JP3534379B2 - 振幅制御発振器 - Google Patents

振幅制御発振器

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JP3534379B2 JP24645297A JP24645297A JP3534379B2 JP 3534379 B2 JP3534379 B2 JP 3534379B2 JP 24645297 A JP24645297 A JP 24645297A JP 24645297 A JP24645297 A JP 24645297A JP 3534379 B2 JP3534379 B2 JP 3534379B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発振器の振幅依存
の温度係数や非線形を除去する高精度な振幅制御発振器
に関するもので、本発明の振幅制御発振器は通常の位相
同期ループ(PLL)回路の電圧及び電流制御発振器とし
て、さらにはマイクロプロセッサに内蔵集積化されるク
ロック発生用、及びHDDや超音波モータなどに用いら
れる周波数トラッキング用のPLL応用に好適な技術で
ある。
【0002】
【従来の技術】振幅制御発振器の従来例としては、温度
補償形のエミッタ結合形マルチバイブレータの例が、エ
イ ビー グレベン著“バイポーラ アンド モス ア
ナログインテグレーテッド サーキット デザイン”
(1984年),第575頁から第577頁,ジョン
ウィリィ アンド サンズ(A.B.GREBENE,BIPOLAR ANDM
OS ANALOG INTEGRATED CIRCUIT DESIGN,(1984),
pp.575−577,John Wiley & Sans Inc.)の書籍
に記載されている。通常の発振器の発振周波数fvは、
コレクタ側のクランプダイオードの降下電圧(クランプ
電圧と云う)をVBE、タイミングキャパシタをC、制御
電流をIvとすると、fvはfv=Iv/4・C・VBE
で表される。この式によると、ダイオードのVBEには負
の大きなの温度係数(−3000〜−4000ppm/℃)
があるため、fvはその温度変動を受ける。この温度変
動を除去するためには、従来例では発振器の下段に直列
にコントロール及び温度補償段を設けて、下段の温度補
償電流を発振器のコレクタ側VBEと同じ電流密度で補償
することにより、前述の式のIvがVBEの関数で表され
るので、温度補償が可能となる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来例は温度補償
のための補償回路が発振器に直列に入いるので、直列段
数が増し、この発振器は低電圧化に向かない。また、温
度補償をしているにも拘らずVBE自身は電流にも依存す
るため発振器のコレクタ側のクランプ電圧は一定振幅電
圧にならない。これが原因で発振器の入出力特性は制御
電流の高電流域で飽和特性になりやすく、非直線になる
という問題があった。
【0004】本発明の目的は、振幅制御発振器の振幅依
存の温度係数や非線形を除去し、低電圧動作に向いた高
精度の振幅制御発振器を提供するにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、出力信号の
振幅を制御する制御端子を有する1対の第1のクランプ
素子と定電流回路とを少なくとも有する発振回路と、こ
の発振回路と並列に接続され、制御端子を有する第2の
クランプ素子と第2の定電流回路とを有するレプリカ回
路と、第1のクランプ素子によるクランプ電圧を予め定
めた電圧とするために、第2のクランプ素子のクランプ
電圧と予め定めた基準電圧に基づいて、第1のクランプ
素子及び上記第2のクランプ素子の制御端子への制御信
号を出力する制御回路とを有することにより達成するこ
とができる。
【0006】この構成によれば、第2のクランプ素子の
クランプ電圧と基準電圧を等しくするように制御回路で
負帰還制御することにより、1対のクランプ素子のクラ
