JP3511865B2 - Pallet inspection equipment - Google Patents

Pallet inspection equipment

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JP3511865B2
JP3511865B2 JP29512597A JP29512597A JP3511865B2 JP 3511865 B2 JP3511865 B2 JP 3511865B2 JP 29512597 A JP29512597 A JP 29512597A JP 29512597 A JP29512597 A JP 29512597A JP 3511865 B2 JP3511865 B2 JP 3511865B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器に使用す
る電子部品の自動挿入、半田装着、製品の組み立て等を
行うとき基板を載置するパレットの検査装置に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pallet inspection device for mounting a substrate when automatically inserting electronic components used in electronic equipment, solder mounting, and product assembly.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下、従来のパレットの検査について説
明する。
2. Description of the Related Art A conventional pallet inspection will be described below.

【0003】従来のパレット検査は、図5に示すよう
に、パレット1に立設された位置決めピン2を、検査者
3が目視による検査をしていた。あるいは図6に示すよ
うにパレット1に立設された位置決めピン2に対応した
ゲージ4を用いていた。このゲージ4には孔5を設けて
いる。この孔5は、前記パレット1の位置決めピン2に
対応した位置に設けてある。そしてゲージ4を矢印で示
すA方向に下ろすことにより、位置決めピン2が、孔5
に嵌合するか否かで、パレット1の良否を検査してい
る。いずれにしても、検査者3が検査を行っていた。
In the conventional pallet inspection, an inspector 3 visually inspects the positioning pins 2 erected on the pallet 1 as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6, a gauge 4 corresponding to the positioning pin 2 provided upright on the pallet 1 was used. The gauge 4 is provided with a hole 5. This hole 5 is provided at a position corresponding to the positioning pin 2 of the pallet 1. Then, by lowering the gauge 4 in the direction A indicated by the arrow, the positioning pin 2 moves into the hole 5
The quality of the pallet 1 is inspected depending on whether or not the pallet is fitted. In any case, the inspector 3 was inspecting.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の構成では、検査者3が、パレット1に設けら
れた位置決めピン2の位置を検査していた為多くの時間
を必要としたうえ、検査精度が悪く、不良パレットの発
見が遅くなる為、不良パレットによる不良製品の発生を
多発させることになるという問題があった。
However, in such a conventional configuration, since the inspector 3 inspects the position of the positioning pin 2 provided on the pallet 1, much time is required and Since the inspection accuracy is poor and the discovery of defective pallets is delayed, there is a problem in that defective products often occur due to defective pallets.

【0005】本発明は、このような問題点を解決するも
ので、パレットの検査作業を、速くかつ精度良く検査す
るパレットの検査装置を提供することを目的としたもの
である。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a pallet inspection device for inspecting pallet inspection work quickly and accurately.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のパレットの検査装置は、レーザセンサからパ
レットに立設された位置決めピンに向かって、予め定め
られた複数の位置にレーザ光を発射して、このレーザ光
の反射により、位置決めピンとの距離を計測し、その値
が予め定められた範囲内であるか否かで、前記パレット
の良否を判定するものである。これにより、検査作業の
高速化と、高精度化ができる。
In order to achieve this object, a pallet inspection apparatus of the present invention comprises a laser beam from a laser sensor to a positioning pin erected on the pallet, at a plurality of predetermined positions. Is emitted, and the distance from the positioning pin is measured by the reflection of the laser light, and the quality of the pallet is determined by whether the value is within a predetermined range. As a result, the inspection work can be speeded up and the accuracy can be improved.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、被検査物であるパレットの載置台と、この載置台の
前方に設けられたレーザセンサと、このレーザセンサの
出力に接続された制御手段を備え、前記レーザセンサか
ら前記パレットに立設された位置決めピンに向かって、
予め定められた複数の位置にレーザ光を発射して、この
レーザ光の反射により、位置決めピンとの距離を計測
し、その値が予め定められた範囲内であるか否かで、前
記パレットの良否を判定するパレットの検査装置であ
り、レーザ光により位置決めピンまでの距離を計測する
ので、検査の高速化が図れるとともに、検査の精度も向
上する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is connected to a mounting table for a pallet to be inspected, a laser sensor provided in front of this mounting table, and an output of this laser sensor. The control means is provided, from the laser sensor toward the positioning pin erected on the pallet,
Laser light is emitted to a plurality of predetermined positions, the distance from the positioning pin is measured by the reflection of the laser light, and whether or not the value is within a predetermined range determines whether the pallet is good or bad. Since it is a pallet inspection device that determines whether or not the distance to the positioning pin is measured by laser light, the inspection speed can be increased and the inspection accuracy can be improved.

