル・
ブタジエン・スチレン（ＡＢＳ）プラスチックなどの非
導電性材料から形成される。プローブ・チップ・ホルダ
８０には、第１ボア８２及び第２ボア８４が形成され、
これらボアの中心から中心の間隔は、差動サプレッショ
ンのプローブ・チップ５０及び５２の中心から中心の間
隔に一致する。オフセット・プロービング・チップ６０
及び６２のボア側の端部６８を、オフセット・プロービ
ング・チップ６０及び６２の遷移部分７８の上にて、ボ
ア８２及び８４に挿入する。外側に伸びたリブをシャフ
ト６４に形成して、ボア８２及び８４の内側とかみ合わ
せて、プロービング・チップ６０及び６２をホルダ８０
内に固定する。オフセット・プロービング・チップ６０
及び６２をプローブ・チップ５０及び５２上に位置決め
して、オフセット・プローブ・チップ６０及び６２のリ
ブ７０を測定プローブ・ヘッド４２の鼻部分４４内の溝
５８と入れ子（ネスティング）状態にする。同様に、鼻
部４４のリブ５６は、オフセット・プローブ・チップ６
０及び６２内の溝７２と入れ子状態にする。オフセット
・プローブ・チップ６０及び６２は、プローブ・チップ
５０及び５２の周囲で回転可能であり、リブ５６、７０
及び溝５８、７２がオフセット・プロービング・チップ
６０及び６２を種々の回転位置に拘束する。
【００１４】オフセット・プロービング・チップ・ホル
ダ８０の長さは、０．３００インチ（７．６２ｍｍ）の
レンジであり、その幅は、０．１９０インチ（４．８２
６ｍｍ）のレンジであり、その高さは、０．１５０イン
チ（３．８１ｍｍ）である。ボア８２及び８４の直径
は、０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）から０．０４
５インチ（１．１４３ｍｍ）のレンジである。
ダ８０の長さは、０．３００インチ（７．６２ｍｍ）の
レンジであり、その幅は、０．１９０インチ（４．８２
６ｍｍ）のレンジであり、その高さは、０．１５０イン
チ（３．８１ｍｍ）である。ボア８２及び８４の直径
は、０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）から０．０４
５インチ（１．１４３ｍｍ）のレンジである。
【００１５】図４は、本発明による可変間隔プローブ・
チップ・アダプタの別のオフセット・プロービング・チ
ップ９０を示す斜視図である。ある角度で折れ曲がった
オフセット・プロービング・チップ９０は、導電性シャ
フト９２から形成され、一端９６にボア９４を有する。
このボア９４は、差動測定プローブのプローブ・チップ
５０又は５２とかみ合う。ボア９４の直径は、上述のオ
フセット・プロービング・チップ６０及び６２のボアと
同じである。オフセット・プロービング・チップ６０及
び６２と同様の方法で、放射状のリブ９８及び溝１００
をボア９４の周囲に形成する。シャフト９２の他端１０
２を機械加工して、シャフト１０６を有するプロービン
グ・チップ１０４を作る。このシャフト１０６の直径
は、０．０１８インチ（０．４５７ｍｍ）のレンジであ
る。好適実施例において、シャフト９２の中心線からプ
ロービング・チップ１０４の偏り距離を寸法長１０８で
示すが、約０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）であ
る。ある角度で折り曲がったプロービング・チップ９０
の全長は、０．２３５インチ（５．９６９ｍｍ）のレン
ジである。この折れ曲がったオフセット・プロービング
・チップは、必要に応じて熱処理され、上述と同様に鍍
金される。
チップ・アダプタの別のオフセット・プロービング・チ
ップ９０を示す斜視図である。ある角度で折れ曲がった
オフセット・プロービング・チップ９０は、導電性シャ
フト９２から形成され、一端９６にボア９４を有する。
このボア９４は、差動測定プローブのプローブ・チップ
５０又は５２とかみ合う。ボア９４の直径は、上述のオ
フセット・プロービング・チップ６０及び６２のボアと
同じである。オフセット・プロービング・チップ６０及
び６２と同様の方法で、放射状のリブ９８及び溝１００
をボア９４の周囲に形成する。シャフト９２の他端１０
２を機械加工して、シャフト１０６を有するプロービン
グ・チップ１０４を作る。このシャフト１０６の直径
は、０．０１８インチ（０．４５７ｍｍ）のレンジであ
る。好適実施例において、シャフト９２の中心線からプ
ロービング・チップ１０４の偏り距離を寸法長１０８で
示すが、約０．０４０インチ（１．０１６ｍｍ）であ
る。ある角度で折り曲がったプロービング・チップ９０
の全長は、０．２３５インチ（５．９６９ｍｍ）のレン
ジである。この折れ曲がったオフセット・プロービング
・チップは、必要に応じて熱処理され、上述と同様に鍍
金される。
【００１６】上述の如く、可変間隔プローブ・チップ・
アダプタは、測定プローブ・ヘッドのプロービング・チ
ップとかみ合うオフセット・プロービング・チップを有
する。各オフセット・プロービング・チップの一端には
ボアが形成され、プロービング・チップと摩擦係合する
大きさとなる。測定プローブ・ヘッド及びオフセット・
プロービング・チップの両方は、プローブの頂部及びボ
アの夫々の周囲に形成された放射状のリブ及び溝を有す
る。オフセット・プロービング・チップは、種々のプロ
ーブ・チップ間隔に対してプロービング・チップの周囲
で回転可能であり、プローブ・ヘッド及びオフセット・
プロービング・チップのリブ及び溝が互いに入れ子とな
り、オフセット・プロービング・チップを夫々の間隔で
拘束する。非導電性プローブ・チップ・ホルダを用い
て、オフセット・プロービング・チップは、互いに一体
となる。可変間隔プローブ・チップ・アダプタは、折れ
曲がったオフセット・プロービング・チップを用いる構
成にしてもよい。
アダプタは、測定プローブ・ヘッドのプロービング・チ
ップとかみ合うオフセット・プロービング・チップを有
する。各オフセット・プロービング・チップの一端には
