JP3508839B2 - 計測器 - Google Patents
計測器Info
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- JP3508839B2 JP3508839B2 JP2000026540A JP2000026540A JP3508839B2 JP 3508839 B2 JP3508839 B2 JP 3508839B2 JP 2000026540 A JP2000026540 A JP 2000026540A JP 2000026540 A JP2000026540 A JP 2000026540A JP 3508839 B2 JP3508839 B2 JP 3508839B2
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は計測器に係り、特に
シーケンスグループの表示器を備えた計測器に関する。
シーケンスグループの表示器を備えた計測器に関する。
【０００２】
【従来の技術】製造ラインで被測定物の検査を行うため
に種々の計測器が使用されている。このような計測器の
中で、例えば、レベルや周波数等を測定するために用い
る計測器は、シーケンスアドレスにそれぞれ出力条件を
設定してシーケンス動作をさせる。この場合、シーケン
スアドレスに設定条件（出力条件）を予め設定してお
く。例えば計測器がシグナルゼネレータ（ＳＧ）の場合
には、設定条件として出力レベルと出力周波数とを各シ
ーケンスアドレスにそれぞれ設定しておく。更にグルー
プ分けを行い各グループごとに希望するシーケンスアド
レスを割付ける。製造ラインではグループ内に設定され
たシーケンスアドレスを順次呼出し、このシーケンスア
ドレスに設定された内容を出力させ被測定物の検査を行
う。
に種々の計測器が使用されている。このような計測器の
中で、例えば、レベルや周波数等を測定するために用い
る計測器は、シーケンスアドレスにそれぞれ出力条件を
設定してシーケンス動作をさせる。この場合、シーケン
スアドレスに設定条件（出力条件）を予め設定してお
く。例えば計測器がシグナルゼネレータ（ＳＧ）の場合
には、設定条件として出力レベルと出力周波数とを各シ
ーケンスアドレスにそれぞれ設定しておく。更にグルー
プ分けを行い各グループごとに希望するシーケンスアド
レスを割付ける。製造ラインではグループ内に設定され
たシーケンスアドレスを順次呼出し、このシーケンスア
ドレスに設定された内容を出力させ被測定物の検査を行
う。
【０００３】図３は従来の計測器の概略構成を示すブロ
ック図である。データ演算処理をするためのＣＰＵ１に
はＲＡＭ２とＲＯＭ３とが接続されており、ＲＡＭ２内
には現在設定されているシーケンスグループや現在設定
されているシーケンスアドレスが格納されたデータメモ
リが含まれる。ＲＯＭ３は実行すべきプログラムを格納
している。グループやアドレス等を設定するキー５から
アドレスの選択又は変更が行われると、キーインターフ
ェイス４を介してＣＰＵ１に伝達される。ＣＰＵ１はア
ドレスの選択や変更が行われると、これをＲＡＭ２に指
示し所定のアドレス設定又は変更を行う。同時に、この
設定あるいは変更された内容はラッチ６を介して選択さ
れたシーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス
表示器７に表示される。通常、シーケンスアドレス表示
器７は７セグメントのＬＥＤで構成されている。 設定
キー５でシーケンスグループの選択や変更が行われる
と、キーインターフェイス４を介してＣＰＵ１にこの選
択や変更が伝達される。ＣＰＵ１はＲＡＭ２内に現在設
定されているグループの変更を行う。しかしグループを
表示するための専用の表示器は備えられていないため、
他の機能に使用されている表示器を借りて表示が行われ
る。例えば図３に示す例ではシーケンスアドレス表示器
７をシーケンスグループの表示のために用いる。
ック図である。データ演算処理をするためのＣＰＵ１に
はＲＡＭ２とＲＯＭ３とが接続されており、ＲＡＭ２内
には現在設定されているシーケンスグループや現在設定
されているシーケンスアドレスが格納されたデータメモ
リが含まれる。ＲＯＭ３は実行すべきプログラムを格納
している。グループやアドレス等を設定するキー５から
アドレスの選択又は変更が行われると、キーインターフ
ェイス４を介してＣＰＵ１に伝達される。ＣＰＵ１はア
ドレスの選択や変更が行われると、これをＲＡＭ２に指
示し所定のアドレス設定又は変更を行う。同時に、この
設定あるいは変更された内容はラッチ６を介して選択さ
れたシーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス
表示器７に表示される。通常、シーケンスアドレス表示
器７は７セグメントのＬＥＤで構成されている。 設定