【0008】請求項2に記載の発明のレーザ光は、基準
となるパレットを載置したときの位置決めピンの中央
と、その両端の3ヵ所を計測する請求項1に記載のパレ
ットの検査装置であり、レーザ光の数が最小の数で位置
決めピンの立設状態を正確に検査することが出来る。
In the pallet inspection device according to claim 1, the laser beam of the invention described in claim 2 measures the center of the positioning pin when the reference pallet is placed and three positions at both ends thereof. Therefore, the standing state of the positioning pin can be accurately inspected with the minimum number of laser beams.

【0009】請求項3に記載の発明は、1つのレーザセ
ンサを制御手段に接続された駆動手段からの出力で移動
させることにより、予め定められた複数の位置にレーザ
光を発射させる請求項2に記載のパレットの検査装置で
あり、このように1個のレーザセンサで複数の位置を測
ることが出来る。よって設備の価格を安くすることが出
来る。
According to a third aspect of the present invention, one laser sensor is moved by the output from the driving means connected to the control means to emit laser light to a plurality of predetermined positions. According to the pallet inspection device described in (1), a single laser sensor can measure a plurality of positions. Therefore, the price of equipment can be reduced.

【0010】請求項4に記載の発明は、パレットに立設
された位置決めピンに対応した数のレーザセンサを設け
た請求項3に記載のパレットの検査装置であり、位置決
めピンの数に対応したレーザセンサを有しているので、
高速に検査することが出来る。
The invention according to claim 4 is the pallet inspection device according to claim 3 in which a number of laser sensors corresponding to the number of positioning pins erected on the pallet are provided, which corresponds to the number of positioning pins. Since it has a laser sensor,
It can be inspected at high speed.

【0011】請求項5に記載の発明は、レーザセンサを
パレットに対し、水平方向に移動可能とした請求項4に
記載のパレットの検査装置であり、水平方向にパレット
の位置決めピンの位置が変わっても、柔軟に対応するこ
とが出来る。
A fifth aspect of the present invention is the pallet inspection device according to the fourth aspect, wherein the laser sensor is movable in the horizontal direction with respect to the pallet, and the position of the positioning pin of the pallet is changed in the horizontal direction. However, we can respond flexibly.

【0012】請求項6に記載の発明は、レーザセンサを
パレットに対し、前後方向に移動可能とした請求項5に
記載のパレットの検査装置であり、前後方向にパレット
の位置決めピンの位置が変わっても柔軟に対応すること
が出来る。
The invention according to claim 6 is the pallet inspection device according to claim 5, wherein the laser sensor is movable in the front-rear direction with respect to the pallet, and the position of the positioning pin of the pallet changes in the front-rear direction. However, it can respond flexibly.

【0013】請求項7に記載の発明は、パレットを搬送
するコンベアと、このコンベアの途中に設けられたパレ
ット上下手段と、前記コンベアの上方位置に設けられた
レーザセンサと、このレーザセンサの後方に設けられた
パレットのストックレールを備えた請求項6に記載のパ
レットの検査装置であり、検査するパレットを順次コン
ベアで搬送して自動で検査を行うことが出来る。
According to a seventh aspect of the present invention, a conveyor for conveying pallets, a pallet raising / lowering means provided in the middle of the conveyor, a laser sensor provided above the conveyor, and a rear side of the laser sensor. The pallet inspection apparatus according to claim 6, further comprising a pallet stock rail provided in the pallet, wherein the pallets to be inspected can be sequentially conveyed by a conveyor and automatically inspected.