ボアが形成され、プロービング・チップと摩擦係合する
大きさとなる。測定プローブ・ヘッド及びオフセット・
プロービング・チップの両方は、プローブの頂部及びボ
アの夫々の周囲に形成された放射状のリブ及び溝を有す
る。オフセット・プロービング・チップは、種々のプロ
ーブ・チップ間隔に対してプロービング・チップの周囲
で回転可能であり、プローブ・ヘッド及びオフセット・
プロービング・チップのリブ及び溝が互いに入れ子とな
り、オフセット・プロービング・チップを夫々の間隔で
拘束する。非導電性プローブ・チップ・ホルダを用い
て、オフセット・プロービング・チップは、互いに一体
となる。可変間隔プローブ・チップ・アダプタは、折れ
曲がったオフセット・プロービング・チップを用いる構
成にしてもよい。
【００１７】本発明の要旨を逸脱することなく、本発明
の上述の実施例の細部において種々の変形変更が可能な
ことが当業者には理解できよう。
の上述の実施例の細部において種々の変形変更が可能な
ことが当業者には理解できよう。
【００１８】
【発明の効果】上述の如く、本発明の差動測定プローブ
用可変間隔プローブ・チップ・アダプタによれば、小さ
なサイズのプロービング・チップを有する低容量測定プ
ローブと両立性があり、種々の集積回路リードの幾何学
的ピッチに適用可能であり、プローブ・チップの容量及
びインダクタンスを小さくできる。
用可変間隔プローブ・チップ・アダプタによれば、小さ
なサイズのプロービング・チップを有する低容量測定プ
ローブと両立性があり、種々の集積回路リードの幾何学
的ピッチに適用可能であり、プローブ・チップの容量及
びインダクタンスを小さくできる。
【図１】本発明による可変間隔プローブ・チップ・アダ
プタの斜視図である。
プタの斜視図である。
【図２】本発明による可変間隔プローブ・チップ・アダ
プタに用い、リブ及び溝を有するオフセット・プロービ
ング・チップの斜視図である。
プタに用い、リブ及び溝を有するオフセット・プロービ
ング・チップの斜視図である。
【図３】本発明による可変間隔プローブ・チップ・アダ
プタに用い、一体にされたオフセット・プロービング・
チップの斜視図である。
プタに用い、一体にされたオフセット・プロービング・
チップの斜視図である。
【図４】本発明による可変間隔プローブ・チップ・アダ
プタ用の折れ曲がったオフセット・プロービング・チッ
プの斜視図である。
プタ用の折れ曲がったオフセット・プロービング・チッ
プの斜視図である。
【図５】ソケット型プローブ・チップ及び可変間隔プロ
ーブ・チップ・アダプタを有する従来の差動測定プロー
ブの斜視図である。
ーブ・チップ・アダプタを有する従来の差動測定プロー
ブの斜視図である。
１０ 差動測定プローブ
１２ 測定プローブ・ヘッド
１４、１６ ソケット型プローブ・チップ
１７ デュアル・プロービング・チップ可変間隔アダプ
タ １８、２０ プロービング・チップ ２４ 第１直線部分 ３２ スペーサ ４０ 可変間隔プローブ・チップ・アダプタ ４２ 測定プローブ・ヘッド ４４ 鼻部 ４６、４８ ボア ５０、５２ プローブ・チップ ５４ 基板 ５６、７０ リブ ５８、７２ 溝 ６０、６２ オフセット・プロービング・チップ ６４ 導電性シャフト ６６ ボア ６８、７４ 端部 ７６ プロービング・ポイント ７８ 遷移部分 ８０ オフセット・プロービング・チップ・ホルダ ８２、８４ ボア ９０ 折り曲がったプロービング・チップ ９２ シャフト ９４ ボア ９６、１０２ 端部 ９８ リブ １００ 溝 １０４ プロービング・チップ １０６ シャフト １０８ 寸法長
タ １８、２０ プロービング・チップ ２４ 第１直線部分 ３２ スペーサ ４０ 可変間隔プローブ・チップ・アダプタ ４２ 測定プローブ・ヘッド ４４ 鼻部 ４６、４８ ボア ５０、５２ プローブ・チップ ５４ 基板 ５６、７０ リブ ５８、７２ 溝 ６０、６２ オフセット・プロービング・チップ ６４ 導電性シャフト ６６ ボア ６８、７４ 端部 ７６ プロービング・ポイント ７８ 遷移部分 ８０ オフセット・プロービング・チップ・ホルダ ８２、８４ ボア ９０ 折り曲がったプロービング・チップ ９２ シャフト ９４ ボア ９６、１０２ 端部 ９８ リブ １００ 溝 １０４ プロービング・チップ １０６ シャフト １０８ 寸法長
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 アール・ケネス・プライス
アメリカ合衆国 オレゴン州 97224
タイガード サウス・ウェスト ネー
ブ・ストリート 10684
(72)発明者 ウイリアム・キュー・ロー
アメリカ合衆国 オレゴン州 97007
ビーバートン サウス・ウェスト トゥ
ーハンドレッドアンドフォース・プレイ
ス 6465
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 1/06 - 1/073
G01R 13/20
G01R 13/28
Claims (2)
- 【請求項１】 一端から伸びた第１及び第２プローブ・
チップを有し、該第１及び第２プローブ・チップの各々
から放射状に伸びたリブ及び溝が形成された測定プロー
ブ・ヘッドと、 導電性シャフトを夫々有する第１及び第２オフセット・
プロービング・チップとを具え、 該第１及び第２オフセット・プロービング・チップの各
々の上記導電性シャフトの一端にボアが形成されると共
に、その他端がプロービング・ポイントに向かって先細
になり、この先細になった端部に向かう上記導電性シャ
フトの一部分がオフセットされ、上記導電性シャフトの
上記一端の表面が上記ボアと垂直になり、上記表面にリ
ブ及び溝が形成され、上記表面のリブ及び溝が上記ボア
から放射状に伸びて上記測定プローブ・ヘッドの対応す
る溝及びリブと入れ子状になり、上記測定プローブ・ヘ
ッドの上記第１及び第２プローブ・チップの各々が上記
第１及び第２オフセット・プロービング・チップの各々