キー５でシーケンスグループの選択や変更が行われる
と、キーインターフェイス４を介してＣＰＵ１にこの選
択や変更が伝達される。ＣＰＵ１はＲＡＭ２内に現在設
定されているグループの変更を行う。しかしグループを
表示するための専用の表示器は備えられていないため、
他の機能に使用されている表示器を借りて表示が行われ
る。例えば図３に示す例ではシーケンスアドレス表示器
７をシーケンスグループの表示のために用いる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の計測
器においてはパネル面にシーケンスアドレスの表示のた
めの表示器は備えられてはいるが、シーケンスグループ
を表示するための表示器は備えられていなかった。従っ
て製造ラインでこのような計測器を使用するに際して現
在どのグループが選択されているのかを一目で認識する
のは困難であった。表１はシーケンスグループとシーケ
ンスアドレスとを搭載したＳＧにおけるグループ分けの
一例を示したものである。
器においてはパネル面にシーケンスアドレスの表示のた
めの表示器は備えられてはいるが、シーケンスグループ
を表示するための表示器は備えられていなかった。従っ
て製造ラインでこのような計測器を使用するに際して現
在どのグループが選択されているのかを一目で認識する
のは困難であった。表１はシーケンスグループとシーケ
ンスアドレスとを搭載したＳＧにおけるグループ分けの
一例を示したものである。
【０００５】
【表１】
【０００６】ここでＧＰ１は周波数可変グループを、Ｇ
Ｐ２はレベル可変グループを示している。すなわちＧＰ
１のシーケンスグループでは割付けられたすべてのシー
ケンスアドレス１〜４において出力信号のレベルが０ｄ
Ｂｍに固定され、周波数ｆが２００メガヘルツ（ＭＨ
ｚ）から２３０メガヘルツ（ＭＨｚ）に可変されるよう
に設定されている。またＧＰ２においては、周波数ｆが
２００メガヘルツに固定され、信号レベルが−１０ｄＢ
ｍ〜−４０ｄＢｍに可変されるように設定されている。
Ｐ２はレベル可変グループを示している。すなわちＧＰ
１のシーケンスグループでは割付けられたすべてのシー
ケンスアドレス１〜４において出力信号のレベルが０ｄ
Ｂｍに固定され、周波数ｆが２００メガヘルツ（ＭＨ
ｚ）から２３０メガヘルツ（ＭＨｚ）に可変されるよう
に設定されている。またＧＰ２においては、周波数ｆが
２００メガヘルツに固定され、信号レベルが−１０ｄＢ
ｍ〜−４０ｄＢｍに可変されるように設定されている。
【０００７】従って、このような計測器を使用する製造
ラインにおいて、シーケンスグループの表示を参照する
ことにより周波数可変グループかレベル可変グループか
のどちらのシーケンスが使用されているのかが分かる。
しかし前述したように、従来の計測器においてはこのシ
ーケンスグループの表示は専用の表示器を有していない
ため現在設定されているシーケンスグループがどのよう
なグループであるかを一目で認識するのが困難であっ
た。本発明はこのような従来の計測器の問題点を解消
し、一見してどのシーケンスグループが選択されている
かを認識することのできる計測器を提供することを目的
とする。
ラインにおいて、シーケンスグループの表示を参照する
ことにより周波数可変グループかレベル可変グループか
のどちらのシーケンスが使用されているのかが分かる。
しかし前述したように、従来の計測器においてはこのシ
ーケンスグループの表示は専用の表示器を有していない
ため現在設定されているシーケンスグループがどのよう
なグループであるかを一目で認識するのが困難であっ
た。本発明はこのような従来の計測器の問題点を解消
し、一見してどのシーケンスグループが選択されている
かを認識することのできる計測器を提供することを目的
とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、シーケンスア
ドレスにそれぞれ出力条件を設定し、シーケンスグルー
プに希望する前記シーケンスアドレスを割付けたメモリ
モードとシーケンスモードとを有する計測器において、
前記メモリモード又は前記シーケンスモードのいずれか
が選択されたときに選択された前記シーケンスグループ
を表示するシーケンスグループ表示器と、選択された前
記シーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス表
示器とを備えたものである。また前記計測器において、
前記シーケンスグループ表示器が選択された前記シーケ
ンスグループを特徴付ける記号を表示することができ
る。さらに前記計測器において、前記シーケンスグルー
プ表示器を７セグメントＬＥＤで構成することができ
る。また前記計測器をＤＡＢエンコーダとすることが出
来る。
ドレスにそれぞれ出力条件を設定し、シーケンスグルー
プに希望する前記シーケンスアドレスを割付けたメモリ
モードとシーケンスモードとを有する計測器において、