ンプ電圧を基準電圧に等しくすることになる。基準電圧
は発振器の外で作り出しているので、1対のクランプ素
子に依存する温度係数や動作電流による振幅変動がな
く、直流の一定値に設定でき、1対のクランプ素子のク
ランプ電圧も一定値となる。したがって、振幅制御発振
器の1対のクランプ素子によって得られる出力の振幅は
高精度(一定値)にできる。
【0007】また、本発明の振幅制御発振器は発振器と
並列にレプリカ回路を設けているので、直列段数の増加
はなく、高精度動作の発振器で低電圧動作に適する。
【0008】
【発明の実施の形態】図1に本発明の一実施例である振
幅制御発振器の回路を示す。図1において、10は発振
器、20はレプリカ回路であり、1は制御入力端子、
2,3は可変発振器の出力端子、Vref は外部の基準電
圧、AMPは差動増幅器、Vccは電源端子、GNDは接
地電位である。発振器10は、エミッタ結合形マルチバ
イブレータとして知られており、その構成は、交互に接
続された1対のスイッチングトランジスタQ1とQ2、
そのコレクタにつながるプルアップ抵抗R1とR2、1
対のクランプ素子となるトランジスタQ3とQ4、定電
流回路を構成するトランジスタQ5とQ6、積分用のタ
イミングキャパシタC、二相の出力パルスを出力する出
力端子2,3とスイッチングトランジスタQ1,Q2の
ベースを駆動するエミッタフォロワとして動作するトラ
ンジスタQ9とQ10、及びそのバイアス電流を設定す
るバイアス電流源IB1とIB2で構成される。
【0009】レプリカ回路20は、トランジスタQ8と
第2のクランプ素子となるトランジスタQ11の直列回
路で構成される。トランジスタQ11は発振器10側の
トランジスタQ3,Q4と同じ電流密度に設定し、トラ
ンジスタQ8は発振器10側の定電流回路のトランジス
タQ5,Q6とカレントミラーでリンクしている。トラ
ンジスタQ11のベース(クランプ素子記述では制御端
子)はトランジスタQ3,Q4のベースと共通に接続さ
れる。さらに、これらのベースは差動増幅器AMPの出
力に接続される。差動増幅器AMPの二つの入力は、−
入力側はトランジスタQ11とQ8の中点Aに、+入力
側は基準電圧Vref に接続される。
【0010】以上のように構成された図1の回路の動作
は次のようになる。図1の回路において、発振器10の
電源端子Vccの電圧をVcc、トランジスタQ3又はQ4
のエミッタ電圧をVE,VccとVEの差電圧(クランプ
電圧)をVEP、トランジスタQ5,Q6の制御電流をI
v,タイミングキャパシタCの値をCとすると、発振周
波数fvはfv=Iv/4・C・VEPで表される。ここ
で、VEは発振周期の半サイクル期間中にトランジスタ
Q1がオン、Q2がオフの状態にあるとき、トランジス
タQ3に流れる2・Ivの電流によって発生するエミッ
タ電圧である。このとき、プルアップ抵抗R1に流れる
電流は無視する。トランジスタQ1がオフ、Q2がオン
のもう一つの半サイクルの期間にあるときは、トランジ
スタQ4側に発生するエミッタ電圧がVEとなる。
【0011】次に、クランプ電圧VEPを得るためのトラ
ンジスタQ3又はQ4のエミッタ電圧VEの検出方法と
VEの一定値設定方法について説明する。前述のように
トランジスタQ3又はQ4のエミッタ電圧VEは発振周
期の半サイクル毎に変化しているので、高周波動作でV
Eのレベルは直接とりだす(検出する)ことはできな
い。そこで、トランジスタQ3又はQ4と定電流回路の
トランジスタQ5,Q6に連動するバイアス設定のため
のトランジスタQ11とQ8の直列回路からなる直流の
制御電圧レプリカ回路を設ける。ここで、発振器側10
のトランジスタ対Q3又はQ4とレプリカ側20のQ1
1が同じ電流密度に設定したとすればレプリカ回路20
内のA点は発振器の出力クランプレベルと等しい値とし
て複製できる。したがって、A点は直流電圧の一定値に
すればよいので、検出,制御が容易になる。具体的に
は、トランジスタQ11のエミッタ電圧(この場合、レ
プリカ回路20のトランジスタQ11とQ8の中点Aの