のボアに夫々挿入され、上記第１及び第２オフセット・
プロービング・チップが上記測定プローブ・ヘッドの上
記第１及び第２プローブ・チップに対して回転可能であ
り、上記測定プローブ・ヘッド並びに上記第１及び第２
オフセット・プロービング・チップの上記リブ及び上記
溝のかみ合わせにより上記第１及び第２オフセット・プ
ロービング・チップの位置が拘束されることを特徴とす
る差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チップ・アダ
プタ。 - 【請求項２】 上記第１及び第２オフセット・プロービ
ング・チップを受ける第１及び第２ボアが形成されたプ
ロービング・チップ・ホルダを更に具えたこと特徴とす
る請求項１の差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チ
ップ・アダプタ。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US22671900P | 2000-08-21 | 2000-08-21 | |
| US09/715,375 | 2000-11-16 | ||
| US60/226,719 | 2000-11-16 | ||
| US09/715,375 US6404215B1 (en) | 2000-08-21 | 2000-11-16 | Variable spacing probe tip adapter for a measurement probe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002116222A JP2002116222A (ja) | 2002-04-19 |
| JP3535484B2 true JP3535484B2 (ja) | 2004-06-07 |
Family
ID=26920816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001249316A Expired - Fee Related JP3535484B2 (ja) | 2000-08-21 | 2001-08-20 | 差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チップ・アダプタ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6404215B1 (ja) |
| JP (1) | JP3535484B2 (ja) |
| CN (1) | CN1243984C (ja) |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6828768B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-12-07 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for wideband differential probing of variably spaced probe points |
| US6831452B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-12-14 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for wideband single-end probing of variabily spaced probe points |
| US20040207417A1 (en) * | 2003-04-16 | 2004-10-21 | Barr Andrew Harvey | Electronic probe with positionable tip |
| US20050083071A1 (en) * | 2003-10-16 | 2005-04-21 | Fred Hartnett | Electronic circuit assembly test apparatus |
| US7221179B1 (en) * | 2003-12-18 | 2007-05-22 | Lecroy Corporation | Bendable conductive connector |
| US7161344B2 (en) * | 2004-04-20 | 2007-01-09 | International Business Machines Corporation | Method and structure for variable pitch microwave probe assembly |
| US6967473B1 (en) | 2004-05-27 | 2005-11-22 | Tektronix, Inc. | Attachable/detachable variable spacing probing tip system |
| US7212018B2 (en) * | 2004-10-21 | 2007-05-01 | Lecroy Corporation | Dual tip probe |
| US7161366B2 (en) * | 2004-11-12 | 2007-01-09 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for probe tip contact |
| DE102005047483A1 (de) * | 2005-10-04 | 2007-04-05 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Tastkopf mit Wechseleinrichtung |