【0014】以下、本発明の一実施の形態について図面
を用いて説明する。図1、図3において11は、パレッ
ト19を載置する載置台である。この載置台11の前方
にレーザセンサ12が設けられている。そしてこのレー
ザセンサ12の出力は、制御手段13に接続されてい
る。また制御手段13には、駆動手段14が接続されて
おり、その駆動手段14の出力で、レーザセンサ12
を、パレット19に対して水平方向あるいは、前後方向
に移動させている。また15は、パレット19を搬送す
るベルトコンベアである。このベルトコンベア15の途
中には、パレット19を上下させるパレット上下手段1
7を設けている。またベルトコンベア15の上方には、
不良パレットストックレール18が設けられている。こ
の位置、すなわち図4に示すように載置台11に載置さ
れたパレット19がレーザセンサ12の前で停止して、
パレット19の検査が行われる。このとき、パレット1
9に設けられたV字型の凹部30に係止用凸部31が嵌
合して、パレット19とレーザセンサ12との距離を正
確に定められた値に固定している。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1 and FIG. 3, 11 is a mounting table on which the pallet 19 is mounted. A laser sensor 12 is provided in front of the mounting table 11. The output of the laser sensor 12 is connected to the control means 13. Further, a driving means 14 is connected to the control means 13, and the laser sensor 12 is output by the driving means 14.
Are moved in the horizontal direction or the front-back direction with respect to the pallet 19. Reference numeral 15 is a belt conveyor that conveys the pallet 19. In the middle of the belt conveyor 15, pallet raising / lowering means 1 for moving the pallet 19 up and down.
7 is provided. Above the belt conveyor 15,
A defective pallet stock rail 18 is provided. At this position, that is, as shown in FIG. 4, the pallet 19 mounted on the mounting table 11 stops in front of the laser sensor 12,
The pallet 19 is inspected. At this time, pallet 1
The locking convex portion 31 is fitted into the V-shaped concave portion 30 provided on the plate 9 to fix the distance between the pallet 19 and the laser sensor 12 to a precisely determined value.

【0015】以上のように構成されたパレットの検査装
置において以下にその動作の概略を説明する。パレット
19を搬送するベルトコンベア15上をパレット19が
搬送される。このパレット19は、載置台11に載置さ
れて持ち上げられる。そこでパレット19は、レーザセ
ンサ12からの光によってパレット19上に設けられた
位置決めピン20の位置が精密に計測され、その結果
は、制御手段13によって判定される。その判定結果が
良品であったならば、再びパレット上下手段17で下降
し、ベルトコンベア15上に戻されOK方向に搬送され
る。また、制御手段13の判定結果が、不良と判定され
たときは、そのパレット19は、そのまま、コンベア1
5の上方に設けられたパレットストックレール18のN
G方向に搬送される。
An outline of the operation of the pallet inspection device configured as described above will be described below. The pallet 19 is conveyed on the belt conveyor 15 which conveys the pallet 19. The pallet 19 is mounted on the mounting table 11 and lifted. Therefore, the position of the positioning pin 20 provided on the pallet 19 of the pallet 19 is precisely measured by the light from the laser sensor 12, and the result is determined by the control means 13. If the determination result is non-defective, the pallet raising / lowering means 17 descends again, and the pallet raising / lowering means 17 returns the belt to the belt conveyor 15 and conveys it in the OK direction. When the determination result of the control means 13 is determined to be defective, the pallet 19 remains as it is and the conveyor 1
N of the pallet stock rail 18 provided above
It is conveyed in the G direction.

【0016】図1において、載置台11上にはパレット
19が載置されている。20は、パレット19上に設け
られた位置決めピンである。この位置決めピン20は、
パレット19の両端に設けられている。そして、この両
端の前方には、レーザセンサ12が2個設けられてい
る。このレーザセンサ12は、パルスモータ21で水平
方向に移動させる事が出来るので、たとえ位置決めピン
20の左右方向の位置が違う品種のパレットでも対応す
る事が出来る。また、パルスモータ22は、レーザセン
サ12を前後方向に移動させる事が出来るので、たとえ
位置決めピン20の前後方向の位置が違う品種のパレッ
トでも対応する事が出来る。
In FIG. 1, a pallet 19 is placed on the placing table 11. 20 is a positioning pin provided on the pallet 19. This positioning pin 20
It is provided at both ends of the pallet 19. Two laser sensors 12 are provided in front of both ends. Since the laser sensor 12 can be moved in the horizontal direction by the pulse motor 21, even a pallet of a type in which the position of the positioning pin 20 in the horizontal direction is different can be dealt with. Further, since the pulse motor 22 can move the laser sensor 12 in the front-rear direction, even a pallet of a type in which the position of the positioning pin 20 in the front-rear direction is different can be dealt with.