電位)と基準電圧Vref を差動増幅器AMPでトランジ
スタQ11のベースを介して負帰還制御することによ
り、トランジスタQ11のエミッタ電圧は基準電圧Vre
f と等しくなる。先にも述べたように、トランジスタQ
11はトランジスタQ3(Q4)と同じ電流密度に設定
し、トランジスタQ11,Q3,Q4のベースを共通に
接続しているので、トランジスタQ11のエミッタ電圧
は、レプリカの関係にあるトランジスタQ3又はQ4の
エミッタ電圧に等しくなる。したがって、トランジスタ
Q3又はQ4のエミッタ電圧には一定値の基準電圧Vre
f を与えることができる。基準電圧Vref はトランジス
タのVBEに依存しないで作ることができるので、温度係
数や発振器の動作電流依存による電圧変動の影響は受け
ず、出力端子2,3に得られる発振器の出力振幅を一定
にできる。トランジスタQ3又はQ4とトランジスタQ
11を同じ電流密度に保つには、定電流回路のトランジ
スタQ5,Q6の電流IvとリンクしてトランジスタQ
8の電流を2・Iv/nに設定する。例えば、nを任意
の整数に選ぶとすると、トランジスタQ8のエミッタ面
積とトランジスタQ3,Q4のエミッタ面積の関係は1
/nに設計すればよい。この場合、レプリカ回路に流す
電流の値を小さくでき、発振器として低消費電力化が図
れる。トランジスタQ8の電流(2・Iv/n)の分子
が2・Ivとなるのは、発振器10の一つの定常状態に
おいて、トランジスタQ1がオン、Q2がオフのとき、
トランジスタQ3に2・Ivの電流が流れる条件であ
る。
【0012】図2は本発明の他の一実施例を示したブロ
ック図である。図2において、図1の構成と異なる点
は、発振器をバイポーラのエミッタ結合形マルチバイブ
レータからMOSの差動形リングカウンタに変更した点
である。DIF1〜DIFnがn段の差動形リングカウ
ンタ部、IB31〜IB3nは差動形リングカウンタD
IF1〜DIFnに対応した制御電流を設定する定電流
源、30は能動負荷出力振幅クランプ回路、トランジス
タQ40と定電流源IB30はレプリカ回路、AMPは
差動増幅器、Vref は基準電圧である。
【0013】図2は、差動形リングカウンタの各段の出
力クランプ素子と等しい電流密度のトランジスタQ40
と、同じく各段の制御電流源に等しい電流密度の定電流
源IB30との直列回路で各出力段の振幅電位と等しい
直流の電位点Aを作り、差動増幅器AMPの負帰還制御
により制御点Aを一定に、すなわち結果的にリングカウ
ンタの出力振幅を一定に制御する方法である。この回路
の詳細構成は図3に示す。
【0014】図3は図2のブロック図の詳細構成を示し
た図である。図3において、10は差動形リングカウン
タCCO(電流制御発振器)、20はDC制御電圧のレプ
リカ回路、AMPは差動増幅器、Vref は基準電圧発生
回路、40は制御昇圧回路である。差動形リングカウン
タのドレイン側には能動負荷Q61〜Q6n,Q71〜
Q7nと出力振幅クランプ用のソースフォロワQ31〜
Q3nが接続されており、トランジスタQ51〜Q5n
の制御電流は差動回路(Q11〜Q1n,Q21〜Q2n
で示した部分)の切換時には片側のトランジスタQ31
〜Q3nに流れて出力電圧振幅はクランプされる。した
がって、このクランプ電圧値を常に一定値に制御すれば
よい。
【0015】差動形リングカウンタCCO10では、単
位差動回路発振部の遅延時間をtd、リングカウンタの
段数をnvとすると、発振周波数fvはfv=1/2・
td・nv∝Iv/CL・VSPで表される。ここで、C
Lは負荷容量、VSPは電源端子Vccの電圧Vccとトラン
ジスタQ31〜Q3n又はQ41〜Q4nが導通時のソ
ース電圧VSとの間のクランプ電圧である。レプリカ回
路のA点は差動増幅器AMPを用いて基準電圧Vref に
等しくなるように制御されるので、A点、即ちVSには
抵抗R3とR4の分圧点で得られる基準電圧Vref が与
えられる。制御昇圧回路40は差動増幅器AMPに給電
するためのもので、Vcc+Vdの電圧(Vdはダイオー