| US9140724B1 (en) | 2006-01-06 | 2015-09-22 | Lecroy Corporation | Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
| US9404940B1 (en) | 2006-01-06 | 2016-08-02 | Teledyne Lecroy, Inc. | Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
| US7671613B1 (en) | 2006-01-06 | 2010-03-02 | Lecroy Corporation | Probing blade conductive connector for use with an electrical test probe |
| US7741835B2 (en) * | 2007-12-10 | 2010-06-22 | Brymen Technology Corporation | Electric meter having a detachable measuring bar |
| JP2010117209A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-05-27 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | プローブピン |
| CN101907644B (zh) * | 2009-06-04 | 2013-11-06 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 电子探棒控制系统 |
| US8860449B2 (en) | 2011-06-10 | 2014-10-14 | Tektronix, Inc. | Dual probing tip system |
| JP5707270B2 (ja) * | 2011-08-02 | 2015-04-22 | 日置電機株式会社 | コンセント測定プローブ及び電圧測定器 |
| DE102012205352B4 (de) * | 2012-02-24 | 2022-12-08 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Adapter für einen Tastkopf zur Messung eines differenziellen Signals |
| US8826754B2 (en) * | 2012-08-24 | 2014-09-09 | Tektronix, Inc. | Modular probe assembly having force protection and articulation |
| US9261535B2 (en) * | 2013-03-13 | 2016-02-16 | SanDisk Technologies, Inc. | Active probe adaptor |
| US11187723B2 (en) * | 2016-10-31 | 2021-11-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Differential test probe |
| CN107870253A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-04-03 | 昆山康信达光电有限公司 | 一种偏心结构电压探针 |
| US20210263073A1 (en) * | 2020-02-26 | 2021-08-26 | Raytheon Company | Test Probe Adapter |
| CN114371350A (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-19 | 普源精电科技股份有限公司 | 差分探头及其控制方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4209742A (en) * | 1976-10-13 | 1980-06-24 | Tektronix, Inc. | Modular probe system |
| US4423373A (en) * | 1981-03-16 | 1983-12-27 | Lecroy Research Systems Corporation | Test probe |
| US4721903A (en) * | 1985-02-27 | 1988-01-26 | The Boeing Company | Probe and method for electrically contacting surfaces with protective coatings |
| US5488313A (en) * | 1993-07-16 | 1996-01-30 | Litton Systems, Inc. | Test probe and circuit board arrangement for the circuit under test for microstrip circuitry |
| US6023171A (en) * | 1997-08-13 | 2000-02-08 | International Business Machines Corporation | Dual-contact probe tip for flying probe tester |
-
2000
- 2000-11-16 US US09/715,375 patent/US6404215B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-08-20 JP JP2001249316A patent/JP3535484B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-21 CN CNB011209917A patent/CN1243984C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6404215B1 (en) | 2002-06-11 |