【0017】図2(a)は、位置決めピン20を上面か
ら見た断面図である。レーザセンサ12のセンサの光が
まず位置決めピン20の中央23と、その0.4mmの
距離にある両側24,25の位置における垂直度を調べ
ている。この場合図2(a)では24,25は24a,
25a共に同じ値(0.12mm)であり、中央23の
23a(0mm)に比べて、0.12mm長く検出され
ており、これが基準となる良品である。それに対し、図
2(b)は、位置決めピン20が、B方向へずれた状態
を示す。このとき、B方向へずれているので、中央23
の前後方向の位置23aが基準と比べて0.1mmあ
る。すなわち、位置決めピン20がB方向へ0.1mm
ずれていることを示すものである。また、図2(c)
は、位置決めピン20が、C方向へずれた状態を示す。
このとき、C方向へずれているので、中央23の左右方
向の位置23bが、基準と比べて0.1mmある。すな
わち、位置決めピン20がC方向へ0.1mmずれてい
ることを示すものである。それにより、図2(b)と図
2(c)が、本実施の形態では不良と判別する事が出来
るものである。なお、良品は前後方向23aが0.1m
m以内、左右方向23bが0.1mm以内としている。
FIG. 2A is a sectional view of the positioning pin 20 seen from the upper surface. First, the degree of verticality of the light from the sensor of the laser sensor 12 is checked at the center 23 of the positioning pin 20 and the positions of both sides 24 and 25 at a distance of 0.4 mm. In this case, in FIG. 2A, 24 and 25 are 24a,
25a has the same value (0.12 mm), and is detected 0.12 mm longer than 23a (0 mm) in the center 23, which is a reference good product. On the other hand, FIG. 2B shows a state in which the positioning pin 20 is displaced in the B direction. At this time, since it is displaced in the B direction, the center 23
The position 23a in the front-back direction is 0.1 mm compared to the reference. That is, the positioning pin 20 is 0.1 mm in the B direction.
It indicates that they are displaced. In addition, FIG.
Shows a state in which the positioning pin 20 is displaced in the C direction.
At this time, since it is displaced in the C direction, the position 23b in the left-right direction of the center 23 is 0.1 mm compared with the reference. That is, it indicates that the positioning pin 20 is displaced by 0.1 mm in the C direction. As a result, in FIGS. 2B and 2C, it can be determined that the present embodiment is defective. In addition, good product is 0.1m in the front-back direction 23a.
Within m, the horizontal direction 23b is within 0.1 mm.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、被検査物
であるパレットの載置台と、この載置台の前方に設けら
れたレーザセンサと、このレーザセンサの出力に接続さ
れた制御手段を備え、前記レーザセンサから前記パレッ
トに立設された位置決めピンに向かって、予め定められ
た複数の位置にレーザ光を発射して、このレーザ光の反
射により、位置決めピンとの距離を計測し、その値が予
め定められた範囲内であるか否かで、前記パレットの良
否を判定するものであり、人間による検査に比較し、短
時間で、高精度に検査することが出来る。従ってパレッ
トを用いた、自動装着・自動挿入・自動組立等を行う時
の不良の発生を未然に防ぐことが出来る。
As described above, according to the present invention, a mounting table for a pallet to be inspected, a laser sensor provided in front of the mounting table, and control means connected to the output of the laser sensor. Comprises, from the laser sensor toward the positioning pin erected on the pallet, emits a laser beam to a plurality of predetermined positions, by the reflection of the laser beam, to measure the distance to the positioning pin, The quality of the pallet is determined based on whether or not the value is within a predetermined range, and the pallet can be inspected with high accuracy in a short time as compared with the inspection by a human. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of defects when performing automatic mounting, automatic insertion, automatic assembly, etc. using a pallet.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による、パレットの検査
装置の要部平面図
FIG. 1 is a plan view of a main part of a pallet inspection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)は同、パレットの検査装置における位置
決めピンの良品時の断面図 (b)は同、位置決めピンが前後方向へ傾いたときの断
面図 (c)は同、位置決めピンが水平方向へ傾いたときの断
面図
2A is a sectional view of a positioning pin in a pallet inspection device when the positioning pin is non-defective, and FIG. 2C is a sectional view of the positioning pin when tilted in the front-rear direction. Sectional view when tilted horizontally