前記メモリモード又は前記シーケンスモードのいずれか
が選択されたときに選択された前記シーケンスグループ
を表示するシーケンスグループ表示器と、選択された前
記シーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス表
示器とを備えたものである。また前記計測器において、
前記シーケンスグループ表示器が選択された前記シーケ
ンスグループを特徴付ける記号を表示することができ
る。さらに前記計測器において、前記シーケンスグルー
プ表示器を７セグメントＬＥＤで構成することができ
る。また前記計測器をＤＡＢエンコーダとすることが出
来る。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を説明す
る。図１は本発明に係る計測器の概略構成を示すブロッ
ク図である。なお図３に示す従来の計測器の構成と同一
部分には同一符号を付しその詳細説明は省略する。本発
明の計測器においてはシーケンスグループを表示するシ
ーケンスグループ表示器９を独立して設け、表示のため
の信号はＣＰＵ１からラッチ８を介してこのシーケンス
グループ表示器９に伝達されるように構成している。設
定キー５でアドレス設定キー５ａやテンキー５ｃ等を用
いてアドレスの選択又は変更を行うと、キーインターフ
ェイス４を介してＣＰＵ１はＲＡＭ２にシーケンスアド
レスの設定あるいは現在設定されているアドレスの変更
を指示する。この設定内容はラッチ６を介してシーケン
スアドレス表示器７に表示される。
る。図１は本発明に係る計測器の概略構成を示すブロッ
ク図である。なお図３に示す従来の計測器の構成と同一
部分には同一符号を付しその詳細説明は省略する。本発
明の計測器においてはシーケンスグループを表示するシ
ーケンスグループ表示器９を独立して設け、表示のため
の信号はＣＰＵ１からラッチ８を介してこのシーケンス
グループ表示器９に伝達されるように構成している。設
定キー５でアドレス設定キー５ａやテンキー５ｃ等を用
いてアドレスの選択又は変更を行うと、キーインターフ
ェイス４を介してＣＰＵ１はＲＡＭ２にシーケンスアド
レスの設定あるいは現在設定されているアドレスの変更
を指示する。この設定内容はラッチ６を介してシーケン
スアドレス表示器７に表示される。
【００１０】また、設定キー５でグループ設定キー５ｂ
やテンキー５ｃを使用してグループの選択又は変更を行
うと、キーインターフェイス４を介してＣＰＵ１に伝達
され、ＣＰＵ１はＲＡＭ２に対してシーケンスグループ
の設定及び変更を指示する。設定あるいは変更されたシ
ーケンスグループはラッチ８を介してシーケンスグルー
プ表示器９に伝達されて表示される。シーケンスグルー
プ表示器９もシーケンスアドレス表示器７と同様に７セ
グメントＬＥＤで構成される。
やテンキー５ｃを使用してグループの選択又は変更を行
うと、キーインターフェイス４を介してＣＰＵ１に伝達
され、ＣＰＵ１はＲＡＭ２に対してシーケンスグループ
の設定及び変更を指示する。設定あるいは変更されたシ
ーケンスグループはラッチ８を介してシーケンスグルー
プ表示器９に伝達されて表示される。シーケンスグルー
プ表示器９もシーケンスアドレス表示器７と同様に７セ
グメントＬＥＤで構成される。
【００１１】図２は本発明に係る計測器のパネル面の構
成を示した図である。なお図２に示す計測器はＤＡＢ(D
igital Audio Broadcasting：ディジタル音声放送)エン
コーダである。このＤＡＢエンコーダはシーケンスグル
ープとシーケンスアドレスとをそれぞれ設定するための
メモリモードと設定されたシーケンスグループを選択し
これに割付けられた各シーケンスアドレスを読み出して
実行するシーケンスモードとを有している。なおパネル
面には選択されたシーケンスグループを表示するための
シーケンスグループ表示器９とグループ内の選択された
シーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス表示
器７とがそれぞれ独立に設けられている。
成を示した図である。なお図２に示す計測器はＤＡＢ(D
igital Audio Broadcasting：ディジタル音声放送)エン
コーダである。このＤＡＢエンコーダはシーケンスグル
ープとシーケンスアドレスとをそれぞれ設定するための
メモリモードと設定されたシーケンスグループを選択し
これに割付けられた各シーケンスアドレスを読み出して
実行するシーケンスモードとを有している。なおパネル
面には選択されたシーケンスグループを表示するための
シーケンスグループ表示器９とグループ内の選択された
シーケンスアドレスを表示するシーケンスアドレス表示
器７とがそれぞれ独立に設けられている。
【００１２】次に図２のＤＡＢエンコーダの操作方法を
説明する。メモリモード メモリモードではシーケンスグループとシーケンスアド