ドD4の順方向降下電圧)を発生する。
【0016】次に、このVcc+Vdの電圧を得るための
制御昇圧回路40の動作を説明する。先ず、インバータ
Invの出力がGNDレベルにあるとき、コンデンサC1
の電位はダイオードD2を介してVccの電位まで充電さ
れる。次いで、インバータInvの出力がVccレベルにな
ったとき、コンデンサC1の電荷はダイオードD3を介
してコンデンサC2に充電される。コンデンサC2の充
電電圧はダイオードD4の順方向降下電圧Vdでクラン
プされる。したがって、上述したようにダイオードD3
のカソード側、即ち差動増幅器AMPの給電側にはVcc
+Vdなる電圧が得られる。以上の動作は、入力端子5
に昇圧用のクロック(例えば、このクロック周波数は発
振器の出力を適当に分周したクロックを用いる)が連続
パルスとして常時入ると、インバータInvの出力レベル
はGNDとVccの間を交互に繰返して、このVcc+Vd
なる電圧が一定に保持される。
【0017】差動増幅器の電源側に昇圧回路を設けて電
源電圧Vccよりも相対的に1ダイオード電圧降下分(V
d)高くしたのは、レプリカ回路のA点の電圧をVccに
対し0〜Vdの間で任意に振幅制御できるようにし、原
理上より高い発振を可能にするためである。このこと
は、先の関係式からfvが出力振幅VSPに反比例すると
見做せると、出力振幅VSPを小さく制御すると出力周波
数fvをより高周波化することが可能である。
【0018】この方式は、バイポーラのエミッタ結合形
マルチバイブレータのように動作が関係式と良く適合す
る場合には1対のクランプ素子の温度変化等も含めて制
御できる。しかし、MOSのリングオシレータでは非線
形性の原因が温度,動作電流だけと単純ではないので使
用デバイス特性と合わせた非線形性の原因を吟味する必
要がある。場合によっては一定値制御ではなく周波数の
関数で変える必要もありうる。
【0019】図4に図3の回路のシミュレーション結果
(昇圧回路なしの条件)を示す。リングカウンタの高周
波発振動作は数MHz〜数100MHzの範囲で試み
た。制御電流Ivの値を(a)〜(c)と大幅に変化さ
せても振幅制御発振器の出力振幅レベルは一定になって
いる。これは、クランプ素子のクランプ電圧が動作電流
に関係せず、基準電圧Vref に等しいことを示してい
る。
【0020】以上述べたように振幅制御発振器におい
て、第2のクランプ素子のクランプ電圧と基準電圧を等
しくするように差動増幅器で負帰還制御することによ
り、第2のクランプ素子と発振器側の1対のクランプ素
子はレプリカの関係にあるので、第2のクランプ素子の
クランプ電圧を制御するには、その結果として1対のク
ランプ素子のクランプ電圧を基準電圧に等しくすること
ができる。基準電圧は発振器の外で作り出しているの
で、1対のクランプ素子に依存する温度係数や動作電流
による振幅変動がなく、直流の一定値に設定でき、1対
のクランプ素子のクランプ電圧も一定値となる。したが
って、振幅制御発振器の1対のクランプ素子によって得
られる発振出力振幅は高精度(一定値)にできる効果が
ある。
【0021】また、本発明の振幅制御発振器は発振器と
並列にレプリカ回路を設けているので、直列段数の増加
はなく、高精度動作の発振器で低電圧動作に適するとい
う長所を有する。
【0022】以上述べた振幅制御発振器において、レプ
リカ回路20を発振器10の構成、即ち差動対の片方の
構成にすることにより、第2のクランプ素子の電流密度
をより精密に発振器10のクランプ素子の電流密度に合
わせることができるので、高精度にクランプ制御ができ
る利点がある。このことは、図1では抵抗R1又はR2
に相当する抵抗をトランジスタQ11に並列に接続する
こと、図3ではトランジスタQ61又はQ71に相当す
るトランジスタをトランジスタQ40に並列に接続する
ことにより実現できる。
【0023】以上述べた振幅制御発振器は、バイポーラ
とMOSの回路構成で説明したが、これ以外のプロセ
ス、例えばBiCMOSなどでも同様に実施できる。
【0024】図5は本発明の振幅制御発振器を適用した
位相同期ループ(PLL)回路の一実施例を示すブロッ
ク図である。通常のPLLとしては、位相比較器700
及びそのアップ(TU)ダウン(TD)で制御されるチ
ャージポンプ回路800及びその出力のフィルタコンデ
ンサCF,VCOブロック,フリップフロップ(FF)1
50,分周回路600により構成され、VCOブロック
の出力はフリップフロップ(FF)150を介し出力端
子21に出力周波数foのクロック信号を出力すると共
に2/Nの分周回路600を介し、位相比較器700の
入力端子25へ帰還される。ここで、VCOブロック
は、CFの端子電圧VFを入力し制御電流DI1を発生
するV/I変換回路900,アップ(TU)ダウン(T
D)パルス信号でダンピング信号電流DI2を発生する
T/I変換回路950,電流加算回路200,CCO100で
構成されている。更にPLLには、CCO100の中心周波数
の設定のために、位相比較器700のもう一つの入力端
子15に与える入力クロック信号finを入力とし、fin
に比例したCCO100の中心周波数に相当する制御電流Ic
を発生するF/I変換回路400がある。このIcはV
/I変換回路900とT/I変換回路950の制御信号
としても使われる。
【0025】このような構成において、F/I変換回路
400の応答は自動制御の応答の安定性の面からは通常
のPLLの応答速度と大幅に異なるように設計するのが
望ましく、この応用例では、F/I変換回路400の応
答はPLLの応答速度よりはるかに速くする設計になっ
ている。これにより、PLLの位相引込動作に先だって
CCO100の中心周波数は高速、かつ正確に確定され、通常
のPLL動作が可能になる。
【0026】図6に本発明の振幅制御発振器を用いたP
LLを適用したマイコンシステムを示す。このシステム
は発振器1000,クロック分配系1100,マイクロ
プロセッサ1200,メモリ1300,インターフェイ
ス回路1400,クロック同期バス1500,入出力機
器1601〜160nから構成されている。マイクロプ
ロセッサ1200,インターフェイス回路1400,入
出力機器1601〜160nは、それぞれ本発明の振幅
制御発振器を用いたPLL1210 ,1410,1611〜1
61nを有している。発振器1000により生成された
クロックは、クロック分配系により分配される。マイク
ロプロセッサ1210では分配されたクロック信号をPL
L1210 から入力し、PLLから出力されるクロック信号
により、論理部1220を制御する。論理部1220
は、インターフェイス回路1400を介して入力した信号に
ついて、所望の論理演算を施して、出力信号をインター
フェイス回路1400へ出力する。このマイクロプロセ
ッサ1200の論理部1220は、インバータ,2NA
NDのような基本ゲート,フリップフロップ,PLA,
ROM,RAMなどで構成されている。また、インター
フェイス回路1400は、クロック分配系1100によ
り分配されたクロックをPLL1410 を介して入力し、この
PLL1410 から出力されるクロックに基づいて、マイクロ
プロセッサ1200とバス1500との間で信号の伝送
を行う。入出力機器1601〜160nも同様にクロッ
ク分配系1100によって分配されたクロックをそれぞ
れPLL1611 〜161nを介して入力し、このPLL1611 〜
161nから出力されるクロックに基づいて外部から信
号の入出力を行う。
【0027】このように、本発明の振幅制御発振回路を
PLLに適用することにより、PLLを適用した装置内部
のクロックスキューを小さくすることができると共に、
マイクロプロセッサ1200,インターフェイス回路1
400,入出力機器1601〜160n間でクロックの
位相を合致させることができ、クロック同期によるデー
タ転送が短時間、かつ容易に行える。
【0028】図7に本発明の振幅制御発振器を用いたP
LLを適用したマイクロプロセッサの別の実施例を示
す。
【0029】このマイクロプロセッサ2000は、PLL2