【図3】同、パレットの検査装置の側面図FIG. 3 is a side view of the pallet inspection device.

【図4】同、平面図FIG. 4 is a plan view of the same.

【図5】従来の、パレット検査方法の斜視図FIG. 5 is a perspective view of a conventional pallet inspection method.

【図6】従来の、ゲージを使用し、パレットを検査する
方法の斜視図
FIG. 6 is a perspective view of a conventional method of inspecting a pallet using a gauge.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 載置台 12 レーザセンサ 13 制御手段 19 パレット 20 位置決めピン 11 table 12 Laser sensor 13 Control means 19 pallets 20 Positioning pin

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被検査物であるパレットの載置台と、こ
の載置台の前方に設けられたレーザセンサと、このレー
ザセンサの出力に接続された制御手段を備え、前記レー
ザセンサから前記パレットに立設された位置決めピンに
向かって、予め定められた複数の位置にレーザ光を発射
して、このレーザ光の反射により、位置決めピンとの距
離を計測し、その値が予め定められた範囲内であるか否
かで、前記パレットの良否を判定するパレットの検査装
置。
1. A mounting table for a pallet to be inspected, a laser sensor provided in front of the mounting table, and control means connected to the output of the laser sensor. Laser light is emitted to a plurality of predetermined positions toward the standing positioning pin, the distance from the positioning pin is measured by the reflection of this laser light, and the value is within a predetermined range. A pallet inspection device that determines the quality of the pallet based on whether or not it is present.
【請求項2】 レーザ光は、基準となるパレットを載置
したときの位置決めピンの中央と、その両側の3ヵ所を
計測する請求項1に記載のパレットの検査装置。
2. The pallet inspection device according to claim 1, wherein the laser light measures the center of the positioning pin when a reference pallet is placed and three positions on both sides of the center.
【請求項3】 1つのレーザセンサを制御手段に接続さ
れた駆動手段からの出力で移動させることにより、予め
定められた複数の位置にレーザ光を発射させる請求項2
に記載のパレットの検査装置。
3. A laser beam is emitted to a plurality of predetermined positions by moving one laser sensor with an output from a driving means connected to the control means.
Inspection device for pallets.
【請求項4】 パレットに立設された位置決めピンに対
応した数のレーザセンサを設けた請求項3に記載のパレ
ットの検査装置。
4. The pallet inspection device according to claim 3, wherein a number of laser sensors corresponding to the positioning pins provided upright on the pallet are provided.
【請求項5】 レーザセンサをパレットに対し、水平方
向に移動可能とした請求項4に記載のパレットの検査装
置。
5. The pallet inspection device according to claim 4, wherein the laser sensor is movable in the horizontal direction with respect to the pallet.
【請求項6】 レーザセンサをパレットに対し、前後方
向に移動可能とした請求項5に記載のパレットの検査装
置。
6. The pallet inspection device according to claim 5, wherein the laser sensor is movable in the front-rear direction with respect to the pallet.
【請求項7】 パレットを搬送するコンベアと、このコ
ンベアの途中に設けられたパレット上下手段と、前記コ
ンベアの上方位置に設けられたレーザセンサと、このレ
ーザセンサの後方に設けられたパレットのストックレー
ルを備えた請求項6に記載のパレットの検査装置。
7. A conveyor for conveying a pallet, a pallet raising / lowering means provided in the middle of the conveyor, a laser sensor provided above the conveyor, and a pallet stock provided behind the laser sensor. The pallet inspection device according to claim 6, further comprising a rail.
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