レスのメモリ設定を行う。この場合、パネル面のメモリ
設定部１０が使用される。まずシーケンスアドレスを呼
び出す。呼び出されたシーケンスアドレスがシーケンス
アドレス表示器７に表示される。次に呼び出したシーケ
ンスアドレスに出力条件（設定条件）を割付ける。この
ように順次シーケンスアドレスを呼出し、出力条件の割
付けを行う動作を繰り返し全てのアドレスに出力条件を
割付ける。次にグループの設定を行う。希望するグルー
プを選択しグループごとに希望するシーケンスアドレス
を割付ける。このようにして全てのグループに希望する
シーケンスアドレスを割付ける。
説明する。メモリモード メモリモードではシーケンスグループとシーケンスアド
レスのメモリ設定を行う。この場合、パネル面のメモリ
設定部１０が使用される。まずシーケンスアドレスを呼
び出す。呼び出されたシーケンスアドレスがシーケンス
アドレス表示器７に表示される。次に呼び出したシーケ
ンスアドレスに出力条件（設定条件）を割付ける。この
ように順次シーケンスアドレスを呼出し、出力条件の割
付けを行う動作を繰り返し全てのアドレスに出力条件を
割付ける。次にグループの設定を行う。希望するグルー
プを選択しグループごとに希望するシーケンスアドレス
を割付ける。このようにして全てのグループに希望する
シーケンスアドレスを割付ける。
【００１３】シーケンスモード
メモリモードで設定した内容をシーケンス操作により出
力するための手順は以下のように行われる。なおシーケ
ンスモードの実行に際してはシーケンス実行部１１が使
用される。キー１１ａを用いて希望するシーケンスグル
ープを呼出す。呼び出されたシーケンスグループがシー
ケンスグループ表示器９に表示される。アドレスリコー
ルキー１１ｂ，アドレスアップダウンキー１１ｃ，１１
ｄを用いて希望するシーケンスアドレスを呼び出す。呼
び出されたアドレスがアドレス表示器７に表示される。
これによりシーケンスグループ表示器９とシーケンスア
ドレス表示器７とに設定されたシーケンス条件でパネル
面の出力部１２にある出力端子１２ａ，１２ｂからＩ／
Ｑ信号が出力される。なお上述した実施の形態では計測
器としてＤＡＢエンコーダを用いて説明したが本発明は
ＤＡＢエンコーダに限定されるものではなくシーケンス
をグループ化して用いる全ての計測器に適用可能であ
る。
力するための手順は以下のように行われる。なおシーケ
ンスモードの実行に際してはシーケンス実行部１１が使
用される。キー１１ａを用いて希望するシーケンスグル
ープを呼出す。呼び出されたシーケンスグループがシー
ケンスグループ表示器９に表示される。アドレスリコー
ルキー１１ｂ，アドレスアップダウンキー１１ｃ，１１
ｄを用いて希望するシーケンスアドレスを呼び出す。呼
び出されたアドレスがアドレス表示器７に表示される。
これによりシーケンスグループ表示器９とシーケンスア
ドレス表示器７とに設定されたシーケンス条件でパネル
面の出力部１２にある出力端子１２ａ，１２ｂからＩ／
Ｑ信号が出力される。なお上述した実施の形態では計測
器としてＤＡＢエンコーダを用いて説明したが本発明は
ＤＡＢエンコーダに限定されるものではなくシーケンス
をグループ化して用いる全ての計測器に適用可能であ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、本発明では選択されたシーケンスグループを表示す
るシーケンスグループ表示器を独立して設けたため、計
測器の使用が便利となった。すなわち製造ラインではラ
インごとに検査項目が異なることがあり同じ計測器を持
ち回りで使用することがある。この場合各製造ラインご
とに必要な検査項目をグループ分けして予め設定してお
き、実際に操作する時にはその製造ラインで必要なグル
ープを読み出して使用する。この場合本発明の計測器で
は現在使用しているグループが一目でわかるため製造ラ
インの管理者は管理がやりやすい。また実際の検査を行
う担当者は検査内容を把握しやすい。
に、本発明では選択されたシーケンスグループを表示す
るシーケンスグループ表示器を独立して設けたため、計
測器の使用が便利となった。すなわち製造ラインではラ
インごとに検査項目が異なることがあり同じ計測器を持
ち回りで使用することがある。この場合各製造ラインご
とに必要な検査項目をグループ分けして予め設定してお
き、実際に操作する時にはその製造ラインで必要なグル
ープを読み出して使用する。この場合本発明の計測器で
は現在使用しているグループが一目でわかるため製造ラ
インの管理者は管理がやりやすい。また実際の検査を行
う担当者は検査内容を把握しやすい。
【００１５】なお表示に際してはシーケンスグループ表
示器の表示内容を特にグループ番号を工夫して表示する
と一層使い易い表示となる。即ちシーケンスグループ表
示器が選択されたシーケンスグループを特徴付ける記号
によって表示すればより分かり易い。例えば出力信号周
波数を一定としレベルを可変とするようなレベル測定製
造ラインであれば表示器の表示をＧＬ１，ＧＬ２，…と
表示させレベルを一定とし、出力周波数を可変とするよ
うな周波数測定製造ラインであれば周波数ごとにＧＦ
１，ＧＦ２，…というような記号化した表示をシーケン
スグループ表示器に表示するようにすれば製造ライン管
理者にとってはさらに分かり易い表示となる。なおＤＡ
Ｂエンコーダに接続されて使用されるＤＡＢアップコン
バータにも同様なシーケンスグループ表示器を設けると
両者を同期運転させたときに確認し易くなるという利点
がある。
示器の表示内容を特にグループ番号を工夫して表示する
と一層使い易い表示となる。即ちシーケンスグループ表
示器が選択されたシーケンスグループを特徴付ける記号
によって表示すればより分かり易い。例えば出力信号周
波数を一定としレベルを可変とするようなレベル測定製
造ラインであれば表示器の表示をＧＬ１，ＧＬ２，…と
表示させレベルを一定とし、出力周波数を可変とするよ
うな周波数測定製造ラインであれば周波数ごとにＧＦ
１，ＧＦ２，…というような記号化した表示をシーケン
スグループ表示器に表示するようにすれば製造ライン管
理者にとってはさらに分かり易い表示となる。なおＤＡ
Ｂエンコーダに接続されて使用されるＤＡＢアップコン
バータにも同様なシーケンスグループ表示器を設けると
両者を同期運転させたときに確認し易くなるという利点
がある。
【図１】本発明の計測器の概略構成を示すブロック図。
【図２】本発明の計測器のパネル面の構成を示す図。
【図３】従来の計測器の概略構成を示すブロック図。
５ 設定キー
７ シーケンスアドレス表示器
９ シーケンスグループ表示器
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 31/00
H04L 27/00
H04B 17/00
Claims (4)
- 【請求項１】 シーケンスアドレスにそれぞれ出力条件
を設定し、シーケンスグループに希望する前記シーケン
スアドレスを割付けた、メモリモードとシーケンスモー
ドとを有する計測器において、 前記メモリモード又は前記シーケンスモードのいずれか
が選択されたときに、 選択された前記シーケンスグループを表示するシーケン
スグループ表示器と、 選択された前記シーケンスアドレスを表示するシーケン
スアドレス表示器とを備えたことを特徴とする計測器。 - 【請求項２】 請求項１に記載の計測器において、 前記シーケンスグループ表示器が選択された前記シーケ
ンスグループを特徴付ける記号を表示することを特徴と
する計測器。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載の計測器におい
て、 前記シーケンスグループ表示器が７セグメントＬＥＤで
構成されることを特徴とする計測器。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の
計測器において、 前記計測器がＤＡＢエンコーダであることを特徴とする
計測器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000026540A JP3508839B2 (ja) | 2000-02-03 | 2000-02-03 | 計測器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000026540A JP3508839B2 (ja) | 2000-02-03 | 2000-02-03 | 計測器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001215250A JP2001215250A (ja) | 2001-08-10 |
| JP3508839B2 true JP3508839B2 (ja) | 2004-03-22 |
Family
ID=18552259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000026540A Expired - Fee Related JP3508839B2 (ja) | 2000-02-03 | 2000-02-03 | 計測器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3508839B2 (ja) |
-
2000
- 2000-02-03 JP JP2000026540A patent/JP3508839B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001215250A (ja) | 2001-08-10 |
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