001 ,論理部2003,インターフェイス回路2004
から構成されている。PLL2001 は外部の発振回路よりク
ロックを入力し、PLL2001 から出力されるクロックによ
り論理部2003,インターフェイス回路2004にク
ロックを制御する。尚、PLLの構成としては、論理部
2003,インターフェイス回路2004にクロックを
供給するために多相のクロックを出力するものであり、
図8に示すようにフリップフロップ150の後段に、多
相クロック生成回路2008を設ける構成とする。ま
た、論理部2003については、先に説明したのと同様に、
インバータ,2NANDのような基本ゲート,フリップ
フロップ,PLA,ROM,RAMなどで構成されてい
る。
【0030】そして、このマイクロプロセッサは、PLL2
001 ,論理部2003,インターフェイス回路2004
を同一の半導体チップ上に形成されたものである。
【0031】以上説明したように、本実施例ではマイク
ロプロセッサへの応用について説明したが、本発明はこ
れに限られるものではなく、例えばHDD,超音波モー
タの周波数トラッキングにも適用できる。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、以下の効果が得られ
る。
【0033】(1)レプリカ回路を発振器に並列に設け
るので、発振器の直列段数(縦積段数)の増加がなく低電
圧動作に適する。
【0034】(2)外部の基準電圧を用いて発振器の出
力振幅を一定にするので、温度係数の低い高精度な発振
器が実現できる。
【0035】(3)外部の基準電圧が発振器の基準なの
で、従来の動作電流依存による出力振幅の変動がなく、
直線性が向上する。
【0036】(4)昇圧回路により1対のクランプ素子
のクランプ電圧を電源電圧Vccより1ダイオード分高い
電圧まで可変できるので、低出力振幅制御が可能になり
発振器の広帯域化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の振幅制御発振器の回路を示した図であ
る。
【図2】本発明の振幅制御発振器の他の一実施例を示す
ブロック図である。
【図3】図2の回路構成を示した図である。
【図4】図3の回路のシミュレーション結果を示した図
である。
【図5】本発明の振幅制御発振器による位相同期ループ
回路の構成を示した図である。
【図6】本発明の振幅制御発振器を適用した位相同期ル
ープ回路のマイコンシステムの構成を示した図である。
【図7】本発明の振幅制御発振器による位相同期ループ
回路を適用したマイクロプロセッサの構成を示した図で
ある。
【図8】本発明の振幅制御発振器による位相同期ループ
回路の構成を示した図である。
【符号の説明】
10…発振器、20…レプリカ回路、30…能動負荷出
力振幅クランプ回路、40…制御昇圧回路。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H03L 7/099 H03L 7/08 F (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 3/282 H03K 3/023 H03K 3/354

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】出力信号の振幅を制御する制御端子を有す
    る1対の第1のクランプ素子と定電流回路とを少なくと
    も有する発振回路と、上記第1のクランプ素子のレプリカである 制御端子を有
    する第2のクランプ素子と上記第2のクランプ素子に直
    列に接続された上記定電流回路のレプリカである第2の
    定電流回路とを有し上記発振回路と並列に接続された
    プリカ回路と、 上記第1のクランプ素子によるクランプ電圧を予め定め
    た電圧とするために、上記第1のクランプ素子及び上記
    第2のクランプ素子の制御端子に制御信号を出力し、上
    記第2のクランプ素子と上記第2の定電流回路間の一点
    の電圧を基準電圧に設定する制御手段とを有することを
    特徴とする振幅制御発振器。
  2. 【請求項2】請求項1において、 上記発振回路は、エミッタ結合形マルチバイブレータで
    構成されていることを特徴とする振幅制御発振器。
  3. 【請求項3】請求項第1項において、 上記発振回路は電流制御発振器であることを特徴とする
    振幅制御発振器。
  4. 【請求項4】第1のクロック信号と、第2のクロック信
    号とを入力し、上記第1と上記第2のクロック信号のそ
    れぞれの位相差を表す信号を生成する位相比較器と、 上記位相比較器によって生成される信号によって決定さ
    れる電圧信号を生成するローパスフィルタと、 上記ローパスフィルタによって生成される電圧信号によ
    って制御され、第3のクロック信号を生成する電圧制御
    発振器と、 上記電圧制御発振器で生成された上記第3のクロック信
    号の信号を分周して、上記第2のクロック信号を生成す
    る分周器とを有する位相同期回路において、 上記電圧制御発振器は、 出力信号の振幅を制御する制御端子を有する1対の第1
    のクランプ素子と定電流回路とを少なくとも有する発振
    回路と、上記第1のクランプ素子のレプリカである制御
    端子を有する第2のクランプ素子と上記第2のクランプ
    素子に直列に接続された上記定電流回路のレプリカであ
    第2の定電流回路とを有し上記発振回路と並列に接続
    されたレプリカ回路と、上記第1のクランプ素子による
    クランプ電圧を予め定めた電圧とするために、上記第1
    のクランプ素子及び上記第2のクランプ素子の制御端子
    に制御信号を出力し、上記第2のクランプ素子と上記第
    2の定電流回路間の一点の電圧を基準電圧に設定する
    手段と、を有することを特徴とする位相同期回路。
  5. 【請求項5】請求項4において、 上記電圧制御発振器の上記発振回路は、エミッタ結合形
    マルチバイブレータで構成されていることを特徴とする
    位相同期回路。
  6. 【請求項6】請求項第4項において、 上記電圧制御発振器の上記発振回路は電流制御発振器で
    あることを特徴とする位相同期回路。
  7. 【請求項7】外部から入力される第1のクロック信号
    と、第2のクロック信号との位相差を表す信号を生成す
    る位相比較器と、上記位相比較器によって生成される信
    号によって決定される電圧信号を生成するローパスフィ
    ルタと、上記ローパスフィルタによって生成される電圧
    信号によって制御され、第3のクロック信号を生成する
    電圧制御発振器と、上記電圧制御発振器で生成された上
    記第3のクロック信号の信号を分周して、上記第2のク
    ロック信号を生成する分周器とを有する位相同期回路
    と、 上記位相同期回路から出力された第3のクロック信号に
    よって制御され、入力信号の論理演算を行う論理部とを
    少なくとも有するマイクロプロセッサにおいて、 上記電圧制御発振器は、 出力信号の振幅を制御する制御端子を有する1対の第1
    のクランプ素子と定電流回路とを少なくとも有する発振
    回路と、上記第1のクランプ素子のレプリカである制御
    端子を有する第2のクランプ素子と上記第2のクランプ
    素子に直列に接続された上記定電流回路のレプリカであ
    第2の定電流回路とを有し上記発振回路と並列に接続
    されたレプリカ回路と、上記第1のクランプ素子による
    クランプ電圧を予め定めた電圧とするために、上記第1
    のクランプ素子及び上記第2のクランプ素子の制御端子
    に制御信号を出力し、上記第2のクランプ素子と上記第
    2の定電流回路間の一点の電圧を基準電圧に設定する
    御端手段と、を有することを特徴とするマイクロプロセ
    ッサ。
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