| CN1340715A (zh) | 2002-03-20 |
| JP2002116222A (ja) | 2002-04-19 |
| CN1243984C (zh) | 2006-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3535484B2 (ja) | 差動測定プローブ用可変間隔プローブ・チップ・アダプタ | |
| US6603297B1 (en) | Probe tip adapter for a measurement probe | |
| US6400167B1 (en) | Probe tip adapter for a measurement probe | |
| JP5037609B2 (ja) | マルチ・チャネル信号取込みプローブ | |
| US6118287A (en) | Probe tip structure | |
| JP3252323B2 (ja) | インターフェースを有するミクロ構造の試験ヘッド | |
| US7140105B2 (en) | Method of fabricating a notched electrical test probe tip | |
| US5942906A (en) | Interface system utilizing engagement mechanism | |
| JPS58144215U (ja) | 変位計の静電容量プロ−プ | |
| JPH11281675A (ja) | 信号測定用プローブ | |
| JP2001066324A (ja) | 容易に変更可能な貫通形終端器を提供するプローブ先端終端装置 | |
| JP2006329993A (ja) | 差動測定プローブ | |
| JPH02189874A (ja) | 接続装置 | |
| US7231704B2 (en) | Contact spring and socket combination for high bandwidth probe tips | |
| US20050264276A1 (en) | Attachable/detachable variable spacing probing tip system | |
| JP2008513939A (ja) | 同軸接続エレメント | |
| US6717398B2 (en) | Signal launch connecting techniques | |
| EP1326078B1 (en) | Testing fixture | |
| WO2002010780A1 (en) | Electrical test probe wedge tip | |
| US6552523B2 (en) | Combination low capacitance probe tip and socket for a measurement probe | |
| US9140724B1 (en) | Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes | |
| US20090206823A1 (en) | Multi-meter test lead probe for hands-free voltage measurement of control panel industrial terminal blocks | |
| JP3164542B2 (ja) | プローブ及びそれを用いたプローブカード | |
| WO2001086312A1 (en) | Wide-bandwidth coaxial probe | |
| CN217720105U (zh) | 一种插头固定结构、插头及充电器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031212 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040302 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040311 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3535484 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080319 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090319 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100319 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100319 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110319 Year of fee payment: 7 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120319 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 9 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319 Year of fee payment: 10 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |